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JPH0245399B2 - HENCHONTHAKEINOHIZUMISOKUTEIHOHOOYOBISOCHI - Google Patents
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JPH0245399B2 - HENCHONTHAKEINOHIZUMISOKUTEIHOHOOYOBISOCHI - Google Patents

HENCHONTHAKEINOHIZUMISOKUTEIHOHOOYOBISOCHI

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JPH0245399B2
JPH0245399B2 JP19055881A JP19055881A JPH0245399B2 JP H0245399 B2 JPH0245399 B2 JP H0245399B2 JP 19055881 A JP19055881 A JP 19055881A JP 19055881 A JP19055881 A JP 19055881A JP H0245399 B2 JPH0245399 B2 JP H0245399B2
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waveform
chrominance
luminance
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level
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Eiichi Iizuka
Shin Ebine
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Anritsu Corp
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  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はテレビジヨン回線などにおける色度
(クロミナンス/輝度(ルミナンス)信号の利得
偏差(Gain inequality)または遅延偏差
(Delay inequality)を変調nT波形を使つて測定
する変調nT波形のひずみ測定方法および装置に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention uses a modulated nT waveform to measure the gain inequality or delay inequality of a chromaticity (chrominance/luminance) signal in a television line or the like. This invention relates to a method and device for measuring waveform distortion.

従来、変調nT波形を使つてテレビジヨン回線
などにおけるクロミナンス/ルミナンス信号の利
得偏差または遅延偏差を測定する方法として、前
記変調nT波形のベースライン幅の偏差を測定し
ノモグラフ(nomograqh)を使つて読み取る方
法がある。しかし、この方法ではnの値によりモ
ノグラフが異なるので、nの値に応じたモノグラ
フを用意しなければならず、また利得偏差の値が
大きく遅延偏差の値が小さいときはノモグラフの
読み取り誤差が大きいなどの欠点があつた。さら
に遅延偏差を測定する方法としては下記の式を使
つて測定する方法があつたが、この式を使用する
条件として遅延偏差が300ns以下および利得偏差
が無いときでなければならなかつた。
Conventionally, as a method of measuring the gain deviation or delay deviation of chrominance/luminance signals in television lines etc. using a modulated nT waveform, the baseline width deviation of the modulated nT waveform is measured and read using a nomograph. There is a way. However, with this method, the monograph differs depending on the value of n, so it is necessary to prepare a monograph according to the value of n. Also, when the gain deviation value is large and the delay deviation value is small, the nomograph reading error There were disadvantages such as large size. Furthermore, there was a method of measuring delay deviation using the following formula, but the conditions for using this formula were that the delay deviation was 300 ns or less and there was no gain deviation.

遅延偏差=2TH/π・△h/h TH:変調nT波形の半値幅 h :変調nT波形の振幅 △h :変調nTの波形のベースライン幅
の変形の生じた振幅 この発明は以上の問題にかんがみてなされたも
ので、変調nTの被測定波形のルミナンス波形お
よびクロミナンス波形の正負いずれか一方の包絡
線がいずれも正弦2乗パルス波形であることを利
用して、それぞれの波形から前記被測定波形の半
値幅に相当する間隔に位置する所望の時間位置の
レベルと前記被測定波形のベースライン幅を除く
ところに位置する所定の時間位置のレベルをそれ
ぞれ求め、これらのレベルを利用して所定の式を
演算することによりクロミナンス/ルミナンス信
号の利得偏差または遅延偏差を測定する変調nT
形形のひずみ測定方法および装置を提供するとこ
ろにある。すなわち、変調nTの被測定波形(第
4図a)をクロミナンス波形(第4図c)と最大
レベルeLを有し、該レベルeLの時間位置がtLであ
るルミナンス波形(第2図、第4図b)とに分離
し、このクロミナンス波形の、たとえば最大レベ
ルecを有し、該レベルecの時間位置がtcである正
の包絡線(第2図、第4図d)を検出し、前記ル
ミナンス波形および包絡線から前記被測定波形の
ベースライン幅τの1/2(半幅値)に相当する間
隔に位置するそれぞれの所望の時間位置t1,t2
レベルeL1,eL2およびec,ec2と前記ベースライン
幅τを除くところに位置するそれれの所定の時間
位置t3のレベルeL3およびec3を検出し、これらの
レベルを利用して(1)、(2)式の演算を行うことによ
り、(1)式からクロミナンス/ルミナンス信号の利
得偏差を、(2)式からクロミナンス/ルミナンス信
号の遅延偏差を求めるようにしたものである。
Delay deviation = 2T H /π・△h/h T H : Half width of modulated nT waveform h: Amplitude of modulated nT waveform △h: Amplitude of deformation of baseline width of modulated nT waveform This invention is based on the above This was done in consideration of the problem, and by utilizing the fact that either the positive or negative envelope of the luminance waveform or chrominance waveform of the measured waveform of modulation nT is a sine squared pulse waveform, the above can be obtained from each waveform. The level at a desired time position located at an interval corresponding to the half-width of the measured waveform and the level at a predetermined time position located outside the baseline width of the measured waveform are determined, and these levels are used. Modulation nT that measures the gain deviation or delay deviation of a chrominance/luminance signal by calculating a predetermined formula.
The present invention provides a method and device for measuring shape strain. That is, the measured waveform of modulation nT (Fig. 4a) is combined with the chrominance waveform (Fig. 4c) and the luminance waveform (Fig. 2) which has a maximum level e L and whose time position of said level e L is t L. , Fig. 4 b), and detect the positive envelope (Fig. 2, Fig. 4 d) of this chrominance waveform, which has, for example, the maximum level ec and whose time position of the level ec is tc. and the levels e L1 , e at respective desired time positions t 1 and t 2 located at an interval corresponding to 1/2 (half-width value) of the baseline width τ of the measured waveform from the luminance waveform and the envelope. Detect the levels e L3 and ec 3 at a predetermined time position t 3 located outside L2 and ec, ec 2 and the baseline width τ, and use these levels to calculate (1), ( By calculating equation 2), the gain deviation of the chrominance/luminance signal is obtained from equation (1), and the delay deviation of the chrominance/luminance signal is obtained from equation (2).

(ec−ec3)−(eL−eL3)=(ec1−ec3)+(ec2−ec3
)−(eL1−eL3)−(eL2−eL3)…(1) tc−tL=τ/πcos-1√(13){(1
3)+(23)} −τ/πcos-1√(L1L3){(L1L3
+(L2L3)}…(2) ここで(1)、(2)式は次のようにして求められる。
まず、第1図において正弦2乗パルスは次のよう
に表現される。
(ec − ec 3 ) − (e L −e L3 ) = (ec 1 − ec 3 ) + (ec 2 − ec 3
) − (e L1 −e L3 ) − (e L2 −e L3 )…(1) tc−t L = τ/πcos −1 √( 13 ) {( 1
3 ) + ( 23 )} −τ/πcos -1 √( L1L3 ) {( L1L3 )
+( L2L3 )}...(2) Here, equations (1) and (2) are obtained as follows.
First, in FIG. 1, the squared sine pulse is expressed as follows.

e−e3=(e0−e3)cos2π/τ(t−t0) …(3) e3:所定の時間位置t3のレベル ベースライン幅τ内に半値幅τ/2に相当する間
隔に位置する所望の時間位置t1,t2を選び、t1
よびt2のレベルをe1およびe2とすると次式が成立
する。
e−e 3 = (e 0e 3 ) cos 2 π/τ (t−t 0 ) …(3) e 3 : Level at predetermined time position t 3 Half-width τ/2 within baseline width τ If desired time positions t 1 and t 2 located at corresponding intervals are selected and the levels of t 1 and t 2 are e 1 and e 2 , the following equation holds true.

e1−e3=(c0−c3)cos2π/τ(t1−t0) …(4) e2−e3=(c0−c3)cos2π/τ(t2−t0) …(5) t2−t1=τ/2であるから(5)式はさらに次のよう になる。 e 1 −e 3 = (c 0 − c 3 ) cos 2 π/τ (t 1 − t 0 ) …(4) e 2 − e 3 = (c 0 − c 3 ) cos 2 π/τ (t 2 −t 0 ) …(5) Since t 2 −t 1 =τ/2, equation (5) further becomes as follows.

e2−e3=(e0−e3)cos2π/τ(t1−t0+τ/2 =(e0−e3)sinxπ/τ(t1−t0) …(6) (4)式と(6)式を加算すると (e1−e3)+(e2−e3)=(e0−e3) …(7) (7)式により正弦2乗パルスの最大レベルe0はレ
ベルe1,e2およびe3から求められる。さらに(4)、
(7)式から次式が算出される。
e 2 −e 3 = (e 0 − e 3 ) cos 2 π/τ (t 1 − t 0 + τ/2 = (e 0 − e 3 ) sin x π/τ (t 1 − t 0 ) …(6 ) Adding equations (4) and (6), (e 1 − e 3 ) + (e 2 − e 3 ) = (e 0 − e 3 )...(7) Equation (7) gives the squared sine pulse. The maximum level e 0 is found from the levels e 1 , e 2 and e 3. Furthermore, (4),
The following equation is calculated from equation (7).

cos2π/τ(t1−t0)=(e1−e3)/(e0−e3) =(e1−e3)/{(e1−e3)+(e2−e3)} t0=τ/πcos-1√(13){(13)+(
23)}+1…(8) (8)式により正弦2乗パルスの最大レベルe0の位
置t0はレベルe1、e2、e3およびレベルの位置t1
ら求められる。
cos 2 π/τ (t 1 − t 0 ) = (e 1 − e 3 )/(e 0 − e 3 ) = (e 1 − e 3 )/{(e 1 − e 3 ) + (e 2 − e 3 )} t 0 = τ/πcos -1 √( 13 ) {( 13 ) + (
23 )} + 1 (8) The position t 0 of the maximum level e 0 of the sine squared pulse is determined from the levels e 1 , e 2 , e 3 and the level position t 1 using equation (8).

したがつて第2図に示すルミナンス信号(実
線)およびクロミナンス信号の包絡線(点線)は
正弦波2乗パルス波形であるからそれぞれの振
幅、時間位置を(7)、(8)から算出してそれぞれの差
を求めれば(1)、(2)式が算出される。
Therefore, since the luminance signal (solid line) and the envelope (dotted line) of the chrominance signal shown in Figure 2 are sinusoidal squared pulse waveforms, their respective amplitudes and time positions can be calculated from (7) and (8). By finding the respective differences, equations (1) and (2) are calculated.

第3図はこの発明の一実施例を示すブロツク図
である。
FIG. 3 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.

この図において、第1の波形分離器は低域ろ波
器などで構成され、たとえば変調12.5Tの被測定
波形から最大レベルeLを有し、該レベルeLの時間
位置がtLであるルミナンス波形を分離する。
In this figure, the first waveform separator is composed of a low-pass filter, etc., and has a maximum level e L from the measured waveform of modulation 12.5T, and the time position of the level e L is t L. Separate the luminance waveform.

第2の波形分離器2はたとえば帯域ろ波器で構
成され、変調12.5Tの被測定波形からクロミナン
ス波形を分離する。検出器3は、たとえば包絡線
検波器で構成されており、第2の波形分離器から
出力されるクロミナンス波形を受領し、最大レベ
ルecを有し、該レベルecの時間位置がtcである正
極性の波形の包絡線を検出する。
The second waveform separator 2 is composed of, for example, a bandpass filter, and separates the chrominance waveform from the modulated 12.5T waveform to be measured. The detector 3 is composed of, for example, an envelope detector, receives the chrominance waveform output from the second waveform separator, and detects a positive electrode having a maximum level ec and whose time position is tc. Detect the envelope of the sexual waveform.

標本化保持4は第1の波形分離器1および検出
器3のそれぞれの出力波形を受けて変調12.5Tの
被測定波形のベースライン幅τの1/2(半幅値)
に相当する間隔に位置するそれぞれの所望の時間
位置t1、t2のレベルとベースライン幅τを除くと
ころに位置するそれぞれの所定の時間位置t3のレ
ベルを標本化保持する。A−D変換器5は、標本
化保持器4に保持された信号をデイジタル信号に
変換する。
The sampling/holding 4 receives the respective output waveforms of the first waveform separator 1 and the detector 3 and modulates 1/2 (half width value) of the baseline width τ of the measured waveform of 12.5T.
The level at each desired time position t 1 , t 2 located at an interval corresponding to , and the level at each predetermined time position t 3 located at a location excluding the baseline width τ are sampled and held. The A/D converter 5 converts the signal held in the sampling holder 4 into a digital signal.

記憶装置6はA−D変換器5の出力を受けて第
1の波形分離器1からの出力波形の前記t1、t2
よびt3におけるレベルのデイジタル値EL1,EL2
よびEL3をそれぞれ記憶し、さらに検出器3から
の出力波形の前記t1,t2およびt3におけるレベル
のデイジタルEc1,Ec2およびEc3をそれぞれ記憶
する。演算装置7は、記憶装置6に蓄積されたデ
イジタル値EL、EL2、EL3、Ec1、Ec2、Ec3を利用
して(9)、(10)式の条件で(11)式を演算し、さらに(12)

の演算を行う。
The storage device 6 receives the output of the A-D converter 5 and stores digital values E L1 , E L2 and E L3 of the output waveform from the first waveform separator 1 at t 1 , t 2 and t 3 . Furthermore, digital levels Ec 1 , Ec 2 and Ec 3 of the output waveform from the detector 3 at t 1 , t 2 and t 3 are stored, respectively. The arithmetic device 7 uses the digital values E L , E L2 , E L3 , Ec 1 , Ec 2 , Ec 3 stored in the storage device 6 to calculate equation (11) under the conditions of equations (9) and (10). and further (12)
Performs calculations on expressions.

(EL−EL3) =(EL1−EL3)+(EL2−EL3) …(9) ELはルミナンス波形の最大レベルeLのデイジタ
ル値 (Ec−Ec3) =(Ec1−Ec3)+(Ec2−Ec3) …(10) Ecはクロミナンス波形の包絡線の最大レベル
ecのデイジタル (Ec−Ec3)−(EL−EL3)=(Ec1−Ec3)+(Ec2−Ec3
)−(EL1−EL3)−(EL2−EL3)…(11) tc−tL=τ/πcos-1√(13){(1
3)+23)} −τ/πcos-1√(L1L3){(L1L3
+(L2L3)}…(12) 次にその動作を説明する。
(E L − E L3 ) = (E L1 − E L3 ) + (E L2 − E L3 ) …(9) E L is the digital value of the maximum level e L of the luminance waveform (Ec − Ec 3 ) = (Ec 1 −Ec 3 ) + (Ec 2 −Ec 3 ) …(10) Ec is the maximum level of the envelope of the chrominance waveform
Digital of ec (Ec - Ec 3 ) - (E L - E L3 ) = (Ec 1 - Ec 3 ) + (Ec 2 - Ec 3
)−(E L1 −E L3 )−(E L2 −E L3 )…(11) tc−t L = τ/πcos −1 √( 13 ) {( 1
3 ) + 23 )} −τ/πcos -1 √( L1L3 ) {( L1L3 )
+( L2L3 )}…(12) Next, the operation will be explained.

入力端子8に加えられた変調12.5Tの被測定波
形(第4図a)は第1の波形分離器1で半値幅
1.57μs(テレビジヨンの帯域幅fc=4MHzとする)
のルミナンス波形(第4図b)に分離される。ま
た、前記被測定波形は第2の波形分離器2で搬送
波(3.58MHz)が100%振幅変調されたクロミナ
ンス波形(第4図c)に分離されたのち、包絡線
検波器3で正極性の波形の包絡線(第4図d)を
得る。第1の波形分離器1から出力されるルミナ
ンス波形はスイツチ回路9を介して標本化保持器
4に加えられる。そこで、前記ルミナンス波形に
おいて前記被測定波形のベースライン幅τ=
3.14μsの1/2(半値幅)に相当する間隔に位置す
る所望の時間位置t1、t2のレベルとベースライン
幅τ=3.14μsを除くところに位置する所定の時間
位置t3のレベルを標本化保持する。
The modulated 12.5T waveform to be measured (Fig. 4a) applied to input terminal 8 is divided into half-width by first waveform separator 1.
1.57μs (assuming television bandwidth fc = 4MHz)
of the luminance waveform (Fig. 4b). Further, the measured waveform is separated into a chrominance waveform (Fig. 4c) in which the carrier wave (3.58MHz) is 100% amplitude modulated by the second waveform separator 2, and then a positive polarity waveform is detected by the envelope detector 3. Obtain the waveform envelope (Fig. 4d). The luminance waveform output from the first waveform separator 1 is applied to the sampling holder 4 via the switch circuit 9. Therefore, in the luminance waveform, the baseline width τ of the measured waveform is
The level at desired time positions t 1 and t 2 located at an interval corresponding to 1/2 (half width) of 3.14 μs and the level at a predetermined time position t 3 located at a location excluding the baseline width τ = 3.14 μs. Sample and hold.

標本化保持された信号はA−D変換器5でデイ
ジタル信号に変換され、デイジタル値EL1、EL2
よびEL3として記憶装置6に記憶される。また、
包絡線検波器3から出力されるクロミナンス波形
の包絡線波形はスイツチ回路9を介して標本化保
持器4に加えられる。
The sampled and held signals are converted into digital signals by the A/D converter 5 and stored in the storage device 6 as digital values E L1 , E L2 and E L3 . Also,
The envelope waveform of the chrominance waveform output from the envelope detector 3 is applied to the sampling holder 4 via the switch circuit 9.

そこで、前記包絡線波形において前記被測定波
形のベースライン幅τ=3.14μsの1/2(半値幅)
に相当する間隔に位置する前記t1、t2のレベルと
ベースライン幅τ=3.14μsを除くところに位置す
る前記t3のレベルを標本化保持する。標本化保持
された信号はA−D変換器5でデイジタル信号に
変換され、デイジタル値Ec1、Ec2およびEc3とし
て記憶装置6に記憶される。
Therefore, in the envelope waveform, 1/2 (half width) of the baseline width τ = 3.14 μs of the measured waveform.
The levels of t 1 and t 2 located at intervals corresponding to , and the level of t 3 located outside the baseline width τ = 3.14 μs are sampled and held. The sampled and held signals are converted into digital signals by the A/D converter 5 and stored in the storage device 6 as digital values Ec 1 , Ec 2 and Ec 3 .

こうして記憶装置6に記憶されたデイジタル値
EL1、EL2、EL3、Ec1、Ec2およびEc3は演算装置7
に加えられ、これらのデイジタル値を利用して
(11)、(12)式の演算を行う。その演算結果は表示器1
0でデイジタル表示される。
The digital value thus stored in the storage device 6
E L1 , E L2 , E L3 , Ec 1 , Ec 2 and Ec 3 are arithmetic unit 7
and using these digital values,
Perform calculations of equations (11) and (12). The calculation result is displayed on display 1.
Digitally displayed at 0.

なお、実施例ではクロミナンス波形の正の包絡
線を検出しているが、負の包絡線を検出した波形
を使用することもできる。また、波形分離器は実
施例にとどまらず要旨を変更しない程度に種々考
えられる。さらに、分離されたルミナンス波形と
クロミナンス波形の包絡線波形とをオシロスコー
プで2現象による直視観測を行い、前記t1、t2
よびt3のレベルを読んで前記(1)、(2)式の計算から
クロミナンス/ルミナンス信号の利得偏差および
遅延偏差を定量的に求めることもできる。
Note that in the embodiment, a positive envelope of the chrominance waveform is detected, but a waveform with a negative envelope detected may also be used. Furthermore, the waveform separator is not limited to the embodiments, and various other types can be considered without changing the gist. Furthermore, the separated luminance waveform and the envelope waveform of the chrominance waveform are directly observed using an oscilloscope using two phenomena, and the levels of t 1 , t 2 and t 3 are read and the equations (1) and (2) are calculated. The gain deviation and delay deviation of the chrominance/luminance signal can also be determined quantitatively from calculations.

以上説明したように、この発明は変調nTの被
測定波形をルミナンス波形とクロミナンス波形に
分離し、クロミナンス波形の正負いずれか一方の
包絡線を分離し、前記ルミナンス波形および包絡
線波形から前記被測定波形のベースライン幅τの
1/2(半値幅)に相当する間隔に位置する所望の
時間位置t1、t2のレベルと前記幅τを除くところ
に位置する所定の時間位置t3のレベルを検出し、
これらのレベルを利用して所定の式の演算を行
い、クロミナンス/ルミナンス信号の利得偏差ま
たは遅延偏差を測定するようにしたので次のよう
な効果を有する。
As explained above, the present invention separates the measured waveform of modulation nT into a luminance waveform and a chrominance waveform, separates either the positive or negative envelope of the chrominance waveform, and extracts the measured waveform from the luminance waveform and envelope waveform. Levels at desired time positions t 1 and t 2 located at an interval corresponding to 1/2 (half-width) of the baseline width τ of the waveform, and a level at a predetermined time position t 3 located at a location excluding the width τ. detect,
These levels are used to calculate a predetermined formula to measure the gain deviation or delay deviation of the chrominance/luminance signal, resulting in the following effects.

(a) 従来の測定方法のような条件付きがなく、し
かも正確な測定値を得ることができる。
(a) There are no conditions attached to conventional measurement methods, and accurate measurement values can be obtained.

(b) クロミナンスの包絡線およびルミナンス波形
の所望時間位置のレベルを用いて計算するの
で、変調nT波形のクロミナンス信号が水平同
期信号に対して同期しているか否かに関係なく
利得および遅延の偏差を求めることができる。
(b) gain and delay deviations regardless of whether the chrominance signal of the modulated nT waveform is synchronized to the horizontal synchronization signal, since it is calculated using the chrominance envelope and the level at the desired time position of the luminance waveform; can be found.

(c) デイジタル処理により自動測定する場合は、
6点のサンプリング分離器を取り込むだけでよ
いので回路構成が簡単になる。
(c) When automatically measuring by digital processing,
Since it is only necessary to incorporate six sampling separators, the circuit configuration becomes simple.

(d) サンプリング点が少ないので自動測定による
測定時間が短くなる。
(d) Since there are fewer sampling points, the measurement time for automatic measurement is shorter.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は正弦2乗パルスの波形図を示す、第2
図は分離されたルミナンス波形とクロミナンス波
形の包絡線波形の歪んだときの状態図を示す、第
3図はこの発明の一実施例のブロツク構成図を示
す、第4図は第3図の実施例の動作を説明するた
めの波形図を示す。 1は第1の波形分離器、2は第2の波形分離
器、3は検出器、4は標本化保持器、5はA−D
変換器、6は記憶装置、7は演算装置。
Figure 1 shows a waveform diagram of a sine squared pulse;
The figure shows a state diagram when the envelope waveforms of the separated luminance waveform and chrominance waveform are distorted. FIG. 3 shows a block diagram of an embodiment of the present invention. FIG. 4 shows an implementation of FIG. 3. A waveform diagram for explaining the operation of the example is shown. 1 is the first waveform separator, 2 is the second waveform separator, 3 is the detector, 4 is the sampling holder, and 5 is A-D.
A converter, 6 a storage device, and 7 an arithmetic device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 変調nTの被測定波形をクロミナンス波形と
最大レベルeLを有し該レベルeLの時間位置がtL
あるルミナンス波形とに分離し、最大レベルecを
有し該レベルecの時間位置がtcである前記クロミ
ナンス波形の正負いずれか一方の包絡線を検出
し、前記ルミナンス波形および該包絡線から前記
被測定波形のベースライン幅τの1/2(半値幅)
に相当する間隔に位置するそれぞれの所望の時間
位置t1、t2のレベルeL1、eL2およびec1,ec2と前記
ルミナンス波形および該包絡線から前記ベースラ
イン幅τを除くところに位置するそれぞれの所定
の時間位置t3のレベルeL3およびec3を検出し、こ
れらのレベルを利用して下記(イ)又は(ロ)式あるいは
(イ)、(ロ)式の演算を行うことによりクロミナンス/
ルミナンス信号の利得偏差またはクロミナンス/
ルミナンス信号の遅延偏差もしくはクロミナン
ス/ルミナンス信号の利得偏差およびクロミナン
ス/ルミナンス信号の遅延偏差を測定する変調
nT波形のひずみ測定方法。 (イ) (ec−ec3)−(eL−eL3) =(ec1−ec3)+(ec2−ec3) −(eL1−eL3)−(eL2−eL3) (ロ) tc−tL=τ/πcos-1√(13){(
13)+(23)} −τ/πcos-1√(L1L3){(L1L
3
)+(L2L3)} 2 変調nTの被測定波形から最大レベルeLを有
し該レベルeLの時間位置がtLであるルミナンス波
形を分離するための第1の波形分離器と;前記被
測定波形からクロミナンス波形を分離するための
第2の波形分離器と;該第2の波形分離器からの
クロミナンス波形を受領して最大レベルecを有し
該レベルecの時間位置がtcである該クロミナンス
波形の正負いずれか一方の包絡線を検出するため
の検出器と;前記第1の波形分離器および該検出
器のそれぞれの出力波形を受けて前記被測定波形
のベースライン幅τの1/2(半値幅)に相当する
間隔に位置するそれぞれの所望の時間位置t1,t2
のレベルと前記ベースライン幅τを除くところに
位置するそれぞれの所定の時間位置t3のレベルを
標本化保持するための標本化保持器と;該保持器
に保持された信号をデイジタル信号に変換するA
−D変換器と;該A−D変換器の出力を受けて前
記第1の波形分離器からの出力波形の前記t1,t2
およびt3におけるレベルのデイジタル値EL1,EL2
およびEL3をそれぞれ記憶し、さらに前記検出器
からの出力波形の前記t1,t2およびt3におけるレ
ベルのデイジタル値Ec,Ec2およびEc3をそれぞ
れ記憶する記憶装置と;該記憶装置に蓄積された
デイジタル値を利用して(イ)及び(ロ)の条件で(ハ)式を
演算し、さらに(ニ)式の演算を行うための演算装置
とを備えた変調nT波形のひずみ測定装置。 (イ) (EL−EL3) =(EL1−EL2)+(EL2−EL3) ELはルミナンス波形の最大レベルeLのデイジ
タル値 (ロ) (Ec−Ec3) =(Ec1−Ec3)+(Ec2−Ec3) Ecはクロミナンス波形の包絡線の最大レベ
ルecのデイジタル値 (ハ) (Ec−Ec3)−(EL−EL3)=(Ec1−Ec3)+(Ec
2−Ec3)−(EL1−EL3)−(EL2−EL3) (ニ) tc−tL=τ/πcos-1√(13){(
13)+(23)} −τ/πcos-1√(L1L3){(L1L
3
)+(L2L3)}
[Claims] 1. A waveform to be measured with modulation nT is separated into a chrominance waveform and a luminance waveform having a maximum level e L and whose time position is t L , and having a maximum level ec and a luminance waveform whose time position is t L. Detect either the positive or negative envelope of the chrominance waveform whose time position of level ec is tc, and use the luminance waveform and the envelope to determine 1/2 (half width) of the baseline width τ of the measured waveform.
levels e L1 , e L2 and ec 1 , ec 2 of the respective desired time positions t 1 , t 2 located at intervals corresponding to Detect the levels e L3 and ec 3 at each predetermined time position t 3 , and use these levels to calculate the following formula (a) or (b) or
By calculating equations (a) and (b), chrominance/
Gain deviation of luminance signal or chrominance/
Modulation that measures the delay deviation of the luminance signal or the gain deviation of the chrominance/luminance signal and the delay deviation of the chrominance/luminance signal
How to measure nT waveform distortion. (B) (ec − ec 3 ) − (e L −e L3 ) = (ec 1 − ec 3 ) + (ec 2 − ec 3 ) − (e L1 − e L3 ) − (e L2 − e L3 ) ( b) tc−t L = τ/πcos -1 √( 13 ) {(
13 ) + ( 23 )} −τ/πcos −1 √( L1L3 ) {( L1L
3
) + ( L2L3 ) } 2 A first waveform separator for separating a luminance waveform having a maximum level e L and whose time position is t L from the measured waveform of modulation nT; a second waveform separator for separating a chrominance waveform from the measured waveform; receiving the chrominance waveform from the second waveform separator and having a maximum level ec and a time position of the level ec at tc; a detector for detecting either the positive or negative envelope of the chrominance waveform; receiving the respective output waveforms of the first waveform separator and the detector to determine the baseline width τ of the measured waveform; The respective desired time positions t 1 and t 2 located at an interval corresponding to 1/2 (half width) of
a sampling holder for sampling and holding the level at each predetermined time position t 3 located outside the baseline width τ; converting the signal held in the holder into a digital signal; A to do
- a D converter; in response to the output of the A-D converter, the output waveforms from the first waveform separator are measured at the t 1 and t 2 of the output waveform;
and the level digital values E L1 , E L2 at t 3
and E L3 respectively, and further stores digital values Ec, Ec 2 and Ec 3 of the levels of the output waveform from the detector at t 1 , t 2 and t 3 , respectively; Distortion measurement of a modulated nT waveform, which uses accumulated digital values to calculate equation (c) under the conditions of (a) and (b), and further includes an arithmetic device for calculating equation (d). Device. (B) (E L - E L3 ) = (E L1 - E L2 ) + (E L2 - E L3 ) E L is the digital value of the maximum level e L of the luminance waveform (B) (Ec - Ec 3 ) = ( Ec 1 − Ec 3 ) + (Ec 2 − Ec 3 ) Ec is the digital value (c) of the maximum level ec of the envelope of the chrominance waveform (Ec − Ec 3 ) − ( EL − E L3 ) = (Ec 1 − Ec 3 ) + (Ec
2 −Ec 3 )−(E L1 −E L3 )−(E L2 −E L3 ) (d) tc−t L = τ/πcos −1 √( 13 ) {(
13 ) + ( 23 )} −τ/πcos −1 √( L1L3 ) {( L1L
3
) + ( L2L3 )}
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