JPH0531732B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0531732B2 JPH0531732B2 JP60049950A JP4995085A JPH0531732B2 JP H0531732 B2 JPH0531732 B2 JP H0531732B2 JP 60049950 A JP60049950 A JP 60049950A JP 4995085 A JP4995085 A JP 4995085A JP H0531732 B2 JPH0531732 B2 JP H0531732B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- measured
- detection element
- spectroscopic means
- comparison
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、被測定対象の性状を光学的に測定
する装置に関するものである。
する装置に関するものである。
［従来の技術］
従来、光を利用して、被測定対象の厚み、水
分、色あい等を測定する装置が知られている。た
とえば、水分を吸収する波長帯の光と、水分を吸
収しない波長帯の光との比率から、水分率等の被
測定対象の性状を測定している。
分、色あい等を測定する装置が知られている。た
とえば、水分を吸収する波長帯の光と、水分を吸
収しない波長帯の光との比率から、水分率等の被
測定対象の性状を測定している。
［この発明が解決しようとする問題点］
しかしながら、被測定対象に着色物やその他の
物が混入すると、第２図で示すように、分光特性
に傾きを生じる場合がある。このため、測定波長
の両側に２つの比較波長帯を設け、この比較波長
帯の２つの成分の平均を用いて比率をとる方法が
考えられる。
物が混入すると、第２図で示すように、分光特性
に傾きを生じる場合がある。このため、測定波長
の両側に２つの比較波長帯を設け、この比較波長
帯の２つの成分の平均を用いて比率をとる方法が
考えられる。
ところが、このように、測定波長、比較波長を
増加させて行くと、必要波長の数に応じたフイル
タ、検出素子を必要とし、また、演算要素も多く
なり、複雑、高価なものとなる問題点があつた。
増加させて行くと、必要波長の数に応じたフイル
タ、検出素子を必要とし、また、演算要素も多く
なり、複雑、高価なものとなる問題点があつた。
この発明の目的は、以上の点に鑑み、比較波長
の２つの成分を同時に得るようにし、測定系の簡
素化、高精度化を図つた光学的測定装置を提供す
ることである。
の２つの成分を同時に得るようにし、測定系の簡
素化、高精度化を図つた光学的測定装置を提供す
ることである。
［問題点を解決するための手段］
この発明は、被測定対象からの透過光または反
射光のうち測定波長帯の成分の第１の信号と、被
測定対象からの透過光または反射光のうち測定波
長帯の両側の２つの比較波長帯の２つの成分を含
む第２の信号との比率から被測定対象の性状を測
定するようにした光学的測定装置である。
射光のうち測定波長帯の成分の第１の信号と、被
測定対象からの透過光または反射光のうち測定波
長帯の両側の２つの比較波長帯の２つの成分を含
む第２の信号との比率から被測定対象の性状を測
定するようにした光学的測定装置である。
［実施例］
第１図は、この発明の一実施例を示す構成説明
図である。
図である。
図において、１は、投光用の光源で、この光源
１の光は、投光レンズ２で被測定対象３に投光さ
れ、その透過光または反射光は集光レンズ４で集
光され、モータＭにより回転する回転セクタ５に
設けられた第２図の測定波長λ2を通過させるフイ
ルタ５１、測定波長λ2の両側の２つの比較波長
λ1，λ3をともに通過させるフイルタ５２を介して
検出素子６に入射する。この検出素子６の検出信
号は増幅器７により増幅され、測定波長帯の測定
波長λ2の成分に対応した第１の信号e1、および比
較波長帯の比較波長λ1，λ3の両方の成分を含む第
２の信号e2が、回転セクタ５に設けられた同期信
号発生器９の同期信号により、第１、第２のサン
プルホールド回路８１，８２にホールドされる。
そして、割算回路１０により第１、第２のサンプ
ルホールド回路８１，８２の第１、第２の信号
e1，e2の比率e1／e2をとり、被測定対象３の水分
率その他の性状の測定信号e0を取り出すことがで
きる。これら、サンプルホールド回路８１，８
２、割算回路１０の機能をメモリを含むマイクロ
コンピユータ、パーソナルコンピユータ等の演算
手段により実現してもよい。
１の光は、投光レンズ２で被測定対象３に投光さ
れ、その透過光または反射光は集光レンズ４で集
光され、モータＭにより回転する回転セクタ５に
設けられた第２図の測定波長λ2を通過させるフイ
ルタ５１、測定波長λ2の両側の２つの比較波長
λ1，λ3をともに通過させるフイルタ５２を介して
検出素子６に入射する。この検出素子６の検出信
号は増幅器７により増幅され、測定波長帯の測定
波長λ2の成分に対応した第１の信号e1、および比
較波長帯の比較波長λ1，λ3の両方の成分を含む第
２の信号e2が、回転セクタ５に設けられた同期信
号発生器９の同期信号により、第１、第２のサン
プルホールド回路８１，８２にホールドされる。
そして、割算回路１０により第１、第２のサンプ
ルホールド回路８１，８２の第１、第２の信号
e1，e2の比率e1／e2をとり、被測定対象３の水分
率その他の性状の測定信号e0を取り出すことがで
きる。これら、サンプルホールド回路８１，８
２、割算回路１０の機能をメモリを含むマイクロ
コンピユータ、パーソナルコンピユータ等の演算
手段により実現してもよい。
つまり、回転セクタ５の分光手段としてフイル
タ５１は、第３図Ａで示すような波長λ2の単一の
ピークの透過率特性をもち、フイルタ５２は、第
３図Ｂで示すように、波長λ1，λ3のダブルピーク
の透過率特性をもつ。このフイルタ５２を用いる
ことにより、第２図の測定波長λ2の両側の比較波
長λ1，λ3の成分の和に相当するものが得られ、結
局、傾きに起因する比較波長λ1成分の増加分と比
較波長λ3の減少分とは相殺され、常に正しい測定
が可能となる。
タ５１は、第３図Ａで示すような波長λ2の単一の
ピークの透過率特性をもち、フイルタ５２は、第
３図Ｂで示すように、波長λ1，λ3のダブルピーク
の透過率特性をもつ。このフイルタ５２を用いる
ことにより、第２図の測定波長λ2の両側の比較波
長λ1，λ3の成分の和に相当するものが得られ、結
局、傾きに起因する比較波長λ1成分の増加分と比
較波長λ3の減少分とは相殺され、常に正しい測定
が可能となる。
第４図は、他の実施例を示す構成説明図で、光
源１の光は、光フアイバー１１により被測定対象
３に投光され、その反射光は再び光フアイバー１
１により伝送され、ハーフミラー１２により分離
され、ハーフミラー１２を反射した光は、測定波
長λ2を透過させるフイルタ５１を介して検出素子
６１に入射し、ハーフミラー１２を透過した光は
比較波長λ1，λ3の両方を透過させるフイルタ５２
を介して検出素子６２に入射し、検出素子６１，
６２の出力e1，e2は測定手段１３で比率がとら
れ、測定信号e0を取り出すことができる。
源１の光は、光フアイバー１１により被測定対象
３に投光され、その反射光は再び光フアイバー１
１により伝送され、ハーフミラー１２により分離
され、ハーフミラー１２を反射した光は、測定波
長λ2を透過させるフイルタ５１を介して検出素子
６１に入射し、ハーフミラー１２を透過した光は
比較波長λ1，λ3の両方を透過させるフイルタ５２
を介して検出素子６２に入射し、検出素子６１，
６２の出力e1，e2は測定手段１３で比率がとら
れ、測定信号e0を取り出すことができる。
第５図は、他の実施例を示し、被測定対象３か
らの光は、分光手段としての分光ミラー１４によ
り分離され、分光ミラー１４は波長λ1，λ3の両方
の光を透過させて検出素子６２に入射させ、分光
ミラー１４を反射した光は、波長λ1，λ3を除いた
光なので、波長λ2の光を透過するフイルタ５１を
介して検出素子６１に入射する。これら検出素子
６１，６２の出力e1，e2の比を測定手段１３でと
り、測定出力e0が取り出せる。
らの光は、分光手段としての分光ミラー１４によ
り分離され、分光ミラー１４は波長λ1，λ3の両方
の光を透過させて検出素子６２に入射させ、分光
ミラー１４を反射した光は、波長λ1，λ3を除いた
光なので、波長λ2の光を透過するフイルタ５１を
介して検出素子６１に入射する。これら検出素子
６１，６２の出力e1，e2の比を測定手段１３でと
り、測定出力e0が取り出せる。
第６図は、他の実施例を示し、光源１の光は、
測定波長λ2を透過するフイルタ５１、比較波長
λ1，λ3を透過するフイルタ５２を有する回転セク
タ５を介して被測定対象３に投光され、その透過
光または反射光は検出素子６により検出され、測
定手段１３により前述と同様な比率演算がなさ
れ、被測定対象３の性状の測定が行われる。
測定波長λ2を透過するフイルタ５１、比較波長
λ1，λ3を透過するフイルタ５２を有する回転セク
タ５を介して被測定対象３に投光され、その透過
光または反射光は検出素子６により検出され、測
定手段１３により前述と同様な比率演算がなさ
れ、被測定対象３の性状の測定が行われる。
［発明の効果］
以上述べたように、この発明は、２つの比較波
長をともに通過させるフイルタ、ミラー等の分光
手段を用いて得られた２つの比較波長を含む信号
を用いて比率演算を行つているので、装置が簡単
で、しかも高精度の光学測定が可能となる。
長をともに通過させるフイルタ、ミラー等の分光
手段を用いて得られた２つの比較波長を含む信号
を用いて比率演算を行つているので、装置が簡単
で、しかも高精度の光学測定が可能となる。
第１図、第２図、第３図、第４図、第５図、第
６図は、この発明の一実施例を示す説明図であ
る。 １…光源、２…投光レンズ、３…被測定対象、
４…集光レンズ、５…回転セクタ、５１，５２…
フイルタ、６，６１，６２…検出素子、７…増幅
器、８１，８２…サンプルホールド回路、９…同
期信号発生器、１０…割算器、１１…光フアイバ
ー、１２…ハーフミラー、１３…測定手段、１４
…分光ミラー。
６図は、この発明の一実施例を示す説明図であ
る。 １…光源、２…投光レンズ、３…被測定対象、
４…集光レンズ、５…回転セクタ、５１，５２…
フイルタ、６，６１，６２…検出素子、７…増幅
器、８１，８２…サンプルホールド回路、９…同
期信号発生器、１０…割算器、１１…光フアイバ
ー、１２…ハーフミラー、１３…測定手段、１４
…分光ミラー。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被測定対象からの透過光または反射光のうち
測定波長帯の成分の光を透過する第１の分光手段
と、被測定対象からの透過光または反射光のうち
測定波長帯の両側の２つの比較波長帯の２つの成
分の両方の光を同時に透過する第２の分光手段
と、これら第１の分光手段を透過した光と第２の
分光手段を透過した光とを交互に分離して検出素
子に導く手段と、この検出素子の検出信号のうち
第１の分光手段を透過した成分に対応する第１の
信号と第２の分光手段を透過した成分に対応する
第２の信号との比に基き被測定対象の性状を測定
するする測定手段とを備えた光学的測定装置。 ２ 前記交互に分離して検出素子に導く手段とし
て、第１の分光手段、第２の分光手段を設けた回
転セクタ、または被測定対象からの光を分離する
ミラーを用いたことを特徴とする特許請求の範囲
第１項記載の光学的測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4995085A JPS61209339A (ja) | 1985-03-13 | 1985-03-13 | 光学的測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4995085A JPS61209339A (ja) | 1985-03-13 | 1985-03-13 | 光学的測定装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15486486A Division JPS6211128A (ja) | 1986-07-01 | 1986-07-01 | 光学的測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61209339A JPS61209339A (ja) | 1986-09-17 |
| JPH0531732B2 true JPH0531732B2 (ja) | 1993-05-13 |
Family
ID=12845309
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4995085A Granted JPS61209339A (ja) | 1985-03-13 | 1985-03-13 | 光学的測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61209339A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0743302A (ja) * | 1993-07-30 | 1995-02-14 | Anatsuku:Kk | 着色度測定方法および測定装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1490214A (en) * | 1974-07-02 | 1977-10-26 | Fordath Ltd | Apparatus for mixing foundry materials |
| JPS5425436A (en) * | 1977-07-27 | 1979-02-26 | Shin Kobe Electric Machinery | Lead storage battery |
-
1985
- 1985-03-13 JP JP4995085A patent/JPS61209339A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61209339A (ja) | 1986-09-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |