JPH0330237B2 - - Google Patents
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- JPH0330237B2 JPH0330237B2 JP63149337A JP14933788A JPH0330237B2 JP H0330237 B2 JPH0330237 B2 JP H0330237B2 JP 63149337 A JP63149337 A JP 63149337A JP 14933788 A JP14933788 A JP 14933788A JP H0330237 B2 JPH0330237 B2 JP H0330237B2
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- transistors
- memory
- line
- insulated gate
- decoder
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はメモリーに係り、特に絶縁ゲート型ト
ランジスタを用いたメモリー回路に関するもので
ある。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a memory, and more particularly to a memory circuit using an insulated gate transistor.
以下は説明の便宜上NチヤンネルMOSスタテ
イツク型メモリーについて話をすすめるがPチヤ
ンネルについても本質的には同様である。一般に
MOSメモリーは第1図の様に構成される。Xデ
コーダー2に関する信号線をワード線WL1〜
WLN、Yデコーダー及びセンスアンプ4への信
号線をデイジツト線D1〜Dn、その出力線をリー
ドバス線BLと呼ぶ。 For convenience of explanation, we will discuss an N-channel MOS static type memory below, but the same is essentially true for a P-channel. in general
MOS memory is configured as shown in Figure 1. The signal line related to X decoder 2 is connected to the word line WL 1 ~
The signal lines to WL N , Y decoder and sense amplifier 4 are called digit lines D 1 -D n , and their output lines are called read bus lines BL.
第2図を参照して従来のデイジツト線とリード
バス線との接続を記述する。この回路ではまずX
デコーダー2により1本のワード線、例えばワー
ド線WL1が選択される。選択されたワード線
WL1に接続されたメモリセルC11,C12は動作を開
始し、全てのデイジツト線D1,1,D2,2……
をメモリセルの内容に対応した電位に向わせる。
Yデコーダー4′によりセンスアンプSA1,SA2
を選択動作させ、1対のデイジツト線が選択され
ワード線とデイジツト線の交点になるメモリセル
が選択されて読み出されるメモリ−セルとなるわ
けであるが、ここで問題になるのは非選択デイジ
ツト線がリードバス線RB,に与える影響で
ある。センスアンプSA1,SA2においてデイジツ
ト線Di,iとリードバス線RB,間に挿入され
た第1のトランジスタQ1,Q2,Q3,Q4のゲート
とドレイン(又はリース)の重り容量C1,C2,
C3,C4を介してデイジツト線Di,iの信号がリー
ドバス線RB,へ伝達され、誤動作又はスピ
ードの遅れとなつて現われる。 A conventional connection between a digit line and a read bus line will be described with reference to FIG. In this circuit, first
Decoder 2 selects one word line, for example word line WL1 . selected word line
Memory cells C 11 and C 12 connected to WL 1 start operating, and all digit lines D 1 , 1 , D 2 , 2 . . .
to a potential corresponding to the contents of the memory cell.
Sense amplifiers SA 1 and SA 2 by Y decoder 4'
is selected, a pair of digit lines is selected, and the memory cell at the intersection of the word line and the digit line is selected and becomes the memory cell to be read.The problem here is that the unselected digit line This is the effect that the line has on the read bus line RB. Weight of the gate and drain (or lease) of the first transistors Q 1 , Q 2 , Q 3 , Q 4 inserted between the digit lines D i , i and the read bus line RB in the sense amplifiers SA 1 , SA 2 Capacity C 1 , C 2 ,
The signals on the digit lines D i , i are transmitted to the read bus line RB via C 3 , C 4 , resulting in malfunctions or speed delays.
本発明の目的は誤動作が無く、高速動作の可能
なメモリー回路を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a memory circuit that is free from malfunctions and is capable of high-speed operation.
本発明によるメモリー回路は複数のデイジツト
線とリードバス線との間に設けられた複数のセレ
クトゲートとしての絶縁ゲート型FETを不飽和
領域で動作させるようにしたことを特徴とする。 The memory circuit according to the present invention is characterized in that insulated gate FETs serving as a plurality of select gates provided between a plurality of digit lines and a read bus line are operated in an unsaturated region.
本発明によれば、MOS型トランジスタを用い
たメモリー回路において、デイジツト線の情報を
リードバス線に伝達するためにデイジツト線とリ
ードバス線の間にトランジスタを挿入し、選択さ
れたデイジツト線に接続された上記トランジスタ
はONし、非選択のデイジツト線に接続された上
記トランジスタはOFFし、選択されたデイジツ
ト線に接続された上記トランジスタはアドレスデ
コーダ信号を受けて容量性帰還をかけてONの成
合を高め高速化を計つたことを特徴とする。 According to the present invention, in a memory circuit using MOS transistors, a transistor is inserted between the digit line and the read bus line in order to transmit information on the digit line to the read bus line, and connected to the selected digit line. The transistor connected to the unselected digit line is turned OFF, and the transistor connected to the selected digit line receives the address decoder signal and applies capacitive feedback to turn ON the transistor. It is characterized by increasing speed and increasing speed.
次に第3図を参照して本発明の参考例について
説明する。 Next, a reference example of the present invention will be described with reference to FIG.
メモリーセルCはフリツプフロツプ構成のスタ
テイツク型のものを想定して説明する。デイジツ
ト線D,はメモリーCの一対の入出点にそれぞ
れ接続し、それぞれトランジスタQ4およびQ5を
介してトランジスタQ1〜Q3によつて構成される
差動形センスアンプSAに入力される。ここでは
トランジスタQ1,Q2のゲートに接続することに
よつて行なわれている。トランジスタQ1,Q2の
ドレインはそれぞれリードバスラインRB,
に接続される。センスアンプのイネーブルトラン
ジスタQ3、トランジスタQ4,Q5のゲートには共
通にYデコーダー4′の出力が供給される。かか
る構成においてはトランジスタQ4およびQ5はデ
イジツト線D,が選択されたときのみ導通し、
非選択の時は非導通となる。このために非選択の
デイジツト線のレベルがセンスアンプを介してリ
ードバスラインBB,に伝達されることが防
止される。なお、トランジスタQ4,Q5はメモリ
が非読出し時、すなわちリセツト時には導通状態
になされ、プリチヤージが均一に行なうように働
く。 The description will be made assuming that the memory cell C is of a static type with a flip-flop configuration. Digit lines D, are connected to a pair of input and output points of memory C, respectively, and are inputted via transistors Q4 and Q5 to a differential sense amplifier SA constituted by transistors Q1 to Q3 . Here, this is done by connecting to the gates of transistors Q 1 and Q 2 . The drains of transistors Q 1 and Q 2 are connected to read bus lines RB and Q 2, respectively.
connected to. The output of the Y decoder 4' is commonly supplied to the gates of the enable transistor Q 3 and the transistors Q 4 and Q 5 of the sense amplifier. In such a configuration, transistors Q4 and Q5 are conductive only when digit line D, is selected;
When not selected, it becomes non-conductive. This prevents the level of the unselected digit line from being transmitted to the read bus line BB via the sense amplifier. Note that the transistors Q 4 and Q 5 are rendered conductive when the memory is not read, that is, when the memory is reset, so that the precharging is performed uniformly.
次に本発明の実施例を第4図により説明する。 Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
本実施例では、トランジスタQ4,Q5のゲート
に、Yデコーダ4′の出力をブートストラツプ回
路B1を介して供給するようにしたものである。
このためトランジスタQ4およびQ5は非飽和領域
で動作するために、レベルの損失を生ずることな
く、デイジツト線のレベルをセンスアンプSAに
伝達させることができる。ブートストラツプ回路
B1はデコーダー出力Y1から入力を受けるインバ
ータNと、Y1に一端が接続された容量C1と、ト
ランジスタQ6とQ7とによるインバータ回路とを
含む。メモリーが非読出時にクロツクφ1により、
トランジスタQ6を導通させ、接点Aをトランジ
スタQ4,Q5がほぼ導通するような電位にしてお
く。メモリー読出時にはトランジスタQ6をOFF
にし、選択されたデイジツト線はYデコーダー
4′の出力Y1,Y1′がハイレベルに向うため節点
Aの電位はさらに上昇し、トランジスタQ4,Q5
の導通を増進させる。 In this embodiment, the output of the Y decoder 4 ' is supplied to the gates of the transistors Q4 and Q5 via the bootstrap circuit B1 .
Therefore, since transistors Q4 and Q5 operate in a non-saturation region, the level of the digit line can be transmitted to the sense amplifier SA without causing any level loss. bootstrap circuit
B1 includes an inverter N that receives input from the decoder output Y1 , a capacitor C1 whose one end is connected to Y1 , and an inverter circuit including transistors Q6 and Q7 . When the memory is not read, the clock φ1
The transistor Q 6 is made conductive, and the contact A is set at a potential such that the transistors Q 4 and Q 5 are almost made conductive. Turn off transistor Q6 when reading memory
Then, the outputs Y 1 and Y 1 ' of the Y decoder 4' for the selected digit line go to high level, so the potential at node A further increases, and the transistors Q 4 and Q 5
Improves conductivity.
本実施例ではトランジスタQ4,Q5の導通度が
大きいためデイジツト線のレベルが完全にセンス
アンプSAに伝達されるという利点がある。 This embodiment has the advantage that the level of the digit line is completely transmitted to the sense amplifier SA because the conductivity of the transistors Q 4 and Q 5 is high.
以上本発明を実施例により説明したが本発明は
上述の実施例に限定されることなく、例えばダイ
ナミツク型のメモリーセルや、フリツプフロツプ
構成のセンスアンプを用いた場合にも同様に適用
できるものである。 Although the present invention has been described above with reference to embodiments, the present invention is not limited to the above-described embodiments, but can be similarly applied to cases where, for example, a dynamic type memory cell or a sense amplifier having a flip-flop configuration is used. .
第1図は従来のメモリーの構成を示す図。第2
図は従来のMOSメモリーを示す回路図。第3図
は本発明の参考例を示す図。第4図は本発明の実
施例を示す構成図である。
1……Xアドレスバツフア、2……Xデコー
ダ、3……Yアドレスバツフア、4,4′……Y
デコーダ、SA……センスアンプ。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a conventional memory. Second
The figure is a circuit diagram showing a conventional MOS memory. FIG. 3 is a diagram showing a reference example of the present invention. FIG. 4 is a configuration diagram showing an embodiment of the present invention. 1...X address buffer, 2...X decoder, 3...Y address buffer, 4,4'...Y
Decoder, SA... sense amplifier.
Claims (1)
設けられた複数のセレクトゲートとしての絶縁ゲ
ート型電界効果トランジスタと、該絶縁ゲート型
電界効果トランジスタを選択するためのデコーダ
回路と、該デコーダ回路の出力をブートストラツ
プ手段によつて電源電位以上に昇圧して該絶縁ゲ
ート型電界効果トランジスタのゲートに供給する
手段とを有し、選択された絶縁ゲート型電界効果
トランジスタを非飽和領域で動作させるようにし
たことを特徴とするメモリ回路。1. Insulated gate field effect transistors as a plurality of select gates provided between a plurality of digit lines and a read bus line, a decoder circuit for selecting the insulated gate field effect transistors, and a decoder circuit of the decoder circuit. means for boosting the output to a power supply potential or higher by a bootstrap means and supplying it to the gate of the insulated gate field effect transistor, so as to operate the selected insulated gate field effect transistor in a non-saturation region. A memory circuit characterized by:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63149337A JPS6452286A (en) | 1988-06-17 | 1988-06-17 | Memory circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63149337A JPS6452286A (en) | 1988-06-17 | 1988-06-17 | Memory circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6452286A JPS6452286A (en) | 1989-02-28 |
| JPH0330237B2 true JPH0330237B2 (en) | 1991-04-26 |
Family
ID=15472901
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63149337A Granted JPS6452286A (en) | 1988-06-17 | 1988-06-17 | Memory circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6452286A (en) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5079224A (en) * | 1973-11-12 | 1975-06-27 | ||
| JPS5278327A (en) * | 1975-12-24 | 1977-07-01 | Fujitsu Ltd | Semiconductor memory |
| JPS5925311B2 (en) * | 1977-02-14 | 1984-06-16 | 日本電気株式会社 | sense amplifier |
-
1988
- 1988-06-17 JP JP63149337A patent/JPS6452286A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6452286A (en) | 1989-02-28 |
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