JPH0214734B2 - - Google Patents
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- JPH0214734B2 JPH0214734B2 JP60205614A JP20561485A JPH0214734B2 JP H0214734 B2 JPH0214734 B2 JP H0214734B2 JP 60205614 A JP60205614 A JP 60205614A JP 20561485 A JP20561485 A JP 20561485A JP H0214734 B2 JPH0214734 B2 JP H0214734B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- pipeline
- instructions
- instruction
- instruction sequence
- Prior art date
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- Advance Control (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
パイプライン方式で処理され、逐次化命令の処
理機構を備えた情報処理装置において、一般命令
のみのテスト命令列と、逐次化命令を含むテスト
命令列とを主記憶装置上に用意し、該主記憶装置
から読み出した一般命令のみのテスト命令列をパ
イプラインに投入して得られた処理結果と、逐次
化命令と、複数個の一般命令とを交互に並べたテ
スト命令列を同じパイプラインに投入して得られ
た処理結果とを比較することにより、該パイプラ
イン機構の障害箇所を同定するようにしたもので
ある。
理機構を備えた情報処理装置において、一般命令
のみのテスト命令列と、逐次化命令を含むテスト
命令列とを主記憶装置上に用意し、該主記憶装置
から読み出した一般命令のみのテスト命令列をパ
イプラインに投入して得られた処理結果と、逐次
化命令と、複数個の一般命令とを交互に並べたテ
スト命令列を同じパイプラインに投入して得られ
た処理結果とを比較することにより、該パイプラ
イン機構の障害箇所を同定するようにしたもので
ある。
本発明は、パイプライン方式で処理される情報
処理装置におけるパイプライン機構の試験方法に
関する。
処理装置におけるパイプライン機構の試験方法に
関する。
最近の計算機システム(情報処理装置)の著し
い普及に伴つて、計算機システムによつて処理さ
れるデータ量が増加してくるに従い、該計算機シ
ステムの処理能力の向上に対する要求は益々高く
なつてきている。
い普及に伴つて、計算機システムによつて処理さ
れるデータ量が増加してくるに従い、該計算機シ
ステムの処理能力の向上に対する要求は益々高く
なつてきている。
該計算機システムの処理能力を向上させる為の
一つの方法として、複数個の命令をパイプライン
に投入して、一時に複数の命令をパイプライン方
式で実行する形式が多くなつてきた。
一つの方法として、複数個の命令をパイプライン
に投入して、一時に複数の命令をパイプライン方
式で実行する形式が多くなつてきた。
このようなパイプライン方式による計算機シス
テムの該パイプライン機構を試験する場合、一般
には、該計算機システムを保守、運用する為に備
えられているサービスプロセツサ(SVP)に対
して、該計算機システムの中央処理装置(CPU)
から、所謂保守命令を発行し、該パイプライン機
構を試験する方法が採られているが、この方法で
は試験に時間がかかる問題があり、該パイプライ
ン機構に対する効果的な試験方法が待たれるよう
になつてきた。
テムの該パイプライン機構を試験する場合、一般
には、該計算機システムを保守、運用する為に備
えられているサービスプロセツサ(SVP)に対
して、該計算機システムの中央処理装置(CPU)
から、所謂保守命令を発行し、該パイプライン機
構を試験する方法が採られているが、この方法で
は試験に時間がかかる問題があり、該パイプライ
ン機構に対する効果的な試験方法が待たれるよう
になつてきた。
第4図は従来のパイプライン機構に対する試験
方法を説明する図であつて、aはそのハードウエ
ア構成を示し、bは試験手順をフローで示したも
のである。
方法を説明する図であつて、aはそのハードウエ
ア構成を示し、bは試験手順をフローで示したも
のである。
先ず、パイプライン機構に対する試験の開始に
当たつて、中央処理装置(以下、CPUと云う)
1が、主記憶装置(MS)3上の試験プログラム
を実行して、サービスプロセツサ(以下、SVP
と云う)2に対する保守命令を発行し、該SVP
2側に設けられている試験プログラムを起動す
る。(ステツプ20参照) SVP2において、該試験プログラムが実行さ
れる(CPU1のハードウエア機構の変更)こと
により、CPU1内の当該パイプライン機構に対
するイニシヤライズ(該パイプラインに、何も投
入されていない状態にする)が行われた後、
CPU1に被テスト命令を設定し、CPU1の動作
モードを、例えば、1ステツプモードにして、
CPU1に該被テスト命令を1クロツク宛実行さ
せる。(ステツプ21,22参照)。
当たつて、中央処理装置(以下、CPUと云う)
1が、主記憶装置(MS)3上の試験プログラム
を実行して、サービスプロセツサ(以下、SVP
と云う)2に対する保守命令を発行し、該SVP
2側に設けられている試験プログラムを起動す
る。(ステツプ20参照) SVP2において、該試験プログラムが実行さ
れる(CPU1のハードウエア機構の変更)こと
により、CPU1内の当該パイプライン機構に対
するイニシヤライズ(該パイプラインに、何も投
入されていない状態にする)が行われた後、
CPU1に被テスト命令を設定し、CPU1の動作
モードを、例えば、1ステツプモードにして、
CPU1に該被テスト命令を1クロツク宛実行さ
せる。(ステツプ21,22参照)。
この後、CPU1が該被テスト命令を1ステツ
プモードで実行した結果を見る為に、スキヤンア
ウトを行い、該試験結果の確認を行う。
プモードで実行した結果を見る為に、スキヤンア
ウトを行い、該試験結果の確認を行う。
上記の試験を、例えば、複数の被テスト命令に
ついて行い、そのテスト結果によつて、当該パイ
プライン機構の障害箇所の同定を行う。(ステツ
プ23,24参照) 該パイプライン機構に対する一連のテストが終
了すると、該CPU1の動作モードをノーマルモ
ード(CPU1のハードウエア機構の復元)にし
て、制御をCPU1に戻すことにより、一連の診
断処理が終了する。(ステツプ25参照) 〔発明が解決しようとする問題点〕 従つて、従来方式においては、CPU1側にお
いて、試験の都度保守命令を発行する必要があ
り、CPU1側での試験プログラムの構成が複雑
になると云う問題があつた。
ついて行い、そのテスト結果によつて、当該パイ
プライン機構の障害箇所の同定を行う。(ステツ
プ23,24参照) 該パイプライン機構に対する一連のテストが終
了すると、該CPU1の動作モードをノーマルモ
ード(CPU1のハードウエア機構の復元)にし
て、制御をCPU1に戻すことにより、一連の診
断処理が終了する。(ステツプ25参照) 〔発明が解決しようとする問題点〕 従つて、従来方式においては、CPU1側にお
いて、試験の都度保守命令を発行する必要があ
り、CPU1側での試験プログラムの構成が複雑
になると云う問題があつた。
又、SVP2側においても、該CPU1が発行す
る上記保守命令によつて起動される試験プログラ
ムを設ける必要があり、CPU1のパイプライン
機構を試験するのに、CPU1側と、CPU2側の
両方において、試験プログラムを用意しなければ
ならないと云う問題があつた。
る上記保守命令によつて起動される試験プログラ
ムを設ける必要があり、CPU1のパイプライン
機構を試験するのに、CPU1側と、CPU2側の
両方において、試験プログラムを用意しなければ
ならないと云う問題があつた。
本発明は上述従来の欠点に鑑み、CPU内のパ
イプライン機構を段階的なテスト命令列で試験す
ることにより、該パイプライン機構の正常性の確
認を効率的に行う方法を提供することを目的とす
るものである。
イプライン機構を段階的なテスト命令列で試験す
ることにより、該パイプライン機構の正常性の確
認を効率的に行う方法を提供することを目的とす
るものである。
第1図は本発明の概念を説明する図である。
本発明においては、CPU2のパイプライン機
構を試験するのに、一般の被疑命令のみのテスト
命令列と、逐次化命令と複数個の被疑命令とを
交互に組み合わせたテスト命令列〜とを主記
憶装置(MS)上に用意し、該主記憶装置(MS)
から読み出した、上記テスト命令列をパイプラ
インに投入した時の処理結果と、テスト命令列
〜を順次同じパイプラインに投入した時の処理
結果とを収集して比較するように構成する。
構を試験するのに、一般の被疑命令のみのテスト
命令列と、逐次化命令と複数個の被疑命令とを
交互に組み合わせたテスト命令列〜とを主記
憶装置(MS)上に用意し、該主記憶装置(MS)
から読み出した、上記テスト命令列をパイプラ
インに投入した時の処理結果と、テスト命令列
〜を順次同じパイプラインに投入した時の処理
結果とを収集して比較するように構成する。
即ち、本発明によれば、パイプライン方式で処
理され、逐次化命令の処理機構を備えた情報処理
装置において、一般命令のみのテスト命令列と、
逐次化命令を含むテスト命令列とを主記憶装置
(MS)上に用意し、該主記憶装置(MS)から読
み出した一般命令のみのテスト命令列をパイプ
ラインに投入して得られた処理結果と、逐次化命
令と、一般命令とを交互に並べたテスト命令列
〜を同じパイプラインに投入して得られた処理
結果とを比較することにより、該パイプライン機
構の障害箇所を同定するようにしたものであるの
で、(1)段階的なテスト命令列〜を選択するこ
とにより、パイプラインをステージ単位に試験す
ることができる。(2)CPU側で保守命令を使用し
なくても良く、試験プログラムの構成が簡単にな
る。(3)処理速度の遅いSVPを使用する必要がな
いので、試験時間が短縮される等の効果がある。
理され、逐次化命令の処理機構を備えた情報処理
装置において、一般命令のみのテスト命令列と、
逐次化命令を含むテスト命令列とを主記憶装置
(MS)上に用意し、該主記憶装置(MS)から読
み出した一般命令のみのテスト命令列をパイプ
ラインに投入して得られた処理結果と、逐次化命
令と、一般命令とを交互に並べたテスト命令列
〜を同じパイプラインに投入して得られた処理
結果とを比較することにより、該パイプライン機
構の障害箇所を同定するようにしたものであるの
で、(1)段階的なテスト命令列〜を選択するこ
とにより、パイプラインをステージ単位に試験す
ることができる。(2)CPU側で保守命令を使用し
なくても良く、試験プログラムの構成が簡単にな
る。(3)処理速度の遅いSVPを使用する必要がな
いので、試験時間が短縮される等の効果がある。
以下本発明の実施例を図面によつて詳述する。
第2図は本発明の一実施例を示した図であつ
て、aはブロツク構成を模式的に示し、bは動作
を流れ図で示した図であり、第3図はパイプライ
ン機構の構成を示した図である。
て、aはブロツク構成を模式的に示し、bは動作
を流れ図で示した図であり、第3図はパイプライ
ン機構の構成を示した図である。
本実施例におけるパイプライン機構1aは、第
3図に示したように、ステージ1〜ステージ5迄
の5段構成とする。
3図に示したように、ステージ1〜ステージ5迄
の5段構成とする。
又、逐次化命令は、当該命令がパイプラインに
投入され、その第1ステージにおいて、逐次化命
令であることが認識されると、既に該パイプライ
ンに投入されている命令をはきだすと共に、次に
該パイプラインに入つてくる命令を抑止し、上記
はきだしが完了すると、次の命令が該パイプライ
ン機構に入つてくることを許容し、以降は一般命
令(但し、無操作命令)のように該パイプライン
機構を通過するように機能する。
投入され、その第1ステージにおいて、逐次化命
令であることが認識されると、既に該パイプライ
ンに投入されている命令をはきだすと共に、次に
該パイプラインに入つてくる命令を抑止し、上記
はきだしが完了すると、次の命令が該パイプライ
ン機構に入つてくることを許容し、以降は一般命
令(但し、無操作命令)のように該パイプライン
機構を通過するように機能する。
以下、第1図を参照しながら第2図、第3図に
よつて本発明によるパイプライン機構の試験方法
を説明する。先ず、第2図において、 ステツプ10:前述のように、本実施例で示し
たパイプライン1aは5段構成であるので、逐次
化命令を含まないテスト命令として、例えば、5
命令(命令1〜命令5)からなるテスト命令列
を主記憶装置(MS)3上に作成する。
よつて本発明によるパイプライン機構の試験方法
を説明する。先ず、第2図において、 ステツプ10:前述のように、本実施例で示し
たパイプライン1aは5段構成であるので、逐次
化命令を含まないテスト命令として、例えば、5
命令(命令1〜命令5)からなるテスト命令列
を主記憶装置(MS)3上に作成する。
若し、n段のパイプライン機構が対象であれ
ば、n命令が必要となる。
ば、n命令が必要となる。
ステツプ11:次に、第3図で示したパイプラ
イン機構1a内のレジスタ、メモリ等に被演算デ
ータを設定し、上記命令列の実行できる環境を作
る。
イン機構1a内のレジスタ、メモリ等に被演算デ
ータを設定し、上記命令列の実行できる環境を作
る。
ステツプ12,13:ステツプ10で作成し
た、逐次化命令を含まないテスト命令列を、主
記憶装置(MS)3から読み出し、パイプライン
1aに逐次投入して実行し、その実行結果(レジ
スタ、メモリの内容)を収集して期待値とする。
た、逐次化命令を含まないテスト命令列を、主
記憶装置(MS)3から読み出し、パイプライン
1aに逐次投入して実行し、その実行結果(レジ
スタ、メモリの内容)を収集して期待値とする。
ステツプ14:ステツプ10で作成した逐次化
命令を含まないテスト命令列の各命令の間に逐
次化命令を設定し、第1図〜で示した逐次化
命令を含むテスト命令列群を主記憶装置(MS)
3上に作成する。
命令を含まないテスト命令列の各命令の間に逐
次化命令を設定し、第1図〜で示した逐次化
命令を含むテスト命令列群を主記憶装置(MS)
3上に作成する。
第1図のテスト命令列群〜において、は
第2,3図のパイプライン機構1aに1命令(命
令1、……、命令5)宛通過させるテスト命令列
である。
第2,3図のパイプライン機構1aに1命令(命
令1、……、命令5)宛通過させるテスト命令列
である。
は該パイプライン機構1aに、2つの命令
(命令1、2、或いは命令3、4等)を同時に通
過させるテスト命令列である。
(命令1、2、或いは命令3、4等)を同時に通
過させるテスト命令列である。
同じようにして、〜で示したテスト命令列
は、該パイプライン機構1aに、逐次化命令の間
に挾まれている命令のみを通過させるテスト命令
列である。
は、該パイプライン機構1aに、逐次化命令の間
に挾まれている命令のみを通過させるテスト命令
列である。
このように、本発明において使用されるテスト
命令列は、それぞれにおいて、パイプライン機構
1aに一度に投入される命令の数を段階的にした
所に特徴がある。
命令列は、それぞれにおいて、パイプライン機構
1aに一度に投入される命令の数を段階的にした
所に特徴がある。
ステツプ15:ステツプ11で設定したよう
に、該パイプライン機構1a内のレジスタ、メモ
リ等に、被演算データを設定し、上記命令列の実
行できる環境を作る。
に、該パイプライン機構1a内のレジスタ、メモ
リ等に、被演算データを設定し、上記命令列の実
行できる環境を作る。
ステツプ16,17,18:ステツプ14で作
成したテスト命令列〜を、主記憶装置
(MS)3から読み出し、上記パイプライン1a
に順次投入して実行し、そのの実行結果(レジス
タ、メモリ等)を収集して、ステツプ13で収集
した逐次化命令を含まない時の実行結果(期待
値)と、該逐次化命令を含んだ時の実行結果とを
比較する。
成したテスト命令列〜を、主記憶装置
(MS)3から読み出し、上記パイプライン1a
に順次投入して実行し、そのの実行結果(レジス
タ、メモリ等)を収集して、ステツプ13で収集
した逐次化命令を含まない時の実行結果(期待
値)と、該逐次化命令を含んだ時の実行結果とを
比較する。
この処理を、第1図で示したテスト命令列〜
について行い、正常に終了したかどうかを確認
する。
について行い、正常に終了したかどうかを確認
する。
若し、エラーが検出された時には、何回目(即
ち、〜の何れのテスト命令列の時)にエラー
が検出されたかによつて、パイプライン機構1a
のどのステージでのエラーかを知ることができ
る。
ち、〜の何れのテスト命令列の時)にエラー
が検出されたかによつて、パイプライン機構1a
のどのステージでのエラーかを知ることができ
る。
例えば、第3図のパイプライン機構1aにおい
て、ステージ3に障害があつたとすると、第1図
のテスト命令列〜は、図示の如く、それぞれ
のテスト命令列において、一度に該パイプライン
機構を流れる命令の数が異なるように構成されて
いるので、障害ステージの位置と、上記命令列の
組み合わせによつて、例えば、レジスタコンフリ
クト等が発生して、エラーとなる命令列と、エラ
ーにならない命令列が存在することになる。
て、ステージ3に障害があつたとすると、第1図
のテスト命令列〜は、図示の如く、それぞれ
のテスト命令列において、一度に該パイプライン
機構を流れる命令の数が異なるように構成されて
いるので、障害ステージの位置と、上記命令列の
組み合わせによつて、例えば、レジスタコンフリ
クト等が発生して、エラーとなる命令列と、エラ
ーにならない命令列が存在することになる。
従つて、第1図の〜のようなテスト命令列
を試験対象であるパイプライン1aの各ステージ
に対応して多数設けて、それぞれを当該パイプラ
イン機構に流し、何れの命令列でエラーになつた
かを解析することによつて、障害ステージが検知
できることになる。
を試験対象であるパイプライン1aの各ステージ
に対応して多数設けて、それぞれを当該パイプラ
イン機構に流し、何れの命令列でエラーになつた
かを解析することによつて、障害ステージが検知
できることになる。
即ち、本発明は、パイプライン1aのあるステ
ージが障害になつている時、該パイプライン1a
に1命令宛が流れる時にはエラーとはならない
が、複数個の命令列が一度に流れると、命令の相
互関係によつてエラーとなることがあることに着
目した試験法と云うことができる。
ージが障害になつている時、該パイプライン1a
に1命令宛が流れる時にはエラーとはならない
が、複数個の命令列が一度に流れると、命令の相
互関係によつてエラーとなることがあることに着
目した試験法と云うことができる。
このように、本発明においては、逐次化命令を
含まないテスト命令列をパイプライン機構に投入
した時の演算結果(期待値)と、逐次化命令と上
記命令列とを組み合わせたテスト命令列の群を作
成し、パイプライン機構に一度に流れる命令の数
を変えるようにして、該パイプライン機構に投入
した時の演算結果とを比較し、どの組み合わせの
時にエラーになつたかによつて、該パイプライン
機構の障害ステージを検知するようにした所に特
徴がある。
含まないテスト命令列をパイプライン機構に投入
した時の演算結果(期待値)と、逐次化命令と上
記命令列とを組み合わせたテスト命令列の群を作
成し、パイプライン機構に一度に流れる命令の数
を変えるようにして、該パイプライン機構に投入
した時の演算結果とを比較し、どの組み合わせの
時にエラーになつたかによつて、該パイプライン
機構の障害ステージを検知するようにした所に特
徴がある。
以上、詳細に説明したように、本発明のパイプ
ライン装置の試験方法は、パイプライン方式で処
理され、逐次化命令の処理機構を備えた情報処理
装置において、一般命令のみのテスト命令列と、
逐次化命令を含むテスト命令列とを主記憶装置
(MS)上に用意し、該主記憶装置(MS)から読
み出した一般命令のみのテスト命令列をパイプ
ラインに投入して得られた処理結果と、逐次化命
令と、一般命令とを交互に並べたテスト命令列
〜を同じパイプラインに投入して得られた処理
結果とを比較することにより、該パイプライン機
構の障害箇所を同定するようにしたものであるの
で、(1)段階的なテスト命令列〜を選択するこ
とにより、パイプラインをステージ単位に試験す
ることができる。(2)CPU側で保守命令を使用し
なくても良く、試験プログラムの構成が簡単にな
る。(3)処理速度の遅いSVPを使用する必要がな
いので、試験時間が短縮される等の効果がある。
ライン装置の試験方法は、パイプライン方式で処
理され、逐次化命令の処理機構を備えた情報処理
装置において、一般命令のみのテスト命令列と、
逐次化命令を含むテスト命令列とを主記憶装置
(MS)上に用意し、該主記憶装置(MS)から読
み出した一般命令のみのテスト命令列をパイプ
ラインに投入して得られた処理結果と、逐次化命
令と、一般命令とを交互に並べたテスト命令列
〜を同じパイプラインに投入して得られた処理
結果とを比較することにより、該パイプライン機
構の障害箇所を同定するようにしたものであるの
で、(1)段階的なテスト命令列〜を選択するこ
とにより、パイプラインをステージ単位に試験す
ることができる。(2)CPU側で保守命令を使用し
なくても良く、試験プログラムの構成が簡単にな
る。(3)処理速度の遅いSVPを使用する必要がな
いので、試験時間が短縮される等の効果がある。
第1図は本発明の概念を説明する図、第2図は
本発明の一実施例を示した図、第3図はパイプラ
イン機構の構成を示した図、第4図は従来のパイ
プライン機構の試験方法を説明する図、である。 図面において、1は中央処理装置(CPU)、1
aはパイプライン、又はパイプライン機構、2は
サービスプロセツサ(SVP)、3は主記憶装置
(MS)、10〜18,20〜25はそれぞれ処理
ステツプ、〜はテスト命令列、をそれぞれ示
す。
本発明の一実施例を示した図、第3図はパイプラ
イン機構の構成を示した図、第4図は従来のパイ
プライン機構の試験方法を説明する図、である。 図面において、1は中央処理装置(CPU)、1
aはパイプライン、又はパイプライン機構、2は
サービスプロセツサ(SVP)、3は主記憶装置
(MS)、10〜18,20〜25はそれぞれ処理
ステツプ、〜はテスト命令列、をそれぞれ示
す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 パイプライン方式で処理され、逐次化命令の
処理機構を備えた情報処理装置において、 一般命令のみのテスト命令列と、該一般命令
と逐次化命令とを混在させたテスト命令列〜
とを主記憶装置(MS)3上に設定し、 上記主記憶装置(MS)3から読み取つた該テ
スト命令列〜を順次、上記パイプライン1a
に投入して、該一般命令のみのテスト命令列の
処理結果と、逐次化命令を含むテスト命令列〜
を実行して、該逐次化命令により該パイプライ
ン動作を一旦停止させた後、該複数個の一般命令
を実行した時の処理結果とを比較するようにした
ことを特徴とするパイプライン機構の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60205614A JPS6266338A (ja) | 1985-09-18 | 1985-09-18 | パイプライン機構の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60205614A JPS6266338A (ja) | 1985-09-18 | 1985-09-18 | パイプライン機構の試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6266338A JPS6266338A (ja) | 1987-03-25 |
| JPH0214734B2 true JPH0214734B2 (ja) | 1990-04-09 |
Family
ID=16509791
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60205614A Granted JPS6266338A (ja) | 1985-09-18 | 1985-09-18 | パイプライン機構の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6266338A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0407911B1 (en) * | 1989-07-07 | 1998-12-09 | Hitachi, Ltd. | Parallel processing apparatus and parallel processing method |
| JP5304239B2 (ja) * | 2008-12-26 | 2013-10-02 | 富士通株式会社 | プロセッサ試験装置、プロセッサ試験方法、プロセッサ試験プログラム |
| CN105260256B (zh) * | 2015-10-27 | 2018-03-23 | 首都师范大学 | 一种双模冗余流水线的故障检测及回退方法 |
-
1985
- 1985-09-18 JP JP60205614A patent/JPS6266338A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6266338A (ja) | 1987-03-25 |
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