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JPH0449907B2 - - Google Patents
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JPH0449907B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0449907B2
JPH0449907B2 JP59218298A JP21829884A JPH0449907B2 JP H0449907 B2 JPH0449907 B2 JP H0449907B2 JP 59218298 A JP59218298 A JP 59218298A JP 21829884 A JP21829884 A JP 21829884A JP H0449907 B2 JPH0449907 B2 JP H0449907B2
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JP
Japan
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section
test object
wafer
storage case
transport
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP59218298A
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English (en)
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JPS6197555A (ja
Inventor
Keiya Katsume
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Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
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Publication date
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Publication of JPH0449907B2 publication Critical patent/JPH0449907B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L1/00Enclosures; Chambers
    • B01L1/04Dust-free rooms or enclosures

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Clinical Laboratory Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明はウエーハなどの被検物の表面の傷や
ゴミなどを検査するための表面検査装置に関する
ものである。
従来の技術 従来、ウエーハなどの被検物(以下単にウエー
ハを例にとつて説明する)の表面にレーザービー
ムを照射して、この反射ビームを検出することに
よりウエーハの表面の傷やゴミなどを検査する表
面検査装置はよく知られている。
この種の表面検査装置においては、多数のウエ
ーハを予めキヤリヤやカセツトなどの収納ケース
部にセツトしておき、収納ケース部から各ウエー
ハを順次取りだして、チヤツク部でウエーハを固
定した状態のまま、ウエーハを順次検査装置本体
の測定部に搬送していき、ウエーハを回転させつ
つ水平面内で移動させ、その際に測定部でウエー
ハの表面検査を行い、そのように検査されたウエ
ーハを順次別の収納ケース部に搬送して収納する
ようになつていた。
発明が解決しようとする問題点 ところが、このような検査装置は高レベルの完
全なクリーンルームに設置することを必須として
いた。しかし、ウエーハの枚数が著しく増大する
とともに、ウエーハの寸法も大きくなる傾向が強
くなつてきたため、高レベルのクリーンルームで
なくても使用できる表面検査装置が要望されるよ
うになつてきた。
また、各ウエーハを測定検査結果を表示するブ
ラウン管等の表示器の設置場所が問題になつてい
る。
発明の目的 この発明の目的はこのような実情を勘案して、
一般的にクリーンルームにおいても検査装置の測
定部を十分にクリーンに保持して使用でき、しか
もブラウン管を巧みに配置した表面検査装置を提
供することにある。
発明の要旨 この発明の要旨とするところは、被検物の表面
にレーザ光を照射して、その反射光により被検物
表面を自動的に測定するための表面検査装置にお
いて、検査装置本体の測定部にクリーンスペース
を形成し、そのクリーンスペース上部にクリーン
ユニツトを設け、そのクリーンユニツトに測定結
果を表示する表示器を設けたことを特徴とする表
面検査装置にある。
実施例 第1図は、搬送装置を備えていて、それにより
ウエーハ等の被検物(以下単にウエーハを例にと
つて説明する)を搬送して、その途中で検査する
ための検査装置の概略を示している。
検査装置の測定部10は周知のように光源11
からレーザをウエーハ14に照射して表面の異常
によつて生ずる散乱反射光をフオトマルチプライ
ヤー管などの光電変換素子12により受光して電
気的信号として取り出し、その電気信号を制御装
置13に送り、そこで所定のデータ処理をして、
ウエーハ14の表面上の傷、ゴミ、よごれなどを
計測してブラウン管(CTR)15などの表示器
やプリンター16に出力するようになつている。
ウエーハ14は第1図の測定状態のときにはタ
ーンテーブル式のチヤツク部17にバキユウム作
用によつて固定される。チヤツク部17のバキユ
ウム穴17aはバキユウム源18に接続されてお
り、必要に応じてウエーハ14をバキユウムによ
り固定保持できるようになつている。
第1収納ケース部20と第2収納ケース部23
がそれぞれ出発側と終点側とに設けられていて、
多数のウエーハ14が第1収納ケース部20に収
納されており、その収納ケース部20から1枚ず
つウエーハ14を水平面内で第1搬送部21によ
り搬送するようになつている。そして、各ウエー
ハ14は後述の第1被検物受台部29を介してチ
ヤツク部17に移され、そこにバキユウムにより
固定保持される。チヤツク部17は測定部10を
通過して反対側の第2搬送部22に後述の第2被
検物受台部42を介して移される。この第2搬送
部22により搬送されて各ウエーハ14は第2収
納ケース部23に順次収納される。
第2図と第3図に詳細に示してあるように、第
1搬送部21はフレーム25の両側にそれぞれ柔
軟なエンドレス状の搬送メンバー26,27によ
りコンベヤの形になつており、搬送メンバー2
6,27でウエーハ14の周縁部を支持して、第
1収納ケース部20から第1被検物受台部29に
ウエーハ14を搬送するようになつている。搬送
メンバー26,27の駆動力はベルト28を介し
てモータ19から伝達される。
エレベータ30は搬送メンバー26,27の一
端側に配置してあり、その上の所定位置に第1収
納ケース部20が着脱自在にセツトできるように
なつている。エレベーター30の上部は全体がほ
ぼH形状をしており、その上面にセツトした第1
収納ケース部20を上下方向に所定の量だけ移動
させることができる。このエレベーター30には
メネジ部(図示せず)が形成してあり、それが垂
直のネジ棒31と係合しており、さらにそのネジ
棒31は歯車32を介してモータ33側のギアに
接続されている。つまり、モータ33の駆動力が
ネジ棒31に伝えられて、エレベーター30を上
下方向に移動させるようになつている。
他方、第1搬送部21の搬送メンバー26,2
7の他端側には第1被検物受台部29が設けてあ
る。この第1被検物受台部29の中心部には円形
の穴が形成されており、その穴の縁にウエーハの
大きさに対応した大きさをもつ段付き形状の受部
29aが形成されている。
この段付き形状の受部29aは、搬送メンバー
26により搬送されるウエーハ14を定まつた位
置に支持するとともに、後述するチヤツク部17
に接合されているシヤフト45が干渉しない形状
に構成される。ウエーハ14の周縁部にはその受
部29aに入つて支持されるようになつている。
この第1被検物受台部29は、測定をするウエ
ーハの大きさに対応して交換可能になつており、
ウエーハが大型の場合には、点線Nで示す大きさ
の受台を有する受台部が取付けられる。
第2搬送部22の側にも前述の第1搬送部21
と同様の搬送機構が備えられており、同じ参照符
号を付してその説明は省略する。
第4図及び5図に示されるように、第1被検物
受台部29は垂直に配置した2本の連結棒35の
上端にナツト36により着脱可能に固定されてい
る。これらの連結棒35はガイド37によりガイ
ドされつつ上下に移動可能となつている。連結棒
35の下端は第5図に示すように平板状の従動体
38に固定されている。モータ39の回転軸40
が偏心カム41に固定されており、その偏心カム
41が前述の従動体38と係合している。そのた
め、モータ39の回転に応じて偏心カム41の作
用によつて連結棒35と第1被検物受け台部29
が一緒に上下方向に移動可能となつている。
第2被検物受台部42は前述の第1被検物29
と同様の上下移動機構を有しているので、同じ参
照符号を符して、その説明は省略する。
測定部10の作動機構について詳細に説明する
と、テーブル式のチヤツク部17の中心にバキユ
ウム穴17aが形成されており、このバキユウム
穴17aが前述のようにバキユウム源18に接続
されている。チヤツク部17はモータ46のシヤ
フト45に結合されており、モータ46に隣接し
てエンコーダ47が設けてある。このような構成
によりモーター46の回転力がチヤツク部17に
伝達されて所定の速度で回転するようになつてい
る。チヤツク部17やモータ46その他のフレー
ム52にユニツトとして固定されていて、全体的
にガイドレール50,51に沿つて第4図におい
て左右方向に移動可能のなつている。横方向に配
置したネジ棒53がフレーム52側のメネジ部
(図示せず)とネジ係合しており、そのネジ棒5
3はベルト54を介してモータ55によつて回転
されるようになつている。
なお、本実施例ではチヤツク部17は、ウエー
ハを回転させながら同時に水平面内で搬送するよ
うに構成しているが、ウエーハに照射するレーザ
光をスキヤンさせるように構成すれば、チヤツク
部17は回転させる必要はない。
第2図と第6図に示すように、第1搬送部21
と第2搬送部22の特にエレベーター30の収納
ケース設置部分には、収納ケース部用の形状検出
手段が設けてある。すなわち、エレベーター30
の収納ケース設置部分の上面に3つの穴30a,
30b,30cを形成し、それぞれの穴30a,
30b,30cにマイクロスイツチ50を設定し
て、そこにセツトされる第1収納ケース部20の
形状(とくに寸法を検出できるようにしてある。
例えば3種類の収納ケース部20が使用される場
合、大型のものをセツトしたとき外側の穴30a
に設けたマイクロスイツチ50が作動し、中型の
ものがセツトされたときは中側の穴30bのマイ
クロスイツチ50が作動し、小型のものがセツト
されたときは内側の穴30cのマイクロスイツチ
50が作動するようになつている。これらのマイ
クロスイツチ50は前述の制御装置13(第1
図)に電気的に接続されている。
また、第1被検物受台部29と第2被検物受台
部42にも、その形状、とくに受部29a,42
aの寸法を検出するための手段が設けられてい
る。すなわち、第7図に示すように、これらの被
検物受台部29,42の裏面にそれぞれ3つの穴
29b(図には1つのみを示してあるが実際には
3つある)を形成して、それに対してマイクロス
イツチ52が設定してある。3つのマイクロスイ
ツチ52のうち、どのマイクロスイツチ52が作
動するかにより、実際に装着された第1被検物受
台部29と第2被検物42の形状を検出するよう
になつているのである。これらのマイクロスイツ
チ52も制御装置13に接続されている。
第1および第2収納ケース部20,23と第1
および第2被検物受台部29,42の形状が一致
したときにのみ、検査装置全体が作動可能となる
ように予め制御装置13(第1図)が設定してあ
る。
第8図は前述のような搬送装置を備えた表面検
査装置の外観の一例を示している。表面検査装置
の下方部に検査装置本体60が配置してあり、そ
の検査装置本体60の内部に制御装置13、プリ
ンタ16、その他の主要な部材が配置してある。
検査装置本体60の上部にはエレベータ30、第
1搬送部21、第2搬送部22、チヤツク部17
などが配置してあり、そのチヤツク部17のとこ
ろに前述のカバー部65によりカバーされた測定
部10が配置してあるのである。この測定部10
の上部ににクリーンユニツト62が設けられてあ
る。クリーンユニツト62と検査装置本体60と
の間に狭小なクリーンスペース63が形成してあ
る。測定部10はそのクリーンスペース63の中
に配置してあり、測定部10が極めてクリーンな
状態で使用できるようになつている。クリーンユ
ニツト62はクリーンスペース63内の空気をき
れいにするための周知の空気清浄機構を備えてお
り、清浄な空気を下方に送る。カバー部65は、
測定部10に有害な外光が混入しないように、か
つ上方から空気によりクリーンスペース63内に
測定の支障となる乱気流が起きないような形状に
構成されている。クリーンスペース63は3方あ
るいは4方の透明の板によつて形成されている。
もちろん、4方の透明の板によつて密閉状態に保
たれた場合には、前方の透明な板は必要に応じて
開閉できるようになつている。
また、ウエーハ14の測定結果を示すためのブ
ラウン管15がクリーンユニツト62に内蔵され
ている。このブラウン管15は、外光の反射を受
けずに、測定者が観察し易いように下方に頃けて
内蔵されている。
第9図は第1〜7図に示した搬送装置の作用を
示すための説明図である。まず、第1および第2
収納ケース部20,23をエレベータ30にセツ
トして、表面検査装置のスタートボタンを押す
と、第2図に示す初期設定の状態になる。すなわ
ち、両方の収納ケース部20,23が最も上昇し
た状態でエレベータ30の上面に配置されてい
る。この後、出発側の第1収納ケース部20の収
納段の一段分だけ下降し、それと平行して終点側
の第2収納ケース部23は最下位置まで下降され
る。
しかるのち出発側の第1収納ケース部20が一
段分下がることに一枚のウエーハ14が第1搬送
部21の搬送メンバー26,27の上に設置さ
れ、それにより矢印1の方向に搬送される。ウエ
ーハ14が第1被検物受台部29のところにきた
とき、第1被検物受台部29が矢印2の方向に上
昇して、ウエーハ14は第1搬送部21から第1
被検物受台部29に移される。そしてウエーハ1
4は第1被検物受台部29に保持されてさらに矢
印2の方向に上昇する。この後チヤツク部17が
そのウエーハ14の下側に矢印3の方向から移動
してきて停止する。しかるのち第1被検物受台部
29が矢印4の方向に下降する。そしてウエーハ
14は第1被検物受台部29からチヤツク部17
に移され、そのチヤツク部17によつてバキユー
ム作用で固定される。そして、チヤツク部17が
回転しつつ矢印5の方向に移動し、その間に測定
部10より所定の測定が行なわれる。チヤツク部
17が第2被検物受台部42のところにくると、
チヤツク部17のバキウム作用が停止してウエー
ハ14が解放状態となる。しかるのち第2被検物
受台部42が矢印6の方向に上昇してチヤツク部
17からのウエーハ14を受けとる。その後チヤ
ツク部17は矢印7、3の方向に移動する。その
間に第2被検物受台部42は再び矢印8の方向に
下降する。かくしてウエーハ14は第2被検物受
台部42から第2搬送部22に移され、第2搬送
部22により矢印9の方向に搬送される。最終的
に第2搬送部22から終点側の第2収納ケース部
23の最上段のしかるべき位置に収納される。
以上のような搬送・測定動作を各ウエーハ14
毎に繰り返し行い、出発側の第1収納ケース部2
0の各ウエーハ14を終点側の第2収納ケース部
23の所定の段に順次上段から下方に向つて収納
していくのである。
【図面の簡単な説明】
第1図は搬送装置を備えた検査装置の概略を示
すブロツク図、第2図は搬送装置の概略を示す斜
視図、第3図は搬送装置のうち第1搬送部を示す
概略斜視図、第4図は搬送装置のうちチヤツク部
の関連機構を示す概略斜視図、第5図は被検物受
台の駆動機構の一部を示す概略正面図、第6図は
搬送装置の収納ケース設置部分を拡大して示す平
面図、第7図は被検物受け台部の形式検出手段を
示す概略断面図、第8図は被検物の表面検査装置
の外観を示す概略斜視図、第9図は被検物の搬送
経路を示す概略説明図である。 10……測定部、21……第1搬送部、22…
…第2搬送部、20,23……収納ケース部、1
4……被検物(ウエーハ)、30……エレベータ
ー、29,42……被検物受台部、17……チヤ
ツク部、13……制御装置、15……ブラウン
管、60……検査装置本体、62……クリーンユ
ニツト、63……クリーンスペース。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 被検物の表面にレーザ光を照射して、その反
    射光により被検物表面を自動的に測定するための
    表面検査装置において、検査装置本体の測定部に
    クリーンスペースを形成し、そのクリーンスペー
    ス上部にクリーンユニツトを設け、そのクリーン
    ユニツトに測定結果を表示する表示器を設けたこ
    とを特徴とする表面検査装置。
JP21829884A 1984-10-19 1984-10-19 表面検査装置 Granted JPS6197555A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21829884A JPS6197555A (ja) 1984-10-19 1984-10-19 表面検査装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP21829884A JPS6197555A (ja) 1984-10-19 1984-10-19 表面検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6197555A JPS6197555A (ja) 1986-05-16
JPH0449907B2 true JPH0449907B2 (ja) 1992-08-12

Family

ID=16717641

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21829884A Granted JPS6197555A (ja) 1984-10-19 1984-10-19 表面検査装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5549183Y2 (ja) * 1975-07-25 1980-11-17
JPS57120936A (en) * 1981-01-21 1982-07-28 Hitachi Ltd Step and repeat camera device
JPS58146805A (ja) * 1982-02-24 1983-09-01 Sumitomo Special Metals Co Ltd 平面度測定装置

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JPS6197555A (ja) 1986-05-16

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