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JPH0416762B2 - - Google Patents
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JPH0416762B2 - - Google Patents

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JPH0416762B2
JPH0416762B2 JP9089380A JP9089380A JPH0416762B2 JP H0416762 B2 JPH0416762 B2 JP H0416762B2 JP 9089380 A JP9089380 A JP 9089380A JP 9089380 A JP9089380 A JP 9089380A JP H0416762 B2 JPH0416762 B2 JP H0416762B2
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JP
Japan
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receiving element
light receiving
light
circuit
focus detection
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JP9089380A
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Japanese (ja)
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Takeomi Suzuki
Kenichi Ooikami
Masahiro Aoki
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Olympus Corp
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Publication date
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    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/36Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
    • G02B7/38Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals measured at different points on the optical axis, e.g. focussing on two or more planes and comparing image data

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明はスチールカメラ、シネカメラ、顕微鏡
写真撮影装置等に用いられるカメラの合焦検出方
法に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a focus detection method for cameras used in still cameras, cine cameras, microphotography devices, and the like.

最近自動焦点カメラのように合焦の検出を行な
うものが提案されており、合焦検出法の一つとし
て、例えば被写体像の一部を多数の受光素子を有
する受光素子列で受光して各受光素子の出力アナ
ログ画像信号をデジタル信号に変換し、隣接する
受光素子に対応するデジタル信号の差の絶対値の
総和から合焦検出信号を得る方法がある。しか
し、この場合には多数の受光素子の各々の感度や
各受光素子に対応する周辺回路の電気的特性のば
らつき、光学系の不均一性等による出力のばらつ
きが被写体像の画像情報に重畳されるため、特に
コントラストの低い被写体については正確な合焦
検出ができない欠点がある。
Recently, cameras that detect focus, such as automatic focus cameras, have been proposed.As one method of detecting focus, for example, a part of the subject image is received by a row of light receiving elements each having a large number of light receiving elements. There is a method of converting an output analog image signal of a light receiving element into a digital signal and obtaining a focus detection signal from the sum of absolute values of differences between digital signals corresponding to adjacent light receiving elements. However, in this case, variations in the output due to the sensitivity of each of the many light-receiving elements, variations in the electrical characteristics of the peripheral circuits corresponding to each light-receiving element, non-uniformity of the optical system, etc. are superimposed on the image information of the subject image. Therefore, there is a drawback that accurate focus detection cannot be performed, especially for subjects with low contrast.

この欠点を除去するためには各受光素子ごとに
信号レベルを補正する必要がある。以下、従来採
用されている最も一般的な補正方法について第1
図を参照して説明する。第1図は横軸に照度E
X)を、縦軸に各受光素子の出力V(v)をそ
れぞれ表わしている。先ず、暗状態での各受光素
子の暗出力Aoを測定し、そのなかの最小値をAp
としてAo−Ap−aoを求める。次に十分な明るさ
の光(照度EH)で全ての受光素子を一様照明し
た状態で、各受光素子の出力Boを測定し、その
なかの最大値をBpとする。ApとBpとを直線イを
理想感度直線、AoとBoとを結ぶ直線ロを実測値
直線として、任意の明るさのとき(照度Eo)の
実測値yoからyonを求める。このため、まず実測
値直線ロをaoだけ下方に平行移動して2点鎖線で
示す直線ハを作成する。この直線ハと照度Eo
の交点をyo′をすると、 yon=Bp/EHEo …(1) yo′=Bo′−ao/EHEo=yo−ao …(2) 上記(1)および(2)式からEo/EHとyo′とを消去する と、 yon=Bp/Bo−aoyo−aoBp/Bo−ao …(3) となり、各受光素子の補正係数として Ao=Bp/Bo−ao,Bo=aoBp/Bo−aoを測定すれば、 yon=Aoyo−Boという一次補正の一般形式を用い
ての補正が可能となる。
In order to eliminate this drawback, it is necessary to correct the signal level for each light receiving element. Below is the first part of the most common correction method that has been used.
This will be explained with reference to the figures. In Figure 1, the horizontal axis is the illuminance E.
( X ), and the vertical axis represents the output V(v) of each light receiving element. First, measure the dark output A o of each light receiving element in the dark state, and calculate the minimum value A p
Find A o −A p −a o as . Next, with all light-receiving elements uniformly illuminated with light of sufficient brightness (illuminance E H ), the output B o of each light-receiving element is measured, and the maximum value thereof is set as B p . Find yon from the actual value y o at a given brightness (illuminance E o ), with A p and B p as a straight line A as the ideal sensitivity straight line, and straight line B connecting A o and B o as the actual value straight line. . For this purpose, first, the actual measured value straight line B is translated downward by ao to create a straight line C shown by a two-dot chain line. Letting the intersection of this straight line C and the illuminance E o be y o ′, yon=B p /E H E o …(1) y o ′=B o ′−a o /E H E o =y o −a o …(2) Eliminating E o /E H and y o ′ from equations (1) and (2) above, yon=B p /B o −a o y o −a o B p /B o − a o ...(3), and if we measure A o = B p / B o - a o and B o = a o B p / B o - a o as the correction coefficient of each light receiving element, then yon = A o y Correction using the general form of first-order correction o −B o becomes possible.

しかし、上記の補正方法は、暗、名の両状態で
の測定をする必要があるため、特にカメラ等にお
いては実際の撮影中での補正が困難である。ま
た、一次補正とはいつてもAoyoの乗算を含むた
め、演算回路の規模が大きくかつ高価になるし、
マイクロコンプユータを用いる場合でも低位の機
種では時間がかかる欠点がある。
However, since the above correction method requires measurement in both dark and dark conditions, it is difficult to perform correction during actual photographing, especially in cameras and the like. In addition, since primary correction always includes multiplication by A o y o , the arithmetic circuit becomes large and expensive.
Even when using a microcomputer, low-end models have the drawback of being time consuming.

本発明の目的は、上述した種々の欠点を除去
し、簡単かつ安価な構成により、各受光素子の特
性のばらつきを有効に補正でき、したがつてコン
トラストの低い被写体の場合でも常に高精度の合
焦検出を迅速にできるようにしたカメラの合焦検
出方法を提供しようとするものである。
It is an object of the present invention to eliminate the various drawbacks mentioned above, to effectively correct variations in the characteristics of each light-receiving element with a simple and inexpensive configuration, and to always achieve highly accurate imaging even for objects with low contrast. It is an object of the present invention to provide a focus detection method for a camera that enables rapid focus detection.

本発明は、光学系により形成される物体の像の
少く共一部分を受光素子列上に投影して各々の受
光素子から物体像の光強度分布に対応する画像情
報を得、これら画像情報を定められた評価関数に
基づいて演算して物体像の合焦状態を検出するカ
メラの合焦検出方法において、 前記受光素子列の前方から該受光素子列を一様
照明して各々の受光素子の出力をそれぞれ記憶
し、その記憶値に基いて物体像の光強度分布に対
応する各々の受光素子の画像情報を補正すること
を特徴とするものである。
The present invention projects a small common portion of an image of an object formed by an optical system onto an array of light-receiving elements, obtains image information corresponding to the light intensity distribution of the object image from each light-receiving element, and determines this image information. In the camera focus detection method of detecting the in-focus state of an object image by calculating based on a calculated evaluation function, the light-receiving element array is uniformly illuminated from in front of the light-receiving element array to determine the output of each light-receiving element. It is characterized in that the image information of each light receiving element corresponding to the light intensity distribution of the object image is corrected based on the stored values.

以下図面を参照して本発明を詳細に説明する。 The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第2図は本発明に係るカメラの合焦検出方法を
行う合焦検出装置の一例の構成を示すブロツク図
である。被写体1の像の一部を撮影光学系2を通
して多数の積分形の受光素子を有する受光素子列
3上に投影する撮影光路中で、撮影光学系2と受
光素子列3との間に発光ダイオード等の発光体4
を選択的に介在させる。本例ではこの発光体4に
より被写体1の像の投影に先立つて受光素子列3
を一様照明して全ての受光素子の出力をアナログ
−デジタル(A/D)変換回路5に供給してデジ
タル信号に変換し、これを補正値として中央処理
装置6に取込む。次に、発光体4を撮影光路中か
ら退去させて、被写体1の像の一部を受光素子列
3上に投影し、そのときの全ての受光素子の出力
を上述したと同様にA/D変換回路5に供給しデ
ジタル信号に変換して画像情報として中央処理装
置6に取込む。中央処理装置6は補正値読取ユニ
ツト7、画像情報読取ユニツト8、補正計算ユニ
ツト9、合焦検出ユニツト10およびコントロー
ラユニツト11を具え、補正計算ユニツト9にお
いて画像情報読取ユニツト8に取込んだ各受光素
子に対する画像情報から補正値読取ユニツト7に
取込んだ当該受光素子における補正値を差引くこ
とにより、各受光素子における特性のばらつきを
補正し、この補正された画像情報をもとに、合焦
検出ユニツト10において、例えば隣接する受光
素子間の差の絶対値を算出し、これらの絶対値の
総和あるいは最も大きい絶対値から所定番目迄の
絶対値の和を評価関数として用いて焦点合致状態
を表わす焦点検出信号を得、これをコントローラ
ユニツト11を経て表示装置12に供給して撮影
者に焦点合致状態を知らせると共に、光学系駆動
回路13および光学系駆動装置14を通して撮影
光学系2を矢印で示すように光軸方向に変位させ
て焦点調節を行なう。なお、コントローラユニツ
ト11は中央処理装置6内の制御の他、受光素子
列3、発光体4およびA/D変換回路5の駆動も
制御する。また、簡易型の装置においては、撮影
光学系2の駆動は撮影者が表示装置12の指示に
よつて手動で行なうようにして、光学系駆動回路
13および光学系駆動装置14は省略してもよ
い。
FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of an example of a focus detection device that performs the camera focus detection method according to the present invention. A light emitting diode is provided between the photographing optical system 2 and the light receiving element array 3 in the photographing optical path in which a part of the image of the subject 1 is projected through the photographing optical system 2 onto the light receiving element array 3 having a large number of integral type light receiving elements. etc. luminous body 4
selectively intervene. In this example, prior to projecting the image of the subject 1 by the light emitter 4, the light receiving element array 3
is uniformly illuminated, and the outputs of all the light receiving elements are supplied to an analog-to-digital (A/D) conversion circuit 5 to be converted into a digital signal, which is then taken into the central processing unit 6 as a correction value. Next, the light emitter 4 is removed from the photographing optical path, a part of the image of the subject 1 is projected onto the light receiving element array 3, and the outputs of all the light receiving elements at that time are measured by the A/D converter in the same way as described above. The signal is supplied to a conversion circuit 5, converted into a digital signal, and taken into the central processing unit 6 as image information. The central processing unit 6 includes a correction value reading unit 7, an image information reading unit 8, a correction calculation unit 9, a focus detection unit 10, and a controller unit 11. By subtracting the correction value for the light-receiving element taken into the correction value reading unit 7 from the image information for the element, variations in characteristics of each light-receiving element are corrected, and based on this corrected image information, focusing is performed. In the detection unit 10, for example, the absolute value of the difference between adjacent light receiving elements is calculated, and the in-focus state is determined using the sum of these absolute values or the sum of the absolute values from the largest absolute value to a predetermined number as an evaluation function. A focus detection signal is obtained, which is supplied to the display device 12 via the controller unit 11 to notify the photographer of the focused state, and the photographic optical system 2 is controlled by an arrow through the optical system drive circuit 13 and optical system drive device 14. Focus adjustment is performed by displacement in the optical axis direction as shown. The controller unit 11 not only controls the central processing unit 6 but also controls the driving of the light receiving element array 3, the light emitter 4, and the A/D conversion circuit 5. Further, in a simple type device, the photographing optical system 2 may be driven manually by the photographer according to instructions on the display device 12, and the optical system drive circuit 13 and the optical system drive device 14 may be omitted. good.

受光素子列は撮影光学系2の予定焦平面と光学
的に等価な平面上に1個配置して合焦検出を行な
うこともできるし、予定焦平面と光学的に等価な
位置の前後等しい距離の平面上にそれぞれ1個配
置して合焦検出を行なうこともできる。例えば本
発明の焦点検出装置を一眼レフカメラに適用する
場合において、2個の受光素子列を撮影光学系2
の予定焦平面の前後等しい距離に配置する場合に
は、第3図に示すように撮影光学系2とフイルム
21との間の光路中に配置されるクイツクリター
ンミラー22の中央部をハーフミラー23とし、
このハーフミラー23で反射される撮影光束をピ
ント板24、ペンタプリズム25等を具える観察
光学系に導き、ハーフミラー23を透過する光束
を、クイツクリターンミラー22の裏面に設けた
反射ミラー26で下方に導くようにし、この下方
に導かれた光束をハーフミラー27を透過させて
一方の受光素子列3Aに入射させ、ハーフミラー
27で反射された光束を反射ミラー28を経て他
方の受光素子列3Bに入射させるように構成す
る。受光素子列3A,3Bは上述したように、フ
イルム21と光学的に共役な平面の前後等しい位
置に配置する。
Focus detection can be performed by arranging one light-receiving element array on a plane optically equivalent to the intended focal plane of the photographic optical system 2, or at equal distances before and after the position optically equivalent to the intended focal plane. It is also possible to perform focus detection by arranging one on each plane. For example, when applying the focus detection device of the present invention to a single-lens reflex camera, two light receiving element arrays are connected to the photographing optical system 2.
When disposing the mirror at equal distances before and after the planned focal plane of 23,
The photographing light flux reflected by the half mirror 23 is guided to an observation optical system comprising a focusing plate 24, a pentaprism 25, etc., and the light flux transmitted through the half mirror 23 is guided to a reflection mirror 26 provided on the back surface of the quick return mirror 22. The light beam guided downward is transmitted through the half mirror 27 and incident on one of the light receiving element rows 3A, and the light beam reflected by the half mirror 27 is transmitted through the reflecting mirror 28 to the other light receiving element. The configuration is such that the light is incident on column 3B. As described above, the light receiving element arrays 3A and 3B are arranged at equal positions before and behind a plane that is optically conjugate with the film 21.

また、この場合発光体4は、反射ミラー26と
ハーフミラー27との間の測距光路中に、モータ
29の駆動により選択的に介在するシヤツタ30
を設け、このシヤツタ30の下面に設けることが
できる。
Further, in this case, the light emitter 4 is a shutter 30 that is selectively interposed in the distance measuring optical path between the reflecting mirror 26 and the half mirror 27 by driving the motor 29.
can be provided on the lower surface of the shutter 30.

上述したA/D変換回路5における変換処理
は、例えば受光素子列に設けたそれぞれ多数の受
光素子の出力アナログ画像情報を順次に取出し、
これを逐次デジタル値に変換するよう構成するこ
ともできるが、このような逐次変換方式を採用し
た場合にはすべての必要なデータをデジタル値に
変換するのに時間がかかり不利である。
The conversion process in the A/D conversion circuit 5 described above includes, for example, sequentially extracting output analog image information from a large number of light-receiving elements provided in a row of light-receiving elements,
Although it is possible to convert this into digital values successively, if such a successive conversion method is adopted, it takes time to convert all the necessary data into digital values, which is disadvantageous.

このため、本実施例では多数のアナログ量をほ
ぼ同時にデジタル値に変換することができる並列
形のA/D変換回路を用いる。以下、このような
並列形A/D変換回路を用いた実施例についてさ
らに詳細に説明する。
For this reason, this embodiment uses a parallel A/D conversion circuit that can convert a large number of analog quantities into digital values almost simultaneously. Hereinafter, an embodiment using such a parallel A/D conversion circuit will be described in further detail.

第4図はこのような並列的なアナログ−デジタ
ル変換を行なう場合の受光素子列、A/D変換回
路5、中央処理装置6の部分を詳細に示すもので
ある。なお、本実施例では第3図において説明し
たように、2個の受光素子列3A,3Bを撮影光
学系の予定焦平面と工学的に共役な平面の前後等
しい位置に配置すると共に、発光体4をシヤツタ
30の下面に取付け中央処理装置6の制御の下に
駆動回路31およびモータ29の駆動により測距
光路中に介在させると同時にこれを発光駆動する
ようにしたものである。
FIG. 4 shows in detail the light receiving element array, A/D conversion circuit 5, and central processing unit 6 when performing such parallel analog-to-digital conversion. In this embodiment, as explained in FIG. 3, the two light-receiving element arrays 3A and 3B are arranged at equal positions before and after a plane that is engineeringly conjugate to the intended focal plane of the photographing optical system, and the light emitter 4 is attached to the lower surface of the shutter 30, and under the control of the central processing unit 6, the driving circuit 31 and motor 29 are driven to interpose it in the distance measuring optical path and at the same time drive it to emit light.

受光素子列3A,3Bは中央処理装置6からの
指令により駆動制御するよう構成する。これら受
光素子列3Aおよび3Bの各受光素子は各受光素
子列に対応して設けたサンプルホールド回路38
A1〜38Aoおよび38B1〜38Boの各々にそれ
ぞれ接続し、これらサンプルホールド回路38
A1〜38Ao,38B1〜38Boにはサンプルホー
ルド信号ラインaと、サンプルホールド回路38
A1〜38Aoおよび38B1〜38Boのいずれか、
すなわち受光素子列3Aおよび3Bのいずれかを
選択するための中央処理装置6からの選択信号ラ
インbおよびcとをそれぞれ並列に接続する。サ
ンプルホールド回路38A1〜38Ao,38B1
38Boの各出力端子は、受光素子列3Aおよび
3Bに対して共通に用いられるコンパレータ回路
391〜39oの一方の入力端子にそれぞれ接続す
る。すなわち、サンプルホールド回路38A1
よび38B1をコンパレータ回路391に、サンプ
ルホールド回路38A2および38B2をコンパレ
ータ回路392に、サンプルホールド回路38Ao
および38Boをコンパレータ回路39oに接続す
る。これらコンパレータ回路391〜39oの他方
の入力端子はD/A変換器40に並列に接続し、
このD/A変換器40には中央処理装置6によつ
て制御されるパルスジエネレータ付きのカウンタ
41から予じめ定めた所定の異なる数値のデジタ
ル信号および所定の範囲にある数値を表わす次々
に発生されるデジタル信号を供給する。本例では
このデジタル信号を4ビツトで形成する。コンパ
レータ回路391〜39oの出力端子は、それぞれ
対応するデジタルメモリ421〜42oに接続する
と共にAND回路43およびOR回路44にそれぞ
れ並列に接続する。AND回路43およびOR回路
44の出力端子はそれぞれ中央処理装置6に接続
すると共に、更にOR回路44の出力端子はフリ
ツプフロツプ45の一方の入力端子に接続する。
フリツプフロツプ45の他方の入力端子は中央処
理装置6に接続し、このフリツプフロツプ45の
出力によるサンプルホールド信号ラインaを経て
受光素子列3Aおよび3Bの全ての受光素子から
の出力アナログ画像情報を対応するサンプルホー
ルド回路38A1〜38Aoおよび38B1〜38Bo
にサンプルホールドするよう構成する。また、デ
ジタルメモリ421〜42oにはカウンタ41の出
力を並列に供給し、これらの出力端子は中央処理
装置6に並列に接続して、所要のメモリに記憶さ
れたデジタル信号をアドレスバス46を経てアド
レスデコーダ47を制御して中央処理装置6に取
込むよう構成する。
The light receiving element arrays 3A and 3B are configured to be driven and controlled by commands from the central processing unit 6. Each light receiving element of these light receiving element rows 3A and 3B is connected to a sample hold circuit 38 provided corresponding to each light receiving element row.
A 1 to 38A o and 38B 1 to 38B o , respectively, and these sample and hold circuits 38
A 1 to 38A o , 38B 1 to 38B o have a sample hold signal line a and a sample hold circuit 38.
Any of A 1 to 38A o and 38B 1 to 38B o ,
That is, selection signal lines b and c from the central processing unit 6 for selecting one of the light receiving element arrays 3A and 3B are connected in parallel, respectively. Sample hold circuit 38A 1 ~ 38A o , 38B 1 ~
Each output terminal of 38B o is connected to one input terminal of comparator circuits 39 1 to 39 o commonly used for light receiving element arrays 3A and 3B. That is, the sample and hold circuits 38A 1 and 38B 1 are used as the comparator circuit 39 1 , the sample and hold circuits 38A 2 and 38B 2 are used as the comparator circuit 39 2 , and the sample and hold circuit 38A o
and 38B o are connected to the comparator circuit 39 o . The other input terminals of these comparator circuits 39 1 to 39 o are connected in parallel to the D/A converter 40,
This D/A converter 40 receives predetermined digital signals of different numerical values from a counter 41 with a pulse generator controlled by the central processing unit 6 and one after another representing numerical values within a predetermined range. Provides the generated digital signal. In this example, this digital signal is formed with 4 bits. The output terminals of the comparator circuits 39 1 to 39 o are connected to corresponding digital memories 42 1 to 42 o , respectively, and are also connected in parallel to an AND circuit 43 and an OR circuit 44, respectively. The output terminals of the AND circuit 43 and the OR circuit 44 are respectively connected to the central processing unit 6, and the output terminal of the OR circuit 44 is further connected to one input terminal of a flip-flop 45.
The other input terminal of the flip-flop 45 is connected to the central processing unit 6, and the output analog image information from all the light-receiving elements of the light-receiving element rows 3A and 3B is sent to the corresponding sample through a sample-hold signal line a based on the output of the flip-flop 45. Hold circuits 38A 1 to 38A o and 38B 1 to 38B o
Configure to hold the sample. Further, the output of the counter 41 is supplied in parallel to the digital memories 42 1 to 42 o , and these output terminals are connected in parallel to the central processing unit 6, so that the digital signals stored in the required memories are sent to the address bus 46. The address decoder 47 is controlled through the address decoder 47 and the data is input into the central processing unit 6.

第5図は第4図に示す受光素子3A,3Bおよ
びサンプルホールド回路38A1〜38Ao,38
B1〜38Boの部分の更に詳細な回路構成図であ
り、符号3A1〜3Aoは受光素子列3Aの各受光
素子部を、符号3B1〜3Boは受光素子列3Bの
各受光素子部を示し、各々の受光素子部は受光素
子とコンデンサとを並列に接続して構成されてい
る。ここでは受光素子を符号3′A1〜3′Ao
3′B1〜3′Boで示し、コンデンサを符号3″A1
3″Ao,3″B1〜3″Boで示す。これら全ての受光
素子部は一端が電源電圧Vcの電源に並列に接続
されていると共に、他端は中央処理装置6によつ
てON−OFF制御されるスイツチ50A1〜50
Ao,50B1〜50Boを経て接地板されるよう構
成されている。サンプルホールド回路38A1
38Aoおよび38B1〜38Boの各々は、2個の
バツフア51A1,52A1〜51Ao,52Aoおよ
び51B1,52B1〜51Bo,52Boと、2個の
ゲート53A1,54A1〜53Ao,54Aoおよび
53B1,54B1〜53Bo,54Boと1つのコン
デンサ55A1〜55Aoおよび55B1〜55Bo
を具え、ゲート53A1〜53Aoおよび53B1
53Boはサンプルホールド信号ラインaを経て
フリツプフロツプ45の出力により制御され、ゲ
ート54A1〜54Aoは選択信号ラインbを経て、
またゲート54B1〜54Boは選択信号ラインc
を経てそれぞれ中央処理装置6によつて制御され
る。
FIG. 5 shows the light receiving elements 3A, 3B and sample and hold circuits 38A 1 to 38A o , 38 shown in FIG. 4.
It is a more detailed circuit configuration diagram of the part B 1 to 38B o , where 3A 1 to 3A o indicate each light receiving element part of the light receiving element row 3A, and 3B 1 to 3B o indicate each light receiving element of the light receiving element row 3B. Each light receiving element section is constructed by connecting a light receiving element and a capacitor in parallel. Here, the light receiving elements are denoted by symbols 3'A 1 to 3'A o ,
3′B 1 ~3′B o , and the capacitors are designated 3″A 1 ~
3″A o , 3″B 1 to 3″B o . One end of all of these light receiving elements is connected in parallel to the power supply of power supply voltage V c , and the other end is connected to the central processing unit 6. ON-OFF controlled switch 50A 1 ~ 50
A o , 50B 1 to 50B o are connected to the ground plate. Sample hold circuit 38A 1 ~
38A o and 38B 1 to 38B o each include two buffers 51A 1 , 52A 1 to 51A o , 52A o and 51B 1 , 52B 1 to 51B o , 52B o , and two gates 53A 1 , 54A 1 53A o , 54A o and 53B 1 , 54B 1 -53B o , 54B o and one capacitor 55A 1 -55A o and 55B 1 -55B o , gates 53A 1 -53A o and 53B 1 -
53B o is controlled by the output of flip-flop 45 via sample and hold signal line a, and gates 54A 1 to 54A o are controlled by the output of flip-flop 45 via select signal line b.
Furthermore, the gates 54B 1 to 54B o are connected to the selection signal line c.
and are respectively controlled by the central processing unit 6.

第6図は1つの受光素子部に対応するサンプル
ホールド回路等の周辺回路の具体的な回路構成を
示すものである。本例ではスイツチ50A1およ
びゲート54A1を電界効果形トランジスタを用
いる半導体スイツチで構成し、バツフア51A1
および52A1はそれぞれ電界効果形トランジス
タのソース−ドレイン通路に抵抗を接続して構成
する。他の受光素子部に対応する周辺回路も第6
図と同様に構成する。
FIG. 6 shows a specific circuit configuration of peripheral circuits such as a sample and hold circuit corresponding to one light receiving element section. In this example, the switch 50A 1 and the gate 54A 1 are configured with semiconductor switches using field effect transistors, and the buffer 51A 1
and 52A1 are each constructed by connecting a resistor to the source-drain path of a field effect transistor. The peripheral circuits corresponding to other light-receiving elements are also connected to the sixth
Configure as shown in the figure.

第7図A〜Dは本実施例の焦点検出装置の動作
を説明するための波形図であり、第7図Aは中央
処理装置6からスイツチ50A1〜50Ao,50
B1〜50Boに供給する信号波形を、第7図Bは
バツフア51A1〜51Ao,51B1〜51Boの出
力電位を、第7図Cはフリツプフロツプ45から
のサンプリング信号を、第7図Dはバツフア52
A1〜52Ao,52B1〜52Boの出力電位をそれ
ぞれ示す。
7A to 7D are waveform diagrams for explaining the operation of the focus detection device of this embodiment, and FIG. 7A shows signals from the central processing unit 6 to switches 50A 1 to 50A o , 50
7B shows the output potentials of the buffers 51A 1 to 51A o and 51B 1 to 51B o , and FIG . 7C shows the sampling signal from the flip-flop 45. D is Batsuhua 52
The output potentials of A 1 to 52A o and 52B 1 to 52B o are shown, respectively.

以下、本実施例の合焦検出装置の動作を説明す
る。
The operation of the focus detection device of this embodiment will be explained below.

本例では、先ず中央処理装置6の制御により駆
動回路31を介してモータ29を駆動してシヤツ
タ30を第3図において反射ミラー26とハーフ
ミラー27との間の測距光路中に介在させると共
に、発光体4を発光させて受光素子列3A,3B
を一様照明し、そのときのそれぞれの受光素子部
3A1〜3Ao,3B1〜3Boの出力アナログ照度情
報をサンプルホールド回路38A1〜38Ao,3
8B1〜38Boに同時にサンプルホールドした後、
これらをデジタル信号に変換してこれを補正値と
して中央処理装置6に取込み、次にモータ29を
再び駆動してシヤツタ30を測距光路から退去さ
せると共に発光体4を消去して被写体像を受光素
子列3A,3B上に投影して積分し、その合焦検
出用の出力アナログ画像情報を上記と同様にサン
プルホールド回路38A1〜38Ao,38B1〜3
8Boに同時にサンプルホールドしてデジタル信
号に変換して中央処理装置6に取込む。
In this example, first, the motor 29 is driven via the drive circuit 31 under the control of the central processing unit 6, and the shutter 30 is interposed in the distance measuring optical path between the reflecting mirror 26 and the half mirror 27 in FIG. , the light emitter 4 emits light and the light receiving element arrays 3A, 3B
is uniformly illuminated, and sample and hold circuits 38A 1 to 38A o , 3 output analog illuminance information of the respective light receiving element sections 3A 1 to 3A o, 3B 1 to 3B o at that time.
After holding samples at the same time from 8B 1 to 38B o ,
These are converted into digital signals and taken into the central processing unit 6 as correction values, and then the motor 29 is driven again to move the shutter 30 out of the distance measuring optical path, erase the light emitter 4, and receive the subject image. Projected onto the element arrays 3A and 3B and integrated, the output analog image information for focus detection is sent to the sample and hold circuits 38A 1 to 38A o and 38B 1 to 3 in the same manner as above.
8B o at the same time, convert it into a digital signal, and input it into the central processing unit 6.

積分開始前にはスイツチ50A1〜50Aoおよ
び50B1〜50Boは開いて(OFF)おり、コン
デンサ3″A1〜3″Ao,3″B1〜3″Boの端子間電
圧は「0」である。したがつてバツフア51A1
〜51Ao及び51B1〜51Boへの入力電位はVc
であり、バツフア51A1〜51Ao,51B1〜5
1Boの出力はこれに対応した所定の電位V(第7
図B)となつている。
Before the start of integration, switches 50A 1 to 50A o and 50B 1 to 50B o are open (OFF), and the voltage between the terminals of capacitors 3″A 1 to 3″A o and 3″B 1 to 3″B o is It is "0". Therefore, Batsuhua 51A 1
The input potential to ~51A o and 51B 1 ~51B o is V c
and buffers 51A 1 to 51A o , 51B 1 to 5
The output of 1B o is at a corresponding predetermined potential V (7th
Figure B).

ゲート53A1〜53Ao,53B1〜53Boは開
いて(ON)おり、この電位がコンデンサ55A1
〜55Ao,55B1〜55Bo印加され、これらの
コンデンサは電位Vまで充電されている。ゲート
54A1〜54Ao,54B1〜54Boは一方が開い
ており、他方は閉じているが、ここでは54A1
〜54Aoが開いており(ON)、54B1〜54Bo
が閉じて(OFF)しているものとする。
The gates 53A 1 to 53A o and 53B 1 to 53B o are open (ON), and this potential is applied to the capacitor 55A 1
~55A o and 55B 1 ~55B o are applied, and these capacitors are charged to the potential V. One of the gates 54A 1 to 54A o and 54B 1 to 54B o is open and the other is closed;
~54A o is open (ON), 54B 1 ~54B o
It is assumed that is closed (OFF).

この状態ではコンデンサ55A1〜55Ao,5
5B1〜55Bo の端子電圧Vがバツフア52A1〜52Ao,52
B1〜52Boに入力され、これに対応した電位
V′(第7図D)が出力されている。
In this state, the capacitor 55A 1 ~ 55A o , 5
The terminal voltage V of 5B 1 to 55B o is a buffer 52A 1 to 52A o , 52
Input to B 1 ~ 52B o and the corresponding potential
V' (Fig. 7D) is output.

積分をするには、まず中央処理装置6からの指
令によりスイツチ50A1〜50Ao,50B1〜5
0Boを閉じる(ON)。すると、コンデンサ3″A1
〜3″Ao,3″B1〜3″BoにVcが印加され、これ
らコンデンサはVcまで充電される。また、これ
に伴いバツフア51A1〜51Ao,51B1〜51
Boへの入力電位が「0」となるから、これに応
じてこれらのバツフアの出口も「0」又はこれに
近い小さな値となり、コンデンサ55A1〜55
Ao,55B1〜55Boもゲート53A1〜53Ao
53B1〜53Boおよびバツフア51A1〜51
Ao,51B1〜51Boを介して放電する。これに
よりバツフア52A1〜52Ao,52B1〜52Bo
への入力が下がるから、その出力も「0」又はこ
れに近い小さな値となる。
To perform integration, first, the switches 50A 1 to 50A o , 50B 1 to 5 are activated by a command from the central processing unit 6.
Close 0B o (ON). Then, capacitor 3″A 1
V c is applied to ~3″A o , 3″B 1 ~3″B o , and these capacitors are charged to V c .In addition, along with this, buffers 51A 1 ~51A o , 51B 1 ~51
Since the input potential to B o becomes "0", the outputs of these buffers also become "0" or a small value close to this, and the capacitors 55A 1 to 55
A o , 55B 1 to 55B o and gates 53A 1 to 53A o ,
53B 1 to 53B o and buffer 51A 1 to 51
A o , 51B 1 to 51B o are discharged. As a result, buffers 52A 1 to 52A o , 52B 1 to 52B o
Since the input to the circuit decreases, its output also becomes "0" or a small value close to this.

所定時間経過後(コンデンサ3″A1〜3″Ao
3″B1〜3″Boが充分に充電された後)、中央処理
装置6からの指令によりスイツチ50A1〜50
Ao,50B1〜50Boを開く(OFF)。すると、
コンデンサ3″A1〜3″Ao,3″B1〜3″Boに蓄え
られた電荷は受光素子3′A1〜3′Ao,3′B1
3′Boに入射している光に応じた強さの光電流と
して、各々の受光素子を通じて放電され、それに
ついてバツフア51A1〜51Ao,51B1〜51
Boへの入力電位が上昇し、その出力も徐々に大
きくなる(第7図B)。これに応じて、コンデン
サ55A1〜55Ao,55B1〜55Boは、バツフ
ア51A1〜51Ao,51B1〜51Boおよびゲー
ト53A1〜53Ao,53B1〜53Boを介して充
電されるから、バツフア52A1〜52Ao,52
B1〜52Boの入力電位および出力電位も徐々に
大きくなつてくる。
After a predetermined time (capacitor 3″A 1 ~ 3″A o ,
After 3″B 1 to 3″B o are sufficiently charged), the switch 50A 1 to 50 is activated by a command from the central processing unit 6.
Open A o , 50B 1 to 50B o (OFF). Then,
The charges stored in the capacitors 3''A 1 to 3''A o , 3''B 1 to 3''B o are transferred to the light receiving elements 3'A 1 to 3'A o , 3'B 1 to
A photocurrent with an intensity corresponding to the light incident on 3'B o is discharged through each light receiving element, and buffers 51A 1 to 51A o , 51B 1 to 51
The input potential to B o rises, and its output also gradually increases (Figure 7B). Accordingly, the capacitors 55A 1 to 55A o and 55B 1 to 55B o are charged via the buffers 51A 1 to 51A o and 51B 1 to 51B o and the gates 53A 1 to 53A o and 53B 1 to 53B o. From, Batsuhua 52A 1 ~ 52A o , 52
The input potential and output potential of B 1 to 52B o also gradually increase.

このバツフア52A1〜52Aoまたは52B1
52Boの出力電位がゲート54A1〜54Aoまた
は54B1〜54Boを通じてコンパレータ回路3
1〜39oの一方の入力端子に供給される。
This buffer 52A 1 ~ 52A o or 52B 1 ~
The output potential of 52B o passes through the gates 54A 1 to 54A o or 54B 1 to 54B o to the comparator circuit 3.
It is supplied to one input terminal of 9 1 to 39 o .

一方、本例では先ず受光素子部3A1〜3Ao
3B1〜3Boにおける出力のばらつきの補正値を
検出するために、積分開始と同時にカウンタ41
から、D/A変換器40でアナログ変換されるア
ナログ値で、発光体4の発光照度に対応する値ま
たはこれに近い一定値のデジタル信号、例えば
「0111」をD/A変換器40に送出し、このデジ
タル信号に対応する一定値のアナログ参照信号を
D/A変換器40からコンパレータ回路391
39oの他方の入力端子に並列に供給する。コン
パレータ回路391〜39oはこの一定値のアナロ
グ参照信号と上記サンプルホールド回路38A1
〜38Aoからのアナログ情報とを並列的に比較
し、その少く共1つの出力が反転したこと、すな
わちサンプルホールド回路38A1〜38Aoを経
て供給される受光素子列3Aからの多数のアナロ
グ情報の少く共1つがD/A変換器40から供給
されている上記一定の値のアナログ参照信号を越
えたことをOR回路44で検出し、これによりフ
リツプフロツプ45を動作させてサンプルホール
ド信号ラインaを経てサンプルホールド回路38
A1〜38Aoおよび38B1〜38Boのそれぞれの
ゲート53A1〜53Aoおよび53B1〜53Bo
閉じ(第7図C参照)、受光素子列3Aおよび3
Bの全ての出力アナログ情報をそれぞれ対応する
サンプルホールド回路のコンデンサ55A1〜5
5Aoおよび55B1〜55Boに同時にサンプルホ
ールドする(第7図D参照)。
On the other hand, in this example, first, the light receiving element portions 3A 1 to 3A o ,
In order to detect the correction value for the output variation in 3B 1 to 3B o , the counter 41 is activated at the same time as the integration starts.
, a digital signal having an analog value converted into an analog value by the D/A converter 40 and having a value corresponding to the luminous intensity of the light emitting body 4 or a constant value close to this, for example "0111", is sent to the D/A converter 40. Then, an analog reference signal of a constant value corresponding to this digital signal is sent from the D/A converter 40 to the comparator circuits 39 1 -
39 o in parallel to the other input terminal. Comparator circuits 39 1 to 39 o combine this constant value analog reference signal with the sample hold circuit 38A 1
- 38A o are compared in parallel, and at least one of the outputs is inverted, that is, a large number of analog information from the light receiving element array 3A supplied via the sample and hold circuits 38A 1 to 38A o . The OR circuit 44 detects that at least one of the signals exceeds the analog reference signal of a certain value supplied from the D/A converter 40, and thereby operates the flip-flop 45 to output the sample and hold signal line a. Sample and hold circuit 38
The gates 53A 1 to 53A o and 53B 1 to 53B o of A 1 to 38A o and 38B 1 to 38B o are closed (see FIG. 7C), and the light receiving element arrays 3A and 3 are closed.
Sample and hold circuit capacitors 55A 1 to 5 each correspond to all output analog information of B.
5A o and 55B 1 to 55B o at the same time (see FIG. 7D).

第8図に示す実線Aはこのときサンプルホール
ドされた一方の受光素子列3Aの各受光素子部に
おける補正値レベルを示すもので、縦軸にサンプ
ルホールドレベル(電位)を横軸に各受光素子部
を表わしている。また、直線Bは理想的な状態を
表わすもので、受光素子列3Aの各受光素子の特
性にばらつきが全くなければ、全ての出力は直線
Bのように等しい値となる。
The solid line A shown in FIG. 8 indicates the correction value level at each light receiving element section of one of the light receiving element rows 3A that was sampled and held at this time.The vertical axis represents the sample hold level (potential), and the horizontal axis represents each light receiving element. It represents the department. Further, straight line B represents an ideal state, and if there is no variation in the characteristics of each light receiving element in the light receiving element array 3A, all outputs will have equal values as shown by straight line B.

なお、他方の受光素子列3Bについても実線A
のようなばらつきをもつた出力がサンプルホール
ドされる。
Note that the solid line A also applies to the other light-receiving element row 3B.
Outputs with such variations are sampled and held.

次に、中央処理装置6はカウンタ41を制御し
て、カウンタ41から所定の範囲で、例えば
「0000」〜「1111」の範囲で大きい方から小さい
方に順次その値が変化するデジタル信号をD/A
変換器40に供給する。D/A変換器40はこの
デジタル信号を逐次アナログ信号に変換してコン
パレータ回路391〜39oの各々の一方の入力端
子に供給する。なお、このアナログ信号は、カウ
ンタ41から出るデジタル信号が大きい方から小
さい方に逐次変化するのに応じてしだいに減小す
る。コンパレータ回路391〜39oの各々の他方
の入力端子には、ここではサンプルホールド回路
38A1〜38Aoにホールドされた受光素子列3
Aの受光素子部3A1〜3Aoの各々の出力アナロ
グ情報が供給されている。コンパレータ回路39
〜39oの各々は、両入力の大小関係が反転した
時点、すなわちサンプルホールドしたアナログ情
報がD/A変換器40からのアナログ信号を越え
た時点で発する反転信号により、対応するデジタ
ルメモリ421〜42oの各々を制御して、その時
カウンタ41が出力しているデジタル信号を当該
デジタルメモリに書込む。コンパレータ回路39
〜39oの全ての出力が反転すると、すなわち全
てのデジタルメモリ421〜42oにサンプルホー
ルド回路38A1〜38Aoにサンプルホールドさ
れた受光素子列3Aの出力のばらつきにそれぞれ
対応するデジタル信号(補正値)が書込まれて
A/D変換が終了すると、その時点でAND回路
43が動作するから、このAND回路43の出力
に基いて中央処理装置6によりカウンタ41を制
御し、カウンタ41からのデジタル信号の送出を
ストツプする。すなわち、「0100」を送出した時
点で、受光素子部3A1〜3Aoのアナログ情報の
A/D変換が終了したとすれば、「0011」から
「0000」までのデジタル信号は送出しない。この
ようにすれば、送出されるデジタル信号は
「1111」から「0100」まであるから、A/D変換
の所定時間を最小限に短縮することができる。
Next, the central processing unit 6 controls the counter 41 to output a digital signal from the counter 41 within a predetermined range, for example, from "0000" to "1111", the value of which changes sequentially from larger to smaller. /A
Converter 40 is supplied. The D/A converter 40 successively converts this digital signal into an analog signal and supplies it to one input terminal of each of the comparator circuits 39 1 to 39 o . Note that this analog signal gradually decreases as the digital signal output from the counter 41 sequentially changes from a larger value to a smaller value. The other input terminal of each of the comparator circuits 39 1 to 39 o is connected to the light receiving element array 3 held in the sample and hold circuits 38A 1 to 38A o .
Output analog information from each of the light receiving element sections 3A 1 to 3A o of A is supplied. Comparator circuit 39
Each of 1 to 39 o is connected to the corresponding digital memory 42 by an inverted signal generated when the magnitude relationship of both inputs is reversed, that is, when the sampled and held analog information exceeds the analog signal from the D/A converter 40. 1 to 42 o , and write the digital signal that the counter 41 is outputting at that time into the digital memory. Comparator circuit 39
When all the outputs of 1 to 39 o are inverted, that is, all the digital memories 42 1 to 42 o produce digital signals corresponding to the variations in the outputs of the light receiving element array 3A sampled and held in the sample and hold circuits 38A 1 to 38A o . When the (correction value) is written and the A/D conversion is completed, the AND circuit 43 operates at that point, so the central processing unit 6 controls the counter 41 based on the output of the AND circuit 43. Stop sending digital signals from the That is, if the A/D conversion of the analog information of the light receiving element sections 3A 1 to 3A o is completed at the time when "0100" is sent out, the digital signals from "0011" to "0000" are not sent out. In this way, since the digital signals to be sent range from "1111" to "0100", the predetermined time for A/D conversion can be shortened to the minimum.

その後、中央処理装置6はアドレスバス46を
経てアドレスデコーダ47を制御してデジタルメ
モリ421〜42oに書込まれた補正値を取込み、
中央処理装置6内の所定のメモリに記憶する。
Thereafter, the central processing unit 6 controls the address decoder 47 via the address bus 46 to take in the correction values written in the digital memories 42 1 to 42 o .
It is stored in a predetermined memory within the central processing unit 6.

次に中央処理装置6により選択信号ラインbお
よびcを経てゲート54A1〜54Aoを閉じると
同時にゲート54B1〜54Boを開放してサンプ
ルホールド回路38B1〜38Bo、すなわち受光
素子列3Bを選択し、これらサンプルホールド回
路38B1〜38Boの各々にサンプルホールドさ
れている受光素子列3Bの受光素子部3B1〜3
Boの出力アナログ情報を上記と同様の操作で
A/D変換してこれらを中央処理装置6内の所定
のメモリに記憶する。
Next, the central processing unit 6 closes the gates 54A 1 to 54A o via selection signal lines b and c, and at the same time opens the gates 54B 1 to 54B o to open the sample and hold circuits 38B 1 to 38B o , that is, the light receiving element array 3B. The light receiving element sections 3B 1 to 3 of the light receiving element row 3B are selected and sampled and held in each of these sample and hold circuits 38B 1 to 38B o .
The output analog information of B o is A/D converted by the same operation as above and stored in a predetermined memory in the central processing unit 6.

以上で受光素子列3Aおよび3B上に一様な光
を照射したときの全ての受光素子部(周辺回路も
含めた)の出力アナログ情報のA/D変換が終了
し、各素子部の補正値が得られる。
With the above steps, A/D conversion of the output analog information of all the light receiving element sections (including peripheral circuits) when uniform light is irradiated onto the light receiving element rows 3A and 3B is completed, and the correction value of each element section is completed. is obtained.

次にモータ29を駆動してシヤツタ30を測距
光路から退去させると共に発光体4を消去して被
写体像を積分して合焦検出用の信号を得るが、こ
のときはカウンタ41から、D/A変換器40で
アナログ変換されるアナログ値の最も大きい値ま
たはこれに近い値に対応する一定値のデジタル信
号、例えば「1111」をD/A変換器40に送出
し、このデジタル信号に対応する一定値のアナロ
グ参照信号をD/A変換器40からコンパレータ
回路391〜39oの他方の入力端子に並列に供給
する。このようにして、例えば受光素子列3Aが
選択されているとすれば、サンプルホールド回路
38A1〜38Aoからの出力アナログ画像情報の
少く共1つの出力が上記一定値のアナログ参照信
号を越えたとき、そのコンパレータ回路の反転信
号をOR回路44で検出してフリツプフロツプ4
5を介して受光素子列3A,3Bの全ての受光素
子部の出力アナログ画像情報を対応するサンプル
ホールド回路に同時にホールドする。その後、サ
ンプルホールド回路38A1〜38Aoおよび38
B1〜38Boにそれぞれサンプルホールドした受
光素子列3Aおよび3Bのアナログ画像情報を上
述した補正値を求める際のA/D変換操作と同様
の操作によりA/D変換してそれらを受光素子列
毎に中央処理装置6内の所定のメモリに取り込
む。なお、この場合のA/D変換は、本例ではカ
ウンタ41から「1111」〜「0000」の範囲で大き
い方から小さい方に逐次その値が変化するデジタ
ル信号を送出して行なう。このようにすれば、
AND回路43が動作したときのデジタル信号が
「0111」であれば、「0110」から「0000」までのデ
ジタル信号を送出する必要がないから、最小限の
時間で受光素子列3Aおよび3Bのアナログ情報
をA/D変換することができる。
Next, the motor 29 is driven to move the shutter 30 out of the distance measuring optical path, erase the light emitter 4, and integrate the subject image to obtain a signal for focus detection. A digital signal of a constant value, for example "1111" corresponding to the largest value of the analog values converted into analog values by the A converter 40 or a value close to this, is sent to the D/A converter 40, and the digital signal corresponding to this digital signal is sent to the D/A converter 40. An analog reference signal of a constant value is supplied in parallel from the D/A converter 40 to the other input terminals of the comparator circuits 39 1 to 39 o . In this way, for example, if the light receiving element row 3A is selected, at least one output of the output analog image information from the sample and hold circuits 38A1 to 38Ao exceeds the above-mentioned constant value of the analog reference signal. , the inverted signal of the comparator circuit is detected by the OR circuit 44 and the flip-flop 4
5, the analog image information output from all the light receiving element sections of the light receiving element rows 3A and 3B is simultaneously held in the corresponding sample and hold circuits. After that, sample and hold circuits 38A 1 to 38A o and 38
The analog image information of the light-receiving element arrays 3A and 3B sampled and held in B1 to 38B o , respectively, is A/D converted by the same A/D conversion operation when obtaining the above-mentioned correction value, and then converted into the light-receiving element array. Each time, the data is taken into a predetermined memory in the central processing unit 6. In this case, the A/D conversion is performed by sending out from the counter 41 a digital signal whose value successively changes from larger to smaller in the range of "1111" to "0000" in this example. If you do this,
If the digital signal when the AND circuit 43 operates is "0111", there is no need to send out the digital signals from "0110" to "0000", so the analog Information can be A/D converted.

ここで、第8図に実線Aで示した発光体4によ
り一様な光を照射したときにサンプルホールド回
路38A1〜38Aoにホールドされる受光素子列
3Aのそれぞれの出力アナログ照度情報(補正
値)は、第8図に実線Cで示すような各々のダー
クレベルに発光体4の光強度に応じた電位が加算
されたものであり、実線Aと実線Cとは相似す
る。これは受光素子列3Bについても同様であ
る。実線Aで示す各素子部のレベルをbn、その
最小値をbn minとし、被写体像を積分したとき
の各素子部のダークレベルが重畳されたレベルを
ynとすれば、ダークレベルを補正した被写体像
の光強度に応じた真のアナログ画像情報yonは、
yon−yn−(bn−bu min)となる。したがつて、
各素子部におけるyonを演算により求め、これら
の信号を合焦検出に用いれば、被写体像の光強度
分布に従つた高精度の合焦検出を迅速に行なうこ
とができる。なお、隣接する受光素子部の出力の
差の絶対値の和を合焦検出を行なうための評価関
数として用いる場合には、第m番目の受光素子部
の真のアナログ画像情報yomはyom=ym−(bm
−bn min),第m+1番目の受光素子部の真のア
ナログ画像情報yom+1はyom+1=ym+1−
(bm+1−bn min)となり、これらの差の絶対
値Dは、 D=|ym−(bm−bn min)−{ym+1−(bm
+1−bn min)}|=|ym−bm−(ym+1−bm
+1)| で表わされ、bn minは消去される。したがつて、
この場合には各素子部の合焦検出用の画像情報か
ら実線Aで示すダークレベルに相当する電位(補
正値)を差引く簡単な演算により、特性のばらつ
きを補正した被写体像の光強度分布に従つた信号
を得ることができるから、簡単な回路構成で高精
度の合焦検出をより迅速に行なうことができる。
Here, when uniform light is irradiated by the light emitter 4 shown by the solid line A in FIG. 8, the output analog illuminance information (corrected The value) is obtained by adding a potential corresponding to the light intensity of the light emitter 4 to each dark level as shown by the solid line C in FIG. 8, and the solid line A and the solid line C are similar. This also applies to the light receiving element array 3B. The level of each element shown by solid line A is bn, the minimum value is bn min, and the level at which the dark level of each element is superimposed when the subject image is integrated is
If yn is the true analog image information yon according to the light intensity of the subject image with dark level corrected,
yon−yn− (bn−bu min). Therefore,
By calculating yon in each element portion and using these signals for focus detection, highly accurate focus detection can be quickly performed in accordance with the light intensity distribution of the subject image. Note that when using the sum of the absolute values of differences in the outputs of adjacent light-receiving element sections as an evaluation function for focus detection, the true analog image information yom of the m-th light-receiving element section is yom = ym −(bm
-bn min), the true analog image information yom+1 of the m+1th light receiving element section is yom+1=ym+1-
(bm+1-bn min), and the absolute value D of these differences is D=|ym-(bm-bn min)-{ym+1-(bm
+1−bn min)}|=|ym−bm−(ym+1−bm
+1) | and bn min is eliminated. Therefore,
In this case, the light intensity distribution of the subject image is corrected for variations in characteristics by a simple calculation that subtracts the potential (correction value) corresponding to the dark level shown by the solid line A from the image information for focus detection of each element part. Since it is possible to obtain a signal according to the following, highly accurate focus detection can be performed more quickly with a simple circuit configuration.

本実施例では、上述した各素子についての合焦
検出用信号からの補正値の差引を、それぞれの信
号をA/D変換して取込んだ中央処理装置6にお
いて行ない、この値すなわち被写体像の光強度分
布に応じたデジタル値をともに、受光素子列3A
および3Bごとに、予じめ定められた評価関数に
基いて演算処理してそれぞれ評価値を求め、両者
の評価値の比較結果に基いて焦点合致状態を表わ
す焦点検出信号を得、これを表示装置12に供給
して撮影者に焦点合致状態を知らせたり、第2図
において説明したように光学系駆動回路13およ
び光学系駆動装置14を経て撮影光学系2の焦点
調節を行なう。
In this embodiment, the correction value is subtracted from the focus detection signal for each element described above in the central processing unit 6 which A/D converts and imports each signal. Both digital values corresponding to the light intensity distribution are transmitted to the light receiving element array 3A.
For each of 3B and 3B, arithmetic processing is performed based on a predetermined evaluation function to obtain an evaluation value for each, and a focus detection signal indicating a focused state is obtained based on the comparison result of the evaluation values of both, and this is displayed. The signal is supplied to the device 12 to notify the photographer of the state of focus, and as explained in FIG. 2, the focus of the photographing optical system 2 is adjusted via the optical system drive circuit 13 and the optical system drive device 14.

こゝで評価関数Sとして以下に示すものを用い
る場合の中央処理装置6の回路構成およびその演
算動作について第9図を参照して説明する。
The circuit configuration of the central processing unit 6 and its arithmetic operation will now be described with reference to FIG. 9 when the evaluation function S shown below is used.

S=Nk=1 Dk たゞし、Dkは補正された受光素子出力のうち
互いに隣接する受光素子の出力の差の絶対値で大
きい順から数えてk番目の値のもの、Nは受光素
子の数(例えば受光素子列3Aの)をnとする
と、1≦N≦n−2で示される正の整数とする。
中央処理装置6は、受光素子列3Aおよび3Bの
それぞれn個の受光素子のダークレベルに対応す
るデジタル信号x1,1〜xo,1を取込む補正値メモリ
61A1〜61Aoおよび61B1〜61Boと、受光
素子列3Aおよび3Bごとに被写体像を積分して
得た合焦検出用のn個のデジタル信号x1,2〜xo,2
をそれぞれ取込むメモリ62A1〜62Aoおよび
62B1〜62Boと、各素子について合焦検出用
のデジタル信号xn,2(1≦m≦n)karaダークレ
ベルに対応するデジタル信号xn,1を差引く演算xn
−xn2,−xn,1を行なう補正計算ユニツト63
と、その結果xnを取込むxメモリ64と、各受
光素子毎に隣接する受光素子のデジタル信号の差
の絶対値Dk′=|x+1−x|(ただし1≦≦
n−1)を演算するDk′計算ユニツト65と、そ
の結果を取込むDk′メモリ66と、順次のDk′の
値を比較する比較ユニツト67と、これらDk′の
値を大きい順にNまで記憶する絶対値メモリ68
〜68Nと、各受光素子列ごとにD1′〜DN′の値
を加算して評価値SAおよびSBを算出する加算ユ
ニツト69と、これら評価値を比較して合焦状態
を検出する合焦検出ユニツト70と、上記補正計
算ユニツト63、Dk′計算ユニツト65、比較ユ
ニツト67、加算ユニツト69および合焦検出ユ
ニツト70を選択するユニツト選択器71と、こ
れらユニツト63,65,67,69および70
にオペレーシヨン命令を与える命令デコーダ72
と、上記各種のメモリ61A1〜61Ao,61B1
〜61Bo、62A1〜62Ao,62B1〜62Bo
64,66および681〜68Nを制御すると共に
上記ユニツト選択器71および命令デコーダ72
を制御するコントローラ73とを具える。なお、
A/D変換回路5を構成するデジタルメモリ42
〜42oはアドレスバス46およびアドレスデコ
ーダ47を介してコントローラ73により制御さ
れる。また、評価値Sを算出するためのDk′はデ
ジタル処理によるものであるが、この値は上記評
価関数のDkに対応する。
S= Nk=1 D k , where D k is the absolute value of the difference between the outputs of adjacent light receiving elements among the corrected light receiving element outputs, and is the kth value counting from the largest one, N is a positive integer represented by 1≦N≦n−2, where n is the number of light receiving elements (for example, in the light receiving element row 3A).
The central processing unit 6 includes correction value memories 61A 1 to 61A o and 61B 1 that receive digital signals x 1,1 to x o,1 corresponding to the dark levels of the n light receiving elements of the light receiving element arrays 3A and 3B, respectively. ~61B o , and n digital signals for focus detection obtained by integrating the subject image for each light receiving element row 3A and 3B x1,2 ~x o,2
memories 62A 1 to 62A o and 62B 1 to 62B o , respectively, and a digital signal x n,2 (1≦m≦n) for each element for focus detection corresponding to the dark level . Operation x n to subtract 1
-x n , 2 , -x n,1 correction calculation unit 63
and the absolute value D k ′ of the difference between the digital signals of the adjacent light receiving elements for each light receiving element and the x memory 64 that receives the result x n (however, 1 ≦≦
n-1), a D k ' memory 66 that takes in the result, a comparison unit 67 that compares successive D k ' values, and a D k ' calculation unit 65 that calculates the D k ' values. Absolute value memory 68 that sequentially stores up to N
1 to 68 N , and an addition unit 69 that calculates evaluation values S A and S B by adding the values of D 1 ' to D N ' for each light receiving element row, and compares these evaluation values to determine the in-focus state. a unit selector 71 that selects the correction calculation unit 63, the Dk ' calculation unit 65, the comparison unit 67, the addition unit 69 and the focus detection unit 70, and these units 63, 65. , 67, 69 and 70
an instruction decoder 72 that provides operation instructions to the
and the above various memories 61A 1 to 61A o , 61B 1
~61B o , 62A 1 ~62A o , 62B 1 ~62B o ,
64, 66 and 68 1 to 68 N , and also the unit selector 71 and instruction decoder 72.
and a controller 73 for controlling the controller. In addition,
Digital memory 42 configuring the A/D conversion circuit 5
1 to 42o are controlled by a controller 73 via an address bus 46 and an address decoder 47. Further, D k ' for calculating the evaluation value S is obtained by digital processing, and this value corresponds to D k of the above-mentioned evaluation function.

補正値メモリ61A1〜61Ao,61B1〜61
Boおよびメモリ62A1〜62Ao,62B1〜62
Boへのデータの取込みについては上述した説明
から明瞭であるから、これらのメモリに所要のデ
ータが取込まれた後の合焦検出動作を以下順に説
明する。なお、各種のユニツト63,65,6
7,69および70はユニツト選択器71および
命令デコーダ72の両方からの信号を受けて作動
し、これによりデータバス上にあるデータを取込
んで所定の演算を行なつたり、その結果をデータ
バス上に送出する。
Correction value memory 61A 1 ~ 61A o , 61B 1 ~ 61
B o and memory 62A 1 to 62A o , 62B 1 to 62
Since the loading of data into B o is clear from the above explanation, the focus detection operation after required data is loaded into these memories will be explained in order below. In addition, various units 63, 65, 6
7, 69, and 70 operate in response to signals from both the unit selector 71 and the instruction decoder 72, and thereby take in data on the data bus and perform a predetermined operation, and transfer the results to the data bus. Send upward.

メモリ62A1から合焦検出用信号x2,1をデー
タバスに送出し、補正計算ユニツト63に取込
む。
The focus detection signal x2,1 is sent from the memory 62A1 to the data bus and taken into the correction calculation unit 63.

補正値メモリ61A1からダークレベルに対
応するデジタル信号x1,1をデータバスに送出
し、補正計算ユニツト63に取込む。
A digital signal x1,1 corresponding to the dark level is sent from the correction value memory 61A1 to the data bus and taken into the correction calculation unit 63.

補正計算ユニツト63においてx1=x1,2
x1,1を計算し、その結果をデータバスに送出す
る。
In the correction calculation unit 63, x 1 = x 1,2
Calculate x 1,1 and send the result to the data bus.

x1をxメモリ64に格納する。 x 1 is stored in the x memory 64.

上記〜を繰返してデータバスにx2(=
x2,2−x2,1)を送出する。たゞし、x2を得るた
めのx2,2およびx2,1の信号は補正値メモリ61
A2およびメモリ62A2からそれぞれ取出す。
Repeat the steps ~ above to transfer x 2 (=
x 2,2 −x 2,1 ). However, the signals x 2,2 and x 2,1 to obtain x 2 are stored in the correction value memory 61.
A 2 and memory 62A 2 respectively.

Dk′計算ユニツト65を作動させてx2を取込
む。
D k 'Calculation unit 65 is activated to take in x 2 .

xメモリ64をアクセスし、データバスにx1
を送出する。
Access x memory 64 and send x 1 to data bus
Send out.

Dk′計算ユニツト65にx1を取込む。 D k 'x 1 is taken into the calculation unit 65.

xメモリ64にx2を格納する。 x 2 is stored in the x memory 64.

Dk′計算ユニツト67を作動させてD1′=|
x2−x1|を計算し、その結果をデータバスに送
出する。
D k ′ Activates calculation unit 67 and calculates D 1 ′=|
Calculate x 2 −x 1 | and send the result to the data bus.

D1′をDk′メモリ66に格納する。 D 1 ′ is stored in D k ′ memory 66.

D1′を絶対値メモリ681に格納する。 D 1 ′ is stored in the absolute value memory 68 1 .

上記〜を繰返してD2′=|x3−x2|を
Dk′メモリ66に格納する。この時点では絶対
値メモリ681にはD1′が記憶されている。
Repeat ~ above to get D 2 ′=|x 3 −x 2
D k 'Stored in memory 66. At this point, D 1 ' is stored in the absolute value memory 68 1 .

比較ユニツト67にDk′メモリ66からD2
を転送すると共に絶対値メモリ681からD1
を転送してそれらの大小を比較し、その結果を
コントローラ73に送出する。
D k ′ to comparison unit 67 D 2 ′ from memory 66
and transfer the absolute value memory 68 1 to D 1
are transferred, their sizes are compared, and the results are sent to the controller 73.

D2′>D1′のときは、コントローラ73の制
御により絶対値メモリ81に記憶されている
D1′を絶対値メモリ682に転送(シフト)し、
Dk′メモリ66に記憶されているD2′を絶対値
メモリ681に転送する。また、D2′≦D1′のき
はDk′メモリ66に記憶されているD2′を絶対
値メモリ682に格納する。
When D 2 ′>D 1 ′, it is stored in the absolute value memory 8 1 under the control of the controller 73.
Transfer (shift) D 1 ' to the absolute value memory 68 2 ,
D 2 ' stored in the D k ' memory 66 is transferred to the absolute value memory 68 1 . Further, when D 2 ′≦D 1 ′, D 2 ′ stored in the D k ′ memory 66 is stored in the absolute value memory 68 2 .

上記〜を繰返してD3′=|x4−x3|を
Dk′メモリ66に格納する。
Repeat ~ above to get D 3 ′=|x 4 −x 3 |
D k 'Stored in memory 66.

D3′と絶対値メモリ681および682に格納
されているD1′,D2′とを比較しD3′>〔絶対値
メモリ681の内容〕のときはコントローラ7
3を介して絶対値メモリ681,682の内容を
682,683に転送し、絶対値メモリ681
D3′を格納する。D3′≦〔絶対値メモリ681
内容〕のときは、次にD3′と〔絶対値メモリ6
2の内容〕とを比較し、D3′>〔絶対値メモリ
682の内容〕なら絶対値メモリ682の内容を
683にシフトしてD3′を682に格納し、D3
≦〔絶対値メモリ682の内容〕のときはD3′を
絶対値メモリ683に格納する。
Compare D 3 ′ with D 1 ′ and D 2 ′ stored in absolute value memories 68 1 and 68 2 , and if D 3 ′>[contents of absolute value memory 68 1 ], controller 7
The contents of the absolute value memories 68 1 and 68 2 are transferred to the absolute value memories 68 2 and 68 3 via the
Store D 3 ′. When D 3 ′≦[contents of absolute value memory 68 1 ], next D 3 ′ and [contents of absolute value memory 68
If D 3 > [contents of absolute value memory 68 2], shift the contents of absolute value memory 68 2 to 68 3 , store D 3 in 68 2 , and D 3
When ≦[contents of absolute value memory 68 2 ], D 3 ' is stored in absolute value memory 68 3 .

以上の動作を繰返すことにより補正値メモリ
61A1〜61Aoおよびメモリ62A1〜62Ao
の取込まれた全てのデータを処理する。このデ
ータ処理が終了した時点ではDk′(1≦k≦n
−2)は絶対値メモリ681〜68Nにその値が
大きい方から順に格納される。
By repeating the above operations, the correction value memories 61A 1 to 61A o and the memories 62A 1 to 62A o
Process all the captured data. At the end of this data processing, D k ′ (1≦k≦n
-2) are stored in the absolute value memories 68 1 to 68 N in descending order of value.

次に、絶対値メモリ681〜68Nまでのデー
タを加算ユニツト69に転送して受光素子列3
Aにおける評価値SANk=1 Dk′を演算し、その結
果を合焦検出ユニツト70に転送する。
Next, the data from the absolute value memories 68 1 to 68 N are transferred to the addition unit 69 and added to the light receiving element array 3.
The evaluation value S A - Nk=1 D k ' at A is calculated and the result is transferred to the focus detection unit 70.

補正値メモリ61B1〜61Boおよびメモリ
62B1〜62Boに取込まれているデータを、
上記と同様の動作により処理して受光素子列3
Bにおける評価値SBを計算し、その結果を合焦
検出ユニツト70に転送する。
The data stored in the correction value memories 61B 1 to 61B o and the memories 62B 1 to 62B o are
The light receiving element array 3 is processed by the same operation as above.
The evaluation value S B at B is calculated and the result is transferred to the focus detection unit 70.

〓〓 合焦検出ユニツト70でSA−SBを計算し、
その結果をコントローラ73に供給する。本実
施例ではSA−SB=oで合焦状態となり、SA
SB>oのときは前ピン、またSA−SB<oのと
きは後ピン状態となる。
〓〓 The focus detection unit 70 calculates S A - S B ,
The result is supplied to the controller 73. In this example, the in-focus state is reached when S A −S B =o, and S A −S B =o.
When S B >o, the front pin is in the front pin state, and when S A −S B <o, the rear pin state is achieved.

上述した例では評価演算の方法として互いに隣
り合う受光素子からの信号を補正してその差の絶
対値を出しそれらのうちの大きい方からN番目で
の値を選択する場合に、絶対値メモリ681〜6
Nに格納された値の大きい方から順にDk′メモ
リ66に格納された値と比較したが、これとは逆
に小さい方から順に比較するようにしても良い。
この場合には、上記の演算方法のを以下に説明
するように変更すればよい。
In the above example, as a method of evaluation calculation, when signals from adjacent light receiving elements are corrected, the absolute value of the difference is calculated, and the Nth value from the larger one is selected, the absolute value memory 68 is used. 1 to 6
Although the values stored in 8N are compared with the values stored in the Dk ' memory 66 in ascending order, the comparison may be made in reverse order starting from the smallest.
In this case, the above calculation method may be changed as described below.

D3′と絶対値メモリ681および682に格納
されているD1′とD2′とを比較しD3′>〔絶対値
メモリ682の内容〕の時には、更にD3′と絶
対値メモリ681の内容を比較しD3′>〔絶対値
メモリ681の内容〕の時には、コントローラ
73を介して絶対値メモリ681,682の内容
を682,683に転送し、絶対値メモリ681
にD3′を格納する。D3′≦〔絶対値メモリ681
の内容〕の時にはコントローラ73を介して絶
対値メモリ682の内容を683に転送し、絶対
値メモリ682にD3′を格納する。D3′≦〔絶対
値メモリ682の内容〕の時はD3′を絶対値メ
モリ683に格納する。
D 3 ′ is compared with D 1 ′ and D 2 ′ stored in the absolute value memories 68 1 and 68 2 , and when D 3 ′>[contents of the absolute value memory 68 2 ], D 3 ′ and the absolute The contents of the value memory 68 1 are compared, and when D 3 ′ > [content of the absolute value memory 68 1 ], the contents of the absolute value memories 68 1 and 68 2 are transferred to the absolute value memories 68 2 and 68 3 via the controller 73, Absolute value memory 68 1
Store D 3 ′ in . D 3 ′≦ [Absolute value memory 68 1
], the contents of the absolute value memory 68 2 are transferred to the absolute value memory 68 3 via the controller 73, and D 3 ' is stored in the absolute value memory 68 2 . When D 3 ′≦[contents of absolute value memory 68 2 ], D 3 ′ is stored in absolute value memory 68 3 .

このようにして、絶対値メモリ681〜68N
値が入つている時にはDk′の値と絶対値メモリ6
Nの値とを比較し、Dk′>〔絶対値メモリ68N
の内容〕の時にはDk′は小さい値から大きい値が
順に格納されている絶対値メモリ68N-1,……,
681の絶対値と比較し、Dk′≦〔絶対値メモリ6
+1の内容、ここで0≦≦N−2〕になつた
時にコントローラ73を介して絶対値メモリ68
〜68N-1の内容を絶対値メモリ68-1〜68
に転送し絶対値メモリ68lにDk′の値を格納す
る。このように小さい方から順に比較する演算方
法によればNに比較して受光素子数が多い場合に
早く演算できるメリツトがある。
In this way, when the absolute value memories 68 1 to 68 N contain values, the value of D k ' and the absolute value memory 68
8 N and D k ′>[Absolute value memory 68 N
], D k ′ is the absolute value memory 68 N-1 , ..., where the values are stored in order from the smallest value to the largest value.
68 Compare with the absolute value of 1 , D k ′≦ [Absolute value memory 6
8 +1 , where 0≦≦N-2], the absolute value memory 68 is stored via the controller 73.
1 ~ 68 The contents of N-1 are stored in absolute value memory 68 -1 ~ 68
The value of D k ' is stored in the absolute value memory 68 l . This calculation method of comparing in order from the smallest one has the advantage of being able to calculate quickly when the number of light receiving elements is large compared to N.

上述した実施例によればOR回路44が動作し
た信号に基いて受光素子列3A,3Bの全ての受
光素子の出力アナログ情報を同時にサンプルホー
ルドするものであるから、被写体1と受光素子列
3A,3Bとが相対的に移動する場合でも高精度
の合焦検出を行なうことができる。また、AND
回路43が動作した信号により所定範囲内で逐次
変化するデジタル信号の送出を止めるようにした
から、サンプルホールドしたアナログ情報を短時
間でA/D変換することができる。
According to the embodiment described above, the output analog information of all the light receiving elements of the light receiving element rows 3A and 3B is simultaneously sampled and held based on the signal from which the OR circuit 44 is activated. Highly accurate focus detection can be performed even when the lens 3B moves relative to the lens 3B. Also, AND
Since the output of the digital signal that changes sequentially within a predetermined range is stopped by the signal activated by the circuit 43, the sampled and held analog information can be A/D converted in a short time.

なお、本発明は上述した例にのみ限定されるも
のではなく幾多の変更または変形が可能である。
例えばカウンタ41から送出するデジタル信号は
4ビツトに限らず、これよりも多くしてA/D変
換の精度を更に高めることもできる。また、この
カウンタ41はハード的に中央処理装置6に組込
んで、中央処理装置6から所要のデジタル信号を
D/A変換器40に送出するように構成すること
もできる。更に、上述した例では2個の受光素子
列3A,3Bを撮影光学系2の予定焦平面と光学
的に等価位置の前後に配置したが、予定焦平面若
しくはこれと光学的に等価な同一平面上に1個ま
たは多数の受光素子を粗および密に配列して成る
2個以上の受光素子列を配置して合焦点を検出す
るよう構成することもできる。また、受光素子列
3A,3Bの全ての受光素子からの出力アナログ
情報をサンプルホールドするタイミングは、フリ
ツプフロツプ45を用いることなくOR回路44
が作動した時点で中央処理装置6によつて行なう
こともできるし、OR回路44及びフリツプフロ
ツプ45を用いることなく、中央処理装置6によ
つて制御される別のカウンタを設け、このカウン
タにより所定時間経過後にサンプルホールドする
よう構成することもできる。こらは補正値のサン
プルホールドについても同様である。更に、上述
した例ではAND回路43が作動した時点でカウ
ンタ41からのデジタル信号の送出を止めるよう
にしたが、このAND回路43を省いて所定の範
囲にあるデジタル信号を全て送出するようにして
もよい。このようにすれば回路構成を更に簡単に
することができる。また、全ての受光素子からの
合焦検出用の出力アナログ画像情報に対するデジ
タル信号の範囲を決定し、この決定された範囲内
で所定の範囲内で逐次変化するデジタル信号を送
出して上記アナログ画像情報をA/D変換するよ
うに構成することもできる。すなわち、例えば
OR回路44によりサンプルホールドするタイミ
ングをとる際に送出する一定値のデジタル信号を
アナログ画像情報の最大値に対応させて全てのア
ナログ画像情報を同時にサンプルホールドし、そ
の後D/A変換器40にAND回路43が作動す
るまで異なる所定の数値のデジタル信号を順次に
送出してサンプルホールドした全てのアナログ画
像情報の最小値に対応するデジタル信号を決定
し、次にこの決定された範囲内で所定の範囲にあ
る数値、上述した実施例では「1111」〜「0000」
を大きい方から小さい方に、あるいは小さい方か
ら大きい方に逐次変化させてD/A変換器40に
送出してサンプルホールドした全てのアナログ画
像情報をA/D変換する。このように、サンプル
ホールドした全てのアナログ画像情報の最大値お
よび最小値のA/D変換の範囲を決定し、この決
定された範囲内で所定の範囲内のデジタル信号を
逐次変化させてA/D変換すれば、コントラスト
が弱い被写体でも更に高精度で合焦点を検出する
ことができる。更に、AND回路43やOR回路4
4は比較器や加算回路を用いる種々の論理回路で
構成することができる。また、AND回路43を
所定番目までのコンパレータの出力は反転したこ
とを検出するものとして構成することもできる。
このようにすれば、例えば所定番目Nまでのアナ
ログ画像情報のA/D変換器を評価関数S=Nk=1
ak(ただし、akは最大値からk番目のアナログ画
像情報のA/D変換値)に代入して演算する場合
には、aNよりも小さなアナログ画像情報はA/D
変換の範囲から外れてA/D変換されず、必要な
アナログ画像情報のみA/D変換されるから、処
理速度が更に速くなる。更にまた、図示しない
が、各受光装置を構成する多数に受光素子に配列
は、格子状に縦横に並べたり、同心円状に並べて
配置する等種々の配列で配置することができる。
更に、上述した例では2つの受光素子列の全ての
アナログ画像情報を同時にサンプルホールドし、
この同一瞬時の画像情報を受光素子列ごとに並列
的にA/D変換するようにしたが、2つの受光素
子列3A,3Bを中央処理装置6からの信号によ
り順次に選択し、選択された受光素子列のn個の
出力アナログ情報を受光素子列3A,3Bに対し
て共通に用いるサンプルホールド回路にホールド
してA/D変換し、その後他方の受光素子列のn
個の出力アナログ情報をサンプルホールド回路に
ホールドしてA/D変換して合焦状態を検出する
こともできる。この場合の各受光素子列における
補正値のサンプルホールドおよび合焦検出用の画
像情報のサンプルホールドは、順次に行なつても
よいし、各受光素子列の補正値を順次にサンプル
ホールドしてA/D変換した後、各受光素子列の
合焦検出用の画像情報を順次にサンプルホールド
してA/D変換してもよい。また、第9図では各
受光素子列のn個の合焦検出用のデジタル信号を
n個のメモリ62A1〜62Ao,62B1〜62Bo
にそれぞれ格納するようにしたが、これらのメモ
リを省略してデジタルメモリ421〜42oに書込
まれたデータも取込と同期して対応する受光素子
の補正値を補正値メモリ61A1〜61Aoまたは
61B1〜61Boからデータバスに送出し、これ
らの値を補正計算ユニツト63に取込むようにし
て焦点検出を行なうこともできる。更に、補正値
についての評価値と合焦検出用の画像情報につい
ての評価値とをそれぞれ独立に求め、両者の差か
ら特性のばらつきを補正した真の評価値を求めて
焦点検出を行なうこともできる。更にまた、補正
値(ダークレベル)の測定は必ずしも合焦検出動
作のたび毎に行なう必要はなく、補正値メモリ6
1A1〜61Aoおよび61B1〜61Boに格納した
補正値を任意または所定回数の合焦検出に繰返し
て使用し、任意または所定回数の合焦検出ごとに
その補正値を測定して更新するようにしてもよ
い。また受光素子に対応したサンプルホールド回
路等があれば、一回でもよい。
Note that the present invention is not limited to the above-mentioned examples, and can be modified or modified in many ways.
For example, the digital signal sent from the counter 41 is not limited to 4 bits, but may be greater than this to further improve the accuracy of A/D conversion. Further, the counter 41 can be built into the central processing unit 6 as hardware, and configured to send a required digital signal from the central processing unit 6 to the D/A converter 40. Furthermore, in the example described above, the two light receiving element rows 3A and 3B are arranged before and after the position optically equivalent to the intended focal plane of the photographic optical system 2, but the two light receiving element rows 3A and 3B are arranged before and after the position optically equivalent to the intended focal plane of the photographic optical system 2. It is also possible to detect a focused point by arranging two or more light-receiving element arrays each consisting of one or more light-receiving elements arranged sparsely and densely thereon. Further, the timing for sampling and holding the output analog information from all the light receiving elements of the light receiving element rows 3A and 3B is determined by using the OR circuit 44 without using the flip-flop 45.
Alternatively, instead of using the OR circuit 44 and the flip-flop 45, another counter controlled by the central processing unit 6 may be provided, and this counter can be used to calculate the predetermined time. It can also be configured to hold the sample after the elapsed time. The same applies to sample and hold of correction values. Furthermore, in the above example, the sending of digital signals from the counter 41 is stopped when the AND circuit 43 is activated, but this AND circuit 43 is omitted and all digital signals within a predetermined range are sent out. Good too. In this way, the circuit configuration can be further simplified. In addition, the range of digital signals for the output analog image information for focus detection from all light receiving elements is determined, and within this determined range, a digital signal that changes sequentially within a predetermined range is sent out to generate the analog image. It is also possible to configure the information to be A/D converted. That is, for example
The OR circuit 44 samples and holds all the analog image information at the same time by making the digital signal of a constant value sent out when timing the sample and hold correspond to the maximum value of the analog image information, and then outputs the AND signal to the D/A converter 40. Until the circuit 43 is activated, digital signals of different predetermined numerical values are sequentially sent out to determine the digital signal corresponding to the minimum value of all sampled and held analog image information, and then a predetermined value within this determined range is determined. A number in the range, "1111" to "0000" in the example above
is sequentially changed from larger to smaller or from smaller to larger, and sent to the D/A converter 40 to A/D convert all the sampled and held analog image information. In this way, the A/D conversion range of the maximum value and minimum value of all sample-held analog image information is determined, and the digital signal within a predetermined range is sequentially changed within this determined range to perform A/D conversion. By performing D conversion, the in-focus point can be detected with even higher accuracy even for subjects with weak contrast. Furthermore, AND circuit 43 and OR circuit 4
4 can be constructed from various logic circuits using comparators and adder circuits. Further, the AND circuit 43 can be configured to detect that the outputs of the comparators up to a predetermined number are inverted.
In this way, for example, the A/D converter for analog image information up to the predetermined number N can be evaluated using the evaluation function S= Nk=1
a k (however, a k is the A/D conversion value of the k-th analog image information from the maximum value), when calculating by substituting the analog image information smaller than a N
Processing speed is further increased because only necessary analog image information is A/D converted without being A/D converted outside the conversion range. Furthermore, although not shown in the drawings, the large number of light receiving elements constituting each light receiving device can be arranged in various arrangements, such as vertically and horizontally arranged in a grid pattern or arranged in concentric circles.
Furthermore, in the above example, all the analog image information of the two light receiving element arrays is simultaneously sampled and held,
This same instantaneous image information is A/D converted in parallel for each light receiving element row, but the two light receiving element rows 3A and 3B are sequentially selected by a signal from the central processing unit 6. The n output analog information of the light receiving element array is held in a sample hold circuit commonly used for the light receiving element arrays 3A and 3B and A/D converted, and then the n output analog information of the other light receiving element array is
It is also possible to detect the in-focus state by holding the output analog information in a sample and hold circuit and converting it from analog to digital. In this case, the sample and hold of the correction value in each light receiving element column and the sample and hold of the image information for focus detection may be performed sequentially, or the correction values of each light receiving element column may be sampled and held in sequence. After A/D conversion, image information for focus detection of each light receiving element array may be sequentially sampled and held and A/D converted. In addition, in FIG. 9, n digital signals for focus detection of each light receiving element row are stored in n memories 62A 1 to 62A o , 62B 1 to 62B o.
However, these memories are omitted and the data written in the digital memories 42 1 to 42 o is also stored in the correction value memories 61A 1 to 61A 1 to 42 o in synchronization with the correction values of the corresponding light receiving elements. 61A o or 61B 1 to 61B o to the data bus, and these values can be taken into the correction calculation unit 63 to perform focus detection. Furthermore, the evaluation value for the correction value and the evaluation value for the image information for focus detection may be determined independently, and the true evaluation value corrected for characteristic variations may be determined from the difference between the two to perform focus detection. can. Furthermore, it is not necessary to measure the correction value (dark level) every time a focus detection operation is performed, and the correction value memory 6
The correction values stored in 1A 1 to 61A o and 61B 1 to 61B o are repeatedly used for an arbitrary or predetermined number of focus detections, and the correction values are measured and updated every arbitrary or predetermined number of focus detections. You can do it like this. Moreover, if there is a sample hold circuit or the like corresponding to the light receiving element, it may be necessary to perform the process only once.

更にまた、上述した例では発光体4を取付けた
シヤツタ30をモータ29の駆動により測距光路
中に選択的に介在させるようにしたが、第10図
および第11図に示す機構により測距光路中に選
択的に介在させるよう構成することもできる。
Furthermore, in the above-mentioned example, the shutter 30 with the light emitter 4 attached was selectively interposed in the distance measuring optical path by driving the motor 29, but the mechanism shown in FIGS. It can also be configured so that it is selectively interposed therein.

第10図AおよびBにおいては、発光体4を取
付けたシヤツタ30をその一辺をカメラベース7
5に設けた一対の固定部材76A,76Bに回動
自在に枢着すると共に、該辺に紐77の一端を連
結し、この紐77の他端を固定部材76A,76
間に架設した紐かかえ78を介して摺動板79に
連結する。第10図AおよびBはシヤツタ30が
測距光路中に位置し、発光体4が発光して各受光
素子の補正値を測定する状態を示し、シヤツタ3
0は枢軸30Aと固定部材76Bとの間に設けた
はさみばね80の作用により、図において時計方
向に回動附勢され、枢軸30Aと対向する辺がカ
メラベース75に設けたストツパー81に当接し
ている。また、摺動板79は固定部材82との間
に配設したばね83の力により図において右方向
に附勢され、規制板84に当接している。摺動板
79を、例えばフイルムの巻上動作と連動してば
ね83の力に抗し、ノブ79Aを介して図におい
て矢印方向に移動させると、シヤツタ30は紐7
7を介して固定部材76Aに設けたシヤツタスト
ツパー85に当接するまで、はさみばね80の力
に抗して図において反時計方向にほぼ90°回動し、
シヤツタ30は測距光路から退去する。この状態
は被写体像の合焦検出信号を得る状態であり、例
えばシヤツターレリーズ動作と連動して合焦検出
を開始するよう構成することができる。また、シ
ヤツタ30をテン測距光路中に位置させて発光体
4を発光させる動作も、シヤツターレリーズ動作
と連動して行なうよう構成することができる。
In FIGS. 10A and 10B, the shutter 30 with the light emitter 4 attached is connected to the camera base 7 on one side.
The string 77 is rotatably connected to a pair of fixing members 76A, 76B provided in the fixing members 76A, 76B.
It is connected to a sliding plate 79 via a string holder 78 installed between them. 10A and 10B show a state in which the shutter 30 is located in the distance measuring optical path, the light emitter 4 emits light, and the correction value of each light receiving element is measured;
0 is rotated clockwise in the figure by the action of a scissor spring 80 provided between the pivot 30A and the fixing member 76B, and the side facing the pivot 30A abuts a stopper 81 provided on the camera base 75. ing. Further, the sliding plate 79 is urged rightward in the figure by the force of a spring 83 disposed between the sliding plate 79 and the fixed member 82, and is brought into contact with the regulating plate 84. When the sliding plate 79 is moved in the direction of the arrow in the figure via the knob 79A against the force of the spring 83, for example in conjunction with the film winding operation, the shutter 30 is moved by the string 7.
7 until it comes into contact with a shutter stopper 85 provided on the fixing member 76A, it rotates approximately 90° counterclockwise in the figure against the force of the scissor spring 80, and
The shutter 30 moves out of the distance measuring optical path. This state is a state in which a focus detection signal of a subject image is obtained, and for example, a configuration can be made in which focus detection is started in conjunction with a shutter release operation. Further, the operation of positioning the shutter 30 in the distance measuring optical path of the balance and causing the light emitter 4 to emit light can also be configured to be performed in conjunction with the shutter release operation.

第10図においては、シヤツタ30を回動自在
に保持して測距光路中に選択的に介在させるよう
にしたが、シヤツタ30をスライド自在に保持し
て測距光路中に選択的に介在させるように構成す
ることもできる。
In FIG. 10, the shutter 30 is held rotatably and selectively interposed in the distance measuring optical path, but the shutter 30 is held slidably and selectively interposed in the distance measuring optical path. It can also be configured as follows.

第11図は、上述したようにシヤツタ30をス
ライド自在に保持して測距光路中の選択的に介在
させる場合の移動機構の一例の構成を示すもので
あり、第11図Aは平面図を、第11図Bは第1
1図Aの−線断面図をそれぞれ示す。発光体
4を保持するシヤツタ30の一辺には永久磁石9
1を設ける。シヤツタ30の対向する辺にはそれ
ぞれ切溝92A,92Bをスライド方向に延在し
て形成し、これら切溝をカメラベース75に支柱
93Aおよび93Bを介してスライド方向に延在
して設けた一対のガイド棒94A,94Bにそれ
ぞれ係合させて、シヤツタ30をスライド自在に
保持する。第11図はシヤツタ30が測距光路中
から退去し、受光素子列3A,3B上に被写体像
が投影されている合焦検出状態を示し、シヤツタ
30はこれとカメラベース75に設けたピン95
との間に架設した引張ばね96により、第11図
Aにおいて右方向に附勢され、シヤツタ30がカ
メラベース75に設けたストツパー97A,97
Bに当接している。一方、第11図Aにおいて、
測距光路よりも左側には、永久磁石91と対向す
るように、コイル98を巻回した磁性体99をカ
メラベース75上に設け、各受光素子の補正値を
測定する際にはコイル98に電流を供給して永久
磁石91したがつてシヤツタ30を引張ばね96
の力に抗して左方向にスライドさせてシヤツタ3
0を測距光路中に介在させて発光体4を発光させ
る。
FIG. 11 shows the configuration of an example of a moving mechanism in which the shutter 30 is slidably held and selectively interposed in the distance measuring optical path as described above, and FIG. 11A shows a plan view. , Figure 11B is the first
FIG. 1 shows a cross-sectional view taken along the - line in FIG. 1A, respectively. A permanent magnet 9 is attached to one side of the shutter 30 that holds the light emitter 4.
1 will be provided. Cut grooves 92A and 92B are formed on opposing sides of the shutter 30, respectively, extending in the sliding direction, and a pair of cut grooves are provided on the camera base 75, extending in the sliding direction via supports 93A and 93B. The shutter 30 is held slidably by being engaged with the guide rods 94A and 94B, respectively. FIG. 11 shows a focus detection state in which the shutter 30 has moved out of the distance measuring optical path and the subject image is projected onto the light receiving element arrays 3A and 3B.
The shutter 30 is biased rightward in FIG. 11A by a tension spring 96 installed between
It is in contact with B. On the other hand, in FIG. 11A,
On the left side of the distance measuring optical path, a magnetic body 99 with a coil 98 wound thereon is provided on the camera base 75 so as to face the permanent magnet 91. By supplying current, the permanent magnet 91 and therefore the shutter 30 are pulled by the spring 96.
Shutter 3 by sliding it to the left against the force of
0 is interposed in the distance measuring optical path to cause the light emitter 4 to emit light.

以上詳細に説明したように本発明においては、
受光素子列の前方から該受光素子列を一様照明し
て各々の受光素子の出力をそれぞれ記憶し、その
記憶値に基いて物体像の光強度分布に対応する
各々の受光素子の画像情報を補正するものである
から、回路構成を簡単かつ安価にできると共に、
個々の受光素子の特性のばらつきを有効に補正で
きる。したがつて、物体像のコントライトが低い
場合でも、合焦の誤検出を生じることなく、常に
高精度の合焦検出を迅速にでき、本発明の目的を
有効に達成することができる。
As explained in detail above, in the present invention,
The light receiving element array is uniformly illuminated from the front of the light receiving element array, the output of each light receiving element is stored, and image information of each light receiving element corresponding to the light intensity distribution of the object image is generated based on the stored value. Since it is a correction, the circuit configuration can be made simple and inexpensive, and
Variations in characteristics of individual light receiving elements can be effectively corrected. Therefore, even when the contrast of the object image is low, the focus can always be quickly detected with high accuracy without causing erroneous detection of focus, and the object of the present invention can be effectively achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は従来行なわれている受光素子の特性の
ばらつきの補正方法を説明するための線図、第2
図は本発明に係るカメラの合焦検出方法を行う合
焦検出装置の一例の構成を示すブロツク線図、第
3図は第2図に示す装置を一眼レフカメラに適用
した場合の受光素子列の配置の一例を示す線図、
第4図は第2図に示す受光素子列、A/D変換回
路および中央処理装置の部分の一列の詳細な回路
構成を示すブロツク線図、第5図は第4図に示す
受光素子列、サンプルホールド回路の部分の一例
の詳細な構成を示す回路図、第6図は第5図に示
す1つの受光素子部に対応する周辺回路に具体的
構成を示す回路図、第7図A〜Dは第5図の動作
を説明するための波形図、第8図は第4図に示す
実施例においてサンプルホールドされる各受光素
子の出力アナログ情報とダークレベルとの関係を
示す線図、第9図は第2図に示す中央処理装置の
更に詳細な回路構成を示すブロツク図、第10図
A,Bおよび第11図A,Bは本発明において発
光体を測距光路中に選択的に介在させる他の2つ
の例の構成をそれぞれ示す線図である。 1……被写体、2……撮影光学系、3,3A,
3B……受光素子列、3A1〜3Ao,3B1〜3Bo
……受光素子部、4……発光体、5……A/D変
換回路、6……中央処理装置、7……補正値読取
ユニツト、8……画像情報読取ユニツト、9……
補正計算ユニツト、10……合焦検出ユニツト、
11……コントローラ、12……表示装置、13
……光学系駆動回路、14……光学系駆動装置、
21……フイルム、22……クイツクリターンミ
ラー、23,27……ハーフミラー、24……ピ
ント板、25……ペンタプリズム、26,28…
…反射ミラー、29……モータ、30……シヤツ
タ、31……駆動回路、38A1〜38Ao,38
B1〜38Bo……サンプルホールド回路、391
39o……コンパレータ回路、40……D/A変
換器、41……カウンタ、421〜42o……デジ
タルメモリ、43……AND回路、44……OR回
路、45……フリツプフロツプ、46……アドレ
スバス、47……アドレスデコーダ、50A1
50Ao,50B1〜50Bo……スイツチ、51A1
〜51Ao,51B1〜51Bo,52A1〜52Ao
52B1〜52Bo……バツフア、53A1〜53
Ao,53B1〜53Bo,54A1〜54Ao、54
B1〜54Bo……ゲート、55A1〜55Ao,55
B1〜55Bo……コンデンサ。
Figure 1 is a diagram for explaining the conventional method of correcting variations in characteristics of light-receiving elements;
The figure is a block diagram showing the configuration of an example of a focus detection device that performs the camera focus detection method according to the present invention, and FIG. 3 is a light receiving element array when the device shown in FIG. 2 is applied to a single-lens reflex camera. A line diagram showing an example of the arrangement of
FIG. 4 is a block diagram showing a detailed circuit configuration of one row of the light-receiving element row, A/D conversion circuit, and central processing unit shown in FIG. 2, and FIG. 5 is a block diagram showing the light-receiving element row shown in FIG. FIG. 6 is a circuit diagram showing a detailed configuration of an example of the sample and hold circuit portion; FIG. 6 is a circuit diagram showing a specific configuration of a peripheral circuit corresponding to one light-receiving element section shown in FIG. 5; FIGS. 7A to D 5 is a waveform diagram for explaining the operation of FIG. 5, FIG. 8 is a diagram showing the relationship between the dark level and the output analog information of each light-receiving element sampled and held in the embodiment shown in FIG. 4, and FIG. The figure is a block diagram showing a more detailed circuit configuration of the central processing unit shown in FIG. FIG. 7 is a diagram showing the configurations of two other examples of the configuration. 1...Subject, 2...Photographing optical system, 3, 3A,
3B...Light receiving element array, 3A 1 to 3A o , 3B 1 to 3B o
... Light receiving element section, 4 ... Light emitter, 5 ... A/D conversion circuit, 6 ... Central processing unit, 7 ... Correction value reading unit, 8 ... Image information reading unit, 9 ...
Correction calculation unit, 10... Focus detection unit,
11...Controller, 12...Display device, 13
...Optical system drive circuit, 14...Optical system drive device,
21... Film, 22... Quick return mirror, 23, 27... Half mirror, 24... Focusing plate, 25... Pentaprism, 26, 28...
... Reflection mirror, 29 ... Motor, 30 ... Shutter, 31 ... Drive circuit, 38A 1 to 38A o , 38
B 1 ~38B o ... Sample hold circuit, 39 1 ~
39 o ...Comparator circuit, 40...D/A converter, 41...Counter, 42 1 to 42 o ...Digital memory, 43...AND circuit, 44...OR circuit, 45...Flip-flop, 46... ...Address bus, 47...Address decoder, 50A 1 ~
50A o , 50B 1 ~ 50B o ... Switch, 51A 1
~51A o , 51B1 ~51B o , 52A1 ~52A o ,
52B 1 ~52B o ...Batsuhua, 53A 1 ~53
A o , 53B 1 ~ 53B o , 54A 1 ~ 54A o , 54
B 1 ~ 54B o ... gate, 55A 1 ~ 55A o , 55
B 1 ~55B o ... Capacitor.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 光学系により形成される物体の像の少なく共
一部分を受光素子列上に投影して各々受光素子か
ら物体像の光強度分布に対応する画像情報を得、
これら画像情報を定められた評価関数に基づいて
演算して物体像の合焦状態を検出するカメラの合
焦検出方法において、 前記受光素子列の前方から該受光素子列を一様
照明して各々の受光素子の出力をそれぞれ記憶
し、その記憶値に基づいて物体の光強度分布に対
応する各々の受光素子の画像情報を補正すること
を特徴とするカメラの合焦検出方法。
[Scope of Claims] 1. Projecting at least a common portion of an image of an object formed by an optical system onto an array of light-receiving elements to obtain image information corresponding to the light intensity distribution of the object image from each light-receiving element,
In a camera focus detection method that calculates the image information based on a predetermined evaluation function to detect a focused state of an object image, the light receiving element array is uniformly illuminated from in front of the light receiving element array and each What is claimed is: 1. A focus detection method for a camera, comprising: storing the outputs of each of the light receiving elements, and correcting image information of each of the light receiving elements corresponding to the light intensity distribution of an object based on the stored values.
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