JPH0439905B2 - - Google Patents
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- JPH0439905B2 JPH0439905B2 JP705287A JP705287A JPH0439905B2 JP H0439905 B2 JPH0439905 B2 JP H0439905B2 JP 705287 A JP705287 A JP 705287A JP 705287 A JP705287 A JP 705287A JP H0439905 B2 JPH0439905 B2 JP H0439905B2
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- grain
- electrodes
- moisture
- electrical resistance
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
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- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
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- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、一対の電極間に試料穀物を１粒ずつ
挟み、各試料穀物の電気抵抗をそれぞれ検出して
平均した電気抵抗から穀物の水分を求める穀物の
水分測定方法および装置に関する。
挟み、各試料穀物の電気抵抗をそれぞれ検出して
平均した電気抵抗から穀物の水分を求める穀物の
水分測定方法および装置に関する。
従来の技術
従来、この種の穀物の水分測定装置は、例えば
特公昭61−44286号公報に記載されているものが
あり、これを第５図を用いて説明する。１，１′
は一対の電極ロールであつて、この一対の電極ロ
ール１，１′は１粒の試料穀物２を挟み付けるの
に適した間隔をおいて対向しており、かつ矢印の
方向に回転するものである。そして、一対の電極
ロール１，１′間に１粒の試料穀物２が挟まれた
際の上記一対の電極ロール１，１′間の電気抵抗
から１粒の試料穀物２の水分を測定するようにな
つている。
特公昭61−44286号公報に記載されているものが
あり、これを第５図を用いて説明する。１，１′
は一対の電極ロールであつて、この一対の電極ロ
ール１，１′は１粒の試料穀物２を挟み付けるの
に適した間隔をおいて対向しており、かつ矢印の
方向に回転するものである。そして、一対の電極
ロール１，１′間に１粒の試料穀物２が挟まれた
際の上記一対の電極ロール１，１′間の電気抵抗
から１粒の試料穀物２の水分を測定するようにな
つている。
発明が解決しようとする問題点
一般に、収穫され脱穀された穀物中には、未熟
で水分を多く含んだ穀粒、いわゆる青粒がかなり
混入している。
で水分を多く含んだ穀粒、いわゆる青粒がかなり
混入している。
ところで、穀物の水分を測定するのに、前記の
ように試料穀物を１粒ずつ取出しそれぞれの水分
を検出し、検出された各回の平均水分値を求める
方法においては、１粒の試料穀物として青粒が取
出されると、測定される平均水分値が実際の水分
値より大きく現われるので、従来、これが測定精
度を低くする原因となつていたのである。
ように試料穀物を１粒ずつ取出しそれぞれの水分
を検出し、検出された各回の平均水分値を求める
方法においては、１粒の試料穀物として青粒が取
出されると、測定される平均水分値が実際の水分
値より大きく現われるので、従来、これが測定精
度を低くする原因となつていたのである。
したがつて、試料穀物を１粒ずつ取出してそれ
ぞれの水分値を検出し、平均化する穀物の水分測
定手段にあつては、青粒による影響を除去するこ
とが、穀物の水分測定精度を向上させるうえでき
わめて重要である。
ぞれの水分値を検出し、平均化する穀物の水分測
定手段にあつては、青粒による影響を除去するこ
とが、穀物の水分測定精度を向上させるうえでき
わめて重要である。
問題点を解決するための手段
本発明は、前記問題点を解決するための方法お
よび装置に係るものであつて、以下にその内容を
説明する。
よび装置に係るものであつて、以下にその内容を
説明する。
本発明に係る穀物の水分測定方法は、一対の電
極間に試料穀物を１粒ずつ挟み、各試料穀物の電
気抵抗をそれぞれ検出して平均した電気抵抗から
穀物の水分を測定するものであるが、上記一対の
電極が１粒の試料穀物を挟んだ際の電極間のギヤ
ツプ変化を検出する。そして、このギヤツプ変化
が予め定められた大きさより小さいときは検出さ
れた電気抵抗のデータを無視するか、あるいはそ
の電気抵抗のデータの平均値に対する影響度を小
くするデータ処理を行つたうえ、平均水分値およ
び水分分布値を求める。
極間に試料穀物を１粒ずつ挟み、各試料穀物の電
気抵抗をそれぞれ検出して平均した電気抵抗から
穀物の水分を測定するものであるが、上記一対の
電極が１粒の試料穀物を挟んだ際の電極間のギヤ
ツプ変化を検出する。そして、このギヤツプ変化
が予め定められた大きさより小さいときは検出さ
れた電気抵抗のデータを無視するか、あるいはそ
の電気抵抗のデータの平均値に対する影響度を小
くするデータ処理を行つたうえ、平均水分値およ
び水分分布値を求める。
また、上記穀物の水分測定方法を実施する装置
は、その実施例に対応する第１図および第２図に
示すように、一対の電極１０１，１０１′間に試
料穀物１１８を１粒ずつ挟み、各試料穀物１１８
の電気抵抗をそれぞれ検出して平均した電気抵抗
から穀物の水分を測定するものにおいて、一対の
電極１０１，１０１′のうちの一方の電極１０１
を変位自在として弾力支持した構成とする。そし
て、一対の電極１０１，１０１′が１粒の試料穀
物１１８を挟んだ際に上記変位自在の電極１０１
の変位量から電極間のギヤツプ変化を検出するギ
ヤツプ検出器１０６を設け、また、各測定回ごと
の電気抵抗および上記電極間のギヤツプ変化を記
憶するメモリ回路１１５を設ける。そのうえ、デ
ータ処理回路１１６と、水分値算出回路１１７を
備えるが、データ処理回路１１６は、データ処理
を行う電極間のギヤツプ値を記憶メモリより計算
設定し、電極間のギヤツプがその設定値より小さ
いときは検出された電気抵抗のデータを無視する
か、または電気抵抗のデータの平均値に対する影
響度を小くする処理を行うものであり、また、水
分値算出回路１１７は、データ処理回路１１６で
処理されたデータに基いて平均水分値および水分
分布値を算出するものである。
は、その実施例に対応する第１図および第２図に
示すように、一対の電極１０１，１０１′間に試
料穀物１１８を１粒ずつ挟み、各試料穀物１１８
の電気抵抗をそれぞれ検出して平均した電気抵抗
から穀物の水分を測定するものにおいて、一対の
電極１０１，１０１′のうちの一方の電極１０１
を変位自在として弾力支持した構成とする。そし
て、一対の電極１０１，１０１′が１粒の試料穀
物１１８を挟んだ際に上記変位自在の電極１０１
の変位量から電極間のギヤツプ変化を検出するギ
ヤツプ検出器１０６を設け、また、各測定回ごと
の電気抵抗および上記電極間のギヤツプ変化を記
憶するメモリ回路１１５を設ける。そのうえ、デ
ータ処理回路１１６と、水分値算出回路１１７を
備えるが、データ処理回路１１６は、データ処理
を行う電極間のギヤツプ値を記憶メモリより計算
設定し、電極間のギヤツプがその設定値より小さ
いときは検出された電気抵抗のデータを無視する
か、または電気抵抗のデータの平均値に対する影
響度を小くする処理を行うものであり、また、水
分値算出回路１１７は、データ処理回路１１６で
処理されたデータに基いて平均水分値および水分
分布値を算出するものである。
作 用
本発明に係る装置において、穀物の水分を測定
するにあたつては、試料穀物１１８が１粒ずつ一
対の電極１０１，１０１′間に挟まれて押圧され
るが、この状態で一対の電極１０１，１０１′間
で１粒の試料穀物１１８の電気抵抗が検出され、
かつ一対の電極１０１，１０１′のうちの一方の
電極１０１の変位量から電極間のギヤツプ変化が
検出される。そして、試料穀物の１粒ずつの電気
抵抗および電極間のギヤツプ変化がメモリ回路１
１５に記憶され、データ処理回路１１６では電極
間のギヤツプ変化が予め設定された値より小さい
ときの電気抵抗のデータを無視、またはその電気
抵抗のデータを平均化するときの影響度を小さく
する処理が行われる。次いでこのようにデータ処
理された各粒ごとの電気抵抗が水分値算出回路１
１７で平均化され、かつ平均水分値および水分分
布値が算出される。
するにあたつては、試料穀物１１８が１粒ずつ一
対の電極１０１，１０１′間に挟まれて押圧され
るが、この状態で一対の電極１０１，１０１′間
で１粒の試料穀物１１８の電気抵抗が検出され、
かつ一対の電極１０１，１０１′のうちの一方の
電極１０１の変位量から電極間のギヤツプ変化が
検出される。そして、試料穀物の１粒ずつの電気
抵抗および電極間のギヤツプ変化がメモリ回路１
１５に記憶され、データ処理回路１１６では電極
間のギヤツプ変化が予め設定された値より小さい
ときの電気抵抗のデータを無視、またはその電気
抵抗のデータを平均化するときの影響度を小さく
する処理が行われる。次いでこのようにデータ処
理された各粒ごとの電気抵抗が水分値算出回路１
１７で平均化され、かつ平均水分値および水分分
布値が算出される。
実施例
本発明に係る方法および装置の一実施例を第１
図ないし第４図について説明する。
図ないし第４図について説明する。
第１図には穀物の水分測定装置の検出部が示さ
れており、１０１，１０１′は回転ロールからな
る一対の電極であつて、その一方の電極１０１
は、定位置に設けられた他方の電極１０１′に対
して、互いに接触しない小間隔ｔ位置から互いに
離間する方向にt′だけ変位自在に支承されてい
る。そして、その変位自在の電極１０１は、圧縮
バネ１０２によつて定位置側の電極１０１′に接
近する方向に弾力支持されている。１０３は変位
自在の電極１０１の変位ボス、１０４はその支承
体、１０５は圧縮バネ１０２の支持部材であつ
て、上記変位ボス１０３は、電極１０１の変位量
から電極間のギヤツプを検出するギヤツプ検出器
１０６に連動している。すなわち、ギヤツプ検出
器１０６は高周波差動トランスで構成されてお
り、上記変位ボス１０３はスライドコア１０７に
当接していて、このスライドコア１０７は弱いバ
ネ１０８によつて変位ボス１０３に圧接されてい
る。差動トランスは、一次コイル１０９と二次コ
イル１１０を備えている。一対の電極１０１，１
０１′は、ギヤ構造等によつて互いに反対方向に
矢印のように回転すように連動されている。
れており、１０１，１０１′は回転ロールからな
る一対の電極であつて、その一方の電極１０１
は、定位置に設けられた他方の電極１０１′に対
して、互いに接触しない小間隔ｔ位置から互いに
離間する方向にt′だけ変位自在に支承されてい
る。そして、その変位自在の電極１０１は、圧縮
バネ１０２によつて定位置側の電極１０１′に接
近する方向に弾力支持されている。１０３は変位
自在の電極１０１の変位ボス、１０４はその支承
体、１０５は圧縮バネ１０２の支持部材であつ
て、上記変位ボス１０３は、電極１０１の変位量
から電極間のギヤツプを検出するギヤツプ検出器
１０６に連動している。すなわち、ギヤツプ検出
器１０６は高周波差動トランスで構成されてお
り、上記変位ボス１０３はスライドコア１０７に
当接していて、このスライドコア１０７は弱いバ
ネ１０８によつて変位ボス１０３に圧接されてい
る。差動トランスは、一次コイル１０９と二次コ
イル１１０を備えている。一対の電極１０１，１
０１′は、ギヤ構造等によつて互いに反対方向に
矢印のように回転すように連動されている。
第２図には、以上のように構成された検出部に
よる測定装置が例示されており、１１１は抵抗変
換回路、１１２はギヤツプ変換回路、１１３は温
度変換回路であつて、抵抗変換回路１１１は一対
の電極１０１，１０１′に挟まれた１粒の試料穀
物の電気抵抗を検出し、ギヤツプ変換回路１１２
はギヤツプ検出器１０６の信号を受けて電極間の
ギヤツプ変化を検出し、さらに温度変換回路１１
３は温度センサ１１４から信号を受けて穀物温度
を検出して、それぞれメモリ回路１１５に入力す
る信号に変換するものである。メモリ回路１１５
には、１粒ずつの試料穀物から検出された電気抵
抗の検出データ、電極間のギヤツプ変化、穀物の
温度等のデータを収集し、かつ記憶される。ま
た、１１６はデータ処理回路、１１７は水分値算
出回路であつて、上記メモリ路１１５からデータ
処理回路１１６に入力する記憶メモリより計算
し、データ処理されたデータに基いて水分値算出
回路１１７で平均水分値が算出される。すなわ
ち、上記データ処理回路１１６では、一対の電極
１０１，１０１′間に１粒の試料穀物１１８が挾
まれた際の電極間のギヤツプ変化が予め設定され
た値より小さいときは検出された電気抵抗のデー
タを無視するか、または平均水分値を算出すると
きの影響度を小さくするデータ処理が行われる。
この実施例では、電極間のギヤツプ変化が上記設
定値より小さいときは平均水分値に対する影響度
を0.5とするデータ処理がなされるようになつて
いる。
よる測定装置が例示されており、１１１は抵抗変
換回路、１１２はギヤツプ変換回路、１１３は温
度変換回路であつて、抵抗変換回路１１１は一対
の電極１０１，１０１′に挟まれた１粒の試料穀
物の電気抵抗を検出し、ギヤツプ変換回路１１２
はギヤツプ検出器１０６の信号を受けて電極間の
ギヤツプ変化を検出し、さらに温度変換回路１１
３は温度センサ１１４から信号を受けて穀物温度
を検出して、それぞれメモリ回路１１５に入力す
る信号に変換するものである。メモリ回路１１５
には、１粒ずつの試料穀物から検出された電気抵
抗の検出データ、電極間のギヤツプ変化、穀物の
温度等のデータを収集し、かつ記憶される。ま
た、１１６はデータ処理回路、１１７は水分値算
出回路であつて、上記メモリ路１１５からデータ
処理回路１１６に入力する記憶メモリより計算
し、データ処理されたデータに基いて水分値算出
回路１１７で平均水分値が算出される。すなわ
ち、上記データ処理回路１１６では、一対の電極
１０１，１０１′間に１粒の試料穀物１１８が挾
まれた際の電極間のギヤツプ変化が予め設定され
た値より小さいときは検出された電気抵抗のデー
タを無視するか、または平均水分値を算出すると
きの影響度を小さくするデータ処理が行われる。
この実施例では、電極間のギヤツプ変化が上記設
定値より小さいときは平均水分値に対する影響度
を0.5とするデータ処理がなされるようになつて
いる。
なお、上記の如く予め設定される電極間のギヤ
ツプ変化値は、経験上最適と認められる数値であ
るが、これらは複数回測定された結果の平均値か
ら標準偏差を求めて決定してもよく、また、電極
間のギヤツプが相当大きいときは、試料穀物の粒
形が大であるから、平均水分値に対する影響度を
大きくして、一層測定精度の向上をはかることで
きる。この実施例では、影響度を２としている。
ツプ変化値は、経験上最適と認められる数値であ
るが、これらは複数回測定された結果の平均値か
ら標準偏差を求めて決定してもよく、また、電極
間のギヤツプが相当大きいときは、試料穀物の粒
形が大であるから、平均水分値に対する影響度を
大きくして、一層測定精度の向上をはかることで
きる。この実施例では、影響度を２としている。
次に第３図および第４図を用いて上記データ処
理回路１１６の作用をより具体的に説明する。
理回路１１６の作用をより具体的に説明する。
一対の電極１０１，１０１′間に試料穀物を１
粒ずつ供給して、その電気抵抗を検出を多数回行
つた場合、電極間のギヤツプ変化値と同じ値をと
る度数との関係は、第３図に示す曲線を呈する。
そこで、電極のギヤツプ変化値の中心点を、そ
の大小のリミツト点をそれぞれSH、SLとすれば、
ギヤツプ変化値の標準偏差SSから SL＝−SS SH＝＋SS となる。
粒ずつ供給して、その電気抵抗を検出を多数回行
つた場合、電極間のギヤツプ変化値と同じ値をと
る度数との関係は、第３図に示す曲線を呈する。
そこで、電極のギヤツプ変化値の中心点を、そ
の大小のリミツト点をそれぞれSH、SLとすれば、
ギヤツプ変化値の標準偏差SSから SL＝−SS SH＝＋SS となる。
そして、検出された電極間のギヤツプ変化値を
Stとすれば、データ処理回路１１６では、第４図
に示す判断がなされる。
Stとすれば、データ処理回路１１６では、第４図
に示す判断がなされる。
すなわち、まず、電極間のギヤツプ値Stが下限
のリミツト点SLより小さいか否か判断され、そう
であるときは当該測定回の電気抵抗のデータMi
を、平均水分値に対する影響度Ｐが0.5となるよ
うにする。しかし、このSi＜SLの判断が否である
ときは、さらに電極間のギヤツプ値Siが上限リミ
ツト点SHより大きいか否か判断され、そうである
ときは電気抵抗のデータMiを、平均水分値に対
する影響度Ｑが２となるようにする。しかし、こ
のSi＞SHの判断が否であるときは、当該１粒の試
料穀物が下限リミツト点SLと上限リミツト点SH間
にある中間のものとして、電気抵抗のデータMi
の平均水分値に対する影響度Ｒを１とする。
のリミツト点SLより小さいか否か判断され、そう
であるときは当該測定回の電気抵抗のデータMi
を、平均水分値に対する影響度Ｐが0.5となるよ
うにする。しかし、このSi＜SLの判断が否である
ときは、さらに電極間のギヤツプ値Siが上限リミ
ツト点SHより大きいか否か判断され、そうである
ときは電気抵抗のデータMiを、平均水分値に対
する影響度Ｑが２となるようにする。しかし、こ
のSi＞SHの判断が否であるときは、当該１粒の試
料穀物が下限リミツト点SLと上限リミツト点SH間
にある中間のものとして、電気抵抗のデータMi
の平均水分値に対する影響度Ｒを１とする。
水分値算出回路１１７では、上記の結果に基い
て、 平均水分値＝ΣMi×Ｐ＋ΣMi×Ｑ＋ΣMi×Ｒ／AP＋BQ＋
CR の演算が行われ、平均水分値が算出される。な
お、ここでＡ、Ｂ、Ｃは試料穀物の個数であつ
て、その総数は測定回数Ｎとなる（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＝
Ｎ）。
て、 平均水分値＝ΣMi×Ｐ＋ΣMi×Ｑ＋ΣMi×Ｒ／AP＋BQ＋
CR の演算が行われ、平均水分値が算出される。な
お、ここでＡ、Ｂ、Ｃは試料穀物の個数であつ
て、その総数は測定回数Ｎとなる（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＝
Ｎ）。
以上の動作内容から明らかなように、粒形が小
さく水分を多く含んでいる青粒が１粒の試料穀物
として供給されても、その平均水分値に対する影
響度Ｐは小さいので、算出される平均水分値の誤
差が大きくならず、穀物の水分を高い精度で測定
することができ、また、水分分布値が求められ
る。
さく水分を多く含んでいる青粒が１粒の試料穀物
として供給されても、その平均水分値に対する影
響度Ｐは小さいので、算出される平均水分値の誤
差が大きくならず、穀物の水分を高い精度で測定
することができ、また、水分分布値が求められ
る。
なお、青粒は乾燥後の籾摺時に未熟粒として排
除されるものである。
除されるものである。
発明の効果
要するに本発明は、前記の如き方法および装置
であるから、試料穀物を１粒ずつ取出してそれぞ
れ水分値を検出し、平均化する穀物の水分測定手
段にあつても、未熟で水分を多く含んでいる青粒
による影響を除去することができ、穀物の水分測
定精度を著しく向上させることができる効果を奏
する。
であるから、試料穀物を１粒ずつ取出してそれぞ
れ水分値を検出し、平均化する穀物の水分測定手
段にあつても、未熟で水分を多く含んでいる青粒
による影響を除去することができ、穀物の水分測
定精度を著しく向上させることができる効果を奏
する。
図面は本発明に係る穀物の水分測定装置の一実
施例を示すものであつて、第１図は装置の検出部
を示す概略的正面図、第２図は装置の構成を示す
ブロツク図、第３図は電極間のギヤツプ変化値の
大きさの分布状態を示す度数との関係図、第４図
はデータ処理回路の動作態様を示すフローチヤー
ト、第５図は従来の説明図である。 １０１，１０１′……一対の電極、１０６……
ギヤツプ検出器、１１１……抵抗変換回路、１１
２……ギヤツプ変換回路、１１５……メモリ回
路、１１６……データ処理回路、１１７……水分
値算出回路、１１８……１粒の試料穀物。
施例を示すものであつて、第１図は装置の検出部
を示す概略的正面図、第２図は装置の構成を示す
ブロツク図、第３図は電極間のギヤツプ変化値の
大きさの分布状態を示す度数との関係図、第４図
はデータ処理回路の動作態様を示すフローチヤー
ト、第５図は従来の説明図である。 １０１，１０１′……一対の電極、１０６……
ギヤツプ検出器、１１１……抵抗変換回路、１１
２……ギヤツプ変換回路、１１５……メモリ回
路、１１６……データ処理回路、１１７……水分
値算出回路、１１８……１粒の試料穀物。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 一対の電極間に試料穀物を１粒ずつ挟み、各
試料穀物の電気抵抗をそれぞれ検出して平均した
電気抵抗から穀物の水分を測定する方法におい
て、上記一対の電極が１粒の試料穀物を挟んだ際
の電極間のギヤツプ変化を検出し、そのギヤツプ
変化が予め定めた大きさより小さいときは検出さ
れた電気抵抗のデータを無視し、またはその電気
抵抗のデータの平均値に対する影響度を小くする
データ処理を行つて平均水分値および水分分布値
を求めることを特徴とする穀物の水分測定方法。 ２ 一対の電極間に試料穀物を１粒ずつ挟み、各
試料穀物の電気抵抗をそれぞれ検出して平均した
電気抵抗から穀物の水分を測定する装置におい
て、一方の電極を変位自在として弾力支持した一
対の電極と、一対の電極が１粒の試料穀物を挟ん
だ際に上記変位自在の電極の変位量から電極間の
ギヤツプ変化を検出するギヤツプ検出器と、各測
定回ごとの電気抵抗および電極間のギヤツプ変化
を記憶するメモリ回路と、データ処理を行う電極
間のギヤツプ値を記憶メモリより計算設定して電
極間のギヤツプがその設定値より小さいときは検
出された電気抵抗のデータを無視し、またはその
電気抵抗のデータの平均値に対する影響度を小く
するデータ処理回路と、データ処理回路で処理さ
れたデータに基いて平均水分値および水分分布値
を求める水分値算出回路を備えて構成したことを
特徴とする穀物の水分測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP705287A JPS63175757A (ja) | 1987-01-15 | 1987-01-15 | 穀物の水分測定方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP705287A JPS63175757A (ja) | 1987-01-15 | 1987-01-15 | 穀物の水分測定方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63175757A JPS63175757A (ja) | 1988-07-20 |
| JPH0439905B2 true JPH0439905B2 (ja) | 1992-07-01 |
Family
ID=11655290
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP705287A Granted JPS63175757A (ja) | 1987-01-15 | 1987-01-15 | 穀物の水分測定方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63175757A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108956120B (zh) * | 2018-08-01 | 2020-01-17 | 国网宁夏电力有限公司电力科学研究院 | 一种变压器检测机器人 |
-
1987
- 1987-01-15 JP JP705287A patent/JPS63175757A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63175757A (ja) | 1988-07-20 |
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