JPH0219419B2 - - Google Patents
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- JPH0219419B2 JPH0219419B2 JP9341985A JP9341985A JPH0219419B2 JP H0219419 B2 JPH0219419 B2 JP H0219419B2 JP 9341985 A JP9341985 A JP 9341985A JP 9341985 A JP9341985 A JP 9341985A JP H0219419 B2 JPH0219419 B2 JP H0219419B2
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
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Description
本発明は、ストリツプのコーテイング状態検出
方法に係り、特に、金属ストリツプのコーテイン
グ膜焼付け状態を検出する際に用いるのに好適
な、走行状態で、コーテイングが塗布され、連続
的に乾燥、焼付けされるストリツプのコーテイン
グ状態検出方法の改良に関するものである。
The present invention relates to a method for detecting the coating condition of a metal strip, and in particular, a coating is applied, continuously dried, and baked in a running condition, which is suitable for use in detecting the baking condition of a coating film on a metal strip. This invention relates to an improvement in a method for detecting the coating state of a strip.
一般に、ストリツプ、例えば鋼板のコーテイン
グ設備は、第６図に示す如く構成されており、走
行状態のストリツプ１０に、例えば表面コーテイ
ング用のロールコータ１２Ａと裏面コーテイング
用のロールコータ１２Ｂが含まれるコーテイング
塗布装置１２を用いてコーテイングを塗布し、次
いで、焼付炉１４で連続的に乾燥、焼付けするこ
とによつて、ストリツプ１０の表裏面に所定のコ
ーテイングを施すようにしている。
このようなコーテイング設備の焼付け制御に際
して、従来は、前記焼付炉１４の出側にストリツ
プ１０の温度を測定する板温計１６を設け、該板
温計１６で検出される焼付炉出側温度が一定とな
るように板温制御回路１８を用いて焼付炉１４を
制御するようにしていた。
しかしながら、このような焼付炉１４出側のス
トリツプ温度制御による焼付け制御だけでは、コ
ート組成の変動、ライン速度の変度等により、焼
付け状態のばらつきが発生してしまう。
このような焼付け状態のばらつきを防止するに
は、焼付け状態を検出することが不可欠であり、
例えば、特開昭50−96638には、焼付け直後に鋼
板表面の特定波長における輻射率（１つのみ）を
求め、該輻射率により塗料の品質調整を行つて、
コース組成の変動やコート膜厚を把握し、制御す
る連続塗装装置の制御方法が開示されている。
Generally, a coating equipment for a strip, for example, a steel plate, is constructed as shown in FIG. The desired coating is applied to the front and back surfaces of the strip 10 by applying the coating using an apparatus 12 and then sequentially drying and baking it in a baking oven 14. Conventionally, when controlling the baking of such coating equipment, a plate thermometer 16 for measuring the temperature of the strip 10 is provided on the exit side of the baking furnace 14, and the baking furnace exit temperature detected by the plate thermometer 16 is The baking furnace 14 was controlled using a plate temperature control circuit 18 so that the temperature remained constant. However, if the baking control is performed solely by controlling the strip temperature at the exit side of the baking furnace 14, variations in the baking condition will occur due to variations in the coating composition, variations in the line speed, and the like. In order to prevent such variations in the burn-in state, it is essential to detect the burn-in state.
For example, in JP-A-50-96638, the emissivity (only one) at a specific wavelength of the surface of a steel plate is determined immediately after baking, and the quality of the paint is adjusted based on the emissivity.
A control method for a continuous coating apparatus is disclosed that grasps and controls variations in course composition and coating film thickness.
しかしながら、発明者が、この特開昭50−
96638で開示された方法により、焼付け状態が検
出可能であるか否か種々調査を行つたところ、特
定波長の輻射率１つだけでは、正確な焼付け状態
の検出が困難であることが判明した。即ち、焼付
け不足から焼付け良好、更には焼すぎと変化した
場合、焼付け状態と輻射率は必ずしも一対一の対
応関係を示さず、焼付け直後のストリツプ１０に
おける特定波長の輻射率が一定であつても、焼付
け不良、焼付け良好の両方の場合が混在すること
がわかつた。従つて、特開昭50−96638で開示さ
れた方法では、焼付け状態をオンラインで正確に
把握することができない。
However, the inventor of this patent
When various investigations were conducted to determine whether the burn-in state could be detected using the method disclosed in No. 96638, it was found that it is difficult to accurately detect the burn-in state using only one emissivity at a specific wavelength. That is, when the baking changes from insufficient baking to good baking to overbaking, the baking condition and emissivity do not necessarily show a one-to-one correspondence, and even if the emissivity of a specific wavelength in the strip 10 immediately after baking is constant, It was found that there were both cases of poor printing and good printing. Therefore, with the method disclosed in JP-A-50-96638, it is not possible to accurately grasp the printing state online.
本発明は、前記従来の問題点を解消するべくな
されたもので、コーテイング膜の焼付け状態をオ
ンラインで正確に検出することができ、従つて、
コーテイングの品質調整を適確に行つて、良好な
コーテイング状態を得ることができるストリツプ
のコーテイング状態検出方法を提供することを目
的とする。
The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and it is possible to accurately detect the baking state of the coating film online, and therefore,
It is an object of the present invention to provide a method for detecting the coating state of a strip, which can accurately adjust the quality of the coating and obtain a good coating state.
本発明は、走行状態で、コーテイングが塗布さ
れ、連続的に乾燥、焼付けされるストリツプのコ
ーテイング状態検出方法において、第１図にその
要旨を示す如く、コーテイング焼付後に、少なく
とも２つ以上の波長又は波長域におけるストリツ
プ表面の反射率を測定し、該２つ以上の反射率か
ら、焼付け時に変化する色調を示す複数のパラメ
ータを求め、該複数のパラメータの組合せを基準
範囲と比較し、コーテイング膜の焼付け状態を検
出するようにして、前記目的を達成したものであ
る。
又、本発明の実施態様は、前記パラメータを、
a*値とb*値としたものである。
又、本発明の他の実施態様は、前記基準範囲を
膜厚に応じて変更して、コーテイング膜厚の影響
を相殺するようにしたものである。
The present invention is a method for detecting the coating state of a strip in which a coating is applied, continuously dried, and baked while the strip is running.As shown in FIG. The reflectance of the strip surface in the wavelength range is measured, and from the two or more reflectances, multiple parameters indicating the color tone that changes during printing are determined. The combination of the multiple parameters is compared with the reference range, and the coating film is determined. The above object is achieved by detecting the burn-in state. Further, in an embodiment of the present invention, the parameter is
The a * value and the b * value. In another embodiment of the present invention, the reference range is changed according to the film thickness to offset the influence of the coating film thickness.
以下、本発明の作用を説明する。
既に述べた如く、発明者の調査により、焼付け
状態が変化するとき、反射率の変化状態が、波長
又は波長域によつて異なることが判明した。この
ため、発明者は、コーテイング焼付け後に、少な
くとも２つ以上の波長又は波長域におけるストリ
ツプ表面の反射率を測定し、焼付け状態の変化と
の関係を調査した。その結果、２つ以上の反射率
から、焼付け時に変化する色調を示す複数のパラ
メータを求め、該複数のパラメータの組合せを基
準範囲と比較することにより、コーテイング膜の
焼付け状態を検出できることがわかつた。
第２図は、半有機系Cr含有コーテイングを無
方向性電磁鋼板に塗布し、焼付け状態を変えて焼
付けしたときに、焼付け状態の変化により、国際
照明委員会推薦の表色系の一つであるa*値及び
b*値（２種類の波長域の反射率に相当）がどの
ように変化するかを示したものである。第２図に
おいて、×印が焼付け不足の状態、〇印が焼付け
良好な状態、▲印が焼付けしすぎの状態を示して
いる。
なお、前記a*値及びb*値は、それぞれ次式で
定義されている。
a*＝500｛（Ｘ／98.05）1/3
−（Ｙ／100）1/3｝ ……(1)
b*＝200｛（Ｙ／100）1/3
−（Ｚ／118.10）1/3｝ ……(2)
この(1)，(2)式中のＸは、波長380〜780nmにお
ける反射率に、第３図に示すような、XYZ表色
系の等色関数λを乗じて、波長で積分し、それ
を平均化したものである。又、Ｙ，Ｚについても
同様に、等色関数λ，λを使用して算出した
ものである。
ここで、a*値とb*値を採用しているのは、焼
付け時に６価Crイオンが３価Crイオンに変わる
際に示す色調をより正確に示す指標として有効で
あるからである。
第２図において、矢印Ａ方向は、６価Crイオ
ンが残りぎみの傾向を示し、又矢印Ｂ方向は、６
価Crイオンから３価Crイオンに変わる率が高い
傾向を示している。
図から明らかな如く、a*値、b*値の両者を用
いれば、焼付け良好状態を明確に検出することが
できることがわかる。なお、a*値、b*値以外の
他のパラメータを用いることも可能である。
又、基準範囲を膜厚に応じて変更し、コーテイ
ング膜厚のa*値、b*値への影響を相殺すること
によつて、更に検出精度を高めることができる。
The operation of the present invention will be explained below. As already mentioned, the inventor's research has revealed that when the printing condition changes, the state of change in reflectance differs depending on the wavelength or wavelength range. For this reason, the inventor measured the reflectance of the strip surface at at least two or more wavelengths or wavelength ranges after baking the coating, and investigated the relationship with changes in the baking state. As a result, it was found that the baked state of the coating film could be detected by determining multiple parameters indicating the color tone that changes during baking from two or more reflectances and comparing the combination of these multiple parameters with a reference range. . Figure 2 shows that when a semi-organic Cr-containing coating is applied to a non-oriented electrical steel sheet and baked in different baking conditions, the change in baking condition results in one of the color systems recommended by the International Commission on Illumination. a * value and
This shows how the b * value (corresponding to reflectance in two wavelength ranges) changes. In FIG. 2, an x mark indicates a state in which the printing is insufficient, a mark ◯ indicates a state in which the printing is good, and a mark ▲ indicates a state in which the printing is excessive. Note that the a * value and the b * value are defined by the following formulas, respectively. a * = 500 {(X/98.05) 1/3 − (Y/100) 1/3} ……(1) b * = 200 {(Y/100) 1/3 − (Z/118.10) 1/3 } ...(2) X in these formulas (1) and (2) is calculated by multiplying the reflectance in the wavelength range of 380 to 780 nm by the color matching function λ of the XYZ color system as shown in Figure 3. It is obtained by integrating over the wavelength and averaging it. Similarly, Y and Z are calculated using color matching functions λ and λ. Here, the a * value and b * value are used because they are effective as indicators that more accurately indicate the color tone exhibited when hexavalent Cr ions change to trivalent Cr ions during printing. In Figure 2, the direction of arrow A shows a tendency for hexavalent Cr ions to remain, and the direction of arrow B shows a tendency for hexavalent Cr ions to remain.
The rate of change from valent Cr ions to trivalent Cr ions tends to be high. As is clear from the figure, it is possible to clearly detect a good printing state by using both the a * value and the b * value. Note that it is also possible to use parameters other than the a * value and b * value. Further, the detection accuracy can be further improved by changing the reference range according to the film thickness and canceling out the influence of the coating film thickness on the a * value and b * value.
以下図面を参照して、本発明に係るストリツプ
のコーテイング状態検出方法が採用された、コー
テイング焼付け制御の実施例を詳細に説明する。
本実施例においては、第４図に示す如く、前記
従来例と同様の、半有機系Cr含有コーテイング
を塗布するコーテイング塗布装置１２、焼付炉１
４、板温計１６及び板温制御回路１８を備えた電
磁鋼板のコーテイング設備において、更に、前記
焼付炉１４出側でコーテイング焼付け後の２つ以
上の反射率を測定する反射率測定器２４と、該反
射率測定器２４による反射率測定結果を波長毎に
処理して、a*値及びb*値を算出する演算器２６
と、コーテイング焼付け後の膜厚を検出する膜厚
計３０と、該膜厚計３０で測定された膜厚に応じ
て変更可能とされた基準範囲と前記演算器２６の
出力を比較し、a*値とb*値が基準範囲内である
か否かを比較して、基準範囲を外れた場合に、焼
付け状態に応じて前記板温制御回路１８へ板温設
定値変更指令を出力する比較器３２とを備えたも
のである。
他の点については前記従来例と同様であるので
説明は省略する。
以下、実施例の作用を説明する。
まず定常時は、板温制御回路１８における板温
設定値が一定とされ、板温計１６によるストリツ
プ１０の温度測定結果により、焼付炉１４がフイ
ードバツク制御されている。即ち、従来と同様の
板温制御が主ループとなつている。
一方、反射率測定器２４による反射率測定結果
は、演算器２６で波長毎に処理され、a*値とb*
値が算出される。そして、比較器３２で基準範囲
内であるか否か判定される。なお、該基準範囲
は、膜厚計３０の測定結果により、膜厚による
a*値、b*値への影響量を相殺するため、変更可
能とされている。
即ち、半有機系Cr含有コーテイングの焼付良
好範囲は、例えば、膜厚が増加すれば第５図に示
す様に、主にa*が変化するため、最適焼付域を
設定するための基準範囲を膜厚により変更して管
理を行つている。
前記比較器３２で基準範囲を外れたと判定され
た場合は、その時の焼付け状態に応じて、板温制
御回路１８に板温設定値変更指令が出力される。
即ち、例えば、焼付け不足と判断された場合に
は、板温制御回路１８の板温設定値を上げ、焼付
けを進行させる様にする。そして変更された板温
設定値での焼付け状態を、再度判定する。焼付良
好となるまでこれを行うわけであるが、本実施例
の場合、板温設定値の変更を、ある基準値内での
み可能としており、これを外れた場合には異常警
報を出力することにしている。これは、例えば、
コーテイング塗布液の組成の変動が基準を外れる
等のトラブルが発生した時に、標準組成のコーテ
イングの最適焼付域から大きく外れてしまい、無
制限に板温設定値が変化することを防ぐためであ
る。
本実施例においては、焼付炉１４の出側に膜厚
計３０を設け、該膜厚計３０で検出されたコーテ
イング膜厚を比較器３２に入力して、a*値及び
b*値の基準範囲を変更できるようにしているの
で、膜厚によるa*値、b*値への影響量が相殺さ
れ、精度の高いコーテイング状態検出を行うこと
ができる。
又、本実施例においては、検出されたコーテイ
ング膜焼付け状態に応じて、既設の板温制御回路
１８の板温設定値を変更するようにしているの
で、従来の設備に対する本発明の適用が容易であ
る。なお、コーテイング膜焼付け状態に応じて、
品質調整のために制御する対象は、これに限定さ
れない。
なお前記実施例においては、本発明が、電磁鋼
板のコーテイング状態検出に適用されていたが、
本発明の適用範囲はこれに限定されない。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of coating burning control employing the strip coating state detection method according to the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. In this embodiment, as shown in FIG. 4, a coating applicator 12 for applying a semi-organic Cr-containing coating and a baking furnace 1 are used, similar to the conventional example.
4. The electromagnetic steel sheet coating equipment equipped with a plate thermometer 16 and a plate temperature control circuit 18 further includes a reflectance measuring device 24 that measures two or more reflectances after baking the coating on the exit side of the baking furnace 14. , an arithmetic unit 26 that processes the reflectance measurement results by the reflectance measuring device 24 for each wavelength and calculates the a * value and the b * value.
Then, the output of the calculator 26 is compared with a film thickness meter 30 that detects the film thickness after coating baking and a reference range that can be changed according to the film thickness measured by the film thickness meter 30. * value and b * value are compared to see if they are within the reference range, and if they are out of the reference range, a command to change the plate temperature set value is output to the plate temperature control circuit 18 according to the baking condition. It is equipped with a container 32. The other points are the same as those of the conventional example, so the explanation will be omitted. The effects of the embodiment will be explained below. First, in a steady state, the plate temperature setting value in the plate temperature control circuit 18 is kept constant, and the baking furnace 14 is controlled in feedback based on the temperature measurement result of the strip 10 by the plate thermometer 16. That is, the main loop is plate temperature control similar to the conventional one. On the other hand, the reflectance measurement results obtained by the reflectance measuring device 24 are processed for each wavelength by the arithmetic unit 26, and the a * value and b * value are
The value is calculated. Then, the comparator 32 determines whether or not it is within the reference range. The reference range is based on the film thickness based on the measurement results of the film thickness meter 30.
It is said that it can be changed in order to offset the amount of influence on a * value and b * value. In other words, the good baking range for semi-organic Cr-containing coatings mainly changes a * as the film thickness increases, as shown in Figure 5. It is managed by changing it depending on the film thickness. If the comparator 32 determines that the temperature is outside the reference range, a plate temperature set value change command is output to the plate temperature control circuit 18 in accordance with the baking condition at that time. That is, for example, if it is determined that the baking is insufficient, the plate temperature setting value of the plate temperature control circuit 18 is increased to advance the baking. Then, the baking state at the changed plate temperature setting value is determined again. This is done until the seizure is good, but in the case of this example, the plate temperature set value can only be changed within a certain standard value, and if it deviates from this, an abnormality alarm is output. I have to. This is, for example,
This is to prevent the plate temperature setting value from changing indefinitely due to a deviation from the optimum baking range of the coating with the standard composition when a problem occurs such as fluctuations in the composition of the coating liquid that deviate from the standard. In this embodiment, a film thickness gauge 30 is provided on the exit side of the baking furnace 14, and the coating film thickness detected by the film thickness gauge 30 is inputted to the comparator 32, and the a * value and
Since the reference range of the b * value can be changed, the amount of influence of film thickness on the a * value and b * value is canceled out, making it possible to detect the coating state with high precision. Furthermore, in this embodiment, the plate temperature set value of the existing plate temperature control circuit 18 is changed in accordance with the detected baking state of the coating film, so the present invention can be easily applied to conventional equipment. It is. In addition, depending on the baking condition of the coating film,
The object to be controlled for quality adjustment is not limited to this. Note that in the above embodiments, the present invention was applied to detecting the coating state of electrical steel sheets, but
The scope of application of the present invention is not limited thereto.
以上説明した通り、本発明によれば、コーテイ
ング膜の焼付け状態を、オンラインで精度良く検
出することが可能となる。従つて、コーテイング
状態の検出結果に応じて品質調整を行うことによ
り、コーテイング焼付け状態の安定化が図れる等
の優れた効果を有する。
As explained above, according to the present invention, it is possible to accurately detect the baking state of a coating film online. Therefore, by performing quality adjustment according to the detection result of the coating state, excellent effects such as stabilization of the baked-on coating state can be achieved.
第１図は、本発明に係るストリツプのコーテイ
ング状態検出方法の要旨を示す流れ図、第２図
は、本発明の原理を説明するための、焼付け状態
を変えたコーテイング膜におけるa*値及びb*値
の例を示す線図、第３図は、前記a*値及びb*値
の算出に用いられるXYZ表色系の等色関数を示
す線図、第４図は、本発明が採用された電磁鋼板
のコーテイング設備の実施例を示す、一部ブロツ
ク線図を含む側面図、第５図は、前記実施例にお
ける基準範囲の変更理由を説明するための、a*
値及びb*値の膜厚による変化を示す線図、第６
図は、従来の鋼板のコーテイング設備の例を示
す、一部ブロツク線図を含む側面図である。
１０……ストリツプ、１２……コーテイング塗
布装置、１４……焼付炉、１６……板温計、１８
……板温制御回路、２４……反射率測定器、２６
……演算器、３０……膜厚計、３２……比較器。
Fig. 1 is a flowchart showing the gist of the method for detecting the coating state of a strip according to the present invention, and Fig. 2 shows the a * value and b * value of the coating film in different baking states to explain the principle of the present invention. Figure 3 is a diagram showing examples of values; Figure 3 is a diagram showing color matching functions of the XYZ color system used to calculate the a * value and b * value; Figure 4 is a diagram showing color matching functions in which the present invention is adopted. FIG. 5 is a side view including a partial block diagram showing an example of coating equipment for electromagnetic steel sheets .
Diagram showing changes in film thickness and b * value, No. 6
The figure is a side view, including a partial block diagram, showing an example of conventional steel plate coating equipment. 10... Strip, 12... Coating applicator, 14... Baking furnace, 16... Plate thermometer, 18
... Plate temperature control circuit, 24 ... Reflectance measuring device, 26
...Arithmetic unit, 30...Film thickness meter, 32...Comparator.
Claims (1)
的に乾燥、焼付けされるストリツプのコーテイン
グ状態検出方法において、 コーテイング焼付後に、少なくとも２つ以上の
波長又は波長域におけるストリツプ表面の反射率
を測定し、 該２つ以上の反射率から、焼付け時に変化する
色調を示す複数のパラメータを求め、 該複数のパラメータの組合せを基準範囲と比較
して、コーテイング膜の焼付け状態を検出するこ
とを特徴とするストリツプのコーテイング状態検
出方法。 ２ 前記パラメータを、a*値とb*値とした特許
請求の範囲第１項記載のストリツプのコーテイン
グ状態検出方法。 ３ 前記基準範囲を膜厚に応じて変更して、コー
テイング膜厚の影響を相殺することを特徴とする
特許請求の範囲第１項記載のストリツプのコーテ
イング状態検出方法。[Claims] 1. A method for detecting the coating state of a strip in which a coating is applied, continuously dried, and baked while the strip is running, wherein after the coating is baked, the strip surface reflects at least two or more wavelengths or wavelength ranges. measuring the reflectance, determining a plurality of parameters indicating the color tone that changes during baking from the two or more reflectances, and comparing the combination of the plurality of parameters with a reference range to detect the baking state of the coating film. A method for detecting the coating state of a strip. 2. The method for detecting the coating state of a strip according to claim 1, wherein the parameters are an a * value and a b * value. 3. The method for detecting the coating state of a strip according to claim 1, characterized in that the reference range is changed according to the film thickness to offset the influence of the coating film thickness.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9341985A JPS61251750A (en) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | Detecting method for coating state of strip |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9341985A JPS61251750A (en) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | Detecting method for coating state of strip |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61251750A JPS61251750A (en) | 1986-11-08 |
| JPH0219419B2 true JPH0219419B2 (en) | 1990-05-01 |
Family
ID=14081779
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9341985A Granted JPS61251750A (en) | 1985-04-30 | 1985-04-30 | Detecting method for coating state of strip |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61251750A (en) |
-
1985
- 1985-04-30 JP JP9341985A patent/JPS61251750A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61251750A (en) | 1986-11-08 |
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Legal Events
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