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JPH0414908B2 - - Google Patents
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JPH0414908B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0414908B2
JPH0414908B2 JP59234531A JP23453184A JPH0414908B2 JP H0414908 B2 JPH0414908 B2 JP H0414908B2 JP 59234531 A JP59234531 A JP 59234531A JP 23453184 A JP23453184 A JP 23453184A JP H0414908 B2 JPH0414908 B2 JP H0414908B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
circuit
subscriber
attenuated
subscriber circuit
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP59234531A
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English (en)
Other versions
JPS61113351A (ja
Inventor
Tadashi Mizuguchi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP23453184A priority Critical patent/JPS61113351A/ja
Publication of JPS61113351A publication Critical patent/JPS61113351A/ja
Publication of JPH0414908B2 publication Critical patent/JPH0414908B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/26Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
    • H04M3/28Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
    • H04M3/30Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for subscriber's lines, for the local loop
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04QSELECTING
    • H04Q11/00Selecting arrangements for multiplex systems
    • H04Q11/04Selecting arrangements for multiplex systems for time-division multiplexing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はデイジタル交換機の加入者回路診断方
式に関する。
〔従来の技術〕
従来、加入者端末機器と通話路スイツチとの間
に設けられ、加入者端末機器に対してアナログ信
号を送受信し、かつ通話路スイツチに対してデイ
ジタル信号を送受信する加入者回路の正常性を診
断する場合、供給された信号に所定の減衰を与え
るインピーダンス素子を有する終端回路を加入者
回路のアナログ信号伝送線に接続し、加入者回路
のデイジタル信号伝送線に供給された試験信号が
加入者回路および終端回路を通つて所定レベルに
減衰したか否かを検出している。つまり、減衰し
た試験信号のレベルが予め定めた閾値より高けれ
ば加入者回路が正常であり、逆に低ければ不正常
と診断している。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上述したように加入者回路の診
断を行なうことは、減衰した試験信号のレベルが
検出回路において予め定めた閾値より高いことし
か確認できない。したがつて、試験信号が加入者
回路および終端回路を正常に通過して所定の減衰
をしたことの確認はできない。
これを解消するために、検出回路における検出
閾値に上限値および下限値を設定し、減衰試験信
号が所定範囲内のレベルであるか否かにより診断
することが考えられるが、これは検出回路の複雑
化を免れない。
〔問題点を解決するための手段〕 本発明によるデイジタル交換機の加入者回路診
断方式は、加入者端末機器と通話路スイツチとの
間に設けられ、前記加入者端末機器に対してアナ
ログ信号を送受信し、かつ前記通話路スイツチに
対してデイジタル信号を送受信する加入者回路の
アナログ信号伝送線に選択的に接続される第1お
よび第2のインピーダンス設定手段と、前記加入
者回路のデイジタル信号伝送線に試験信号を供給
する信号発生手段と、前記加入者回路のデイジタ
ル信号伝送線から、前記信号発生手段より送出さ
れ前記加入者回路および前記第1のインピーダン
ス設定手段を通して第1レベルに減衰した前記試
験信号を第1減衰信号として受信し、かつ前記加
入者回路および前記第2のインピーダンス設定手
段を通して第2レベルに減衰した前記試験信号を
第2減衰信号として受信するとともに、前記第1
減衰信号と前記第2減衰信号との中間信号レベル
を検出閾値とした信号検出手段とを備えることを
特徴とする。
〔実施例〕
次に、図面を参照して本発明の実施例について
説明する。
図を参照すると、加入者回路10,100はそ
れぞれアナログ信号伝送線1を介して加入者端末
機器20,200を収容し、かつデイジタル伝送
線2を介して通話路スイツチ30,300に接続
されている。加入者回路10は通話路スイツチ3
0からデイジタル信号伝送線2に到来するデイジ
タル信号をアナログ信号に変換するDA変換回路
11と、アナログ信号をデイジタル信号に変換し
てデイジタル伝送線2を介して通話路スイツチ3
00に伝言するAD変換器12と、2線のアナロ
グ信号伝送線1と4線のデイジタル信号伝送線2
間を結合するハイブリツド回路13と、アナログ
信号伝送線1を加入者端末機器20および後に詳
述する終端回路40に切換接続する切換スイツチ
14とから構成される。加入者回路100は詳細
構成の図示を省略しているが、上記加入者回路1
0と同様に構成される。なお、加入者回路10の
切換スイツチ14は例えば電磁リレーおよびその
接点により構成でき、制御装置90から動作制御
される。
加入者回路10,100に共通的に接続された
終端回路40は、第1および第2のインピーダン
ス素子(ここでは抵抗器)41,42と、これら
のインピーダンス素子41,42を選択的に加入
者回路10,100のアナログ信号伝送線1に接
続する切換スイツチ43とから構成される。ここ
で、第1のインピーダンス素子41は供給された
信号のレベルを大きく減衰させる値(信号リター
ンロス・大)に設定されている。一方、第2のイ
ンピーダンス素子42は供給された信号のレベル
を小さく減衰させる値(信号リターンロス・小)
に設定されている。また、切換スイツチ43は例
えば電磁リレーおよびその接点により構成でき、
制御装置90から動作制御される。
信号発生回路50は加入者回路10(あるいは
100)の正常性を診断するとき、制御装置90
からの制御により試験信号(デイジタル信号)を
発生する。発生された試験信号は信号挿入回路7
0(700)を介してデイジタル信号伝送線2に
供給される。さらに、試験信号は診断対象の加入
者回路10を通つてアナログ信号に変換され、終
端回路40に供給される。終端回路40に供給さ
れた試験信号は切換スイツチ43を介して選択的
に接続される第1および第2のインピーダンス素
子41,42を通してそれぞれ所定のレベル減衰
した第1減衰信号(信号リターンロス・大)およ
び第2減衰信号(信号リターンロス・小)として
診断対象の加入者回路10に入力される。加入者
回路10からデイジタル信号伝送線2に送出され
た第1および第2減衰信号は信号引抜回路80を
介して信号検出回路60に受信される。第1減衰
信号と第2減衰信号との中間信号レベル(厳密に
は信号伝送経路などにおける減衰分を許容誤差と
して考慮した値)を検出閾値に設定している信号
検出回路60は、受信した第1減衰信号の信号レ
ベルが検出閾値より小さいことを検出し、かつ第
2減衰信号の信号レベルが検出閾値より大きいこ
とを検出したとき、診断対象の加入者回路が正常
と判定する。
なお、上記終端回路40の第1および第2のイ
ンピーダンス素子41,42のそれぞれのインピ
ーダンスを選定することにより、診断の精度を可
変にできる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、デイジ
タル交換機の加入者回路に選択的に接続される第
1および第2のインピーダンスの設定手段を設
け、これらインピーダンス設定手段に加入者回路
を通して試験信号を供給して第1および第2減衰
信号として信号検出手段に受信させ、第1減衰信
号と第2減衰信号との中間信号レベルを検出閾値
として加入者回路の正常性を診断することによ
り、信号検出手段の複雑化を招くことなく、診断
精度を一層高くすることができる。
また、本発明においては、上記第1および第2
のインピーダンス設定手段をそれぞれ擬似発呼試
験および擬似リングトリツプ試験等の他の診断項
目に併用することができるため、交換システムへ
の大幅な変更を伴なうことなく、各種診断機能を
付加できる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例を示す図である。 10,100……加入者回路、20,200…
…加入者端末機器、30,300……通話路スイ
ツチ、40……終端回路、41,42……第1お
よび第2のインピーダンス素子、43……切換ス
イツチ、50……信号発生回路、60……信号検
出回路、1……アナログ信号伝送線、2……デイ
ジタル信号伝送線。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 加入者端末機器と通話路スイツチとの間に設
    けられ、前記加入者端末機器に対してアナログ信
    号を送受信し、かつ前記通話路スイツチに対して
    デイジタル信号を送受信する加入者回路を備える
    デイジタル交換機において; 前記加入者回路のアナログ信号伝送線に選択的
    に接続される第1および第2のインピーダンス設
    定手段と; 前記加入者回路のデイジタル信号伝送線に試験
    信号を供給する信号発生手段と; 前記加入者回路のデイジタル信号伝送線から、
    前記信号発生手段より送出され前記加入者回路お
    よび前記第1のインピーダンス設定手段を通して
    第1レベルに減衰した前記試験信号を第1減衰信
    号として受信し、かつ前記加入者回路および前記
    第2のインピーダンス設定手段を通して第2レベ
    ルに減衰した前記試験信号を第2減衰信号として
    受信するとともに、前記第1減衰信号と前記第2
    減衰信号との中間信号レベルを検出閾値とした信
    号検出手段と; を備えることを特徴とするデイジタル交換機の加
    入者回路診断方式。
JP23453184A 1984-11-07 1984-11-07 デイジタル交換機の加入者回路診断方式 Granted JPS61113351A (ja)

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JP23453184A JPS61113351A (ja) 1984-11-07 1984-11-07 デイジタル交換機の加入者回路診断方式

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JP23453184A JPS61113351A (ja) 1984-11-07 1984-11-07 デイジタル交換機の加入者回路診断方式

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JPS61113351A JPS61113351A (ja) 1986-05-31
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5894259A (ja) * 1981-11-30 1983-06-04 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 加入者回路試験方式

Also Published As

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JPS61113351A (ja) 1986-05-31

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