JPH0466289B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は１組をなす異なる寸法の所定数の軸の
軸受間高さ等の軸高さを、まとめてかつ繰り返し
て測定するのに適した軸高さ測定装置に関する。

〔従来技術〕

複数の軸を有する減速機等の組立てに際して
は、ハウジングに軸支される各１組の軸の２個の
軸受間の高さ寸法を測定し、これを基にして軸毎
に選択したスペーサを軸受の端面とハウジングの
間に介装して組み立て、各軸受に最適なプリロー
ドを与えるようにしている。軸受の径及び軸受間
高さ寸法は各軸毎に異なるので測定すべき軸は複
数種類となるが、従来のこの種の測定装置は各軸
の測定の都度２個の軸受の測定面に当接する治具
を手動により交換するようになつていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、かかる測定装置においては１組
を構成する各軸毎に２個の治具を手動により交換
して測定しているので測定作業能率が悪いという
問題があつた。本発明はターンテーブルを用いる
ことにより少なくとも一方の治具の交換回数を減
少して上記問題を解決したものである。

〔問題点を解決するための手段〕

このために、本発明による軸高さ測定装置は、
図示の実施例に例示する如く、軸物ワークＷの下
側測定面Ｗ１に当接してこれを支持する支持面２
８ａを有する複数種類の検測治具２８と、軸物ワ
ークＷの上側測定面Ｗ２に当接されるゲージ面３
７ａを有する複数種類の検測ゲージ３７と、少な
くとも１種類の前記検測治具２８を着脱自在に載
置支持する複数の治具取付台２５と、鉛直軸線Ｏ
回りに回動可能にベツド１０上に支持され円周方
向に沿つて等分された複数位置に前記各治具取付
台２５を支持すると共に割出装置２１により回転
駆動されて各治具取付台２５を前記ベツド１０上
の着脱ステーシヨンFS及び測定ステーシヨンMS
に割り出すターンテーブル２０と、前記測定ステ
ーシヨンMSに割り出された治具取付台２５の上
方において支持部材１２により鉛直方向移動可能
に支持されると共に複数種類の前記検測ゲージ３
７を着脱自在に垂下支持する測定ヘツド３０と、
前記支持部材１２に取り付けられ前記複数種類の
検測ゲージ３７を貯蔵するマガジン４１と、前記
ターンテーブル２０により前記測定ステーシヨン
MSに割り出された前記検測治具２８と対応し前
記マガジン４１に貯蔵された前記検測ゲージ３７
を前記測定ヘツド３０に着脱交換する検測ゲージ
交換装置４０と、前記測定ヘツド３０と前記治具
取付台２５の相対的移動量を測定する検出ヘツド
３４を備えてなるものである。

〔作 用〕

所定の減速機構を構成する１組の軸物ワークＷ
のそれぞれ対応する各検測治具２８各治具取付台
２５上に載置支持され、１組をなす各軸物ワーク
Ｗはその下側測定面Ｗ１を対応する各検測治具２
８の支持面２８ａに当接してその上に支持され
る。各検測治具２８上に支持された各軸物ワーク
Ｗはターンテーブル２０の回動により順次測定ス
テーシヨンMSに割り出され、その都度マガジン
４１に貯蔵された検測ゲージ３７のうち割り出さ
れた軸物ワークＷに対応するものが検測ゲージ交
換装置４０により自動的に測定ヘツド３０に着脱
交換される。そして検測ゲージ３７が交換された
測定ヘツド３０は降下してゲージ面３７ａを上側
測定面Ｗ２に当接して検出ヘツド３４によりその
軸物ワークＷの両測定面Ｗ１，Ｗ２間の軸高さを
測定する。ターンテーブル２０により測定ステー
シヨンMSに順次割り出される各軸物ワークＷに
つきこれを繰り返してそれぞれの両測定面Ｗ１，
Ｗ２間の軸高さを測定する。次に測定する１組の
軸物ワークＷの仕様が同一の場合は、ターンテー
ブル２０上の各治具取付台２５に載置支持された
各検測治具２８はそのままでそれぞれの上に次の
１組の軸物ワークＷを支持し、検測ゲージ３７を
検測ゲージ交換装置４０により同様に着脱交換し
て各軸高さを測定する。組み立てる減速機等の仕
様が変わつて測定する１組の軸物ワークＷの仕様
が変更されれば、各治具取付台２５上の各検測治
具２８を変更後の各軸物ワークＷに対応するもの
とし、ターンテーブル２０の回動により測定ステ
ーシヨンMSに割り出された軸物ワークＷに対応
する検測ゲージ３７を検測ゲージ交換装置４０に
より測定ヘツド３０に着脱交換して各軸物ワーク
Ｗの軸高さを測定する。

〔発明の効果〕

上述の如く、本発明によれば測定する１組の軸
物ワークの仕様が変わらなければ治具取付台上の
各検測治具を交換する必要はなく、また検測ゲー
ジ３７はマガジンに貯蔵されたもののうち測定ス
テーシヨンに割り出された軸物ワークに対応する
ものを検測ゲージ交換装置により自動的に測定ヘ
ツドに着脱交換して軸高さを測定するので、１組
をなす異なる寸法の所定数の軸物ワークの軸高さ
を繰り返して測定する際の手間を減少させて測定
作業の能率を向上させることができる。また測定
すべき１組の軸物ワークの仕様の変更に対して
は、治具取付台上の各検測治具の交換により容易
に対応することができる。

〔実施例〕

以下に、添付図面により実施例の説明をする。

第１図〜第４図に示す如く、ベツド１０上には
支持台１５によりターンテーブル２０が鉛直軸線
Ｏ回りに回動可能かつ多少上下動可能に支持さ
れ、またベツド１０の上方には測定ヘツド３０を
鉛直方向移動可能に支持する上部支持板１２が４
本の支柱１１を介して固定されている。ベツド１
０上にはターンテーブル２０の周囲に位置して着
脱ステーシヨンFS及び測定ステーシヨンMSが設
けられている。後述する検測治具２８及び軸物ワ
ークＷの着脱を行う着脱ステーシヨンFS側に位
置するベツド１０の一側には多種の検測治具２８
を収納する治具収納箱１３が設置され、また測定
ステーシヨンMSの左右には検測操作盤１６が設
けられている。ベツド１０上には、測定ステーシ
ヨンMSの位置に測定基準台１４が固定されてい
る。

第３図に示す如く、ターンテーブル２０には、
鉛直軸線Ｏを中心として６等分された位置に６個
の支持ステーシヨンＳ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４，Ｓ
５，Ｓ６が設けられ、各支持ステーシヨンにはそ
れぞれ筒状の治具取付台２５が設けられている。
各治具取付台２５は、第１図に示す如く、ターン
テーブル２０に固定された支持筒２２により鉛直
方向のみ摺動可能に支持されている。ターンテー
ブル２０は割出シリンダ２１ａを備えたテーブル
割出装置２１により一方向（第３図において反時
計回転方向）に回転駆動されて、各治具取付台２
５を、順次測定ステーシヨンMSに割り出すよう
になつている。この回動に先だちターンテーブル
２０は治具取付台２５と共に多少上昇し、これに
より治具取付台２５下面の円周上３ケ所に突出し
て設けられた支持面（以下単に３点支持面とい
う）２５ｃは割出回動中は測定基準台１４の上面
１４ａより離れており、割出し完了後にターンテ
ーブル２０が下降して３点支持面２５ｃが測定基
準台１４の上面１４ａに当接するようになつてい
る。第１図に示す如く、この割出し回動により、
治具取付台２５の下面に固定されたフツク部材２
６のＴ溝２６ａには、測定基準台１４に設けられ
た引下げシリンダ２７がロツドの頭部２７ａが係
合し、ターンテーブル２０の下降後に引下げシリ
ンダ２７が作動して３点支持面２５ｃは測定基準
台１４の上面１４ａに押圧されるようになつてい
る。これにより測定ステーシヨンMSに割り出さ
れた治具取付台２５はベツド１０に対し正確に鉛
直方向位置決めがなされる。

第１図に示す如く、治具取付台２５の上部に設
けられた浅い円筒状の凹部２５ａには、複数種類
の検測治具２８が着脱自在に載置支持されるよう
になつている。検測治具２８の外周は凹部２５ａ
の内周に嵌合する径を有し、その下側には凹部２
５ａの支持面２５ｂに当接して支持される３点支
持面２８ｂが形成されている。また、各検測治具
２８の上側には、第９図に示すような複数種類の
軸組立体（軸物ワーク）Ｗの下側軸受Waの外周
に嵌合する内径を有し、その下面（下側測定面）
Ｗ１に当接してこれを支持する３点支持面２８ａ
を有する凹部が形成されている。

第１図及び第２図に示す如く、上部支持板１２
に固定された２本の案内筒３２はそれぞれパイロ
ツトバー３１を鉛直方向摺動可能に支持し、パイ
ロツトバー３１下端に固定された測定ヘツド３０
を、測定ステーシヨンMSに割り出された治具取
付台２５の上方において、これと同軸に鉛直方向
移動可能としている。測定ヘツド３０は、これと
同軸に上部支持板１２に設けられた昇降シリンダ
３３のピストンロツド３３ａの下端に連結されて
昇降駆動されるようになつている。測定ヘツド３
０の下部に一体的に設けられた支持部３０ａに
は、後述する複数種類の検測ゲージ３７を鉛直方
向移動可能に保持したキヤリヤ３８を装着する水
平方向の支持溝３０ｄが形成されている。支持溝
３０ｄの下側は、第６図に示す如く、キヤリヤ３
８を支持する両側の支持面３０ｅを除き、大部分
が開放されている。第１図及び第６図に示す如
く、支持溝３０ｄの上面中央には当接リング３０
ｂが固定され、その下面の３点当接面３０ｃは検
測ゲージ３７の上面３７ｂと当接可能となつてい
る。第１図及び第２図に示す如く、上部支持板１
２には鉛直方向にスケール３５が垂下固定される
と共に測定ヘツド３０にはスケール３５と協働し
て両者１２，３０の相対的移動量を測定する検出
ヘツド３４がブラケツト３６を介して固定されて
いる。

第２図〜第５図に示す如く、上部支持板１２の
下側には複数種類の検測ゲージ３７とキヤリヤ３
８のうち所定のものを自動的に測定ヘツド３０に
着脱する検測ゲージ交換装置４０が設けられてい
る。検測ゲージ交換装置４０の主要部は、複数種
類の検測ゲージ３７をキヤリヤ３８と共に保持
し、制御装置の指令により長手方向に移動して所
定のものを後述の所定位置Ｐに割り出すマガジン
４１と、所定位置Ｐに割り出された検測ゲージ３
７とキヤリヤ３８を測定ヘツド３０に着脱するゲ
ージ交換用シリンダ４７である。第５図に示す如
く、上部支持板１２の下面には２本のレール４２
がブラケツト４２ａを介して測定ヘツド３０の支
持溝３０ｄを直角方向に固定され、このレール４
２により案内溝部材４１ａを介してマガジン４１
が長手方向に案内支持されている。マガジン４１
の下面にはそれぞれ測定ヘツド３０の支持溝３０
ｄと平行で同一内面形状の保持溝４３ａが形成さ
れた複数の保持部材４３が長手方向に沿つて設け
られている。各保持部材４３は各キヤリヤ３８
を、両側下側に支持面４３ｂを有する保持溝４３
ａに沿つて抜き差し可能に、かつデイテント機構
（図示せず）等によりひとりでに抜け出ることが
ないように保持している。

各キヤリヤ３８には、第１図及び第６図に示す
如く、上部から下部に連続して大径孔３８ａと小
径孔３８ｂが形成され、此等の孔３８ａ，３８ｂ
内に遊嵌された検測ゲージ３７は、その上部外周
のフランジ３７ｃが両孔３８ａ，３８ｂの境界の
段部に係止して、上方に移動可能に支持されてい
る。各キヤリヤ３８のゲージ交換用シリンダ４７
側には、Ｔ溝３９ａを有するフツク部３９が固定
され、フツク部３９の中央上側には、第１図に示
す如く、切り欠き３９ｂが設けられている。第６
図及び第７図に示す如く、検測ゲージ３７の下側
内面には、第９図に示すような複数種類の軸組立
体Ｗの上側軸受Wbの外周に嵌合する内径を有
し、その上側測定面Ｗ２に当接可能な３点ゲージ
面３７ａを有する３個の段部が形成され、各段部
の下側に連続して上側軸受Wbを案内するテーパ
面が形成されている。この段部の段数と内径は、
測定される複数の軸組立体Ｗの上側軸受Wbの外
径に応じて、各検測ゲージ３７毎に異なつたもの
とする。

第３図及び第５図に示す如く、マガジン４１を
支持するブラケツト４２ａに設けられたマガジン
割出シリンダ４４は、そのピストンロツド４４ａ
の先端がマガジン４１のラグ４５に固定され、制
御装置（図示せず）の指令により作動してマガジ
ン４１を長手方向に駆動し、所定の検測ゲージ３
７を保持した保持部材４３を、測定ヘツド３０の
支持部３０ａに対応する所定位置Ｐに割り出すも
のである。第５図に示す如く、所定位置Ｐに割り
出された保持部材４３と最上昇端に位置する測定
ヘツド３０の支持部３０ａの間には、両者３０
ａ，４３の溝３０ｄ，４３ａと連続し、かつ両側
下側に同様の支持面５３ｂを有する案内溝５３ａ
が形成されたゲージ案内レール５３がブラケツト
５４を介して上部支持板１２に固定されている。
マガジン４１が割り出された状態において、上部
支持板１２に設けられた位置決めシリンダ５１に
より作動するノツクピン５１ａの先端がブロツク
５２の溝５２ａに係合し、マガジン４１は正確に
位置決めされる。

第３図〜第５図に示す如く、上部支持板１２の
下側には所定位置Ｐに対応してゲージ変換シリン
ダ４７がブラケツト４６を介して支持されてい
る。ゲージ変換シリンダ４７のピストンロツド４
７ａが縮んだ状態においては、その先端の係合子
４７ｂは、第５図の２点鎖線に示す如く、長手方
向に割り出されるマガジン４１の各保持部材４３
に保持された各キヤリヤ３８のフツク部材３９の
Ｔ溝３９ａに順次係合する。所定の検測ゲージ３
７が所定位置Ｐに割り出され、そのキヤリヤ３８
のフツク部材３９のＴ溝３９ａに係合子４７ｂが
係合した状態においてゲージ交換シリンダ４７の
ピストンロツド４７ａを伸長させれば、検測ゲー
ジ３７を支持したキヤリヤ３８は保持部材４３の
保持溝４３ａから押し出され、ゲージ案内レール
５３の案内溝５３ａを通つて測定ヘツド３０の支
持溝３０ｄ内に挿入される。ピストンロツド４７
ａの下方には、これと平行にブラケツト４６に固
定された案内筒４９により案内されたパイロツド
バー４８が設けられ、パイロツドバー４８の先端
は連結部材５０によりピストンロツド４７ａの先
端部と連結されている。連結部材５０に設けられ
た係合ピン５０ａは、第５図に示す如く、ピスト
ンロツド４７ａの最伸長状態においてゲージ案内
部材５３の係合孔５３ｃに係合して、同状態にお
いてピストンロツド４７ａの先端部が撓むのを防
止している。

キヤリヤ３８が検測ゲージ３７と共に測定ヘツ
ド３０に装着された第５図の状態において、昇降
シリンダ３３のピストンロツド３３ａを伸長させ
れば係合子４７ｂは切り欠き３９ｂによりＴ溝３
９ａより外れるが、キヤリヤ３８はデイテント機
構（図示せず）等により位置決めされているので
支持溝３０ｄ内において移動することはない。キ
ヤリヤ３８及び検測ゲージ３７は昇降シリンダ３
３に駆動されて測定ヘツド３０と共に下降し、第
１図に示す如く、検測治具２８の３点支持面２８
ａ上に下側測定面Ｗ１が支持された軸組立体Ｗの
上側測定面Ｗ２に検測ゲージ３７の３点ゲージ面
３７ａが当接し、次いで検測ゲージ３７の上面３
７ｂが測定ヘツド３０の３点当接面３０ｃに当接
し、昇降シリンダ３３により各軸受Wa，Wbに
所定の予圧を与える。この状態において作業者が
軸組立体Ｗを手で回してなじませて測定指令を与
え、検出ヘツド３４により測定基準面１４の上面
１４ａと測定ヘツド３０の３点当接面３０ｃの距
離Ｅを測定し、次式により軸組立体Ｗの下側及び
上側測定面Ｗ１，Ｗ２の間の軸高さＡを求める。

Ａ＝Ｅ−（Ｆ＋Ｇ＋Ｈ） 但し、 Ｆ：検測ゲージ３７の所定の３点ゲージ面３７
ａと上面３７ｂとの距離 Ｇ：検測治具２８の上下の３点支持面２８ａ，
２８ｂ間の距離 Ｈ：治具取付台２５の上下の支持面２５ｂと３
点支持面２５ｃとの距離 １個の軸組立体Ｗの軸高さＡの測定が終了すれ
ば、昇降シリンダ３３により測定ヘツド３０を最
上昇端に戻してキヤリア３８のＴ溝３９ａ内にピ
ストンロツド４７ａの先端の係合子４７ｂを係合
する。次いで、ピストンロツド４７ａを縮めてキ
ヤリヤ３８を検測ゲージ３７と共にマガジン４１
の保持部材４３内に戻し、位置決めシリンダ５１
によりノツクピン５１ａを抜いてからマガジン割
出シリンダ４４を作動させて、次に使用する検測
ゲージ３７を保持したキヤリヤ３８の保持部材４
３を所定位置Ｐに割り出す。以上と平行してテー
ブル割出装置２１を作動させてターンテーブル２
０を回動し、次の軸組立体Ｗを測定ステーシヨン
MSに割り出し、前述と同様にして次の軸組立体
Ｗの軸高さを測定する。

次に、６本の軸を有する減速機を組み立てる場
合の作動の例を、第８図に示すフローチヤートに
より説明する。先ずステツプ８０において検測操
作盤１６に変速機の形式を入力すれば、次のステ
ツプ８１においてその変速機の軸数、測定すべき
各軸組立体の種類、検測治具及び検測ゲージの種
類等が記憶装置から制御装置に読み込まれる。ス
テツプ８２において、ターンテーブル２０の第１
ステーシヨンＳ１の治具取付台２５を着脱ステー
シヨンFSに割り出した後、ステツプ８３におい
て第１ステーシヨンＳ１の治具取付台２５上の検
測治具２８及び測定済の軸組立体Ｗを、治具収納
箱１３から取り出した所定の検測治具２８及び測
定すべき軸組立体Ｗと交換する。この場合におい
て、治具収納箱１３の所定位置に収納された取り
出すべき検測治具２８は制御装置により点灯する
ランプ等により指示される。なお、変速機の形式
が変らない場合は検測治具２８の交換は不要であ
る。以上により第１ステーシヨンＳ１の治具取付
台２５上の検測治具２８と軸組立体Ｗを交換した
後、ステツプ８４よりステツプ８２に戻り、第２
〜第６ステーシヨンＳ２〜Ｓ６について以上の動
作を繰り返す。第６ステーシヨンＳ６の検測治具
２８と軸組立体Ｗの交換が終了すればステツプ８
４よりステツプ８５に進む。この状態において
は、第３図に示す如く、測定ステーシヨンMSに
はターンテーブル２０の第２ステーシヨンＳ２の
治具取付台２５が割り出されている。

ステツプ８５においてターンテーブル２０の第
２ステーシヨンＳ２の治具取付台２５を測定ステ
ーシヨンMSに割り出した（前述の如くこの割り
出しはすでになされているので特別な操作は不要
である）後、ステツプ８６において測定ヘツド３
０に装着された検測ゲージ３７を、制御装置の指
令を受けて作動する検測ゲージ交換装置４０によ
り、所定のものと交換する。次のステツプ８７に
おいて、前述の如く昇降シリンダ３５により測定
ヘツド３０を降下させて両軸受Wa，Wbの両測
定面Ｗ１，Ｗ２間の軸高さ寸法Ａを測定した後、
別途測定装置により測定された第１０図に示す減
速機のハウジング側の寸法をステツプ８８におい
て読み込んで、次式によりスペーサ厚さｔを演算
する。

ｔ＝（Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）−（Ａ＋α） 但し、 Ｂ：ハウジングＸの高さ Ｃ，Ｄ：カバーＹ，Ｚの軸受穴深さ α：軸受Wa，Wbにプリロードを与えるため
の定数 以上により第２ステーシヨンＳ２に支持された
軸組立体Ｗのスペーサ厚さｔを演算した後、ステ
ツプ８９よりステツプ８５に戻り、第３〜第６及
び第１ステーシヨンＳ３〜Ｓ６，Ｓ１について以
上の動作を繰り返す。第１ステーシヨンＳ１に支
持された軸組立体Ｗのスペーサ厚さｔの演算が終
了すれば、次のステツプ９０に移り、各軸組立体
Ｗに必要な所定の厚さのスペーサを選択し、ステ
ツプ９１においてこのスペーサを軸受とカバーの
間に介装して減速機の組立作業を行う。１個の減
速機の組立てが完了すれば、次の減速機の形式を
検測操作盤１６に入力し、前述と同様のステツプ
により次の減速機の組立てを行う。

以上は６軸を有する減速機の組立ての場合につ
いて説明したが、５軸以下の場合は軸数に応じて
ターンテーブル２０上に空ステーシヨンを設けれ
ばよい。なお、ターンテーブル２０上の支持ステ
ーシヨン（Ｓ１〜Ｓ６）の数は、本装置により組
立前測定を行う各減速機の軸数のうち最大のもの
と一致させておくものとする。

上述の如く、本実施例においては、測定ヘツド
３０に装着される検測ゲージ３７の交換を検測ゲ
ージ交換装置４０により自動的に行つているので
測定作業能率は一層向上する。また、着脱ステー
シヨンFSにおける検測治具２８及び軸組立体Ｗ
の交換をロボツトにより自動的に行うことも可能
である。

なお、本発明による軸高さ測定装置は、本実施
例の如く軸組立体の軸受の間の軸高さに限らず、
通常の軸物ワークの全長あるいは中間の段部間の
軸高さの測定に使用することも可能である。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明による軸高さ測定装置の一実施例
を示し、第１図は主要部の断面図で第２図の−
線断面図に相当し、第２図は全体正面図、第３
図は全体平面図、第４図は治具収納箱を除いた全
体右側面図、第５図は第３図の−線に沿つた
拡大断面図、第６図は第５図の−断面図、第
７図は検測ゲージの下面図、第８図は本発明を減
速機の組立てに使用した場合のフローチヤート、
第９図は測定される軸組立体の一例を示す図、第
１０図は減速機のハウジングを示す図である。 符号の説明、１０……ベツド、１２……支持部
材（上部支持板）、２０……ターンテーブル、２
１……割出装置（テーブル割出装置）、２５……
治具取付台、２８……検測治具、２８ａ……支持
面（３点支持面）、３０……測定ヘツド、３４…
…検出ヘツド、３７……検測ゲージ、３７ａ……
ゲージ面（３点ゲージ面）、４０……検測ゲージ
交換装置、４１……マガジン、FS……着脱ステ
ーシヨン、MS……測定ステーシヨン、Ｏ……鉛
直軸線、Ｗ……軸物ワーク（軸組立体）、Ｗ１…
…下側測定面、Ｗ２……上側測定面。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 軸物ワークの下側測定面に当接してこれを支
   持する支持面を有する複数種類の検測治具と、 軸物ワークの上側測定面に当接されるゲージ面
   を有する複数種類の検測ゲージと、 少なくとも１種類の前記検測治具を着脱自在に
   載置支持する複数の治具取付台と、 鉛直軸線回りに回動可能にベツド上に支持され
   円周方向に沿つて等分された複数位置に前記各治
   具取付台を支持すると共に割出装置により回転駆
   動されて各治具取付台を前記ベツド上の着脱ステ
   ーシヨン及び測定ステーシヨンに割り出すターン
   テーブルと、 前記測定ステーシヨンに割り出された治具取付
   台の上方において支持部材により鉛直方向移動可
   能に支持されると共に複数種類の前記検測ゲージ
   を着脱自在に垂下支持する測定ヘツドと、 前記支持部材に取り付けられ前記複数種類の検
   測ゲージを貯蔵するマガジンと、 前記ターンテーブルにより前記測定ステーシヨ
   ンに割り出された前記検測治具と対応し前記マガ
   ジンに貯蔵された前記検測ゲージを前記測定ヘツ
   ドに着脱交換する検測ゲージ交換装置と、 前記測定ヘツドと前記治具取付台の相対的移動
   量を測定する検出ヘツドを備えてなる軸高さ測定
   装置。