JPH0438285B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は多種類の軸の軸受間高さ寸法等を測定
するのに適した軸高さ測定装置に関する。

〔従来技術〕

複数の軸を有する減速機等の組立てに際して
は、ハウジングに軸支される１組の各軸の２個の
軸受間の高さ寸法を測定し、これを基にして軸毎
に選択したスペーサを軸受の端面とハウジングの
間に介装して組み立て、各軸受に最適なプリロー
ドを与えるようにしている。軸受の径及び軸受間
高さ寸法は各軸毎に異なるので測定すべき軸は複
数種類となるが、従来のこの種の測定装置は各軸
の測定の都度２個の軸受の測定面に当接する治具
を手動により交換するようになつていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、かかる測定装置においては１組
を構成する各軸毎に２個の治具を手動により交換
して測定しているので測定作業能率が悪いという
問題があつた。これに対し、１組の各軸の下側測
定面をそれぞれ支持する複数の検測治具を円周方
向に沿つてターンテーブル上に設け、此等の各検
測治具をターンテーブルの回動により所定の測定
位置に割り出すようにして検測治具の手動による
交換をなくし、上記問題を解決することが考えら
れる。しかしながらこの場合は、回動するターン
テーブルを介して各検測治具が測定の基準となる
ベツドに支持されることになるので、ベツドに対
するターンテーブルの高さ方向取付誤差、ターン
テーブルの傾斜及び回動による各検測治具の高さ
方向のばらつき、測定圧力によるターンテーブル
の撓み等により高さ寸法の測定精度が低下すると
いう問題がある。本発明は検測治具を備えた治具
取付台をターンテーブルに対し鉛直方向摺動可能
に支持し、測定に際しこの治具取付台をベツド上
に固定した測定基準台の上面に押圧することによ
り検測治具をベツド上に位置決めして上記各問題
を解決したものである。

〔問題点を解決するための手段〕

このために、本発明による軸高さ測定装置は、
図示の実施例に例示する如く、ベツド１０上の測
定ステーシヨンMSに固定された測定基準台１４
と、軸物ワークＷの下側測定面Ｗ１に当接してこ
れを支持する支持面２８ａを有する検測治具２８
を上部に備えた複数の治具取付台２５と、鉛直軸
線Ｏ回りに回動可能に前記ベツド１０上に支持さ
れ円周方向に沿つて等分された複数位置において
前記各治具取付台２５を鉛直方向摺動可能に支持
すると共に割出装置２１により回転駆動されて各
治具取付台２５を前記測定基準台１４の上側に割
り出すターンテーブル２０と、測定基準台１４の
上側に割り出された治具取付台２５の下面２５ｃ
を同測定基準台１４の上面１４ａに押圧する押圧
装置２７と、測定基準台１４の上方において前記
ベツド１０に固定された支持部材１２により鉛直
方向移動可能に支持されると共に前記軸物ワーク
Ｗの上側測定面Ｗ２に当接されるゲージ面３７ａ
を有する検測ゲージ３７を垂下支持する測定ヘツ
ド３０と、この測定ヘツドと前記支持部材１２の
相対的移動量を測定する検出ヘツド３４を備えて
なるものである。

〔作用〕

所定の治具取付台２５は、ターンテーブル２０
の回動により測定ステーシヨンMSに固定された
測定基準台１４の上側に割り出され、その下面２
５ｃが押圧装置２７により測定基準台１４の上面
１４ａに押圧されてベツド１０に対し鉛直方向位
置決めがなされる。この状態において測定ヘツド
３０が降下して、下側測定面Ｗ１が当接面２８ａ
に当接して治具取付台２５の検測治具２８上に支
持された軸物ワークＷの上面測定面Ｗ２にゲージ
面３７ａを当接して、検出ヘツド３４により軸物
ワークＷの両測定面Ｗ１，Ｗ２間の軸高さは測定
する。測定が終了すれば、押圧装置２７は解除さ
れ、次の治具取付台２５が測定ステーシヨンMS
に割り出され、同様にして次の軸物ワークＷの軸
高さが測定される。

〔発明の効果〕

上述の如く、本発明によれば、軸物ワークを支
持する検測治具を上部に備えた治具取付台は、測
定ステーシヨンに割り出された状態においては、
ベツド上に固定された測定基準台の上面に直接押
圧されるので、測定の基準となるベツドに対する
鉛直方向位置決めが正確になされ、従つて軸物ワ
ークの軸高さの測定精度を向上させることができ
る。しかも、ターンテーブルは治具取付台の回転
割出しのみを行えば足り、高さ方向や傾斜方向等
の取付精度や剛性を高める必要がないので構造を
簡略化しかつ軽量化することができる。

〔実施例〕

以下に、添付図面により実施例の説明をする。

第１図〜第３図に示す如く、ベツド１０上には
支持台１５によりターンテーブル２０が鉛直軸線
Ｏ回りに回動可能かつ多少上下動可能に支持さ
れ、またベツド１０の上方には検測ヘツド３０を
鉛直方向移動可能に支持する上部支持板１２が４
本の支柱１１を介して固定されている。ベツド１
０上にはターンテーブル２０の周囲に位置して着
脱ステーシヨンFS及び測定ステーシヨンMSが設
けられている。後述する検測治具２８及び軸物ワ
ークＷの着脱を行う着脱ステーシヨンFS側に位
置するベツド１０の一側には検測治具２８を収納
する治具収納箱１３が設置され、また測定ステー
シヨンMSの左右には検測操作盤１６が設けられ
ている。ベツド１０上には、測定ステーシヨン
MSの位置に測定基準台１４が固定されている。

第３図に示す如く、ターンテーブル２０には、
鉛直軸線Ｏを中心として６等分された位置に６個
の支持ステーシヨンＳ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４，Ｓ
５，Ｓ６が設けられ、各支持ステーシヨンにはそ
れぞれ筒状の治具取付台２５が設けられている。
各治具取付台２５は、第１図に示す如く、ターン
テーブル２０に固定された支持筒２２により鉛直
方向のみ摺動可能に支持されている。ターンテー
ブル２０は割出シリンダ２１ａを備えたテーブル
割出装置２１により一方向（第３図において反時
計回転方向）に回転駆動されて、各治具取付台２
５を、測定ステーシヨンMSに固定された測定基
準台１４の上側に順次割り出すようになつてい
る。この回動に先だちターンテーブル２０は多少
上昇し、支持筒２２上部のフランジ２２ａの上面
２２ｂが治具取付台２５のフランジ部２５ｄの下
面２５ｅに当接して治具取付台２５を持ち上げ、
これにより治具取付台２５下面の円周上３ケ所に
突出して設けられた支持面（以下単に３点支持面
という）２５ｃが測定基準台１４の上面１４ａよ
り多少上方に離れた状態となつて割出しが行われ
る。割出しが完了すればターンテーブル２０が下
降して、第１図に示す如く、３点支持面２５ｃが
測定基準台１４の上面１４ａに当接し、フランジ
２２ａの上面２２ｂとフランジ部２５ｄの下面２
５ｅの間には多少の隙間があくようになつてい
る。この割出し回動により、治具取付台２５の下
部に固定されたフツク部材２６のＴ溝２６ａに
は、測定基準台１４に設けられた引下げシリンダ
２７のロツドの頭部２７ａが係合し、ターンテー
ブル２０の下降後に引下げシリンダ２７が作動し
て３点支持面２５ｃは測定基準台１４の上面１４
ａに押圧されるようになつている。これにより測
定ステーシヨンMSに割り出された治具取付台２
５はベツド１０に対し正確に鉛直方向位置決めが
なされる。

第１図に示す如く、治具取付台２５の上部に設
けられた浅い円筒状の凹部２５ａには、検測治具
２８が着脱自在に載置支持されるようになつてい
る。検測治具２８の外周は凹部２５ａの内周に嵌
合する径を有し、その下側には凹部２５ａの支持
面２５ｂに当接して支持される３点支持面２８ｂ
が形成されている。また、各検測治具２８の上側
にはそれぞれ異なる軸組立体（軸物ワーク）Ｗの
下側軸受Waの外周に嵌合する内径を有し、その
下面（下側測定面）Ｗ１に当接してこれを支持す
る３点支持面２８ａを有する凹部が形成されてい
る。

第１図及び第２図に示す如く、上部支持板１２
に固定された２本の案内筒３２はそれぞれパイロ
ツトバー３１を鉛直方向摺動可能に支持し、パイ
ロツトバー３１下端に固定された測定ヘツド３０
を、測定基準台１４の上側に割り出された治具取
付台２５の上方において、これと同軸に鉛直方向
移動可能としている。測定ヘツド３０は、これと
同軸に上部支持板１２に設けられた昇降シリンダ
３３のピストンロツド３３ａの下端に連結されて
昇降駆動されるようになつている。測定ヘツド３
０の下部に一体的に設けられた支持部３０ａに
は、複数種類の検測ゲージ３７を保持したキヤリ
ヤ３８を装着する水平方向の支持溝３０ｄが形成
されている。支持溝３０ｄの下側は、キヤリヤ３
８を支持する両側の支持面３０ｅを除き、大部分
が開放されている。

キヤリヤ３８には、上部から下部に連続して大
径孔３８ａと小径孔３８ｂが形成され、此等の孔
３８ａ，３８ｂ内に遊嵌された検測ゲージ３７
は、その上部外周のフランジ３７ｃが両孔３８
ａ，３８ｂの境界の段部に係止して、上方に移動
可能に支持されている。第１図は、検測ゲージ３
７が上方に移動してその上面３７ｂが測定ヘツド
３０に固定された当接リング３０ｂの３点当接面
３０ｂに当接した状態を示す。キヤリヤ３８には
後述するゲージ交換用シリンダ４７のピストンロ
ツドの先端に係合するフツク部３９が固定されて
いる。検測ゲージ３７の下側内面には、軸組立体
Ｗの上側軸受Wbの外周に嵌合する内径を有し、
その上側測定面Ｗ２に当接可能な３点ゲージ面３
７ａを有する３個の段部が形成され、各段部の下
側に連続して上側軸受Wbを案内するテーパ面が
形成されている。この段部の段数と内径は、測定
される複数の軸組立体Ｗの上側軸受Wbの外径に
応じて、各検測ゲージ３７毎に異なつたものとす
る。

第１図及び第２図に示す如く、上部支持板１２
には鉛直方向にスケール３５が垂下固定されると
共に測定ヘツド３０にはスケール３５と協働して
両者１２，３０の相対的移動量を測定する検出ヘ
ツド３４がブラケツト３６を介して固定されてい
る。

第２図及び第３図に示す如く、上部支持板１２
の下側には複数種類の検測ゲージ３７とキヤリヤ
３８のうち所定のものを自動的に測定ヘツド３０
に着脱する検測ゲージ交換装置４０が設けられて
いる。検測ゲージ交換装置４０の主要部は、複数
種類の検測ゲージ３７をキヤリヤ３８と共に保持
し、制御装置の指令により長手方向に移動して所
定のものを第３図に示す所定位置Ｐに割り出すマ
ガジン４１と、所定位置Ｐに割り出された検測ゲ
ージ３７とキヤリヤ３８を、最上昇端に位置する
測定ヘツド３０に着脱するゲージ交換用シリンダ
４７である。

第１図に示す如く、測定基準台１４上に位置決
め固定された治具取付台２５の検測治具２８の３
点支持面２８ａ上に下側測定面Ｗ１を当接して軸
組立体Ｗを支持した状態において、キヤリヤ３８
及び検測ゲージ３７を装着した測定ヘツド３０は
昇降シリンダ３３に駆動されて下降し、軸組立体
Ｗの上側測定面Ｗ２に検測ゲージ３７の３点ゲー
ジ面（実施例においては中間の３点ゲージ面）３
７ａが当接し、次いで検測ゲージ３７の上面３７
ｂが測定ヘツド３０の３点当接面３０ｃに当接
し、昇降シリンダ３３により各軸受Wa，Wbに
所定の予圧を与える。この状態において作業者が
軸組立体Ｗを手で回してなじませてから測定指令
を与え、検出ヘツド３４により測定基準台１４の
上面１４ａと測定ヘツド３０の３点当接面３０ｃ
の距離Ｅを測定し、次式により軸組立体Ｗの下側
及び上側測定面Ｗ１，Ｗ２の間の軸高さＡを求め
る。

Ａ＝Ｅ−（Ｆ＋Ｇ＋Ｈ） 但し、Ｆ：検測ゲージ３７の所定の３点ゲージ
面３７ａと上面３７ｂとの距離 Ｇ：検測治具２８の上下の３点支持面２
８ａ，２８ｂ間の距離 Ｈ：治具取付台２５の支持面２５ｂと下
面２５ｃとの距離 １個の軸組立体Ｗの軸高さＡの測定が終了すれ
ば、昇降シリンダ３３により測定ヘツド３０を最
上昇端に戻して検測ゲージ３７及びキヤリヤ３８
を次に使用するものと変換し、これと同時にテー
ブル割出装置２１を作動させてターンテーブル２
０を回動し、次の軸組立体Ｗを支持した治具取付
台１５を測定基準台１４の上側に割り出し、前述
と同様にして次の軸組立体Ｗの軸高さを測定す
る。

上述の実施例においては、ターンテーブル２０
を上下動させて治具取付台２５の下面２５ｃを測
定基準台１４の上面１４ａに当接しているが、治
具取付台をスプリングによりターンテーブルに対
し多少の所定距離浮上させ、測定基準台の上側に
割り出された治具取付台を押圧装置によりスプリ
ングに抗して引き下げて測定基準台の上側に押圧
するようにしてターンテーブルの上下動を省略し
てもよい。

なお、本発明による軸高さ測定装置は、本実施
例の如く軸組立体の軸受の間の軸高さに限らず、
通常の軸物ワークの全長あるいは中間の段部間の
軸高さの測定に使用することも可能である。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明による軸高さ測定装置の一実施例
を示し、第１図は主要部の断面図で第２図の−
線断面図に相当し、第２図は全体正面図、第３
図は全体平面図である。 符号の説明 １０…ベツド、１２…支持部材
（上部支持板）、１４…測定基準台、１４ａ…上
面、２０…ターンテーブル、２１…割出装置（テ
ーブル割出装置）２５…治具取付台、２５ｃ…下
面（３点支持面）、２７…押圧装置（引下げシリ
ンダ）、２８…検測治具、２８ａ…支持面（３点
支持面）、３０…測定ヘツド、３４…検出ヘツド、
３７…検測ゲージ、３７ａ…ゲージ面（３点ゲー
ジ面）、FS…着脱ステーシヨン、MS…測定ステ
ーシヨン、Ｏ…鉛直軸線、Ｗ…軸物ワーク（軸組
立体）、Ｗ１…下側測定面、Ｗ２…上側測定面。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ ベツド上の測定ステーシヨンに固定された測
   定基準台と、軸物ワークの下側測定面に当接して
   これを支持する支持面を有する検測治具を上部に
   備えた複数の治具取付台と、鉛直軸線回りに回動
   可能に前記ベツド上に支持され円周方向に沿つて
   等分された複数位置において前記各治具取付台を
   鉛直方向摺動可能に支持すると共に割出装置によ
   り回転駆動されて各治具取付台を前記測定基準台
   の上側に割り出すターンテーブルと、測定基準台
   の上側に割り出された治具取付台の下面を同測定
   基準台の上面に押圧する押圧装置と、測定基準台
   の上方において前記ベツドに固定された支持部材
   により鉛直方向移動可能に支持されると共に前記
   軸物ワークの上側測定面に当接されるゲージ面を
   有する検測ゲージを垂下支持する測定ヘツドと、
   この測定ヘツドと前記支持部材の相対的移動量を
   測定する検出ヘツドを備えてなる軸高さ測定装
   置。