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JPH0342784B2 - - Google Patents
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JPH0342784B2 - - Google Patents

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JPH0342784B2
JPH0342784B2 JP59274156A JP27415684A JPH0342784B2 JP H0342784 B2 JPH0342784 B2 JP H0342784B2 JP 59274156 A JP59274156 A JP 59274156A JP 27415684 A JP27415684 A JP 27415684A JP H0342784 B2 JPH0342784 B2 JP H0342784B2
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JP
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tank
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JP59274156A
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N17/00Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light

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  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biodiversity & Conservation Biology (AREA)
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  • Environmental Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 a 産業上の利用分野 本発明は、塗膜、メツキ、防錆油などの表面処
理材及び金属材料が自然環境下において劣化腐食
する問題に対し、その耐久性を人工的に促進腐食
するための浸漬サイクル試験装置に関する。
b 従来の技術 促進腐食試験法としては、塩水噴霧試験或るい
は浸漬試験があり、広く利用されているが、何れ
も単独試験である。しかし、防錆技術が進歩した
近年においては、これら従来の試験法では結果が
出るのに1000時間以上の長時間を要する現状にあ
る。そこで最近は、浸漬、乾燥のサイクル試験を
行なうようになつて来た。
この従来技術としてのサイクル試験を図によつ
て次に概説する。第6図は浸漬、乾燥サイクル試
験機の正面断面図である。水平面における断面方
形をなす空気槽1の下部に断面方形をなす浸漬槽
2が連なり、その中央部に固定する垂直軸3の上
部に腕4があつて試料5が懸垂される。クランク
機構6によつて垂直軸3を上下動することができ
る。第6図は試料5が空気槽1に位置する状態を
示すが、この時熱風は送風口7より槽内に入り排
気口8より排出し、試料5は熱風によつて乾燥す
る。第7図は試料5を浸漬槽2の腐食液に浸漬し
た状態を示すが、サイクルの浸漬信号によつてク
ランク機構6が作動し、垂直軸3は下方に下が
り、試料5が腐食液に浸漬した状態である。又、
浸漬期間中は熱風送風は停止される。
c 発明が解決しようとする問題点 前記サイクル試験は浸漬及び乾燥を繰返すもの
であるが、この2サイクルだけでは腐食試験の促
進性が不十分であることが一般に認められる第一
の問題点である。
我が国において、促進腐食試験機として広く利
用されている塩水噴霧試験機は約数万台である
が、これと同じように各企業で容易に採用できる
サイクル試験機とするためには低価格とする必要
がある。通常、湿潤条件を得るには、試験槽の他
に給湿槽、ヒータ、循環送風機などで構成される
調温調湿槽を並置装備する必要があつて高価とな
る。したがつて、前記のサイクル試験にさらに腐
食促進条件を付加するとして、機能が良くしかも
安価となる構造とすることが第二の問題点であ
る。
d 問題点を解決するための手段 本発明は、前記従来のサイクルに湿潤の条件を
加えて腐食液中浸漬、空気中で乾燥、湿潤(結
露)の3条件サイクルとし、従来の試験に要する
時間の1/2以下で目的を達し得るようにするため
に湿潤条件において試料表面に結露するようにし
て腐食促進効果を発揮できるようにした。さら
に、乾燥試験時は浸漬槽上部を密閉して浸漬槽か
らの水蒸気を遮断し、完全乾燥ができるようにし
た。
又、本発明は、給湿槽、循環送風機などで構成
される給湿装置を設けることなく、浸漬槽によつ
て給湿機能を兼用させ低価格装置としたものであ
る。
本発明による浸漬サイクル試験装置を第1,
2,3図によつて説明する。第1図は試料浸漬の
状態を示す。空気槽1は水平面における断面方形
をなし、その下部に同様に水平面における断面方
形をなす浸漬槽2が連なり、試料5が懸垂される
試料懸垂腕4は垂直軸3に固定し、垂直軸3はモ
ータ9、クランク機構6の作動によつて上下す
る。図は垂直軸3が最下端に下がつた状態であつ
て試料は液中に浸漬されている。液温は温度調節
器10の設定に従つてヒータ11を制御し調節さ
れる。
第2図は試料乾燥の状態を示す。プログラム信
号によつて乾燥条件に入ると、モータ9がクラン
ク機構6を駆動し垂直軸3を上方に上げて最上端
に達したとき、試料懸垂腕4より懸垂固定する方
形の遮閉板12は浸漬槽内壁の全周に突出して方
形をなす縁の下面に固定するパツキン13によつ
て空気槽1と浸漬槽2の間をシールし隔絶する。
同時に、送風機14が作動して外気を熱風ボツク
ス15に送り、ヒータ16の加熱によつて生じた
熱風は送風口7から空気槽内に入り試料を乾燥す
る。この場合、プログラム装置により、乾燥状態
に入つた最初の任意の時間を温度調節器17とヒ
ータ16の作用によつて高温送風乾燥をし、次の
段階で温度調節器18とヒータ16の作用によつ
て低温送風乾燥をなし得るものとする。低温乾燥
時の温度調節器18の設定温度は、次の湿潤状態
の調節温度より数度低い温度とする。ただし、低
温乾燥を必要としない場合は本装置の機能を停止
すればよい。温度調節器17,18に感温部1
7′,18′がそれぞれ対応し、送風は排気口8か
ら排出するものとする。
第3図は空気槽1が湿潤雰囲気に調節される状
態を示す。プログラムが湿潤状態に入ると、モー
タ9が作動し、クランク機構6によつて垂直軸3
が僅か下がり、遮閉板12はパツキン13より離
れ、空気槽と浸漬槽との間に隙間を保つた状態で
停止し保持されるものとする。一方、湿潤温度
は、温度調節器19の設定によつてヒータ11を
制御し、浸漬液の蒸発水分が遮閉板12とパツキ
ン13との隙間を通り空気槽1に入つて調節され
る。この場合、蒸発した水分の量は自動的に補給
されるようにする。温度調節器19はその感温部
19′を空気槽1内におく。
このようにして試料5は湿潤雰囲気にさらされ
るが、その前段階で低温送風乾燥を行なつたとき
は、試料がより高温の湿潤雰囲気にさらされるこ
ととなるために、試料5の表面に結露する。
第4図は本発明装置による浸漬→乾燥→湿潤
(結露)のサイクル過程における試料の上下機構
の動作を示すもので、第1図、第2図、第3図に
おけるクランク機構(上下機構)6の側面図であ
る。第4図は試料5の浸漬時の状態を示し、ク
ランク機構の回転円板6−1の周辺にある枢支点
で一端を保持されたクランク桿6−2が最下点に
下がつた状態にあり、垂直軸3及び試料5も最下
点にある。この位置を検出するための検出器20
を例えば光電式とし、円板6−1が回転してその
周辺に貫通された孔Aが検出器20の位置にきた
時、検出器20の光源20′の光が孔Aを通つて
受光器20″に受光され、円板6−1は停止する。
同様にして第4図は試料5が最高点にあり乾燥
状態にある時で、回転円板6−1の周辺の孔Bが
検出器20の位置にきた時に停止した位置であ
る。第4図は湿潤状態にある時で、回転円板6
−1の周辺の孔Cが検出器20の位置にきた時に
停止した位置である。
e 作用 本発明は、腐食液浸漬、乾燥、湿潤(結露)の
試験条件を任意の順序で設定することができる。
浸漬槽の遮閉板による密閉によつて、熱風送風に
よる試料の乾燥効果は大きい。この乾燥条件にお
いて、低温送風に切り換え得ることは、次に述べ
るように重要な作用効果を示す。
湿潤条件は、試料及び遮閉板を僅か下方に下
げ、遮閉板の外周を通つて腐食液の蒸発水分が空
気槽内に流通して試料に湿潤条件を与える。この
湿潤条件の前に、試料を低温送風にさらし次いで
より高温の蒸気にさらすと、試料面に結露する。
結露は腐食促進効果が大きい。
本発明は、以上説明した特記すべき作用を発揮
するが、併せて簡単な構造であつて、従来のよう
な複雑な給湿装置を設けない特長を有する。
f 実施例 本発明の装置を用いて浸漬、乾燥、湿潤(結
露)の順序によるサイクル運転の乾湿球温度の働
程曲線例を第5図に示す。このように、浸漬状態
から熱風乾燥、低温乾燥を経て湿潤状態(試料結
露)に到る過程を容易に得ることができた。
g 発明の効果 本発明により、従来の如く複雑な給湿装置を装
備することなく容易に湿潤状態を得ることがで
き、また乾燥試験においては水分の蒸発を阻止す
る構造として容易に完全乾燥でき、かつ結露条件
を容易に得ることができ、従来より格段に促進効
果のある而も従来のサイクル試験機より安価な浸
漬サイクル試験装置を提供できることとなつた。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図は本発明に係る装置の
側面断面及び浸漬、乾燥、湿潤(結露)時の各状
態図、第4図は本発明装置の上下機構の状態図、
第5図は浸漬、乾燥、湿潤の乾湿球温度働程図、
第6図及び第7図は従来装置の側面断面図であ
る。 1……空気槽、2……浸漬槽、3……垂直軸、
4……試料懸垂腕、5……試料、6……クランク
機構、6−1……回転円板、6−2……クランク
桿、7……送風口、8……排気口、9……モー
タ、10……温度調節器、11……ヒータ、12
……遮閉板、13……パツキン、14……送風
機、15……熱風ボツクス、16……ヒータ、1
7,18,19……温度調節器、17′,18′,
19′……感温部、20……検出器、20′……光
源、20″……受光器、A,B,C……孔。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 腐食液浸漬、乾燥、湿潤の各試験を行なうサ
    イクル試験用として、次の(イ)、(ロ)、(ハ)、(ニ)、(
    ホ)に
    示す構造をすべて有することを特徴とする浸漬サ
    イクル試験装置、 (イ) 空気槽の下に加温可能な浸漬槽を重ね、その
    中央部に試料懸垂架と垂直軸とのT字状体を設
    け、且つその上下動を行なうクランク機構を浸
    漬槽下に設ける。 (ロ) 試料懸垂架下の垂直軸の中間定位置に浸漬槽
    遮閉板を固定し、空気槽下端周辺部に前記遮閉
    板に対応するシール用パツキンを設け、遮閉板
    の上昇遮閉時に懸垂試料が空気槽内に位置し、
    遮閉板の下限下降時に懸垂試料が浸漬槽内に位
    置する構造とする。 (ハ) 前記遮閉板の停止位置を、浸漬試験のときは
    下限位置に、乾燥試験のときは空気槽と浸漬槽
    を遮閉する上限位置に、湿潤試験のときはシー
    ル用パツキンとの間に〓間を形成する位置にす
    るための位置検出器をクランク機構に設ける。 (ニ) 空気槽側面に熱風ボツクス及び送風機に連な
    る送風口と反対側面に排気口を設ける。 (ホ) 前記浸漬、乾燥、湿潤の各試験を切り換えサ
    イクル試験を行なうために、クランク機構、熱
    風ボツクス及び送風機を作動制御するプログラ
    ム装置を設ける。
JP27415684A 1984-12-27 1984-12-27 浸漬サイクル試験装置 Granted JPS61155726A (ja)

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JP27415684A JPS61155726A (ja) 1984-12-27 1984-12-27 浸漬サイクル試験装置

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JP27415684A JPS61155726A (ja) 1984-12-27 1984-12-27 浸漬サイクル試験装置

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JPS61155726A JPS61155726A (ja) 1986-07-15
JPH0342784B2 true JPH0342784B2 (ja) 1991-06-28

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JP27415684A Granted JPS61155726A (ja) 1984-12-27 1984-12-27 浸漬サイクル試験装置

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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007003250A (ja) * 2005-06-22 2007-01-11 National Maritime Research Institute 乾湿交番試験装置
CN106706509A (zh) * 2017-03-06 2017-05-24 中国核动力研究设计院 一种超临界腐蚀试验专用挂具

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58162841A (ja) * 1982-03-24 1983-09-27 Suga Shikenki Kk 劣化試験機
JPS58174830A (ja) * 1982-04-07 1983-10-13 Suga Shikenki Kk 劣化試験機

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JPS61155726A (ja) 1986-07-15

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