JPH0410657B2 - - Google Patents
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- JPH0410657B2 JPH0410657B2 JP58501174A JP50117483A JPH0410657B2 JP H0410657 B2 JPH0410657 B2 JP H0410657B2 JP 58501174 A JP58501174 A JP 58501174A JP 50117483 A JP50117483 A JP 50117483A JP H0410657 B2 JPH0410657 B2 JP H0410657B2
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
請求の範囲
1 バス障害検出装置において、
バス、
各々が前記バスに接続された端子、第1および
第2の電力供給端子およびインピーダンス制御端
子を有する複数の装置、
前記複数の装置の第1の電力供給端子を相互接
続する手段、
前記複数の装置の第2の電力供給端子を相互接
続する手段、
前記複数の装置を付勢する付勢手段、
前記バス上障害状態に応答して障害信号を発生
する手段、
前記障害信号に応答して前記複数の装置の各々
のインピーダンス制御端子に信号を伝送し、該複
数の装置の各々を高インピーダンス状態に置くた
めの手段、
前記障害信号に応答して該バス上に第1および
第2の信号レベルを別々に伝送する手段、
前記付勢手段と前記複数の装置の相互接続され
た第1の電力供給端子との間を流れる電流を検知
する第1の電流検知手段、
前記第1の電流検知手段によつて検知された電
流が第1の所定の大きさを越えたときに第1のエ
ラー信号を発生する第1のエラー信号発生手段、
前記付勢手段と前記複数の装置の相互接続され
た第2の電力供給端子との間を流れる電流を検知
する第2の電流検知手段、
前記第2の電流検知手段によつて検知された電
流が第2の所定の大きさを越えたときに第2のエ
ラー信号を発生させる第2のエラー信号発生手段
とを含み、
前記第1および第2の所定の大きさは等しくす
ることができることを特徴とするバス障害検出装
置。Claim 1: A bus failure detection device, comprising: a bus; a plurality of devices each having a terminal connected to the bus; first and second power supply terminals; and an impedance control terminal; a first power source of the plurality of devices; means for interconnecting supply terminals; means for interconnecting second power supply terminals of the plurality of devices; energizing means for energizing the plurality of devices; generating a fault signal in response to a fault condition on the bus; means for transmitting a signal to an impedance control terminal of each of the plurality of devices in response to the fault signal to place each of the plurality of devices in a high impedance state; means for separately transmitting first and second signal levels on a bus; a first sensing current flowing between the energizing means and a first interconnected power supply terminal of the plurality of devices; current detection means; first error signal generation means for generating a first error signal when the current detected by the first current detection means exceeds a first predetermined magnitude; and the energization. second current sensing means for sensing a current flowing between the means and interconnected second power supply terminals of the plurality of devices; a second error signal generating means for generating a second error signal when the predetermined magnitude of the error signal exceeds a predetermined magnitude, and the first and second predetermined magnitudes can be made equal. Bus failure detection device.
2 請求の範囲第1項に記載のバス障害検出装置
において、当該装置がさらに
前記第1のエラー信号発生手段が前記エラー信
号を発生したときに合成エラー信号を発生し、前
記第2のエラー信号発生手段が前記第2のエラー
信号を発生したときに前記合成エラー信号を発生
する手段を含むことを特徴とするバス障害検出装
置。2. The bus fault detection device according to claim 1, further comprising: generating a composite error signal when the first error signal generating means generates the error signal; A bus fault detection device comprising: means for generating the composite error signal when the generating means generates the second error signal.
3 請求の範囲第2項に記載のバス障害検出装置
において、当該装置がさらに
前記合成エラー信号を記憶するための手段を含
むことを特徴とするバス障害検出装置。3. The bus failure detection device according to claim 2, further comprising means for storing the composite error signal.
4 請求の範囲第1項に記載のバス障害検出装置
において、前記第1の電流検知手段が前記付勢手
段と前記複数の装置の相互接続された第1の電力
供給端子との間に接続された第1の抵抗手段を含
み、
前記第2の電流検知手段が前記付勢手段と前記
複数の装置の相互接続された第2の電力供給端子
との間に接続された第2の抵抗手段を含み、およ
び
当該バス障害検出装置がさらに
前記第1の抵抗手段と並列に接続され、当該第
1の抵抗手段を短絡させる手段、
前記第2の抵抗手段と並列に接続され、当該第
2の抵抗手段を短絡させる手段とを含むことを特
徴とするバス障害検出装置。4. The bus failure detection device according to claim 1, wherein the first current detection means is connected between the biasing means and the interconnected first power supply terminals of the plurality of devices. a first resistive means connected between the biasing means and a second interconnected power supply terminal of the plurality of devices; and the bus failure detection device further includes: means connected in parallel with the first resistance means and shorting the first resistance means; and means connected in parallel with the second resistance means and shorting the first resistance means. and means for short-circuiting the means.
5 請求の範囲第1項記載のバス障害検出装置に
おいて、前記複数の装置の各々が3状態装置であ
ることを特徴とするバス障害検出装置。5. The bus failure detection device according to claim 1, wherein each of the plurality of devices is a three-state device.
技術分野
この発明は伝送回線あるいはバス障害点検出、
より詳細には複数の装置を接続するバスがある論
理状態にロツクされたときに使用するバス障害点
検出方法及び装置に関する。Technical Field This invention is directed to detection of transmission line or bus failure points,
More specifically, the present invention relates to a bus failure point detection method and apparatus used when a bus connecting a plurality of devices is locked in a certain logical state.
発明の背景
コンピユータシステムは通常共有バスに直接接
続された多くの回路パツクを含む。各回路パツク
は1つあるいは複数の装置を介してこのバスとイ
ンタフエースをとつているが、これら装置はその
回路パツクで実行される機能により、送信機、受
信機あるいはトランシーバなどである。例えば、
半導体接合の短絡によつてこれら装置の1つが障
害を起こしたときは、その回路パツクを通電する
のに使用される電圧源への低インピーダンス経路
に起因して、バスあるいはその一部が論理0ある
いは論理1にロツクされる。この種類のバス障害
の検出は比較的平易である。しかしながら、この
障害を特定の回路パツクに限定するのはより困難
であり、これはしばしば手作業により1つの回路
パツクを1度に交換することによつて行なわれ
る。この発明はこのバス障害の源を自動的に検出
する方法及び装置を提供する。BACKGROUND OF THE INVENTION Computer systems typically include many circuit packs connected directly to a shared bus. Each circuit pack interfaces with this bus through one or more devices, which may be transmitters, receivers, or transceivers, depending on the function performed by the circuit pack. for example,
When one of these devices fails due to a short circuit in the semiconductor junction, the bus or part of it becomes a logic zero due to the low impedance path to the voltage source used to energize the circuit pack. Or it is locked to logic 1. Detecting this type of bus failure is relatively straightforward. However, it is more difficult to localize this fault to a particular circuit pack, and this is often done manually by replacing one circuit pack at a time. The present invention provides a method and apparatus for automatically detecting the source of this bus fault.
発明の要約
この発明のバス障害検出装置はバス、このバス
に接続されたいくつかの装置及びこの装置に通電
する電力供給源を含む。信号が送信され特定の装
置を高インピーダンス状態にするために1つの信
号が送信され、既定の信号レベルがこのバスに送
信される。この特定の装置と電力供給源との間の
電流が感知され、この感知された電流が既定規模
を越えるときはエラー信号が生成される。SUMMARY OF THE INVENTION The bus fault detection apparatus of this invention includes a bus, a number of devices connected to the bus, and a power supply for energizing the device. A signal is sent to place a particular device in a high impedance state, and a predetermined signal level is sent to this bus. The current between the particular device and the power supply is sensed and an error signal is generated when the sensed current exceeds a predetermined magnitude.
第1図は本発明に係わるシステムのブロツク
図;
第2図及び第3図は第5図に従つて配置された
ときに、第1図のシステムに含まれる回路パツク
の詳細図を示し;そして
第4図は第1図のシステムに含まれるバス診断
装置の詳細を示めす図である。
1 is a block diagram of a system according to the invention; FIGS. 2 and 3 show detailed views of the circuit packs included in the system of FIG. 1 when arranged according to FIG. 5; and FIG. 4 is a diagram showing details of the bus diagnostic device included in the system of FIG. 1.
概略説明
第1図は本発明の原理に基づくバス障害点検出
装置の典型的に実施態様を実現するシステム10
のブロツク図である。システム10において、複
数の回路パツク100−0,100−1…100
−Nは共有される4つの導体バスを介して内部通
信を行なう。各回路パツク100−0,100−
1…100−Nは電力供給源200によつて通電
され、またバス500に直接接続された4個の送
信機及び4個の受信機を含む。例えば、回路パツ
ク100−0(第5図に従つて配置された第2及
び3図)は送信機101−1,101−2、10
1−3及び101−4並びに受信機102−1,
102−2,102−3,及び102−4を含
む。この例においては、これら送信機及び受信機
は相補型モス(CMOS)集積回路三状態装置で
ある。第3図において、各三状態装置の電力供給
端子はV及びGで、また入力及び出力端子はそれ
ぞれI及びOで示めされている。Cで示めされる
端子は、ここではインピーダンス制御端子を表わ
す。三状態装置は端子Cに論理1信号が送くられ
ることによつて高インピーダンス状態になると、
その装置は他の装置がバス500上でデータの送
信をすることを妨げることができない。電力供給
源200と特定の回路パツク上の三状態装置の間
の電流が感知できるように、このパツクの各三状
態装置の電力供給端子は1対の端子BVCC及び
BGNDを介して内部接続される(第3図)。抵抗
体184(第2図)と通常閉路位にあるリレー接
点182はBVCC端子と電力供給源200の
VCC端子との間で並列に接続される。同様に、
抵抗体183と通常閉路位にあるリレー接点18
1はBGND端子と電力供給源200のGND端子
の間で並列に接続される。リレー接点182及び
181の両者とも単一リレー入力回路180によ
つて制御される。抵抗体184及び183はリレ
ー入力回路180に電圧が加えられこれによつて
リレー接点181及び182が開路されたとき、
それぞれBVCCとVCCの間の電流並びにBGND
とGNDの間の電流を感知するのに使用される。General Description FIG. 1 shows a system 10 implementing an exemplary embodiment of a bus fault detection apparatus according to the principles of the present invention.
FIG. In the system 10, a plurality of circuit packs 100-0, 100-1...100
-N provides internal communication via a shared four conductor bus. Each circuit pack 100-0,100-
1...100-N are energized by power supply 200 and include four transmitters and four receivers connected directly to bus 500. For example, circuit pack 100-0 (FIGS. 2 and 3 arranged according to FIG. 5) includes transmitters 101-1, 101-2, 10
1-3 and 101-4 and receiver 102-1,
102-2, 102-3, and 102-4. In this example, the transmitter and receiver are Complementary MOS (CMOS) integrated circuit three-state devices. In FIG. 3, the power supply terminals of each three-state device are designated V and G, and the input and output terminals are designated I and O, respectively. The terminal denoted C here represents an impedance control terminal. When a three-state device is placed in a high impedance state by a logic 1 signal being sent to terminal C,
The device cannot prevent other devices from transmitting data on bus 500. In order to sense the current between power supply 200 and the three-state devices on a particular circuit pack, the power supply terminals of each three-state device on the pack are connected to a pair of terminals BVCC and
Internally connected via BGND (Figure 3). Resistor 184 (FIG. 2) and relay contact 182 in the normally closed position connect the BVCC terminal to power source 200.
Connected in parallel with VCC pin. Similarly,
Resistor 183 and relay contact 18 in normally closed position
1 is connected in parallel between the BGND terminal and the GND terminal of the power supply source 200. Both relay contacts 182 and 181 are controlled by a single relay input circuit 180. Resistors 184 and 183 operate when voltage is applied to relay input circuit 180, thereby opening relay contacts 181 and 182.
Current between BVCC and VCC and BGND, respectively
used to sense the current between GND and GND.
この例においては、データはバス500(第1
図)上をそれぞれバス500の導線の1つの上を
運ばれる1つのパリテイビツトを含む4ビツト単
位(ニブル)にて送信される。中央制御装置40
0はバス500上を送信される全てのデータを監
視して、パリテイビツトエラーの検出を行なう。
中央制御装置400が検出パリテイエラーに基づ
いてバス500上に障害状態が存在することを判
定すると、障害信号と呼ばれる信号を導線401
を介してバス診断装置300に送信する。これに
応答してバス診断装置300は回路パツク100
−0,100−1…100−Nの入力端子CB0,
CB1…CBNに論理0信号を送信し、回路パツク
100−0,100−1…100−Nの各送信機
及び受信機を高インピーダンス状態にする。バス
障害状態の源がバス500の1つあるいは複数の
導線と回路パツク100−0(第5図に従つて配
置された第2及び3図)の端子BVCC及び
BGNDの1つとの間の低インピーダンス経路に
存在するかどうかを判定するため、論理1信号が
パツク100−0入力端子CA0に送信され、こ
の信号はリレー駆動機153を介してリレー18
0に送くられる。こうしてリレー接点181及び
182が開く。バス診断装置300は次に、バス
500の4個の全ての導線上に最初に論理1信号
を、続いて論理0信号を送信する。バス500と
パツク100−0のBGNDの間に低インピーダ
ンス経路が存在するときは、バス診断装置300
(第1図)がバス500上に論理1信号を送信し
たとき、既定規模以上の電流が抵抗体183によ
つて感知される。同様に、バス500とパツク1
00−0のBVCCの間に低インピーダンスが存在
するときは、バス診断装置300がバス500上
に論理0信号を送信したとき、既定規模以上の電
流が抵抗体184によつて感知される。いずれか
の状態が存在するときは、パツク100−0はリ
レーバス250を介して論理1信号を出力端子
RA0からバス診断装置300に送信する。信頼
性を向上させるため、さらに論理0信号をリレー
バス250を介して出力端子RB0からバス診断
装置300に送信する。これら信号に応答してバ
ス診断装置300はパツク100−0がバス障害
の源であると判定して、ここに示めされてない装
置によつてこの情報が技術者に送られ、パツク1
00−0交換を行こなう。あるいは、二重システ
ムの場合は中央制御装置にこの情報を送くり2重
パツクの他方を起動させる。このプロセスをバス
障害状態の源が検出されるまでパツク100−1
から100−Nまで繰り返す。 In this example, the data is transferred to bus 500 (first
(FIG.) in four bit units (nibbles) each containing one parity bit carried on one of the conductors of bus 500. Central control device 40
0 monitors all data transmitted on bus 500 to detect parity bit errors.
When central controller 400 determines that a fault condition exists on bus 500 based on the detected parity error, it transmits a signal, referred to as a fault signal, to conductor 401.
is transmitted to the bus diagnostic device 300 via. In response, bus diagnostic device 300 detects circuit pack 100.
-0,100-1...100-N input terminal CB0,
Send a logic 0 signal to CB1...CBN to place each transmitter and receiver in circuit packs 100-0, 100-1...100-N into a high impedance state. The source of the bus fault condition may be one or more conductors of bus 500 and terminals BVCC and C of circuit pack 100-0 (FIGS. 2 and 3 arranged according to FIG. 5).
A logic 1 signal is sent to pack 100-0 input terminal CA0 to determine if there is a low impedance path to one of the
Sent to 0. Thus, relay contacts 181 and 182 open. Bus diagnostic device 300 then sends first a logic 1 signal and then a logic 0 signal on all four conductors of bus 500. When a low impedance path exists between the bus 500 and the BGND of the pack 100-0, the bus diagnostic device 300
(FIG. 1) sends a logic one signal on bus 500, a current greater than a predetermined magnitude is sensed by resistor 183. Similarly, bus 500 and park 1
When a low impedance exists between 00-0 BVCC, a current greater than a predetermined magnitude is sensed by resistor 184 when bus diagnostic device 300 sends a logic 0 signal on bus 500. When either condition exists, pack 100-0 outputs a logic 1 signal via relay bus 250 to terminal
It is sent from RA0 to the bus diagnostic device 300. To improve reliability, a logic 0 signal is also transmitted via relay bus 250 from output terminal RB0 to bus diagnostic device 300. In response to these signals, bus diagnostic equipment 300 determines that pack 100-0 is the source of the bus fault, and this information is sent to a technician by equipment not shown here, causing pack 100-0 to be the source of the bus fault.
Perform 00-0 exchange. Alternatively, in the case of a duplex system, this information is sent to the central controller to activate the other side of the duplex pack. This process continues until the source of the bus fault condition is detected.
Repeat from 100-N.
詳細な説明
システム10はここでは正規、診断、及び電流
感知テストモードと呼ぶ3つのモードにて動作す
る。正規モードにおいては、パツク100−0,
100−1…100−Nはバス500を介して内
部通信してシステム機能を遂行する。システム1
0は診断モードにて動作すると前述の方法にてバ
ス500上の障害状態の源の検出を行なう。最後
に、システム10は電流感知テストモードにて動
作することにより、これから説明する方法にて診
断モードに使用される回路の動作が正常であるか
検証する。回路パツク100−0(第5図に従つ
て配置された第2図及び第3図)内の制御回路1
50、インピーダンス制御回路120及び12
0′と表示器195とは、本発明のバス障害検出
能力を達成するためにパツク100−0に加えら
れた回路を示めす。正規モードにおいて回路パツ
ク100−0にシステム機能を遂行させる回路は
回路110によつて表わされているが、これは導
線105−1,105−2,105−3,及び1
05−4を介して送信機101−1,101−
2,101−3、及び101−4のI入力端子に
接続され、また導線106−1,106−2,1
06−3、及び106−4を介して受信機102
−1,102−2,102−3、及び102−4
のO出力端子に接続される。回路110は、例え
ば、マイクロコンピユータあるいはマイクロコン
ピユータの端末である。システム10に本発明の
バス障害検出装置が組込まれてないときは、回路
パツク100−0は回路110、送信機101−
1,101−2,101−3、及び101−4並
びに受信機102−1,102−2,102−
3、及び102−4を含むのみで、回路110は
導線111及び112を介してこれら送信機及び
受信機のインピーダンス状態を直接制御するとこ
ろである。本発明に関係する回路パツク100−
0,100−1…100−Nの部分は全て同一で
あるためパツク100−0についてのみ詳細に述
べる。DETAILED DESCRIPTION System 10 operates in three modes, referred to herein as normal, diagnostic, and current sensing test modes. In normal mode, pack 100-0,
100-1...100-N communicate internally via bus 500 to perform system functions. system 1
0 operates in diagnostic mode to detect the source of a fault condition on bus 500 in the manner described above. Finally, system 10 operates in a current sensing test mode to verify the correct operation of the circuitry used in the diagnostic mode in the manner that will now be described. Control circuit 1 in circuit pack 100-0 (FIGS. 2 and 3 arranged according to FIG. 5)
50, impedance control circuits 120 and 12
0' and indicator 195 indicate circuitry added to pack 100-0 to achieve the bus fault detection capability of the present invention. The circuitry that allows circuit pack 100-0 to perform system functions in normal mode is represented by circuit 110, which is connected to conductors 105-1, 105-2, 105-3, and 105-2.
Transmitter 101-1, 101- via 05-4
2, 101-3, and 101-4, and also conductors 106-1, 106-2, 1
Receiver 102 via 06-3 and 106-4
-1, 102-2, 102-3, and 102-4
is connected to the O output terminal of Circuit 110 is, for example, a microcomputer or a terminal of a microcomputer. When the system 10 does not incorporate the bus failure detection device of the present invention, the circuit pack 100-0 includes the circuit 110, the transmitter 101-
1,101-2,101-3, and 101-4 and receiver 102-1,102-2,102-
3, and 102-4, circuit 110 directly controls the impedance state of these transmitters and receivers via conductors 111 and 112. Circuit pack 100- related to the present invention
0, 100-1...100-N are all the same, so only pack 100-0 will be described in detail.
正規、診断、あるいは電流感知テストモードの
動作の選択はバス診断装置300(第4図)によ
つて制御されるが、当該診断装置はマイクロプロ
セツサバス305によつて内部接続されたマイク
ロプロセツサ301(例えば、インテル8085)、
直接アクセス記憶装置302、読出し専用記憶装
置303、及び並列入/出力ポート304(例え
ば、インテル8255)を含む。記憶装置303はバ
ス診断装置300の動作を定義するプログラムを
格納し、そして記憶装置302はマイクロプロセ
ツサ301の動作に必要な作業記憶装置である。
並列入/出力ポート304は中央制御装置400
によつてバス500上の障害状態の検出が行なわ
れたことを示めす障害信号を導線401上に受信
する。マイクロプロセツサ301は、並列入/出
力ポート304から、緩衝記憶装置310−0か
ら310−Nまで及び311−3から311−N
までを介して、回路パツク100−0から100
−Nの関連する入力端子CA0からCANまで及び
CB0からCBNまでへの制御信号の送信を制御す
ることによりシステム動作を制御する。マイクロ
プロセツサ301はさらに並列入/出力ポート3
04から緩衝記憶装置308−1,308−2,
308−3及び308−4並びに通常閉路位にあ
るリレー接点307−1,307−2,307−
3、及び307−4を介してのバス500への信
号の送信の制御を行なうが、この接点は並列入/
出力ポート304によつてリレー入力回路306
に電圧が掛けられるのに応答して閉路されるまで
バス診断装置300をバス500から隔離する。
並列入/出力ポート304は障害検出診断の結果
を示す信号を応答バス250並びに緩衝記憶装置
309−1及び309−2を介して回路パツク1
00−0から100−Nまでより受信する。2個
のプルアツプ抵抗体351及び352が応答バス
250の導線と電力供給源200のVCC端子の
間に接続されており、開放集電ゲートを備なえる
応答バス250の正しい動作を可能としている。 The selection of normal, diagnostic, or current sensing test modes of operation is controlled by a bus diagnostic device 300 (FIG. 4), which is connected to a microprocessor by a microprocessor bus 305. 301 (e.g. Intel 8085),
Includes direct access storage 302, read only storage 303, and parallel input/output ports 304 (eg, Intel 8255). A storage device 303 stores programs that define the operation of the bus diagnostic device 300, and a storage device 302 is a working memory necessary for the operation of the microprocessor 301.
Parallel input/output port 304 connects to central controller 400
A fault signal is received on conductor 401 indicating that detection of a fault condition on bus 500 has been made by. Microprocessor 301 has parallel input/output ports 304, buffer stores 310-0 through 310-N, and 311-3 through 311-N.
Through circuit packs 100-0 to 100
-N related input terminals CA0 to CAN
System operation is controlled by controlling the transmission of control signals from CB0 to CBN. The microprocessor 301 further includes a parallel input/output port 3.
04 to buffer storage devices 308-1, 308-2,
308-3 and 308-4 and relay contacts 307-1, 307-2, 307- in the normally closed position.
3 and 307-4 to the bus 500, this contact is connected to the parallel input/
Relay input circuit 306 via output port 304
The bus diagnostic device 300 is isolated from the bus 500 until the circuit is closed in response to the voltage being applied to the bus diagnostic device 300 .
Parallel input/output port 304 transmits signals indicating the results of fault detection diagnostics to circuit pack 1 via response bus 250 and buffer stores 309-1 and 309-2.
Receive from 00-0 to 100-N. Two pull-up resistors 351 and 352 are connected between the conductors of response bus 250 and the VCC terminal of power supply 200 to enable proper operation of response bus 250 with an open current collector gate.
バス診断装置300は回路パツク入力端子CA
0からCANまでに論理0信号を送信し、また回
路パツク入力端子CB0からCBNに論理1信号を
送信することによりシステム動作を正規モードに
保持する。回路パツク100−0(第5図に従つ
て構成される第2図及び第3図)において、端子
CA0に論理0信号が到達し及び端子CB0に論理
1信号が到達すると、制御回路150のインバー
タ151及びORゲート150によつてインピー
ダンス制御回路120及び120′に論理0信号
が送信される。インピーダンス制御回路120は
1個のインバータ121、2個のANDゲート1
22及び123並びに1個のORゲート124を
含む。同様に、インピーダンス制御回路120′
は1個のインバータ121′、2個のANDゲート
122′及び123′並びに1個のORゲート12
4′を含む。インバータ151及びORゲート1
52によつて論理0信号が送信されると、この結
果、ORゲート124は導線112上の回路11
0より送信された論理信号と同一の論理値を持つ
論理信号を送信する。ORゲート124の出力端
子は送信機101−1,101−2,101−
3、及び101−4のC入力端子に接続されて
る。従つて、正規モードにおいては、回路110
が導線112上を送信される論理信号に基づいて
送信機101−1,101−2,101−3、及
び101−4のインピーダンス状態を直接制御す
る。同様に、正規モードにおいては、回路110
はさらに導線111上を送信される論理信号に基
づいて受信機102−1,102−2,102−
3、及び102−4のインピーダンス状態を直接
制御する。さらに正規モードにて、端子CA0に
論理0信号が受信されると、リレー駆動機153
によつてリレー入力回路180に論理0信号が送
信される。従つて、通常閉路位にあるリレー接点
181及び182は閉じたままとなる。 The bus diagnostic device 300 has a circuit pack input terminal CA.
System operation is maintained in normal mode by sending a logic 0 signal from 0 to CAN and a logic 1 signal from circuit pack input terminal CB0 to CBN. In the circuit pack 100-0 (FIGS. 2 and 3 constructed according to FIG. 5), the terminal
When a logic 0 signal arrives at CA0 and a logic 1 signal arrives at terminal CB0, a logic 0 signal is sent by inverter 151 and OR gate 150 of control circuit 150 to impedance control circuits 120 and 120'. The impedance control circuit 120 includes one inverter 121 and two AND gates 1
22 and 123 and one OR gate 124. Similarly, impedance control circuit 120'
is one inverter 121', two AND gates 122' and 123', and one OR gate 12.
4' included. Inverter 151 and OR gate 1
52, which causes OR gate 124 to output circuit 11 on conductor 112.
A logic signal having the same logic value as the logic signal transmitted from 0 is transmitted. The output terminals of the OR gate 124 are the transmitters 101-1, 101-2, 101-
3, and the C input terminal of 101-4. Therefore, in normal mode, circuit 110
directly controls the impedance state of transmitters 101-1, 101-2, 101-3, and 101-4 based on logic signals transmitted on conductors 112. Similarly, in normal mode, circuit 110
is further transmitted to the receivers 102-1, 102-2, 102- based on the logic signals transmitted on the conductor 111.
3, and 102-4. Furthermore, in normal mode, when a logic 0 signal is received at terminal CA0, relay driver 153
sends a logic zero signal to relay input circuit 180. Therefore, relay contacts 181 and 182, which are in the normally closed position, remain closed.
バス診断装置300は論理0信号を回路パツク
入力端子CA0からCAN及びCB0からCBNに送
信することにより、システム動作の診断モードを
確立する。回路パツク100−0(第5図に従つ
て配置された第2図及び第3図)において、論理
0信号が端子CA0及びCB0に受信されると、制
御回路150のインバータ151及びORゲート
152によつて、インピーダンス制御回路120
及び120′に論理1信号が送信される。インピ
ーダンス151及びORゲート152による論理
1信号の送信に応答して、ORゲート124及び
124′は、導線111及び112上の回路11
0によつて送信される論理信号に関係なく、論理
1信号を送信して、この結果送信機101−1,
101−2,101−3及び101−4並びに受
信機102−1,102−2,102−3及び1
02−4を高インピーダンス状態に置く。 Bus diagnostic device 300 establishes a diagnostic mode of system operation by transmitting logic 0 signals from circuit pack input terminals CA0 to CAN and from CB0 to CBN. In circuit pack 100-0 (FIGS. 2 and 3 arranged according to FIG. 5), when a logic 0 signal is received at terminals CA0 and CB0, inverter 151 and OR gate 152 of control circuit 150 are Therefore, the impedance control circuit 120
A logic one signal is sent to and 120'. In response to transmission of a logic one signal by impedance 151 and OR gate 152, OR gates 124 and 124' connect circuit 11 on conductors 111 and 112.
transmitting a logic 1 signal regardless of the logic signal transmitted by the 0, resulting in transmitter 101-1,
101-2, 101-3 and 101-4 and receivers 102-1, 102-2, 102-3 and 1
02-4 is placed in a high impedance state.
回路パツク100−0がバス障害状態の源であ
るかどうかを判定するため、バス診断装置300
は端子CA0に送信される信号を論理0から論理
1に変更するが、リレー駆動機153はこれに応
答して、リレー入力回路180に論理1信号を送
信する。すると、通常閉路位にあるリレー接点1
81及び182が開路され、抵抗体184及び1
83がそれぞれBVCCとVCCの間及びBGNDと
GNDの間の電流を感知できるようにする。さら
に端子CA0の所の論理1信号に応答して、単安
定マルチバイブレータ158はパルスを送信し
て、フリツプフロツプ191をリセツトするが、
当該フリツプフロツプは後述するごとくエラー信
号を格納するのに使用される。次にバス診断装置
300は、バス500の4本の全導線上に第1の
論理0信号を送信し続いて論理1信号を送信す
る。前述したごとく回路パツク100−0のバス
500とBGNDの間に低インピーダンス経路が
存在するときは、バス診断装置300がバス50
0上に論理1信号を送信すると、抵抗体183が
流がれる電流が既定規模を越える。同様に回路パ
ツク100−0のバス500とBVCCの間に低イ
ンピーダンス経路が存在するときは、バス診断装
置300がバス500上に論理0信号を送信する
と、抵抗体184を流がれる電流が既定規模を越
える。抵抗体183を流れる電流が既定規模を越
えると、コンパレータ188が、ここでは第1の
エラー信号と呼ばれる論理1信号をORゲート1
90の片方の入力端子に送信する。同様に、抵抗
体184を流れる電流が既定規模を越えると、コ
ンパレータ189が、ここでは第2のエラー信号
と呼ばれる論理1信号をORゲート190の他方
の入力端子に送信する。両者の過剰電流におい
て、ORゲート190は、ここでは複合エラー信
号と呼ばれる論理1信号を送信して、フリツプフ
ロツプ191をセツトする。 Bus diagnostic device 300 determines whether circuit pack 100-0 is the source of a bus fault condition.
changes the signal sent to terminal CA0 from a logic 0 to a logic 1, and relay driver 153 responds by sending a logic 1 signal to relay input circuit 180. Then, relay contact 1 in the normally closed position
81 and 182 are opened, and resistors 184 and 1
83 between BVCC and VCC and between BGND and
Enables sensing of current between GND. In addition, in response to the logic one signal at terminal CA0, monostable multivibrator 158 sends a pulse to reset flip-flop 191;
The flip-flop is used to store error signals as described below. Bus diagnostic device 300 then transmits a first logic 0 signal on all four conductors of bus 500 followed by a logic 1 signal. As mentioned above, when a low impedance path exists between the bus 500 of the circuit pack 100-0 and BGND, the bus diagnostic device 300
Sending a logic 1 signal on 0 causes the current through resistor 183 to exceed a predetermined magnitude. Similarly, when a low impedance path exists between bus 500 of circuit pack 100-0 and BVCC, when bus diagnostic device 300 sends a logic 0 signal on bus 500, the current flowing through resistor 184 is Beyond scale. When the current flowing through resistor 183 exceeds a predetermined magnitude, comparator 188 outputs a logic 1 signal, herein referred to as the first error signal, to OR gate 1.
90 to one input terminal. Similarly, when the current flowing through resistor 184 exceeds a predetermined magnitude, comparator 189 sends a logic one signal, herein referred to as a second error signal, to the other input terminal of OR gate 190. In both excess currents, OR gate 190 sends a logic 1 signal, referred to herein as a composite error signal, to set flip-flop 191.
高インピーダンス状態においては8個の合衆国
半導体MM70C95(National Semiconductor
MM70C95)3−状態装置が一緒になつて電力供
給源200から最大15マイクロアンペアの電流を
引き出す。従つて回路パツク100−0のバス5
00とBGNDあるいはBVCCの間に低インピー
ダンス経路が存在しないときは、抵抗体180及
び184の間を流がれる電流は最大15マイクロア
ンペアとなる。この実施態様においては、抵抗体
184及び183の間を流れる電流と既定規模と
の比較は、それぞれ固定の規模の電流が流れるこ
れら抵抗体184と183の間の電圧を187と
185の間の電圧と比較することによつて実現す
る。この例においては、VCCの電圧並びに抵抗
体183,184,185,186及び187の
抵抗値は、第1表に示めすように、コンパレータ
188が抵抗体183の間を流れる電流が500マ
イクロアンペアを越えるときは論理1信号を生成
し、同様にコンパレータ189が抵抗体184の
間を流れる電流が500マイクロアンペアを越える
ときは論理1信号を生成するように選択されてい
る。 In the high impedance state, eight National Semiconductor MM70C95 (National Semiconductor
MM70C95) The three-state devices together draw up to 15 microamps of current from the power supply 200. Therefore, bus 5 of circuit pack 100-0
When there is no low impedance path between 00 and BGND or BVCC, the current flowing between resistors 180 and 184 will be up to 15 microamps. In this embodiment, the comparison of the current flowing between resistors 184 and 183 with a predetermined magnitude is such that the voltage between these resistors 184 and 183 through which each fixed magnitude of current flows is equal to the voltage between 187 and 185. This is achieved by comparing. In this example, the voltage at VCC and the resistance values of resistors 183, 184, 185, 186, and 187 are such that comparator 188 indicates that the current flowing across resistor 183 is 500 microamps, as shown in Table 1. Similarly, comparator 189 is selected to generate a logic 1 signal when the current flowing across resistor 184 exceeds 500 microamps.
第1表
VCC=+5ボルト
抵抗体183=5オーム
抵抗体184=5オーム
抵抗体185=5オーム
抵抗体187=5オーム
抵抗体186=9990オーム
前述したごとく、フリツプフロツプ191はバ
ス診断装置300によつて端子CA0の所の信号
が論理0から論理1に変更されると、単安定マル
チバイブレータ158からのパルスによつてリセ
ツトされる。フリツプフロツプ191はORゲー
ト190から送信される論理1複合エラー信号に
よつてセツトされると、このQ端子から論理1信
号を開放集電ORゲート194に送信するととも
に、このQ端子から論理0信号を開放集電ORゲ
ート193に送信する。端子CA0に出現する論
理1信号はインバータ192によつて反転され、
この結果として得られる論理0信号をORゲート
194及び193の他方の入力端子に送信され
る。従つてORゲート194は端子RA0を経て
応答バス250上に論理1信号を送信し、ORゲ
ート193は端子RB0を経て応答バス250上
に論理0信号を送信するが、これら信号はバス診
断装置300にバス障害状態の源が回路パツク1
00−0にあることを示めす。一方、回路パツク
100−0に低インピーダンス経路障害が存在し
ないときは、フリツプフロツプ191はセツトさ
れず、ORゲート194及び193によつてそれ
ぞれ論理0及び論理1信号が送信され、応答バス
250を介してバス診断装置300に回路パツク
100−0はこのバス障害状態の源でないことを
示めす。次に、このプロセスがこのバス障害状態
の源が検出されるまで回路パツク100−から1
00−Nまで繰り返される。障害表示器回路19
5が正しく動作しているときは、端子RA0及び
RB0の所に送信される信号は同一でない。従つ
て端子RA0及びRB0の所に同一信号が送信さ
れることは、バス診断装置300に障害表示器回
路195が正しく動作されてないことを示めす。 Table 1 VCC = +5 volts Resistor 183 = 5 ohm Resistor 184 = 5 ohm Resistor 185 = 5 ohm Resistor 187 = 5 ohm Resistor 186 = 9990 ohm As mentioned above, the flip-flop 191 is connected to the bus diagnostic device 300. When the signal at terminal CA0 changes from a logic 0 to a logic 1, it is reset by a pulse from monostable multivibrator 158. When set by a logic 1 composite error signal sent from OR gate 190, flip-flop 191 sends a logic 1 signal from its Q terminal to open current collecting OR gate 194 and also sends a logic 0 signal from its Q terminal. It is transmitted to the open current collection OR gate 193. The logic 1 signal appearing at terminal CA0 is inverted by inverter 192;
The resulting logic 0 signal is sent to the other input terminals of OR gates 194 and 193. Therefore, OR gate 194 sends a logic 1 signal on response bus 250 via terminal RA0, and OR gate 193 sends a logic 0 signal on response bus 250 via terminal RB0, which signals are transmitted to bus diagnostic device 300. The source of the bus fault condition is circuit pack 1.
00-0. On the other hand, when there is no low impedance path fault in circuit pack 100-0, flip-flop 191 is not set and logic 0 and logic 1 signals are transmitted by OR gates 194 and 193, respectively, via response bus 250. This indicates to bus diagnostic system 300 that circuit pack 100-0 is not the source of this bus fault condition. This process then continues from circuit pack 100- to circuit pack 100-1 until the source of this bus fault condition is detected.
Repeated until 00-N. Fault indicator circuit 19
When 5 is working properly, terminals RA0 and
The signals sent to RB0 are not the same. Therefore, the presence of identical signals at terminals RA0 and RB0 indicates to bus diagnostic device 300 that fault indicator circuit 195 is not operating properly.
バス診断装置300は電流感知テストモードに
システム動作を選択して、パツク100−0の端
子CA0及びCB0に論理1信号を送信し、またパ
ツク100−1から100−Nの端子CA1から
CANまで及びCB1からCBNまでに論理0信号
を送信することによつて回路パツク100−0の
障害検出回路をテストすることができる。回路パ
ツク100−1から100−Nまでに論理0信号
が送信されると、これらパツクの送信機及び受信
機が高インピーダンス状態に置かれる。回路パツ
ク100−0において、端子CA0及びCB0の所
に論理1信号が受信されると、インバータ151
によつて論理0信号が送信され、またORゲート
152によつて論理1信号が送信される。従つ
て、ORゲート124及び124′は、送信機1
01−1,101−2,101−3及び101−
4並びに受信機102−1,102−2,102
−3、及び102−4のC端子に論理0信号を送
信してこれら装置を低インピーダンス状態に置
く。診断モードのと時と同様に、端子CA0の所
に論理1信号が出現すると、リレー接点181及
び182が開く。受信機102−1,102−
2,102−3、及び102−4は低インピーダ
ンス状態にあるため、抵抗体183及び184の
間を流れる電流は既定規模を越え、フリツプフロ
ツプ191がセツトされる。この結果、ORゲー
ト194が端子RA0を介して応答バス250上
に論理1信号を送信し、またORゲート193が
端子RB0を介して応答バス250上に論理0信
号を送信する。応答バス250上へのこの他の応
答は、バス診断装置300に回路パツク100−
0の障害検出回路が正しく動作してないことを示
めす。回路パツク100−0から100−Nの1
つが送信機のみを含む時は、バス診断装置300
は、バス500上にまず第1に論理1信号を送信
し、次に論理0信号を送信することにより、回路
110によつて送信された論理信号とバス500
上の論理信号との不一至を起こさせ、そのパツク
の送信機によつて既定規模以上の電流を引かせる
こともできる。 Bus diagnostic device 300 selects system operation for current sensing test mode and sends a logic 1 signal to terminals CA0 and CB0 of pack 100-0 and from terminal CA1 of packs 100-1 through 100-N.
The fault detection circuitry of circuit pack 100-0 can be tested by sending a logic zero signal up to CAN and from CB1 to CBN. A logic zero signal transmitted to circuit packs 100-1 through 100-N places the transmitters and receivers of those packs in a high impedance state. In circuit pack 100-0, when a logic 1 signal is received at terminals CA0 and CB0, inverter 151
A logic 0 signal is transmitted by the gate, and a logic 1 signal is transmitted by the OR gate 152. Therefore, OR gates 124 and 124'
01-1, 101-2, 101-3 and 101-
4 and receivers 102-1, 102-2, 102
A logic 0 signal is sent to the C terminals of -3 and 102-4 to place these devices in a low impedance state. As in the diagnostic mode, when a logic 1 signal appears at terminal CA0, relay contacts 181 and 182 open. Receiver 102-1, 102-
Since resistors 2, 102-3, and 102-4 are in a low impedance state, the current flowing between resistors 183 and 184 exceeds a predetermined magnitude and flip-flop 191 is set. As a result, OR gate 194 sends a logic 1 signal onto response bus 250 via terminal RA0, and OR gate 193 sends a logic 0 signal onto response bus 250 via terminal RB0. Other responses on response bus 250 are sent to bus diagnostic device 300 by circuit packs 100-
0 indicates that the fault detection circuit is not operating correctly. Circuit pack 100-0 to 100-N 1
includes only a transmitter, the bus diagnostic device 300
connects the logic signal sent by circuit 110 and bus 500 by first sending a logic 1 signal and then a logic 0 signal on bus 500.
It is also possible to cause a mismatch with the logic signal above, causing the pack's transmitter to draw a current greater than a predetermined magnitude.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US410269 | 1982-08-23 | ||
| PCT/US1983/000363 WO1984000834A1 (en) | 1982-08-23 | 1983-03-16 | Method and apparatus for bus fault location |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59501423A JPS59501423A (en) | 1984-08-09 |
| JPH0410657B2 true JPH0410657B2 (en) | 1992-02-26 |
Family
ID=22174892
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58501174A Granted JPS59501423A (en) | 1982-08-23 | 1983-03-16 | Bus failure point detection device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59501423A (en) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54136207A (en) * | 1978-04-14 | 1979-10-23 | Mitsubishi Electric Corp | Data delivery unit |
| JPS54146540A (en) * | 1978-05-09 | 1979-11-15 | Fujitsu Ltd | Common bus checking circuit |
| JPS5755435A (en) * | 1980-09-17 | 1982-04-02 | Fujitsu Ltd | Check method for bus signal line |
-
1983
- 1983-03-16 JP JP58501174A patent/JPS59501423A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| JPS59501423A (en) | 1984-08-09 |
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