JPS649590B2 - - Google Patents
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- JPS649590B2 JPS649590B2 JP59145961A JP14596184A JPS649590B2 JP S649590 B2 JPS649590 B2 JP S649590B2 JP 59145961 A JP59145961 A JP 59145961A JP 14596184 A JP14596184 A JP 14596184A JP S649590 B2 JPS649590 B2 JP S649590B2
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- JP
- Japan
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- circuit
- level information
- address
- samples
- ram
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の属する技術分野)
本発明は陸上移動通信における回線品質の評価
に用いられる受信電界強度の中央値の検出装置に
関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Technical field to which the invention pertains) The present invention relates to a device for detecting the median value of received electric field strength used for evaluating line quality in land mobile communications.
(従来の技術)
陸上移動通信においては受信電波の受信電界強
度は移動局の走行に起因するフエージングがあ
り、数10dBにわたつて激しく変動することはよ
く知られている。このようなフエジングの存在す
る環境における受信電界強度を評価するには、受
信波の包絡線から求めた統計的中央値を用いるこ
とが一般に行われている。この統計的中央値(以
下中央値という)を検出する装置として、従来は
現時点での中央値の推定値と、それ以後に検波さ
れた受信波の包絡線レベルとを比較器によつて比
較し、その大小、頻度の割合を積分器によつて平
滑化算出し、頻度50%の状態との誤差量を検出し
て、誤差が少なくなる方向へ推定値を動かす負帰
還形の追値回路によつて構成されているものが大
部分である。しかしこのような構成の検知回路は
積分を含む帰還回路が一定の時定数を有するた
め、変動速度の大きい受信入力に対しては正確に
追従出来ない上に、任意の時間区間内の統計的中
央値を定義通りに与えることができないという欠
点があつた。(Prior Art) It is well known that in land mobile communications, the received field strength of received radio waves is subject to fading due to the movement of the mobile station, and fluctuates drastically over several tens of dB. To evaluate the received electric field strength in an environment where such faging exists, it is common practice to use a statistical median value determined from the envelope of the received wave. Conventionally, a device for detecting this statistical median value (hereinafter referred to as the median value) uses a comparator to compare the estimated value of the median value at the present moment with the envelope level of the received wave detected after that point. , the magnitude and frequency ratio are smoothed and calculated by an integrator, the amount of error from the state with a frequency of 50% is detected, and the negative feedback type follow-up circuit moves the estimated value in the direction of reducing the error. Most of them are structured in this way. However, in a detection circuit with such a configuration, the feedback circuit including the integration has a fixed time constant, so it is not possible to accurately follow the receiving input that fluctuates rapidly, and the The drawback was that the value could not be given as defined.
なお従来の技術として次の諸文献がある。 Note that the following documents exist as conventional techniques.
文献1……松本、安達;移動通信におけるデイジ
タル形受信電界中央値検出回路。昭和56年度電
子通信学会総合全国大会予稿No.2157p8−200
文献2……小林、中田;デイジタル処理形受信レ
ベル検出回路。昭和59年度電子通信学会総合全
国大会予稿No.2463p10−163
また次の文献には受信波包絡線が数10dBにわ
たつて変動する場合、それをまず対数圧縮したも
のを一定周期で標本化し、得られた標本よりデシ
ベル表示した平均電力または電圧を統計的に推定
する場合に有効な標本数と標本化周波数が示され
ている。Reference 1: Matsumoto, Adachi; Digital received electric field median detection circuit in mobile communications. Proceedings of the 1981 National Conference of the Institute of Electronics and Communication Engineers No.2157p8-200 Reference 2...Kobayashi, Nakata; Digital processing type reception level detection circuit. Proceedings of the 1985 National Conference of the Institute of Electronics and Communication Engineers No. 2463 p10-163 The following document also states that when the received wave envelope fluctuates over several tens of dB, it is first logarithmically compressed and then sampled at a constant period. The effective number of samples and sampling frequency are shown when statistically estimating the average power or voltage expressed in decibels from the samples obtained.
文献3……安達、吉田;レイリーフエージング下
での平均受信電力の統計的推定における有効な
標本数および標本化周波数。電子通信学会論文
誌′81/6vol.J64−B、No.6pp.556〜557
文献4……安達;レイリーフエージングにおける
受信電圧中央値の統計的推定。電子通信学会論
文誌′81/4vol.J64−B、No.4pp.336〜337
(発明の目的)
本発明は前記従来の装置の欠点を取除くために
行つたもので、与えられた一定時間内の受信波の
包絡線の度数分布から定義通りの統計的中央値を
推定でき、またその区間を刻々ずらすことによつ
て中央値の変動にも追従できるようにすることが
目的である。Reference 3: Adachi, Yoshida; Effective number of samples and sampling frequency in statistical estimation of average received power under Rayleaf aging. Journal of the Institute of Electronics and Communication Engineers '81/6vol.J64-B, No.6pp.556-557 Reference 4... Adachi; Statistical estimation of the median received voltage in Rayleaf aging. Journal of the Institute of Electronics and Communication Engineers '81/4vol.J64-B, No.4pp.336-337 (Objective of the Invention) The present invention has been made to eliminate the drawbacks of the conventional device. The objective is to be able to estimate the statistical median value as defined from the frequency distribution of the envelope of the received wave within the range, and also to be able to follow fluctuations in the median value by shifting the interval from time to time.
(発明の構成)
第1図は本発明を実施した受信電界の中央値検
出装置の構成例を示すブロツク図である。この図
中の記号1はA/D(アナログ−デイジタル)変
換器で、その入力Lは受信波の包絡線出力または
その対数圧縮値のアナログレベル情報である。
A/D変換器1は入力Lを装置の外部より供給さ
れるサンプリングクロツクSCLの1パルス毎にデ
イジタルレベル情報LD0に変換する。2はシフト
レジスタでSCLのタイミングでLD0を遂次入力
し、nサンプル分記憶する(nの適当値について
は後に説明する)。その出力LDoはnサンプル遅
延後のレベル情報である。3はタイミング発生回
路で、サンプリングクロツクSCLの1パルス毎に
中央値検出計算のための一連の制御シークエンス
に必要な各種タイミングパルスを発生する。4は
RAM(ランダムアクセスメモリ)で、中央値検
出計算に必要なレベル情報の度数分布を記憶す
る。5はアドレス切替回路でRAM4のアドレス
Aを切替える。6はアドレス走査回路で、RAM
4の全アドレスを一巡走査する。アドレス切替回
路5はタイミング回路3から出力されるゲート切
替信号Gp,Go,Gsに従つてそれぞれLD0,LDoお
よびアドレス走査回路6のアドレス走査出力AS
を切替えてRAM4のアドレスAとして出力す
る。アドレス走査回路6はタイミング回路3から
のゲート切替信号Gsによつて起動され、同じく
回路3からのアドレス走査クロツクACLのタイ
ミングでRAM4のアドレス走査を行う。7はイ
ンクリメント回路で、RAM4から読み出した内
容Dを+1加算してもとのアドレスへ格納する機
能を持ち、タイミング回路3よりの信号Gpによ
つて起動される。8は7とは逆に−1減算する機
能を持つデクリメント回路で、信号Gnによつて
起動される。9は積算回路で、アドレス走査回路
6がRAM4の全アドレスを走査する時に、これ
に同期してその全内容を積算しながらその積算出
力SUMにデイジタル値の累積度数パターンを発
生する。10は比較器で、デイジタルデータの絶
対値の大小比較を行う。この入力は1つがSUM
で、他の1つは中央値を与える累積度数の定数M
である。そして比較器10の出力DETはSUM
Mの条件成立時にHレベルとなる。11と12は
入力データを記憶保持出力するレジスタで、11
は比較器10の出力DETがLレベル→Hレベル
の立上り時点でアドレス走査回路6の出力ASの
内容を記憶保持し、さらにその記憶保持出力
ASmを、レジスタ12はA/D変換器1のサン
プリングクロツクSCLに同期して記憶保持出力す
る。この出力LDmは最新のnサンプルのレベル
分布の中央値検出出力となる。(Configuration of the Invention) FIG. 1 is a block diagram showing an example of the configuration of a received electric field median value detection device embodying the present invention. Symbol 1 in this figure is an A/D (analog-digital) converter, and its input L is the envelope output of the received wave or analog level information of its logarithmically compressed value.
The A/D converter 1 converts the input L into digital level information LD0 for each pulse of the sampling clock SCL supplied from outside the device. 2 is a shift register which sequentially inputs LD 0 at the timing of SCL and stores n samples (an appropriate value of n will be explained later). Its output LD o is the level information after n samples delay. Reference numeral 3 denotes a timing generation circuit that generates various timing pulses necessary for a series of control sequences for median value detection calculations for each pulse of the sampling clock SCL. 4 is
RAM (random access memory) stores the frequency distribution of level information required for median detection calculations. 5 is an address switching circuit that switches the address A of the RAM 4. 6 is an address scanning circuit, RAM
4. Scan all addresses in one cycle. The address switching circuit 5 outputs LD 0 , LD o and the address scanning output AS of the address scanning circuit 6 according to the gate switching signals G p , G o , G s outputted from the timing circuit 3, respectively.
is switched and output as address A of RAM4. The address scanning circuit 6 is activated by the gate switching signal Gs from the timing circuit 3, and performs address scanning of the RAM 4 at the timing of the address scanning clock ACL also from the circuit 3. 7 is an increment circuit which has the function of adding +1 to the content D read from the RAM 4 and storing it at the original address, and is activated by the signal G p from the timing circuit 3. 8 is a decrement circuit having a function of subtracting by -1 in contrast to 7, and is activated by the signal Gn. Reference numeral 9 denotes an integrating circuit which, when the address scanning circuit 6 scans all the addresses in the RAM 4, integrates all the contents in synchronization with this and generates a cumulative frequency pattern of digital values in its integrated output SUM. A comparator 10 compares the absolute values of digital data. One of these inputs is SUM
The other one is the cumulative frequency constant M that gives the median value.
It is. And the output DET of comparator 10 is SUM
It becomes H level when the condition M is satisfied. 11 and 12 are registers that store and output input data;
stores and holds the contents of the output AS of the address scanning circuit 6 at the time when the output DET of the comparator 10 rises from L level to H level, and further outputs the memory holding output.
The register 12 stores and outputs ASm in synchronization with the sampling clock SCL of the A/D converter 1. This output LDm becomes the median value detection output of the level distribution of the latest n samples.
(発明の作用)
第1図の構成による装置の作用を第2図および
第3図によつて以下に説明する。ただし説明の便
宜上電圧中央値検出のためのレベル情報のサンプ
ル数nおよびレベル区分数をいずれも11とし簡
素化している。(Operation of the Invention) The operation of the apparatus having the configuration shown in FIG. 1 will be explained below with reference to FIGS. 2 and 3. However, for convenience of explanation, the number n of samples of level information for detecting the voltage median value and the number of level divisions are both set to 11 for simplification.
第2図はRAM4の記憶内容の一例図で、横軸
にアドレスA、縦軸に各アドレスのデータ内容D
の数値をそれぞれとり、棒グラフ状に表わしてい
る。括弧内の数はDの値である。ここでアドレス
Aの値0〜10(11レベル)はA/D変換器1のレ
ベル情報出力LD0の値の区分0〜10に対応してい
て、A=RAMアドレス=レベル情報であるが、
各アドレスのデータ値Dは該当するレベル情報が
得られた度数を示す。このような対応によつて
RAM4は各レベル情報値毎の度数分布を記憶す
る機能を持つている。 Figure 2 is an example of the memory contents of RAM4, where the horizontal axis is address A, and the vertical axis is the data content D of each address.
The values for each are taken and expressed in a bar graph. The number in parentheses is the value of D. Here, the values 0 to 10 (11 levels) of address A correspond to the divisions 0 to 10 of the value of level information output LD 0 of A/D converter 1, and A = RAM address = level information.
The data value D of each address indicates the number of times the corresponding level information was obtained. With this kind of response
The RAM 4 has a function of storing the frequency distribution for each level information value.
受信開始時点において新しいLD0が得られる度
毎に、LD0をアドレスとしてインクレメント回路
7によつて該当のアドレスのデータ値(=度数)
を増加させ、これをn(=11)サンプル分継続す
れば、初期のnサンプルでのレベル度数分布が
RAM4に得られる。いまこの時点の度数分布が
第2図の太い実線の状態であつたとすれば、次の
サンプルで新しいLD0が得られた時新しいnサン
プルの集合は新しいLD0からLDnの直前までのn
個のレベル情報の集合となり、RAM4からLDn
は捨て去られることになる。従つて度数分布も新
しいnサンプルに対応するものに更新することが
必要になる。 Every time a new LD 0 is obtained at the start of reception, the increment circuit 7 uses LD 0 as an address to increment the data value (=frequency) of the corresponding address.
If you increase this and continue this for n (= 11) samples, the level frequency distribution for the initial n samples becomes
Obtained in RAM4. If the frequency distribution at this point is as shown by the thick solid line in Figure 2, when a new LD 0 is obtained in the next sample, the new set of n samples will be n from the new LD 0 to just before LDn.
It becomes a set of level information for RAM4 to LDn.
will be thrown away. Therefore, it is necessary to update the frequency distribution to correspond to the new n samples.
ここでたとえばLD0=2、LDn=6であつたと
すれば、レベル2の度数を+1増加し〔第2図の
ように(1)→(2)〕、レベル6の度数は1減少〔(4)→
(3)〕することにより、新しいサンプルの追加と旧
サンプルの消去が実行され、新しいnサンプルの
度数分布が得られることは明かである。第2図で
はこの度数分布の変化分を斜線を施した破線にて
示している。 For example, if LD 0 = 2 and LDn = 6, the frequency of level 2 will be increased by +1 [(1) → (2) as shown in Figure 2], and the frequency of level 6 will be decreased by 1 [( 4)→
(3)], it is clear that new samples are added and old samples are deleted, and a new frequency distribution of n samples is obtained. In FIG. 2, this change in frequency distribution is shown by a dashed line with diagonal lines.
上記のような度数分布の初期値の作成とその更
新手順を基礎とし、第2図の例を応用してA/D
変換器1から出力されるレベル情報の1サンプル
毎に新しいn個のサンプルの集合に対応して度数
分布を更新し、これから中央値を検出する動作の
一例のタイムチヤートを第3図に示した。 Based on the creation of the initial value of the frequency distribution and its update procedure as described above, and by applying the example in Figure 2, A/D
Figure 3 shows a time chart of an example of an operation in which the frequency distribution is updated in response to a new set of n samples for each sample of the level information output from the converter 1, and the median value is detected from this. .
第3図において横軸は時間の経過を示し、左端
の記号SCL〜LDmは第1図に示した各信号を示
している。このうちSCLからACLまでおよび
DETは第1図にて説明した2値信号で、第3図
の右端にその2値のH(信号あり)とL(信号な
し)を表示している。またA(アドレス)、ASm
(レジスタ11のサンプル出力)、LDm(レジスタ
12のサンプル出力)は大小の矩形部分に数値を
記入してその内容を表わしている。D(RAM4
のデータ内容)とSUM(積算回路9の積算出力)
は横軸が時間経過であること以外はすべて第2図
の書式と同様である。 In FIG. 3, the horizontal axis indicates the passage of time, and symbols SCL to LDm at the left end indicate each signal shown in FIG. 1. Of these, from SCL to ACL and
DET is the binary signal explained in FIG. 1, and its binary values H (signal present) and L (signal absent) are displayed at the right end of FIG. Also A (address), ASm
(sample output of register 11) and LDm (sample output of register 12) represent the contents by writing numerical values in large and small rectangular parts. D (RAM4
data content) and SUM (integration output of integration circuit 9)
The format is the same as in Figure 2 except that the horizontal axis represents the passage of time.
さていま第3図最上段のサンプリングクロツク
SCLの1パルスによつてA/D変換器1から新し
いレベル情報のサンプルLD0が得られると同時
に、タイミング発生回路3からはゲート切替信号
Goが“H”に立上り、RAM4のアドレスAはア
ドレス切替回路5によつてLD0(=2)となる。
従つてRAM4はアドレスLD0(=2)がアクセス
され、その内容Dの(1)がインクリメント回路7に
より+1加算され(2)に変化する。このGoの“H”
レベルの時間長TGはRAM4の1アドレスのデー
タの読み出し、+1加算格納の一組の動作を実行
するに必要な最低の長さでよい。次にGoに代つ
てゲート切替信号Gnが同じ時間長TGだけ“H”
レベルとなり、RAM4のアドレスLDn(=6)
がアクセスされ、その内容Dの(4)がデクリメント
回路8によつて−1減算され(3)に変化する。上記
は第2図で説明した内容を時間軸上で示したもの
である。以上の動作すなわち新しい度数分布の作
成が終了すると、ゲート切替信号Gsが“H”へ
立上り、RAM4のアドレスはアドレス走査回路
6のアドレス走査出力ASによつて0から10まで
走査される。これらの各アドレス指定はアドレス
走査クロツクACLに同期して行われ、かつアド
レス情報はレベル情報に対応しているから、
RAM4のデータDからレベル0〜レベル10に
該当する各度数が順次積算回路に読み出され、
ACLのタイミングで積算される。従つてその積
算出力SUMは図示のように時間軸上に展開され
る累積度数分布パターンとなる。ここでACLの
周期TAはRAM4の1アドレスのデータの読み出
しと積算の一組の動作を実行するために必要最低
限の長さでよい。さてサンプル数n(nは奇数と
する)の度数分布の中央値はその累積分布が(n
+1)/2に達する点で与えられるから、比較器
10のもう一方の定数入力MをM=(n+1)/
2=6に設定すれば、SUMMの条件成立を示
す比較器10の出力DETの立上り点のA(または
AS)の値(第3図の例では5)が中央値となる。
レジスタ11は第3図のようにこれをDETの立
上り点で記憶保持し、その出力ASmの値は前回
の中央値(第2図の例では6)から新しい中央値
(上記の5)に更新される。これがレジスタ12
によつて次のサンプリングクロツクSCLパルス到
来時に外部に中央値検知出力LDmとして出力さ
れる。 Now, the sampling clock at the top of Figure 3
A new level information sample LD0 is obtained from the A/D converter 1 by one pulse of SCL, and at the same time, a gate switching signal is generated from the timing generation circuit 3.
Go rises to "H", and the address A of the RAM 4 becomes LD 0 (=2) by the address switching circuit 5.
Therefore, the address LD 0 (=2) in the RAM 4 is accessed, and the contents D (1) are added by +1 by the increment circuit 7 and changed to (2). “H” in this Go
The level time length T G may be the minimum length necessary to execute a set of operations of reading data from one address of the RAM 4 and adding +1 and storing it. Next, instead of Go, the gate switching signal Gn becomes “H” for the same time length T G.
level, RAM4 address LDn (=6)
is accessed, and its contents D (4) are subtracted by -1 by the decrement circuit 8 and changed to (3). The above shows the contents explained in FIG. 2 on the time axis. When the above operation, that is, creation of a new frequency distribution, is completed, the gate switching signal Gs rises to "H", and the address of the RAM 4 is scanned from 0 to 10 by the address scanning output AS of the address scanning circuit 6. Each of these address specifications is performed in synchronization with the address scanning clock ACL, and since the address information corresponds to the level information,
Each frequency corresponding to level 0 to level 10 is sequentially read out from the data D of RAM4 to the integration circuit,
Accumulated at ACL timing. Therefore, the integrated output SUM becomes a cumulative frequency distribution pattern developed on the time axis as shown in the figure. Here, the period T A of the ACL may be the minimum length required to execute a set of operations of reading data from one address of the RAM 4 and integrating the data. Now, the median of the frequency distribution for the number of samples n (n is an odd number) is the cumulative distribution of (n
+1)/2, the other constant input M of the comparator 10 is set as M=(n+1)/
If 2=6 is set, A (or
AS) (5 in the example in Figure 3) is the median value.
Register 11 stores this at the rising point of DET as shown in Figure 3, and its output ASm value is updated from the previous median value (6 in the example in Figure 2) to the new median value (5 above). be done. This is register 12
When the next sampling clock SCL pulse arrives, it is outputted to the outside as the median detection output LDm.
次に以上に説明した本発明による装置を一般の
陸上移動通信での受信電界強度中央値検出への実
用において課題となる諸性能すなわちレベル情報
のダイナミツクレンジ、サンプル周期、サンプル
数等についてその実現性、適合性の見地から吟味
する。 Next, we will address the various performance issues that arise when the device according to the present invention described above is put to practical use in detecting the median received field strength in general land mobile communications, such as the dynamic range of level information, sampling period, number of samples, etc. Examine from the standpoint of gender and suitability.
陸上移動無線通信におけるフエージングは、そ
の受信信号の包絡線レベル分布がレイリー分布則
に従ういわゆるレイリーフエージングであること
が一般に認められている。まずその包絡線レベル
のダイナミツクレンジ(レベルの最大変化範囲)
については、対数圧縮した値(デシベル、dB)
で取扱われる場合、受信機の性能にも依存するが
およそ−30〜+80dBμV(dBμVは1μVを基準とし
た対数値の20倍)すなわち110dBである。いま測
定精度を±1dB以内とし、1dBきざみで測定する
と仮定すると、レベル情報のレベル区分数はおよ
そ110となる。これは1バイト=8ビツトの2進
数で表現できる0〜255の範囲内にあり、8ビツ
トのA/D変換器を使用すれば実現できる。 It is generally accepted that fading in land mobile radio communications is so-called Rayleaf aging in which the envelope level distribution of the received signal follows the Rayleigh distribution law. First, the dynamic range of the envelope level (maximum change range of level)
For, logarithmically compressed value (decibel, dB)
When handled with 1 μV, it is approximately -30 to +80 dBμV (dBμV is 20 times the logarithm value with 1 μV as the standard), or 110 dB, although it depends on the performance of the receiver. Assuming that the measurement accuracy is within ±1 dB and the measurement is performed in 1 dB increments, the number of level divisions of level information will be approximately 110. This is within the range of 0 to 255 that can be expressed as a binary number of 1 byte = 8 bits, and can be realized by using an 8-bit A/D converter.
次に中央値の統計的推定に必要なサンプル周期
Ts(秒)については、前記の文献3によればレイ
リーフエージングの最大ドツプラ周波数D(Hz)
に対して
1/Ts2.61D ……(1)
を満足すれば有効な標準偏差を持つ中央値が得ら
れることが知られている。(1/Ts=s=標本化
周波数)。 Next, the sample period required for statistical estimation of the median value
Regarding Ts (seconds), according to the above-mentioned document 3, the maximum Doppler frequency D (Hz) of Rayleaf aging
It is known that if 1/T s 2.61 D ...(1) is satisfied, a median value with an effective standard deviation can be obtained. (1/T s = s = sampling frequency).
またサンプル数nについてはnが大きくなるに
つれて中央値の標準偏差が小さくなることは明ら
かであり、前記文献4によると1dBの標準偏差を
得るのに必要な標本(サンプル)数nは下式とな
る。 Regarding the number of samples n, it is clear that the standard deviation of the median value decreases as n increases. According to the above-mentioned document 4, the number n of samples required to obtain a standard deviation of 1 dB is expressed by the following formula. Become.
n39 ……(2)
一般にフエージングの最大ドツプラ周波数Dは
無線周波数を(Hz)、移動体の速度をv(m/
sec)、光の速度c=3×108(m/sec)とすれば
D=v/c ……(3)
で表わされ、陸上移動無線に用いられる800MHz
帯ではv=100Km/hとして(3)式より
D74(Hz) ……(4)
(4)の条件を(1)に代入すると
Ts5×10-3(秒) ……(5)
となる。従つて1つの中央値を得るに要する時詰
長T=nTsは(2)と(5)より
T=n・Ts≒0.195(秒) ……(6)
となる。以上の数値例から第3図に示した各動作
に必要な時間長は次のようになる。 n39...(2) In general, the maximum Doppler frequency D of fading is the radio frequency (Hz) and the speed of the moving object v (m/m/
sec), and the speed of light c = 3 x 10 8 (m/sec), then D = v/c...(3), which is 800MHz used for land mobile radio.
In the zone, assuming v=100Km/h, from equation (3), D 74 (Hz) ...(4) Substituting the condition of (4) into (1), Ts5×10 -3 (seconds) ...(5) . Therefore, the timing length T=nTs required to obtain one median value is T=n· Ts ≈0.195 (seconds) (6) from (2) and (5). From the above numerical examples, the time length required for each operation shown in FIG. 3 is as follows.
Go、GnのHレベルの時間長TGはメモリRAM
4の読み出しと格納に要する時間で、メモリの読
み出しを基本とした時間長TAの2倍でよいとす
ると、第3図より
Ts2TG+(レベル区分数)・TA
=(4+110)・TA114TA ……(7)
となるので、(5)、(7)両式より
TATs/1145×10-3/11444(μs)……(8)
となる。一般のRAMの読み出し、格納速度は数
μs以下であることを考慮すれば、このTAは十分
実現可能な速度に対するものである。 Go, Gn H level time length T G is memory RAM
Assuming that the time required to read and store 4 is twice the time T A based on memory read, then from Figure 3, T s 2T G + (number of level divisions)・T A = (4 + 110)・T A 114T A ...(7) Therefore, from both equations (5) and (7), T A T s /1145×10 -3 /11444 (μs) ...(8). Considering that the read and store speeds of general RAM are several μs or less, this T A is a sufficiently achievable speed.
また第1図のシフトレジスタ2の段数はサンプ
ル数nに等しくするから(2)式より39以上であれば
よく容易に実現できる。 Furthermore, since the number of stages of the shift register 2 shown in FIG. 1 is made equal to the number of samples n, it is sufficient that it is 39 or more according to equation (2) and can be easily realized.
さらに以上の計算速度と記憶容量が与えられる
とすれば、第1図の機能構成はA/D変換器1を
除くすべてをマイクロコンピユータによるソフト
ウエア機能に置換えることも可能であつて、この
場合はサンプル数などのパラメータを任意に設定
できるなどの汎用性が得られる。 Furthermore, given the above calculation speed and storage capacity, it is also possible to replace all of the functional configuration of FIG. 1 except for the A/D converter 1 with software functions by a microcomputer, and in this case, provides versatility in that parameters such as the number of samples can be set arbitrarily.
(発明の効果)
本発明の中央値検出装置においては受信電界を
サンプルする度毎に、過去の所定のサンプル数を
総合した受信レベルの度数分布と累積度数分布を
そのつど正確に求め、これから中央値を計算し出
力するので、従来の負帰還形追値回路による方法
における中央値検出動作にあつた積分時定数によ
る遅延効果、すなわち複数サンプル間の干渉効果
をなくすことができる。また応用上必要とする範
囲の任意のサンプル数のレベル値の標本から定義
通りの中央値の標本を与えることができるので、
理論値と実測値との対応評価上適合性が高い。(Effects of the Invention) Each time the received electric field is sampled, the median value detection device of the present invention accurately calculates the frequency distribution and cumulative frequency distribution of the received level, which is a total of a predetermined number of samples in the past, and Since the value is calculated and output, it is possible to eliminate the delay effect due to the integration time constant in the median value detection operation in the conventional method using the negative feedback type value tracking circuit, that is, the interference effect between a plurality of samples. Also, since it is possible to give a sample with the median value as defined from samples with any number of level values within the range required for the application,
The compatibility is high in terms of the correspondence evaluation between the theoretical values and the measured values.
さらに回路の構成ではソフトウエア化できる部
分が多く、装置の小形化、高信頼性、低コスト化
に適するという利点がある。 Furthermore, many parts of the circuit configuration can be converted into software, which has the advantage of being suitable for downsizing, high reliability, and cost reduction of devices.
第1図は本発明を実施した装置の構成例図、第
2図は第1図中のRAMの記憶内容の一例図、第
3図は第1図の構成の装置において第2図の例を
用いた中央値検出の動作例のタイムチヤートであ
る。
1……A/D変換器、2……シフトレジスタ、
3……タイミング発生回路、4……RAM(ラン
ダムアクセスメモリ)、5……アドレス切替回路、
6……アドレス走査回路、7……インクリメント
回路、8……デクリメント回路、9……積算回
路、10……比較器、11,12……レジスタ、
L……アナログレベル情報、LDo,LDn……デイ
ジタルレベル情報、SCL……サンプリングクロツ
ク、A……RAMのアドレス、D……RAMのデ
ータ内容、Go,Gn,Gs……ゲート切替信号、
ACL……アドレス走査クロツク、AS……アドレ
ス走査出力、SUM……積算出力、M……中央値
を与える累積度数値、DET……比較器出力、
ASm……記憶保持出力、LDm……中央値検知出
力。
FIG. 1 is a diagram showing an example of the configuration of a device implementing the present invention, FIG. 2 is a diagram showing an example of the storage contents of the RAM in FIG. 1, and FIG. 3 is a diagram showing an example of the storage contents of the RAM in FIG. This is a time chart of an operation example of the median value detection used. 1...A/D converter, 2...Shift register,
3...timing generation circuit, 4...RAM (random access memory), 5...address switching circuit,
6... Address scanning circuit, 7... Increment circuit, 8... Decrement circuit, 9... Integration circuit, 10... Comparator, 11, 12... Register,
L...Analog level information, LDo, LDn...Digital level information, SCL...Sampling clock, A...RAM address, D...RAM data content, Go, Gn, Gs ...Gate switching signal,
ACL...address scan clock, AS...address scan output, SUM...accumulation output, M...cumulative degree value that gives the median value, DET...comparator output,
ASm...Memory retention output, LDm...Median detection output.
Claims (1)
のサンプル周期を有するサンプリングクロツクで
サンプルしこれをデイジタル数値のレベル情報に
変換出力するA/D変換器と、そのレベル情報出
力をnサンプル分(nは求める中央値の標準偏差
によつて必要なサンプル数)記憶するシフトレジ
スタと、前記レベル情報の度数分布を記憶するラ
ンダムアクセスメモリ(RAM)と、前記サンプ
リングクロツクに同期した各種のタイミングパル
スを発生するタイミング発生回路と、RAMのア
ドレスを切替えるアドレス切替回路と、RAMの
全アドレスを一巡走査するアドレス走査回路と、
前記サンプリングクロツクの1パルス毎に前記
A/D変換器よりのレベル情報に対応するRAM
のアドレスを前記アドレス切替回路を通じて指定
すると共にそのレベル情報すなわち新規レベルの
度数を1つだけ増加させるインクリメント回路
と、次に前記シフトレジスタ出力によるnサンプ
ル前のレベル情報に対応するアドレスを前記アド
レス切替回路を通じて指定すると共にそのレベル
情報すなわち捨てるべき古いレベルの度数を1つ
だけ減少させるデクリメント回路と、前記インク
リメントおよびデクリメント両回路によつて
RAM上に記憶されるレベル情報の度数分布を常
に最新のnサンプルに対応して更新した後前記ア
ドレス走査回路より全レベル情報範囲に当る
RAMのすべてのアドレスを一巡して走査指定し
その内容すなわち度数を次々に読み出すときこれ
を積算する積算回路と、その積算出力である累積
度数分布がサンプル数nによつて定まる中央値を
与える累積度数と等しいかこれより大きくなる最
初の時点を検出する比較器と、その出力の検出時
点のアドレス値すなわちレベル情報値を記憶する
レジスタなどの記憶回路と、この記憶内容を次の
サンプリングクロツクパルスに同期して中央値検
出出力として保持出力する回路とを具備したこと
を特徴とする受信電界の中央値検出装置。1. An A/D converter that samples the envelope of the received wave or its logarithmically compressed value using a sampling clock with a constant sampling period, converts it into digital numerical level information, and outputs the level information for n samples. (n is the number of samples required depending on the standard deviation of the desired median value) A shift register for storing, a random access memory (RAM) for storing the frequency distribution of the level information, and various timings synchronized with the sampling clock. A timing generation circuit that generates pulses, an address switching circuit that switches addresses in RAM, and an address scanning circuit that scans all addresses in RAM.
A RAM corresponding to level information from the A/D converter for each pulse of the sampling clock.
an increment circuit that specifies the address of 1 through the address switching circuit and increases the level information, that is, the frequency of the new level by one, and then switches the address corresponding to the level information n samples before by the shift register output. a decrement circuit which specifies the level information through the circuit and reduces by one the frequency of the old level to be discarded; and both the increment and decrement circuits.
After constantly updating the frequency distribution of the level information stored in the RAM in accordance with the latest n samples, the address scanning circuit hits the entire level information range.
An integration circuit that scans and specifies all the addresses in RAM and integrates the content when reading out the contents one after another, and an accumulation circuit that calculates the median value whose cumulative frequency distribution is determined by the number of samples n. A comparator that detects the first point in time that is equal to or greater than the frequency, a storage circuit such as a register that stores the address value, that is, the level information value, at the point of detection of the output, and a storage circuit such as a register that stores the stored contents at the next sampling clock pulse. 1. An apparatus for detecting a median value of a received electric field, comprising: a circuit for holding and outputting a median value detection output in synchronization with the received electric field.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14596184A JPS6128875A (en) | 1984-07-16 | 1984-07-16 | Median detector for received electric field |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14596184A JPS6128875A (en) | 1984-07-16 | 1984-07-16 | Median detector for received electric field |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6128875A JPS6128875A (en) | 1986-02-08 |
| JPS649590B2 true JPS649590B2 (en) | 1989-02-17 |
Family
ID=15397018
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14596184A Granted JPS6128875A (en) | 1984-07-16 | 1984-07-16 | Median detector for received electric field |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6128875A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04271532A (en) * | 1991-02-27 | 1992-09-28 | Nec Corp | Receiving signal electric field detecting circuit |
-
1984
- 1984-07-16 JP JP14596184A patent/JPS6128875A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6128875A (en) | 1986-02-08 |
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