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JPH0432335B2 - - Google Patents
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JPH0432335B2 - - Google Patents

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JPH0432335B2
JPH0432335B2 JP57031117A JP3111782A JPH0432335B2 JP H0432335 B2 JPH0432335 B2 JP H0432335B2 JP 57031117 A JP57031117 A JP 57031117A JP 3111782 A JP3111782 A JP 3111782A JP H0432335 B2 JPH0432335 B2 JP H0432335B2
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dark current
circuit
light
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/16Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 暗電流補正回路を備えた分光光度計で、この暗
電流補正回路も含めた光検出器の出力信号処理回
路のオフセツトをも補正する方法に関する。暗電
流の補正は光検出器に光を入射させないときの光
検出器出力を記憶しておいて、光検出器に光を入
射させたとの出力から引算することによつて行わ
れるが、2光束分光光度計のように測定中、対照
光側の光検出出力を一定に保つように光検出器の
感度を制御している場合、光検出素子としてホト
マルチプライヤを使用して印加負高電圧を変える
と暗電流の大きさが変動するので、測定中常時暗
電流の補正を行つている必要がある。従つてこの
種の分光光度計ではダークチヨツパを回転させて
光検出器に光が入射しない期間を周期的に作つて
常時暗電流信号をサンプリングするようにしてい
る。本発明は分光光度計に既に備えられている上
述した暗電流補正手段を利用して信号処理回路の
オフセツトをも補正し得るようにしようとするも
のである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method for correcting the offset of an output signal processing circuit of a photodetector including the dark current correction circuit in a spectrophotometer equipped with a dark current correction circuit. Dark current correction is performed by memorizing the photodetector output when no light is incident on the photodetector and subtracting it from the output when light is incident on the photodetector. When the sensitivity of the photodetector is controlled to keep the photodetection output on the reference light side constant during measurement, such as in a luminous flux spectrophotometer, a photomultiplier is used as the photodetection element to apply a negative high voltage. Since the magnitude of the dark current changes when the value is changed, it is necessary to constantly correct the dark current during measurement. Therefore, in this type of spectrophotometer, the dark chopper is rotated to periodically create periods in which no light is incident on the photodetector, so that the dark current signal is constantly sampled. The present invention attempts to make it possible to correct the offset of the signal processing circuit by utilizing the above-mentioned dark current correction means already provided in the spectrophotometer.

上述したように分光光度計の暗電流補正手段は
光検出器から時分割的に暗電流信号と光検出器に
光が入射したときの光検出信号を得られるので、
光検出器の出力をプリアンプ等で適当に増幅した
後、信号選別回路で上記2種の信号を選別し、
夫々の信号をホールド回路でホールドして引算回
路に入力させる構成となつている。このような構
成であるから、光検出器から信号選別回路に至る
までの間に発生するオフセツトは暗電流補正と共
に補正されるが、信号選別回路以後の回路部分で
は暗電流信号と光検出信号とに生ずるオフセツト
量は必ずしも一致せず、引算回路によつて消去さ
れない。従来はこのようなオフセツトは可変抵抗
を設けて手動的に0になるように調整していた。
As mentioned above, the dark current correction means of the spectrophotometer can time-divisionally obtain the dark current signal from the photodetector and the photodetection signal when light is incident on the photodetector.
After suitably amplifying the output of the photodetector using a preamplifier etc., the above two types of signals are selected using a signal selection circuit.
Each signal is held in a hold circuit and input to a subtraction circuit. With this configuration, the offset that occurs between the photodetector and the signal selection circuit is corrected together with the dark current correction, but in the circuit section after the signal selection circuit, the dark current signal and the photodetection signal are The offset amounts that occur in the two do not necessarily match and are not eliminated by the subtraction circuit. Conventionally, such an offset has been manually adjusted to zero by providing a variable resistor.

本発明は上述したようなオフセツトを自動的に
消去し得るようにしようとするもので、上述した
信号選別回路を操作して暗電流信号を処理する回
路部分にも光検出信号を処理する回路部分にも共
に暗電流信号を入力させて、そのときの上述引算
回路出力を記憶しておき、測定中の引算回路出力
換言すれば暗電流補正がなされた測定出力から上
記記憶されたデータを引算するようにした点に特
徴を有する。光検出信号を処理する回路部分にも
暗電流を処理する回路部分にも暗電流信号を入力
させて夫々の回路部分の出力を引算すれば夫々の
回路部分で生じたオフセツトの差と引算回路から
記憶回路に至るまでに生じたオフセツトが合さつ
たオフセツト量の信号が得られ、これが測定装置
全体としてのオフセツト量の信号であるから、こ
れを記憶しておいて測定中の測定出力から引算す
ればオフセツトの補正された正しい測定結果が得
られることになる。本発明によれば既設の暗電流
補正手段を利用しており、別途オフセツト補正の
ための不加部品を要しないと云う利点が得られ
る。以下実施例によつて本発明を説明する。
The present invention attempts to automatically eliminate the above-mentioned offset, and includes a circuit section that processes the photodetection signal as well as a circuit section that operates the signal selection circuit described above to process the dark current signal. A dark current signal is also input to both, and the above-mentioned subtraction circuit output at that time is memorized, and in other words, the above-mentioned stored data is derived from the measurement output after dark current correction. The feature is that it uses subtraction. By inputting the dark current signal to the circuit section that processes the photodetection signal and the circuit section that processes the dark current, and subtracting the output of each circuit section, the difference in offset generated in each circuit section can be subtracted. An offset amount signal is obtained that is the sum of the offsets generated from the circuit to the storage circuit, and this is the offset amount signal for the entire measuring device, so this can be stored and used from the measurement output during measurement. By subtracting, a correct measurement result with offset correction can be obtained. According to the present invention, the existing dark current correction means is used, and there is an advantage that no additional parts for offset correction are required. The present invention will be explained below with reference to Examples.

第1図は本発明の一実施例を示す。イは分光器
より出射した単色光光束である。1はセクターミ
ラーで同光束をR.Sの2光束に分割する。光束R
はミラーm1,m2により反射されてホトマルチプ
ライヤ3に入射する。光束Sはミラーm3,m4,
m5で反射されてホトマルチプライヤ3に入射す
る。この構成によつて光束R.Sは交互にホトマル
チプライヤ3に入射する。2はダークチヨツパで
セクターミラー1と一体的に回転する。第2図は
セクターミラー1及びダークチヨツパ2の正面を
示す。ダークチヨツパ2はセクターミラー1の鏡
面部分から回転方向にはみ出した形でセクターミ
ラー1と一体化されており、ダークチヨツパの部
分では光は吸収されて反射も透過もしない。第3
図Pはホトマルチプライヤ3の出力信号波形でS
は光束Sが入射している間の出力、Rは光束Rが
入射している間の出力でダークチヨツパ2がセク
ターミラーからはみ出した形でセクターミラーと
一体化されているので出力SとRとの間にホトマ
ルチプライヤ3に光の入射しない期間に対応する
部分Dがある。この部分の出力はホトマルチプラ
イヤの暗電流である。ホトマルチプライヤ3の出
力信号はバツフアアンプBAを経てアナログスイ
ツチ部5に送られ信号選別が行われる。アナログ
スイツチ部5は3個のアナログスイツチSS,
SR,SDよりなつており、通常測定のモードにお
いて説明すると、スイツチSSは第3図にSpで示
されるパルスがある間導通せしめられ、光束Sに
対応するホトマルチプライヤ3の出力信号を選別
する。スイツチSRは第3図にRpで示すパルスが
ある間導通せしめられて光束Rに対応するホトマ
ルチプライヤ3の出力信号を選別する。スイツチ
SDは第3図にDpで示すパルスのある間導通せし
められホトマルチプライヤ3の暗電流信号を選別
する。6はサンプルホールド回路部で3個のサン
プルホールド回路6S,6R,6Dを含み、6S
はスイツチSSが導通したときの光束Sに対する
ホトマルチプライヤ3の側光出力Sをホールドす
る。同様にして6Rは光束Rに対する測光出力R
をホールドし、6Dは暗電流信号Dをホールドす
る。Inはサンプルホールド回路6Dの出力側に接
続され暗電流信号を反転させるインバータであ
る。71,72は暗電流引算回路で71はサンプ
ルホールド回路6Sにホールドされている測光出
力Sから暗電流信号Dを引算する。同様にして7
2は測光出力RからDを引算する。引算回路7
1,72は回路そのものは加算回路であるが、サ
ンプルホールド回路6Dの出力側にインバータIn
が接続されて暗電流信号Dの符号が反転されてこ
れにの加算回路に入力されるので結果的にはS及
びRからDを引算することになるのである。引算
回路71,72の出力はA/D変換器AD1,
AD2によつてデイジタル信号に変換されて制御
回路Comに送られる。AD1の出力は光束Sに対
する測光値から暗電流分を引算した即ち暗電流補
正がなされた測光値である。同様にしてAD2の
出力は光束Rに対する暗電流補正がなされた測光
値である。制御回路Comはこれらの測光値から
試料の透過率或は吸光度等を算出し、そのデータ
を記録及び表示の装置に送つて記録或は表示が行
われる。
FIG. 1 shows an embodiment of the invention. A is the monochromatic light flux emitted from the spectrometer. 1 is a sector mirror that divides the same beam into two beams of RS. Luminous flux R
is reflected by mirrors m1 and m2 and enters the photomultiplier 3. The luminous flux S is mirror m3, m4,
It is reflected by m5 and enters the photomultiplier 3. With this configuration, the light beams RS are alternately incident on the photomultiplier 3. 2 is a dark chopper that rotates integrally with the sector mirror 1. FIG. 2 shows the front side of the sector mirror 1 and the dark chopper 2. The dark chopper 2 is integrated with the sector mirror 1 in a manner protruding from the mirror surface portion of the sector mirror 1 in the rotational direction, and light is absorbed in the dark chopper portion and neither reflected nor transmitted. Third
Figure P shows the output signal waveform of photomultiplier 3.
is the output while the luminous flux S is incident, and R is the output while the luminous flux R is incident.Since the dark chopper 2 is integrated with the sector mirror in a way that it protrudes from the sector mirror, the outputs S and R are In between, there is a portion D corresponding to a period in which no light is incident on the photomultiplier 3. The output of this part is the dark current of the photomultiplier. The output signal of the photomultiplier 3 is sent to the analog switch section 5 via the buffer amplifier BA, where signal selection is performed. The analog switch section 5 includes three analog switches SS,
It consists of SR and SD, and in the normal measurement mode, the switch SS is made conductive while there is a pulse shown as Sp in Fig. 3, and the output signal of the photomultiplier 3 corresponding to the light flux S is selected. . The switch SR is made conductive while there is a pulse indicated by Rp in FIG. 3, and selects the output signal of the photomultiplier 3 corresponding to the light flux R. switch
SD is made conductive during the pulse indicated by Dp in FIG. 3 to select the dark current signal of the photomultiplier 3. 6 is a sample and hold circuit section including three sample and hold circuits 6S, 6R, and 6D;
holds the side optical output S of the photomultiplier 3 for the luminous flux S when the switch SS is turned on. Similarly, 6R is the photometric output R for the luminous flux R.
, and 6D holds the dark current signal D. In is an inverter that is connected to the output side of the sample and hold circuit 6D and inverts the dark current signal. Reference numerals 71 and 72 denote dark current subtraction circuits, and 71 subtracts the dark current signal D from the photometric output S held in the sample hold circuit 6S. Similarly, 7
2 subtracts D from the photometric output R. Subtraction circuit 7
The circuits 1 and 72 are adder circuits, but an inverter In is installed on the output side of the sample and hold circuit 6D.
is connected and the sign of the dark current signal D is inverted and inputted to the adder circuit, resulting in D being subtracted from S and R. The outputs of the subtraction circuits 71 and 72 are A/D converters AD1,
It is converted into a digital signal by AD2 and sent to the control circuit Com. The output of AD1 is the photometric value obtained by subtracting the dark current from the photometric value for the luminous flux S, that is, the photometric value is corrected for the dark current. Similarly, the output of AD2 is a photometric value with dark current correction applied to the luminous flux R. The control circuit Com calculates the transmittance or absorbance of the sample from these photometric values, and sends the data to a recording and display device for recording or display.

こゝで回路全体のオフセツトを補正する場合は
次のようにして補正を行う。即ちスイツチSSと
SDとに第3図にDpで示すパルスを送り、スイツ
チSRには何れのパルス信号も与えない。このよ
うにすると引算回路71では(暗電流信号D)−
(暗電流信号D)の演算が行われることになる。
この場合A/D変換器AD1の出力は0の筈であ
るが、アナログスイツチ部5からAD変換器AD1
に至るまでの全回路のオフセツトにより0にはな
らない。従つてこのときのAD1の出力データは
回路全体のオフセツトの値に相当する。制御回路
Comはこのオフセツトの値Aを記憶しておいて、
前述した通常測定のモードにおいてAD1及び
AD2の出力からこのAの値を引くことによつて
オフセツトの補正を行う。即ち制御回路Comに
おける演算を表示すると、 S…光束Sに対する測光出力 R…光束Rに対する測光出力 D…暗電流出力 S−D…通常測定モードにおけるAD1の出力 R−D…通常測定モードにおけるAD2の出力 A…オフセツト値検出(ゼロクランプ)モード におけるAD1の出力(D−D) として例えば透過率Tは T={(S−D−A)/(R−D)}×100% 第1図で4はアナログスイツチ制御回路であ
る。同回路内で4p,4D,4Rはホトカプラの
ような検出器でセクターミラー1の回転軸に固定
された円板の周上にセクターミラー1の反射部
分、透過部分、ダークチヨツパ2に位置的に対応
させて設けた切込みを検出し、第3図にSp,Dp,
Spで示すパルスを出力する。通常測定モードの
場合には端子ロをハイレベルにしておく。そうす
るとナンド回路NA1は通常入力が(1,0)で
出力はハイであり、Spのパルスが入つたときだ
けローとなる。ナンド回路NA2は端子ロがハイ
であるからインバータiによつて一つの入力が常
時ローであるため出力が常時ハイである。従つて
ナンド回路NA3は4SからパルスSpが出力された
ときだけ入力が(0,1)となつて出力がハイと
なり、結局NA3の出力として再びSpのパルスが
得られる。このNA3の出力信号によつてアナロ
グスイツチSSが制御される。4Dの出力パルスDp
はそのまゝ直接アナログスイツチSDを制御して
いる。同様にして4Rの出力パルスRpは直接アナ
ログスイツチSRを制御している。従つて前述し
た通常測定モードの動作が行われる。ゼロクラン
プモード(オフセツト値検出モード)を行わせる
ときは端子ロをローレベルにする。こうするとナ
ンド回路NA1は入力の一つが常にローになるか
ら出力は常にハイとなる。またナンド回路NA2
は通常入力が(1,0)で出力はハイであるが、
4Dの出力パルスDpが入力されたときだけ入力が
(1,1)となつて出力がローとなる。従つてナ
ンド回路NA3は4Dの出力パルスDpがあるときの
みハイとなり結局スイツチSSにもDpのパルスが
与えられることになり、引算回路71は(D−
D)の出力を出すことになる。端子ロに印加され
るハイ、ローの信号は制御回路Comから出力さ
れる。制御回路Comはゼロクランプキーが押さ
れていないときは端子ロをハイレベルに保ち、ゼ
ロクランプキーを押すと端子ロをローベルにす
る。
If the offset of the entire circuit is to be corrected, the correction is performed as follows. In other words, Switch SS
A pulse shown as Dp in FIG. 3 is sent to SD and switch SR, and no pulse signal is given to switch SR. In this way, the subtraction circuit 71 (dark current signal D) -
(Dark current signal D) will be calculated.
In this case, the output of the A/D converter AD1 should be 0, but the output from the analog switch section 5
It does not become 0 due to the offset of all the circuits up to . Therefore, the output data of AD1 at this time corresponds to the offset value of the entire circuit. control circuit
Com memorizes this offset value A,
In the normal measurement mode mentioned above, AD1 and
The offset is corrected by subtracting the value of A from the output of AD2. That is, when the calculations in the control circuit Com are displayed, S...photometric output for luminous flux S R... photometric output for luminous flux R D... dark current output S-D... output of AD1 in normal measurement mode R-D... output of AD2 in normal measurement mode Output A...Output (D-D) of AD1 in offset value detection (zero clamp) mode For example, the transmittance T is T = {(S-D-A)/(R-D)} x 100% In Figure 1 4 is an analog switch control circuit. In the same circuit, 4p, 4D, and 4R are detectors such as photocouplers that correspond to the reflective part, transparent part, and dark chopper 2 of the sector mirror 1 on the circumference of a disk fixed to the rotating shaft of the sector mirror 1. Sp, Dp,
Outputs a pulse indicated by Sp. In normal measurement mode, keep terminal RO at high level. Then, the NAND circuit NA1 normally has inputs (1, 0) and outputs high, and becomes low only when the Sp pulse is input. Since the terminal RO of the NAND circuit NA2 is high, one input is always low due to the inverter i, so the output is always high. Therefore, the input of the NAND circuit NA3 becomes (0, 1) and the output becomes high only when the pulse Sp is outputted from 4S, and eventually the pulse of Sp is obtained again as the output of NA3. Analog switch SS is controlled by the output signal of NA3. 4D output pulse Dp
directly controls the analog switch SD. Similarly, the output pulse Rp of 4R directly controls the analog switch SR. Therefore, the operation in the normal measurement mode described above is performed. When performing zero clamp mode (offset value detection mode), set terminal RO to low level. In this way, one of the inputs of the NAND circuit NA1 will always be low, so the output will always be high. Also NAND circuit NA2
Normally the input is (1,0) and the output is high, but
Only when the 4D output pulse Dp is input, the input becomes (1, 1) and the output becomes low. Therefore, the NAND circuit NA3 becomes high only when there is an output pulse Dp of 4D, and the pulse of Dp is also given to the switch SS, and the subtraction circuit 71 becomes (D-
D) will be output. The high and low signals applied to terminal RO are output from the control circuit Com. The control circuit Com keeps terminal RO at high level when the zero clamp key is not pressed, and sets terminal RO to low level when the zero clamp key is pressed.

第4図は制御回路Comの制御動作の概略を示
すフローチヤートである。aにおいてゼロクラン
プキーが押されているか否かチエツクし、YES
ならロ端子をローにし(b)、AD1の出力データ
Aをメモリの所定のアドレスに格納し(c)、端
子ロの入力をハイにする(d)。aにおいてゼロ
クランプキーが押されていなければNOで、AD1
の出力データS−D及びAD2の出力データR−
Dを読み込み、メモリよりAの値を読出し(S−
D−A)/(R−D)の演算を行う(e)。
FIG. 4 is a flowchart showing an outline of the control operation of the control circuit Com. Check whether the zero clamp key is pressed in a, and press YES.
Then, set the B terminal low (b), store the output data A of AD1 at a predetermined address in the memory (c), and set the input of the terminal B high (d). If the zero clamp key is not pressed in a, NO, AD1
Output data S-D of AD2 and output data R- of AD2
Read D and read the value of A from memory (S-
Perform the calculation DA)/(RD) (e).

上述実施例ではゼロクランプ用のキースイツチ
が押されたときオフセツト量を検出して記憶する
構成となつているが、このキー操作をも自動化し
て一定時間間隔でオフセツト量の検出、記憶を行
わせるようにしてもよい。また引算回路71,7
2等をなくし、暗電流信号(ホールド回路6Dの
出力)もA/D変換して制御回路Comに記憶さ
せ、Com内で暗電流補正、オフセツト量の記憶、
オフセツト補正全部を行わせるようにすることも
可能である。
In the above embodiment, the offset amount is detected and stored when the zero clamp key switch is pressed, but this key operation can also be automated to detect and store the offset amount at regular time intervals. You can do it like this. Also, the subtraction circuits 71, 7
The dark current signal (output of the hold circuit 6D) is also A/D converted and stored in the control circuit Com, and the dark current correction, offset amount storage,
It is also possible to perform all offset corrections.

オフセツト補正の方法として光束S内に出入し
得るシヤツターを用意し、このシヤツターを光束
S内に進出させることによつて第1図の回路中の
ホールド回路6Sと6Dとに共に暗電流信号をホ
ールドさせ、オフセツト量を検出すると云う構成
が提案されているが、出入自在なシヤツターが必
要である。本発明によればこのような付加部品は
不必要であり、調整用可変抵抗等も不要で分光光
度計の構造を複雑化することなく、暗電流の補正
と共にオフセツトの補正も自動的に行われるので
ある。
As a method of offset correction, a shutter that can go in and out of the light flux S is prepared, and by allowing this shutter to enter the light flux S, the dark current signal is held in both the hold circuits 6S and 6D in the circuit shown in FIG. A configuration has been proposed in which the amount of offset is detected by adjusting the shutter, but this requires a shutter that can be moved in and out. According to the present invention, such additional parts are unnecessary, variable resistors for adjustment, etc. are not required, and the structure of the spectrophotometer is not complicated, and offset correction as well as dark current correction is automatically performed. It is.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例の回路図、第2図は
同実施例におけるセクターミラー及びダークチヨ
ツパの正面図、第3図は同実施例における信号波
形図、第4図は同実施例における制御回路の動作
の一部のフローチヤートである。 1……セクターミラー、2……ダークチヨツ
パ、3……ホトマルチプライヤ、4……アナログ
スイツチ制御回路、5……アナログスイツチ部、
6……サンプルホールド回路部、71,72……
引算回路、Com……制御回路。
Fig. 1 is a circuit diagram of an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a front view of a sector mirror and a dark chopper in the embodiment, Fig. 3 is a signal waveform diagram in the embodiment, and Fig. 4 is a diagram of the sector mirror and dark chopper in the embodiment. It is a flowchart of part of the operation of the control circuit. 1... Sector mirror, 2... Dark chopper, 3... Photo multiplier, 4... Analog switch control circuit, 5... Analog switch section,
6... Sample hold circuit section, 71, 72...
Subtraction circuit, Com...control circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 光検出器に光が入射しない期間を周期的に作
るためのダークチヨツパと光検出器に光が入射し
ている期間の光検出器出力から光検出器に光が入
射していない期間における光検出器出力を引算す
る手段とより成る光検出器の暗電流補正手段を備
えた分光光度計において、同暗電流補正手段にお
いて光検出器に光が入射している期間の光検出器
出力信号を扱う回路部分にも光検出器に光が入つ
ていない期間中の光検出器出力信号を入力させ、
このときの上記引算手段からオフセツト量に応じ
た信号を得て、これを保持しておき、通常測定時
における上記引算手段の出力信号から上記オフセ
ツト量に応じた信号を引算することによつてオフ
セツト補正を行うことを特徴とする分光光度計の
オフセツト補正方法。
1 Dark chopper to periodically create periods when no light is incident on the photodetector and photodetection during periods when no light is incident on the photodetector from the photodetector output during periods when light is incident on the photodetector In a spectrophotometer equipped with a dark current correction means for a photodetector consisting of means for subtracting a photodetector output, the dark current correction means calculates a photodetector output signal during a period when light is incident on the photodetector. Input the photodetector output signal during the period when no light is entering the photodetector into the circuit section to be handled,
At this time, a signal corresponding to the offset amount is obtained from the above-mentioned subtraction means, this is held, and the signal corresponding to the above-mentioned offset amount is subtracted from the output signal of the above-mentioned subtraction means during normal measurement. A spectrophotometer offset correction method characterized by performing offset correction.
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