JPH0239751B2 - - Google Patents
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- JPH0239751B2 JPH0239751B2 JP57059069A JP5906982A JPH0239751B2 JP H0239751 B2 JPH0239751 B2 JP H0239751B2 JP 57059069 A JP57059069 A JP 57059069A JP 5906982 A JP5906982 A JP 5906982A JP H0239751 B2 JPH0239751 B2 JP H0239751B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensor
- disconnection
- temperature
- heater
- turned
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 21
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/54—Testing for continuity
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Fixing For Electrophotography (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は温度センサ断線検出装置に関し、特
に、複写機用定着器等の温度センサの断線検出時
間の無駄をなくして適格に検出できるようにした
温度センサ断線検出装置に関する。
に、複写機用定着器等の温度センサの断線検出時
間の無駄をなくして適格に検出できるようにした
温度センサ断線検出装置に関する。
温度センサ断線検出装置(ヒータ加熱温度制御
機能を有する)として、例えば、第1図に示すも
のがあり、複写機定着部Fの定着ロール34のヒ
ータ32の温度に応じて抵抗値が減少する負性抵
抗特性を有したサーミスタ等のセンサ1と、該セ
ンサ1と直列に挿入された比較抵抗R1と、セン
サ1のリード線等から混入するノイズを吸収する
コンデンサCと、ベースに制御用パルスを入力し
てオン、オフ制御されるトランジスタ2,4と、
ヒータ温度を設定する可変抵抗3と、可変抵抗3
に直列に配置された基準抵抗R2とを有し、信号
出力点D1,D2を共通接続するとともに比較抵抗
R1を数キロオーム、基準抵抗R2を数百オームに
してR1≫R2を満足するように設定している。基
準抵抗R2とアース間にトランジスタ5が挿入さ
れ、共通信号出力点D1,D2の出力がマイコン2
0(A/Dコンバータ、入出力インタフエース、
プログラム用ROM、データ記憶用RAM、処理
演算用CPUを有する)のアナログ入力ポートA1
に入力し、出ポートP1,P2,P3からベース抵抗
6,7,8を介して制御用パルスがトランジスタ
4,2,5のベースに加えられる。また、抵抗
9,10に基く分割電圧によつて設定されるアナ
ログ基準電圧がマイコン20の入力ポートA2に
入力するとともにマイコン20内の演算に基いて
発生するヒータ制御信号が出力ポートP4からヒ
ータ制御リレー30へ出力される。ヒータ制御リ
レー30がヒータ32への交流電源31に基く電
力供給を制御する。尚、A,B,C,D,Eは感
光体ドラム33の周囲に配置された帯電部、露光
部、現像部、転写部、および清掃部である。
機能を有する)として、例えば、第1図に示すも
のがあり、複写機定着部Fの定着ロール34のヒ
ータ32の温度に応じて抵抗値が減少する負性抵
抗特性を有したサーミスタ等のセンサ1と、該セ
ンサ1と直列に挿入された比較抵抗R1と、セン
サ1のリード線等から混入するノイズを吸収する
コンデンサCと、ベースに制御用パルスを入力し
てオン、オフ制御されるトランジスタ2,4と、
ヒータ温度を設定する可変抵抗3と、可変抵抗3
に直列に配置された基準抵抗R2とを有し、信号
出力点D1,D2を共通接続するとともに比較抵抗
R1を数キロオーム、基準抵抗R2を数百オームに
してR1≫R2を満足するように設定している。基
準抵抗R2とアース間にトランジスタ5が挿入さ
れ、共通信号出力点D1,D2の出力がマイコン2
0(A/Dコンバータ、入出力インタフエース、
プログラム用ROM、データ記憶用RAM、処理
演算用CPUを有する)のアナログ入力ポートA1
に入力し、出ポートP1,P2,P3からベース抵抗
6,7,8を介して制御用パルスがトランジスタ
4,2,5のベースに加えられる。また、抵抗
9,10に基く分割電圧によつて設定されるアナ
ログ基準電圧がマイコン20の入力ポートA2に
入力するとともにマイコン20内の演算に基いて
発生するヒータ制御信号が出力ポートP4からヒ
ータ制御リレー30へ出力される。ヒータ制御リ
レー30がヒータ32への交流電源31に基く電
力供給を制御する。尚、A,B,C,D,Eは感
光体ドラム33の周囲に配置された帯電部、露光
部、現像部、転写部、および清掃部である。
以上の構成において、ヒータ温度制御操作を説
明すると次の通りである。
明すると次の通りである。
(1) センサ1によつてヒータ温度(ヒータ32)
を検出するモード マイコン20内のプログラム処理によつてポー
トP2,P3からオン信号が、ポートP1からオフ信
号が出力され、トランジスタ2,5がオンし、ト
ランジスタ4がオフになる。この状態では、共通
接続点D1,D2の分割電圧V1は次の通りになる。
を検出するモード マイコン20内のプログラム処理によつてポー
トP2,P3からオン信号が、ポートP1からオフ信
号が出力され、トランジスタ2,5がオンし、ト
ランジスタ4がオフになる。この状態では、共通
接続点D1,D2の分割電圧V1は次の通りになる。
即ち、抵抗R1,R2の合成抵抗
R=R1R2/R1+R2=R2/1+R2/R1となるが、R1≫R2
よりR=R2となる。それ故、分割電圧V1はV1=
R2/R2+RDVCCとなる。(RDはセンサ1の抵抗)。
R2/R2+RDVCCとなる。(RDはセンサ1の抵抗)。
(2) 可変抵抗3によつて設定した設定温度を検出
するモード マイコン20内のプログラム処理によつて、ポ
ートP1,P3からオン信号が、ポートP2からオフ
信号が出力され、トランジスタ4,5がオンし、
トランジスタ2がオフになる。この状態では、共
通接続点D1,D2の分割電圧V2は次の通りになる。
するモード マイコン20内のプログラム処理によつて、ポ
ートP1,P3からオン信号が、ポートP2からオフ
信号が出力され、トランジスタ4,5がオンし、
トランジスタ2がオフになる。この状態では、共
通接続点D1,D2の分割電圧V2は次の通りになる。
即ち、前記(1)より合成抵抗R=R2となるため、
分割電圧V2はV2=R2/R2+RSVCC(RSは可変抵抗3 の設定抵抗値)となる。
分割電圧V2はV2=R2/R2+RSVCC(RSは可変抵抗3 の設定抵抗値)となる。
以上の各モード(1),(2)が第2図のフローチヤー
トのように設定され、前記分割電圧V1,V2がア
ナログ入力ポートA1に入力してA/D変換され、
デジタル値VD1,VD2とされる。該デジタル値
VD1,VD2が所定のプログラムに基いてVD1>VD2
の比較演算を行われる。
トのように設定され、前記分割電圧V1,V2がア
ナログ入力ポートA1に入力してA/D変換され、
デジタル値VD1,VD2とされる。該デジタル値
VD1,VD2が所定のプログラムに基いてVD1>VD2
の比較演算を行われる。
(a) VD1>VD2がyesの場合
制御リレー30がオフになつてヒータ32をオ
フにする。
フにする。
(b) VD1>VD2がnoの場合
制御リレー30がオンしてヒータ32をオンす
る。
る。
以上の操作に基いてVD1をVD2に接近させ、ヒ
ータ温度が設定温度になるように制御する(換言
すれば、センサ1の抵抗値RDが設定抵抗値RSに
なるようにヒータ32を制御することになる)。
ータ温度が設定温度になるように制御する(換言
すれば、センサ1の抵抗値RDが設定抵抗値RSに
なるようにヒータ32を制御することになる)。
また、センサ1の断線は、トランジスタ4,5
をオフにし、トランジスタ2だけをオンにして比
較抵抗R1とセンサ1の抵抗RDの分割電圧V=
R1/R1+RDVCCを読み込み、V=0になつたとき断 線検出することができる。この検出操作において
は、低温時にセンサ1の抵抗RDがメグオーム単
位の高抵抗になつても比較抵抗R1が数キロオー
ムの比較的高い抵抗値に設定されているため誤検
出する恐れはない。
をオフにし、トランジスタ2だけをオンにして比
較抵抗R1とセンサ1の抵抗RDの分割電圧V=
R1/R1+RDVCCを読み込み、V=0になつたとき断 線検出することができる。この検出操作において
は、低温時にセンサ1の抵抗RDがメグオーム単
位の高抵抗になつても比較抵抗R1が数キロオー
ムの比較的高い抵抗値に設定されているため誤検
出する恐れはない。
しかし、上記したセンサ断線検出装置にあつて
は、断線検出操作時、センサ1が低温のために高
抵抗になると、前記分割電圧Vが V=R1/R1+RD VCC〔1−exp{−1/C(1/R1+1/RD)t}〕 の過渡値を取る。尚、上記式の導出は以下の通り
である。
は、断線検出操作時、センサ1が低温のために高
抵抗になると、前記分割電圧Vが V=R1/R1+RD VCC〔1−exp{−1/C(1/R1+1/RD)t}〕 の過渡値を取る。尚、上記式の導出は以下の通り
である。
断線検出時の等価回路は、第4図に示すように
なる。
なる。
この回路において、回路方程式は、
VCC=RD i1+R1 i2
0=−R1 i2+1/C∫i3dt
i1=i2+i3
上記3式よりi1,i2を消去すると、
RDi3+RD+R1/CR1∫i3dt=VCC
コンデンサの電荷をqとすれば、i3=dq/dt
であるから、上式は、
RDdq/dt+RD+R1/CR1q=VCC …(1)
初期条件をt=0,q=0とすれば、式(1)の一
般解は、 q=CR1/RD+R1VCC(1−exp−t/T) 但し、T=CRDR2/RD+R1 ここで、q=CVであるから、 V=q/C=R1/RD+R1VCC(1−exp−t/T) =R1/RD+R1VCC {1−exp〔−1/C(1/R1+1/RD)t〕} となる。従つて、最終値のV=R1/R1+RDVCCにな るまで長い時間を要するため(時定数R1RD/R1+RDC に比例する)、前述のヒータ温度制御のための温
度検出操作が遅れる恐れがある。
般解は、 q=CR1/RD+R1VCC(1−exp−t/T) 但し、T=CRDR2/RD+R1 ここで、q=CVであるから、 V=q/C=R1/RD+R1VCC(1−exp−t/T) =R1/RD+R1VCC {1−exp〔−1/C(1/R1+1/RD)t〕} となる。従つて、最終値のV=R1/R1+RDVCCにな るまで長い時間を要するため(時定数R1RD/R1+RDC に比例する)、前述のヒータ温度制御のための温
度検出操作が遅れる恐れがある。
本発明は、上記に鑑みてなさたものであり、セ
ンサ断線の検出時間の無駄をなくしてヒータ温度
制御のための温度検出操作の遅れを防ぐため、断
線検出信号のレベルに応じて断線の判断時間を増
減するようにしたセンサ断線検出装置を提供する
ものである。
ンサ断線の検出時間の無駄をなくしてヒータ温度
制御のための温度検出操作の遅れを防ぐため、断
線検出信号のレベルに応じて断線の判断時間を増
減するようにしたセンサ断線検出装置を提供する
ものである。
以下本発明によるセンサ断線検出装置を詳細に
説明する。
説明する。
第3図は本発明の一実施例を示し、チエツク回
数m=0において、第1回チエツク(m=1)が
行われ、第1図のトランジスタ4,5がオフにな
り、トランジスタ2がオンする。予め定めた時間
Tが経過したとき共通接続点D1,D2の電圧 V=R1/R1+RD VCC{1−exp〔−1/C(1/R1+1/RD)T〕} をマイコン20のアナログ入力ポートA1に入力
し、A/D変換してRAM(図示せず)に記憶す
る。A/D変換値が所定のレベルより大となると
きセンサ1が非断線と判断して断線チエツクを完
了する。一方、A/D変換値が所定のレベルより
小なるとき前記時間Tにn(n>1)を乗じた時
間nTが経過したときの前記電圧 V=R1/R1+RDVCC 〔1−exp{−1/C(1/R1+1/RD)tT}〕 を入力処理して断線チエツクする。斯る断線チエ
ツク回数mをl回(l>1)実施し(m=1から
m=lまで)、連続してl回断線として検出した
とき断線と判定して断線チエツクを完了する。
数m=0において、第1回チエツク(m=1)が
行われ、第1図のトランジスタ4,5がオフにな
り、トランジスタ2がオンする。予め定めた時間
Tが経過したとき共通接続点D1,D2の電圧 V=R1/R1+RD VCC{1−exp〔−1/C(1/R1+1/RD)T〕} をマイコン20のアナログ入力ポートA1に入力
し、A/D変換してRAM(図示せず)に記憶す
る。A/D変換値が所定のレベルより大となると
きセンサ1が非断線と判断して断線チエツクを完
了する。一方、A/D変換値が所定のレベルより
小なるとき前記時間Tにn(n>1)を乗じた時
間nTが経過したときの前記電圧 V=R1/R1+RDVCC 〔1−exp{−1/C(1/R1+1/RD)tT}〕 を入力処理して断線チエツクする。斯る断線チエ
ツク回数mをl回(l>1)実施し(m=1から
m=lまで)、連続してl回断線として検出した
とき断線と判定して断線チエツクを完了する。
尚、以上の実施例では、断線の判断時間を2段
階に分けたが、これに限定するものではない。
階に分けたが、これに限定するものではない。
以上説明した通り、本発明によりセンサ断線検
出装置によれば、断線検出信号のレベルに応じて
断線の判断時間を増減するようにしたため、セン
サ断線の検出時間の無駄をなくしてヒータ温度制
御のための温度検出操作の遅れを防ぐことができ
る。
出装置によれば、断線検出信号のレベルに応じて
断線の判断時間を増減するようにしたため、セン
サ断線の検出時間の無駄をなくしてヒータ温度制
御のための温度検出操作の遅れを防ぐことができ
る。
第1図は加熱温度御機能を有したセンサ断線検
出装置を示す説明図、第2図は加熱温度を制御す
るフローチヤート、第3図は本発明の一実施例を
示すフローチヤート、第4図は、第1図のセンサ
断線検出装置における断線検出時の等価回路を示
す回路図。 符号の説明、1……センサ、3……設定温度用
可変抵抗、20……マイコン、30……ヒータ制
御リレー、32……ヒータ、33……感光体、3
4……定着加熱ロール、R1……比較抵抗、R2…
…基準抵抗。
出装置を示す説明図、第2図は加熱温度を制御す
るフローチヤート、第3図は本発明の一実施例を
示すフローチヤート、第4図は、第1図のセンサ
断線検出装置における断線検出時の等価回路を示
す回路図。 符号の説明、1……センサ、3……設定温度用
可変抵抗、20……マイコン、30……ヒータ制
御リレー、32……ヒータ、33……感光体、3
4……定着加熱ロール、R1……比較抵抗、R2…
…基準抵抗。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 加熱部の温度に応じて変化する抵抗値を有す
るセンサ部と、 該センサ部と直列に設けられた比較抵抗とを備
え、該センサ部と該比較抵抗の接続点の電圧レベ
ルに基いてセンサ部の断線を検出する装置におい
て、 前記電圧レベルに応じて断線の判断時間を増減
する制御手段を備えたことを特徴とするセンサ断
線検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57059069A JPS58176559A (ja) | 1982-04-09 | 1982-04-09 | センサ断線検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57059069A JPS58176559A (ja) | 1982-04-09 | 1982-04-09 | センサ断線検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58176559A JPS58176559A (ja) | 1983-10-17 |
| JPH0239751B2 true JPH0239751B2 (ja) | 1990-09-06 |
Family
ID=13102690
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57059069A Granted JPS58176559A (ja) | 1982-04-09 | 1982-04-09 | センサ断線検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58176559A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61193175A (ja) * | 1985-02-21 | 1986-08-27 | Sharp Corp | ヒ−トロ−ラの温度制御監視装置 |
| JPH0774930B2 (ja) * | 1987-10-07 | 1995-08-09 | シャープ株式会社 | ヒートローラ異常検出方法 |
| JPH0191922U (ja) * | 1987-12-11 | 1989-06-16 |
-
1982
- 1982-04-09 JP JP57059069A patent/JPS58176559A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58176559A (ja) | 1983-10-17 |
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