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JPH0236905B2 - - Google Patents
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JPH0236905B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0236905B2
JPH0236905B2 JP59104994A JP10499484A JPH0236905B2 JP H0236905 B2 JPH0236905 B2 JP H0236905B2 JP 59104994 A JP59104994 A JP 59104994A JP 10499484 A JP10499484 A JP 10499484A JP H0236905 B2 JPH0236905 B2 JP H0236905B2
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JP
Japan
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test piece
flaw detection
stb
time axis
adjustment
Prior art date
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JP59104994A
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JPS60247162A (en
Inventor
Masahiro Nakabayashi
Tetsuo Minami
Hiroyuki Harada
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Nichizo Tech Inc
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Nichizo Tech Inc
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
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    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
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Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

〔産業上の利用分野〕 この発明は、溶接構造物溶接部の探傷試験に用
いられる超音波探傷器において、現場作業におけ
る探傷器の時間軸の調整および探傷感度の調整に
好適な超音波探傷器の調整用試験片に関する。 〔従来技術〕 一般に、溶接構造物の溶接部に超音波探傷試験
を適用する場合、日本工業規格JIS Z3060“鋼溶
接部の超音波探傷試験方法および試験結果の等級
分類”が多く用いられている。 このなかで、超音波探傷器の時間軸の調整およ
び原点の修正には、第1図に示すような超音波探
傷用A1形標準試験片TSB−A11または第2図に
示すような超音波斜角探傷用A3標準試験片STB
−A32を、また、距離振幅特性曲線によるエコ
ー高さ区分線の作成および探傷感度の調整には、
標準試験片STB−A2または対比試験片RB−4
をそれぞれ用いることが規定されている。 すなわち、STB−A11は第1図a,bに示す
ような形状、寸法になつており、溶接構造用圧延
鋼材により構成された試験片本体1′に、垂直探
触子のための時間軸調整用幅25mm、高さ100mm、
斜角探触子のための時間軸調整用段付部高さ91mm
および斜角探触子の入射点測定用、時間軸調整
用、時間軸原点の修正用曲面R100mm等が形成さ
れ、また、STB−A32は第2図a,bに示すよ
うな形状、寸法に形成され、溶接構造用圧延鋼材
の試験片本体2′に、斜角探触子のための時間軸
調整用高さ45.5mmおよび入射点測定用、時間軸調
整用曲面R50mm等が形成されている。 さらに、RB−4は試験体の厚さに応じてNo.1
〜No.7が使用され、厚さ100mm以下の試験体に対
して第3図、第4図および第5図に示すような形
状、寸法のRB−4No.13,RB−4No.24およ
びRB−4No.35が用いられる。このRB−4No.
13には、試験片本体3′の平行平面の一方の探
傷面から9.5mmの位置にφ2.4mm×40mmの探傷感度
調整用標準穴3が形成され、RB−4No.24に
は試験片本体4′の探傷面から9.5mmの位置にφ3.2
mm×40mmの標準穴4″が、RB−4No.35には試
験片本体5′の探傷面から18.8mmの位置にφ4.8mm
×40mmの標準穴5″がそれぞれ形成されている。 一方、この種探傷試験の精密試験には、二振動
子形探触子、点集束形探触子等の特殊探触子が用
いられるが、この場合の探傷器の時間軸調整およ
び探傷感度調整には、前述のSTB−A11または
STB−A32の他に、NDI202小委員会が指針し
た第6図に示すような横穴試験片6が使用され
る。この試験片6は、試験片本体6′にφ3mm×30
mmの10個の横穴6″を探さ4mm、長手方向寸法30
mmのピツチで形成して構成されている。 しかし、現場作業における探傷器の時間軸調整
および探傷感度調整に際し、塔槽類等の高所作
業、狭隘な場所、現場が遠方である場合等、作業
環境によつては、これらSTB−A11,STB−
A32,RB−4No.1〜33〜5、横穴試験片6を
携帯することが重量的および数量的に困難な場合
があり、作業性を悪化させる結果となつている。 〔発明の目的〕 この発明は、前記の点に留意してなされたもの
であり、STB−A1,STB−A3のそれぞれの重
要寸法およびRB−4No.1〜No.3のそれぞれの標
準穴が形成された試験片を開発し、現場作業にお
ける作業性の向上を図ることを目的とする。 〔発明の構成〕 前記目的を達成するために、この発明の超音波
探傷器の調整用試験片においては、溶接構造用圧
延鋼材により構成されたL形の試験片本体に、こ
の厚み方向に超音波探傷用標準試験片STB−A1
における垂直探触子のための時間軸調整用幅に等
しい厚みを隔てた平行な第1、第2面と、この第
1、第2面に直交し標準試験片STB−A1におけ
る斜角探触子のための時間軸調整用段付部高さに
等しい厚みを隔てた平行な第3、第4面と、第1
〜第4面にそれぞれ直交し標準試験片STB−A1
における垂直探触子のための時間軸調整用高さに
等しい厚みを隔てた平行な第5、第6面と、前記
第3面または第5面に平行で第3面または第5面
から超音波探傷用標準試験片STB−A3における
斜角探触子のための時間軸調整用高さに等しい厚
みを隔てた第7面と、前記第1面から第2面に直
交して貫通しそれぞれの径および前記第3面もし
くは第5面からの位置が対比試験片RB−4No.
1,RB−4No.2,RB−4No.3のそれぞれの探
傷感度調整用標準穴の径および探傷面からの位置
に等しい第1、第2、第3横穴とを形成したこと
を特徴としている。 〔発明の効果〕 したがつて、この発明の超音波探傷器の調整用
試験片によると、試験片本体にSTB−A1の重要
寸法およびSTB−A3の重要寸法ならびにRB−
4No.1〜No.3のそれぞれの標準穴に相当する横穴
がそれぞれ形成されるため、標準探触子を使用し
た探傷器の時間軸および探傷感度の調整の際に
は、当試験片とSTB−A3とを携帯することによ
り調整作業が行なえ、特殊探触子を使用した探傷
器の時間軸および探傷感度の調整の際には、当該
試験片と横穴試験片とを携帯することにより調整
作業が行なえるものであり、これら調整に必要な
試験片全体の小形軽量化が図れ、現場への携帯が
極めて容易となり、作業性の大幅な向上が期待で
きるものである。 〔実施例〕 つぎにこの発明を、その1実施例を示した第7
図以下の図面とともに詳細に説明する。 まず、第7図はこの発明の調整用試験片Lを示
し、7は溶接構造用圧延鋼材、たとえばSM50A
により構成されたL形の試験片本体である。 この本体7の前後の平行平面には、STB−A1
1の時間軸調整用幅25mmに等しい厚みを有する第
1、第2面7a,7bが、本体7の上下の平行平
面には、STB−A11の時間軸調整用段付部高さ
91mmに等しい厚みの第3、第4面7c,7dが、
本体7の左右の平行平面には、STB−A11の時
間軸調整用高さ100mmに等しい厚みの第5、第6
面7e,7fがそれぞれ形成され、また、本体7
の右側部下面には、第3面7cに平行で該面7c
に対してSTB−A32の時間軸調整用高さ45.5mm
に等しい寸法を隔てた第7面7gが形成されると
ともに、本体7の下部右側面には、第5面7eに
平行で該面7eに対して50mmの寸法を隔てた第8
面7hが形成されている。 さらに、本体7の第1面7aには、RB−4No.
13,No.24,No.35のそれぞれの探傷感度調整
用標準穴3″,4″,5″に等しい径および位置の
第1、第2、第3横穴8a,8b,8cがそれぞ
れ第2面7bに貫通して形成されている。すなわ
ち、第1横穴8aは探傷面となる第3面7cから
9.5mm、第6面7fから20mmの位置にφ2.4mm×25
mmの大きさで、第2横穴8bは探傷面となる第3
面7cから9.5mm、第5面7eから20mmの位置に
φ3.2mm×25mmの大きさで、第3横穴8cは探傷面
となる第5面7eから18.8mm、第4面7dから20
mmの位置にφ4.8mm×25mmの大きさでそれぞれ形成
されている。ここで、各横穴8a,8b,8cの
探傷面以外の面からの寸法20mmは調整時に各面か
らの反射超音波の影響を受けない程度に設定され
ている。 なお、試験片本体7の各面7a〜7hはすべて
その面の粗さが▽▽▽6Sとされ、さらに、各寸
法精度が±0.05mmとされているものとする。 つぎに、前記実施例を用いて探傷器を調整する
方法について説明する。 標準探触子による場合 −1 時間軸の測定範囲の調整 (i) 垂直探触子を用いる場合、測定範囲に応
じて、該測定範囲の1/2以下となる試験片
Lの厚さ方向の寸法25mm、50mm、100mmを
選定して行なう。たとえば、測定範囲を縦
数の100mmに調整する場合、第1、第2面
7a,7b間の厚さ25mmを使用し、第1面
7aから垂直探触子により垂直に超音波を
入射させ、探傷器のブラウン管上の多重反
射図形の2番目の底面エコーを時間軸目盛
の中央の25目盛に、4番目の底面エコーを
時間軸目盛の右端の50目盛にそれぞれ探傷
器のパルス位置つまみおよび音速調整つま
みを用いて調整する。 (ii) 斜角探触子を用いる場合、斜角探触子だ
けで調整する場合と垂直探触子で予備調整
後斜角探触子を使用する場合とがあるが、
いずれの場合も、STB−A32のR50mm、
高さ45.5mmを利用して所定の方法で行な
う。この場合の測定範囲はSTB−A1に対
して限定されるが、多くの場合、STB−
A3で十分である。 −2 探傷感度の調整 まず、試験室において、第8図aに示すよう
に、RB−4No.13を用いて斜角探触子9(図
では屈折角70゜)で標準穴3″を探傷し、ブラウ
ン管上に同図bに示すような距離振幅特性曲線
によるエコー高さ区分線、すなわちH線を作成
し、さらに、標準穴3″のエコー高さがこのH
線(80%)に合うようにゲイン調整し、これを
探傷感度とする。このときのゲインつまみの目
盛の読みHo(dB)を記録する。つぎに、ゲイン
つまみの目盛の読みHoは変化しないで、第9
図aに示すように、試験片Lの第1横穴8aを
第3面7cの探傷面から前述の斜角探触子9で
直射法により探傷する。このときのエコー高さ
がH線(80%)に合うようにゲインつまみを調
整し、このゲインつまみの目盛の読みH(dB
を記録する。 さらに、RB−4No.13の標準穴3″のエコ
ー高さと試験片7の第1横穴8aのエコー高さ
とのH線に対するゲインつまみの目盛の読みの
差△H(dB)=H−Hoを求め、記録する。 そして、現場作業においては、試験片7を使
用し、この第1横穴8aのエコー高さがH線に
合うようにゲイン調整したのち、さらに、ゲイ
ンつまみの目盛を△H(dB)だけ変化させ、こ
れを探傷感度とする。すなわち、ゲインつまみ
の目盛を△H(dB)だけ変化させたことにより、
RB−4No.13により探傷感度の調整を行なつ
たことと同等になる。 たとえば、表に示すように、RB−4No.13
によるゲインつまみの読みHoが−40.5dB、試
験片7の第1横穴8aによるゲインつまみの読
みHが−39.0dBとなつた場合、差△Hは+1.5dB
となり、現場作業におけるゲインつまみの目盛
を1.5dB高めることにより探傷感度の調整が行
なえたことになる。
[Industrial Application Field] The present invention provides an ultrasonic flaw detector suitable for adjusting the time axis and flaw detection sensitivity of the flaw detector in field work in an ultrasonic flaw detector used for flaw detection testing of welded parts of welded structures. This invention relates to a test piece for adjustment. [Prior art] Generally, when applying ultrasonic flaw detection tests to welded parts of welded structures, the Japanese Industrial Standard JIS Z3060 "Ultrasonic flaw detection testing methods for steel welded parts and classification of test results" is often used. . Among these, to adjust the time axis and correct the origin of the ultrasonic flaw detector, use the A1 standard test piece TSB-A11 for ultrasonic flaw detection as shown in Figure 1 or the ultrasonic tilt as shown in Figure 2. A3 standard test piece STB for corner flaw detection
-A32, and also for creating echo height division lines and adjusting flaw detection sensitivity using distance amplitude characteristic curves.
Standard test piece STB-A2 or comparative test piece RB-4
It is stipulated that each should be used. In other words, STB-A11 has the shape and dimensions as shown in Figure 1a and b, and the test piece body 1' is made of rolled steel for welded structure, and the time axis adjustment for the vertical probe is installed. width 25mm, height 100mm,
Stepped part height 91mm for time axis adjustment for angle probe
A curved surface R100 mm is formed for measuring the incident point of the angle probe, for adjusting the time axis, and for correcting the time axis origin.The STB-A32 has the shape and dimensions as shown in Figure 2 a and b. A 45.5 mm height for adjusting the time axis for the angle probe and a curved surface R for measuring the time axis of 50 mm for incident point measurement are formed on the test piece body 2' of rolled steel for welded structures. . Furthermore, RB-4 is No. 1 depending on the thickness of the specimen.
~No.7 is used, and RB-4 No.13, RB-4 No.24 and RB with the shapes and dimensions shown in Figures 3, 4 and 5 are used for test specimens with a thickness of 100 mm or less. -4 No. 35 is used. This RB-4 No.
13, a standard hole 3 for flaw detection sensitivity adjustment of φ2.4 mm x 40 mm is formed at a position of 9.5 mm from one flaw detection surface of the parallel plane of the test piece body 3', and RB-4 No. φ3.2 at a position 9.5mm from the flaw detection surface of 4'
RB-4 No. 35 has a standard hole 4" mm x 40 mm with a diameter of 4.8 mm at a position 18.8 mm from the flaw detection surface of the test piece body 5'.
A standard hole 5" x 40mm is formed in each. On the other hand, special probes such as dual element probes and point focusing probes are used for precision testing of this type of flaw detection. In this case, to adjust the time axis and sensitivity of the flaw detector, use the above-mentioned STB-A11 or
In addition to STB-A32, a horizontal hole test piece 6 as shown in Figure 6, which was guided by the NDI202 subcommittee, is used. This test piece 6 has a diameter of 3 mm x 30 mm on the test piece body 6'.
Find 10 horizontal holes 6″ mm 4mm, longitudinal dimension 30
It is formed with a pitch of mm. However, when adjusting the time axis and flaw detection sensitivity of the flaw detector during field work, depending on the work environment, such as work at high places such as towers and tanks, narrow spaces, and remote work sites, these STB-A11, STB−
A32, RB-4 Nos. 1 to 33 to 5, and the horizontal hole test piece 6 may be difficult to carry in terms of weight and quantity, resulting in poor workability. [Object of the Invention] This invention has been made with the above points in mind, and each important dimension of STB-A1 and STB-A3 and each standard hole of RB-4 No. 1 to No. 3 are The purpose is to develop a formed test piece and improve workability in on-site work. [Structure of the Invention] In order to achieve the above object, in the test piece for adjusting an ultrasonic flaw detector of the present invention, an L-shaped test piece main body made of rolled steel for welded structure is provided with an ultrasonic wave in the thickness direction. Standard test piece STB-A1 for sonic flaw detection
Parallel first and second surfaces separated by a thickness equal to the time axis adjustment width for the vertical probe in the standard specimen STB-A1, and the oblique probe in the standard specimen STB-A1 perpendicular to the first and second surfaces. Parallel third and fourth surfaces separated by a thickness equal to the height of the stepped part for adjusting the time axis for children, and the first
~Standard test piece STB-A1 perpendicular to the fourth surface
parallel fifth and sixth surfaces separated by a thickness equal to the time axis adjustment height for the vertical probe in the vertical probe; The seventh surface is separated by a thickness equal to the time axis adjustment height for the angle probe in the standard test piece STB-A3 for sonic flaw detection, and the second surface is penetrated perpendicularly from the first surface to the second surface, respectively. The diameter and position from the third or fifth surface of the comparative specimen RB-4 No.
1, RB-4 No. 2, and RB-4 No. 3. The first, second, and third horizontal holes are formed to have the same diameter and position from the flaw detection surface as the standard holes for flaw detection sensitivity adjustment, respectively. . [Effects of the Invention] Therefore, according to the test piece for adjusting an ultrasonic flaw detector of the present invention, the test piece body has important dimensions of STB-A1, important dimensions of STB-A3, and RB-
4. Since horizontal holes corresponding to each of the standard holes No. 1 to No. 3 are formed, when adjusting the time axis and flaw detection sensitivity of the flaw detector using the standard probe, it is necessary to - Adjustment work can be carried out by carrying the A3, and when adjusting the time axis and flaw detection sensitivity of a flaw detector using a special probe, adjustment work can be carried out by carrying the relevant test piece and the horizontal hole test piece. This makes it possible to reduce the size and weight of the entire test piece required for these adjustments, making it extremely easy to carry to the site, and greatly improving workability. [Example] Next, this invention will be described in the seventh example showing one example.
This will be explained in detail with reference to the drawings below. First, FIG. 7 shows a test piece L for adjustment according to the present invention, and 7 shows a rolled steel material for welded structures, for example, SM50A.
The main body of the test piece is L-shaped. On the front and rear parallel planes of this main body 7, STB-A1
The first and second surfaces 7a and 7b having a thickness equal to the time axis adjustment width 25 mm of STB-A11 are on the upper and lower parallel planes of the main body 7.
The third and fourth surfaces 7c and 7d have a thickness equal to 91 mm,
On the left and right parallel planes of the main body 7, there are fifth and sixth holes with a thickness equal to the height of 100 mm for time axis adjustment of STB-A11.
Surfaces 7e and 7f are formed respectively, and the main body 7
On the right lower surface of , there is a surface 7c parallel to the third surface 7c.
The height for time axis adjustment of STB-A32 is 45.5 mm.
An eighth surface 7g is formed on the lower right side of the main body 7, parallel to the fifth surface 7e and spaced apart by a distance of 50 mm from the surface 7e.
A surface 7h is formed. Further, on the first surface 7a of the main body 7, RB-4 No.
The first, second, and third horizontal holes 8a, 8b, and 8c, which have the same diameter and position as the standard holes 3'', 4'', and 5'' for flaw detection sensitivity adjustment of No. 13, No. 24, and No. 35, are the second holes, respectively. The first horizontal hole 8a is formed to penetrate through the surface 7b.That is, the first horizontal hole 8a is formed from the third surface 7c, which is the flaw detection surface.
9.5mm, φ2.4mm x 25 at 20mm from 6th surface 7f
mm in size, the second horizontal hole 8b is the third hole which becomes the flaw detection surface.
The third horizontal hole 8c is located 9.5 mm from the surface 7c and 20 mm from the fifth surface 7e with a size of φ3.2 mm x 25 mm, and the third horizontal hole 8c is located 18.8 mm from the fifth surface 7e, which is the flaw detection surface, and 20 mm from the fourth surface 7d.
They are each formed at a position of mm with a size of φ4.8 mm x 25 mm. Here, the dimension of each horizontal hole 8a, 8b, 8c from a surface other than the flaw detection surface of 20 mm is set to such an extent that it will not be affected by reflected ultrasonic waves from each surface during adjustment. It is assumed that all the surfaces 7a to 7h of the test piece main body 7 have a surface roughness of ▽▽▽6S, and each dimensional accuracy is ±0.05 mm. Next, a method for adjusting a flaw detector using the embodiment described above will be explained. When using a standard probe - 1 Adjustment of the measurement range on the time axis (i) When using a vertical probe, depending on the measurement range, adjust the thickness direction of the specimen L that is less than 1/2 of the measurement range. Select dimensions 25mm, 50mm, and 100mm. For example, when adjusting the measurement range to 100 mm vertically, a thickness of 25 mm between the first and second surfaces 7a and 7b is used, and the ultrasonic wave is vertically incident from the first surface 7a with a vertical probe. The second bottom echo of the multiple reflection pattern on the cathode ray tube of the flaw detector is placed at the 25th scale in the center of the time axis scale, and the fourth bottom echo is placed at the 50th scale at the right end of the time axis scale. Adjust using the adjustment knob. (ii) When using an angle probe, there are cases where adjustment is made only with the angle angle probe, and cases where the angle angle probe is used after preliminary adjustment with a vertical probe.
In either case, R50mm of STB-A32,
Use the specified method using a height of 45.5 mm. The measurement range in this case is limited to STB-A1, but in many cases STB-
A3 is sufficient. -2 Adjustment of flaw detection sensitivity First, in the test room, as shown in Figure 8a, a standard hole 3'' is flaw detected using an RB-4 No. 13 with an angle probe 9 (refraction angle 70° in the figure). Then, on the cathode ray tube, we created an echo height division line based on the distance-amplitude characteristic curve, ie, H line, as shown in Figure b, and furthermore, the echo height of standard hole 3'' was
Adjust the gain to match the line (80%) and use this as the flaw detection sensitivity. Record the reading Ho (d B ) on the scale of the gain knob at this time. Next, without changing the reading Ho on the scale of the gain knob, set the 9th
As shown in Figure a, the first horizontal hole 8a of the test piece L is flaw-detected from the third surface 7c using the above-mentioned bevel probe 9 using the direct method. Adjust the gain knob so that the echo height at this time matches the H line (80%), and read the scale of this gain knob as H (d B ).
Record. Furthermore, the difference in the scale reading of the gain knob for the H line between the echo height of the standard hole 3'' of RB-4 No. 13 and the echo height of the first horizontal hole 8a of the test piece 7 △H (d B ) = H - Ho Then, in the field work, using the test piece 7, the gain is adjusted so that the echo height of the first horizontal hole 8a matches the H line, and then the scale of the gain knob is adjusted to △H. (d B ) and this is taken as the flaw detection sensitivity.In other words, by changing the scale of the gain knob by △H (d B ),
This is equivalent to adjusting the flaw detection sensitivity using RB-4 No.13. For example, as shown in the table, RB-4 No.13
If the gain knob reading Ho is -40.5d B and the gain knob reading H by the first horizontal hole 8a of the test piece 7 is -39.0d B , the difference △H is +1.5d B
This means that the flaw detection sensitivity can be adjusted by increasing the scale of the gain knob by 1.5dB during field work.

【表】 また、探傷感度のチエツクは、試験片Lの
第1横穴8aによるエコー高さがH線に対し
て△H、すなわち1.5dB高く得られているか
どうかを確認することにより行なう。 なお、探傷感度の調整およびチエツクは、
通常、試験開始前とその後1時間毎および試
験終了後に行なう。 また、前述のものは試験体の厚さが25mm以
下の場合であるが、試験体の厚さが25mm〜50
mm、50mm〜100mmの場合も前述と同様に、
RB−4No.24と試験片Lの第2横穴8bと
のゲインつまみの目盛の差△H、RB−4No.
3と試験片Lの第3横穴8cとのゲインつま
みの目盛の差△Hをそれぞれ求めることによ
り行なえ、前表にこの場合のHo、H、△H
も併記した。 特殊探触子による場合 この場合、前述した横穴試験片6に代えて第
10図に示すような横穴対比試験片10を用い
ることが非破壊検査協会で認められている。こ
こで、Rは集束範囲、Tは板厚である。 したがつて、非廃壊検査協会の指針に基づ
き、第11図に示すような現場用の横穴試験片
11を作成する。すなわち、厚み30mm、高さ40
mm、長さ150mmの試験片本体11′に、上面の探
傷面からの探さが8mm、16mm、32mmで右側面か
らの寸法が40mm、70mm、100mmの位置にそれぞ
れφ3mm×30mmの横穴11″を形成する。 −1 時間軸の測定範囲の調整 (i) 垂直探触子を用いた場合、−1.の(i)の
場合と同様に、試験片Lの厚さ方向の寸法
25mm、100mmを選定して行なう。 (ii) 斜角探触子を用いる場合 まず、斜角探触子により横穴を探傷した
場合のビーム路程の求め方について説明す
る。 すなわち、第12図に示すように、横穴
試験片11の探傷面のAの位置に斜角探触
子12を置いて横穴1101″を探傷し、斜
角探触子12を走査させてエコー高さが最
大となつたときに探触子12を固定し、こ
のときの試験片11の右端面から探触子1
2までの寸法Y1を測定する。つぎに、探
触子12をBの位置に置いて横穴11
02″を探傷し、エコー高さが最大になつた
ときの寸法Y2を測定する。なお、この寸
法Y1,Y2の測定は探傷面上に鋼製スケー
ル等を固定して行なう。 ここで、斜角探触子12の入射点P〓は、
第12図の横穴1101″,1102″の位置と
探触子12の位置との相似関係を用いて(1)
式により求めることができる。なお、
D01,D02は探傷面から各横穴1101″,1
02″の中心までの深さ、Y01,Y02は試験
片6の右端面から各横穴1101″,11
02″の中心までの寸法である。 P〓=D01(Y2−Y02)−D02(Y1−Y01)/D02−D01 …(1) つぎに、探触子12の屈折角は、位置A
における屈折角θ01と位置Bにおける屈折
角θ02との平均屈折角θで求めることがで
きるため、(2)式および(3)式によりそれぞれ
屈折角θ01,θ02を求め、(4)式により屈折角
θを求める。 θ01=tan-1(Y1+P〓)−Y01/D01 …(2) θ02=tan-1(Y2+P〓)−Y02/D02 …(3) θ=θ01+θ02/2 …(4) したがつて、この屈折角θを用いること
により、斜角探触子12から横穴1101″,
1102″までのビーム路程W0J1,W02が(5)
式および(6)式により求まる。 W01=D01/COSθ−1.5 …(5) W02=D02/COSθ−1.5 …(6) そして、まず、垂直探触子による時間軸の予備
調整を、試験片Lを用い、測定範囲に応じて厚さ
方向の寸法91mm、45.5mmを選定して行なう。 たとえば、横波125mmの調整を行なう場合、縦
波(音速5900m/s)の91mmの伝搬時間が横波(音
波3230m/s)の50mmの伝搬時間に相当することか
ら、試験片Lの第3、4面7c,7d間の寸法91
mmを用い、第13図aに示すように、垂直探触子
13を第3面7cから垂直探傷する。 そして、このときの多重反射図形をブラウン管
上に現出させ、同図bに示すように、1番目の底
面エコーを時間軸目盛の20目盛に、2番目の底面
エコーを40目盛にそれぞれパルス位置つまみおよ
び音速調整つまみを用いて調整する。このとき、
1番目の底面エコーが横波50mmのビーム路程に対
応するから、最大の50目盛が125mmとなり、予備
調整が完了する。 つぎに、前記横穴試験片11および斜角探触子
12を用いて時間軸の零点調整を行なう。 すなわち、第14図aに示すように、斜角探触
子12により試験片11の横穴1101″を探傷し、
エコー高さが最大となつたときに探触子12を固
定し、このエコーの立ち上がりが(5)式で求めたビ
ーム路程W01に一致するよう時間軸の零点調整を
行なう。 つぎに、探触子12により横穴1102″を探傷
し、エコー高さが最大となつたときのブラウン管
上のビーム路程W02uを測定し、(6)式で求めたビ
ーム路程W02と比較する。このときのビーム路程
の差△W0=W02u−W02が±0.5mm以内であれば、
前述の零点調整が正しく行なわれたと考え、±0.5
mmを超えたときは再度零点調整を行なう。 −2 探傷感度の調整 この場合は、基本的には−2.の場合と同
様の方法により行なう。 すなわち、まず、試験室で第6図に示した
横穴試験片6を用い、各横穴6″を探傷して
H線を作成し、深さD=8mmの横穴6″を探
傷したときのエコー高さがH線に合うように
ゲイン調整し、このときのゲインつまみの目
盛の読みH0(dB)を記録し、これを探傷感度
とする。つぎに、現場用の横穴試験片11の
D=8mmの横穴11″を探傷し、エコー高さ
がH線に合うようにゲイン調整してゲインつ
まみの目盛の読みH(dB)を記録する。そし
て、現場において、横穴試験片11のD=8
mmの横穴11″を探傷したときのエコー高さ
をH線に合わせてゲイン調整し、さらに、目
盛の読みの差△H(dB)=H−H0だけゲイン
つまみの目盛を変化させ、これにより探傷感
度を調整する。 また、同様にして、横穴試験片6のD=16
mm、32mmの横穴6″と横穴試験片11のD=
16mm、32mmの横穴11″とのそれぞれれの探
傷感度の差を用いて試験体の板厚に応じて探
傷感度の調整を行なう。 さらに、探傷感度のチエツクは、横穴試験
片11の横穴11″によるエコー高さがH線
に対して△H(dB)だけ変化して得られてい
るかどうかを確認することにより行なう。 したがつて、前記実施例によると、試験片
Lの試験片本体7に、STB−A11の重要寸
法である幅25mm、高さ100mm、段付部高さ91
mmにそれぞれ等しい厚み寸法が形成されると
ともに、RB−4No.1,No.2,No.33,4,
5のそれぞれの標準穴3″,4″,5″の径、
位置に等しい横穴8a,8b,8cが形成さ
れるため、標準探触子による探傷器の時間軸
および探傷感度の調整を、試験片LとSTB
−A32とを携帯することにより行なえるも
のであり、試験片Lの重量1.3Kgを、STB−
A11,STB−A32およびRB−4No.1〜3
3〜5を用いた従来に対し約1/20の重量とす
ることができ、現場への携帯が極めて容易と
なり、作業性の大幅な向上が図れるものであ
る。 さらに、試験片Lの試験片本体7には、前
述の寸法のみならず、STB−A32の重要寸
法である高さ45.5mmに等しい厚み寸法も形成
されているため、特殊探触子による探傷器の
時間軸および探傷感度の調整を、当該試験片
Lと横穴試験片11とを携帯することにより
行なえるものであり、しかも、この横穴試験
片11は現場用に新たに開発され、小形化さ
れているため、現場作業がより容易となるも
のである。
[Table] In addition, the flaw detection sensitivity is checked by checking whether the echo height due to the first horizontal hole 8a of the test piece L is higher than the H line by ΔH, that is, by 1.5 dB . In addition, to adjust and check the flaw detection sensitivity,
This is usually done before the start of the test, every hour thereafter, and after the end of the test. In addition, the above case is when the thickness of the test piece is 25 mm or less, but the thickness of the test piece is between 25 mm and 50 mm.
mm, 50mm to 100mm as above,
Difference △H in the scale of the gain knob between RB-4 No. 24 and the second horizontal hole 8b of the test piece L, RB-4 No.
This can be done by finding the difference △H in the scale of the gain knob between No. 3 and the third horizontal hole 8c of the test piece L, and the table above shows Ho, H, and △H in this case.
Also listed. When using a special probe In this case, the use of a side hole comparison test piece 10 as shown in FIG. 10 in place of the above-mentioned side hole test piece 6 is approved by the Nondestructive Testing Association. Here, R is the focusing range and T is the plate thickness. Therefore, based on the guidelines of the Non-destructive Inspection Association, a horizontal hole test piece 11 for on-site use as shown in FIG. 11 is prepared. i.e. thickness 30mm, height 40
mm, length 150mm test piece main body 11', horizontal holes 11'' of φ3mm x 30mm are made at the positions of 8mm, 16mm, and 32mm from the top flaw detection surface and the dimensions from the right side are 40mm, 70mm, and 100mm, respectively. -1 Adjustment of the measurement range on the time axis (i) When using a vertical probe, as in (i) of -1.
Select 25mm and 100mm. (ii) When using an angle probe First, we will explain how to find the beam path when a horizontal hole is detected using an angle probe. That is, as shown in FIG. 12, the bevel probe 12 is placed at position A on the flaw detection surface of the horizontal hole test piece 11 to detect flaws in the side hole 11 01 '', and the bevel probe 12 is scanned to detect echoes. Fix the probe 12 when the height reaches its maximum, and probe 1 from the right end surface of the test piece 11 at this time.
Measure dimension Y 1 up to 2. Next, place the probe 12 at position B and
02 '' and measure the dimension Y 2 when the echo height reaches its maximum. Note that measurements of these dimensions Y 1 and Y 2 are carried out by fixing a steel scale etc. on the detection surface. Here Then, the incident point P of the angle probe 12 is
Using the similar relationship between the positions of the horizontal holes 11 01 ″ and 11 02 ″ in Fig. 12 and the position of the probe 12, (1)
It can be determined by the formula. In addition,
D 01 , D 02 are each horizontal hole 11 01 ″, 1 from the flaw detection surface.
The depth to the center of 1 02 ″, Y 01 , Y 02 is the depth from the right end surface of test piece 6 to the center of each horizontal hole 11 01 ″, 11
This is the dimension to the center of the probe 12 . The angle of refraction is at position A
Since it can be determined by the average refraction angle θ of the refraction angle θ 01 at position B and the refraction angle θ 02 at position B, the refraction angles θ 01 and θ 02 are determined by equations (2) and (3), respectively, and (4) Find the refraction angle θ using the formula. θ 01 = tan -1 (Y 1 +P〓) - Y 01 /D 01 ...(2) θ 02 =tan -1 (Y 2 +P〓) - Y 02 /D 02 ...(3) θ = θ 01 + θ 02 /2...(4) Therefore, by using this refraction angle θ, from the angle probe 12 to the side hole 11 01 ″,
The beam path length W 0 J 1 , W 02 up to 11 02 ″ is (5)
It is determined by the formula and formula (6). W 01 = D 01 /COSθ−1.5 …(5) W 02 =D 02 /COSθ−1.5 …(6) First, preliminary adjustment of the time axis with the vertical probe is performed using the test piece L, and the measurement range is The thickness direction dimensions of 91 mm and 45.5 mm are selected according to the requirements. For example, when adjusting a transverse wave of 125 mm, the 91 mm propagation time of the longitudinal wave (sound velocity 5900 m/s) corresponds to the 50 mm propagation time of the transverse wave (sound wave 3230 m/s), so Dimension between surfaces 7c and 7d 91
As shown in FIG. 13a, vertical flaw detection is performed using the vertical probe 13 from the third surface 7c. Then, the multiple reflection pattern at this time is displayed on the cathode ray tube, and the pulse position of the first bottom echo is placed on the 20th scale of the time axis scale, and the pulse position of the second bottom echo is placed on the 40th scale, as shown in Figure b. Adjust using the knob and sound velocity adjustment knob. At this time,
Since the first bottom echo corresponds to the beam path length of the transverse wave of 50 mm, the maximum 50 scale is 125 mm, completing the preliminary adjustment. Next, the horizontal hole test piece 11 and the oblique probe 12 are used to adjust the zero point of the time axis. That is, as shown in FIG. 14a, the horizontal hole 11 01 ″ of the test piece 11 was detected using the angle probe 12, and
When the echo height reaches the maximum, the probe 12 is fixed, and the zero point of the time axis is adjusted so that the rise of this echo matches the beam path length W 01 determined by equation (5). Next, the horizontal hole 11 02 ″ is detected with the probe 12, the beam path length W 02 u on the cathode ray tube when the echo height reaches the maximum is measured, and the beam path length W 02 obtained by equation (6) and Compare. If the difference in beam path length △W 0 = W 02 u−W 02 at this time is within ±0.5 mm,
Considering that the zero point adjustment mentioned above was done correctly, ±0.5
If it exceeds mm, perform zero point adjustment again. -2 Adjustment of flaw detection sensitivity In this case, basically use the same method as in case -2. That is, first, using the horizontal hole test piece 6 shown in Fig. 6 in the test room, each horizontal hole 6'' is flaw-detected to create an H line, and the echo height when the horizontal hole 6'' with a depth D = 8 mm is detected. Adjust the gain so that it matches the H line, and record the reading H 0 (d B ) on the scale of the gain knob at this time, and use this as the flaw detection sensitivity. Next, inspect the side hole 11'' of the field side hole test piece 11 with D = 8 mm, adjust the gain so that the echo height matches the H line, and record the reading H (d B ) on the scale of the gain knob. Then, in the field, D=8 of the side hole test piece 11.
Adjust the gain to match the echo height to the H line when detecting the horizontal hole 11" of mm, and further change the scale of the gain knob by the difference in scale reading △H (d B ) = H - H 0 , This adjusts the flaw detection sensitivity. Also, in the same way, D = 16 for the horizontal hole test piece 6.
mm, D = 32mm side hole 6″ and side hole test piece 11
The flaw detection sensitivity is adjusted according to the thickness of the specimen using the difference in flaw detection sensitivity between the 16 mm and 32 mm horizontal holes 11".Furthermore, the flaw detection sensitivity is checked using the horizontal holes 11" of the horizontal hole test piece 11. This is done by checking whether the echo height obtained by changing by ΔH (d B ) with respect to the H line is obtained. Therefore, according to the above embodiment, the test piece main body 7 of the test piece L has a width of 25 mm, a height of 100 mm, and a stepped part height of 91 mm, which are important dimensions of STB-A11.
A thickness dimension equal to mm is formed, and RB-4 No. 1, No. 2, No. 33, 4,
The diameter of each standard hole 3″, 4″, 5″ in 5.
Since horizontal holes 8a, 8b, and 8c are formed at the same positions, the time axis and flaw detection sensitivity of the flaw detector using the standard probe can be adjusted between the test piece L and STB.
This can be done by carrying the STB-A32 with the test piece L weighing 1.3 kg.
A11, STB-A32 and RB-4 No.1-3
The weight can be reduced to about 1/20 compared to the conventional method using 3 to 5, making it extremely easy to carry to the site and greatly improving work efficiency. Furthermore, the test piece main body 7 of the test piece L has not only the above-mentioned dimensions but also a thickness dimension equal to the height of 45.5 mm, which is an important dimension of STB-A32. The time axis and flaw detection sensitivity can be adjusted by carrying the test piece L and the horizontal hole test piece 11. Furthermore, this side hole test piece 11 has been newly developed for on-site use and has been miniaturized. This makes on-site work easier.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図、第2図、第3図、第4図、第5図およ
び第6図はそれぞれSTB−A1,STB−A3,RB
−4No.1,RB−4No.2,RB−No.3および横穴
試験片をそれぞれ示し、それぞれのaは平面図、
それぞれのbは正面図、第7図以下の図面はこの
発明の超音波探傷器の調整用試験片の1実施例を
示し、第7図aおよびbは平面図および正面図、
第8図および第9図は探傷感度調整時を示し、第
8図aおよびbはRB−4No.1による探傷状況の
正面図およびそのブラウン管におけるビーム路程
とエコー高さとの特性図、第9図aおよびbは試
験片による探傷状況の正面図およびそのブラウン
管におけるビーム路程とエコー高さとの特性図、
第10図aおよびbは非破壊検査協会の指針によ
る横穴試験片の平面図および正面図、第11図a
およびbは現場用横穴試験片の平面図および正面
図、第12図はビーム路程算出時の説明用正面
図、第13図aおよびbは時間軸予備調整時の試
験片の探傷状況の正面図およびそのブラウン管に
おけるビーム路程とエコー高さとの特性図、第1
4図aおよびbは時間軸の零点調整時の横穴試験
片の探傷状況の正面図およびそのブラウン管にお
けるビーム路程とエコー高さとの特性図である。 1…STB−A1、3…RB−4No.1、4…RB−
4No.2、5…RB−4No.3、L…調整用試験片、
7…試験片本体、7a,7b,7c,7d,7
e,7f…第1、第2、第3、第4、第5、第6
面、8a,8b,8c…第1、第2、第3横穴。
Figures 1, 2, 3, 4, 5, and 6 are STB-A1, STB-A3, and RB, respectively.
-4No.1, RB-4No.2, RB-No.3 and the horizontal hole test piece are shown respectively, and each a is a plan view,
Each b is a front view, the drawings from FIG.
Figures 8 and 9 show the flaw detection sensitivity adjustment, Figure 8 a and b are a front view of the flaw detection situation with RB-4 No. 1, and a characteristic diagram of the beam path and echo height in the cathode ray tube. a and b are a front view of the flaw detection situation using the test piece and a characteristic diagram of the beam path and echo height in the cathode ray tube;
Figures 10a and b are a plan view and a front view of a horizontal hole test piece according to the guidelines of the Nondestructive Testing Association, Figure 11a
and b are a plan view and a front view of the horizontal hole test piece for field use, Fig. 12 is an explanatory front view at the time of beam path calculation, and Fig. 13 a and b are front views of the flaw detection status of the test piece during time axis preliminary adjustment. and characteristic diagram of beam path and echo height in a cathode ray tube, 1st
Figures 4a and 4b are a front view of the flaw detection status of the horizontal hole test piece during zero point adjustment on the time axis, and a characteristic diagram of the beam path length and echo height in the cathode ray tube. 1...STB-A1, 3...RB-4No.1, 4...RB-
4No.2, 5...RB-4No.3, L...Adjustment test piece,
7...Test piece body, 7a, 7b, 7c, 7d, 7
e, 7f...first, second, third, fourth, fifth, sixth
Surface, 8a, 8b, 8c...first, second, and third horizontal holes.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 溶接構造用圧延鋼材により構成されたL形の
試験片本体に、 該試験片本体の厚み方向に超音波探傷用標準試
験片STB−A1における垂直探触子のための時間
軸調整用幅に等しい厚みを隔てた平行な第1、第
2面と、 該第1、第2面に直交し前記標準試験片STB
−A1における斜角探触子のための時間軸調整用
段付部高さに等しい厚みを隔てた平行な第3、第
4面と、 前記第1〜第4面にそれぞれ直交し前記標準試
験片STB−A1における垂直探触子のための時間
軸調整用高さに等しい厚みを隔てた平行な第5、
第6面と、 前記第3面または第5面に平行で該第3面また
は第5面から超音波探傷用標準試験片STB−A3
における斜角探触子のための時間軸調整用高さに
等しい厚みを隔てた第7面と、 前記第1面から第2面に直交して貫通しそれぞ
れの径および前記第3面もしくは第5面からの位
置が対比試験片RB−4No.1,RB−4No.2,RB
−4No.3のそれぞれの探傷感度調整用標準穴の径
および探傷面からの位置に等しい第1、第2、第
3横穴と、 を形成したことを特徴とする超音波探傷器の調整
用試験片。
[Scope of Claims] 1. An L-shaped test piece body made of rolled steel for welded structures is provided with a vertical probe in the standard test piece STB-A1 for ultrasonic flaw detection in the thickness direction of the test piece body. Parallel first and second surfaces separated by a thickness equal to the time axis adjustment width, and the standard test piece STB perpendicular to the first and second surfaces.
- Parallel third and fourth surfaces separated by a thickness equal to the height of the stepped part for time axis adjustment for the angle probe in A1, and perpendicular to the first to fourth surfaces, respectively, and the standard test. A parallel fifth, separated by a thickness equal to the height for time axis adjustment for the vertical transducer in one STB-A1;
a sixth surface, and a standard test piece for ultrasonic flaw detection STB-A3 parallel to the third or fifth surface and from the third or fifth surface;
a seventh surface spaced apart by a thickness equal to the height for time axis adjustment for the angle probe; The position from the 5th side is the comparative test piece RB-4 No.1, RB-4 No.2, RB
-4 First, second, and third horizontal holes having the same diameter and position from the detection surface as the respective standard holes for flaw detection sensitivity adjustment of No. 3, and an adjustment test for an ultrasonic flaw detector characterized by forming: Piece.
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