JPH0245399B2 - Henchonthakeinohizumisokuteihohooyobisochi - Google Patents
HenchonthakeinohizumisokuteihohooyobisochiInfo
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- JPH0245399B2 JPH0245399B2 JP19055881A JP19055881A JPH0245399B2 JP H0245399 B2 JPH0245399 B2 JP H0245399B2 JP 19055881 A JP19055881 A JP 19055881A JP 19055881 A JP19055881 A JP 19055881A JP H0245399 B2 JPH0245399 B2 JP H0245399B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
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- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はテレビジヨン回線などにおける色度
（クロミナンス／輝度（ルミナンス）信号の利得
偏差（Gain inequality）または遅延偏差
（Delay inequality）を変調nT波形を使つて測定
する変調nT波形のひずみ測定方法および装置に
関する。
（クロミナンス／輝度（ルミナンス）信号の利得
偏差（Gain inequality）または遅延偏差
（Delay inequality）を変調nT波形を使つて測定
する変調nT波形のひずみ測定方法および装置に
関する。
従来、変調nT波形を使つてテレビジヨン回線
などにおけるクロミナンス／ルミナンス信号の利
得偏差または遅延偏差を測定する方法として、前
記変調nT波形のベースライン幅の偏差を測定し
ノモグラフ（nomograqh）を使つて読み取る方
法がある。しかし、この方法ではｎの値によりモ
ノグラフが異なるので、ｎの値に応じたモノグラ
フを用意しなければならず、また利得偏差の値が
大きく遅延偏差の値が小さいときはノモグラフの
読み取り誤差が大きいなどの欠点があつた。さら
に遅延偏差を測定する方法としては下記の式を使
つて測定する方法があつたが、この式を使用する
条件として遅延偏差が300ns以下および利得偏差
が無いときでなければならなかつた。
などにおけるクロミナンス／ルミナンス信号の利
得偏差または遅延偏差を測定する方法として、前
記変調nT波形のベースライン幅の偏差を測定し
ノモグラフ（nomograqh）を使つて読み取る方
法がある。しかし、この方法ではｎの値によりモ
ノグラフが異なるので、ｎの値に応じたモノグラ
フを用意しなければならず、また利得偏差の値が
大きく遅延偏差の値が小さいときはノモグラフの
読み取り誤差が大きいなどの欠点があつた。さら
に遅延偏差を測定する方法としては下記の式を使
つて測定する方法があつたが、この式を使用する
条件として遅延偏差が300ns以下および利得偏差
が無いときでなければならなかつた。
遅延偏差＝2TH／π・△ｈ／ｈ
TH：変調nT波形の半値幅
ｈ ：変調nT波形の振幅
△ｈ ：変調nTの波形のベースライン幅
の変形の生じた振幅 この発明は以上の問題にかんがみてなされたも
ので、変調nTの被測定波形のルミナンス波形お
よびクロミナンス波形の正負いずれか一方の包絡
線がいずれも正弦２乗パルス波形であることを利
用して、それぞれの波形から前記被測定波形の半
値幅に相当する間隔に位置する所望の時間位置の
レベルと前記被測定波形のベースライン幅を除く
ところに位置する所定の時間位置のレベルをそれ
ぞれ求め、これらのレベルを利用して所定の式を
演算することによりクロミナンス／ルミナンス信
号の利得偏差または遅延偏差を測定する変調nT
形形のひずみ測定方法および装置を提供するとこ
ろにある。すなわち、変調nTの被測定波形（第
４図ａ）をクロミナンス波形（第４図ｃ）と最大
レベルeLを有し、該レベルeLの時間位置がtLであ
るルミナンス波形（第２図、第４図ｂ）とに分離
し、このクロミナンス波形の、たとえば最大レベ
ルecを有し、該レベルecの時間位置がtcである正
の包絡線（第２図、第４図ｄ）を検出し、前記ル
ミナンス波形および包絡線から前記被測定波形の
ベースライン幅τの1/2（半幅値）に相当する間
隔に位置するそれぞれの所望の時間位置t1，t2の
レベルeL1，eL2およびec，ec2と前記ベースライン
幅τを除くところに位置するそれれの所定の時間
位置t3のレベルeL3およびec3を検出し、これらの
レベルを利用して(1)、(2)式の演算を行うことによ
り、(1)式からクロミナンス／ルミナンス信号の利
得偏差を、(2)式からクロミナンス／ルミナンス信
号の遅延偏差を求めるようにしたものである。
の変形の生じた振幅 この発明は以上の問題にかんがみてなされたも
ので、変調nTの被測定波形のルミナンス波形お
よびクロミナンス波形の正負いずれか一方の包絡
線がいずれも正弦２乗パルス波形であることを利
用して、それぞれの波形から前記被測定波形の半
値幅に相当する間隔に位置する所望の時間位置の
レベルと前記被測定波形のベースライン幅を除く
ところに位置する所定の時間位置のレベルをそれ
ぞれ求め、これらのレベルを利用して所定の式を
演算することによりクロミナンス／ルミナンス信
号の利得偏差または遅延偏差を測定する変調nT
形形のひずみ測定方法および装置を提供するとこ
ろにある。すなわち、変調nTの被測定波形（第
４図ａ）をクロミナンス波形（第４図ｃ）と最大
レベルeLを有し、該レベルeLの時間位置がtLであ
るルミナンス波形（第２図、第４図ｂ）とに分離
し、このクロミナンス波形の、たとえば最大レベ
ルecを有し、該レベルecの時間位置がtcである正
の包絡線（第２図、第４図ｄ）を検出し、前記ル
ミナンス波形および包絡線から前記被測定波形の
ベースライン幅τの1/2（半幅値）に相当する間
隔に位置するそれぞれの所望の時間位置t1，t2の
レベルeL1，eL2およびec，ec2と前記ベースライン
幅τを除くところに位置するそれれの所定の時間
位置t3のレベルeL3およびec3を検出し、これらの
レベルを利用して(1)、(2)式の演算を行うことによ
り、(1)式からクロミナンス／ルミナンス信号の利
得偏差を、(2)式からクロミナンス／ルミナンス信
号の遅延偏差を求めるようにしたものである。
（ec−ec3）−（eL−eL3）＝（ec1−ec3）＋（ec2−ec3
）−（eL1−eL3）−（eL2−eL3）…(1) tc−tL＝τ／πcos-1√（1−3）｛（1−
3）＋（2−3）｝ −τ／πcos-1√（L1−L3）｛（L1−L3）
＋（L2−L3）｝…(2) ここで(1)、(2)式は次のようにして求められる。
まず、第１図において正弦２乗パルスは次のよう
に表現される。
）−（eL1−eL3）−（eL2−eL3）…(1) tc−tL＝τ／πcos-1√（1−3）｛（1−
3）＋（2−3）｝ −τ／πcos-1√（L1−L3）｛（L1−L3）
＋（L2−L3）｝…(2) ここで(1)、(2)式は次のようにして求められる。
まず、第１図において正弦２乗パルスは次のよう
に表現される。
ｅ−e3＝（e0−e3）cos2π／τ（ｔ−t0） …(3)
e3：所定の時間位置t3のレベル
ベースライン幅τ内に半値幅τ/2に相当する間
隔に位置する所望の時間位置t1，t2を選び、t1お
よびt2のレベルをe1およびe2とすると次式が成立
する。
隔に位置する所望の時間位置t1，t2を選び、t1お
よびt2のレベルをe1およびe2とすると次式が成立
する。
e1−e3＝（c0−c3）cos2π／τ（t1−t0） …(4)
e2−e3＝（c0−c3）cos2π／τ（t2−t0） …(5)
t2−t1＝τ／２であるから(5)式はさらに次のよう
になる。
e2−e3＝（e0−e3）cos2π／τ（t1−t0＋τ／２
＝（e0−e3）sinxπ／τ（t1−t0） …(6)
(4)式と(6)式を加算すると
（e1−e3）＋（e2−e3）＝（e0−e3） …(7)
(7)式により正弦２乗パルスの最大レベルe0はレ
ベルe1，e2およびe3から求められる。さらに(4)、
(7)式から次式が算出される。
ベルe1，e2およびe3から求められる。さらに(4)、
(7)式から次式が算出される。
cos2π／τ（t1−t0）＝（e1−e3）／（e0−e3）
＝（e1−e3）／｛（e1−e3）＋（e2−e3）｝
t0＝τ／πcos-1√（1−3）｛（1−3）＋（
2−3）｝＋1…(8) (8)式により正弦２乗パルスの最大レベルe0の位
置t0はレベルe1、e2、e3およびレベルの位置t1か
ら求められる。
2−3）｝＋1…(8) (8)式により正弦２乗パルスの最大レベルe0の位
置t0はレベルe1、e2、e3およびレベルの位置t1か
ら求められる。
したがつて第２図に示すルミナンス信号（実
線）およびクロミナンス信号の包絡線（点線）は
正弦波２乗パルス波形であるからそれぞれの振
幅、時間位置を(7)、(8)から算出してそれぞれの差
を求めれば(1)、(2)式が算出される。
線）およびクロミナンス信号の包絡線（点線）は
正弦波２乗パルス波形であるからそれぞれの振
幅、時間位置を(7)、(8)から算出してそれぞれの差
を求めれば(1)、(2)式が算出される。
第３図はこの発明の一実施例を示すブロツク図
である。
である。
この図において、第１の波形分離器は低域ろ波
器などで構成され、たとえば変調12.5Tの被測定
波形から最大レベルeLを有し、該レベルeLの時間
位置がtLであるルミナンス波形を分離する。
器などで構成され、たとえば変調12.5Tの被測定
波形から最大レベルeLを有し、該レベルeLの時間
位置がtLであるルミナンス波形を分離する。
第２の波形分離器２はたとえば帯域ろ波器で構
成され、変調12.5Tの被測定波形からクロミナン
ス波形を分離する。検出器３は、たとえば包絡線
検波器で構成されており、第２の波形分離器から
出力されるクロミナンス波形を受領し、最大レベ
ルecを有し、該レベルecの時間位置がtcである正
極性の波形の包絡線を検出する。
成され、変調12.5Tの被測定波形からクロミナン
ス波形を分離する。検出器３は、たとえば包絡線
検波器で構成されており、第２の波形分離器から
出力されるクロミナンス波形を受領し、最大レベ
ルecを有し、該レベルecの時間位置がtcである正
極性の波形の包絡線を検出する。
標本化保持４は第１の波形分離器１および検出
器３のそれぞれの出力波形を受けて変調12.5Tの
被測定波形のベースライン幅τの1/2（半幅値）
に相当する間隔に位置するそれぞれの所望の時間
位置t1、t2のレベルとベースライン幅τを除くと
ころに位置するそれぞれの所定の時間位置t3のレ
ベルを標本化保持する。Ａ−Ｄ変換器５は、標本
化保持器４に保持された信号をデイジタル信号に
変換する。
器３のそれぞれの出力波形を受けて変調12.5Tの
被測定波形のベースライン幅τの1/2（半幅値）
に相当する間隔に位置するそれぞれの所望の時間
位置t1、t2のレベルとベースライン幅τを除くと
ころに位置するそれぞれの所定の時間位置t3のレ
ベルを標本化保持する。Ａ−Ｄ変換器５は、標本
化保持器４に保持された信号をデイジタル信号に
変換する。
記憶装置６はＡ−Ｄ変換器５の出力を受けて第
１の波形分離器１からの出力波形の前記t1、t2お
よびt3におけるレベルのデイジタル値EL1，EL2お
よびEL3をそれぞれ記憶し、さらに検出器３から
の出力波形の前記t1，t2およびt3におけるレベル
のデイジタルEc1，Ec2およびEc3をそれぞれ記憶
する。演算装置７は、記憶装置６に蓄積されたデ
イジタル値EL、EL2、EL3、Ec1、Ec2、Ec3を利用
して(9)、(10)式の条件で(11)式を演算し、さらに(12)
式
の演算を行う。
１の波形分離器１からの出力波形の前記t1、t2お
よびt3におけるレベルのデイジタル値EL1，EL2お
よびEL3をそれぞれ記憶し、さらに検出器３から
の出力波形の前記t1，t2およびt3におけるレベル
のデイジタルEc1，Ec2およびEc3をそれぞれ記憶
する。演算装置７は、記憶装置６に蓄積されたデ
イジタル値EL、EL2、EL3、Ec1、Ec2、Ec3を利用
して(9)、(10)式の条件で(11)式を演算し、さらに(12)
式
の演算を行う。
（EL−EL3）
＝（EL1−EL3）＋（EL2−EL3） …(9)
ELはルミナンス波形の最大レベルeLのデイジタ
ル値 （Ec−Ec3） ＝（Ec1−Ec3）＋（Ec2−Ec3） …(10) Ecはクロミナンス波形の包絡線の最大レベル
ecのデイジタル （Ec−Ec3）−（EL−EL3）＝（Ec1−Ec3）＋（Ec2−Ec3
）−（EL1−EL3）−（EL2−EL3）…(11) tc−tL＝τ／πcos-1√（1−3）｛（1−
3）＋2−3）｝ −τ／πcos-1√（L1−L3）｛（L1−L3）
＋（L2−L3）｝…(12) 次にその動作を説明する。
ル値 （Ec−Ec3） ＝（Ec1−Ec3）＋（Ec2−Ec3） …(10) Ecはクロミナンス波形の包絡線の最大レベル
ecのデイジタル （Ec−Ec3）−（EL−EL3）＝（Ec1−Ec3）＋（Ec2−Ec3
）−（EL1−EL3）−（EL2−EL3）…(11) tc−tL＝τ／πcos-1√（1−3）｛（1−
3）＋2−3）｝ −τ／πcos-1√（L1−L3）｛（L1−L3）
＋（L2−L3）｝…(12) 次にその動作を説明する。
入力端子８に加えられた変調12.5Tの被測定波
形（第４図ａ）は第１の波形分離器１で半値幅
1.57μs（テレビジヨンの帯域幅fc＝4MHzとする）
のルミナンス波形（第４図ｂ）に分離される。ま
た、前記被測定波形は第２の波形分離器２で搬送
波（3.58MHz）が100％振幅変調されたクロミナ
ンス波形（第４図ｃ）に分離されたのち、包絡線
検波器３で正極性の波形の包絡線（第４図ｄ）を
得る。第１の波形分離器１から出力されるルミナ
ンス波形はスイツチ回路９を介して標本化保持器
４に加えられる。そこで、前記ルミナンス波形に
おいて前記被測定波形のベースライン幅τ＝
3.14μsの1/2（半値幅）に相当する間隔に位置す
る所望の時間位置t1、t2のレベルとベースライン
幅τ＝3.14μsを除くところに位置する所定の時間
位置t3のレベルを標本化保持する。
形（第４図ａ）は第１の波形分離器１で半値幅
1.57μs（テレビジヨンの帯域幅fc＝4MHzとする）
のルミナンス波形（第４図ｂ）に分離される。ま
た、前記被測定波形は第２の波形分離器２で搬送
波（3.58MHz）が100％振幅変調されたクロミナ
ンス波形（第４図ｃ）に分離されたのち、包絡線
検波器３で正極性の波形の包絡線（第４図ｄ）を
得る。第１の波形分離器１から出力されるルミナ
ンス波形はスイツチ回路９を介して標本化保持器
４に加えられる。そこで、前記ルミナンス波形に
おいて前記被測定波形のベースライン幅τ＝
3.14μsの1/2（半値幅）に相当する間隔に位置す
る所望の時間位置t1、t2のレベルとベースライン
幅τ＝3.14μsを除くところに位置する所定の時間
位置t3のレベルを標本化保持する。
標本化保持された信号はＡ−Ｄ変換器５でデイ
ジタル信号に変換され、デイジタル値EL1、EL2お
よびEL3として記憶装置６に記憶される。また、
包絡線検波器３から出力されるクロミナンス波形
の包絡線波形はスイツチ回路９を介して標本化保
持器４に加えられる。
ジタル信号に変換され、デイジタル値EL1、EL2お
よびEL3として記憶装置６に記憶される。また、
包絡線検波器３から出力されるクロミナンス波形
の包絡線波形はスイツチ回路９を介して標本化保
持器４に加えられる。
そこで、前記包絡線波形において前記被測定波
形のベースライン幅τ＝3.14μsの1/2（半値幅）
に相当する間隔に位置する前記t1、t2のレベルと
ベースライン幅τ＝3.14μsを除くところに位置す
る前記t3のレベルを標本化保持する。標本化保持
された信号はＡ−Ｄ変換器５でデイジタル信号に
変換され、デイジタル値Ec1、Ec2およびEc3とし
て記憶装置６に記憶される。
形のベースライン幅τ＝3.14μsの1/2（半値幅）
に相当する間隔に位置する前記t1、t2のレベルと
ベースライン幅τ＝3.14μsを除くところに位置す
る前記t3のレベルを標本化保持する。標本化保持
された信号はＡ−Ｄ変換器５でデイジタル信号に
変換され、デイジタル値Ec1、Ec2およびEc3とし
て記憶装置６に記憶される。
こうして記憶装置６に記憶されたデイジタル値
EL1、EL2、EL3、Ec1、Ec2およびEc3は演算装置７
に加えられ、これらのデイジタル値を利用して
(11)、(12)式の演算を行う。その演算結果は表示器１
０でデイジタル表示される。
EL1、EL2、EL3、Ec1、Ec2およびEc3は演算装置７
に加えられ、これらのデイジタル値を利用して
(11)、(12)式の演算を行う。その演算結果は表示器１
０でデイジタル表示される。
なお、実施例ではクロミナンス波形の正の包絡
線を検出しているが、負の包絡線を検出した波形
を使用することもできる。また、波形分離器は実
施例にとどまらず要旨を変更しない程度に種々考
えられる。さらに、分離されたルミナンス波形と
クロミナンス波形の包絡線波形とをオシロスコー
プで２現象による直視観測を行い、前記t1、t2お
よびt3のレベルを読んで前記(1)、(2)式の計算から
クロミナンス／ルミナンス信号の利得偏差および
遅延偏差を定量的に求めることもできる。
線を検出しているが、負の包絡線を検出した波形
を使用することもできる。また、波形分離器は実
施例にとどまらず要旨を変更しない程度に種々考
えられる。さらに、分離されたルミナンス波形と
クロミナンス波形の包絡線波形とをオシロスコー
プで２現象による直視観測を行い、前記t1、t2お
よびt3のレベルを読んで前記(1)、(2)式の計算から
クロミナンス／ルミナンス信号の利得偏差および
遅延偏差を定量的に求めることもできる。
以上説明したように、この発明は変調nTの被
測定波形をルミナンス波形とクロミナンス波形に
分離し、クロミナンス波形の正負いずれか一方の
包絡線を分離し、前記ルミナンス波形および包絡
線波形から前記被測定波形のベースライン幅τの
１／２（半値幅）に相当する間隔に位置する所望の
時間位置t1、t2のレベルと前記幅τを除くところ
に位置する所定の時間位置t3のレベルを検出し、
これらのレベルを利用して所定の式の演算を行
い、クロミナンス／ルミナンス信号の利得偏差ま
たは遅延偏差を測定するようにしたので次のよう
な効果を有する。
測定波形をルミナンス波形とクロミナンス波形に
分離し、クロミナンス波形の正負いずれか一方の
包絡線を分離し、前記ルミナンス波形および包絡
線波形から前記被測定波形のベースライン幅τの
１／２（半値幅）に相当する間隔に位置する所望の
時間位置t1、t2のレベルと前記幅τを除くところ
に位置する所定の時間位置t3のレベルを検出し、
これらのレベルを利用して所定の式の演算を行
い、クロミナンス／ルミナンス信号の利得偏差ま
たは遅延偏差を測定するようにしたので次のよう
な効果を有する。
(a) 従来の測定方法のような条件付きがなく、し
かも正確な測定値を得ることができる。
かも正確な測定値を得ることができる。
(b) クロミナンスの包絡線およびルミナンス波形
の所望時間位置のレベルを用いて計算するの
で、変調nT波形のクロミナンス信号が水平同
期信号に対して同期しているか否かに関係なく
利得および遅延の偏差を求めることができる。
の所望時間位置のレベルを用いて計算するの
で、変調nT波形のクロミナンス信号が水平同
期信号に対して同期しているか否かに関係なく
利得および遅延の偏差を求めることができる。
(c) デイジタル処理により自動測定する場合は、
６点のサンプリング分離器を取り込むだけでよ
いので回路構成が簡単になる。
６点のサンプリング分離器を取り込むだけでよ
いので回路構成が簡単になる。
(d) サンプリング点が少ないので自動測定による
測定時間が短くなる。
測定時間が短くなる。
第１図は正弦２乗パルスの波形図を示す、第２
図は分離されたルミナンス波形とクロミナンス波
形の包絡線波形の歪んだときの状態図を示す、第
３図はこの発明の一実施例のブロツク構成図を示
す、第４図は第３図の実施例の動作を説明するた
めの波形図を示す。 １は第１の波形分離器、２は第２の波形分離
器、３は検出器、４は標本化保持器、５はＡ−Ｄ
変換器、６は記憶装置、７は演算装置。
図は分離されたルミナンス波形とクロミナンス波
形の包絡線波形の歪んだときの状態図を示す、第
３図はこの発明の一実施例のブロツク構成図を示
す、第４図は第３図の実施例の動作を説明するた
めの波形図を示す。 １は第１の波形分離器、２は第２の波形分離
器、３は検出器、４は標本化保持器、５はＡ−Ｄ
変換器、６は記憶装置、７は演算装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 変調nTの被測定波形をクロミナンス波形と
最大レベルeLを有し該レベルeLの時間位置がtLで
あるルミナンス波形とに分離し、最大レベルecを
有し該レベルecの時間位置がtcである前記クロミ
ナンス波形の正負いずれか一方の包絡線を検出
し、前記ルミナンス波形および該包絡線から前記
被測定波形のベースライン幅τの1/2（半値幅）
に相当する間隔に位置するそれぞれの所望の時間
位置t1、t2のレベルeL1、eL2およびec1，ec2と前記
ルミナンス波形および該包絡線から前記ベースラ
イン幅τを除くところに位置するそれぞれの所定
の時間位置t3のレベルeL3およびec3を検出し、こ
れらのレベルを利用して下記(イ)又は(ロ)式あるいは
(イ)、(ロ)式の演算を行うことによりクロミナンス／
ルミナンス信号の利得偏差またはクロミナンス／
ルミナンス信号の遅延偏差もしくはクロミナン
ス／ルミナンス信号の利得偏差およびクロミナン
ス／ルミナンス信号の遅延偏差を測定する変調
nT波形のひずみ測定方法。 (イ) （ec−ec3）−（eL−eL3） ＝（ec1−ec3）＋（ec2−ec3） −（eL1−eL3）−（eL2−eL3） (ロ) tc−tL＝τ／πcos-1√（1−3）｛（
1−3）＋（2−3）｝ −τ／πcos-1√（L1−L3）｛（L1−L
3）＋（L2−L3）｝ ２ 変調nTの被測定波形から最大レベルeLを有
し該レベルeLの時間位置がtLであるルミナンス波
形を分離するための第１の波形分離器と；前記被
測定波形からクロミナンス波形を分離するための
第２の波形分離器と；該第２の波形分離器からの
クロミナンス波形を受領して最大レベルecを有し
該レベルecの時間位置がtcである該クロミナンス
波形の正負いずれか一方の包絡線を検出するため
の検出器と；前記第１の波形分離器および該検出
器のそれぞれの出力波形を受けて前記被測定波形
のベースライン幅τの1/2（半値幅）に相当する
間隔に位置するそれぞれの所望の時間位置t1，t2
のレベルと前記ベースライン幅τを除くところに
位置するそれぞれの所定の時間位置t3のレベルを
標本化保持するための標本化保持器と；該保持器
に保持された信号をデイジタル信号に変換するＡ
−Ｄ変換器と；該Ａ−Ｄ変換器の出力を受けて前
記第１の波形分離器からの出力波形の前記t1，t2
およびt3におけるレベルのデイジタル値EL1，EL2
およびEL3をそれぞれ記憶し、さらに前記検出器
からの出力波形の前記t1，t2およびt3におけるレ
ベルのデイジタル値Ec，Ec2およびEc3をそれぞ
れ記憶する記憶装置と；該記憶装置に蓄積された
デイジタル値を利用して(イ)及び(ロ)の条件で(ハ)式を
演算し、さらに(ニ)式の演算を行うための演算装置
とを備えた変調nT波形のひずみ測定装置。 (イ) （EL−EL3） ＝（EL1−EL2）＋（EL2−EL3） ELはルミナンス波形の最大レベルeLのデイジ
タル値 (ロ) （Ec−Ec3） ＝（Ec1−Ec3）＋（Ec2−Ec3） Ecはクロミナンス波形の包絡線の最大レベ
ルecのデイジタル値 (ハ) （Ec−Ec3）−（EL−EL3）＝（Ec1−Ec3）＋（Ec
2−Ec3）−（EL1−EL3）−（EL2−EL3） (ニ) tc−tL＝τ／πcos-1√（1−3）｛（
1−3）＋（2−3）｝ −τ／πcos-1√（L1−L3）｛（L1−L
3）＋（L2−L3）｝
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19055881A JPH0245399B2 (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | Henchonthakeinohizumisokuteihohooyobisochi |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19055881A JPH0245399B2 (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | Henchonthakeinohizumisokuteihohooyobisochi |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5894290A JPS5894290A (ja) | 1983-06-04 |
| JPH0245399B2 true JPH0245399B2 (ja) | 1990-10-09 |
Family
ID=16260063
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19055881A Expired - Lifetime JPH0245399B2 (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | Henchonthakeinohizumisokuteihohooyobisochi |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0245399B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4816897A (en) * | 1988-01-11 | 1989-03-28 | Tektronix, Inc. | Chrominance to luminance delay and gain measurement display |
-
1981
- 1981-11-30 JP JP19055881A patent/JPH0245399B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5894290A (ja) | 1983-06-04 |
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