Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPH0247035B2 - - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPH0247035B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0247035B2
JPH0247035B2 JP58183414A JP18341483A JPH0247035B2 JP H0247035 B2 JPH0247035 B2 JP H0247035B2 JP 58183414 A JP58183414 A JP 58183414A JP 18341483 A JP18341483 A JP 18341483A JP H0247035 B2 JPH0247035 B2 JP H0247035B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
terminal
high level
period
mosfet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP58183414A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS6076086A (en
Inventor
Toshiaki Hoshi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP58183414A priority Critical patent/JPS6076086A/en
Publication of JPS6076086A publication Critical patent/JPS6076086A/en
Publication of JPH0247035B2 publication Critical patent/JPH0247035B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はデコーダ回路に関する。[Detailed description of the invention] The present invention relates to a decoder circuit.

近年、半導体集積回路において、微細加工技術
に代表されるプロセス技術の高度な発達により素
子寸法は年々小さくなり、集積密度が高まり、1
チツプ内に収められる素子数は、今や7〜8万ト
ランジスタになろうとしている。この様に1チツ
プ内に収められる素子数が大規模になれば、Nチ
ヤンネルエンハンスメント/デプレツシヨン絶縁
ゲート型電界効果トランジスタ(以下MOSFET
と称する)で構成される集積回路においては、そ
の消費電力が膨大となり、チツプ内温度が高ま
り、素子に悪影響を及ぼす為、その消費電力を少
なくする回路的工夫が必要となつてくる。この消
費電力を低減させる為に取られる手段の一つに、
回路をダイナミツク構成とし、定常的に電源から
接地電位に電流が流れる通路をなくする事が一般
的であり、特に内蔵されるリード・オンリー・メ
モリー(以下ROMと称する)やランダム・アク
セス・メモリー(以下RAMと称する)のデコー
ダ回路をダイナミツク構成とする事は、ROM、
RAMがチツプ内に占める割合が大きいならば、
非常に有効である。又、RAMの中でも3つの
MOSFETを使つたダイナミツク型セルを用いる
RAMは、一回のデコードされた信号からリー
ド・ワード信号と、ライト・ワード信号の2つの
出力信号を出すデコーダ回路を必要とする為、特
にダイナミツク構成とする必要がある。
In recent years, in semiconductor integrated circuits, due to the advanced development of process technology represented by microfabrication technology, element dimensions have become smaller year by year, and integration density has increased.
The number of elements that can be housed within a chip is now on the verge of reaching 70,000 to 80,000 transistors. As the number of elements that can be accommodated on one chip increases in this way, N-channel enhancement/depletion insulated gate field effect transistors (hereinafter referred to as MOSFETs)
In integrated circuits that are composed of (referred to as ``chip''), their power consumption is enormous, and the internal temperature of the chip increases, which has an adverse effect on the elements, so it becomes necessary to devise circuitry to reduce the power consumption. One of the measures taken to reduce this power consumption is
It is common for circuits to have a dynamic configuration, eliminating the path through which current constantly flows from the power supply to the ground potential, especially for built-in read-only memory (hereinafter referred to as ROM) and random access memory (ROM). The dynamic configuration of the decoder circuit for ROM (hereinafter referred to as RAM) is
If RAM occupies a large proportion of the chip,
Very effective. Also, in RAM, there are three
Uses dynamic cell using MOSFET
Since RAM requires a decoder circuit that outputs two output signals, a read word signal and a write word signal, from a single decoded signal, it particularly needs to have a dynamic configuration.

この様なダイナミツク構成の2出力信号を持つ
デコーダ回路の従来例を第1図に示し、この回路
の各部の信号波形を第2図に示して説明する。
A conventional example of a decoder circuit having two output signals having such a dynamic configuration is shown in FIG. 1, and signal waveforms at various parts of this circuit are shown in FIG. 2 and will be explained.

第1図において、電源Vccは、プラス電源、ト
ランジスタは、NチヤンネルMOSFETを考える
と、MOSFET Mo+1はドレインを電源に接続し、
ソースを端子Aに接続してクロツク信号φ1をゲ
ート入力とし、φ1が高レベル(この場合電源Vcc
と同電位)の期間中に端子Aを(Vcc−VT)の
電位にプリチヤージする。(VTはMOSFETの閾
値電圧である。)この時、少なくともφ1が高レベ
ルの期間中は、MOSFET M0〜Moに電流が流れ
ない様にそのゲート入力であるアドレス信号A0
〜,Ao、及び0,〜,oの2(n+1)本の信
号は、全てVT以下の低レベルになつている。こ
の様にクロツク信号φ1の高レベル期間にプリチ
ヤージされた端子Aの電位は、前記クロツク信号
φ1と少なくとも高レベル(この場合VT以上)が
重複しないクロツク信号φ2が高レベルの期間中
に次の様に定まる。つまり、前記アドレス信号
A0,〜,Ao、及び,〜,oが活性化してA0
0といつた対となつたアドレス信号のどちらか
一方が高レベルとなり、M0,〜,Moの(n+
1)ケのMOSFETのゲート入力であるアドレス
信号がどれか一つ高レベルとなつたら、それをゲ
ート入力とするMOSFETは導通し、端子Aの電
位は低レベルとなる。これが非選択状態を表わ
す。(第2図のα1)又、逆に前記アドレス信号が
全て低レベルであるなら、M0,〜,Moの全ての
MOSFETは非導通となり端子Aの電位は、トラ
ンスフアゲートMo+5及び、Mo+5が導通して、チ
ヤージ・シエアを起して低められはするが、高レ
ベルを保つ。これが選択状態を表わす。(第2図
のα2)。M0,M1,…Mo,Mo+1のMOSFETから
構成されるデコーダ回路の直接デコード部は、電
源Vccから、接地電位に直接流れる電流がない為
消費電力が低減され、クロツクφ1、φ2でそれぞ
れプリチヤージ、デコードが繰返される。この
時、このデコーダ回路の直接の出力の一つであ
り、リード・ワード信号である端子Bの電位は先
のφ2の高レベル期間にトランスフアゲートMo+2
で端子Aの電位を読み込み、続くφ1の高レベル
期間に読み込んだ電位が高レベルならば、押し上
げ回路として働き、端子Bには高レベルが出力さ
れる(第2図β2)が、逆に読み込んだ電位が低レ
ベルならば、Mo+3は非導通であり前のφ2期間に
デイスチヤージした低レベルを端子Bは保つてい
る。(第2図のβ1)この時、ライト・ワード信号
の方の流れを見ると、リード・ワード信号と同時
期のφ2の高レベルの期間に端子Aよりトランス
フアゲートMo+5を通して読み込まれたデコード
信号は、Mo+6のデプレツシヨンMOSFETと
Mo+7のエンハンスメントMOSFETとによつて構
成されたインバータを通して、リード・ワード信
号が出力されている次のφ1が高レベルの期間中
にトランスフアゲートMo+8を通じてMo+9のデプ
レツシヨンMOSFETとMo+10のエンハンスメン
トMOSFETで構成されるインバータに入力され
ラツチされ、先のリード・ワード信号が出た次の
φ2の高レベル期間に、前のφ2の高レベル期間に
端子Aが選択されているならば、Mo+12は導通し
て、高レベルを出力し、第2図のγ2非選択なら
ば、Mo+12は非導通で前のφ1の期間にデイスチヤ
ージした低レベルを端子Eのライト・ワード信号
は保つている。(第2図のγ1)以上説明した様に
この従来の回路は、あるφ2の高レベル期間にア
ドレス信号をデコードした信号が次に続くφ1
高レベル期間にリード・ワード信号Bとして出力
され、且つ次のφ2の高レベル期間にライト・ワ
ード信号Eとして出力されるが、このライト・ワ
ード信号を出力している同じφ2の期間にはもつ
次のアドレスがM0,…Mo+1の直接デコード部で
デコードされており、時間的高効率化を計り、高
速化を達し易い回路であるが、反面、ライト・ワ
ード信号系が、φ2,φ1と2回のラツチをし、そ
れぞれ、デプレツシヨン、エンハントメントで構
成しているインバータを使用している為、この部
分はどちらかのインバータの出力が低レベルとな
り、電源から接地電位へ電流を流しており、M0
…,Mo+1で構成する直接デコード部をダイナミ
ツク構成にして、消費電力の低減を計つているに
も係わらず、消費電力を増加させているという欠
点があつた。加えると、Mo+2,Mo+5の2つのト
ランスフアゲートにより、端子Aより信号を読み
込んでいる為、選択された時の端子Aと他の
Mo+3,Mo+7のMOSFETゲート容量との間のチ
ヤージ・シユアの割合が大きく、高レベルの低下
を招き、しいては、Mo+3のGnを下げ、端子Bの
リード・ワード信号の高レベル出力スピードの低
下を招くといつた欠点も有していた。
In Figure 1, the power supply Vcc is a positive power supply, and considering that the transistor is an N-channel MOSFET, the drain of MOSFET M o+1 is connected to the power supply,
The source is connected to terminal A, the clock signal φ 1 is input to the gate, and φ 1 is at a high level (in this case, the power supply Vcc
Terminal A is precharged to the potential of (Vcc - V T ) during the period of the same potential as (Vcc - V T ). (V T is the threshold voltage of the MOSFET.) At this time, at least while φ 1 is at a high level, the address signals A 0 , which are the gate inputs of the MOSFETs M 0 to M o , are used to prevent current from flowing through the MOSFETs M 0 to M o.
The 2 (n+1) signals ~, A o and 0 , ~, o are all at a low level below V T . In this way, the potential of the terminal A precharged during the high level period of the clock signal φ1 is at least the same as that of the clock signal φ1 during the high level period of the clock signal φ2 , which does not overlap in high level (in this case, higher than V T ). is determined as follows. In other words, the address signal
A 0 , ~, A o , and ~, o are activated and A 0 ,
One of the paired address signals with A 0 becomes high level, and the ( n +
1) If one of the address signals that are the gate inputs of the two MOSFETs becomes high level, the MOSFETs that use that as gate input become conductive, and the potential of terminal A becomes low level. This represents the non-selected state. (α 1 in Figure 2) Conversely, if all the address signals are at low level, all of M 0 , ~, M o
The MOSFET becomes non-conductive and the potential at terminal A remains at a high level, although the transfer gates M o+5 and M o+5 become conductive and are lowered due to charge shear. This represents the selected state. (α 2 in Figure 2). The direct decoding section of the decoder circuit, which is composed of MOSFETs M 0 , M 1 , ...M o , M o+1, reduces power consumption because there is no current flowing directly from the power supply Vcc to the ground potential. , φ2 , precharging and decoding are repeated, respectively. At this time, the potential of terminal B, which is one of the direct outputs of this decoder circuit and is a read word signal, is transferred to transfer gate M o+2 during the high level period of φ 2 .
reads the potential of terminal A, and if the read potential during the subsequent high level period of φ 1 is high level, it works as a push-up circuit and a high level is output to terminal B (β 2 in Fig. 2 ), but the reverse is true. If the potential read in is low level, M o+3 is non-conductive and terminal B maintains the low level discharged during the previous φ 2 period. (β 1 in Figure 2) At this time, looking at the flow of the write word signal, it is read from terminal A through transfer gate M o+5 during the high level period of φ 2 at the same time as the read word signal. The decoded signal is sent to the M o+6 depletion MOSFET.
M o+9 is depleted through the transfer gate M o+8 during the next period when φ1 is at high level while the read word signal is being output through the inverter configured by the M o+7 enhancement MOSFET. It is input to an inverter consisting of a MOSFET and an enhancement MOSFET of M o+10 and is latched, and during the high level period of φ 2 following the output of the previous read word signal, and during the high level period of the previous φ 2 . is selected, M o+12 conducts and outputs a high level; if γ 2 in FIG . The write word signal at terminal E remains at the low level. (γ 1 in Figure 2) As explained above, in this conventional circuit, the signal decoded from the address signal during a certain high level period of φ 2 is used as the read word signal B during the next high level period of φ 1 . It is output as a write word signal E during the next high level period of φ 2 , but during the same period of φ 2 in which this write word signal is output, the next address held is M 0 ,... The circuit is decoded by the direct decoding section of M o+1 , and is designed to achieve high time efficiency and is easy to achieve high speed. However, on the other hand, the write word signal system is Since the inverters are latched and each consists of depletion and enhancement, the output of either inverter is at a low level in this part, and current flows from the power supply to the ground potential, causing M 0
Although the direct decoding section consisting of ..., M o+1 has a dynamic configuration to reduce power consumption, it has the disadvantage of increasing power consumption. In addition, since the two transfer gates M o+2 and M o+5 read the signal from terminal A, the terminal A when selected and the other
The rate of charge/shuar between MOSFET gate capacitance of M o+3 and M o+7 is large, leading to a high level drop, which in turn lowers G n of M o+3 and leads to terminal B.・It also had the drawback of causing a decrease in the high-level output speed of word signals.

本発明は、前述した従来例の欠点に鑑みてなさ
れたもので前記の様な欠点のない高速で、低消費
電力の二つの出力信号を持つデコーダ回路を提供
する事を目的とする。
The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks of the conventional example, and it is an object of the present invention to provide a high-speed decoder circuit having two output signals with low power consumption and without the above-mentioned drawbacks.

本発明によれば、ある期間に選択された第一の
信号からそれぞれ異なる期間に出力する第二及び
第三の信号を発生するデコーダ回路において、前
記第二、第三の信号のうち、先に出力される第二
の信号をゲート入力とし、ドレインを第一の電源
に接続し、ソースを第一の端子に接続した第一の
MOSFETと、前記第二の信号とは、異なる出力
期間をもつ第四の信号をゲート入力とし、ドレイ
ンを第一の端子に接続した第2のMOSFETから
少なくとも構成して第二の信号をラツチし、第三
の信号を出力する事を特徴としたデコーダ回路が
得られる。
According to the present invention, in a decoder circuit that generates second and third signals output in different periods from a first signal selected in a certain period, one of the second and third signals is selected first. The second output signal is the gate input, the drain is connected to the first power supply, and the source is connected to the first terminal.
The MOSFET and the second signal are configured by at least a second MOSFET whose gate input is a fourth signal having a different output period and whose drain is connected to the first terminal to latch the second signal. , a decoder circuit characterized by outputting a third signal is obtained.

本発明の一実施例を示し、図面を用いて詳細に
説明する。
An embodiment of the present invention will be shown and explained in detail using the drawings.

第3図は、本発明の一実施例を示す回路図であ
り、第4図は、第3図に示した回路の各部の信号
波形を示している。第3図のMOSFET,MA0
…MAo+1によつて構成されるアドレス信号A0
〜Ao又は0,〜,oのいずれか(n+1)本に
ゲート入力とする直接デコード部は従来例と同じ
である。端子aよりデコードした信号をMAo+2
のトランスフアゲートを介してφ2で読み込み、
次のφ1の期間に端子bにリード・ワード信号と
して、選択された場合に高レベルを出力し、非選
択の場合には、前のφ2の期間にデイスチヤージ
された低レベルを保つのは同じであるが、ライ
ト・ワード信号系への端子aからの読み込みトラ
ンスフアゲートが存在しない為、端子aの選択さ
れた場合の高レベルのチヤージ・シエアが
MAo+3のゲート容量のみで、その割合が小さく、
さほど高レベルの低下を招かず、MAo+3のGmを
高め、端子bに高レベルを出力するスピードが速
くなるという利点を有する。
FIG. 3 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 4 shows signal waveforms at various parts of the circuit shown in FIG. MOSFET in Figure 3, MA 0 ,
...Address signal A 0 configured by MA o+1 ,
The direct decoding section which inputs gates to any (n+1) of ~A o or 0 , ~, o is the same as the conventional example. The signal decoded from terminal a is MA o+2
Load at φ 2 through the transfer gate of
It outputs a high level as a read word signal to terminal b during the next φ 1 period, if selected, and maintains the low level discharged in the previous φ 2 period if not selected. However, since there is no read transfer gate from terminal a to the write word signal system, the high level charge share when terminal a is selected is
Only the gate capacitance of MA o+3 , its proportion is small,
This has the advantage of increasing the Gm of MA o+3 without causing a significant drop in the high level, and increasing the speed of outputting the high level to terminal b.

ライト・ワード信号系を説明するとφ1の期間
に端子bに出力された信号をゲート入力とし、ド
レインを電源VccとしたMOSFET MAo+5によつ
て端子bに選択された高レベル信号が出力された
場合には端子Cに(Vcc−VT)の高レベルをφ1
の期間に出力して、MAo+8を導通させてラツチ
して、続くφ2の期間に端子dにライト・ワード
信号として高レベルを出力する。
To explain the write word signal system, the signal output to terminal b during the period of φ 1 is the gate input, and the high level signal selected by MOSFET MA o+5 whose drain is the power supply Vcc is output to terminal b. In this case, a high level of (Vcc - V T ) is applied to terminal C.
MA o+8 is made conductive and latched, and a high level is output as a write word signal to terminal d during the following period φ 2 .

又、逆に端子bに非選択の低レベルがφ1の期
間保たれた場合には、MAo+5は非導通で、且つ、
φ2とほぼ同じだが、高レベルの後半が延長され
たクロツク信号φpをゲート入力としたMAo+6
よつて先にデイスチヤージされた低レベルを保
ち、このレベルがMAo+7のトランスフアゲート
によりラツチされ、MAo+8は非導通となり、端
子dには先のφ1の期間にデイスチヤージした低
レベルが保たれる。以上述べた様に本発明では、
デプレツシヨンMOSFETは使われておらず、わ
ずかにφ1とφpの両方が高レベルの期間に選択さ
れた端子bの信号を入力とするMAo+5とMAo+6
とを通じて電流を流れる場合が、2n+1ケのデコー
ダのうち、1ケ存在するのみであり、従来に比べ
大巾に消費電力の低減がはかられた事が理解され
るだろう。
Conversely, if the non-selected low level is maintained at terminal b for a period of φ1 , MA o+5 is non-conductive, and
It is almost the same as φ 2 , but the second half of the high level is extended, and the low level previously discharged by MA o+6 with the gate input of clock signal φ p is maintained, and this level is transferred to MA o+7. Latched by the agate, MA o+8 becomes non-conductive, and the low level discharged during the previous period φ1 is maintained at the terminal d. As mentioned above, in the present invention,
The depletion MOSFET is not used, and MA o+5 and MA o+6 input the selected terminal b signal while both φ 1 and φ p are at high level.
There is only one case out of 2 n+1 decoders in which current flows through the decoder, and it will be understood that power consumption has been significantly reduced compared to the conventional decoder.

この様に本発明によれば、低消費電力にして高
速な異なる出力期間を持つ二つの出力信号を用え
たデコーダ回路を得る事が出来る。
As described above, according to the present invention, it is possible to obtain a decoder circuit using two output signals having different output periods with low power consumption and high speed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来の二出力デコーダ回路の一例を示
す図である。第2図は第1図に示した従来回路の
各端子の波形図である。第3図は本発明の一例で
ある二出力デコーダ回路を示す図である。第4図
は第3図に示した本発明であるデコーダ回路の各
端子の波形図である。 M0〜Mo+5,Mo+7,Mo+8,Mo+10〜Mo+13
MA0〜MAo+9……エンハンメント・トランジス
タである。Mo+6,Mo+9……デプレツシヨン・ト
ランジスタである。
FIG. 1 is a diagram showing an example of a conventional two-output decoder circuit. FIG. 2 is a waveform diagram of each terminal of the conventional circuit shown in FIG. FIG. 3 is a diagram showing a two-output decoder circuit as an example of the present invention. FIG. 4 is a waveform diagram of each terminal of the decoder circuit according to the present invention shown in FIG. M 0 ~ M o +5 , M o +7 , M o +8 , M o +10 ~ M o +13 ,
MA 0 to MA o+9 ... enhancement transistors. M o+6 , M o+9 ... depletion transistors.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 ある期間に選択された第一の信号からそれぞ
れ異なる期間に第二の及び第三の信号を順次発生
するデコーダ回路において、前記第二の信号をゲ
ート入力とし、第一の電源と第一の端子間に接続
した第一の絶縁ゲート型電界効果トランジスタ
(以下MOSFETと称する)と、前記第二の信号
とは異なる出力期間をもつ第4の信号をゲート入
力とし、第一の端子に接続した第2のMOSFET
とを有し第二の信号をラツチし、第三の信号を出
力することを特徴としたデコーダ回路。
1. In a decoder circuit that sequentially generates second and third signals in different periods from a first signal selected in a certain period, the second signal is used as a gate input, and the first power supply and the first signal are connected to each other. A first insulated gate field effect transistor (hereinafter referred to as MOSFET) connected between the terminals and a fourth signal having an output period different from the second signal as the gate input and connected to the first terminal. Second MOSFET
A decoder circuit comprising: latching a second signal and outputting a third signal.
JP58183414A 1983-09-30 1983-09-30 Decoder circuit Granted JPS6076086A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58183414A JPS6076086A (en) 1983-09-30 1983-09-30 Decoder circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58183414A JPS6076086A (en) 1983-09-30 1983-09-30 Decoder circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6076086A JPS6076086A (en) 1985-04-30
JPH0247035B2 true JPH0247035B2 (en) 1990-10-18

Family

ID=16135357

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58183414A Granted JPS6076086A (en) 1983-09-30 1983-09-30 Decoder circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6076086A (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6076086A (en) 1985-04-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS61294699A (en) Cmos transistor circuit
KR950010621B1 (en) Semiconductor memory
US4692638A (en) CMOS/NMOS decoder and high-level driver circuit
JPH06237164A (en) Semiconductor integrated circuit having power reduction mechanism and electronic device using same
JPH0786916A (en) Semiconductor integrated circuit
JPS61175995A (en) Precharge clock signal generation circuit
KR980011453A (en) Output buffer circuit
JPS6226604B2 (en)
JP3255159B2 (en) Semiconductor integrated circuit
KR0136894B1 (en) Buffer circuit of a semiconductor memory device
JPH0247035B2 (en)
JP3255158B2 (en) Semiconductor integrated circuit
JP2003298410A (en) Semiconductor integrated circuit
JP3224712B2 (en) Logic & level conversion circuit and semiconductor device
JPS6322396B2 (en)
JPH07262781A (en) Semiconductor integrated circuit
JPS6218993B2 (en)
JPH0783062B2 (en) Master-slice type semiconductor device
JPS58146090A (en) CMOS type decoder circuit
JPH0777344B2 (en) Output buffer circuit
JPS61112428A (en) Semiconductor integrated circuit device
JPS60136418A (en) Semiconductor integrated circuit device
JP2786128B2 (en) Decoder circuit
JPS61270921A (en) Decoder circuit
US6225828B1 (en) Decoder for saving power consumption in semiconductor device