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JPH0154797B2 - - Google Patents
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JPH0154797B2 - - Google Patents

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JPH0154797B2
JPH0154797B2 JP56157506A JP15750681A JPH0154797B2 JP H0154797 B2 JPH0154797 B2 JP H0154797B2 JP 56157506 A JP56157506 A JP 56157506A JP 15750681 A JP15750681 A JP 15750681A JP H0154797 B2 JPH0154797 B2 JP H0154797B2
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JP
Japan
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mos
field effect
mos field
effect transistor
drain
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JP56157506A
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Shinji Asano
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
    • G11C7/065Differential amplifiers of latching type

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、相補形MOS電界効果トランジスタ
(以下C・MOSという)スタテイツクRAM
(Random ccess Memory)等の半導体センスア
ンプの改良に関するものである。
Detailed Description of the Invention The present invention provides a complementary MOS field effect transistor (hereinafter referred to as CMOS) static RAM.
This relates to the improvement of semiconductor sense amplifiers such as (Random Access Memory).

現在のC・MOSスタテイツクRAMの半導体セ
ンスアンプは、第1図に示すように、Pチヤンネ
ル形MOS電界効果トランジスタ(以下P・MOS
という)F1,F2とNチヤンネル形MRS電界効果
トランジスタ(以下N・MOSという)F3,F4
差動増幅形式に結線し、N・MOS・F3,F4のソ
ースを定電流源用N・MOS・F5のドレインに接
続したものである。
As shown in Figure 1, the semiconductor sense amplifier of current CMOS static RAM is a P-channel MOS field effect transistor (hereinafter referred to as PMOS).
) F 1 , F 2 and N-channel MRS field effect transistors (hereinafter referred to as N-MOS) F 3 , F 4 are connected in a differential amplification format, and the sources of N-MOS F 3 and F 4 are connected to a constant current. This is connected to the drain of the source N/MOS/ F5 .

この回路の動作を説明する。 The operation of this circuit will be explained.

P・MOSは入力信号が高レベル(以下Hとい
う)のときオフし、低レベル(以下Lという)の
ときオンする。N・MOSはHのときオンし、L
のときオフする。
The PMOS turns off when the input signal is at a high level (hereinafter referred to as H) and turns on when the input signal is at a low level (hereinafter referred to as L). NMOS turns on when it is H, and when it is L
Turns off when .

第1図において、いま、D端子にHの信号を、
D端子にLの信号を入力すると同時にN・
MOS・F5のゲートGにHの信号を入力すると、
N・MOS・F3とN・MOS・F5がオンして電源
VDDはP・MOS・F1・N・MOS・F3,N・
MOS・F5を通して電流を流す。このときP・
MOS・F1とN・MOS・F3のドレインはLになつ
ているので、P・MOS・F2はオンするが、N・
MOS・F4はオフしているため、P・MOS・F2
N・MOS・F4のドレインは電源VDDが印加され
てHとなり、出力端子outはHの信号を出力する。
また、D端子にLの信号を端子にHの信号を入
力すると同時にN・MOS・F5のゲートGにHの
信号を入力すると、N・MOS・F4とN・MOS・
F5がオンしてN・MOS・F4,N・MOS・F5を通
して過度電流が流れ、出力端子outはLの信号を
出力する。
In Figure 1, an H signal is now applied to the D terminal,
At the same time as inputting the L signal to the D terminal,
When inputting an H signal to gate G of MOS F5 ,
N・MOS・F 3 and N・MOS・F 5 are turned on and the power is turned on.
V DD is P・MOS・F 1・N・MOS・F 3 , N・
Flow current through MOS・F5 . At this time, P.
Since the drains of MOS・F 1 and N・MOS・F 3 are set to L, P・MOS・F 2 is turned on, but N・MOS・F 3 is turned on.
Since MOS.F 4 is off, the drains of P.MOS.F 2 and N.MOS.F 4 are applied with the power supply V DD and become H, and the output terminal out outputs an H signal.
Also, if you input an L signal to the D terminal and an H signal to the terminal, and at the same time input an H signal to the gate G of N.MOS.F 5 , N.MOS.F 4 and N.MOS.
When F5 is turned on, a transient current flows through N.MOS.F.sub.4 and N.MOS.F.sub.5 , and the output terminal out outputs an L signal.

このような半導体センスアンプでは、定電流源
用N・MOS・F5のW/L(W:チヤンネル幅,
L:チヤンネル長)を大きくして高速用に用いる
ため、消費電力が大きくなる欠点があつた。
In such a semiconductor sense amplifier, W/L (W: channel width,
Since the channel length (L: channel length) is increased and used for high-speed applications, there is a drawback that power consumption increases.

本発明は、前記欠点を除去するためになされた
ものであり、その特徴は、P・MOS・F1,F2
N・MOS・F3,F4をC・MOSインバータ形式に
結線し、定電流源用N・MOS・F5のゲートを
P・MOS・F1とN・MOS・F3のドレインに接続
したことにある。
The present invention was made to eliminate the above-mentioned drawbacks, and its features are that P-MOS F 1 , F 2 and N-MOS F 3 , F 4 are connected in a C-MOS inverter format, The reason is that the gate of the constant current source NMOS F 5 is connected to the drains of PMOS F 1 and NMOS F 3 .

以下、実施例とともに本発明を詳細に説明す
る。第2図は、本発明の一実施例の構成を示す図
であり、第1図と同一の機能を有するものは同一
記号を付けてある。
The present invention will be described in detail below along with examples. FIG. 2 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, and parts having the same functions as those in FIG. 1 are given the same symbols.

本実施例は、第2図に示すように、P・
MOS・F1,F2とN・MOS・F3,F4をC・MOS
インバータ形式に結線し、定電流源用N・
MOS・F5のゲートをP・MOS・F1とN・
MOS・F3のドレインに接続した半導体センスア
ンプであり、図中、VDDは電源、D,は相反す
る信号の入力端子、outは出力端子である。
In this embodiment, as shown in FIG.
MOS・F 1 , F 2 and N・MOS・F 3 , F 4 as C・MOS
Connected to inverter type, constant current source N/
Connect the gate of MOS・F 5 to P・MOS・F 1 and N・
This is a semiconductor sense amplifier connected to the drain of MOS F3 . In the figure, V DD is a power supply, D is an input terminal for opposing signals, and out is an output terminal.

次に本実施例の動作を説明する。 Next, the operation of this embodiment will be explained.

P・MOSは入力信号がHのときオフ、Lのと
きオンし、N・MOSはHのときオン、Lのとき
オフする。
The P-MOS turns off when the input signal is H and turns on when the input signal is L. The N-MOS turns on when the input signal is H and turns off when the input signal is L.

第2図において、いま、D端子にHの信号を、
D端子にLの信号をそれぞれ入力すると、P・
MOS・F1とN・MOS・F4Dはオフで、P・
MOS・F2とN・MOS・F3はオンするが、P・
MOS・F1がオフであるため、電源VDDはP・
MOS・F1とN・MOS・F3のドレインに印加され
ず、該ドレインはLのままであり、N・MOS・
F5はオンしない。この結果、P・MOS・F2
N・MOS・F4のドレインはHとなり、出力端子
outはH信号を出力する。次にD端子にLの信号
を端子にHの信号をそれぞれ入力すると、P・
MOS・F1とN・MOS・F4はオンし、P・
MOS・F2とN・MOS・F3はオフする。この結
果、P・MOS・F1AとN・MOS・F3のドレイン
は電源VDDが印加され、Hとなるので、N・
MOS・F5がオンして電流が流れる。このとき
P・MOS・F2とN・MOS・F4のドレインはP・
MOS・F2がオンして電源VDDが印加されないた
めLとなり、出力端子outはL信号を出力する。
In Fig. 2, we are now applying an H signal to the D terminal,
When inputting the L signal to the D terminal, P.
MOS・F 1 and N・MOS・F 4 D are off, P・
MOS・F 2 and N・MOS・F 3 are turned on, but P・
Since MOS・F 1 is off, the power supply V DD is P・
No voltage is applied to the drains of MOS・F 1 and N・MOS・F 3 , the drains remain at L, and the N・MOS・F
F5 doesn't turn on. As a result, the drains of P・MOS・F 2 and N・MOS・F 4 become H, and the output terminal
out outputs an H signal. Next, when inputting an L signal to the D terminal and an H signal to the terminal, P.
MOS・F 1 and N・MOS・F 4 are turned on, and P・
MOS・F 2 and N・MOS・F 3 are turned off. As a result, the power supply V DD is applied to the drains of P・MOS・F 1 A and N・MOS・F 3 and become H, so the drains of P・MOS・F 1 A and N・MOS・F 3 become H.
MOS・F5 turns on and current flows. At this time, the drains of P・MOS・F 2 and N・MOS・F 4 are P・MOS・F 2 and N・MOS・F 4.
Since MOS·F 2 is turned on and power supply V DD is not applied, it becomes L, and the output terminal out outputs an L signal.

以上説明した如く、本発明によれば、P・
MOS・F1とN・MOS・F3ドレインがHになつた
ときだけ電流を流すようにしたので、消費電流を
減少させることができる。特にRAMのデータを
並列に出力する際、複数個の半導体センスアンプ
を並列に設けて使用するため、その効果は大であ
る。
As explained above, according to the present invention, P.
Since the current flows only when the MOS・F 1 and N・MOS・F 3 drains become H, the current consumption can be reduced. This is especially effective when outputting RAM data in parallel, as multiple semiconductor sense amplifiers are provided in parallel.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、差動増幅形式に結線した半導体セン
スアンプの回路構成を示す図、第2図は、本発明
の一実施例の回路構成を示す図である。 F12……P・MOS、F3,F4……N・MOS、
VDD……電源、F5……定電流源用N・MOS、D,
D……相反信号入力端子、out……出力端子。
FIG. 1 is a diagram showing a circuit configuration of a semiconductor sense amplifier connected in a differential amplification format, and FIG. 2 is a diagram showing a circuit configuration of an embodiment of the present invention. F 1 , 2 ... P・MOS, F 3 , F 4 ... N・MOS,
V DD ...Power supply, F5 ...N-MOS for constant current source, D,
D...Reciprocal signal input terminal, out...Output terminal.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 ゲート間に入力信号が供給される第1、第
2MOS電界効果トランジスタと、上記第1MOS電
界効果トランジスタのドレインからの出力が与え
られる出力点と、上記第1、第2MOS電界効果ト
ランジスタのドレイン側に設けられた負荷手段
と、上記第1、第2MOS電界効果トランジスタの
ソース側に設けられた第3MOS電界効果トランジ
スタとを備えてなり、上記第2MOS電界効果トラ
ンジスタのドレイン出力によつて上記第3MOS電
界効果トランジスタの導通状態を制御するように
してなることを特徴とする半導体センスアンプ。 2 上記第1ないし第3MOS電界効果トランジス
タが第1チヤンネル形MOS電界効果トランジス
タからなり、上記負荷手段が、上記第1MOS電界
効果トランジスタのゲート、ドレインにゲート、
ドレインが結合された第2チヤンネル形MOS電
界効果トランジスタ、及び上記第2MOS電界効果
トランジスタのゲート、ドレインにゲート、ドレ
インが結合された第2チヤンネル形MOS電界効
果トランジスタからなることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の半導体センスアンプ。
[Claims] 1. A first gate to which an input signal is supplied between gates;
a 2MOS field effect transistor, an output point to which an output from the drain of the first MOS field effect transistor is given, a load means provided on the drain side of the first and second MOS field effect transistors, and a load means provided on the drain side of the first and second MOS field effect transistors; and a third MOS field effect transistor provided on the source side of the field effect transistor, and the conduction state of the third MOS field effect transistor is controlled by the drain output of the second MOS field effect transistor. A semiconductor sense amplifier featuring: 2. The first to third MOS field effect transistors are first channel type MOS field effect transistors, and the load means includes a gate,
A patent claim comprising a second channel type MOS field effect transistor whose drains are coupled together, and a second channel type MOS field effect transistor whose gate and drain are coupled to the gate and drain of the second MOS field effect transistor. The semiconductor sense amplifier according to item 1.
JP56157506A 1981-10-05 1981-10-05 semiconductor sense amplifier Granted JPS5860486A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS52144239A (en) * 1976-05-27 1977-12-01 Mitsubishi Electric Corp Sense circuit
JPS5694575A (en) * 1979-12-27 1981-07-31 Toshiba Corp Complementary mos sense circuit

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