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JPH0439905B2 - - Google Patents
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JPH0439905B2 - - Google Patents

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JPH0439905B2
JPH0439905B2 JP705287A JP705287A JPH0439905B2 JP H0439905 B2 JPH0439905 B2 JP H0439905B2 JP 705287 A JP705287 A JP 705287A JP 705287 A JP705287 A JP 705287A JP H0439905 B2 JPH0439905 B2 JP H0439905B2
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JP
Japan
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grain
electrodes
moisture
electrical resistance
value
Prior art date
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JP705287A
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Inventor
Aijiro Kaneko
Toshio Hayashi
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Kaneko Agricultural Machinery Co Ltd
Original Assignee
Kaneko Agricultural Machinery Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、一対の電極間に試料穀物を1粒ずつ
挟み、各試料穀物の電気抵抗をそれぞれ検出して
平均した電気抵抗から穀物の水分を求める穀物の
水分測定方法および装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] Industrial Application Field The present invention involves sandwiching one sample grain between a pair of electrodes, detecting the electrical resistance of each sample grain, and determining the moisture content of the grain from the average electrical resistance. This invention relates to a method and device for measuring moisture in grains.

従来の技術 従来、この種の穀物の水分測定装置は、例えば
特公昭61−44286号公報に記載されているものが
あり、これを第5図を用いて説明する。1,1′
は一対の電極ロールであつて、この一対の電極ロ
ール1,1′は1粒の試料穀物2を挟み付けるの
に適した間隔をおいて対向しており、かつ矢印の
方向に回転するものである。そして、一対の電極
ロール1,1′間に1粒の試料穀物2が挟まれた
際の上記一対の電極ロール1,1′間の電気抵抗
から1粒の試料穀物2の水分を測定するようにな
つている。
BACKGROUND ART Conventionally, there is a grain moisture measuring device of this type described in, for example, Japanese Patent Publication No. 44286/1986, which will be explained with reference to FIG. 1,1'
are a pair of electrode rolls, and the pair of electrode rolls 1 and 1' face each other with an interval suitable for sandwiching one sample grain 2, and rotate in the direction of the arrow. be. Then, when one grain of sample grain 2 is sandwiched between the pair of electrode rolls 1, 1', the moisture content of one grain of sample grain 2 is measured from the electrical resistance between the pair of electrode rolls 1, 1'. It's getting old.

発明が解決しようとする問題点 一般に、収穫され脱穀された穀物中には、未熟
で水分を多く含んだ穀粒、いわゆる青粒がかなり
混入している。
Problems to be Solved by the Invention In general, harvested and threshed grains contain a considerable amount of immature and watery grains, so-called green grains.

ところで、穀物の水分を測定するのに、前記の
ように試料穀物を1粒ずつ取出しそれぞれの水分
を検出し、検出された各回の平均水分値を求める
方法においては、1粒の試料穀物として青粒が取
出されると、測定される平均水分値が実際の水分
値より大きく現われるので、従来、これが測定精
度を低くする原因となつていたのである。
By the way, in order to measure the moisture content of grains, as mentioned above, the sample grains are taken out one by one, the moisture content of each grain is detected, and the average moisture value of each detected time is calculated. When the grains are removed, the measured average moisture value appears to be greater than the actual moisture value, which has traditionally been a cause of poor measurement accuracy.

したがつて、試料穀物を1粒ずつ取出してそれ
ぞれの水分値を検出し、平均化する穀物の水分測
定手段にあつては、青粒による影響を除去するこ
とが、穀物の水分測定精度を向上させるうえでき
わめて重要である。
Therefore, when using a grain moisture measurement method that extracts sample grains one by one, detects each moisture value, and averages the values, removing the influence of blue grains improves the accuracy of grain moisture measurement. This is extremely important for achieving this goal.

問題点を解決するための手段 本発明は、前記問題点を解決するための方法お
よび装置に係るものであつて、以下にその内容を
説明する。
Means for Solving the Problems The present invention relates to a method and apparatus for solving the above problems, the details of which will be explained below.

本発明に係る穀物の水分測定方法は、一対の電
極間に試料穀物を1粒ずつ挟み、各試料穀物の電
気抵抗をそれぞれ検出して平均した電気抵抗から
穀物の水分を測定するものであるが、上記一対の
電極が1粒の試料穀物を挟んだ際の電極間のギヤ
ツプ変化を検出する。そして、このギヤツプ変化
が予め定められた大きさより小さいときは検出さ
れた電気抵抗のデータを無視するか、あるいはそ
の電気抵抗のデータの平均値に対する影響度を小
くするデータ処理を行つたうえ、平均水分値およ
び水分分布値を求める。
The grain moisture measuring method according to the present invention involves sandwiching one sample grain between a pair of electrodes, detecting the electrical resistance of each sample grain, and measuring the grain moisture from the averaged electrical resistance. , a change in the gap between the pair of electrodes is detected when one sample grain is sandwiched between the pair of electrodes. When this gap change is smaller than a predetermined magnitude, the detected electrical resistance data is ignored, or data processing is performed to reduce its influence on the average value of the electrical resistance data. Determine the average moisture value and moisture distribution value.

また、上記穀物の水分測定方法を実施する装置
は、その実施例に対応する第1図および第2図に
示すように、一対の電極101,101′間に試
料穀物118を1粒ずつ挟み、各試料穀物118
の電気抵抗をそれぞれ検出して平均した電気抵抗
から穀物の水分を測定するものにおいて、一対の
電極101,101′のうちの一方の電極101
を変位自在として弾力支持した構成とする。そし
て、一対の電極101,101′が1粒の試料穀
物118を挟んだ際に上記変位自在の電極101
の変位量から電極間のギヤツプ変化を検出するギ
ヤツプ検出器106を設け、また、各測定回ごと
の電気抵抗および上記電極間のギヤツプ変化を記
憶するメモリ回路115を設ける。そのうえ、デ
ータ処理回路116と、水分値算出回路117を
備えるが、データ処理回路116は、データ処理
を行う電極間のギヤツプ値を記憶メモリより計算
設定し、電極間のギヤツプがその設定値より小さ
いときは検出された電気抵抗のデータを無視する
か、または電気抵抗のデータの平均値に対する影
響度を小くする処理を行うものであり、また、水
分値算出回路117は、データ処理回路116で
処理されたデータに基いて平均水分値および水分
分布値を算出するものである。
In addition, as shown in FIGS. 1 and 2 corresponding to the embodiment, the apparatus for carrying out the method for measuring the moisture content of grains includes sandwiching one grain of sample grain 118 between a pair of electrodes 101 and 101'. Each sample grain 118
In the apparatus for measuring the moisture content of grain from the average electrical resistance by detecting the electrical resistance of each electrode, one electrode 101 of the pair of electrodes 101, 101'
The structure is such that it is movable and elastically supported. When the pair of electrodes 101 and 101' sandwich one sample grain 118, the displaceable electrode 101
A gap detector 106 is provided to detect a change in the gap between the electrodes from the amount of displacement of the electrode, and a memory circuit 115 is provided to store the electric resistance and the change in the gap between the electrodes for each measurement. Furthermore, it includes a data processing circuit 116 and a moisture value calculation circuit 117, and the data processing circuit 116 calculates and sets a gap value between the electrodes for data processing from a storage memory, and the gap between the electrodes is smaller than the set value. In this case, the detected electrical resistance data is ignored, or processing is performed to reduce the degree of influence on the average value of the electrical resistance data. The average moisture value and moisture distribution value are calculated based on the processed data.

作 用 本発明に係る装置において、穀物の水分を測定
するにあたつては、試料穀物118が1粒ずつ一
対の電極101,101′間に挟まれて押圧され
るが、この状態で一対の電極101,101′間
で1粒の試料穀物118の電気抵抗が検出され、
かつ一対の電極101,101′のうちの一方の
電極101の変位量から電極間のギヤツプ変化が
検出される。そして、試料穀物の1粒ずつの電気
抵抗および電極間のギヤツプ変化がメモリ回路1
15に記憶され、データ処理回路116では電極
間のギヤツプ変化が予め設定された値より小さい
ときの電気抵抗のデータを無視、またはその電気
抵抗のデータを平均化するときの影響度を小さく
する処理が行われる。次いでこのようにデータ処
理された各粒ごとの電気抵抗が水分値算出回路1
17で平均化され、かつ平均水分値および水分分
布値が算出される。
Function In the apparatus according to the present invention, when measuring the moisture content of grains, the sample grains 118 are sandwiched and pressed one by one between the pair of electrodes 101, 101'. The electrical resistance of one sample grain 118 is detected between the electrodes 101 and 101',
Also, a gap change between the electrodes is detected from the amount of displacement of one electrode 101 of the pair of electrodes 101, 101'. Then, the electrical resistance of each sample grain and the gap change between the electrodes are determined by the memory circuit 1.
15, and the data processing circuit 116 ignores the electrical resistance data when the gap change between the electrodes is smaller than a preset value, or reduces the influence when averaging the electrical resistance data. will be held. Next, the electrical resistance of each grain processed in this way is calculated by the moisture value calculation circuit 1.
17, and the average moisture value and moisture distribution value are calculated.

実施例 本発明に係る方法および装置の一実施例を第1
図ないし第4図について説明する。
Embodiment A first embodiment of the method and apparatus according to the present invention will be described below.
4 through 4 will be explained.

第1図には穀物の水分測定装置の検出部が示さ
れており、101,101′は回転ロールからな
る一対の電極であつて、その一方の電極101
は、定位置に設けられた他方の電極101′に対
して、互いに接触しない小間隔t位置から互いに
離間する方向にt′だけ変位自在に支承されてい
る。そして、その変位自在の電極101は、圧縮
バネ102によつて定位置側の電極101′に接
近する方向に弾力支持されている。103は変位
自在の電極101の変位ボス、104はその支承
体、105は圧縮バネ102の支持部材であつ
て、上記変位ボス103は、電極101の変位量
から電極間のギヤツプを検出するギヤツプ検出器
106に連動している。すなわち、ギヤツプ検出
器106は高周波差動トランスで構成されてお
り、上記変位ボス103はスライドコア107に
当接していて、このスライドコア107は弱いバ
ネ108によつて変位ボス103に圧接されてい
る。差動トランスは、一次コイル109と二次コ
イル110を備えている。一対の電極101,1
01′は、ギヤ構造等によつて互いに反対方向に
矢印のように回転すように連動されている。
FIG. 1 shows the detection section of the grain moisture measuring device, in which 101 and 101' are a pair of electrodes made of rotating rolls, one of which is electrode 101.
are supported so as to be freely displaceable by t' in a direction away from each other from a small distance t position where they do not contact each other with respect to the other electrode 101' provided at a fixed position. The displaceable electrode 101 is elastically supported by a compression spring 102 in a direction toward the electrode 101' on the home position side. 103 is a displacement boss of the freely displaceable electrode 101; 104 is its support; 105 is a support member for the compression spring 102; It is linked to the container 106. That is, the gap detector 106 is composed of a high frequency differential transformer, and the displacement boss 103 is in contact with a slide core 107, which is pressed against the displacement boss 103 by a weak spring 108. . The differential transformer includes a primary coil 109 and a secondary coil 110. A pair of electrodes 101,1
01' are interlocked to rotate in opposite directions as shown by arrows by a gear structure or the like.

第2図には、以上のように構成された検出部に
よる測定装置が例示されており、111は抵抗変
換回路、112はギヤツプ変換回路、113は温
度変換回路であつて、抵抗変換回路111は一対
の電極101,101′に挟まれた1粒の試料穀
物の電気抵抗を検出し、ギヤツプ変換回路112
はギヤツプ検出器106の信号を受けて電極間の
ギヤツプ変化を検出し、さらに温度変換回路11
3は温度センサ114から信号を受けて穀物温度
を検出して、それぞれメモリ回路115に入力す
る信号に変換するものである。メモリ回路115
には、1粒ずつの試料穀物から検出された電気抵
抗の検出データ、電極間のギヤツプ変化、穀物の
温度等のデータを収集し、かつ記憶される。ま
た、116はデータ処理回路、117は水分値算
出回路であつて、上記メモリ路115からデータ
処理回路116に入力する記憶メモリより計算
し、データ処理されたデータに基いて水分値算出
回路117で平均水分値が算出される。すなわ
ち、上記データ処理回路116では、一対の電極
101,101′間に1粒の試料穀物118が挾
まれた際の電極間のギヤツプ変化が予め設定され
た値より小さいときは検出された電気抵抗のデー
タを無視するか、または平均水分値を算出すると
きの影響度を小さくするデータ処理が行われる。
この実施例では、電極間のギヤツプ変化が上記設
定値より小さいときは平均水分値に対する影響度
を0.5とするデータ処理がなされるようになつて
いる。
FIG. 2 shows an example of a measuring device using a detection section configured as described above, in which 111 is a resistance conversion circuit, 112 is a gap conversion circuit, and 113 is a temperature conversion circuit. The electrical resistance of one sample grain sandwiched between a pair of electrodes 101 and 101' is detected, and a gap conversion circuit 112
receives the signal from the gap detector 106 and detects the gap change between the electrodes, and further detects the gap change between the electrodes.
Reference numeral 3 receives a signal from the temperature sensor 114, detects the grain temperature, and converts it into a signal input to the memory circuit 115, respectively. Memory circuit 115
Data such as electrical resistance detection data, gap change between electrodes, and grain temperature detected from each sample grain are collected and stored. Further, 116 is a data processing circuit, and 117 is a moisture value calculation circuit, which calculates from the storage memory inputted from the memory path 115 to the data processing circuit 116, and calculates the moisture value in the moisture value calculation circuit 117 based on the data processed. An average moisture value is calculated. That is, in the data processing circuit 116, when the gap change between the electrodes when one grain of sample grain 118 is sandwiched between the pair of electrodes 101, 101' is smaller than a preset value, the detected electrical resistance is Data processing is performed to ignore the data or reduce its influence when calculating the average moisture value.
In this embodiment, when the gap change between the electrodes is smaller than the above set value, data processing is performed such that the degree of influence on the average moisture value is set to 0.5.

なお、上記の如く予め設定される電極間のギヤ
ツプ変化値は、経験上最適と認められる数値であ
るが、これらは複数回測定された結果の平均値か
ら標準偏差を求めて決定してもよく、また、電極
間のギヤツプが相当大きいときは、試料穀物の粒
形が大であるから、平均水分値に対する影響度を
大きくして、一層測定精度の向上をはかることで
きる。この実施例では、影響度を2としている。
Note that the gap change value between the electrodes set in advance as described above is a value that is recognized as optimal based on experience, but these may also be determined by calculating the standard deviation from the average value of the results of multiple measurements. Furthermore, when the gap between the electrodes is quite large, the grain size of the sample grain is large, so the degree of influence on the average moisture value is increased, and measurement accuracy can be further improved. In this embodiment, the degree of influence is set to 2.

次に第3図および第4図を用いて上記データ処
理回路116の作用をより具体的に説明する。
Next, the operation of the data processing circuit 116 will be explained in more detail with reference to FIGS. 3 and 4.

一対の電極101,101′間に試料穀物を1
粒ずつ供給して、その電気抵抗を検出を多数回行
つた場合、電極間のギヤツプ変化値と同じ値をと
る度数との関係は、第3図に示す曲線を呈する。
そこで、電極のギヤツプ変化値の中心点を、そ
の大小のリミツト点をそれぞれSH、SLとすれば、
ギヤツプ変化値の標準偏差SSから SL=−SS SH=+SS となる。
One sample grain is placed between a pair of electrodes 101 and 101'.
When the particles are supplied one by one and the electrical resistance is detected many times, the relationship between the gap change value between the electrodes and the frequency of taking the same value exhibits the curve shown in FIG.
Therefore, if the center point of the gap change value of the electrode and its magnitude limit points are S H and S L , respectively, then
From the standard deviation SS of the gap change value, S L = -SS S H = +SS.

そして、検出された電極間のギヤツプ変化値を
Stとすれば、データ処理回路116では、第4図
に示す判断がなされる。
Then, the detected gap change value between the electrodes is
If S t , the data processing circuit 116 makes the determination shown in FIG.

すなわち、まず、電極間のギヤツプ値Stが下限
のリミツト点SLより小さいか否か判断され、そう
であるときは当該測定回の電気抵抗のデータMi
を、平均水分値に対する影響度Pが0.5となるよ
うにする。しかし、このSi<SLの判断が否である
ときは、さらに電極間のギヤツプ値Siが上限リミ
ツト点SHより大きいか否か判断され、そうである
ときは電気抵抗のデータMiを、平均水分値に対
する影響度Qが2となるようにする。しかし、こ
のSi>SHの判断が否であるときは、当該1粒の試
料穀物が下限リミツト点SLと上限リミツト点SH
にある中間のものとして、電気抵抗のデータMi
の平均水分値に対する影響度Rを1とする。
That is, first, it is determined whether the gap value S t between the electrodes is smaller than the lower limit point S L , and if so, the electrical resistance data Mi of the relevant measurement time is
is set so that the degree of influence P on the average moisture value is 0.5. However, when this judgment of Si<S L is negative, it is further judged whether the gap value Si between the electrodes is larger than the upper limit point S H , and if so, the electric resistance data Mi is The degree of influence Q on the moisture value is set to 2. However, when this judgment of Si>S H is negative, the electrical resistance data Mi is assumed to be intermediate between the lower limit point S L and the upper limit point S H.
The degree of influence R on the average moisture value is set to 1.

水分値算出回路117では、上記の結果に基い
て、 平均水分値=ΣMi×P+ΣMi×Q+ΣMi×R/AP+BQ+
CR の演算が行われ、平均水分値が算出される。な
お、ここでA、B、Cは試料穀物の個数であつ
て、その総数は測定回数Nとなる(A+B+C=
N)。
Based on the above results, the moisture value calculation circuit 117 calculates the average moisture value=ΣMi×P+ΣMi×Q+ΣMi×R/AP+BQ+
The CR calculation is performed and the average moisture value is calculated. Note that A, B, and C are the numbers of sample grains, and the total number is the number of measurements N (A+B+C=
N).

以上の動作内容から明らかなように、粒形が小
さく水分を多く含んでいる青粒が1粒の試料穀物
として供給されても、その平均水分値に対する影
響度Pは小さいので、算出される平均水分値の誤
差が大きくならず、穀物の水分を高い精度で測定
することができ、また、水分分布値が求められ
る。
As is clear from the above operation details, even if a single grain of blue grain, which has a small grain shape and contains a lot of moisture, is supplied as a grain of sample grain, its influence on the average moisture value P is small, so the calculated average It is possible to measure the moisture content of grains with high accuracy without increasing the error in the moisture value, and to obtain the moisture distribution value.

なお、青粒は乾燥後の籾摺時に未熟粒として排
除されるものである。
The green grains are removed as immature grains during hulling after drying.

発明の効果 要するに本発明は、前記の如き方法および装置
であるから、試料穀物を1粒ずつ取出してそれぞ
れ水分値を検出し、平均化する穀物の水分測定手
段にあつても、未熟で水分を多く含んでいる青粒
による影響を除去することができ、穀物の水分測
定精度を著しく向上させることができる効果を奏
する。
Effects of the Invention In summary, since the present invention is the method and apparatus as described above, even if it is a grain moisture measuring means that takes out sample grains one by one, detects the moisture value of each grain, and averages it, It is possible to remove the influence caused by the large amount of green grains contained in the grains, resulting in the effect of significantly improving the accuracy of grain moisture measurement.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

図面は本発明に係る穀物の水分測定装置の一実
施例を示すものであつて、第1図は装置の検出部
を示す概略的正面図、第2図は装置の構成を示す
ブロツク図、第3図は電極間のギヤツプ変化値の
大きさの分布状態を示す度数との関係図、第4図
はデータ処理回路の動作態様を示すフローチヤー
ト、第5図は従来の説明図である。 101,101′……一対の電極、106……
ギヤツプ検出器、111……抵抗変換回路、11
2……ギヤツプ変換回路、115……メモリ回
路、116……データ処理回路、117……水分
値算出回路、118……1粒の試料穀物。
The drawings show an embodiment of the grain moisture measuring device according to the present invention, in which FIG. 1 is a schematic front view showing the detection section of the device, FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the device, and FIG. FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the magnitude of the gap change value between the electrodes and the frequency, FIG. 4 is a flowchart showing the operation mode of the data processing circuit, and FIG. 5 is a conventional explanatory diagram. 101, 101'...pair of electrodes, 106...
Gap detector, 111...Resistance conversion circuit, 11
2...Gap conversion circuit, 115...Memory circuit, 116...Data processing circuit, 117...Moisture value calculation circuit, 118...One sample grain.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 一対の電極間に試料穀物を1粒ずつ挟み、各
試料穀物の電気抵抗をそれぞれ検出して平均した
電気抵抗から穀物の水分を測定する方法におい
て、上記一対の電極が1粒の試料穀物を挟んだ際
の電極間のギヤツプ変化を検出し、そのギヤツプ
変化が予め定めた大きさより小さいときは検出さ
れた電気抵抗のデータを無視し、またはその電気
抵抗のデータの平均値に対する影響度を小くする
データ処理を行つて平均水分値および水分分布値
を求めることを特徴とする穀物の水分測定方法。 2 一対の電極間に試料穀物を1粒ずつ挟み、各
試料穀物の電気抵抗をそれぞれ検出して平均した
電気抵抗から穀物の水分を測定する装置におい
て、一方の電極を変位自在として弾力支持した一
対の電極と、一対の電極が1粒の試料穀物を挟ん
だ際に上記変位自在の電極の変位量から電極間の
ギヤツプ変化を検出するギヤツプ検出器と、各測
定回ごとの電気抵抗および電極間のギヤツプ変化
を記憶するメモリ回路と、データ処理を行う電極
間のギヤツプ値を記憶メモリより計算設定して電
極間のギヤツプがその設定値より小さいときは検
出された電気抵抗のデータを無視し、またはその
電気抵抗のデータの平均値に対する影響度を小く
するデータ処理回路と、データ処理回路で処理さ
れたデータに基いて平均水分値および水分分布値
を求める水分値算出回路を備えて構成したことを
特徴とする穀物の水分測定装置。
[Claims] 1. In a method of sandwiching one grain of sample grain between a pair of electrodes, detecting the electrical resistance of each sample grain, and measuring the moisture content of the grain from the average electrical resistance, the above-mentioned pair of electrodes Detects the gap change between the electrodes when one sample grain is sandwiched between the electrodes, and ignores the detected electrical resistance data when the gap change is smaller than a predetermined size, or calculates the average of the electrical resistance data. A grain moisture measuring method characterized by calculating an average moisture value and a moisture distribution value by performing data processing to reduce the degree of influence on the values. 2 In a device that sandwiches one grain of sample grain between a pair of electrodes, detects the electrical resistance of each sample grain, and measures the moisture content of the grain from the average electrical resistance, a pair of electrodes is elastically supported with one electrode movable. a gap detector that detects a change in the gap between the electrodes from the amount of displacement of the displaceable electrode when a pair of electrodes sandwich one sample grain; A memory circuit that stores the gap change of , and a gap value between the electrodes that performs data processing is calculated and set from the memory memory, and when the gap between the electrodes is smaller than the set value, the detected electrical resistance data is ignored, or a data processing circuit that reduces the degree of influence on the average value of electrical resistance data, and a moisture value calculation circuit that calculates the average moisture value and moisture distribution value based on the data processed by the data processing circuit. A grain moisture measuring device characterized by:
JP705287A 1987-01-15 1987-01-15 Method and device for measuring water of grain Granted JPS63175757A (en)

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JPS63175757A (en) 1988-07-20

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