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JPH0154797B2 - - Google Patents
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JPH0154797B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0154797B2
JPH0154797B2 JP56157506A JP15750681A JPH0154797B2 JP H0154797 B2 JPH0154797 B2 JP H0154797B2 JP 56157506 A JP56157506 A JP 56157506A JP 15750681 A JP15750681 A JP 15750681A JP H0154797 B2 JPH0154797 B2 JP H0154797B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mos
field effect
mos field
effect transistor
drain
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP56157506A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5860486A (ja
Inventor
Shinji Asano
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS5860486A publication Critical patent/JPS5860486A/ja
Publication of JPH0154797B2 publication Critical patent/JPH0154797B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/06Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
    • G11C7/065Differential amplifiers of latching type

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、相補形MOS電界効果トランジスタ
(以下C・MOSという)スタテイツクRAM
(Random ccess Memory)等の半導体センスア
ンプの改良に関するものである。
現在のC・MOSスタテイツクRAMの半導体セ
ンスアンプは、第1図に示すように、Pチヤンネ
ル形MOS電界効果トランジスタ(以下P・MOS
という)F1,F2とNチヤンネル形MRS電界効果
トランジスタ(以下N・MOSという)F3,F4
差動増幅形式に結線し、N・MOS・F3,F4のソ
ースを定電流源用N・MOS・F5のドレインに接
続したものである。
この回路の動作を説明する。
P・MOSは入力信号が高レベル(以下Hとい
う)のときオフし、低レベル(以下Lという)の
ときオンする。N・MOSはHのときオンし、L
のときオフする。
第1図において、いま、D端子にHの信号を、
D端子にLの信号を入力すると同時にN・
MOS・F5のゲートGにHの信号を入力すると、
N・MOS・F3とN・MOS・F5がオンして電源
VDDはP・MOS・F1・N・MOS・F3,N・
MOS・F5を通して電流を流す。このときP・
MOS・F1とN・MOS・F3のドレインはLになつ
ているので、P・MOS・F2はオンするが、N・
MOS・F4はオフしているため、P・MOS・F2
N・MOS・F4のドレインは電源VDDが印加され
てHとなり、出力端子outはHの信号を出力する。
また、D端子にLの信号を端子にHの信号を入
力すると同時にN・MOS・F5のゲートGにHの
信号を入力すると、N・MOS・F4とN・MOS・
F5がオンしてN・MOS・F4,N・MOS・F5を通
して過度電流が流れ、出力端子outはLの信号を
出力する。
このような半導体センスアンプでは、定電流源
用N・MOS・F5のW/L(W:チヤンネル幅,
L:チヤンネル長)を大きくして高速用に用いる
ため、消費電力が大きくなる欠点があつた。
本発明は、前記欠点を除去するためになされた
ものであり、その特徴は、P・MOS・F1,F2
N・MOS・F3,F4をC・MOSインバータ形式に
結線し、定電流源用N・MOS・F5のゲートを
P・MOS・F1とN・MOS・F3のドレインに接続
したことにある。
以下、実施例とともに本発明を詳細に説明す
る。第2図は、本発明の一実施例の構成を示す図
であり、第1図と同一の機能を有するものは同一
記号を付けてある。
本実施例は、第2図に示すように、P・
MOS・F1,F2とN・MOS・F3,F4をC・MOS
インバータ形式に結線し、定電流源用N・
MOS・F5のゲートをP・MOS・F1とN・
MOS・F3のドレインに接続した半導体センスア
ンプであり、図中、VDDは電源、D,は相反す
る信号の入力端子、outは出力端子である。
次に本実施例の動作を説明する。
P・MOSは入力信号がHのときオフ、Lのと
きオンし、N・MOSはHのときオン、Lのとき
オフする。
第2図において、いま、D端子にHの信号を、
D端子にLの信号をそれぞれ入力すると、P・
MOS・F1とN・MOS・F4Dはオフで、P・
MOS・F2とN・MOS・F3はオンするが、P・
MOS・F1がオフであるため、電源VDDはP・
MOS・F1とN・MOS・F3のドレインに印加され
ず、該ドレインはLのままであり、N・MOS・
F5はオンしない。この結果、P・MOS・F2
N・MOS・F4のドレインはHとなり、出力端子
outはH信号を出力する。次にD端子にLの信号
を端子にHの信号をそれぞれ入力すると、P・
MOS・F1とN・MOS・F4はオンし、P・
MOS・F2とN・MOS・F3はオフする。この結
果、P・MOS・F1AとN・MOS・F3のドレイン
は電源VDDが印加され、Hとなるので、N・
MOS・F5がオンして電流が流れる。このとき
P・MOS・F2とN・MOS・F4のドレインはP・
MOS・F2がオンして電源VDDが印加されないた
めLとなり、出力端子outはL信号を出力する。
以上説明した如く、本発明によれば、P・
MOS・F1とN・MOS・F3ドレインがHになつた
ときだけ電流を流すようにしたので、消費電流を
減少させることができる。特にRAMのデータを
並列に出力する際、複数個の半導体センスアンプ
を並列に設けて使用するため、その効果は大であ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は、差動増幅形式に結線した半導体セン
スアンプの回路構成を示す図、第2図は、本発明
の一実施例の回路構成を示す図である。 F12……P・MOS、F3,F4……N・MOS、
VDD……電源、F5……定電流源用N・MOS、D,
D……相反信号入力端子、out……出力端子。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ゲート間に入力信号が供給される第1、第
    2MOS電界効果トランジスタと、上記第1MOS電
    界効果トランジスタのドレインからの出力が与え
    られる出力点と、上記第1、第2MOS電界効果ト
    ランジスタのドレイン側に設けられた負荷手段
    と、上記第1、第2MOS電界効果トランジスタの
    ソース側に設けられた第3MOS電界効果トランジ
    スタとを備えてなり、上記第2MOS電界効果トラ
    ンジスタのドレイン出力によつて上記第3MOS電
    界効果トランジスタの導通状態を制御するように
    してなることを特徴とする半導体センスアンプ。 2 上記第1ないし第3MOS電界効果トランジス
    タが第1チヤンネル形MOS電界効果トランジス
    タからなり、上記負荷手段が、上記第1MOS電界
    効果トランジスタのゲート、ドレインにゲート、
    ドレインが結合された第2チヤンネル形MOS電
    界効果トランジスタ、及び上記第2MOS電界効果
    トランジスタのゲート、ドレインにゲート、ドレ
    インが結合された第2チヤンネル形MOS電界効
    果トランジスタからなることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載の半導体センスアンプ。
JP56157506A 1981-10-05 1981-10-05 半導体センスアンプ Granted JPS5860486A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56157506A JPS5860486A (ja) 1981-10-05 1981-10-05 半導体センスアンプ

Applications Claiming Priority (1)

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JP56157506A JPS5860486A (ja) 1981-10-05 1981-10-05 半導体センスアンプ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5860486A JPS5860486A (ja) 1983-04-09
JPH0154797B2 true JPH0154797B2 (ja) 1989-11-21

Family

ID=15651165

Family Applications (1)

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JP56157506A Granted JPS5860486A (ja) 1981-10-05 1981-10-05 半導体センスアンプ

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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2621140B2 (ja) * 1986-06-20 1997-06-18 三菱電機株式会社 センスアンプ回路

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52144239A (en) * 1976-05-27 1977-12-01 Mitsubishi Electric Corp Sense circuit
JPS5694575A (en) * 1979-12-27 1981-07-31 Toshiba Corp Complementary mos sense circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5860486A (ja) 1983-04-09

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