JPH0114741B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0114741B2 JPH0114741B2 JP54003245A JP324579A JPH0114741B2 JP H0114741 B2 JPH0114741 B2 JP H0114741B2 JP 54003245 A JP54003245 A JP 54003245A JP 324579 A JP324579 A JP 324579A JP H0114741 B2 JPH0114741 B2 JP H0114741B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- sine wave
- frequency
- circuit
- generating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はデータ回線の品質を表わすエレメント
誤りを、帯域及び簡易性の観点から有利な正弦波
を使用して測定するエレメント誤り測定装置に関
し、特に符号化伝送速度を任意に可変できるエレ
メント誤り測定装置に関する。
誤りを、帯域及び簡易性の観点から有利な正弦波
を使用して測定するエレメント誤り測定装置に関
し、特に符号化伝送速度を任意に可変できるエレ
メント誤り測定装置に関する。
従来のこの種エレメント誤り測定装置を、その
構成及び各部のタイムチヤートを示す第１図及び
第２図を参照して説明する。正弦波発振器２から
出力される正弦波信号ａは被測定対象回線である
通信回線１を通る際、振幅および位相の歪を受け
て波形整形回路３に入力する。波形整形回路３で
は歪を受けた正弦波信号ｂから予め定めた立上り
側（＋側）のスライスレベルS+及び立下り側
（−側）のスライスレベルS-で立上り及び立下る
矩形波信号ｃを発生し、排他的論理和回路５の一
入力とする。このとき得られる矩形波信号ｃは、
歪を受けた正弦波信号ｂが、波形整形される際に
立上り側あるいは立下り側のスライスレベルS+
あるいはS-に満たないときには前の状態を保持
する（Ａ部）。一方、矩形波発振器４は波形整形
回路３で得られた矩形波ｃの、例えば立上りを同
期検出点Ｄとして位相が制御され、正弦波発振器
２と同一周波数を有する矩形波である基準波形信
号ｆと、この基準波形信号ｆの２倍の周波数をも
つ標本化信号ｇを発生する。排他的論理和回路５
では波形整形された信号ｃと基準波形信号ｆとで
排他的論理和をとつて比較を行ない、結果を示す
信号ｄを論理積回路６に入力する。論理積回路６
では排他的論理和５による比較結果信号ｄと標本
化信号ｇとの論理積をとり照合し、照合した結果
をエレメント誤りｅとして出力，検出する。
構成及び各部のタイムチヤートを示す第１図及び
第２図を参照して説明する。正弦波発振器２から
出力される正弦波信号ａは被測定対象回線である
通信回線１を通る際、振幅および位相の歪を受け
て波形整形回路３に入力する。波形整形回路３で
は歪を受けた正弦波信号ｂから予め定めた立上り
側（＋側）のスライスレベルS+及び立下り側
（−側）のスライスレベルS-で立上り及び立下る
矩形波信号ｃを発生し、排他的論理和回路５の一
入力とする。このとき得られる矩形波信号ｃは、
歪を受けた正弦波信号ｂが、波形整形される際に
立上り側あるいは立下り側のスライスレベルS+
あるいはS-に満たないときには前の状態を保持
する（Ａ部）。一方、矩形波発振器４は波形整形
回路３で得られた矩形波ｃの、例えば立上りを同
期検出点Ｄとして位相が制御され、正弦波発振器
２と同一周波数を有する矩形波である基準波形信
号ｆと、この基準波形信号ｆの２倍の周波数をも
つ標本化信号ｇを発生する。排他的論理和回路５
では波形整形された信号ｃと基準波形信号ｆとで
排他的論理和をとつて比較を行ない、結果を示す
信号ｄを論理積回路６に入力する。論理積回路６
では排他的論理和５による比較結果信号ｄと標本
化信号ｇとの論理積をとり照合し、照合した結果
をエレメント誤りｅとして出力，検出する。
以上のような従来のエレメント誤り測定装置で
は、符号伝送速度が正弦波信号の周波数の２倍
（標本化信号の周波数と等しい）と固定であるた
め例えば正弦波信号の周波数を2000Hzとすれば、
符号列が１，０の繰り返しで符号伝送速度は4000
ビツト／秒となる。したがつて符号伝送速度を上
げてエレメント誤りの検出能力を向上させるため
には正弦波信号の周波数をその度に高くしなけれ
ばならなかつた。
は、符号伝送速度が正弦波信号の周波数の２倍
（標本化信号の周波数と等しい）と固定であるた
め例えば正弦波信号の周波数を2000Hzとすれば、
符号列が１，０の繰り返しで符号伝送速度は4000
ビツト／秒となる。したがつて符号伝送速度を上
げてエレメント誤りの検出能力を向上させるため
には正弦波信号の周波数をその度に高くしなけれ
ばならなかつた。
又、エレメント誤り検出の規準となる標本信号
は正弦波信号の周波数で定まつてしまうため通信
回線の瞬断による誤り検出が不可能になる恐れが
あつた。例えば第２図中、排他的論理回路５の出
力のＢは瞬断を検出しているにも拘らず、標本化
信号ｇとのタイミングが一致しないためエレメン
ト誤りｅの信号としては出力されない。
は正弦波信号の周波数で定まつてしまうため通信
回線の瞬断による誤り検出が不可能になる恐れが
あつた。例えば第２図中、排他的論理回路５の出
力のＢは瞬断を検出しているにも拘らず、標本化
信号ｇとのタイミングが一致しないためエレメン
ト誤りｅの信号としては出力されない。
本発明の目的は、上記欠点を除去した任意の符
号伝送速度に対するエレメント誤り測定を容易に
行なうことが可能で、且つ瞬断等の影響によるエ
レメント誤りをも充分に検出することができるエ
レメント誤り測定装置を提供することにある。
号伝送速度に対するエレメント誤り測定を容易に
行なうことが可能で、且つ瞬断等の影響によるエ
レメント誤りをも充分に検出することができるエ
レメント誤り測定装置を提供することにある。
上記目的を達成するために本発明ではエレメン
ト誤りを検出するに用いる標本化信号を可変にす
る構成をとつている。
ト誤りを検出するに用いる標本化信号を可変にす
る構成をとつている。
以下図面を参照して本発明の一実施例を説明す
る。第３図は本発明の一実施例を示すブロツク図
で、第１図と同一参照番号は同じ機能をもつブロ
ツク及び信号を示す。本実施例では矩形波発振器
４と論理積回路６の間に標本化信号ｇの周期を可
変とするために逓倍回路７を設けている。ここで
矩形波発振器４での位相制御は１サイクル毎に行
ない、同期検出点がない場合には位相の制御を行
なわないが、これに限らず位相の制御は任意のサ
イクルで行なつても良い。
る。第３図は本発明の一実施例を示すブロツク図
で、第１図と同一参照番号は同じ機能をもつブロ
ツク及び信号を示す。本実施例では矩形波発振器
４と論理積回路６の間に標本化信号ｇの周期を可
変とするために逓倍回路７を設けている。ここで
矩形波発振器４での位相制御は１サイクル毎に行
ない、同期検出点がない場合には位相の制御を行
なわないが、これに限らず位相の制御は任意のサ
イクルで行なつても良い。
基準波形信号に同期した標本化信号ｇは逓倍
回路７で符号伝送速度に応じた、例えば正弦波信
号ａの６倍の周波数をもつ標本化信号ｈに変換さ
れる。排他的論理和回路５では波形整形信号ｃと
基準信号との比較を行ない、論理積回路６にお
いて標本化信号ｇを逓倍して得られる標本化信号
ｈにより比較結果信号ｄの照合を行ない、エレメ
ント誤りｅを検出する。このとき標本化信号ｈの
周期は任意に可変であるので瞬断によるエラーＢ
をも充分に検出可能となる。
回路７で符号伝送速度に応じた、例えば正弦波信
号ａの６倍の周波数をもつ標本化信号ｈに変換さ
れる。排他的論理和回路５では波形整形信号ｃと
基準信号との比較を行ない、論理積回路６にお
いて標本化信号ｇを逓倍して得られる標本化信号
ｈにより比較結果信号ｄの照合を行ない、エレメ
ント誤りｅを検出する。このとき標本化信号ｈの
周期は任意に可変であるので瞬断によるエラーＢ
をも充分に検出可能となる。
上述の実施例によれば正弦波信号の周波数の６
倍の符号伝送速度で符号列として１，１，１，
０，０，０の繰り返しのエレメント誤りを測定で
きる。この符号伝送速度は標本化信号の周波数で
定まり、この周波数が正弦波信号のｎ倍の周波数
とすればｎ倍の符号伝送速度に対するエレメント
誤りを測定できる。例えば正弦波信号を2100Hzと
し、標本化周波数を正弦波信号の20倍とすれば符
号列が、１，１，１，１，１，１，１，１，１，
１，０，０，０，０，０，０，０，０，０，０の
繰り返しで符号伝送速度は42Kビツト／秒にする
ことができる。
倍の符号伝送速度で符号列として１，１，１，
０，０，０の繰り返しのエレメント誤りを測定で
きる。この符号伝送速度は標本化信号の周波数で
定まり、この周波数が正弦波信号のｎ倍の周波数
とすればｎ倍の符号伝送速度に対するエレメント
誤りを測定できる。例えば正弦波信号を2100Hzと
し、標本化周波数を正弦波信号の20倍とすれば符
号列が、１，１，１，１，１，１，１，１，１，
１，０，０，０，０，０，０，０，０，０，０の
繰り返しで符号伝送速度は42Kビツト／秒にする
ことができる。
更に本発明によれば、通信回線の出力が波形整
形される際に立上り側（＋側）あるいは立下り側
（−側）のスライスレベルに満たないときは、波
形整形出力は前の状態を保持し、符号伝送速度に
応じたエレメント誤りが検出されるので通信回線
の瞬断時間を測定することもできる。
形される際に立上り側（＋側）あるいは立下り側
（−側）のスライスレベルに満たないときは、波
形整形出力は前の状態を保持し、符号伝送速度に
応じたエレメント誤りが検出されるので通信回線
の瞬断時間を測定することもできる。
以上説明したように本発明は正弦波信号の周波
数を変更することなく、標本化周波数を所望の符
号伝送速度に対応する周波数に設定しているため
任意の符号伝送速度に対するエレメント誤りを極
めて容易に測定できると共に通信回線の瞬断等に
よるエレメント誤りをも測定できると言う顕著な
効果を奏する。
数を変更することなく、標本化周波数を所望の符
号伝送速度に対応する周波数に設定しているため
任意の符号伝送速度に対するエレメント誤りを極
めて容易に測定できると共に通信回線の瞬断等に
よるエレメント誤りをも測定できると言う顕著な
効果を奏する。
第１図及び第２図は従来のエレメント誤り測定
装置のブロツク図及び第１図における各部の信号
のタイムチヤート、第３図及び第４図は本発明の
一実施例のエレメント誤り測定装置のブロツク図
及び第３図における各部の信号のタイムチヤート
である。 １……通信回線、２……正弦波発振器、３……
波形整形回路、４……矩形波発振器、５……排他
的論理和回路、６……論理積回路、７……逓倍回
路。
装置のブロツク図及び第１図における各部の信号
のタイムチヤート、第３図及び第４図は本発明の
一実施例のエレメント誤り測定装置のブロツク図
及び第３図における各部の信号のタイムチヤート
である。 １……通信回線、２……正弦波発振器、３……
波形整形回路、４……矩形波発振器、５……排他
的論理和回路、６……論理積回路、７……逓倍回
路。
Claims (1)
- １ 正弦波信号を通信回線に送出する手段と、こ
の通信回線で歪を受けた正弦波信号を所定のレベ
ルでスライス、整形した整形信号を発生する手段
とこの整形信号と同期し前記正弦波信号と同一周
波数を有する基準信号を発生する手段と、この基
準信号と前記整形信号とを比較して両者が一致し
ない信号成分を取り出す手段と、所望の周波数を
もつ標本化信号を周波数可変に発生する手段と、
この標本化信号と前記信号成分との論理積をとる
ことにより標本化信号毎のエレメント誤りを検出
する論理積回路とを備えて成ることを特徴とする
エレメント誤り測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP324579A JPS5595442A (en) | 1979-01-11 | 1979-01-11 | Element error measurement instrument |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP324579A JPS5595442A (en) | 1979-01-11 | 1979-01-11 | Element error measurement instrument |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5595442A JPS5595442A (en) | 1980-07-19 |
| JPH0114741B2 true JPH0114741B2 (ja) | 1989-03-14 |
Family
ID=11552064
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP324579A Granted JPS5595442A (en) | 1979-01-11 | 1979-01-11 | Element error measurement instrument |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5595442A (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5746257B2 (ja) * | 1972-11-20 | 1982-10-02 | ||
| JPS5326792B2 (ja) * | 1973-01-18 | 1978-08-04 | ||
| JPS5298571A (en) * | 1976-02-14 | 1977-08-18 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Jitter measuring apparatus |
-
1979
- 1979-01-11 JP JP324579A patent/JPS5595442A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5595442A (en) | 1980-07-19 |
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