JPH0243139B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0243139B2 JPH0243139B2 JP60275023A JP27502385A JPH0243139B2 JP H0243139 B2 JPH0243139 B2 JP H0243139B2 JP 60275023 A JP60275023 A JP 60275023A JP 27502385 A JP27502385 A JP 27502385A JP H0243139 B2 JPH0243139 B2 JP H0243139B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- defect signal
- defect
- peak value
- probes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 100
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 43
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 18
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はマルチプレクサ方式の超音波探傷器用
アナログ信号出力装置に関する。
アナログ信号出力装置に関する。
マルチプレクサ方式の超音波探傷器は、パルス
繰り返し周波数(以下、PRFという)に同期し
て、複数の探触子を順次切り換えるとともに、切
り換えられた探触子から所定周波数の超音波を送
信し、この超音波に対する被探傷物体の欠陥から
の反射波を、被探傷物体の欠陥情報を表す欠陥信
号として取り込み、被探傷物体の探傷を行うもの
である。この欠陥信号には超音波が被探傷物体の
本当の欠陥で反射して得られた反射波に対応する
ものの他に、雑音が混入している。このため、超
音波が被探傷物体の本当の欠陥で反射して得られ
た反射波に対応する欠陥信号、即ち真の欠陥信号
のみを得なければならない。
繰り返し周波数(以下、PRFという)に同期し
て、複数の探触子を順次切り換えるとともに、切
り換えられた探触子から所定周波数の超音波を送
信し、この超音波に対する被探傷物体の欠陥から
の反射波を、被探傷物体の欠陥情報を表す欠陥信
号として取り込み、被探傷物体の探傷を行うもの
である。この欠陥信号には超音波が被探傷物体の
本当の欠陥で反射して得られた反射波に対応する
ものの他に、雑音が混入している。このため、超
音波が被探傷物体の本当の欠陥で反射して得られ
た反射波に対応する欠陥信号、即ち真の欠陥信号
のみを得なければならない。
第2図は係る真の欠陥信号をアナログ信号とし
て出力する従来の超音波探傷器用アナログ信号出
力装置の構成図である。第2図において、20は
欠陥信号が予設定レベル以上になつた回数を計数
し、その計数値が予設定値になつたときは、その
欠陥信号を真の欠陥信号であると判断する欠陥信
号検出回路、21はPRFに同期して取り込んだ
欠陥信号のピーク値を検出し、保持するピーク値
ホールド回路、22はピーク値のうち最も高レベ
ルである最ピーク値を記憶しておき、欠陥信号検
出回路20が真の欠陥信号と判断したときに、記
憶している最大ピーク値をアナログ出力する記憶
回路である。
て出力する従来の超音波探傷器用アナログ信号出
力装置の構成図である。第2図において、20は
欠陥信号が予設定レベル以上になつた回数を計数
し、その計数値が予設定値になつたときは、その
欠陥信号を真の欠陥信号であると判断する欠陥信
号検出回路、21はPRFに同期して取り込んだ
欠陥信号のピーク値を検出し、保持するピーク値
ホールド回路、22はピーク値のうち最も高レベ
ルである最ピーク値を記憶しておき、欠陥信号検
出回路20が真の欠陥信号と判断したときに、記
憶している最大ピーク値をアナログ出力する記憶
回路である。
ところで、従来の超音波探傷器用アナログ信号
出力装置を利用して、マルチプレクサ方式の超音
波探傷器用アナログ信号出力装置を構成した場
合、上述した欠陥信号判断回路20、ピーク値ホ
ールド回路21及び記憶回路22が探触子の数に
応じた数だけ必要となり、装置の大型化及び高コ
スト化を招くという問題があつた。
出力装置を利用して、マルチプレクサ方式の超音
波探傷器用アナログ信号出力装置を構成した場
合、上述した欠陥信号判断回路20、ピーク値ホ
ールド回路21及び記憶回路22が探触子の数に
応じた数だけ必要となり、装置の大型化及び高コ
スト化を招くという問題があつた。
本発明は上記問題点を解決するためになされた
もので、小型化及び低コスト化を図り得るマルチ
プレクサ方式の超音波探傷器用アナログ信号出力
回路を提供することを目的とする。
もので、小型化及び低コスト化を図り得るマルチ
プレクサ方式の超音波探傷器用アナログ信号出力
回路を提供することを目的とする。
そこで本発明では、複数の探触子のそれぞれに
ついて、欠陥信号が連続して予設定レベル以上に
なつた回数を計数し、計数値が予設定値になつた
ときは、欠陥信号が真の欠陥信号であるとするカ
ウントアツプ信号を出力する欠陥信号検出手段
と、複数の探触子のそれぞれについて、欠陥信号
検出手段の計数値を記憶しており、パルス繰り返
し周波数に同期して探触子が切換えられる度毎
に、記憶している、切り換えられる直前に欠陥信
号を出力していた探触子に対応する計数値を、欠
陥信号検出手段の計数値に書き換えるとともに、
記憶している、切り換えられた探触子に対応する
計数値を欠陥信号検出手段の計数値としてセツト
する第1の記憶手段と、パルス繰り返し周波数に
同期して欠陥信号が入力される度毎に、欠陥信号
のピーク値を検出し、保持するピーク値ホールド
回路と、ピーク値の保持された欠陥信号をデジタ
ル信号に変換するアナログ・デジタルコンバータ
と、複数の探触子のそれぞれについて、ピーク値
が保持され、デジタル信号に変換された欠陥信号
のうちピーク値が最大であるものを記憶する第2
の記憶手段と、複数の探触子に対してそれぞれ設
けられ、第2の記憶手段が記憶している欠陥信号
を、それぞれアナログ信号に変換して出力するデ
ジタル・アナログコンバータとからマルチプレク
サ方式の超音波探傷器用アナログ信号出力装置を
構成する。
ついて、欠陥信号が連続して予設定レベル以上に
なつた回数を計数し、計数値が予設定値になつた
ときは、欠陥信号が真の欠陥信号であるとするカ
ウントアツプ信号を出力する欠陥信号検出手段
と、複数の探触子のそれぞれについて、欠陥信号
検出手段の計数値を記憶しており、パルス繰り返
し周波数に同期して探触子が切換えられる度毎
に、記憶している、切り換えられる直前に欠陥信
号を出力していた探触子に対応する計数値を、欠
陥信号検出手段の計数値に書き換えるとともに、
記憶している、切り換えられた探触子に対応する
計数値を欠陥信号検出手段の計数値としてセツト
する第1の記憶手段と、パルス繰り返し周波数に
同期して欠陥信号が入力される度毎に、欠陥信号
のピーク値を検出し、保持するピーク値ホールド
回路と、ピーク値の保持された欠陥信号をデジタ
ル信号に変換するアナログ・デジタルコンバータ
と、複数の探触子のそれぞれについて、ピーク値
が保持され、デジタル信号に変換された欠陥信号
のうちピーク値が最大であるものを記憶する第2
の記憶手段と、複数の探触子に対してそれぞれ設
けられ、第2の記憶手段が記憶している欠陥信号
を、それぞれアナログ信号に変換して出力するデ
ジタル・アナログコンバータとからマルチプレク
サ方式の超音波探傷器用アナログ信号出力装置を
構成する。
上記構成のマルチプレクサ方式の超音波探傷器
用アナログ信号出力装置は、第1の記憶手段が複
数の探触子のそれぞれについて、欠陥信号が真の
欠陥信号であるか否かを検出する欠陥信号検出手
段の検出結果を記憶し、又第2の記憶手段が複数
の探触子のそれぞれについて、欠陥信号のピーク
値が最大であるものを記憶しておき、パルス繰り
返し周波数に同期して探触子が切り換えられる度
毎に、第1の記憶手段の記憶内容を欠陥信号検出
手段の計数値と入れ替え、検出した欠陥信号のピ
ーク値が第2の記憶手段の記憶している欠陥信号
のピーク値よりの大きければ、第2の記憶手段の
記憶している欠陥信号のピーク値を更新し、さら
に複数の探触子に対してそれぞれ設けられたデジ
タル・アナログコンバータが第2の記憶手段が記
憶している欠陥信号を、それぞれアナログ信号に
変換して出力する。
用アナログ信号出力装置は、第1の記憶手段が複
数の探触子のそれぞれについて、欠陥信号が真の
欠陥信号であるか否かを検出する欠陥信号検出手
段の検出結果を記憶し、又第2の記憶手段が複数
の探触子のそれぞれについて、欠陥信号のピーク
値が最大であるものを記憶しておき、パルス繰り
返し周波数に同期して探触子が切り換えられる度
毎に、第1の記憶手段の記憶内容を欠陥信号検出
手段の計数値と入れ替え、検出した欠陥信号のピ
ーク値が第2の記憶手段の記憶している欠陥信号
のピーク値よりの大きければ、第2の記憶手段の
記憶している欠陥信号のピーク値を更新し、さら
に複数の探触子に対してそれぞれ設けられたデジ
タル・アナログコンバータが第2の記憶手段が記
憶している欠陥信号を、それぞれアナログ信号に
変換して出力する。
以下、本発明の一実施例を添付図面を参照して
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第1図は本発明に係るマルチプレクサ方式の超
音波探傷器用アナログ信号出力装置のブロツク構
成図である。第1図において、1は探触子(図示
せず)が出力する欠陥信号Fに対する基準レベル
が設定され、設定された基準レベルに対応する基
準信号Sを出力する基準信号発生回路、2は
PRF信号に同期して切り換えられた探触子から
出力される欠陥信号Fと基準信号Sとを比較し、
欠陥信号Fが基準信号Sより大きいときは、ハイ
レベル「1」をとる比較信号を出力する比較回
路、3はPRF信号に同期して出力され、欠陥信
号Fを取り込むべきタイミングを設定するための
ゲート信号Gにより開閉するゲート回路、4は欠
陥信号Fが基準信号S以上になつた回数を計数
し、その計数値が予め設定された設定値になつた
ときは、カウントアツプ信号「1」を出力するカ
ウンタ、5は複数の探触子のそれぞれについて、
カウンタ4の計数値を記憶する第1の記憶回路で
ある。
音波探傷器用アナログ信号出力装置のブロツク構
成図である。第1図において、1は探触子(図示
せず)が出力する欠陥信号Fに対する基準レベル
が設定され、設定された基準レベルに対応する基
準信号Sを出力する基準信号発生回路、2は
PRF信号に同期して切り換えられた探触子から
出力される欠陥信号Fと基準信号Sとを比較し、
欠陥信号Fが基準信号Sより大きいときは、ハイ
レベル「1」をとる比較信号を出力する比較回
路、3はPRF信号に同期して出力され、欠陥信
号Fを取り込むべきタイミングを設定するための
ゲート信号Gにより開閉するゲート回路、4は欠
陥信号Fが基準信号S以上になつた回数を計数
し、その計数値が予め設定された設定値になつた
ときは、カウントアツプ信号「1」を出力するカ
ウンタ、5は複数の探触子のそれぞれについて、
カウンタ4の計数値を記憶する第1の記憶回路で
ある。
基準信号発生回路1、比較回路2、ゲート回路
3及びカウンタ4は欠陥信号が連続して予設定レ
ベル以上になつた回数を計数し、その計数値が予
設定値になつたときは、欠陥信号が真の欠陥信号
であるとするカウントアツプ信号を出力する欠陥
信号検出手段を構成するものである。カウンタ4
が出力するカウントアツプ信号はカウントアツプ
信号出力後の欠陥信号Fが真の欠陥信号Fである
旨を示すものである。又、カウンタ4の計数値と
第1の記憶回路5が記憶している計数値とは、
PRF信号に同期して複数の探触子を順次切り換
えるチヤンネル選択信号CHが出力されると、入
れ替えられるようになつている。チヤンネル選択
信号CHによつて探触子が切換えられる度毎に、
第1の記憶回路5の記憶している切り換えられる
直前に欠陥信号Fを出力していた探触子に対応す
る計数値が、カウンタ4の計数値に書き換えられ
るとともに、第1の記憶回路5の記憶している切
り換えられた探触子に対応する計数値がカウンタ
4にセツトされるようになつている。
3及びカウンタ4は欠陥信号が連続して予設定レ
ベル以上になつた回数を計数し、その計数値が予
設定値になつたときは、欠陥信号が真の欠陥信号
であるとするカウントアツプ信号を出力する欠陥
信号検出手段を構成するものである。カウンタ4
が出力するカウントアツプ信号はカウントアツプ
信号出力後の欠陥信号Fが真の欠陥信号Fである
旨を示すものである。又、カウンタ4の計数値と
第1の記憶回路5が記憶している計数値とは、
PRF信号に同期して複数の探触子を順次切り換
えるチヤンネル選択信号CHが出力されると、入
れ替えられるようになつている。チヤンネル選択
信号CHによつて探触子が切換えられる度毎に、
第1の記憶回路5の記憶している切り換えられる
直前に欠陥信号Fを出力していた探触子に対応す
る計数値が、カウンタ4の計数値に書き換えられ
るとともに、第1の記憶回路5の記憶している切
り換えられた探触子に対応する計数値がカウンタ
4にセツトされるようになつている。
次に、6はPRF信号に同期して欠陥信号Fが
入力される度毎に、欠陥信号Fのピーク値を検出
し、保持するピーク値ホールド回路、7はピーク
値の保持された欠陥信号Fをデジタル信号に変換
するアナログ・デジタルコンバータ、8及び9は
デジタル信号に変換した欠陥信号Fを一時的に記
憶するバツフア、10はバツフア8が記憶してい
る欠陥信号Fとバツフア9が記憶している欠陥信
号Fとの大きさを比較する判定回路、11は複数
の探触子のそれぞれについて、ピーク値が保持さ
れ、デジタル信号に変換された欠陥信号Fのうち
ピーク値が最大であるものを、それぞれ記憶する
第2の記憶回路、12は後述する条件が満たされ
たときに、第2の記憶回路11に書き込み信号を
出力する条件判定回路、13はストレツチ回路、
14は複数の探触子に対してそれぞれ設けられ、
第2の記憶回路が記憶している最大ピーク値の保
持された欠陥信号Fを、それぞれアナログ信号に
変換して出力するデジタル・アナログコンバータ
である。
入力される度毎に、欠陥信号Fのピーク値を検出
し、保持するピーク値ホールド回路、7はピーク
値の保持された欠陥信号Fをデジタル信号に変換
するアナログ・デジタルコンバータ、8及び9は
デジタル信号に変換した欠陥信号Fを一時的に記
憶するバツフア、10はバツフア8が記憶してい
る欠陥信号Fとバツフア9が記憶している欠陥信
号Fとの大きさを比較する判定回路、11は複数
の探触子のそれぞれについて、ピーク値が保持さ
れ、デジタル信号に変換された欠陥信号Fのうち
ピーク値が最大であるものを、それぞれ記憶する
第2の記憶回路、12は後述する条件が満たされ
たときに、第2の記憶回路11に書き込み信号を
出力する条件判定回路、13はストレツチ回路、
14は複数の探触子に対してそれぞれ設けられ、
第2の記憶回路が記憶している最大ピーク値の保
持された欠陥信号Fを、それぞれアナログ信号に
変換して出力するデジタル・アナログコンバータ
である。
次に、ピーク値ホールド回路6、アナロ・デジ
タルコンバータ7、バツフア8,9、第2の記憶
回路11の一連の動作について説明する。チヤン
ネル選択信号CHによつて探触子が切換えられる
と、ピーク値ホールド回路6が切り換えられた探
触子の出力した欠陥信号Fのピーク値を保持し、
ピーク値を保持した欠陥信号Fをバツフア8に記
憶させるとともに、判定回路10に出力する。一
方、第2の記憶回路11が切り換えられた探触子
に対応するピーク値を保持した欠陥信号Fをバツ
フア9に記憶させる。次いで、判定回路10がピ
ーク値ホールド回路6からバツフア8が記憶して
いる欠陥信号Fとバツフア9が記憶している欠陥
信号Fとを比較して、バツフア8の記憶している
欠陥信号Fがバツフア9の記憶している欠陥信号
Fよりも大きいときは、ハイレベル「1」をとる
判定信号を出力する。条件判定回路12はカウン
タ4がカウントアツプ信号「1」、判定回路10
が判定信号「1」、比較回路2が比較信号「1」
を出力しているときに、第2の記憶回路11にラ
イト信号を出力して、バツフア8の記憶している
ピーク値が保持された欠陥信号Fを第2の記憶回
路11に記憶させる。なお、装置を起動した直後
は第2の記憶回路11は何も記憶していないの
で、判定信号「1」が出力され、ピーク値ホール
ド回路6が最初にピーク値を保持した欠陥信号F
が第2の記憶回路11に記憶されることになる。
タルコンバータ7、バツフア8,9、第2の記憶
回路11の一連の動作について説明する。チヤン
ネル選択信号CHによつて探触子が切換えられる
と、ピーク値ホールド回路6が切り換えられた探
触子の出力した欠陥信号Fのピーク値を保持し、
ピーク値を保持した欠陥信号Fをバツフア8に記
憶させるとともに、判定回路10に出力する。一
方、第2の記憶回路11が切り換えられた探触子
に対応するピーク値を保持した欠陥信号Fをバツ
フア9に記憶させる。次いで、判定回路10がピ
ーク値ホールド回路6からバツフア8が記憶して
いる欠陥信号Fとバツフア9が記憶している欠陥
信号Fとを比較して、バツフア8の記憶している
欠陥信号Fがバツフア9の記憶している欠陥信号
Fよりも大きいときは、ハイレベル「1」をとる
判定信号を出力する。条件判定回路12はカウン
タ4がカウントアツプ信号「1」、判定回路10
が判定信号「1」、比較回路2が比較信号「1」
を出力しているときに、第2の記憶回路11にラ
イト信号を出力して、バツフア8の記憶している
ピーク値が保持された欠陥信号Fを第2の記憶回
路11に記憶させる。なお、装置を起動した直後
は第2の記憶回路11は何も記憶していないの
で、判定信号「1」が出力され、ピーク値ホール
ド回路6が最初にピーク値を保持した欠陥信号F
が第2の記憶回路11に記憶されることになる。
条件判定回路12から欠陥信号を出力すべきこ
とを指示する出力信号が出力されるとともに、チ
ヤンネル選択信号CHが出力されると、記憶回路
11はチヤンネル選択信号CHに対応する記憶内
容を対応するデジタル・アナログコンバータ14
を介してアナログ信号に変換して出力する。
とを指示する出力信号が出力されるとともに、チ
ヤンネル選択信号CHが出力されると、記憶回路
11はチヤンネル選択信号CHに対応する記憶内
容を対応するデジタル・アナログコンバータ14
を介してアナログ信号に変換して出力する。
以上説明したように本発明によれば、複数の探
触子のそれぞれについて、欠陥信号が真の欠陥信
号であるか否かを検出する欠陥信号検出手段の検
出結果をそれぞれ記憶する第1の記憶手段及び複
数の探触子のそれぞれについて、欠陥信号のピー
ク値が最大であるものをそれぞれ記憶する第2の
記憶手段を設け、パルス繰り返し周波数に同期し
て探触子が切り換えられる度毎に、第1の記憶手
段の記憶内容を欠陥信号検出手段の計数値と入れ
替え、検出した欠陥信号のピーク値が第2の記憶
手段の記憶している欠陥信号のピーク値よりの大
きければ、第2の記憶手段の記憶している欠陥信
号のピーク値を更新し、複数の探触子に対してそ
れぞれ設けられたデジタル・アナログコンバータ
が第2の記憶手段が記憶している欠陥信号を、そ
れぞれアナログ信号に変換して出力するようにし
たので、探触子の数が増えても、各記憶手段の記
憶容量を増やすとともに、デジタル・アナログコ
ンバータを増設するだけでよいので、マルチプレ
クサ方式の超音波探触子用アナログ信号出力装置
が大型化せず、低コスト化を図ることができる。
触子のそれぞれについて、欠陥信号が真の欠陥信
号であるか否かを検出する欠陥信号検出手段の検
出結果をそれぞれ記憶する第1の記憶手段及び複
数の探触子のそれぞれについて、欠陥信号のピー
ク値が最大であるものをそれぞれ記憶する第2の
記憶手段を設け、パルス繰り返し周波数に同期し
て探触子が切り換えられる度毎に、第1の記憶手
段の記憶内容を欠陥信号検出手段の計数値と入れ
替え、検出した欠陥信号のピーク値が第2の記憶
手段の記憶している欠陥信号のピーク値よりの大
きければ、第2の記憶手段の記憶している欠陥信
号のピーク値を更新し、複数の探触子に対してそ
れぞれ設けられたデジタル・アナログコンバータ
が第2の記憶手段が記憶している欠陥信号を、そ
れぞれアナログ信号に変換して出力するようにし
たので、探触子の数が増えても、各記憶手段の記
憶容量を増やすとともに、デジタル・アナログコ
ンバータを増設するだけでよいので、マルチプレ
クサ方式の超音波探触子用アナログ信号出力装置
が大型化せず、低コスト化を図ることができる。
第1図は本発明に係るマルチプレクサ方式の超
音波探傷器用アナログ信号出力装置のブロツク構
成図、第2図は従来の超音波探傷器用アナログ信
号出力装置のブロツク図である。 1……基準信号発生回路、2……比較回路、3
……ゲート回路、4……カウンタ、5……第1の
記憶回路、6……ピーク値ホールド回路、7……
アナログ・デジタルコンバータ、8,9……バツ
フア、10……判定回路、11……第2の記憶回
路、12……条件判定回路、13……ストレツチ
回路、14……デジタル・アナログコンバータ。
音波探傷器用アナログ信号出力装置のブロツク構
成図、第2図は従来の超音波探傷器用アナログ信
号出力装置のブロツク図である。 1……基準信号発生回路、2……比較回路、3
……ゲート回路、4……カウンタ、5……第1の
記憶回路、6……ピーク値ホールド回路、7……
アナログ・デジタルコンバータ、8,9……バツ
フア、10……判定回路、11……第2の記憶回
路、12……条件判定回路、13……ストレツチ
回路、14……デジタル・アナログコンバータ。
Claims (1)
- 1 複数の探触子をパルス繰り返し周波数に同期
して順次切り換えるとともに、該切り換えられた
探触子から所定周波数の超音波を送信し、該超音
波に対する被探傷物体の欠陥からの反射波を受信
し、該反射波に対応する欠陥信号をアナログ信号
として出力するマルチプレクサ方式の超音波探傷
器用アナログ信号出力装置において、前記複数の
探触子のそれぞれについて、前記欠陥信号が連続
して予設定レベル以上になつた回数を計数し、該
計数値が予設定値になつたときは、該欠陥信号が
真の欠陥信号であるとするカウントアツプ信号を
出力する欠陥信号検出手段と、前記複数の探触子
のそれぞれについて、前記欠陥信号検出手段の計
数値を記憶しており、前記パルス繰り返し周波数
に同期して前記探触子が切換えられる度毎に、該
記憶している、該切り換えられる直前に欠陥信号
を出力していた探触子に対応する計数値を、前記
欠陥信号検出手段の計数値に書き換えるととも
に、該記憶している、該切り換えられた探触子に
対応する計数値を該欠陥信号検出手段の計数値と
してセツトする第1の記憶手段と、前記パルス繰
り返し周波数に同期して前記欠陥信号が入力され
る度毎に、該欠陥信号のピーク値を検出し、保持
するピーク値ホールド回路と、前記ピーク値の保
持された欠陥信号をデジタル信号に変換するアナ
ログ・デジタルコンバータと、前記複数の探触子
のそれぞれについて、前記ピーク値が保持され、
デジタル信号に変換された欠陥信号のうち該ピー
ク値が最大であるものを記憶する第2の記憶手段
と、前記複数の探触子に対してそれぞれ設けら
れ、前記第2の記憶手段が記憶している欠陥信号
を、それぞれアナログ信号に変換して出力するデ
ジタル・アナログコンバータとを備えたことを特
徴とするマルチプレクサ方式の超音波探傷器用ア
ナログ信号出力装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60275023A JPS62134557A (ja) | 1985-12-09 | 1985-12-09 | マルチプレクサ方式の超音波探傷器用アナログ信号出力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60275023A JPS62134557A (ja) | 1985-12-09 | 1985-12-09 | マルチプレクサ方式の超音波探傷器用アナログ信号出力装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62134557A JPS62134557A (ja) | 1987-06-17 |
| JPH0243139B2 true JPH0243139B2 (ja) | 1990-09-27 |
Family
ID=17549796
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60275023A Granted JPS62134557A (ja) | 1985-12-09 | 1985-12-09 | マルチプレクサ方式の超音波探傷器用アナログ信号出力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62134557A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5105650A (en) * | 1990-03-08 | 1992-04-21 | Gas Research Institute | Monitoring compaction of backfill |
| JP2756377B2 (ja) * | 1991-04-19 | 1998-05-25 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線画像情報読取装置 |
| US5426972A (en) * | 1993-04-20 | 1995-06-27 | Gas Research Institute | Monitoring soil compaction |
-
1985
- 1985-12-09 JP JP60275023A patent/JPS62134557A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62134557A (ja) | 1987-06-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4425643A (en) | Multi-speed logic analyzer | |
| RU2150698C1 (ru) | Многоканальное акустико-эмиссионное устройство для контроля изделий | |
| CA2231274A1 (en) | Ultrasonic testing (ut) system | |
| EP0204000A1 (en) | Ultrasonic diagnostic apparatus | |
| JPH0243139B2 (ja) | ||
| JPS61278758A (ja) | 非破壊材料試験のための超音波試験装置 | |
| US4727314A (en) | Transient detector apparatus | |
| JP2891767B2 (ja) | Ae発生位置標定装置 | |
| JPH0243138B2 (ja) | ||
| SU1032411A1 (ru) | Ультразвуковой дефектоскоп | |
| JPH06103293B2 (ja) | 超音波測定装置のa/d変換処理方式 | |
| SU1536302A1 (ru) | Ультразвуковой дефектоскоп | |
| JPS60135033A (ja) | 超音波パルスドツプラ装置 | |
| SU1298719A1 (ru) | Устройство сбора дефектоскопической информации | |
| JPS6126080B2 (ja) | ||
| JPH0933494A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| SU1559280A1 (ru) | Ультразвуковой дефектоскоп | |
| JPS6128944B2 (ja) | ||
| SU1460697A1 (ru) | Ультразвуковой эхо-импульсный дефектоскоп | |
| SU603895A1 (ru) | Ультразвуковой дефектоскоп | |
| SU1647386A1 (ru) | Ультразвуковой дефектоскоп | |
| JPH0142038Y2 (ja) | ||
| SU1527572A1 (ru) | Ультразвуковой дефектоскоп | |
| SU1078316A1 (ru) | Ультразвуковой дефектоскоп | |
| RU2130610C1 (ru) | Цифровой ультразвуковой дефектоскоп "авгур" |