JPH0416762B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はスチールカメラ、シネカメラ、顕微鏡
写真撮影装置等に用いられるカメラの合焦検出方
法に関するものである。

最近自動焦点カメラのように合焦の検出を行な
うものが提案されており、合焦検出法の一つとし
て、例えば被写体像の一部を多数の受光素子を有
する受光素子列で受光して各受光素子の出力アナ
ログ画像信号をデジタル信号に変換し、隣接する
受光素子に対応するデジタル信号の差の絶対値の
総和から合焦検出信号を得る方法がある。しか
し、この場合には多数の受光素子の各々の感度や
各受光素子に対応する周辺回路の電気的特性のば
らつき、光学系の不均一性等による出力のばらつ
きが被写体像の画像情報に重畳されるため、特に
コントラストの低い被写体については正確な合焦
検出ができない欠点がある。

この欠点を除去するためには各受光素子ごとに
信号レベルを補正する必要がある。以下、従来採
用されている最も一般的な補正方法について第１
図を参照して説明する。第１図は横軸に照度Ｅ
（_X）を、縦軸に各受光素子の出力Ｖ（ｖ）をそ
れぞれ表わしている。先ず、暗状態での各受光素
子の暗出力A_oを測定し、そのなかの最小値をA_p
としてA_o−A_p−a_oを求める。次に十分な明るさ
の光（照度E_H）で全ての受光素子を一様照明し
た状態で、各受光素子の出力B_oを測定し、その
なかの最大値をB_pとする。A_pとB_pとを直線イを
理想感度直線、A_oとB_oとを結ぶ直線ロを実測値
直線として、任意の明るさのとき（照度E_o）の
実測値y_oからyonを求める。このため、まず実測
値直線ロをa_oだけ下方に平行移動して２点鎖線で
示す直線ハを作成する。この直線ハと照度E_oと
の交点をy_o′をすると、 yon＝B_p／E_HE_o …(1) y_o′＝B_o′−a_o／E_HE_o＝y_o−a_o …(2) 上記(1)および(2)式からE_o／E_Hとy_o′とを消去する と、 yon＝B_p／B_o−a_oy_o−a_oB_p／B_o−a_o …(3) となり、各受光素子の補正係数として A_o＝B_p／B_o−a_o，B_o＝a_oB_p／B_o−a_oを測定すれば、 yon＝A_oy_o−B_oという一次補正の一般形式を用い
ての補正が可能となる。

しかし、上記の補正方法は、暗、名の両状態で
の測定をする必要があるため、特にカメラ等にお
いては実際の撮影中での補正が困難である。ま
た、一次補正とはいつてもA_oy_oの乗算を含むた
め、演算回路の規模が大きくかつ高価になるし、
マイクロコンプユータを用いる場合でも低位の機
種では時間がかかる欠点がある。

本発明の目的は、上述した種々の欠点を除去
し、簡単かつ安価な構成により、各受光素子の特
性のばらつきを有効に補正でき、したがつてコン
トラストの低い被写体の場合でも常に高精度の合
焦検出を迅速にできるようにしたカメラの合焦検
出方法を提供しようとするものである。

本発明は、光学系により形成される物体の像の
少く共一部分を受光素子列上に投影して各々の受
光素子から物体像の光強度分布に対応する画像情
報を得、これら画像情報を定められた評価関数に
基づいて演算して物体像の合焦状態を検出するカ
メラの合焦検出方法において、 前記受光素子列の前方から該受光素子列を一様
照明して各々の受光素子の出力をそれぞれ記憶
し、その記憶値に基いて物体像の光強度分布に対
応する各々の受光素子の画像情報を補正すること
を特徴とするものである。

以下図面を参照して本発明を詳細に説明する。

第２図は本発明に係るカメラの合焦検出方法を
行う合焦検出装置の一例の構成を示すブロツク図
である。被写体１の像の一部を撮影光学系２を通
して多数の積分形の受光素子を有する受光素子列
３上に投影する撮影光路中で、撮影光学系２と受
光素子列３との間に発光ダイオード等の発光体４
を選択的に介在させる。本例ではこの発光体４に
より被写体１の像の投影に先立つて受光素子列３
を一様照明して全ての受光素子の出力をアナログ
−デジタル（Ａ／Ｄ）変換回路５に供給してデジ
タル信号に変換し、これを補正値として中央処理
装置６に取込む。次に、発光体４を撮影光路中か
ら退去させて、被写体１の像の一部を受光素子列
３上に投影し、そのときの全ての受光素子の出力
を上述したと同様にＡ／Ｄ変換回路５に供給しデ
ジタル信号に変換して画像情報として中央処理装
置６に取込む。中央処理装置６は補正値読取ユニ
ツト７、画像情報読取ユニツト８、補正計算ユニ
ツト９、合焦検出ユニツト１０およびコントロー
ラユニツト１１を具え、補正計算ユニツト９にお
いて画像情報読取ユニツト８に取込んだ各受光素
子に対する画像情報から補正値読取ユニツト７に
取込んだ当該受光素子における補正値を差引くこ
とにより、各受光素子における特性のばらつきを
補正し、この補正された画像情報をもとに、合焦
検出ユニツト１０において、例えば隣接する受光
素子間の差の絶対値を算出し、これらの絶対値の
総和あるいは最も大きい絶対値から所定番目迄の
絶対値の和を評価関数として用いて焦点合致状態
を表わす焦点検出信号を得、これをコントローラ
ユニツト１１を経て表示装置１２に供給して撮影
者に焦点合致状態を知らせると共に、光学系駆動
回路１３および光学系駆動装置１４を通して撮影
光学系２を矢印で示すように光軸方向に変位させ
て焦点調節を行なう。なお、コントローラユニツ
ト１１は中央処理装置６内の制御の他、受光素子
列３、発光体４およびＡ／Ｄ変換回路５の駆動も
制御する。また、簡易型の装置においては、撮影
光学系２の駆動は撮影者が表示装置１２の指示に
よつて手動で行なうようにして、光学系駆動回路
１３および光学系駆動装置１４は省略してもよ
い。

受光素子列は撮影光学系２の予定焦平面と光学
的に等価な平面上に１個配置して合焦検出を行な
うこともできるし、予定焦平面と光学的に等価な
位置の前後等しい距離の平面上にそれぞれ１個配
置して合焦検出を行なうこともできる。例えば本
発明の焦点検出装置を一眼レフカメラに適用する
場合において、２個の受光素子列を撮影光学系２
の予定焦平面の前後等しい距離に配置する場合に
は、第３図に示すように撮影光学系２とフイルム
２１との間の光路中に配置されるクイツクリター
ンミラー２２の中央部をハーフミラー２３とし、
このハーフミラー２３で反射される撮影光束をピ
ント板２４、ペンタプリズム２５等を具える観察
光学系に導き、ハーフミラー２３を透過する光束
を、クイツクリターンミラー２２の裏面に設けた
反射ミラー２６で下方に導くようにし、この下方
に導かれた光束をハーフミラー２７を透過させて
一方の受光素子列３Ａに入射させ、ハーフミラー
２７で反射された光束を反射ミラー２８を経て他
方の受光素子列３Ｂに入射させるように構成す
る。受光素子列３Ａ，３Ｂは上述したように、フ
イルム２１と光学的に共役な平面の前後等しい位
置に配置する。

また、この場合発光体４は、反射ミラー２６と
ハーフミラー２７との間の測距光路中に、モータ
２９の駆動により選択的に介在するシヤツタ３０
を設け、このシヤツタ３０の下面に設けることが
できる。

上述したＡ／Ｄ変換回路５における変換処理
は、例えば受光素子列に設けたそれぞれ多数の受
光素子の出力アナログ画像情報を順次に取出し、
これを逐次デジタル値に変換するよう構成するこ
ともできるが、このような逐次変換方式を採用し
た場合にはすべての必要なデータをデジタル値に
変換するのに時間がかかり不利である。

このため、本実施例では多数のアナログ量をほ
ぼ同時にデジタル値に変換することができる並列
形のＡ／Ｄ変換回路を用いる。以下、このような
並列形Ａ／Ｄ変換回路を用いた実施例についてさ
らに詳細に説明する。

第４図はこのような並列的なアナログ−デジタ
ル変換を行なう場合の受光素子列、Ａ／Ｄ変換回
路５、中央処理装置６の部分を詳細に示すもので
ある。なお、本実施例では第３図において説明し
たように、２個の受光素子列３Ａ，３Ｂを撮影光
学系の予定焦平面と工学的に共役な平面の前後等
しい位置に配置すると共に、発光体４をシヤツタ
３０の下面に取付け中央処理装置６の制御の下に
駆動回路３１およびモータ２９の駆動により測距
光路中に介在させると同時にこれを発光駆動する
ようにしたものである。

受光素子列３Ａ，３Ｂは中央処理装置６からの
指令により駆動制御するよう構成する。これら受
光素子列３Ａおよび３Ｂの各受光素子は各受光素
子列に対応して設けたサンプルホールド回路３８
A₁〜３８A_oおよび３８B₁〜３８B_oの各々にそれ
ぞれ接続し、これらサンプルホールド回路３８
A₁〜３８A_o，３８B₁〜３８B_oにはサンプルホー
ルド信号ラインａと、サンプルホールド回路３８
A₁〜３８A_oおよび３８B₁〜３８B_oのいずれか、
すなわち受光素子列３Ａおよび３Ｂのいずれかを
選択するための中央処理装置６からの選択信号ラ
インｂおよびｃとをそれぞれ並列に接続する。サ
ンプルホールド回路３８A₁〜３８A_o，３８B₁〜
３８B_oの各出力端子は、受光素子列３Ａおよび
３Ｂに対して共通に用いられるコンパレータ回路
３９₁〜３９_oの一方の入力端子にそれぞれ接続す
る。すなわち、サンプルホールド回路３８A₁お
よび３８B₁をコンパレータ回路３９₁に、サンプ
ルホールド回路３８A₂および３８B₂をコンパレ
ータ回路３９₂に、サンプルホールド回路３８A_o
および３８B_oをコンパレータ回路３９_oに接続す
る。これらコンパレータ回路３９₁〜３９_oの他方
の入力端子はＤ／Ａ変換器４０に並列に接続し、
このＤ／Ａ変換器４０には中央処理装置６によつ
て制御されるパルスジエネレータ付きのカウンタ
４１から予じめ定めた所定の異なる数値のデジタ
ル信号および所定の範囲にある数値を表わす次々
に発生されるデジタル信号を供給する。本例では
このデジタル信号を４ビツトで形成する。コンパ
レータ回路３９₁〜３９_oの出力端子は、それぞれ
対応するデジタルメモリ４２₁〜４２_oに接続する
と共にAND回路４３およびOR回路４４にそれぞ
れ並列に接続する。AND回路４３およびOR回路
４４の出力端子はそれぞれ中央処理装置６に接続
すると共に、更にOR回路４４の出力端子はフリ
ツプフロツプ４５の一方の入力端子に接続する。
フリツプフロツプ４５の他方の入力端子は中央処
理装置６に接続し、このフリツプフロツプ４５の
出力によるサンプルホールド信号ラインａを経て
受光素子列３Ａおよび３Ｂの全ての受光素子から
の出力アナログ画像情報を対応するサンプルホー
ルド回路３８A₁〜３８A_oおよび３８B₁〜３８B_o
にサンプルホールドするよう構成する。また、デ
ジタルメモリ４２₁〜４２_oにはカウンタ４１の出
力を並列に供給し、これらの出力端子は中央処理
装置６に並列に接続して、所要のメモリに記憶さ
れたデジタル信号をアドレスバス４６を経てアド
レスデコーダ４７を制御して中央処理装置６に取
込むよう構成する。

第５図は第４図に示す受光素子３Ａ，３Ｂおよ
びサンプルホールド回路３８A₁〜３８A_o，３８
B₁〜３８B_oの部分の更に詳細な回路構成図であ
り、符号３A₁〜３A_oは受光素子列３Ａの各受光
素子部を、符号３B₁〜３B_oは受光素子列３Ｂの
各受光素子部を示し、各々の受光素子部は受光素
子とコンデンサとを並列に接続して構成されてい
る。ここでは受光素子を符号３′A₁〜３′A_o，
３′B₁〜３′B_oで示し、コンデンサを符号３″A₁〜
３″A_o，３″B₁〜３″B_oで示す。これら全ての受光
素子部は一端が電源電圧V_cの電源に並列に接続
されていると共に、他端は中央処理装置６によつ
てON−OFF制御されるスイツチ５０A₁〜５０
A_o，５０B₁〜５０B_oを経て接地板されるよう構
成されている。サンプルホールド回路３８A₁〜
３８A_oおよび３８B₁〜３８B_oの各々は、２個の
バツフア５１A₁，５２A₁〜５１A_o，５２A_oおよ
び５１B₁，５２B₁〜５１B_o，５２B_oと、２個の
ゲート５３A₁，５４A₁〜５３A_o，５４A_oおよび
５３B₁，５４B₁〜５３B_o，５４B_oと１つのコン
デンサ５５A₁〜５５A_oおよび５５B₁〜５５B_oと
を具え、ゲート５３A₁〜５３A_oおよび５３B₁〜
５３B_oはサンプルホールド信号ラインａを経て
フリツプフロツプ４５の出力により制御され、ゲ
ート５４A₁〜５４A_oは選択信号ラインｂを経て、
またゲート５４B₁〜５４B_oは選択信号ラインｃ
を経てそれぞれ中央処理装置６によつて制御され
る。

第６図は１つの受光素子部に対応するサンプル
ホールド回路等の周辺回路の具体的な回路構成を
示すものである。本例ではスイツチ５０A₁およ
びゲート５４A₁を電界効果形トランジスタを用
いる半導体スイツチで構成し、バツフア５１A₁
および５２A₁はそれぞれ電界効果形トランジス
タのソース−ドレイン通路に抵抗を接続して構成
する。他の受光素子部に対応する周辺回路も第６
図と同様に構成する。

第７図Ａ〜Ｄは本実施例の焦点検出装置の動作
を説明するための波形図であり、第７図Ａは中央
処理装置６からスイツチ５０A₁〜５０A_o，５０
B₁〜５０B_oに供給する信号波形を、第７図Ｂは
バツフア５１A₁〜５１A_o，５１B₁〜５１B_oの出
力電位を、第７図Ｃはフリツプフロツプ４５から
のサンプリング信号を、第７図Ｄはバツフア５２
A₁〜５２A_o，５２B₁〜５２B_oの出力電位をそれ
ぞれ示す。

以下、本実施例の合焦検出装置の動作を説明す
る。

本例では、先ず中央処理装置６の制御により駆
動回路３１を介してモータ２９を駆動してシヤツ
タ３０を第３図において反射ミラー２６とハーフ
ミラー２７との間の測距光路中に介在させると共
に、発光体４を発光させて受光素子列３Ａ，３Ｂ
を一様照明し、そのときのそれぞれの受光素子部
３A₁〜３A_o，３B₁〜３B_oの出力アナログ照度情
報をサンプルホールド回路３８A₁〜３８A_o，３
８B₁〜３８B_oに同時にサンプルホールドした後、
これらをデジタル信号に変換してこれを補正値と
して中央処理装置６に取込み、次にモータ２９を
再び駆動してシヤツタ３０を測距光路から退去さ
せると共に発光体４を消去して被写体像を受光素
子列３Ａ，３Ｂ上に投影して積分し、その合焦検
出用の出力アナログ画像情報を上記と同様にサン
プルホールド回路３８A₁〜３８A_o，３８B₁〜３
８B_oに同時にサンプルホールドしてデジタル信
号に変換して中央処理装置６に取込む。

積分開始前にはスイツチ５０A₁〜５０A_oおよ
び５０B₁〜５０B_oは開いて（OFF）おり、コン
デンサ３″A₁〜３″A_o，３″B₁〜３″B_oの端子間電
圧は「０」である。したがつてバツフア５１A₁
〜５１A_o及び５１B₁〜５１B_oへの入力電位はV_c
であり、バツフア５１A₁〜５１A_o，５１B₁〜５
１B_oの出力はこれに対応した所定の電位Ｖ（第７
図Ｂ）となつている。

ゲート５３A₁〜５３A_o，５３B₁〜５３B_oは開
いて（ON）おり、この電位がコンデンサ５５A₁
〜５５A_o，５５B₁〜５５B_o印加され、これらの
コンデンサは電位Ｖまで充電されている。ゲート
５４A₁〜５４A_o，５４B₁〜５４B_oは一方が開い
ており、他方は閉じているが、ここでは５４A₁
〜５４A_oが開いており（ON）、５４B₁〜５４B_o
が閉じて（OFF）しているものとする。

この状態ではコンデンサ５５A₁〜５５A_o，５
５B₁〜５５B_o の端子電圧Ｖがバツフア５２A₁〜５２A_o，５２
B₁〜５２B_oに入力され、これに対応した電位
V′（第７図Ｄ）が出力されている。

積分をするには、まず中央処理装置６からの指
令によりスイツチ５０A₁〜５０A_o，５０B₁〜５
０B_oを閉じる（ON）。すると、コンデンサ３″A₁
〜３″A_o，３″B₁〜３″B_oにV_cが印加され、これ
らコンデンサはV_cまで充電される。また、これ
に伴いバツフア５１A₁〜５１A_o，５１B₁〜５１
B_oへの入力電位が「０」となるから、これに応
じてこれらのバツフアの出口も「０」又はこれに
近い小さな値となり、コンデンサ５５A₁〜５５
A_o，５５B₁〜５５B_oもゲート５３A₁〜５３A_o，
５３B₁〜５３B_oおよびバツフア５１A₁〜５１
A_o，５１B₁〜５１B_oを介して放電する。これに
よりバツフア５２A₁〜５２A_o，５２B₁〜５２B_o
への入力が下がるから、その出力も「０」又はこ
れに近い小さな値となる。

所定時間経過後（コンデンサ３″A₁〜３″A_o，
３″B₁〜３″B_oが充分に充電された後）、中央処理
装置６からの指令によりスイツチ５０A₁〜５０
A_o，５０B₁〜５０B_oを開く（OFF）。すると、
コンデンサ３″A₁〜３″A_o，３″B₁〜３″B_oに蓄え
られた電荷は受光素子３′A₁〜３′A_o，３′B₁〜
３′B_oに入射している光に応じた強さの光電流と
して、各々の受光素子を通じて放電され、それに
ついてバツフア５１A₁〜５１A_o，５１B₁〜５１
B_oへの入力電位が上昇し、その出力も徐々に大
きくなる（第７図Ｂ）。これに応じて、コンデン
サ５５A₁〜５５A_o，５５B₁〜５５B_oは、バツフ
ア５１A₁〜５１A_o，５１B₁〜５１B_oおよびゲー
ト５３A₁〜５３A_o，５３B₁〜５３B_oを介して充
電されるから、バツフア５２A₁〜５２A_o，５２
B₁〜５２B_oの入力電位および出力電位も徐々に
大きくなつてくる。

このバツフア５２A₁〜５２A_oまたは５２B₁〜
５２B_oの出力電位がゲート５４A₁〜５４A_oまた
は５４B₁〜５４B_oを通じてコンパレータ回路３
９₁〜３９_oの一方の入力端子に供給される。

一方、本例では先ず受光素子部３A₁〜３A_o，
３B₁〜３B_oにおける出力のばらつきの補正値を
検出するために、積分開始と同時にカウンタ４１
から、Ｄ／Ａ変換器４０でアナログ変換されるア
ナログ値で、発光体４の発光照度に対応する値ま
たはこれに近い一定値のデジタル信号、例えば
「0111」をＤ／Ａ変換器４０に送出し、このデジ
タル信号に対応する一定値のアナログ参照信号を
Ｄ／Ａ変換器４０からコンパレータ回路３９₁〜
３９_oの他方の入力端子に並列に供給する。コン
パレータ回路３９₁〜３９_oはこの一定値のアナロ
グ参照信号と上記サンプルホールド回路３８A₁
〜３８A_oからのアナログ情報とを並列的に比較
し、その少く共１つの出力が反転したこと、すな
わちサンプルホールド回路３８A₁〜３８A_oを経
て供給される受光素子列３Ａからの多数のアナロ
グ情報の少く共１つがＤ／Ａ変換器４０から供給
されている上記一定の値のアナログ参照信号を越
えたことをOR回路４４で検出し、これによりフ
リツプフロツプ４５を動作させてサンプルホール
ド信号ラインａを経てサンプルホールド回路３８
A₁〜３８A_oおよび３８B₁〜３８B_oのそれぞれの
ゲート５３A₁〜５３A_oおよび５３B₁〜５３B_oを
閉じ（第７図Ｃ参照）、受光素子列３Ａおよび３
Ｂの全ての出力アナログ情報をそれぞれ対応する
サンプルホールド回路のコンデンサ５５A₁〜５
５A_oおよび５５B₁〜５５B_oに同時にサンプルホ
ールドする（第７図Ｄ参照）。

第８図に示す実線Ａはこのときサンプルホール
ドされた一方の受光素子列３Ａの各受光素子部に
おける補正値レベルを示すもので、縦軸にサンプ
ルホールドレベル（電位）を横軸に各受光素子部
を表わしている。また、直線Ｂは理想的な状態を
表わすもので、受光素子列３Ａの各受光素子の特
性にばらつきが全くなければ、全ての出力は直線
Ｂのように等しい値となる。

なお、他方の受光素子列３Ｂについても実線Ａ
のようなばらつきをもつた出力がサンプルホール
ドされる。

次に、中央処理装置６はカウンタ４１を制御し
て、カウンタ４１から所定の範囲で、例えば
「0000」〜「1111」の範囲で大きい方から小さい
方に順次その値が変化するデジタル信号をＤ／Ａ
変換器４０に供給する。Ｄ／Ａ変換器４０はこの
デジタル信号を逐次アナログ信号に変換してコン
パレータ回路３９₁〜３９_oの各々の一方の入力端
子に供給する。なお、このアナログ信号は、カウ
ンタ４１から出るデジタル信号が大きい方から小
さい方に逐次変化するのに応じてしだいに減小す
る。コンパレータ回路３９₁〜３９_oの各々の他方
の入力端子には、ここではサンプルホールド回路
３８A₁〜３８A_oにホールドされた受光素子列３
Ａの受光素子部３A₁〜３A_oの各々の出力アナロ
グ情報が供給されている。コンパレータ回路３９
_１〜３９_oの各々は、両入力の大小関係が反転した
時点、すなわちサンプルホールドしたアナログ情
報がＤ／Ａ変換器４０からのアナログ信号を越え
た時点で発する反転信号により、対応するデジタ
ルメモリ４２₁〜４２_oの各々を制御して、その時
カウンタ４１が出力しているデジタル信号を当該
デジタルメモリに書込む。コンパレータ回路３９
_１〜３９_oの全ての出力が反転すると、すなわち全
てのデジタルメモリ４２₁〜４２_oにサンプルホー
ルド回路３８A₁〜３８A_oにサンプルホールドさ
れた受光素子列３Ａの出力のばらつきにそれぞれ
対応するデジタル信号（補正値）が書込まれて
Ａ／Ｄ変換が終了すると、その時点でAND回路
４３が動作するから、このAND回路４３の出力
に基いて中央処理装置６によりカウンタ４１を制
御し、カウンタ４１からのデジタル信号の送出を
ストツプする。すなわち、「0100」を送出した時
点で、受光素子部３A₁〜３A_oのアナログ情報の
Ａ／Ｄ変換が終了したとすれば、「0011」から
「0000」までのデジタル信号は送出しない。この
ようにすれば、送出されるデジタル信号は
「1111」から「0100」まであるから、Ａ／Ｄ変換
の所定時間を最小限に短縮することができる。

その後、中央処理装置６はアドレスバス４６を
経てアドレスデコーダ４７を制御してデジタルメ
モリ４２₁〜４２_oに書込まれた補正値を取込み、
中央処理装置６内の所定のメモリに記憶する。

次に中央処理装置６により選択信号ラインｂお
よびｃを経てゲート５４A₁〜５４A_oを閉じると
同時にゲート５４B₁〜５４B_oを開放してサンプ
ルホールド回路３８B₁〜３８B_o、すなわち受光
素子列３Ｂを選択し、これらサンプルホールド回
路３８B₁〜３８B_oの各々にサンプルホールドさ
れている受光素子列３Ｂの受光素子部３B₁〜３
B_oの出力アナログ情報を上記と同様の操作で
Ａ／Ｄ変換してこれらを中央処理装置６内の所定
のメモリに記憶する。

以上で受光素子列３Ａおよび３Ｂ上に一様な光
を照射したときの全ての受光素子部（周辺回路も
含めた）の出力アナログ情報のＡ／Ｄ変換が終了
し、各素子部の補正値が得られる。

次にモータ２９を駆動してシヤツタ３０を測距
光路から退去させると共に発光体４を消去して被
写体像を積分して合焦検出用の信号を得るが、こ
のときはカウンタ４１から、Ｄ／Ａ変換器４０で
アナログ変換されるアナログ値の最も大きい値ま
たはこれに近い値に対応する一定値のデジタル信
号、例えば「1111」をＤ／Ａ変換器４０に送出
し、このデジタル信号に対応する一定値のアナロ
グ参照信号をＤ／Ａ変換器４０からコンパレータ
回路３９₁〜３９_oの他方の入力端子に並列に供給
する。このようにして、例えば受光素子列３Ａが
選択されているとすれば、サンプルホールド回路
３８A₁〜３８A_oからの出力アナログ画像情報の
少く共１つの出力が上記一定値のアナログ参照信
号を越えたとき、そのコンパレータ回路の反転信
号をOR回路４４で検出してフリツプフロツプ４
５を介して受光素子列３Ａ，３Ｂの全ての受光素
子部の出力アナログ画像情報を対応するサンプル
ホールド回路に同時にホールドする。その後、サ
ンプルホールド回路３８A₁〜３８A_oおよび３８
B₁〜３８B_oにそれぞれサンプルホールドした受
光素子列３Ａおよび３Ｂのアナログ画像情報を上
述した補正値を求める際のＡ／Ｄ変換操作と同様
の操作によりＡ／Ｄ変換してそれらを受光素子列
毎に中央処理装置６内の所定のメモリに取り込
む。なお、この場合のＡ／Ｄ変換は、本例ではカ
ウンタ４１から「1111」〜「0000」の範囲で大き
い方から小さい方に逐次その値が変化するデジタ
ル信号を送出して行なう。このようにすれば、
AND回路４３が動作したときのデジタル信号が
「0111」であれば、「0110」から「0000」までのデ
ジタル信号を送出する必要がないから、最小限の
時間で受光素子列３Ａおよび３Ｂのアナログ情報
をＡ／Ｄ変換することができる。

ここで、第８図に実線Ａで示した発光体４によ
り一様な光を照射したときにサンプルホールド回
路３８A₁〜３８A_oにホールドされる受光素子列
３Ａのそれぞれの出力アナログ照度情報（補正
値）は、第８図に実線Ｃで示すような各々のダー
クレベルに発光体４の光強度に応じた電位が加算
されたものであり、実線Ａと実線Ｃとは相似す
る。これは受光素子列３Ｂについても同様であ
る。実線Ａで示す各素子部のレベルをbn、その
最小値をbn minとし、被写体像を積分したとき
の各素子部のダークレベルが重畳されたレベルを
ynとすれば、ダークレベルを補正した被写体像
の光強度に応じた真のアナログ画像情報yonは、
yon−yn−（bn−bu min）となる。したがつて、
各素子部におけるyonを演算により求め、これら
の信号を合焦検出に用いれば、被写体像の光強度
分布に従つた高精度の合焦検出を迅速に行なうこ
とができる。なお、隣接する受光素子部の出力の
差の絶対値の和を合焦検出を行なうための評価関
数として用いる場合には、第ｍ番目の受光素子部
の真のアナログ画像情報yomはyom＝ym−（bm
−bn min），第ｍ＋１番目の受光素子部の真のア
ナログ画像情報yom＋１はyom＋１＝ym＋１−
（bm＋１−bn min）となり、これらの差の絶対
値Ｄは、 Ｄ＝｜ym−（bm−bn min）−｛ym＋１−（bm
＋１−bn min）｝｜＝｜ym−bm−（ym＋１−bm
＋１）｜ で表わされ、bn minは消去される。したがつて、
この場合には各素子部の合焦検出用の画像情報か
ら実線Ａで示すダークレベルに相当する電位（補
正値）を差引く簡単な演算により、特性のばらつ
きを補正した被写体像の光強度分布に従つた信号
を得ることができるから、簡単な回路構成で高精
度の合焦検出をより迅速に行なうことができる。

本実施例では、上述した各素子についての合焦
検出用信号からの補正値の差引を、それぞれの信
号をＡ／Ｄ変換して取込んだ中央処理装置６にお
いて行ない、この値すなわち被写体像の光強度分
布に応じたデジタル値をともに、受光素子列３Ａ
および３Ｂごとに、予じめ定められた評価関数に
基いて演算処理してそれぞれ評価値を求め、両者
の評価値の比較結果に基いて焦点合致状態を表わ
す焦点検出信号を得、これを表示装置１２に供給
して撮影者に焦点合致状態を知らせたり、第２図
において説明したように光学系駆動回路１３およ
び光学系駆動装置１４を経て撮影光学系２の焦点
調節を行なう。

こゝで評価関数Ｓとして以下に示すものを用い
る場合の中央処理装置６の回路構成およびその演
算動作について第９図を参照して説明する。

Ｓ＝_N 〓^k=1 D_k たゞし、D_kは補正された受光素子出力のうち
互いに隣接する受光素子の出力の差の絶対値で大
きい順から数えてｋ番目の値のもの、Ｎは受光素
子の数（例えば受光素子列３Ａの）をｎとする
と、１≦Ｎ≦ｎ−２で示される正の整数とする。
中央処理装置６は、受光素子列３Ａおよび３Ｂの
それぞれｎ個の受光素子のダークレベルに対応す
るデジタル信号x_1,1〜x_o,1を取込む補正値メモリ
６１A₁〜６１A_oおよび６１B₁〜６１B_oと、受光
素子列３Ａおよび３Ｂごとに被写体像を積分して
得た合焦検出用のｎ個のデジタル信号x_1,2〜x_o,2
をそれぞれ取込むメモリ６２A₁〜６２A_oおよび
６２B₁〜６２B_oと、各素子について合焦検出用
のデジタル信号x_n,2（１≦ｍ≦ｎ）karaダークレ
ベルに対応するデジタル信号x_n,1を差引く演算x_n
−x_n、₂，−x_n,1を行なう補正計算ユニツト６３
と、その結果x_nを取込むｘメモリ６４と、各受
光素子毎に隣接する受光素子のデジタル信号の差
の絶対値D_k′＝｜x₊₁−x｜（ただし１≦≦
ｎ−１）を演算するD_k′計算ユニツト６５と、そ
の結果を取込むD_k′メモリ６６と、順次のD_k′の
値を比較する比較ユニツト６７と、これらD_k′の
値を大きい順にＮまで記憶する絶対値メモリ６８
_１〜６８_Nと、各受光素子列ごとにD₁′〜D_N′の値
を加算して評価値S_AおよびS_Bを算出する加算ユ
ニツト６９と、これら評価値を比較して合焦状態
を検出する合焦検出ユニツト７０と、上記補正計
算ユニツト６３、D_k′計算ユニツト６５、比較ユ
ニツト６７、加算ユニツト６９および合焦検出ユ
ニツト７０を選択するユニツト選択器７１と、こ
れらユニツト６３，６５，６７，６９および７０
にオペレーシヨン命令を与える命令デコーダ７２
と、上記各種のメモリ６１A₁〜６１A_o，６１B₁
〜６１B_o、６２A₁〜６２A_o，６２B₁〜６２B_o，
６４，６６および６８₁〜６８_Nを制御すると共に
上記ユニツト選択器７１および命令デコーダ７２
を制御するコントローラ７３とを具える。なお、
Ａ／Ｄ変換回路５を構成するデジタルメモリ４２
_１〜４２_oはアドレスバス４６およびアドレスデコ
ーダ４７を介してコントローラ７３により制御さ
れる。また、評価値Ｓを算出するためのD_k′はデ
ジタル処理によるものであるが、この値は上記評
価関数のD_kに対応する。

補正値メモリ６１A₁〜６１A_o，６１B₁〜６１
B_oおよびメモリ６２A₁〜６２A_o，６２B₁〜６２
B_oへのデータの取込みについては上述した説明
から明瞭であるから、これらのメモリに所要のデ
ータが取込まれた後の合焦検出動作を以下順に説
明する。なお、各種のユニツト６３，６５，６
７，６９および７０はユニツト選択器７１および
命令デコーダ７２の両方からの信号を受けて作動
し、これによりデータバス上にあるデータを取込
んで所定の演算を行なつたり、その結果をデータ
バス上に送出する。

メモリ６２A₁から合焦検出用信号x_2,1をデー
タバスに送出し、補正計算ユニツト６３に取込
む。

補正値メモリ６１A₁からダークレベルに対
応するデジタル信号x_1,1をデータバスに送出
し、補正計算ユニツト６３に取込む。

補正計算ユニツト６３においてx₁＝x_1,2−
x_1,1を計算し、その結果をデータバスに送出す
る。

x₁をｘメモリ６４に格納する。

上記〜を繰返してデータバスにx₂（＝
x_2,2−x_2,1）を送出する。たゞし、x₂を得るた
めのx_2,2およびx_2,1の信号は補正値メモリ６１
A₂およびメモリ６２A₂からそれぞれ取出す。

D_k′計算ユニツト６５を作動させてx₂を取込
む。

ｘメモリ６４をアクセスし、データバスにx₁
を送出する。

D_k′計算ユニツト６５にx₁を取込む。

ｘメモリ６４にx₂を格納する。

D_k′計算ユニツト６７を作動させてD₁′＝｜
x₂−x₁｜を計算し、その結果をデータバスに送
出する。

D₁′をD_k′メモリ６６に格納する。

D₁′を絶対値メモリ６８₁に格納する。

上記〜を繰返してD₂′＝｜x₃−x₂｜を
D_k′メモリ６６に格納する。この時点では絶対
値メモリ６８₁にはD₁′が記憶されている。

比較ユニツト６７にD_k′メモリ６６からD₂′
を転送すると共に絶対値メモリ６８₁からD₁′
を転送してそれらの大小を比較し、その結果を
コントローラ７３に送出する。

D₂′＞D₁′のときは、コントローラ７３の制
御により絶対値メモリ８₁に記憶されている
D₁′を絶対値メモリ６８₂に転送（シフト）し、
D_k′メモリ６６に記憶されているD₂′を絶対値
メモリ６８₁に転送する。また、D₂′≦D₁′のき
はD_k′メモリ６６に記憶されているD₂′を絶対
値メモリ６８₂に格納する。

上記〜を繰返してD₃′＝｜x₄−x₃｜を
D_k′メモリ６６に格納する。

D₃′と絶対値メモリ６８₁および６８₂に格納
されているD₁′，D₂′とを比較しD₃′＞〔絶対値
メモリ６８₁の内容〕のときはコントローラ７
３を介して絶対値メモリ６８₁，６８₂の内容を
６８₂，６８₃に転送し、絶対値メモリ６８₁に
D₃′を格納する。D₃′≦〔絶対値メモリ６８₁の
内容〕のときは、次にD₃′と〔絶対値メモリ６
８₂の内容〕とを比較し、D₃′＞〔絶対値メモリ
６８₂の内容〕なら絶対値メモリ６８₂の内容を
６８₃にシフトしてD₃′を６８₂に格納し、D₃′
≦〔絶対値メモリ６８₂の内容〕のときはD₃′を
絶対値メモリ６８₃に格納する。

以上の動作を繰返すことにより補正値メモリ
６１A₁〜６１A_oおよびメモリ６２A₁〜６２A_o
の取込まれた全てのデータを処理する。このデ
ータ処理が終了した時点ではD_k′（１≦ｋ≦ｎ
−２）は絶対値メモリ６８₁〜６８_Nにその値が
大きい方から順に格納される。

次に、絶対値メモリ６８₁〜６８_Nまでのデー
タを加算ユニツト６９に転送して受光素子列３
Ａにおける評価値S_A−_N 〓^k=1 D_k′を演算し、その結
果を合焦検出ユニツト７０に転送する。

補正値メモリ６１B₁〜６１B_oおよびメモリ
６２B₁〜６２B_oに取込まれているデータを、
上記と同様の動作により処理して受光素子列３
Ｂにおける評価値S_Bを計算し、その結果を合焦
検出ユニツト７０に転送する。

〓〓 合焦検出ユニツト７０でS_A−S_Bを計算し、
その結果をコントローラ７３に供給する。本実
施例ではS_A−S_B＝ｏで合焦状態となり、S_A−
S_B＞ｏのときは前ピン、またS_A−S_B＜ｏのと
きは後ピン状態となる。

上述した例では評価演算の方法として互いに隣
り合う受光素子からの信号を補正してその差の絶
対値を出しそれらのうちの大きい方からＮ番目で
の値を選択する場合に、絶対値メモリ６８₁〜６
８_Nに格納された値の大きい方から順にD_k′メモ
リ６６に格納された値と比較したが、これとは逆
に小さい方から順に比較するようにしても良い。
この場合には、上記の演算方法のを以下に説明
するように変更すればよい。

D₃′と絶対値メモリ６８₁および６８₂に格納
されているD₁′とD₂′とを比較しD₃′＞〔絶対値
メモリ６８₂の内容〕の時には、更にD₃′と絶
対値メモリ６８₁の内容を比較しD₃′＞〔絶対値
メモリ６８₁の内容〕の時には、コントローラ
７３を介して絶対値メモリ６８₁，６８₂の内容
を６８₂，６８₃に転送し、絶対値メモリ６８₁
にD₃′を格納する。D₃′≦〔絶対値メモリ６８₁
の内容〕の時にはコントローラ７３を介して絶
対値メモリ６８₂の内容を６８₃に転送し、絶対
値メモリ６８₂にD₃′を格納する。D₃′≦〔絶対
値メモリ６８₂の内容〕の時はD₃′を絶対値メ
モリ６８₃に格納する。

このようにして、絶対値メモリ６８₁〜６８_Nに
値が入つている時にはD_k′の値と絶対値メモリ６
８_Nの値とを比較し、D_k′＞〔絶対値メモリ６８_N
の内容〕の時にはD_k′は小さい値から大きい値が
順に格納されている絶対値メモリ６８_N-1，……，
６８₁の絶対値と比較し、D_k′≦〔絶対値メモリ６
８₊₁の内容、ここで０≦≦Ｎ−２〕になつた
時にコントローラ７３を介して絶対値メモリ６８
_１〜６８_N-1の内容を絶対値メモリ６８_-1〜６８
_Ｎに転送し絶対値メモリ６８_lにD_k′の値を格納す
る。このように小さい方から順に比較する演算方
法によればＮに比較して受光素子数が多い場合に
早く演算できるメリツトがある。

上述した実施例によればOR回路４４が動作し
た信号に基いて受光素子列３Ａ，３Ｂの全ての受
光素子の出力アナログ情報を同時にサンプルホー
ルドするものであるから、被写体１と受光素子列
３Ａ，３Ｂとが相対的に移動する場合でも高精度
の合焦検出を行なうことができる。また、AND
回路４３が動作した信号により所定範囲内で逐次
変化するデジタル信号の送出を止めるようにした
から、サンプルホールドしたアナログ情報を短時
間でＡ／Ｄ変換することができる。

なお、本発明は上述した例にのみ限定されるも
のではなく幾多の変更または変形が可能である。
例えばカウンタ４１から送出するデジタル信号は
４ビツトに限らず、これよりも多くしてＡ／Ｄ変
換の精度を更に高めることもできる。また、この
カウンタ４１はハード的に中央処理装置６に組込
んで、中央処理装置６から所要のデジタル信号を
Ｄ／Ａ変換器４０に送出するように構成すること
もできる。更に、上述した例では２個の受光素子
列３Ａ，３Ｂを撮影光学系２の予定焦平面と光学
的に等価位置の前後に配置したが、予定焦平面若
しくはこれと光学的に等価な同一平面上に１個ま
たは多数の受光素子を粗および密に配列して成る
２個以上の受光素子列を配置して合焦点を検出す
るよう構成することもできる。また、受光素子列
３Ａ，３Ｂの全ての受光素子からの出力アナログ
情報をサンプルホールドするタイミングは、フリ
ツプフロツプ４５を用いることなくOR回路４４
が作動した時点で中央処理装置６によつて行なう
こともできるし、OR回路４４及びフリツプフロ
ツプ４５を用いることなく、中央処理装置６によ
つて制御される別のカウンタを設け、このカウン
タにより所定時間経過後にサンプルホールドする
よう構成することもできる。こらは補正値のサン
プルホールドについても同様である。更に、上述
した例ではAND回路４３が作動した時点でカウ
ンタ４１からのデジタル信号の送出を止めるよう
にしたが、このAND回路４３を省いて所定の範
囲にあるデジタル信号を全て送出するようにして
もよい。このようにすれば回路構成を更に簡単に
することができる。また、全ての受光素子からの
合焦検出用の出力アナログ画像情報に対するデジ
タル信号の範囲を決定し、この決定された範囲内
で所定の範囲内で逐次変化するデジタル信号を送
出して上記アナログ画像情報をＡ／Ｄ変換するよ
うに構成することもできる。すなわち、例えば
OR回路４４によりサンプルホールドするタイミ
ングをとる際に送出する一定値のデジタル信号を
アナログ画像情報の最大値に対応させて全てのア
ナログ画像情報を同時にサンプルホールドし、そ
の後Ｄ／Ａ変換器４０にAND回路４３が作動す
るまで異なる所定の数値のデジタル信号を順次に
送出してサンプルホールドした全てのアナログ画
像情報の最小値に対応するデジタル信号を決定
し、次にこの決定された範囲内で所定の範囲にあ
る数値、上述した実施例では「1111」〜「0000」
を大きい方から小さい方に、あるいは小さい方か
ら大きい方に逐次変化させてＤ／Ａ変換器４０に
送出してサンプルホールドした全てのアナログ画
像情報をＡ／Ｄ変換する。このように、サンプル
ホールドした全てのアナログ画像情報の最大値お
よび最小値のＡ／Ｄ変換の範囲を決定し、この決
定された範囲内で所定の範囲内のデジタル信号を
逐次変化させてＡ／Ｄ変換すれば、コントラスト
が弱い被写体でも更に高精度で合焦点を検出する
ことができる。更に、AND回路４３やOR回路４
４は比較器や加算回路を用いる種々の論理回路で
構成することができる。また、AND回路４３を
所定番目までのコンパレータの出力は反転したこ
とを検出するものとして構成することもできる。
このようにすれば、例えば所定番目Ｎまでのアナ
ログ画像情報のＡ／Ｄ変換器を評価関数Ｓ＝_N 〓^k=1
a_k（ただし、a_kは最大値からｋ番目のアナログ画
像情報のＡ／Ｄ変換値）に代入して演算する場合
には、a_Nよりも小さなアナログ画像情報はＡ／Ｄ
変換の範囲から外れてＡ／Ｄ変換されず、必要な
アナログ画像情報のみＡ／Ｄ変換されるから、処
理速度が更に速くなる。更にまた、図示しない
が、各受光装置を構成する多数に受光素子に配列
は、格子状に縦横に並べたり、同心円状に並べて
配置する等種々の配列で配置することができる。
更に、上述した例では２つの受光素子列の全ての
アナログ画像情報を同時にサンプルホールドし、
この同一瞬時の画像情報を受光素子列ごとに並列
的にＡ／Ｄ変換するようにしたが、２つの受光素
子列３Ａ，３Ｂを中央処理装置６からの信号によ
り順次に選択し、選択された受光素子列のｎ個の
出力アナログ情報を受光素子列３Ａ，３Ｂに対し
て共通に用いるサンプルホールド回路にホールド
してＡ／Ｄ変換し、その後他方の受光素子列のｎ
個の出力アナログ情報をサンプルホールド回路に
ホールドしてＡ／Ｄ変換して合焦状態を検出する
こともできる。この場合の各受光素子列における
補正値のサンプルホールドおよび合焦検出用の画
像情報のサンプルホールドは、順次に行なつても
よいし、各受光素子列の補正値を順次にサンプル
ホールドしてＡ／Ｄ変換した後、各受光素子列の
合焦検出用の画像情報を順次にサンプルホールド
してＡ／Ｄ変換してもよい。また、第９図では各
受光素子列のｎ個の合焦検出用のデジタル信号を
ｎ個のメモリ６２A₁〜６２A_o，６２B₁〜６２B_o
にそれぞれ格納するようにしたが、これらのメモ
リを省略してデジタルメモリ４２₁〜４２_oに書込
まれたデータも取込と同期して対応する受光素子
の補正値を補正値メモリ６１A₁〜６１A_oまたは
６１B₁〜６１B_oからデータバスに送出し、これ
らの値を補正計算ユニツト６３に取込むようにし
て焦点検出を行なうこともできる。更に、補正値
についての評価値と合焦検出用の画像情報につい
ての評価値とをそれぞれ独立に求め、両者の差か
ら特性のばらつきを補正した真の評価値を求めて
焦点検出を行なうこともできる。更にまた、補正
値（ダークレベル）の測定は必ずしも合焦検出動
作のたび毎に行なう必要はなく、補正値メモリ６
１A₁〜６１A_oおよび６１B₁〜６１B_oに格納した
補正値を任意または所定回数の合焦検出に繰返し
て使用し、任意または所定回数の合焦検出ごとに
その補正値を測定して更新するようにしてもよ
い。また受光素子に対応したサンプルホールド回
路等があれば、一回でもよい。

更にまた、上述した例では発光体４を取付けた
シヤツタ３０をモータ２９の駆動により測距光路
中に選択的に介在させるようにしたが、第１０図
および第１１図に示す機構により測距光路中に選
択的に介在させるよう構成することもできる。

第１０図ＡおよびＢにおいては、発光体４を取
付けたシヤツタ３０をその一辺をカメラベース７
５に設けた一対の固定部材７６Ａ，７６Ｂに回動
自在に枢着すると共に、該辺に紐７７の一端を連
結し、この紐７７の他端を固定部材７６Ａ，７６
間に架設した紐かかえ７８を介して摺動板７９に
連結する。第１０図ＡおよびＢはシヤツタ３０が
測距光路中に位置し、発光体４が発光して各受光
素子の補正値を測定する状態を示し、シヤツタ３
０は枢軸３０Ａと固定部材７６Ｂとの間に設けた
はさみばね８０の作用により、図において時計方
向に回動附勢され、枢軸３０Ａと対向する辺がカ
メラベース７５に設けたストツパー８１に当接し
ている。また、摺動板７９は固定部材８２との間
に配設したばね８３の力により図において右方向
に附勢され、規制板８４に当接している。摺動板
７９を、例えばフイルムの巻上動作と連動してば
ね８３の力に抗し、ノブ７９Ａを介して図におい
て矢印方向に移動させると、シヤツタ３０は紐７
７を介して固定部材７６Ａに設けたシヤツタスト
ツパー８５に当接するまで、はさみばね８０の力
に抗して図において反時計方向にほぼ90°回動し、
シヤツタ３０は測距光路から退去する。この状態
は被写体像の合焦検出信号を得る状態であり、例
えばシヤツターレリーズ動作と連動して合焦検出
を開始するよう構成することができる。また、シ
ヤツタ３０をテン測距光路中に位置させて発光体
４を発光させる動作も、シヤツターレリーズ動作
と連動して行なうよう構成することができる。

第１０図においては、シヤツタ３０を回動自在
に保持して測距光路中に選択的に介在させるよう
にしたが、シヤツタ３０をスライド自在に保持し
て測距光路中に選択的に介在させるように構成す
ることもできる。

第１１図は、上述したようにシヤツタ３０をス
ライド自在に保持して測距光路中の選択的に介在
させる場合の移動機構の一例の構成を示すもので
あり、第１１図Ａは平面図を、第１１図Ｂは第１
１図Ａの−線断面図をそれぞれ示す。発光体
４を保持するシヤツタ３０の一辺には永久磁石９
１を設ける。シヤツタ３０の対向する辺にはそれ
ぞれ切溝９２Ａ，９２Ｂをスライド方向に延在し
て形成し、これら切溝をカメラベース７５に支柱
９３Ａおよび９３Ｂを介してスライド方向に延在
して設けた一対のガイド棒９４Ａ，９４Ｂにそれ
ぞれ係合させて、シヤツタ３０をスライド自在に
保持する。第１１図はシヤツタ３０が測距光路中
から退去し、受光素子列３Ａ，３Ｂ上に被写体像
が投影されている合焦検出状態を示し、シヤツタ
３０はこれとカメラベース７５に設けたピン９５
との間に架設した引張ばね９６により、第１１図
Ａにおいて右方向に附勢され、シヤツタ３０がカ
メラベース７５に設けたストツパー９７Ａ，９７
Ｂに当接している。一方、第１１図Ａにおいて、
測距光路よりも左側には、永久磁石９１と対向す
るように、コイル９８を巻回した磁性体９９をカ
メラベース７５上に設け、各受光素子の補正値を
測定する際にはコイル９８に電流を供給して永久
磁石９１したがつてシヤツタ３０を引張ばね９６
の力に抗して左方向にスライドさせてシヤツタ３
０を測距光路中に介在させて発光体４を発光させ
る。

以上詳細に説明したように本発明においては、
受光素子列の前方から該受光素子列を一様照明し
て各々の受光素子の出力をそれぞれ記憶し、その
記憶値に基いて物体像の光強度分布に対応する
各々の受光素子の画像情報を補正するものである
から、回路構成を簡単かつ安価にできると共に、
個々の受光素子の特性のばらつきを有効に補正で
きる。したがつて、物体像のコントライトが低い
場合でも、合焦の誤検出を生じることなく、常に
高精度の合焦検出を迅速にでき、本発明の目的を
有効に達成することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来行なわれている受光素子の特性の
ばらつきの補正方法を説明するための線図、第２
図は本発明に係るカメラの合焦検出方法を行う合
焦検出装置の一例の構成を示すブロツク線図、第
３図は第２図に示す装置を一眼レフカメラに適用
した場合の受光素子列の配置の一例を示す線図、
第４図は第２図に示す受光素子列、Ａ／Ｄ変換回
路および中央処理装置の部分の一列の詳細な回路
構成を示すブロツク線図、第５図は第４図に示す
受光素子列、サンプルホールド回路の部分の一例
の詳細な構成を示す回路図、第６図は第５図に示
す１つの受光素子部に対応する周辺回路に具体的
構成を示す回路図、第７図Ａ〜Ｄは第５図の動作
を説明するための波形図、第８図は第４図に示す
実施例においてサンプルホールドされる各受光素
子の出力アナログ情報とダークレベルとの関係を
示す線図、第９図は第２図に示す中央処理装置の
更に詳細な回路構成を示すブロツク図、第１０図
Ａ，Ｂおよび第１１図Ａ，Ｂは本発明において発
光体を測距光路中に選択的に介在させる他の２つ
の例の構成をそれぞれ示す線図である。 １……被写体、２……撮影光学系、３，３Ａ，
３Ｂ……受光素子列、３A₁〜３A_o，３B₁〜３B_o
……受光素子部、４……発光体、５……Ａ／Ｄ変
換回路、６……中央処理装置、７……補正値読取
ユニツト、８……画像情報読取ユニツト、９……
補正計算ユニツト、１０……合焦検出ユニツト、
１１……コントローラ、１２……表示装置、１３
……光学系駆動回路、１４……光学系駆動装置、
２１……フイルム、２２……クイツクリターンミ
ラー、２３，２７……ハーフミラー、２４……ピ
ント板、２５……ペンタプリズム、２６，２８…
…反射ミラー、２９……モータ、３０……シヤツ
タ、３１……駆動回路、３８A₁〜３８A_o，３８
B₁〜３８B_o……サンプルホールド回路、３９₁〜
３９_o……コンパレータ回路、４０……Ｄ／Ａ変
換器、４１……カウンタ、４２₁〜４２_o……デジ
タルメモリ、４３……AND回路、４４……OR回
路、４５……フリツプフロツプ、４６……アドレ
スバス、４７……アドレスデコーダ、５０A₁〜
５０A_o，５０B₁〜５０B_o……スイツチ、５１A₁
〜５１A_o，５１B₁〜５１B_o，５２A₁〜５２A_o，
５２B₁〜５２B_o……バツフア、５３A₁〜５３
A_o，５３B₁〜５３B_o，５４A₁〜５４A_o、５４
B₁〜５４B_o……ゲート、５５A₁〜５５A_o，５５
B₁〜５５B_o……コンデンサ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 光学系により形成される物体の像の少なく共
   一部分を受光素子列上に投影して各々受光素子か
   ら物体像の光強度分布に対応する画像情報を得、
   これら画像情報を定められた評価関数に基づいて
   演算して物体像の合焦状態を検出するカメラの合
   焦検出方法において、 前記受光素子列の前方から該受光素子列を一様
   照明して各々の受光素子の出力をそれぞれ記憶
   し、その記憶値に基づいて物体の光強度分布に対
   応する各々の受光素子の画像情報を補正すること
   を特徴とするカメラの合焦検出方法。