JPH0147181B2 - - Google Patents
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- JPH0147181B2 JPH0147181B2 JP58238214A JP23821483A JPH0147181B2 JP H0147181 B2 JPH0147181 B2 JP H0147181B2 JP 58238214 A JP58238214 A JP 58238214A JP 23821483 A JP23821483 A JP 23821483A JP H0147181 B2 JPH0147181 B2 JP H0147181B2
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- JP
- Japan
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- circuit
- delay
- control
- channel
- diagnostic apparatus
- Prior art date
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Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 27
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 19
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 7
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- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/52—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S15/00
- G01S7/52017—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S15/00 particularly adapted to short-range imaging
- G01S7/5205—Means for monitoring or calibrating
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の所属する技術分野〕
本発明は、超音波診断装置の検査回路に関す
る。
る。
マトリクススイツチは超音波診断装置の要部で
ある。このマトリクススイツチは、数千点にも及
ぶスイツチを有している。
ある。このマトリクススイツチは、数千点にも及
ぶスイツチを有している。
従来、このマトリクススイツチの検査は、検査
治具を使用して行つていた。
治具を使用して行つていた。
この方法では、検査に要する時間が過大になる
欠点があつた。また、装置使用者が検査を行うの
に不便であつた。
欠点があつた。また、装置使用者が検査を行うの
に不便であつた。
本発明は、前述の欠点を除去するもので、自己
診断回路を装備した超音波診断装置を提供するこ
とを目的とする。
診断回路を装備した超音波診断装置を提供するこ
とを目的とする。
本発明は、超音波診断装置のマトリクススイツ
チおよびタツプ付き遅延回路の検査を行う手段で
あつて、多チヤンネルの超音波接触子を接続する
接続端子と、この接続端子に送波パルスを与える
送信回路と、上記接続端子に生じる受波パルスを
増幅検波して時間軸上に画像表示する受信回路
と、上記送信回路および上記受信回路を制御する
制御回路とを備え、上記送信回路には、トリガ信
号源と、このトリガ信号源の出力を起点にそれぞ
れ異なる遅延時間のパルスを発生して上記超音波
接触子の各チヤンネルに与える送波遅延制御回路
とを備え、上記受信回路には、タツプ付き遅延回
路と、上記接続端子の各チヤンネルが一辺に接続
され、上記タツプ付き遅延回路の各タツプが他の
一辺に接続されたマトリクススイツチとを備え、
上記制御回路は、上記送波遅延選択回路の各チヤ
ンネルの選択および与える遅延量の制御と、上記
マトリクススイツチの開閉制御とを行うように構
成された超音波診断装置において、上記制御回路
は操作によりその制御モードを検査モードに設定
することができるように構成され、この検査モー
ドでは、上記制御回路は、上記送波遅延選択回路
の各チヤンネルを順次1つずつ選択するととも
に、選択されたチヤンネルに所定の遅延量を与え
るように制御し、この選択されたチヤンネルにつ
いて上記マトリクススイツチを順次1つずつ開閉
させるように制御するように構成されたことを特
徴とする。
チおよびタツプ付き遅延回路の検査を行う手段で
あつて、多チヤンネルの超音波接触子を接続する
接続端子と、この接続端子に送波パルスを与える
送信回路と、上記接続端子に生じる受波パルスを
増幅検波して時間軸上に画像表示する受信回路
と、上記送信回路および上記受信回路を制御する
制御回路とを備え、上記送信回路には、トリガ信
号源と、このトリガ信号源の出力を起点にそれぞ
れ異なる遅延時間のパルスを発生して上記超音波
接触子の各チヤンネルに与える送波遅延制御回路
とを備え、上記受信回路には、タツプ付き遅延回
路と、上記接続端子の各チヤンネルが一辺に接続
され、上記タツプ付き遅延回路の各タツプが他の
一辺に接続されたマトリクススイツチとを備え、
上記制御回路は、上記送波遅延選択回路の各チヤ
ンネルの選択および与える遅延量の制御と、上記
マトリクススイツチの開閉制御とを行うように構
成された超音波診断装置において、上記制御回路
は操作によりその制御モードを検査モードに設定
することができるように構成され、この検査モー
ドでは、上記制御回路は、上記送波遅延選択回路
の各チヤンネルを順次1つずつ選択するととも
に、選択されたチヤンネルに所定の遅延量を与え
るように制御し、この選択されたチヤンネルにつ
いて上記マトリクススイツチを順次1つずつ開閉
させるように制御するように構成されたことを特
徴とする。
また、所定の遅延量は、マトリクススイツチの
開閉にしたがつて変化するように構成されてもよ
い。
開閉にしたがつて変化するように構成されてもよ
い。
また、制御回路は、マトリクススイツチの開閉
のタイミングを送波パルスがそのマトリクススイ
ツチに直接入力するタイミングで行うように構成
されてもよい。
のタイミングを送波パルスがそのマトリクススイ
ツチに直接入力するタイミングで行うように構成
されてもよい。
さらに、制御回路は、検査モードでは送信回路
を制御して、送波パルスの電力を小さくするよう
に構成されることが望ましい。
を制御して、送波パルスの電力を小さくするよう
に構成されることが望ましい。
以下、本発明実施例装置を図面に用いて説明す
る。
る。
第1図は、この実施例装置の要部の構成を示す
ブロツク構成図である。
ブロツク構成図である。
まず、この実施例装置の構成と接続を説明す
る。この実施例装置は、第1図に示すように、送
波デイレイおよびチヤンネル選択回路1と、送波
アンプ2と、ピエゾ超音波接触子3と、受波アン
プ4と、マトリクススイツチ(以下、タツプ・セ
レクタという。)5と、タツプ付き遅延回路(以
下、デイレイ・ラインという。)6と、増幅検波
回路7と、アナログ・デジタル・コンバータ(以
下、A・Dコンバータという。)8と、画像メモ
リ9と、デジタル・アナログ・コンバータ(以
下、D・Aコンバータという。)10と、画像表
示管(以下、CRTという。)11と、トリガ発生
回路12と、マイクロ・プロセツサ13と、スキ
ヤン・コントローラ14と、スイツチ回路15
と、アドレス・コントローラ16とで構成され
る。
る。この実施例装置は、第1図に示すように、送
波デイレイおよびチヤンネル選択回路1と、送波
アンプ2と、ピエゾ超音波接触子3と、受波アン
プ4と、マトリクススイツチ(以下、タツプ・セ
レクタという。)5と、タツプ付き遅延回路(以
下、デイレイ・ラインという。)6と、増幅検波
回路7と、アナログ・デジタル・コンバータ(以
下、A・Dコンバータという。)8と、画像メモ
リ9と、デジタル・アナログ・コンバータ(以
下、D・Aコンバータという。)10と、画像表
示管(以下、CRTという。)11と、トリガ発生
回路12と、マイクロ・プロセツサ13と、スキ
ヤン・コントローラ14と、スイツチ回路15
と、アドレス・コントローラ16とで構成され
る。
送波デイレイおよびチヤンネル制御回路1の一
方の入力は、トリガ発生回路12の出力に接続さ
れ、送波デイレイおよびチヤンネル選択回路1の
他方の入力は、スイツチ回路15の切換出力に接
続される。送波デイレイおよびチヤンネル選択回
路1のn個の出力のそれぞれは、n個の送波アン
プ2のそれぞれの入力に接続され、また、n個の
送波アンプ2のそれぞれの出力は、n個のピエゾ
超音波接触子3のそれぞれおよびn個の受波アン
プ4のそれぞれの入力に接続される。n個の受波
アンプ4の出力のそれぞれは、タツプ・セレクタ
5のn個の受波信号入力のそれぞれに接続され、
タツプ・セレクタ5のn個の出力のそれぞれは、
デイレイ・ライン6のn個の出力のそれぞれに接
続される。
方の入力は、トリガ発生回路12の出力に接続さ
れ、送波デイレイおよびチヤンネル選択回路1の
他方の入力は、スイツチ回路15の切換出力に接
続される。送波デイレイおよびチヤンネル選択回
路1のn個の出力のそれぞれは、n個の送波アン
プ2のそれぞれの入力に接続され、また、n個の
送波アンプ2のそれぞれの出力は、n個のピエゾ
超音波接触子3のそれぞれおよびn個の受波アン
プ4のそれぞれの入力に接続される。n個の受波
アンプ4の出力のそれぞれは、タツプ・セレクタ
5のn個の受波信号入力のそれぞれに接続され、
タツプ・セレクタ5のn個の出力のそれぞれは、
デイレイ・ライン6のn個の出力のそれぞれに接
続される。
デイレイ・ライン6の出力は、増幅検波回路7
の入力に接続され、増幅検波回路7の出力は、
A・Dコンバータ8の入力に接続される。A・D
コンバータ8の出力は、画像メモリ9の画像信号
入力に接続され、画像メモリ9の出力は、D・A
コンバータ10の入力に接続され、D・Aコンバ
ータ10の出力は、CRT11の入力に接続され
る。
の入力に接続され、増幅検波回路7の出力は、
A・Dコンバータ8の入力に接続される。A・D
コンバータ8の出力は、画像メモリ9の画像信号
入力に接続され、画像メモリ9の出力は、D・A
コンバータ10の入力に接続され、D・Aコンバ
ータ10の出力は、CRT11の入力に接続され
る。
また、トリガ発生回路12の出力は、マイク
ロ・プロセツサ13の入力およびアドレス・コン
トローラ16の一方の入力のそれぞれに接続さ
れ、マイクロ・プロセツサ13の第一の出力はア
ドレス・コントローラ16の他方の入力に接続さ
れ、アドレス・コントローラ16の出力は、画像
メモリ9のアドレス入力に接続される。
ロ・プロセツサ13の入力およびアドレス・コン
トローラ16の一方の入力のそれぞれに接続さ
れ、マイクロ・プロセツサ13の第一の出力はア
ドレス・コントローラ16の他方の入力に接続さ
れ、アドレス・コントローラ16の出力は、画像
メモリ9のアドレス入力に接続される。
また、マイクロ・プロセツサ13の第二の出力
は、スキヤン・コントローラ14の入力に接続さ
れ、マイクロ・プロセツサ13の第三の出力は、
スイツチ回路15の第一の入力に接続され、マイ
クロ・プロセツサ13の第四の出力は、スイツチ
回路15の第二の入力に接続される。また、スキ
ヤン・コントローラ14の出力は、スイツチ回路
15の第三の入力に接続される。スイツチ回路1
5の出力は、送波デイレイおよびチヤンネル選択
回路1の他方の入力およびタツプ・セレクタ5の
コントロール信号入力に接続される。
は、スキヤン・コントローラ14の入力に接続さ
れ、マイクロ・プロセツサ13の第三の出力は、
スイツチ回路15の第一の入力に接続され、マイ
クロ・プロセツサ13の第四の出力は、スイツチ
回路15の第二の入力に接続される。また、スキ
ヤン・コントローラ14の出力は、スイツチ回路
15の第三の入力に接続される。スイツチ回路1
5の出力は、送波デイレイおよびチヤンネル選択
回路1の他方の入力およびタツプ・セレクタ5の
コントロール信号入力に接続される。
本発明の特徴とするところは、スイツチ回路1
5が付加され、これに伴つて、マイクロ・プロセ
ツサ13との間に接続が付加され、また、マイク
ロ・プロセツサ13の出力がスイツチ回路15を
経由して、送波デイレイおよびチヤンネル選択回
路1およびタツプ・セレクタ5に接続されている
ことにある。また、このような構成を利用して、
次のような動作が行われることに本発明の特徴が
ある。
5が付加され、これに伴つて、マイクロ・プロセ
ツサ13との間に接続が付加され、また、マイク
ロ・プロセツサ13の出力がスイツチ回路15を
経由して、送波デイレイおよびチヤンネル選択回
路1およびタツプ・セレクタ5に接続されている
ことにある。また、このような構成を利用して、
次のような動作が行われることに本発明の特徴が
ある。
次に、この実施例装置につき本発明にかかわる
検査モード時の動作について説明する。
検査モード時の動作について説明する。
すなわち、スイツチ回路15の操作により、ス
イツチ回路15の切換出力がスキヤン・コントロ
ーラ14の出力に接続されているときは、この超
音波診断装置の通常動作が行われ、スイツチ回路
15の切換出力がマイクロ・プロセツサ13の第
四の出力に接続されているときは、この超音波診
断装置は、検査モードになる。
イツチ回路15の切換出力がスキヤン・コントロ
ーラ14の出力に接続されているときは、この超
音波診断装置の通常動作が行われ、スイツチ回路
15の切換出力がマイクロ・プロセツサ13の第
四の出力に接続されているときは、この超音波診
断装置は、検査モードになる。
ここで、第2図のA,B,C,D,Kは、第1
図に×印を付したA,B,C,D,Kの各部の信
号波形図である。
図に×印を付したA,B,C,D,Kの各部の信
号波形図である。
まず、スイツチ回路15の切換は、マイクロ・
プロセツサ13からのコントロール信号Iにより
行われ、検査モードに対応する接続が構成される
と、マイクロ・プロセツサ13からのコントロー
ル信号NおよびOのそれぞれにより、送波デイレ
イおよびチヤンネル選択回路1およびタツプ・セ
レクタ5のそれぞれが制御される。
プロセツサ13からのコントロール信号Iにより
行われ、検査モードに対応する接続が構成される
と、マイクロ・プロセツサ13からのコントロー
ル信号NおよびOのそれぞれにより、送波デイレ
イおよびチヤンネル選択回路1およびタツプ・セ
レクタ5のそれぞれが制御される。
まず、はじめのコントロール信号NおよびOに
より、送波デイレイおよびチヤンネル選択回路1
およびタツプ・セレクタ5のそれぞれは、第
「0」番のピエゾ超音波探触子3にかかわる第
「0」番チヤンネルに接続されるように、また、
送波デイレイ量tTDは最大値をとるように、かつ、
受波デイレイ量tRDは最小値をとるように制御さ
れる。送波トリガパルスAは、送波デイレイおよ
びチヤンネル選択回路1によりデイレイ量tTDの
デイレイを受けた送波トリガパルスBを出力し、
この送波トリガパルスBにより、ピエゾ超音波探
触子3が駆動される。このとき、送波トリガパル
スBは、受波アンプ4にも入力し、飽和した出力
Cが出力される。この出力Cは、タツプ・セレク
タ5の最小の受波デイレイ量tRDを与える位置に
ある接点を経由してデイレイ・ライン6に入力さ
れ、デイレイ・ライン6より飽和した受波信号D
が出力される。この飽和した受波信号Dは、増幅
検波回路7にて検波され、またA・Dコンバータ
8にてデジタル信号Eに変換されて、画像メモリ
9に入力する。
より、送波デイレイおよびチヤンネル選択回路1
およびタツプ・セレクタ5のそれぞれは、第
「0」番のピエゾ超音波探触子3にかかわる第
「0」番チヤンネルに接続されるように、また、
送波デイレイ量tTDは最大値をとるように、かつ、
受波デイレイ量tRDは最小値をとるように制御さ
れる。送波トリガパルスAは、送波デイレイおよ
びチヤンネル選択回路1によりデイレイ量tTDの
デイレイを受けた送波トリガパルスBを出力し、
この送波トリガパルスBにより、ピエゾ超音波探
触子3が駆動される。このとき、送波トリガパル
スBは、受波アンプ4にも入力し、飽和した出力
Cが出力される。この出力Cは、タツプ・セレク
タ5の最小の受波デイレイ量tRDを与える位置に
ある接点を経由してデイレイ・ライン6に入力さ
れ、デイレイ・ライン6より飽和した受波信号D
が出力される。この飽和した受波信号Dは、増幅
検波回路7にて検波され、またA・Dコンバータ
8にてデジタル信号Eに変換されて、画像メモリ
9に入力する。
次に、第「0」番チヤンネルで、送波デイレイ
量tTDが1段減らされ、かつ、受波デイレイ量tRD
が一段増されて前述と同様の動作が行われる。こ
の場合に、送波デイレイ量tTDと受波デイレイ量
tRDとの和である総デイレイ量TDは一定に保たれ
る。この動作が、第「0」チヤンネルで、受波デ
イレイ量tRDが最大値になるまで繰返し行われる。
また、このような第「0」番チヤンネルでの動作
が、第「n」番チヤンネルまでのすべてのチヤン
ネルに対し繰り返し実行される。この一連の動作
により、タツプ・セレクタ5のすべてのスイツチ
が順次1度ずつ閉ざされる。
量tTDが1段減らされ、かつ、受波デイレイ量tRD
が一段増されて前述と同様の動作が行われる。こ
の場合に、送波デイレイ量tTDと受波デイレイ量
tRDとの和である総デイレイ量TDは一定に保たれ
る。この動作が、第「0」チヤンネルで、受波デ
イレイ量tRDが最大値になるまで繰返し行われる。
また、このような第「0」番チヤンネルでの動作
が、第「n」番チヤンネルまでのすべてのチヤン
ネルに対し繰り返し実行される。この一連の動作
により、タツプ・セレクタ5のすべてのスイツチ
が順次1度ずつ閉ざされる。
さて、アドレス・コントローラ16からのアド
レス信号Kにより、はじめの送波トリガパルスA
に対しては、このパルスが出力された時刻より時
間tWだけ経由した後に、画像メモリ9の時刻TD
に対応したY軸上にデジタル信号Eが書き込まれ
る。次のトリガパルスAに対しては、画像メモリ
9のX座標を1つずらして同様の書き込みがなさ
れる。
レス信号Kにより、はじめの送波トリガパルスA
に対しては、このパルスが出力された時刻より時
間tWだけ経由した後に、画像メモリ9の時刻TD
に対応したY軸上にデジタル信号Eが書き込まれ
る。次のトリガパルスAに対しては、画像メモリ
9のX座標を1つずらして同様の書き込みがなさ
れる。
したがつて、全ての回路が正常であれば、
CRT11の画面上には、第3図に示すように、
飽和した受信信号DによりX軸と平行の方向に、
連続した帯状の輝度表示が行われる。
CRT11の画面上には、第3図に示すように、
飽和した受信信号DによりX軸と平行の方向に、
連続した帯状の輝度表示が行われる。
また、タツプ・セレクタ5の1つのスイツチが
閉にならない故障があると、受波アンプ4の出力
Cは、この故障したスイツチを経由してデイレ
イ・ライン6に出力されないので、この受波アン
プ4の出力Cは、CRT11の画面上に輝度表示
されない。すなわち、連続した帯状の輝度表示に
輝度表示されない欠落部aが発生する。この状態
を第4図に示す。
閉にならない故障があると、受波アンプ4の出力
Cは、この故障したスイツチを経由してデイレ
イ・ライン6に出力されないので、この受波アン
プ4の出力Cは、CRT11の画面上に輝度表示
されない。すなわち、連続した帯状の輝度表示に
輝度表示されない欠落部aが発生する。この状態
を第4図に示す。
また、デイレイ・ライン6に断線があると、第
5図に示すように、輝度表示が途中で中断され
て、輝度表示されている帯状のパターンの長さが
短くなる。
5図に示すように、輝度表示が途中で中断され
て、輝度表示されている帯状のパターンの長さが
短くなる。
また、第7図に示すように、タツプ・セレクタ
5の1つのスイツチcが閉になりつづける故障が
あると、デイレイ・ライン6からは2個の飽和し
た受波信号Dが出力される。故障したスイツチc
に対応した飽和した受波信号Dの送波デイレイ量
および受波デイレイ量は固定されているので、正
常なスイツチdの輝度表示のほかに、この輝度表
示に対して斜方向の輝度表示bが故障スイツチc
からの飽和した受波信号Dにより行われる。この
状態を第6図に示す。すなわち、第8図に示すよ
うに、受波デイレイ量tRDを最小値から最大値に
増加させたときに、故障スイツチcを経由する受
波デイレイを受けたパルス、すなわち図で斜線を
施したパルスは、ピエゾ超音波探触子3の受波タ
イミングt0に対し、常に一定値の時間遅れで出力
され、一方正常動作のスイツチe,d……を経由
する受波デイレイを受けたパルス、すなわち図で
斜線の施されていないパルスは、タイミングt0に
対し順次増大する時間遅れで出力される。したが
つて、故障スイツチからの受波デイレイを受けた
パルスによるCRT11上の表示は、正常スイツ
チから受波デイレイを受けたパルスによるCRT
11上の表示に対し、Y軸方向すなわち遅延時間
方向に対し斜めに交差して表示される。
5の1つのスイツチcが閉になりつづける故障が
あると、デイレイ・ライン6からは2個の飽和し
た受波信号Dが出力される。故障したスイツチc
に対応した飽和した受波信号Dの送波デイレイ量
および受波デイレイ量は固定されているので、正
常なスイツチdの輝度表示のほかに、この輝度表
示に対して斜方向の輝度表示bが故障スイツチc
からの飽和した受波信号Dにより行われる。この
状態を第6図に示す。すなわち、第8図に示すよ
うに、受波デイレイ量tRDを最小値から最大値に
増加させたときに、故障スイツチcを経由する受
波デイレイを受けたパルス、すなわち図で斜線を
施したパルスは、ピエゾ超音波探触子3の受波タ
イミングt0に対し、常に一定値の時間遅れで出力
され、一方正常動作のスイツチe,d……を経由
する受波デイレイを受けたパルス、すなわち図で
斜線の施されていないパルスは、タイミングt0に
対し順次増大する時間遅れで出力される。したが
つて、故障スイツチからの受波デイレイを受けた
パルスによるCRT11上の表示は、正常スイツ
チから受波デイレイを受けたパルスによるCRT
11上の表示に対し、Y軸方向すなわち遅延時間
方向に対し斜めに交差して表示される。
この実施例装置では、送波デイレイ量を変化
し、かつ、送波デイレイ量を受波デイレイ量との
総和を一定に保つように制御されているが、この
総和が可変であつても本発明は実施できる。たと
えば、総和が一次関数的に変化するものとすれ
ば、帯状の輝度表示はX軸に対し傾斜する。
し、かつ、送波デイレイ量を受波デイレイ量との
総和を一定に保つように制御されているが、この
総和が可変であつても本発明は実施できる。たと
えば、総和が一次関数的に変化するものとすれ
ば、帯状の輝度表示はX軸に対し傾斜する。
また、この実施例装置では、はじめに送波デイ
レイ量tTDを最大値にとつているが、この値を最
小値にとつても本発明は実施できる。
レイ量tTDを最大値にとつているが、この値を最
小値にとつても本発明は実施できる。
また、本発明では送波アンプ2を制御して、送
波パルスの電力を小さくして、受波アンプ4が過
渡に飽和しないようにすることが望ましい。
波パルスの電力を小さくして、受波アンプ4が過
渡に飽和しないようにすることが望ましい。
本発明は、前述のように、CRT上に現われる
輝度表示された帯状の形および位置より、超音波
診断装置のマトリクススイツチおよびタツプ付き
遅延回路の不良個所を特定できる。したがつて、
数千点のスイツチを有するマトリクススイツチの
検査が、自己診断回路により短時間に実施できる
優れた効果がある。
輝度表示された帯状の形および位置より、超音波
診断装置のマトリクススイツチおよびタツプ付き
遅延回路の不良個所を特定できる。したがつて、
数千点のスイツチを有するマトリクススイツチの
検査が、自己診断回路により短時間に実施できる
優れた効果がある。
また、この装置の使用者が、容易に検査を行う
ことができるので、装置の保守が確実に行える効
果がある。
ことができるので、装置の保守が確実に行える効
果がある。
第1図は本発明実施例装置の要部の構成を示す
ブロツク構成図。第2図は第1図の要所における
信号波形を示す波形図。第3図〜第6図は検査結
果を示すCRT上の表示画面の実例を示す図。第
7図はタツプ・セレクタのスイツチが閉になりつ
づける故障を示す回路図。第8図はタツプ・セレ
クタのスイツチが閉になりつづける故障時のパル
ス波形を示す波形図。 1……送波デイレイおよびチヤンネル選択回
路、2……送波アンプ、3……ピエゾ超音波接触
子、4……受波アンプ、5……タツプ・セレク
タ、6……デイレイ・ライン、7……増幅検波回
路、8……A・Dコンバータ、9……画像メモ
リ、10……D・Aコンバータ、11……CRT、
12……トリガ発生回路、13……マイクロ・プ
ロセツサ、14……スキヤン・コントローラ、1
5……スイツチ回路、16……アドレス・コント
ローラ。
ブロツク構成図。第2図は第1図の要所における
信号波形を示す波形図。第3図〜第6図は検査結
果を示すCRT上の表示画面の実例を示す図。第
7図はタツプ・セレクタのスイツチが閉になりつ
づける故障を示す回路図。第8図はタツプ・セレ
クタのスイツチが閉になりつづける故障時のパル
ス波形を示す波形図。 1……送波デイレイおよびチヤンネル選択回
路、2……送波アンプ、3……ピエゾ超音波接触
子、4……受波アンプ、5……タツプ・セレク
タ、6……デイレイ・ライン、7……増幅検波回
路、8……A・Dコンバータ、9……画像メモ
リ、10……D・Aコンバータ、11……CRT、
12……トリガ発生回路、13……マイクロ・プ
ロセツサ、14……スキヤン・コントローラ、1
5……スイツチ回路、16……アドレス・コント
ローラ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 多チヤンネルの超音波探触子を接続する接続
端子と、 この接続端子に送波パルスを与える送信回路
と、 上記接続端子に生じる受波パルスを増幅検波し
て時間軸上に画像表示する受信回路と、 上記送信回路および上記受信回路を制御する制
御回路と を備え、 上記送信回路には、 トリガ信号源と、 このトリガ信号源の出力を起点にそれぞれ異な
る遅延時間のパルスを発生して上記超音波探触子
の各チヤンネルに与える送波遅延制御回路と を備え、 上記受信回路には、 タツプ付き遅延回路と、 上記接続端子の各チヤンネルが一辺に接続さ
れ、上記タツプ付き遅延回路の各タツプが他の一
辺に接続されたマトリクススイツチと を備え、 上記制御回路は、 上記送波遅延選択回路の各チヤンネルの選択お
よび与える遅延量の制御と、上記マトリクススイ
ツチの開閉制御とを行うように構成された 超音波診断装置において、 上記制御回路は操作によりその制御モードを検
査モードに設定することができるように構成さ
れ、 この検査モードでは、 上記制御回路は、 上記送波遅延選択回路の各チヤンネルを順次一
つずつ選択するとともに、選択されたチヤンネル
に所定の遅延量を与えるように制御し、 この選択されたチヤンネルについて上記マトリ
クススイツチを順次一つずつ開閉させるように制
御するように構成されたことを特徴とする超音波
診断装置。 2 所定の遅延量は、マトリクススイツチの開閉
にしたがつて変化するように構成された特許請求
の範囲第1項に記載の超音波診断装置。 3 制御回路は、マトリクススイツチの開閉のタ
イミングを送波パルスがそのマトリクススイツチ
に直接入力するタイミングで行うように構成され
た特許請求の範囲第1項に記載の超音波診断装
置。 4 制御回路は、検査モードでは送信回路を制御
して、送波パルスの電力を小さくするように構成
された特許請求の範囲第3項に記載の超音波診断
装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58238214A JPS60129039A (ja) | 1983-12-16 | 1983-12-16 | 超音波診断装置 |
| DE8585900177T DE3482438D1 (de) | 1983-12-16 | 1984-12-06 | Ultraschall-diagnose-anordnung. |
| EP85900177A EP0198923B1 (en) | 1983-12-16 | 1984-12-06 | Ultrasonic diagnostic apparatus |
| US06/767,270 US4674516A (en) | 1983-12-16 | 1984-12-06 | Ultrasonic delay line matrix switch check system |
| PCT/JP1984/000579 WO1985002531A1 (fr) | 1983-12-16 | 1984-12-06 | Dispositif de diagnostic par ultrasons |
| DE1985900177 DE198923T1 (de) | 1983-12-16 | 1984-12-06 | Ultraschall-diagnose-anordnung. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58238214A JPS60129039A (ja) | 1983-12-16 | 1983-12-16 | 超音波診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60129039A JPS60129039A (ja) | 1985-07-10 |
| JPH0147181B2 true JPH0147181B2 (ja) | 1989-10-12 |
Family
ID=17026839
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58238214A Granted JPS60129039A (ja) | 1983-12-16 | 1983-12-16 | 超音波診断装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4674516A (ja) |
| EP (1) | EP0198923B1 (ja) |
| JP (1) | JPS60129039A (ja) |
| DE (1) | DE3482438D1 (ja) |
| WO (1) | WO1985002531A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60138483A (ja) * | 1983-12-27 | 1985-07-23 | Yokogawa Medical Syst Ltd | 超音波診断装置 |
| US5027821A (en) * | 1988-06-17 | 1991-07-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Ultrasonic imaging apparatus |
| JP2789234B2 (ja) * | 1989-10-02 | 1998-08-20 | 株式会社日立メディコ | 超音波診断装置 |
| JP3090718B2 (ja) * | 1990-07-11 | 2000-09-25 | 株式会社東芝 | 超音波診断装置 |
| US5230339A (en) * | 1991-06-13 | 1993-07-27 | Array Tech, Inc. | Performance evaluation of ultrasonic examination equipment |
| US6083164A (en) * | 1997-06-27 | 2000-07-04 | Siemens Medical Systems, Inc. | Ultrasound front-end circuit combining the transmitter and automatic transmit/receiver switch |
| GB2348753B (en) * | 1999-03-27 | 2003-07-23 | Evan Arkas | Pulse clock/signal delay apparatus & method |
| ATE444709T1 (de) * | 1999-08-09 | 2009-10-15 | Sonavation Inc | Piezoelektrischer dünnschichtfingerabdruckabtaster |
| JP4845548B2 (ja) * | 2006-03-22 | 2011-12-28 | 富士フイルム株式会社 | 超音波診断システム、および超音波トランスデューサアレイの動作検証方法 |
| CN118742864A (zh) * | 2022-03-04 | 2024-10-01 | 三菱电机株式会社 | 输入输出装置、脉宽显示系统及脉宽显示方法 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3469186A (en) * | 1967-03-14 | 1969-09-23 | Us Navy | Stimulus injection system for localizing defective components in cascaded systems |
| US3813647A (en) * | 1973-02-28 | 1974-05-28 | Northrop Corp | Apparatus and method for performing on line-monitoring and fault-isolation |
| JPS56109649A (en) * | 1980-02-05 | 1981-08-31 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Ultrasonic diagnosing device |
| JPS57567A (en) * | 1980-06-02 | 1982-01-05 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Performance evaluating device of ultrasonic video device |
| JPS5744364A (en) * | 1980-08-29 | 1982-03-12 | Nec Corp | Detection system for fault of diode matrix |
| US4381563A (en) * | 1980-12-18 | 1983-04-26 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for visually presenting analytical representations of digital signals |
| IT1142442B (it) * | 1981-05-11 | 1986-10-08 | Selenia Ind Elettroniche | Ricevitore a polarizzazione adattiva per la cancellazione di disturbi intenzionali in un sistema radar |
| US4373323A (en) * | 1981-05-11 | 1983-02-15 | Tobacco Machinery Co. of Ky. Inc. | Tobacco leaf stripper |
| JPS5883948A (ja) * | 1981-11-16 | 1983-05-19 | オリンパス光学工業株式会社 | 超音波送受信装置 |
| GB2153528B (en) * | 1984-02-02 | 1987-05-07 | Yokogawa Medical Syst | Ultrasonic phased-array receiver |
-
1983
- 1983-12-16 JP JP58238214A patent/JPS60129039A/ja active Granted
-
1984
- 1984-12-06 DE DE8585900177T patent/DE3482438D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1984-12-06 EP EP85900177A patent/EP0198923B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-12-06 US US06/767,270 patent/US4674516A/en not_active Expired - Fee Related
- 1984-12-06 WO PCT/JP1984/000579 patent/WO1985002531A1/ja not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO1985002531A1 (fr) | 1985-06-20 |
| EP0198923A4 (en) | 1987-07-09 |
| JPS60129039A (ja) | 1985-07-10 |
| EP0198923A1 (en) | 1986-10-29 |
| US4674516A (en) | 1987-06-23 |
| EP0198923B1 (en) | 1990-06-13 |
| DE3482438D1 (de) | 1990-07-19 |
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