JPH0325740B2 - - Google Patents
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- JPH0325740B2 JPH0325740B2 JP56095759A JP9575981A JPH0325740B2 JP H0325740 B2 JPH0325740 B2 JP H0325740B2 JP 56095759 A JP56095759 A JP 56095759A JP 9575981 A JP9575981 A JP 9575981A JP H0325740 B2 JPH0325740 B2 JP H0325740B2
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- Japan
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- signal
- image signal
- inspected
- level
- circuit
- Prior art date
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/04—Sorting according to size
- B07C5/12—Sorting according to size characterised by the application to particular articles, not otherwise provided for
- B07C5/122—Sorting according to size characterised by the application to particular articles, not otherwise provided for for bottles, ampoules, jars and other glassware
- B07C5/126—Sorting according to size characterised by the application to particular articles, not otherwise provided for for bottles, ampoules, jars and other glassware by means of photo-electric sensors, e.g. according to colour
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F16—ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
- F16H—GEARING
- F16H61/00—Control functions within control units of change-speed- or reversing-gearings for conveying rotary motion ; Control of exclusively fluid gearing, friction gearing, gearings with endless flexible members or other particular types of gearing
- F16H61/14—Control of torque converter lock-up clutches
- F16H61/143—Control of torque converter lock-up clutches using electric control means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07C—TIME OR ATTENDANCE REGISTERS; REGISTERING OR INDICATING THE WORKING OF MACHINES; GENERATING RANDOM NUMBERS; VOTING OR LOTTERY APPARATUS; ARRANGEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS FOR CHECKING NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- G07C3/00—Registering or indicating the condition or the working of machines or other apparatus, other than vehicles
- G07C3/14—Quality control systems
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F16—ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
- F16H—GEARING
- F16H45/00—Combinations of fluid gearings for conveying rotary motion with couplings or clutches
- F16H45/02—Combinations of fluid gearings for conveying rotary motion with couplings or clutches with mechanical clutches for bridging a fluid gearing of the hydrokinetic type
- F16H2045/0273—Combinations of fluid gearings for conveying rotary motion with couplings or clutches with mechanical clutches for bridging a fluid gearing of the hydrokinetic type characterised by the type of the friction surface of the lock-up clutch
- F16H2045/0294—Single disk type lock-up clutch, i.e. using a single disc engaged between friction members
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- Mechanical Engineering (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、物品等の検査装置、特にテレビカメ
ラ等を用いて移動する製品等を自動的に検査する
検査装置に関するものである。
ラ等を用いて移動する製品等を自動的に検査する
検査装置に関するものである。
近年、部品や製品等の検査は、人による目視検
査から、フオトセンサやテレビカメラ等を利用し
た画像信号処理による自動検査に係り、検査工程
の省力化、更には無人化の方向に進んでいる。
査から、フオトセンサやテレビカメラ等を利用し
た画像信号処理による自動検査に係り、検査工程
の省力化、更には無人化の方向に進んでいる。
物品等の製造工程が高速化されつつある現在で
は、かゝる製品検査工程も、この高速化に対応す
ることが要求される。
は、かゝる製品検査工程も、この高速化に対応す
ることが要求される。
例えば、ベルトコンベア上を高速で流れている
製品を、テレビカメラを用いて検査する装置が、
既に提案されている。かゝる装置に於ては、照明
装置として、例えばストロボスコープを用い、製
品を短時間照射し、製品を静止画像としてテレビ
カメラの撮像面上に捉え、これよりの画像信号を
処理して、製品の検査を行つている。
製品を、テレビカメラを用いて検査する装置が、
既に提案されている。かゝる装置に於ては、照明
装置として、例えばストロボスコープを用い、製
品を短時間照射し、製品を静止画像としてテレビ
カメラの撮像面上に捉え、これよりの画像信号を
処理して、製品の検査を行つている。
テレビカメラで製品等を検査する場合は、通常
製品等を照明することが必要である。この照明方
法としては、反射照明や透過照明方法等の種々の
照明方法があるが、テレビカメラ等を用いて製品
等を正確に検査するには、製品等の照明の光量が
一定であることが、大切な要件である。
製品等を照明することが必要である。この照明方
法としては、反射照明や透過照明方法等の種々の
照明方法があるが、テレビカメラ等を用いて製品
等を正確に検査するには、製品等の照明の光量が
一定であることが、大切な要件である。
仮に、照明用の光源の光量が一定であつても、
製品等により反射又は製品等を透過してテレビカ
メラに入射する光の量が一定でなければ、正確な
検査は期待できない。例えば、反射照明の場合、
光源の光量が一定でも、被照射物品の地色によつ
て、反射する光の量が異なる。一方、透過照明の
場合、その光源の光量が一定でも、例えばガラス
ビンの検査（ビン底、ビン側面）では、着色ビン
の色むらによつて、透過光の量が異つてしまう。
従来の装置では、テレビカメラに入射する光の量
の変化に対する対策の施されているものはなく、
従つて、かゝる場合、正確な物品の検査が期待で
きない。
製品等により反射又は製品等を透過してテレビカ
メラに入射する光の量が一定でなければ、正確な
検査は期待できない。例えば、反射照明の場合、
光源の光量が一定でも、被照射物品の地色によつ
て、反射する光の量が異なる。一方、透過照明の
場合、その光源の光量が一定でも、例えばガラス
ビンの検査（ビン底、ビン側面）では、着色ビン
の色むらによつて、透過光の量が異つてしまう。
従来の装置では、テレビカメラに入射する光の量
の変化に対する対策の施されているものはなく、
従つて、かゝる場合、正確な物品の検査が期待で
きない。
従つて、本発明の主目的は、テレビカメラに入
射する被検査物品よりの光量が、仮え個々の物品
で異つても、各物品を正確且つ確実に検査し得る
検査装置を提供せんとするものである。
射する被検査物品よりの光量が、仮え個々の物品
で異つても、各物品を正確且つ確実に検査し得る
検査装置を提供せんとするものである。
本発明の要旨とするところは、移動する被検査
物品が被検査位置に到達する毎に、位置検出装置
によりこれを検出して位置検出信号を発生し、該
位置検出信号により光源を駆動し被検査位置に到
達した上記被検査物品に光を短時間照射し、該照
射された被検査物品をテレビカメラで静止画像と
して捉え、該テレビカメラよりの画像信号を検査
回路に於て処理して被検査物品の良否を検査する
検査装置に於て、画像信号及び位置検出信号に基
づいて、画像信号の第１番目のフレーム期間の信
号レベルに対応したレベルの制御信号と、画像信
号の第２番目のフレーム期間有効となるイネーブ
ル信号とを発生する信号処理発生回路９を設け、
制御信号及びイネーブル信号を検査回路１０に供
給して、当該検査回路を画像信号の第２番目のフ
レーム期間作動させると共に、画像信号の第２番
目のフレーム期間の信号レベルと、検査回路の基
準電圧レベルとが所定の相対関係を維持するよう
に制御する検査装置である。
物品が被検査位置に到達する毎に、位置検出装置
によりこれを検出して位置検出信号を発生し、該
位置検出信号により光源を駆動し被検査位置に到
達した上記被検査物品に光を短時間照射し、該照
射された被検査物品をテレビカメラで静止画像と
して捉え、該テレビカメラよりの画像信号を検査
回路に於て処理して被検査物品の良否を検査する
検査装置に於て、画像信号及び位置検出信号に基
づいて、画像信号の第１番目のフレーム期間の信
号レベルに対応したレベルの制御信号と、画像信
号の第２番目のフレーム期間有効となるイネーブ
ル信号とを発生する信号処理発生回路９を設け、
制御信号及びイネーブル信号を検査回路１０に供
給して、当該検査回路を画像信号の第２番目のフ
レーム期間作動させると共に、画像信号の第２番
目のフレーム期間の信号レベルと、検査回路の基
準電圧レベルとが所定の相対関係を維持するよう
に制御する検査装置である。
以下、図面を参照して本発明による物品等の検
査装置の一例を説明する。
査装置の一例を説明する。
第１図は、本発明によるテレビカメラの如き光
電変換手段を用いて物品等を検査する検査装置の
全体の略線的系統図である。同図に於て、１はベ
ルトコンベアで、その上を、例えばガラスビンの
如き被検査物品２が矢印A1方向に、高速で流れ
ている。３はストロボスコープの如き被検査物
品、例えばビン２を照明する光源で、それよりの
光は、光拡散板４を介して検査位置に到達したビ
ン２を照明する。５及び６は、例えば受光器及び
発光器で、ビン２が被検査位置に到達したことを
検出する位置検出装置を構成する。ビン２が被検
査位置に到達すると、受光器５は、位置検出信号
を発生し、それをストロボスコープ３の駆動装置
７に供給する。従つて、ビン２が被検査位置に到
達する毎に、ストロボスコープ３は、駆動装置７
によつて点灯され、閃光を発生する。ビン２が被
検査位置に到達し、ストロボスコープ３が点灯
し、ビン２が短時間照明されると、光電変換手段
としてのテレビカメラ８が、ビン２を静止画像と
して捉える。このテレビカメラ８よりの画像信号
を、信号処理発生回路９を介して、検査回路１０
に供給し、そこで画像信号を処理して、ビンの如
き被検査物品２のキズ、ヨゴレ等の有無を検査す
る。尚、信号処理発生回路９よりの画像信号を、
モニターテレビ１１に供給して、ビン２を目視し
得るようにしてもよい。尚、１２は警報発生装置
で、これは、ビン２が異常な場合、例えばキズ、
ヨゴレ等がビン２にある場合、検査回路１０が発
生する出力信号を受け、音、或はランプの点灯の
如き警報を発生する。
電変換手段を用いて物品等を検査する検査装置の
全体の略線的系統図である。同図に於て、１はベ
ルトコンベアで、その上を、例えばガラスビンの
如き被検査物品２が矢印A1方向に、高速で流れ
ている。３はストロボスコープの如き被検査物
品、例えばビン２を照明する光源で、それよりの
光は、光拡散板４を介して検査位置に到達したビ
ン２を照明する。５及び６は、例えば受光器及び
発光器で、ビン２が被検査位置に到達したことを
検出する位置検出装置を構成する。ビン２が被検
査位置に到達すると、受光器５は、位置検出信号
を発生し、それをストロボスコープ３の駆動装置
７に供給する。従つて、ビン２が被検査位置に到
達する毎に、ストロボスコープ３は、駆動装置７
によつて点灯され、閃光を発生する。ビン２が被
検査位置に到達し、ストロボスコープ３が点灯
し、ビン２が短時間照明されると、光電変換手段
としてのテレビカメラ８が、ビン２を静止画像と
して捉える。このテレビカメラ８よりの画像信号
を、信号処理発生回路９を介して、検査回路１０
に供給し、そこで画像信号を処理して、ビンの如
き被検査物品２のキズ、ヨゴレ等の有無を検査す
る。尚、信号処理発生回路９よりの画像信号を、
モニターテレビ１１に供給して、ビン２を目視し
得るようにしてもよい。尚、１２は警報発生装置
で、これは、ビン２が異常な場合、例えばキズ、
ヨゴレ等がビン２にある場合、検査回路１０が発
生する出力信号を受け、音、或はランプの点灯の
如き警報を発生する。
次に、第２図を参照して、本発明の主たる構成
要素である信号処理発生回路９の一例を詳細に説
明する。第２図に於て、１３は、信号処理発生回
路９の入力端子で、この入力端子１３に、テレビ
カメラ８よりの画像信号が供給される。この入力
端子１３に入力された画像信号は、抵抗器１４及
び１５を介して、オペアンプ１６及び１７に夫々
供給される。一方のオペアンプ１６は、抵抗器１
４及び１８の存在により、供給される画像信号
を、僅かに増巾する。何故ならば、本発明に於て
は、後述の如く、ストロボスコープ３の発生する
閃光により被検査物品であるビン２を、テレビカ
メラ８が静止画像として捉え、その後テレビカメ
ラ８より発生する第１番目のフレーム期間の画像
信号を、被検査物品であるビン２の検査時の光量
測定に使用し、その後、テレビカメラ８の撮像面
の残像による第２番目のフレーム期間の画像信号
を、ビン２の実際の検査に使用するもので、残像
画像より得られる第２番目のフレーム期間の画像
信号のレベルは、最初のフレーム期間の画像信号
のレベルより低いからである。このレベル低下の
度合は、テレビカメラ８が使用する電子撮像管の
種類によつて異なるが、例えばビデイコン管の場
合は、２番目のフレーム期間の画像信号のレベル
は、１番目のフレーム期間の画像信号のレベルの
約70％程度である。従つて、オペアンプ１６は、
２番目のフレームの画像信号のレベルを回復する
に供するものである。例えば、ビデイコン管を使
用している場合は、オペアンプ１６は画像信号
を、約1.4倍程度増巾する。オペアンプ１６より
の画像信号は、バツフア１９を介して、信号処理
発生回路９の出力端子２０に送られる。この出力
端子２０は、後に詳述する検査回路１０の入力端
子２１に接続されている。
要素である信号処理発生回路９の一例を詳細に説
明する。第２図に於て、１３は、信号処理発生回
路９の入力端子で、この入力端子１３に、テレビ
カメラ８よりの画像信号が供給される。この入力
端子１３に入力された画像信号は、抵抗器１４及
び１５を介して、オペアンプ１６及び１７に夫々
供給される。一方のオペアンプ１６は、抵抗器１
４及び１８の存在により、供給される画像信号
を、僅かに増巾する。何故ならば、本発明に於て
は、後述の如く、ストロボスコープ３の発生する
閃光により被検査物品であるビン２を、テレビカ
メラ８が静止画像として捉え、その後テレビカメ
ラ８より発生する第１番目のフレーム期間の画像
信号を、被検査物品であるビン２の検査時の光量
測定に使用し、その後、テレビカメラ８の撮像面
の残像による第２番目のフレーム期間の画像信号
を、ビン２の実際の検査に使用するもので、残像
画像より得られる第２番目のフレーム期間の画像
信号のレベルは、最初のフレーム期間の画像信号
のレベルより低いからである。このレベル低下の
度合は、テレビカメラ８が使用する電子撮像管の
種類によつて異なるが、例えばビデイコン管の場
合は、２番目のフレーム期間の画像信号のレベル
は、１番目のフレーム期間の画像信号のレベルの
約70％程度である。従つて、オペアンプ１６は、
２番目のフレームの画像信号のレベルを回復する
に供するものである。例えば、ビデイコン管を使
用している場合は、オペアンプ１６は画像信号
を、約1.4倍程度増巾する。オペアンプ１６より
の画像信号は、バツフア１９を介して、信号処理
発生回路９の出力端子２０に送られる。この出力
端子２０は、後に詳述する検査回路１０の入力端
子２１に接続されている。
他方のオペアンプ１７は、抵抗器１５及びコン
デンサ２２と共に積分回路を構成し、画像信号を
平滑する。オペアンプ１７によつて平滑化された
画像信号S1を、コンパレータ２３、ナンドゲート
２４，２５及びサンプルホールド回路２６を介し
て、検査回路１０の動作を制御する制御信号（後
述）を形成する。この制御信号を、バツフア２７
を介して、信号処理発生回路９の出力端子２８に
送給する。この出力端子２８は、検査回路１０の
制御信号の入力端子２９に接続されている。
デンサ２２と共に積分回路を構成し、画像信号を
平滑する。オペアンプ１７によつて平滑化された
画像信号S1を、コンパレータ２３、ナンドゲート
２４，２５及びサンプルホールド回路２６を介し
て、検査回路１０の動作を制御する制御信号（後
述）を形成する。この制御信号を、バツフア２７
を介して、信号処理発生回路９の出力端子２８に
送給する。この出力端子２８は、検査回路１０の
制御信号の入力端子２９に接続されている。
こゝで、第３図Ａ及びＢを参照して、上述の制
御信号の形成動作を説明する。尚第３図Ａに於て
は、ナンドゲート２４，２５は省略されている
が、２個のナンドゲート２４，２５を除いたの
で、サンプルホールド回路２６のコントロールロ
ジツクは、第２図の場合と同一である。コンパレ
ータ２３よりのサンプルホールド回路２６のコン
トロールロジツクは、“１”でサンプルモード、
“０”でホールドモードとする。オペアンプ１７
よりの平滑された画像信号S1がコンパレータ２３
の一方の入力端子に供給され、その他の入力端子
に、サンプルホールド回路２６の出力信号が供給
される。この時、画像信号S1がサンプルホールド
回路２６の出力信号より大であれば、サンプルホ
ールド回路２６に供給されるコンパレータ２３の
出力ロジツク（OL）は、“１”となるので、サン
プルホールド回路２６はサンプルモードとなる
が、コンパレータ２３に供給される画像信号S1
が、サンプルホールド回路２６の出力より小であ
ると、コンパレータ２３の出力ロジツク（OL）
は、“０”となり、サンプルホールド回路２６は
ホールドモードとなるので、前のアナログ入力画
像信号S1が、そのまゝサンプルホールド回路２６
内に保持される。次に、コンパレータ２３の一方
の入力端子への入力画像信号S1が、その他方の入
力端子へのサンプルホールド回路２６の出力より
大となれば、サンプルホールド回路２６は、再び
画像信号S1のサンプルを始める。即ち、第３図Ｂ
に示す如く、サンプルホールド回路２６は入力画
像信号S1の最初のビークレベルａでホールドモー
ドに入り、次の画像信号S1のレベルａより高いレ
ベルでサンプルモードに成り、次に信号S1のピー
クレベルａより高いピークレベルｂで、再びホー
ルドモードとなる。従つて、このサンプルホール
ド回路２６は、ピークホールドの機能を有する。
即ち、入力端子１３に供給された画像信号を、オ
ペアンプ１７で平滑し、コンパレータ２３及びサ
ンプルホールド回路２６等で、平滑された画像信
号S1のピークレベルを検知し、ホールドし、これ
を制御信号として、バツフア２７を介し、更に出
力端子２８を通じて、検査回路１０の入力端子２
９へ供給する。
御信号の形成動作を説明する。尚第３図Ａに於て
は、ナンドゲート２４，２５は省略されている
が、２個のナンドゲート２４，２５を除いたの
で、サンプルホールド回路２６のコントロールロ
ジツクは、第２図の場合と同一である。コンパレ
ータ２３よりのサンプルホールド回路２６のコン
トロールロジツクは、“１”でサンプルモード、
“０”でホールドモードとする。オペアンプ１７
よりの平滑された画像信号S1がコンパレータ２３
の一方の入力端子に供給され、その他の入力端子
に、サンプルホールド回路２６の出力信号が供給
される。この時、画像信号S1がサンプルホールド
回路２６の出力信号より大であれば、サンプルホ
ールド回路２６に供給されるコンパレータ２３の
出力ロジツク（OL）は、“１”となるので、サン
プルホールド回路２６はサンプルモードとなる
が、コンパレータ２３に供給される画像信号S1
が、サンプルホールド回路２６の出力より小であ
ると、コンパレータ２３の出力ロジツク（OL）
は、“０”となり、サンプルホールド回路２６は
ホールドモードとなるので、前のアナログ入力画
像信号S1が、そのまゝサンプルホールド回路２６
内に保持される。次に、コンパレータ２３の一方
の入力端子への入力画像信号S1が、その他方の入
力端子へのサンプルホールド回路２６の出力より
大となれば、サンプルホールド回路２６は、再び
画像信号S1のサンプルを始める。即ち、第３図Ｂ
に示す如く、サンプルホールド回路２６は入力画
像信号S1の最初のビークレベルａでホールドモー
ドに入り、次の画像信号S1のレベルａより高いレ
ベルでサンプルモードに成り、次に信号S1のピー
クレベルａより高いピークレベルｂで、再びホー
ルドモードとなる。従つて、このサンプルホール
ド回路２６は、ピークホールドの機能を有する。
即ち、入力端子１３に供給された画像信号を、オ
ペアンプ１７で平滑し、コンパレータ２３及びサ
ンプルホールド回路２６等で、平滑された画像信
号S1のピークレベルを検知し、ホールドし、これ
を制御信号として、バツフア２７を介し、更に出
力端子２８を通じて、検査回路１０の入力端子２
９へ供給する。
次に、第４図Ａ乃至Ｆの波形図を参照して、ナ
ンドゲート２４及び２５の動作を説明する。第４
図Ａは、テレビカメラ８よりの画像信号（PS）
の２フレーム分を示す。第２番目のフレームの画
像信号S12は、前述の如く、残像現像を利用して
得られるものであるから、そのレベルは、第１番
目のフレームの画像信号S11より低下している。
尚、同図で（VD）は垂直同期信号を示す。第３
図Ｂは、位置検出装置の受光器５が、ビン２が被
検査位置に到達した時に発生する位置検出信号
P1を示す。この例では、垂直同期信号（VD）
は、信号P1と同期している。この信号P1は、第
２図の信号処理発生回路９の入力端子１３′を介
して、ワンシヨツトマルチバイブレータ３０に供
給される。すると、このワンシヨツトマルチバイ
ブレータ３０は、第４図Ｃに示す如きトリガ信号
P2を発生し、それをワンシヨツトタイマ３１に
供給する。すると、ワンシヨツトタイマ３１は、
第４図Ｄに示す如きストローブ信号P3を発生す
る。このストローブ信号P3は、図示の如く、第
１番目の画像信号S11のフレーム期間、ハイレベ
ルとなつている。このストローブ信号P3を、ナ
ンドゲート２４の一方の入力端子に供給し、その
他方の入力端子にはコンパレータ２３の出力を供
給し、前述したサンプルホールド回路２６のピー
クホールド動作を制御する。即ち、ナンドゲート
２４は、ワンシヨツトタイマ３１の出力ストロー
ブ信号P3がハイレベルの時のみ、サンプルホー
ルド回路２６をして、ピークホールド動作をなさ
しめる。換言すれば、サンプルホールド回路２６
は、信号P3がハイレベルの期間、即ち、第１番
目の画像信号S11のフレーム期間、入力画像信号
S1のピーク値のホールドを行い、信号P3のレベ
ルがローレベルとなつた後、最終的にホールドし
た値を維持し続ける。ワンシヨツトマルチバイブ
レータ３０の出力信号P2を、ナンドバツフア３
２を介して、逆論理信号として、ナンドゲート２
５の一方の入力端子に供給する。このナンドゲー
ト２５の他方の入力端子には、ナンドゲート２４
の出力信号が供給されている。ナンドゲート２５
の出力信号を、サンプルホールド回路２６に、前
述のコントロールロジツク信号として供給し、ビ
ン２が被検査位置に到達した時に受光器５が信号
P1を発生すると、サンプルホールド回路２６の
それ迄のピークホールド値をクリアし、新しいピ
ークホールド動作を行い得る、所謂リセツトの役
目を果す。
ンドゲート２４及び２５の動作を説明する。第４
図Ａは、テレビカメラ８よりの画像信号（PS）
の２フレーム分を示す。第２番目のフレームの画
像信号S12は、前述の如く、残像現像を利用して
得られるものであるから、そのレベルは、第１番
目のフレームの画像信号S11より低下している。
尚、同図で（VD）は垂直同期信号を示す。第３
図Ｂは、位置検出装置の受光器５が、ビン２が被
検査位置に到達した時に発生する位置検出信号
P1を示す。この例では、垂直同期信号（VD）
は、信号P1と同期している。この信号P1は、第
２図の信号処理発生回路９の入力端子１３′を介
して、ワンシヨツトマルチバイブレータ３０に供
給される。すると、このワンシヨツトマルチバイ
ブレータ３０は、第４図Ｃに示す如きトリガ信号
P2を発生し、それをワンシヨツトタイマ３１に
供給する。すると、ワンシヨツトタイマ３１は、
第４図Ｄに示す如きストローブ信号P3を発生す
る。このストローブ信号P3は、図示の如く、第
１番目の画像信号S11のフレーム期間、ハイレベ
ルとなつている。このストローブ信号P3を、ナ
ンドゲート２４の一方の入力端子に供給し、その
他方の入力端子にはコンパレータ２３の出力を供
給し、前述したサンプルホールド回路２６のピー
クホールド動作を制御する。即ち、ナンドゲート
２４は、ワンシヨツトタイマ３１の出力ストロー
ブ信号P3がハイレベルの時のみ、サンプルホー
ルド回路２６をして、ピークホールド動作をなさ
しめる。換言すれば、サンプルホールド回路２６
は、信号P3がハイレベルの期間、即ち、第１番
目の画像信号S11のフレーム期間、入力画像信号
S1のピーク値のホールドを行い、信号P3のレベ
ルがローレベルとなつた後、最終的にホールドし
た値を維持し続ける。ワンシヨツトマルチバイブ
レータ３０の出力信号P2を、ナンドバツフア３
２を介して、逆論理信号として、ナンドゲート２
５の一方の入力端子に供給する。このナンドゲー
ト２５の他方の入力端子には、ナンドゲート２４
の出力信号が供給されている。ナンドゲート２５
の出力信号を、サンプルホールド回路２６に、前
述のコントロールロジツク信号として供給し、ビ
ン２が被検査位置に到達した時に受光器５が信号
P1を発生すると、サンプルホールド回路２６の
それ迄のピークホールド値をクリアし、新しいピ
ークホールド動作を行い得る、所謂リセツトの役
目を果す。
ワンシヨツトタイマ３１の出力ストローブ信号
P3を、ワンシヨツトマルチバイブレータ３３に
供給する。このワンシヨツトマルチバイブレータ
３３は、ストローブ信号P3の立下りに同期して、
第３図Ｅに示す如き、短い巾のパルス信号P4を
発生する。このパルス信号P4を、ワンシヨツト
タイマ３４に供給し、それより、第４図Ｆに示す
如き、２番目の画像信号S12のフレーム期間、ハ
イレベルとなる信号P5を得る。この信号P5を、
バツフア３５及び信号処理発生回路９の出力端子
３６を介して、検査回路１０の入力端子３７に供
給する。この信号P5は、検査回路１０の検査動
作を行わせるイネーブル信号に供する。即ち、信
号P5がハイレベルの間、換言すれば、２番目の
画像信号S12のフレーム期間、その画像信号S12
を、検査回路１０が後述の如く検査する。
P3を、ワンシヨツトマルチバイブレータ３３に
供給する。このワンシヨツトマルチバイブレータ
３３は、ストローブ信号P3の立下りに同期して、
第３図Ｅに示す如き、短い巾のパルス信号P4を
発生する。このパルス信号P4を、ワンシヨツト
タイマ３４に供給し、それより、第４図Ｆに示す
如き、２番目の画像信号S12のフレーム期間、ハ
イレベルとなる信号P5を得る。この信号P5を、
バツフア３５及び信号処理発生回路９の出力端子
３６を介して、検査回路１０の入力端子３７に供
給する。この信号P5は、検査回路１０の検査動
作を行わせるイネーブル信号に供する。即ち、信
号P5がハイレベルの間、換言すれば、２番目の
画像信号S12のフレーム期間、その画像信号S12
を、検査回路１０が後述の如く検査する。
次に、検査回路１０の一例を示す第５図及び、
テレビカメラ８より信号処理発生回路９を介して
検査回路１０に供給されるビン２の如き被検査物
品の画像信号とイネーブル信号とを示す第６図を
参照して、検査回路１０の動作を説明する。信号
処理発生回路９の出力端子２０よりの画像信号
は、検査回路１０の入力端子２１及び画像信号用
のアンプ３８を介して、コンパレータ３９の一方
の入力端子に供給される。一方、回路９の出力端
子２８よりの制御信号は、回路１０の入力端子２
９及びポテンシヨメータ４０を介して、コンパレ
ータ３９の他方の入力端子に供給される。今、コ
ンパレータ３９の一方の入力端子に供給される画
像信号が、第６図Ａに於てｃで示す如きもので、
その中に、c′で示す。例えば被検査物品、即ちビ
ン２の傷等に相当する異常部分を有するものとす
る。検査回路１０は、この異常部分c′を検出する
ものであるから、コンパレータ３９の閾値を、制
御信号に基づき、ポテンシヨメータ４０により
c′の如きレベルに設定すれば、異常部分c′を検出
することができる。ところが、何らかの原因によ
り、被検査物品２よりテレビカメラ８への入射光
の量が変り、テレビカメラ８よりの画像信号の明
暗が変化し、例えば第６図Ｂ及びＣに示す画像信
号ｄ又はｅの如く、それ等のレベルが、画像信号
ｃのレベルと大きく異るものとなると、画像信号
ｃに対する閾値c″では、画像信号ｄ及びｅの夫々
の異常部分d′及びe′を検出することができない。
これ等の画像信号ｄ及びｅの異常部分d′及びe′を
検出するためには、同図Ｂ及びＣに示す如く、そ
れ等に対する閾値を、夫々d″及びe″の如く設定し
なければならない。ところが、本発明に於ては、
コンパレータ３９の他方の入力端子に供給される
制御信号は、前述の如く、回路９に於て、テレビ
カメラ８よりの各被検査物品に対応する画像信号
の各第１番目のフレーム期間の信号レベルを基準
にして形成されるものであるから、第６図Ｂ及び
Ｃに示す如く、画像信号のレベルが変化しても、
この変化に対して、制御信号のレベルが自動的に
変化する。従つて、一度ポテンシヨンメータ４０
をセツトし、例えば第６図Ａの画像信号ｃに対
し、コンパレータ３９の閾値を、第６図Ａのc″の
値に決めておけば、画像信号のレベルが同図Ｂ及
びＣのｄ及びｅの如く変化しても、閾値がd″及び
e″に自動的に変化し、それ等の検査が可能とな
る。コンパレータ３９は、画像信号に異常がある
と、出力を発生する。この出力を、アンドゲート
４１の一方の入力端子に供給すると共に、その他
方の入力端子に、回路９の出力端子３６からの第
２番目の画像信号の期間ハイレベルとなるイネー
ブル信号P5を、入力端子３７を介して供給する。
従つて、アンドゲート４１の出力は、第２フレー
ム目の画像信号の検査結果に相当するものとな
る。このアンドゲート４１の出力を、タイマ、バ
ツフア等より成る出力回路４２及び出力端子４３
を介して、例えば第１図に示した警報発生装置１
２に供給して警報を出す。画像信号に上述した如
き異常部分がなければ、コンパレータ３９は、出
力信号を出さないので、警報は発生しない。即
ち、異常部分が画像信号にない場合は、警報回路
は出力を発生せず、被検査物品は、良品と判定さ
れる。
テレビカメラ８より信号処理発生回路９を介して
検査回路１０に供給されるビン２の如き被検査物
品の画像信号とイネーブル信号とを示す第６図を
参照して、検査回路１０の動作を説明する。信号
処理発生回路９の出力端子２０よりの画像信号
は、検査回路１０の入力端子２１及び画像信号用
のアンプ３８を介して、コンパレータ３９の一方
の入力端子に供給される。一方、回路９の出力端
子２８よりの制御信号は、回路１０の入力端子２
９及びポテンシヨメータ４０を介して、コンパレ
ータ３９の他方の入力端子に供給される。今、コ
ンパレータ３９の一方の入力端子に供給される画
像信号が、第６図Ａに於てｃで示す如きもので、
その中に、c′で示す。例えば被検査物品、即ちビ
ン２の傷等に相当する異常部分を有するものとす
る。検査回路１０は、この異常部分c′を検出する
ものであるから、コンパレータ３９の閾値を、制
御信号に基づき、ポテンシヨメータ４０により
c′の如きレベルに設定すれば、異常部分c′を検出
することができる。ところが、何らかの原因によ
り、被検査物品２よりテレビカメラ８への入射光
の量が変り、テレビカメラ８よりの画像信号の明
暗が変化し、例えば第６図Ｂ及びＣに示す画像信
号ｄ又はｅの如く、それ等のレベルが、画像信号
ｃのレベルと大きく異るものとなると、画像信号
ｃに対する閾値c″では、画像信号ｄ及びｅの夫々
の異常部分d′及びe′を検出することができない。
これ等の画像信号ｄ及びｅの異常部分d′及びe′を
検出するためには、同図Ｂ及びＣに示す如く、そ
れ等に対する閾値を、夫々d″及びe″の如く設定し
なければならない。ところが、本発明に於ては、
コンパレータ３９の他方の入力端子に供給される
制御信号は、前述の如く、回路９に於て、テレビ
カメラ８よりの各被検査物品に対応する画像信号
の各第１番目のフレーム期間の信号レベルを基準
にして形成されるものであるから、第６図Ｂ及び
Ｃに示す如く、画像信号のレベルが変化しても、
この変化に対して、制御信号のレベルが自動的に
変化する。従つて、一度ポテンシヨンメータ４０
をセツトし、例えば第６図Ａの画像信号ｃに対
し、コンパレータ３９の閾値を、第６図Ａのc″の
値に決めておけば、画像信号のレベルが同図Ｂ及
びＣのｄ及びｅの如く変化しても、閾値がd″及び
e″に自動的に変化し、それ等の検査が可能とな
る。コンパレータ３９は、画像信号に異常がある
と、出力を発生する。この出力を、アンドゲート
４１の一方の入力端子に供給すると共に、その他
方の入力端子に、回路９の出力端子３６からの第
２番目の画像信号の期間ハイレベルとなるイネー
ブル信号P5を、入力端子３７を介して供給する。
従つて、アンドゲート４１の出力は、第２フレー
ム目の画像信号の検査結果に相当するものとな
る。このアンドゲート４１の出力を、タイマ、バ
ツフア等より成る出力回路４２及び出力端子４３
を介して、例えば第１図に示した警報発生装置１
２に供給して警報を出す。画像信号に上述した如
き異常部分がなければ、コンパレータ３９は、出
力信号を出さないので、警報は発生しない。即
ち、異常部分が画像信号にない場合は、警報回路
は出力を発生せず、被検査物品は、良品と判定さ
れる。
尚、被検査物品が不良品で、その画像信号に異
常部分が存在する際に、検査回路１０の出力回路
４２から発生する信号を、図示せずも、ベルトコ
ンベア１に関し、被検査物品２の被検査位置の後
段に配した、不良品排除装置を駆動し、不良品を
ベルトコンベア１より排除するに使用してもよい
ことは、勿論である。
常部分が存在する際に、検査回路１０の出力回路
４２から発生する信号を、図示せずも、ベルトコ
ンベア１に関し、被検査物品２の被検査位置の後
段に配した、不良品排除装置を駆動し、不良品を
ベルトコンベア１より排除するに使用してもよい
ことは、勿論である。
上述した本発明の例では、第４図に示す如く、
画像信号の垂直同期信号（VD）を、被検査物品
２が被検査位置に到達した時に発生する信号P1
と同期させているが、これに限定する必要はな
い。例えば、第７図に示す如く、画像信号（PS）
の垂直同期信号（VD）が、信号P1に同期してい
ない場合でも、ワンシヨツトタイマ３１よりの信
号P3は、第７図Ｃに示す如く、第４図Ｄの信号
と同じく、画像信号P8の最初の１フレームに相
当する期間ハイレベルとなり、第１フレーム期間
の画像信号より上述した制御信号を作り、又、ワ
ンシヨツトタイマ３４よりの信号P5は、第７図
Ｄに示す如く、第４図Ｆの信号と同じく、第２番
目の画像信号のフレームに相当する期間、ハイレ
ベルとなるので、第２フレーム期間の画像信号
が、被検査物品の検査に使用されるものである。
画像信号の垂直同期信号（VD）を、被検査物品
２が被検査位置に到達した時に発生する信号P1
と同期させているが、これに限定する必要はな
い。例えば、第７図に示す如く、画像信号（PS）
の垂直同期信号（VD）が、信号P1に同期してい
ない場合でも、ワンシヨツトタイマ３１よりの信
号P3は、第７図Ｃに示す如く、第４図Ｄの信号
と同じく、画像信号P8の最初の１フレームに相
当する期間ハイレベルとなり、第１フレーム期間
の画像信号より上述した制御信号を作り、又、ワ
ンシヨツトタイマ３４よりの信号P5は、第７図
Ｄに示す如く、第４図Ｆの信号と同じく、第２番
目の画像信号のフレームに相当する期間、ハイレ
ベルとなるので、第２フレーム期間の画像信号
が、被検査物品の検査に使用されるものである。
尚、上述した本発明の例に於ては、制御信号を
ポテンシヨンメータ４０を介してコンパレータ３
９の閾値設定信号として用いるが、コンパレータ
３９の閾値は一定として、制御信号で前段のアン
プ３８の増巾度を制御し、常に一定レベルの画像
信号を得るようにしても、上例と同一の効果が得
られること、明らかであろう。
ポテンシヨンメータ４０を介してコンパレータ３
９の閾値設定信号として用いるが、コンパレータ
３９の閾値は一定として、制御信号で前段のアン
プ３８の増巾度を制御し、常に一定レベルの画像
信号を得るようにしても、上例と同一の効果が得
られること、明らかであろう。
第１図は本発明による物品等の検査装置の一例
の系統的ブロツク線図、第２図はその要部の一例
の接続図、第３図Ａ及びＢはその一部の動作の説
明に供する簡略図及び波形図、第４図Ａ乃至Ｆは
同じく一部の動作の説明に供する波形図、第５図
は第１図の検査回路の一例の接続図、第６図Ａ，
Ｂ及びＣはその動作の説明に供する波形図、第７
図Ａ乃至Ｄは本発明の他の例の動作を説明するに
供する波形図である。 図に於て、１はベルトコンベア、２は被検査物
品、３は光源、４は光拡散板、５は受光器、６は
発光器、７は駆動装置、８はテレビカメラ、９は
信号処理発生回路、１０は検査回路、１１はモニ
ターテレビ、１２は警報発生装置である。
の系統的ブロツク線図、第２図はその要部の一例
の接続図、第３図Ａ及びＢはその一部の動作の説
明に供する簡略図及び波形図、第４図Ａ乃至Ｆは
同じく一部の動作の説明に供する波形図、第５図
は第１図の検査回路の一例の接続図、第６図Ａ，
Ｂ及びＣはその動作の説明に供する波形図、第７
図Ａ乃至Ｄは本発明の他の例の動作を説明するに
供する波形図である。 図に於て、１はベルトコンベア、２は被検査物
品、３は光源、４は光拡散板、５は受光器、６は
発光器、７は駆動装置、８はテレビカメラ、９は
信号処理発生回路、１０は検査回路、１１はモニ
ターテレビ、１２は警報発生装置である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 移動する被検査物品が被検査位置に到達する
毎に、位置検出装置によりこれを検出して位置検
出信号を発生し、該位置検出信号により光源を駆
動し被検査位置に到達した上記被検査物品に光を
短時間照射し、該照射された被検査物品をテレビ
カメラで静止画像として捉え、該テレビカメラよ
りの画像信号を検査回路に於て処理して上記被検
査物品の良否を検査する検査装置に於て、 上記画像信号及び位置検出信号に基づいて、上
記画像信号の第１番目のフレーム期間の信号レベ
ルに対応したレベルの制御信号と、上記画像信号
の第２番目のフレーム期間有効となるイネーブル
信号とを発生する信号処理発生回路を設け、 上記制御信号及びイネーブル信号を上記検査回
路に供給して、 当該検査回路を上記画像信号の第２番目のフレ
ーム期間作動させると共に、 上記画像信号の第２番目のフレーム期間の信号
レベルと、上記検査回路の基準レベルとが所定の
相対関係を維持するように制御することを特徴と
する検査装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56095759A JPS57211044A (en) | 1981-06-19 | 1981-06-19 | Inspecting device |
| US06/386,708 US4486776A (en) | 1981-06-19 | 1982-06-09 | Inspection apparatus |
| AU84771/82A AU548544B2 (en) | 1981-06-19 | 1982-06-10 | Video object inspection system |
| GB08217514A GB2104214B (en) | 1981-06-19 | 1982-06-17 | Inspection system |
| FR8210722A FR2508170B1 (fr) | 1981-06-19 | 1982-06-18 | Systeme de controle d'objets |
| DE19823222904 DE3222904A1 (de) | 1981-06-19 | 1982-06-18 | Vorrichtung zur pruefung von objekten |
| CA000405516A CA1170333A (en) | 1981-06-19 | 1982-06-18 | Inspection apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56095759A JPS57211044A (en) | 1981-06-19 | 1981-06-19 | Inspecting device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57211044A JPS57211044A (en) | 1982-12-24 |
| JPH0325740B2 true JPH0325740B2 (ja) | 1991-04-08 |
Family
ID=14146407
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56095759A Granted JPS57211044A (en) | 1981-06-19 | 1981-06-19 | Inspecting device |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4486776A (ja) |
| JP (1) | JPS57211044A (ja) |
| AU (1) | AU548544B2 (ja) |
| CA (1) | CA1170333A (ja) |
| DE (1) | DE3222904A1 (ja) |
| FR (1) | FR2508170B1 (ja) |
| GB (1) | GB2104214B (ja) |
Families Citing this family (43)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2544856B1 (fr) * | 1983-04-25 | 1986-10-24 | Oreal | Procede de controle de l'epaisseur des parois de recipients en verre et dispositif correspondant |
| US4618938A (en) * | 1984-02-22 | 1986-10-21 | Kla Instruments Corporation | Method and apparatus for automatic wafer inspection |
| US4586080A (en) * | 1984-03-22 | 1986-04-29 | Ball Corporation | Method and apparatus for video inspection of articles of manufacture |
| JPS61133844A (ja) * | 1984-12-03 | 1986-06-21 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | 端子圧着電線の端子圧着部検査方法 |
| US4877965A (en) * | 1985-07-01 | 1989-10-31 | Diatron Corporation | Fluorometer |
| USRE34782E (en) * | 1985-07-01 | 1994-11-08 | Diatron Corporation | Fluorometer |
| US4644394A (en) * | 1985-12-31 | 1987-02-17 | Dale Reeves | Apparatus for inspecting an externally threaded surface of an object |
| FR2600154B1 (fr) * | 1986-06-13 | 1991-09-06 | Anred | Procede de reconnaissance de forme d'objet a symetrie axiale, notamment bouteille, et dispositif de mise en oeuvre du procede |
| US4915237A (en) * | 1986-09-11 | 1990-04-10 | Inex/Vistech Technologies, Inc. | Comprehensive container inspection system |
| DE3808744A1 (de) * | 1987-07-16 | 1989-09-28 | Agfa Gevaert Ag | Pruefeinrichtung fuer magnetband-cassetten |
| US5072127A (en) * | 1987-10-09 | 1991-12-10 | Pressco, Inc. | Engineered video inspecting lighting array |
| US5051825A (en) * | 1989-04-07 | 1991-09-24 | Pressco, Inc. | Dual image video inspection apparatus |
| US4972093A (en) * | 1987-10-09 | 1990-11-20 | Pressco Inc. | Inspection lighting system |
| US4882498A (en) * | 1987-10-09 | 1989-11-21 | Pressco, Inc. | Pulsed-array video inspection lighting system |
| US5131754A (en) * | 1989-09-21 | 1992-07-21 | Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho | Method of and device for detecting position of body |
| DE4014661C2 (de) * | 1990-05-08 | 1996-03-28 | Groz & Soehne Theodor | Optische Kontrolle von Stricknadeln an Strickautomaten |
| US5172005A (en) * | 1991-02-20 | 1992-12-15 | Pressco Technology, Inc. | Engineered lighting system for tdi inspection comprising means for controlling lighting elements in accordance with specimen displacement |
| DE4202247A1 (de) * | 1992-01-28 | 1993-07-29 | Widmann Bildverarbeitungssyste | Vorrichtung zum optischen pruefen von gegenstaenden |
| CA2163965A1 (en) * | 1993-05-28 | 1994-12-08 | Marie Rosalie Dalziel | An automatic inspection apparatus |
| DE29518628U1 (de) * | 1995-11-24 | 1997-04-10 | Heuft Systemtechnik Gmbh, 56659 Burgbrohl | Vorrichtung zum Drehen von rotationssymmetrischen Behältern wie Flaschen während des Transports unter Staudruck |
| JP3454400B2 (ja) * | 1996-02-16 | 2003-10-06 | 三井金属鉱業株式会社 | 繰返しパターンの検査方法 |
| ES2117575B1 (es) * | 1996-08-05 | 1999-04-01 | Chep Pooling Systems B V | Procedimiento para el reconocimiento y la clasificacion automaticos de defectos en paletas o elementos similares, y sistema correspondiente . |
| US5774227A (en) * | 1997-01-28 | 1998-06-30 | The Whitaker Corporation | Anomally detection machine for fabricated parts formed on a carrier strip and method of use |
| US6173213B1 (en) * | 1998-05-11 | 2001-01-09 | Ellison Machinery Company | Motorized inbound laser orientation and wheel recognition station |
| JP2002543405A (ja) * | 1999-04-29 | 2002-12-17 | プレスコ テクノロジー インコーポレーテッド | 視覚的に明瞭な物体の構造的完全さを検査するシステムと方法 |
| US6894775B1 (en) | 1999-04-29 | 2005-05-17 | Pressco Technology Inc. | System and method for inspecting the structural integrity of visibly clear objects |
| DE10244162A1 (de) * | 2002-09-23 | 2004-04-01 | Sick Ag | Auslösen von Bildaufnahmen |
| US7525659B2 (en) * | 2003-01-15 | 2009-04-28 | Negevtech Ltd. | System for detection of water defects |
| WO2005069233A1 (en) * | 2004-01-16 | 2005-07-28 | Tomra Systems Asa | Method and device for observing features of an object |
| WO2006006148A2 (en) * | 2004-07-12 | 2006-01-19 | Negevtech Ltd. | Multi mode inspection method and apparatus |
| US20060012781A1 (en) * | 2004-07-14 | 2006-01-19 | Negevtech Ltd. | Programmable spatial filter for wafer inspection |
| US7813541B2 (en) | 2005-02-28 | 2010-10-12 | Applied Materials South East Asia Pte. Ltd. | Method and apparatus for detecting defects in wafers |
| US7804993B2 (en) | 2005-02-28 | 2010-09-28 | Applied Materials South East Asia Pte. Ltd. | Method and apparatus for detecting defects in wafers including alignment of the wafer images so as to induce the same smear in all images |
| US8031931B2 (en) | 2006-04-24 | 2011-10-04 | Applied Materials South East Asia Pte. Ltd. | Printed fourier filtering in optical inspection tools |
| US7719674B2 (en) | 2006-11-28 | 2010-05-18 | Applied Materials South East Asia Pte. Ltd. | Image splitting in optical inspection systems |
| US7714998B2 (en) | 2006-11-28 | 2010-05-11 | Applied Materials South East Asia Pte. Ltd. | Image splitting in optical inspection systems |
| IL211761B (en) * | 2010-03-24 | 2019-06-30 | Camtek Ltd | Scanning during acceleration supports a test system element |
| CN104316873B (zh) * | 2014-11-13 | 2017-07-28 | 云南电网公司电力科学研究院 | 一种断路器及机构状态四位一体识别系统 |
| US10422755B2 (en) * | 2016-12-07 | 2019-09-24 | Applied Vision Corporation | Identifying defects in transparent containers |
| TR201700580A2 (tr) * | 2017-01-13 | 2018-07-23 | Anadolu Ueniversitesi | Artirilmiş gerçekli̇k tabanli bi̇r test düzeneği̇ |
| DE102018107689A1 (de) * | 2018-03-29 | 2019-10-02 | Krones Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Inspizieren von Behältnissen |
| CN114582041B (zh) * | 2022-05-07 | 2023-02-17 | 绿城科技产业服务集团有限公司 | 一种基于视频分析算法的园区巡更系统 |
| CN120489962B (zh) * | 2025-07-18 | 2025-10-03 | 泛太能源环境(浙江)有限公司 | 光伏隐裂检测方法、装置、设备及存储介质 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5129837Y2 (ja) * | 1971-10-29 | 1976-07-27 | ||
| US3877821A (en) * | 1973-07-23 | 1975-04-15 | Inex Inc | Apparatus for detecting flaws using an array of photo sensitive devices |
| US4002823A (en) * | 1974-11-01 | 1977-01-11 | Ball Corporation | Method and apparatus for video inspection of articles of manufacture |
| GB1540075A (en) * | 1975-05-09 | 1979-02-07 | Rolls Royce | Apparatus and a method of determining the shape of a surface |
| JPS52104284A (en) * | 1976-02-27 | 1977-09-01 | Sapporo Breweries | Method of detecting defects of glass bottle etc* |
| US4242702A (en) * | 1976-12-01 | 1980-12-30 | Hitachi, Ltd. | Apparatus for automatically checking external appearance of object |
| JPS5596405A (en) * | 1979-01-19 | 1980-07-22 | Hajime Sangyo Kk | Inspection device for moving object |
| JPS5684088A (en) * | 1979-12-12 | 1981-07-09 | Stanley Electric Co Ltd | Picture signal transmitting method |
| US4318081A (en) * | 1979-12-19 | 1982-03-02 | Hajime Industries Ltd. | Object inspection system |
-
1981
- 1981-06-19 JP JP56095759A patent/JPS57211044A/ja active Granted
-
1982
- 1982-06-09 US US06/386,708 patent/US4486776A/en not_active Expired - Fee Related
- 1982-06-10 AU AU84771/82A patent/AU548544B2/en not_active Ceased
- 1982-06-17 GB GB08217514A patent/GB2104214B/en not_active Expired
- 1982-06-18 FR FR8210722A patent/FR2508170B1/fr not_active Expired
- 1982-06-18 CA CA000405516A patent/CA1170333A/en not_active Expired
- 1982-06-18 DE DE19823222904 patent/DE3222904A1/de active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4486776A (en) | 1984-12-04 |
| AU548544B2 (en) | 1985-12-19 |
| DE3222904A1 (de) | 1983-01-05 |
| GB2104214A (en) | 1983-03-02 |
| AU8477182A (en) | 1982-12-23 |
| CA1170333A (en) | 1984-07-03 |
| FR2508170B1 (fr) | 1985-06-21 |
| JPS57211044A (en) | 1982-12-24 |
| DE3222904C2 (ja) | 1990-01-25 |
| FR2508170A1 (fr) | 1982-12-24 |
| GB2104214B (en) | 1984-07-04 |
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