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JPH0452422B2 - - Google Patents
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JPH0452422B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0452422B2
JPH0452422B2 JP57171432A JP17143282A JPH0452422B2 JP H0452422 B2 JPH0452422 B2 JP H0452422B2 JP 57171432 A JP57171432 A JP 57171432A JP 17143282 A JP17143282 A JP 17143282A JP H0452422 B2 JPH0452422 B2 JP H0452422B2
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JP
Japan
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digital
converter
analog
adder
position signal
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP57171432A
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English (en)
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JPS5960383A (ja
Inventor
Tsunekazu Matsuyama
Yoshihiko Kumazawa
Masaaki Tochi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
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Publication of JPS5960383A publication Critical patent/JPS5960383A/ja
Publication of JPH0452422B2 publication Critical patent/JPH0452422B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/161Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
    • G01T1/164Scintigraphy
    • G01T1/1641Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
    • G01T1/1642Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Nuclear Medicine (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はAD変換器を用いたシンチレーシヨ
ンカメラの改良に関する。
一般にシンチレーシヨンカメラは第1図に示す
ように、シンチレータ11と、光電変換器12
と、この光電変換器出力により入射した放射線の
位置及びエネルギの計算を行なう位置及びエネル
ギ計算回路13とを備え、この位置及びエネルギ
計算回路13から位置信号X,Y及びエネルギ信
号Zを得るものであるが、位置信号X,YをAD
変換しそのデイジタル信号を用いて直線性補正な
どのメモリをアクセスして補正量を算出する場
合、次のような問題点がある。まずAD変換器2
1,22の非直線性により画像に縞目が表われ
る。これはAD変換器に非直線性が存在すると、
たとえば入力のある値に対応すべき出力コードが
生じる確率が他のコードに比して著しく低かつた
り、逆に入力の1ステツプに対応すべき出力コー
ドが入力の2または3ステツプにまたがりその出
力コードの表われる確率が他の2または3倍にな
るなど、データに滑らかさがなくなつてしまうか
らである。第2にシンチレータ、ライトガイド及
び光電変換器等の光学系の構成に起因して一様な
イメージを撮影しても画像に疎の部分と密の部分
とが存在する現象、すなわち空間的非直線性にも
とづく不均一性が生じるのが避けられないが、こ
の不均一性が大きい部分では最小画素の補正量を
補間法によつて計算する場合、この補間画素のレ
ベルで不均一性が残つてしまう。すなわちデイジ
タル補間計算では補正前後のデイジタル空間が写
像とならないため最終的な表示画素レベルによつ
て縞目が生じてしまう。これは微分不均一性の大
きい部分、すなわち補正量及び補正量変化率の大
きい部分で特に顕著となる。
この発明は上記に鑑み、上記の第1のAD変換
器の非直線による問題を改善するとともに、同時
に上記の第2の不均一性の問題をも改善すること
ができるシンチレーシヨンカメラを提供すること
を目的とする。
以下、この発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。第2図において、アナログ信
号の位置信号X,YはAD変換器21,22の前
の段階でアナログ減算器31,32において乱数
ΔRX、ΔRYにより減算される。この乱数は、エネ
ルギ信号Zの波高分析をする波高分析器14から
出力されるアンブランク信号でトリガされた乱数
発生器41,42により得たデイジタルの乱数
を、DA変換器51,52でアナログ化したもの
である。AD変換器21,22ではこの信号(X
−ΔRX)、(Y−ΔRY)のAD変換を行なう。この
AD変換後の各信号は補正計算回路15に送られ
る。補正計算回路15は直線性補正等のための補
正量が記憶されたメモリを有しており、このメモ
リを(X−ΔRX)、(Y−ΔRY)のデイジタル値で
アクセスして補正量ΔX、ΔYを読み出す。この
補正量ΔX、ΔYは位置(X−ΔRX、Y−ΔRY
に関するものであるから、 ΔX(X−ΔRX、Y−ΔRY) ΔY(X−ΔRX、Y−ΔRY) と表現することとする。そしてこの補正量がデイ
ジタル加算器61,62においてA変換器21,
22の出力に加えられる。従つて、加算後の信号
はそれぞれ (X−ΔRX) +ΔX(X−ΔRX、Y−ΔRY) (Y−ΔRY) +ΔY(X−ΔRX、Y−ΔRY) となる。この信号はデイジタル加算器71,72
に送られ、前記の乱数と同一の乱数ΔRX、ΔRY
デイジタル値が加算される。従つて加算後の信号
X′、Y′は X′=(X−ΔRX)+ΔX(X−ΔRX、Y
−ΔRY)+ΔRX……(1) Y′=(Y−ΔRY)+ΔY(X−ΔRX、Y
−ΔRY)+ΔRY……(2) となる。そのため乱数ΔRX、ΔRYは結局キヤンセ
ルされることになる。
このようにAD変換の前後で乱数の減算と加算
を行ない結局キヤンセルするようにしているた
め、AD変換器21,22に非直線性があつて、
たとえばあらわれる確率が他の出力コードに較べ
て低い出力コードやあらわれる確率が他の出力コ
ードの2または3倍となつているような出力コー
ドがある場合でも、これらの出力コードに相当す
る入力がランダムに散らばるので平均化され、出
力データに滑らかさが失なわれることを防ぐこと
ができ、上述の画像に縞目が表われるという第1
の問題点が改善される。
不均一性に関する第2の問題点が改善される理
由は次の通りである。第3図に示すように、点P
(X、Y)における補正量ΔX(X、Y)、ΔY(X、
Y)を求めてこの補正量を加えると点線のように
補正後の点P0′が得られる。このP0′の座標を
(X0′、Y0′)とすると、 X0′=X+ΔX(X、Y) Y0′=Y+ΔY(X、Y) となる。この点PのX、Yに対して乱数ΔRX
ΔRYを減算するとその座標は点Qになる。そして
この点Qに関する補正量が加えられると前記の加
算器61,62の出力となり、これが点Q′とな
る。そして乱数ΔRX、ΔRYをこの点Qに加えると
P1′となる。このP1′の座標は前記(1)、(2)式で示さ
れる通りである。従つて点Pの位置信号が得られ
たにもかかわらずその周辺の位置Qに関する補正
量で補正された点P1′が得られることになる。そ
して補正量変化率の大きい部分では補正量ΔX
(X、Y)、ΔY(X、Y)と補正量ΔX(X−ΔRX
Y−ΔRY)、ΔY(X−ΔRX、Y−ΔRY)との差が
大きいので、点P0′に対して点P1′が散らばる度合
が大きくなり、補正量変化率が殆んどない部分で
は周辺の点に関する補正量で補正したとしても補
正量は変らないから結局P0′の点となる。このよ
うに補正量変化率の大きい部分では補正後の位置
をより散らばせて平均化できるので均一性の改善
がなされることになる。
上記の実施例ではAD変換器21,22の前で
乱数を減算し後で乱数を加算するようにしたが、
逆に前で加算し後で減算しても全く同じである。
また上記実施例では加算器61,62で補正量
ΔX、ΔYを加算後、加算器71,72で乱数
ΔRX、ΔRYを加算したが、順序を逆にしても同じ
である。
以上、実施例について説明したように、この発
明によるシチレーシヨンカメラでは、AD変換器
の前でアナログ位置信号に対し、入力されたアナ
ログ値を加減算するアナログ加減算器と、前記
AD変換器の後においてデイジタル位置信号に対
し、入力されたデイジタル値を、前記のアナログ
加減算器とは逆に加減算するデイジタル加減算器
と、発生した乱数のアナログ値を前記アナログ加
減算器に送るとともにそれと同一の乱数のデイジ
タル値を前記デイジタル加減算器に送る乱数発生
器と、前記AD変換器から出力された前記デイジ
タル加減算器に入力される前のデイジタル位置信
号により示される位置に依存した直線性補正を、
前記AD変換器の後におけるデイジタル位置信号
に対して行なうデイジタル位置信号補正回路とを
備えることが特徴となつている。そして、AD変
換器の前後で同一の乱数を加減算して結果的には
それらの乱数をキヤンセルしたデイジタル位置信
号を得ることによりAD変換器の非直線性の悪影
響を改善するができ、同時に、乱数の付加された
デイジタル位置信号により位置信号を補正するこ
とにより、画像の不均一性を改善することができ
る。すなわち、本発明によると、AD変換器の直
線性が悪い場合でもその悪影響を除去することが
できるとともに、画像の均一性をも同時に改善す
ることが可能である。さらに、補正量変化率が大
きくて均一性が悪い部分ではその大きな補正量変
化率にみあつたばらつき度合で平均化することに
より均一性を改善し、補正量変化率が小さく均一
性の良好な部分では何らの加工も加えないに等し
く、全体として分解能や直線性の劣化を小さく抑
えながら均一性の改善を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来例のブロツク図、第2図はこの発
明の一実施例のブロツク図、第3図は動作説明の
ための模式図である。 11……シンチレータ、12……光電変換器、
13……位置及びエネルギ計算回路、14……波
高分析器、15……補正計算回路、21,22…
…AD変換器、31,32……アナログ減算器、
41,42……乱数発生器、51,52……DA
変換器、61,62,71,72……デイジタル
加算器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 シンチレータと、光電変換器と、位置及びエ
    ネルギ計算回路と、この位置及びエネルギ計算回
    路から得られたアナログ位置信号をAD変換して
    デイジタル位置信号を得るAD変換器とを備える
    シンチレーシヨンカメラにおいて、前記AD変換
    器の前でアナログ位置信号に対し、入力されたア
    ナログ値を加減算するアナログ加減算器と、前記
    AD変換器の後においてデイジタル位置信号に対
    し、入力されたデイジタル値を、前記のアナログ
    加減算器とは逆に加減算するデイジタル加減算器
    と、発生した乱数のアナログ値を前記アナログ加
    減算器に送るとともにそれと同一の乱数のデイジ
    タル値を前記デイジタル加減算器に送る乱数発生
    器と、前記AD変換器から出力された前記デイジ
    タル加減算器に入力される前のデイジタル位置信
    号により示される位置に依存した直線性補正を、
    前記AD変換器の後におけるデイジタル位置信号
    に対して行なうデイジタル位置信号補正回路とを
    備えることを特徴とするシンチレーシヨンカメ
    ラ。
JP17143282A 1982-09-30 1982-09-30 シンチレ−シヨンカメラ Granted JPS5960383A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2569013B1 (fr) * 1984-08-10 1986-12-05 Labo Electronique Physique Dispositif de mesure de radiations a scintillateur et tube photomultiplicateur, et camera a scintillation equipee d'un tel dispositif
JP4717940B2 (ja) * 2009-10-26 2011-07-06 キヤノン株式会社 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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