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JPH0354829B2 - - Google Patents
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JPH0354829B2 - - Google Patents

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JPH0354829B2
JPH0354829B2 JP58129614A JP12961483A JPH0354829B2 JP H0354829 B2 JPH0354829 B2 JP H0354829B2 JP 58129614 A JP58129614 A JP 58129614A JP 12961483 A JP12961483 A JP 12961483A JP H0354829 B2 JPH0354829 B2 JP H0354829B2
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/022Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、真空中の気相の分圧示すイオン電流
を変調し、交流イオン電流として得た交流増幅、
位相検波して信号対ノイズ比を改善し、微小電流
の増幅限界の改善と安定性の向上を計つた交流検
出方式質量分析計に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention modulates an ion current representing a partial pressure of a gas phase in a vacuum, and obtains an AC ion current as an AC amplification,
This invention relates to an AC detection type mass spectrometer that uses phase detection to improve the signal-to-noise ratio, improve the amplification limit of minute currents, and improve stability.

従来の質量分析計(残留ガス分析計)は、型式
の如何を問わず、いずれも気体分子を電子衝撃に
よつてイオン化し、生成イオンを電気的、もしく
は磁気的イオンの質量によつて分離して検出する
ものであるが、それらの質量分析計としてのイオ
ン源の感度は形式によつて多少異るが、ほぼ0.03
〜0.3×10-3A/Torrの間にあるため10-8Torr以
下の超高真空中の分圧測定を行うような場合のイ
オン電流は10-12A以下の非常に微弱なものにな
つてしまう。この微弱な電流を増幅する方法とし
ては、従来はバラクター・ダイオード・ブリツジ
入力オペアンプなどを用いた直流増幅器によつて
いたが、このような直流増幅器ではオフセツトや
ドリフトなどが発生するだけではなく、その近く
に種々の電磁機器があつたり、あるいは遠隔測定
などを行うような場合、その周辺機器から混入す
るノイズによつて真の信号が撹乱され、正確な分
圧測定は困難であつた。特に強電界や強磁界の存
在する加速度や核融合などの装置を運動中に分圧
測定することは不可能に近かつた。
Conventional mass spectrometers (residual gas analyzers), regardless of type, ionize gas molecules by electron bombardment and separate the produced ions electrically or magnetically by their mass. However, the sensitivity of the ion source used as a mass spectrometer varies slightly depending on the type, but is approximately 0.03.
The ion current is between ~0.3×10 -3 A/Torr, so when measuring partial pressure in an ultra-high vacuum below 10 -8 Torr, the ion current will be very weak, below 10 -12 A. I end up. Conventionally, the method of amplifying this weak current has been to use a DC amplifier using a varactor, diode, bridge input operational amplifier, etc., but such DC amplifiers not only cause offsets and drifts, but also When there are various electromagnetic devices nearby, or when remote measurements are being performed, the true signal is disturbed by noise from the peripheral devices, making accurate partial pressure measurement difficult. In particular, it is nearly impossible to measure partial pressure during motion in acceleration or nuclear fusion devices that are subject to strong electric or magnetic fields.

又、10-10Torr以下の測定では2次電子増倍管
を用いて増幅し、入射荷電粒子をパルス的に求め
る計数測定法が用いられているが、この方法では
計数の絶対値効正が難かしい上、高圧電源装置や
高級計数回路が必要となり、したがつて型も大型
のものが多く、該装置が高価なものになるという
欠点があつた。
In addition, for measurements below 10 -10 Torr, a counting measurement method is used that uses a secondary electron multiplier to amplify and obtain the incident charged particles in a pulsed manner, but with this method, the absolute value effect of counting is In addition to being difficult, it requires a high-voltage power supply and high-grade counting circuit, and as a result, many of the models are large, making the device expensive.

そこで本発明では、上記従来の欠点に鑑みてな
されたものであつて、その目的とするところは、
真空中で電子衝撃によつて圧力に比例して得られ
るイオン源からのイオン電流(イオンビーム)を
イオン収集電極に吸引されるまでの質量分析部を
含めた区間内で交流電界又は交流磁界(変調)の
作用によつてイオン電流を変調し、イオン収集電
極を通して得られるイオン電流を交流信号として
取り出すと共に、そのイオン電流の変調成分のみ
を交流増幅し、かつ増幅後の交流信号(変調信
号)とを同期させて検波し、その検波出力を低域
波器で平滑化することにより、前記電気的ノイ
ズを除去すると共に、増幅器に発生するオフセツ
トやドリフトなどを無くし、正確な測定を可能に
すると共に、かつ、2次電子増幅管なしで
10-10Torr以下の分圧測定を可能にした交流検出
方式質量分析計を提供することにある。
Therefore, the present invention has been made in view of the above-mentioned conventional drawbacks, and its purpose is to:
The ion current (ion beam) from the ion source, which is obtained in vacuum in proportion to the pressure by electron bombardment, is applied to an AC electric field or AC magnetic field ( The ionic current is modulated by the action of (modulation), and the ionic current obtained through the ion collecting electrode is extracted as an alternating current signal, and only the modulated component of the ionic current is amplified, and the amplified alternating current signal (modulated signal) By synchronizing the detection and smoothing the detection output with a low-pass filter, the electrical noise is removed, and offsets and drifts that occur in the amplifier are eliminated, making accurate measurement possible. with and without secondary electron amplifier tube
The object of the present invention is to provide an AC detection type mass spectrometer that makes it possible to measure partial pressures below 10 -10 Torr.

以下、本発明を図示せる実施例に随つて説明す
る。
The present invention will be described below with reference to illustrative embodiments.

第1実施例 (第1図参照) この実施例では質量分析部とイオン収集電極の
間に格子状の変調電極を配置して、イオン電極を
変調するようにしたものである。
First Embodiment (See FIG. 1) In this embodiment, a grid-shaped modulation electrode is arranged between the mass spectrometer and the ion collection electrode to modulate the ion electrode.

1は熱陰極電子衝撃型イオン源であつて、該イ
オン源1はNier型、BAゲージ型、冷陰極マグネ
トロン型などいずれの型でもよく、その型式は限
定されるものではなく自由に選択することができ
る。尚、該イオン源1より得られるイオン電流は
真空中のガス圧力に比例するものである。
1 is a hot cathode electron impact ion source, and the ion source 1 may be of any type such as Nier type, BA gauge type, cold cathode magnetron type, etc., and the type is not limited and can be freely selected. I can do it. Note that the ion current obtained from the ion source 1 is proportional to the gas pressure in vacuum.

2は質量分析部であつて、該質量分析部2に使
用する分析計は磁界偏向型、高周波共鳴加速型、
4重極型(マスフイルター)などイオンの質量に
よつて分離されるものであればいずれの型でもよ
く、その型式は限定されるものではなく、自由に
選択することができる。
2 is a mass spectrometer, and the analyzer used in the mass spectrometer 2 is a magnetic field deflection type, a high frequency resonance acceleration type,
Any type such as a quadrupole type (mass filter) may be used as long as the ions are separated by mass, and the type is not limited and can be freely selected.

3は前記質量分析部2を通り抜けたイオンを収
集するイオン収集電極であつて、該イオン収集電
極3は平円板、フアラデー箱、2次電子増倍電極
付き電極など、前記質量分析部2を通り抜けたイ
オンを収集できるものであればよく、自由に選択
することができる。
Reference numeral 3 denotes an ion collection electrode that collects ions that have passed through the mass spectrometry section 2, and the ion collection electrode 3 may be a flat disk, a Faraday box, an electrode with a secondary electron multiplier electrode, etc. Any material that can collect the ions that pass through can be used, and can be freely selected.

前記質量分析部2とイオン収集電極3との間に
は変調電極4が配置されている。該変調電極4は
内径約5mmのドーナツ状金属円板5に、透過率98
%の100メツシユのタングステンメツシユ6が張
られて構成されており、該変調電極4に直流成分
と交流成分(変調)を重ね合せた電圧を印加し
て、前記質量分析部2内で質量成分に分けられた
イオン電流を交流信号に変える。ここで前記直流
成分を変調器7を介して与えるバイアス電源8を
変えることによつて、変調する領域を選ぶことが
できる。又、変調器7の変調振幅を変えることに
よつて、変調率を変えることもできる。尚、該変
調電極4の形状は該実施例のものに限ることな
く、イオン電流を変調電極に与える電圧変化によ
つて変調させることができるものであればよく、
円筒状にするなどその形状、構成は自由に選択す
ることができる。
A modulation electrode 4 is arranged between the mass spectrometer 2 and the ion collection electrode 3. The modulation electrode 4 is a donut-shaped metal disk 5 with an inner diameter of about 5 mm and a transmittance of 98.
A tungsten mesh 6 of 100% mesh is stretched, and a voltage in which a DC component and an AC component (modulation) are superimposed is applied to the modulation electrode 4, and the mass components are detected in the mass spectrometer 2. Converts the divided ionic current into an alternating current signal. Here, by changing the bias power supply 8 that supplies the DC component via the modulator 7, the region to be modulated can be selected. Furthermore, by changing the modulation amplitude of the modulator 7, the modulation rate can also be changed. Note that the shape of the modulation electrode 4 is not limited to that of the embodiment, and may be any shape as long as it can modulate the ionic current by changing the voltage applied to the modulation electrode.
Its shape and configuration, such as a cylindrical shape, can be freely selected.

9は前記イオン収集電極3に取付けられたシー
ルド電極であつて、該シールド電極9は変調に伴
つてイオン収集電極誘起される誘導電流を低減下
されるための保護電極で、前記変調電極4に使用
したタングステンメツシユと同じ種類のタングス
テンメツシユ10を張つたふるい型の電極で、前
記イオン収集電極3をすつぼり包むように取付け
られ、0〜−50Vの電位を与えるものである。イ
オン収集電極3に集められたイオン電流は、同軸
真空端子(図示せず)を通つて真空壁外に導き出
され、微少交流電流増幅11によつて電圧に変換
される。さらに、その出力は交流増幅器12によ
つて変調成分のみが増幅される。
Reference numeral 9 denotes a shield electrode attached to the ion collecting electrode 3. The shield electrode 9 is a protective electrode for reducing the induced current induced in the ion collecting electrode due to modulation. It is a sieve-type electrode covered with a tungsten mesh 10 of the same type as the tungsten mesh used, and is attached so as to wrap around the ion collecting electrode 3, giving a potential of 0 to -50V. The ion current collected at the ion collection electrode 3 is led out of the vacuum wall through a coaxial vacuum terminal (not shown) and converted into a voltage by a minute alternating current amplification 11. Furthermore, only the modulation component of the output is amplified by the AC amplifier 12.

増幅された信号は、前記変調器7からの分割し
て得た信号を、直流成分をカツトオフコンデンサ
ー13で除き、位相器14を通して前記増幅信号
と同位相にしてアナログ掛算器15に入れ、その
出力を低域波器(ローパスフイルタ)16を通
して出力とする。前記位相器14とアナログ掛算
器15及び低域波器16で位相弁別検器を構成
している。
The amplified signal is obtained by dividing the signal from the modulator 7, removing the DC component with a cut-off capacitor 13, passing it through a phase shifter 14, making it in phase with the amplified signal, and inputting it into an analog multiplier 15. The output is passed through a low-pass filter 16 and output. The phase shifter 14, the analog multiplier 15, and the low frequency shifter 16 constitute a phase discrimination detector.

第2実施例 (第2図参照) この実施例ではイオン源1と質量分析部2の間
に、前記第1実施例と同様の変調電極4を配置し
て、イオン電流を変調するようにしたものであつ
て、この実施例の場合、変調による誘導電流がイ
オン収集電極に発生しないため、イオン収集電極
9にシールド電極は取付けなくてもよい。
Second Embodiment (See Figure 2) In this embodiment, a modulation electrode 4 similar to the first embodiment was placed between the ion source 1 and the mass spectrometer 2 to modulate the ion current. In this embodiment, since no induced current due to modulation is generated in the ion collecting electrode, there is no need to attach a shield electrode to the ion collecting electrode 9.

その他の構成、作用は前記第1実施例と同様で
ある。
Other structures and functions are the same as those of the first embodiment.

第3実施例 (第3図参照) この実施例では変調電極を用いないで質量分析
部内の電界変化によつてイオン電流の交流化を行
なうようにしたものである。
Third Embodiment (See FIG. 3) In this embodiment, the ion current is changed to alternating current by changing the electric field within the mass spectrometer without using a modulation electrode.

この実施例では質量分析計として4重極質量分
析器20を使用し、該分析器20と変調器7とを
直流成分0を与える電源21と、交流成分
vcoswtを与える周波数−電圧変換器22を介し
て接続したものである。
In this embodiment, a quadrupole mass spectrometer 20 is used as a mass spectrometer, and the analyzer 20 and modulator 7 are connected to a power source 21 that provides a DC component of 0 and an AC component.
It is connected via a frequency-voltage converter 22 which provides vcoswt.

分析部のイオン入射口23から前記分析器20
の分析ロツド24によつて囲まれた4重極場に入
射したイオンがイオン収集電極3に達するイオン
電流Ii(感度)は、前記分析ロツド24に印加さ
れる高周波の周波数(通常数MHz)に比例し、
分解能に反比例することが知られている。よつ
て、変調(低周波)の電圧変化に応じて高周波の
周波数を変える。即ち、FM変調を行なえば、コ
レクターを通して得られるイオン電流は交流信号
となる。
The analyzer 20 from the ion entrance port 23 of the analysis section
The ion current Ii (sensitivity) from which ions incident on the quadrupole field surrounded by the analysis rod 24 reach the ion collection electrode 3 depends on the frequency (usually several MHz) of the high frequency applied to the analysis rod 24. proportionally,
It is known that it is inversely proportional to resolution. Therefore, the frequency of the high frequency is changed according to the voltage change of the modulation (low frequency). That is, if FM modulation is performed, the ion current obtained through the collector becomes an alternating current signal.

前記電源21の回路の他、前記分析ロツド24
と電圧変換器22を接続する別回路には高周波成
分を与える電源25が設けられ、該高周波の周波
数は前記電圧変換器22を通して低周波発振器で
ある変調器7によつて変調される。26は分析部
のイオン出口である。
In addition to the circuit of the power supply 21, the analysis rod 24
A separate circuit connecting the voltage converter 22 and the voltage converter 22 is provided with a power source 25 for providing a high frequency component, and the frequency of the high frequency is modulated through the voltage converter 22 by a modulator 7 which is a low frequency oscillator. 26 is an ion outlet of the analysis section.

その他の構成、作用は第1実施例と同様であ
る。
Other configurations and operations are similar to those of the first embodiment.

第4実施例 (第4図参照) この実施例では変調電極を用いないで質量分析
部内の電界変化によつてイオン電流の交流化を行
なうようにした他の実施例を示すもので、前記第
3実施例で使用した高周波成分を与える電源に替
えて、交流vcoswtを与える高周波発振器27を
使用したものである。したがつてこの実施例では
電圧変換器は不要である。
Fourth Embodiment (See Figure 4) This embodiment shows another embodiment in which the ion current is changed to alternating current by changing the electric field within the mass spectrometer without using a modulation electrode. In place of the power source that provides a high frequency component used in the third embodiment, a high frequency oscillator 27 that provides an AC vcoswt is used. Therefore, a voltage converter is not required in this embodiment.

前述したように4重極場に入射したイオンがイ
オン収集電極3に達するイオン電流は、分解能に
反比例することが知られているが、その分解能は
また0.126/0.1678−U/Vで与えられることが知られ ている。ここでUは2本の分析ロツド24に加え
られる直流成分であり、又、高周波発振器は分析
ロツドに加えられる高周波の振幅の大きさを示
す。よつてU又はVを変調することによつて分解
能が変調されることになり、ひいてはイオン収集
電極に到達するイオン電流が変調されることにな
る。
As mentioned above, it is known that the ion current from the ions incident on the quadrupole field reaching the ion collection electrode 3 is inversely proportional to the resolution, but the resolution is also given by 0.126/0.1678-U/V. It has been known. Here, U is the DC component applied to the two analysis rods 24, and the high frequency oscillator indicates the magnitude of the amplitude of the high frequency wave applied to the analysis rods. Thus, by modulating U or V, the resolution will be modulated and thus the ion current reaching the ion collection electrode will be modulated.

尚、前記第3実施例、第4実施例共に質量分析
計として4重極質量分析器をしたが、これを磁界
偏向型質量分析器を使用してもよい。
Although a quadrupole mass spectrometer is used as the mass spectrometer in both the third and fourth embodiments, a magnetic field deflection type mass spectrometer may also be used instead.

以上述べたように本発明によれば、イオン源か
ら出たイオンビームがイオン収集電極に吸引され
るまでの区間内で交流電界又は交流磁界の作用に
よつてイオン電流を変調し、イオン収集電極を通
してイオン電流を交流信号として取り出すと共
に、その交流微小電流を交流微小電流増幅器で増
幅後、変調信号と同期させて位相弁別検波器にか
け、該出力によりそのイオンに起因する気体の分
圧を測定するようにしたので、増幅器にドリフト
やオフセツトが生じず、長期間の運転が可能にな
るだけでなく、外来ノイズにも強く、ノイズにう
ずもれた微小信号であつても、高精度、高信頼性
をもつて検出できるため、加速器や核融合炉など
のシビヤなノイズ中でも運転中に測定することが
でき、100m以上の遠隔測定も可能となるなど、
今まで測定不可能であつた分野の分圧測定を可能
ならしめることができる。
As described above, according to the present invention, the ion current is modulated by the action of an alternating current electric field or an alternating magnetic field within the interval until the ion beam emitted from the ion source is attracted to the ion collecting electrode, and the ion collecting electrode The ionic current is extracted as an alternating current signal through the ionizer, and the alternating current is amplified by an alternating current microcurrent amplifier, then applied to a phase discrimination detector in synchronization with the modulation signal, and the partial pressure of the gas caused by the ions is measured from the output. This not only allows the amplifier to operate for long periods of time without causing drift or offset, but it is also resistant to external noise, ensuring high accuracy and reliability even with minute signals buried in noise. Because it can be detected with high sensitivity, it can be measured during operation even in severe noise from accelerators and nuclear fusion reactors, and remote measurement over 100 meters is also possible.
It is now possible to measure partial pressures in fields that were previously impossible to measure.

又、本発明によれば、位相弁別検波方式である
ため、低域波器の時定数を大きくすれば、微小
電流の増幅限界は10-13Torr位まで可能であるた
め、2次電子増倍管なしでも10-10Torr以下の分
圧測定が充分に可能となるものである。
Furthermore, according to the present invention, since the phase-discriminative detection method is used, if the time constant of the low-pass filter is increased, the amplification limit of minute currents can be up to about 10 -13 Torr, so secondary electron multiplication is possible. This makes it possible to measure partial pressures of 10 -10 Torr or less even without a tube.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の第1実施例を示す分析計を示
すブロツク図、第2図は本発明の第2実施例を示
す分析計のブロツク図、第3図は本発明の第3実
施例を示す分析計のブロツク図、第4図は本発明
の第4実施例を示す分析計のブロツク図である。 1はイオン源、2は質量分析部、3はイオン収
集電極、4は変調電極、7は変調器、9はシール
ド電極、13はカツトオフコンデンサー、20は
4重極分析器、21は電極、22は電圧変換器、
27は高周波発振器。
FIG. 1 is a block diagram of an analyzer showing a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram of an analyzer showing a second embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a block diagram of an analyzer showing a third embodiment of the present invention. FIG. 4 is a block diagram of an analyzer showing a fourth embodiment of the present invention. 1 is an ion source, 2 is a mass spectrometer, 3 is an ion collection electrode, 4 is a modulation electrode, 7 is a modulator, 9 is a shield electrode, 13 is a cut-off capacitor, 20 is a quadrupole analyzer, 21 is an electrode, 22 is a voltage converter;
27 is a high frequency oscillator.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 真空装置内の特定種類の気体分子の分子密度
を知るために、分子を電子衝撃によつて電離し、
その電離によつて得られたイオンを分析部に適当
に配置した電界や磁界の作用で、そのイオンの電
荷対質量比に応じて分離し、そのイオン電流の大
きさから、分子の種類及びその分子密度を求める
ようになした質量分析計において、イオン源から
わき出したイオン電流をイオン収集電極に到達す
る前段階において交流電界又は交流磁界の作用に
よつて変調し、イオン収集電極を通して得られる
電流を交流信号として取り出すと共に、そのイオ
ン電流の変調成分のみを交流増幅し、かつ、増幅
後の信号と変調に用いた交流信号とを同期させて
検波できるように、イオン源とイオン収集電極と
の間の適宜位置に、変調電極を配置したことを特
徴とする交流検出方式質量分析計。 2 前記変調電極を質量分析部とイオン収集電極
との間に配置したことを特徴とする特許請求の範
囲第1項に記載の交流検出方式質量分析計。 3 前記変調電極を質量分析部とイオン源との間
に配置したことを特徴とする特許請求の範囲第1
項に記載の交流検出方式質量分析計。 4 真空装置内の特定種類の気体分子の分子密度
を知るために、分子を電子衝撃によつて電離し、
その電離によつて得られたイオンを分析部に適当
に配置した電界や磁界の作用で、そのイオンの電
荷対質量比に応じて分離し、その分子密度を求め
るようになした質量分析計において、イオン源か
らわき出したイオン電流をイオン収集電極に到達
する前段階において交流電界又は交流磁界の作用
によつて変調し、イオン収集電極を通して得られ
る電極を交流信号として取り出すと共に、そのイ
オン電流の変調成分のみを交流増幅し、かつ、増
幅後の信号と変調に用いた交流信号とを同期させ
て検出できるように、質量分析部と変調器との間
に直流成分Uを与える電源と、交流成分vcoswt
を与える周波数電圧変換器もしくは高周波発振器
を配置したことを特徴とする交流検出方式質量分
析計。 5 前記質量分析部を4極子型質量分析計とした
ことを特徴とする特許請求の範囲第4項に記載の
交流検出方式質量分析計。 6 前記質量分析部を磁界偏向型分析計としたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第4項に記載の交
流検出方式質量分析計。
[Claims] 1. In order to find out the molecular density of a specific type of gas molecule in a vacuum device, the molecule is ionized by electron bombardment,
The ions obtained by the ionization are separated according to the charge-to-mass ratio of the ions by the action of an electric field or magnetic field appropriately placed in the analysis section, and the type of molecule is determined from the magnitude of the ion current. In a mass spectrometer designed to determine molecular density, the ion current emitted from the ion source is modulated by the action of an alternating current electric field or alternating magnetic field before reaching the ion collecting electrode, and the ion current is obtained through the ion collecting electrode. The ion source and ion collecting electrode are designed so that the current can be extracted as an AC signal, only the modulation component of the ion current can be AC amplified, and the amplified signal and the AC signal used for modulation can be synchronized and detected. An alternating current detection type mass spectrometer characterized in that a modulation electrode is arranged at an appropriate position between the two. 2. The alternating current detection type mass spectrometer according to claim 1, wherein the modulation electrode is disposed between a mass spectrometer and an ion collection electrode. 3. Claim 1, characterized in that the modulation electrode is disposed between a mass spectrometer and an ion source.
The AC detection method mass spectrometer described in . 4. In order to find out the molecular density of a specific type of gas molecule in a vacuum device, the molecules are ionized by electron bombardment.
In a mass spectrometer, the ions obtained by ionization are separated according to the charge-to-mass ratio of the ions by the action of an electric or magnetic field appropriately placed in the analysis section, and the molecular density of the ions is determined. , the ion current emitted from the ion source is modulated by the action of an alternating current electric field or alternating magnetic field before reaching the ion collecting electrode, and the electrode obtained through the ion collecting electrode is extracted as an alternating signal, and the ion current is In order to amplify only the modulation component and synchronize and detect the amplified signal and the AC signal used for modulation, a power source that supplies the DC component U and an AC power source are connected between the mass spectrometer and the modulator. component vcoswt
An AC detection mass spectrometer characterized by having a frequency-voltage converter or a high-frequency oscillator arranged to give 5. The AC detection type mass spectrometer according to claim 4, wherein the mass spectrometer is a quadrupole type mass spectrometer. 6. The AC detection type mass spectrometer according to claim 4, wherein the mass spectrometer is a magnetic field deflection type analyzer.
JP58129614A 1983-07-16 1983-07-16 Ac detection type mass analyzer Granted JPS6023945A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58129614A JPS6023945A (en) 1983-07-16 1983-07-16 Ac detection type mass analyzer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58129614A JPS6023945A (en) 1983-07-16 1983-07-16 Ac detection type mass analyzer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6023945A JPS6023945A (en) 1985-02-06
JPH0354829B2 true JPH0354829B2 (en) 1991-08-21

Family

ID=15013816

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58129614A Granted JPS6023945A (en) 1983-07-16 1983-07-16 Ac detection type mass analyzer

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2157639A1 (en) 2008-08-04 2010-02-24 Sony Corporation Positive electrode active material, positive electrode using the same and non-aqueous electrolyte secondary battery

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JPS6023945A (en) 1985-02-06

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