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JPH0548620B2 - - Google Patents
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JPH0548620B2 - - Google Patents

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JPH0548620B2
JPH0548620B2 JP58244090A JP24409083A JPH0548620B2 JP H0548620 B2 JPH0548620 B2 JP H0548620B2 JP 58244090 A JP58244090 A JP 58244090A JP 24409083 A JP24409083 A JP 24409083A JP H0548620 B2 JPH0548620 B2 JP H0548620B2
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capillary
bonding surface
bonding
detection
sensor
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Mutsumi Suematsu
Tomio Kashihara
Keitaro Okano
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Toshiba Corp
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Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/0711Apparatus therefor
    • HELECTRICITY
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    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/0711Apparatus therefor
    • H10W72/07141Means for applying energy, e.g. ovens or lasers

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  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、ワイヤボンデイング装置に係わり、
特にボンデイング面の位置を検出するためのボン
デイング面位置検出回路の改良に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a wire bonding device,
In particular, the present invention relates to improvements in a bonding surface position detection circuit for detecting the position of a bonding surface.

〔発明の技術的背景〕[Technical background of the invention]

集積回路の組み立てに用いられるワイヤボンデ
イング装置は、一般にワイヤが挿通されたキヤピ
ラリをボンデイングアームに取着し、このボンデ
イングアームの揺動させることによりキヤピラリ
を上下動させてボンデイング対象物に対しワイヤ
ボンデイングを行なうように構成されている。第
1図はこの装置の機構部分の構成の一列を示すも
のである。同図において、1はXYテーブルで、
このXYテーブル1上には支持柱2により矢印方
向に揺動可能に揺動ブラケツト3が搭載されてい
る。この揺動ブラケツト3は、略T字形をなし、
その前方アーム3aの下方には先端部にキヤピラ
リ4を保持したボンデイングアーム5が配置され
ている。このボンデイングアーム5の基端部はア
ーム保持器6に固定され、このアーム保持器6は
板ばね7を介して揺動ブラケツト3に固定されて
いる。また、上記アーム保持器6の上方突片6a
と、揺動ブラケツト3の突片3bとの間には、引
張りばね8が張設されている。この引張りばね8
は、前記板ばね7とともにキヤピラリ4をボンデ
イング対象物10のボンデイング面に押し付ける
際の荷重を与えるものである。なお、図中9は揺
動ブラケツト3に対するボンデイングアーム5の
初期位置を設定するためのストツパ、11はバラ
ンスばねである。
Wire bonding equipment used for assembling integrated circuits generally attaches a capillary through which a wire is inserted to a bonding arm, and swings the bonding arm to move the capillary up and down to perform wire bonding on the object to be bonded. is configured to do so. FIG. 1 shows one line of the construction of the mechanical parts of this device. In the same figure, 1 is an XY table,
A swing bracket 3 is mounted on the XY table 1 so as to be swingable in the direction of the arrow by a support column 2. This swing bracket 3 has a substantially T-shape,
A bonding arm 5 holding a capillary 4 at its tip is arranged below the front arm 3a. The base end of this bonding arm 5 is fixed to an arm holder 6, and this arm holder 6 is fixed to the swing bracket 3 via a leaf spring 7. Further, the upper protruding piece 6a of the arm holder 6
A tension spring 8 is stretched between and the protruding piece 3b of the swing bracket 3. This tension spring 8
, together with the leaf spring 7, provide a load when pressing the capillary 4 against the bonding surface of the bonding object 10. In the figure, 9 is a stopper for setting the initial position of the bonding arm 5 with respect to the swing bracket 3, and 11 is a balance spring.

このような構成であるから、XYテーブル1の
水平移動によりキヤピラリ4をボンデイング対象
物10のボンデイング位置上方に位置合わせし、
この状態で図示しない駆動機構により揺動ブラケ
ツト3を揺動させると、それに伴なつてボンデイ
ングアーム5が揺動し、これによりキヤピラリ4
は降下して先ずボンデイング対象物10のボンデ
イング面に当接する。そしてさらに揺動ブラケツ
ト3を揺動させると、キヤピラリ4は板ばね7お
よび引張りばね8の弾性力により所定の圧力でボ
ンデイング面に押し付けられ、これによりボンデ
イングが行なわれる。
With this configuration, the capillary 4 is positioned above the bonding position of the bonding object 10 by horizontally moving the XY table 1,
When the swing bracket 3 is swung by a drive mechanism (not shown) in this state, the bonding arm 5 is swung accordingly.
descends and first comes into contact with the bonding surface of the bonding object 10. When the swing bracket 3 is further swung, the capillary 4 is pressed against the bonding surface with a predetermined pressure by the elastic force of the leaf spring 7 and the tension spring 8, thereby performing bonding.

ところで、このようなボンデイング動作におい
てキヤピラリ4の押圧力を一定に保つことは、高
品質のボンデイングを行なうために極めて重要で
あり、そのためにはキヤピラリ4がボンデイング
面に接触する点、つまりキヤピラリ4に対するボ
ンデイング面の位置を正確に検出する必要があ
る。
By the way, it is extremely important to keep the pressing force of the capillary 4 constant in such a bonding operation in order to perform high-quality bonding. It is necessary to accurately detect the position of the bonding surface.

そこで従来では、例えば揺動ブラケツト3の先
端部3aに図示する如くボンデイングアーム5と
の間隔の変化、つまりキヤピラリ4との間隔の変
化を検出するためのセンサ20を取着し、このセ
ンサ20の出力を第2図に示す回路に導びいてボ
ンデイング面の位置検出を行なつている。すなわ
ち、この検出回路は、センサ20からの出力を像
増幅器21で増幅したのちサンプルホールド回路
22に導入し、この回路22で一定の周期でサン
プルホールドしてそれらの出力をA/D変換器2
3によりそれぞれデジタル信号に変換する。そし
て、その各ホールド毎のデジタル信号を制御回路
24に導入し、この回路24で上記ホールド出力
の変化を監視することによりキヤピラリ4がボン
デイング面に当接した点、つまりボンデイング面
の位置を検出している。
Conventionally, a sensor 20 for detecting a change in the distance between the swing bracket 3 and the bonding arm 5, that is, a change in the distance between the swing bracket 3 and the capillary 4, is attached to the tip 3a of the swing bracket 3, as shown in the figure. The output is led to the circuit shown in FIG. 2 to detect the position of the bonding surface. That is, in this detection circuit, the output from the sensor 20 is amplified by the image amplifier 21 and then introduced into the sample and hold circuit 22.The circuit 22 samples and holds the output at a constant period, and the outputs are sent to the A/D converter 2.
3, each is converted into a digital signal. Then, the digital signal for each hold is introduced into the control circuit 24, and this circuit 24 monitors the change in the hold output to detect the point at which the capillary 4 contacts the bonding surface, that is, the position of the bonding surface. ing.

〔背景技術の問題点〕[Problems with background technology]

ところが、一般にキヤピラリ4の降下速度は極
めて高速であり、このため前記従来の回路にあつ
ては、上記速度に対応するために検出出力のサン
プルホールド周期を極めて短かくし、またA/D
変換器23に高速のものを用いなければならな
い。このため、回路が非常に高価であつた。
However, in general, the descending speed of the capillary 4 is extremely high, and therefore, in the conventional circuit, the sampling and holding period of the detection output is made extremely short in order to cope with the above-mentioned speed, and the A/D
A high-speed converter 23 must be used. Therefore, the circuit was very expensive.

また、キヤピラリ4は、降下する際に揺動駆動
モータの応答特性や各ばね等の機械的応答特性に
より微少振動を起こすことがある。この微少振動
が発生すると、前記従来の回路ではキヤピラリ4
がボンデイング面に接近して上記振動により一時
的に接触した場合にも、このときのキヤピラリ4
の位置をボンデイング面の位置として検出してし
まうことがあり、検出精度が低かつた。
Furthermore, when the capillary 4 descends, it may cause minute vibrations due to the response characteristics of the swing drive motor and the mechanical response characteristics of each spring. When this minute vibration occurs, in the conventional circuit, the capillary 4
Even if the capillary 4 approaches the bonding surface and comes into contact with it temporarily due to the above vibration, the capillary 4 at this time
The position of the bonding surface may be detected as the position of the bonding surface, resulting in low detection accuracy.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は、キヤピラリの降下速度が高速であつ
ても、また振動を起しても簡単かつ安価な回路構
成にて高精度の位置検出を行ない得るボンデイン
グ面位置検出回路を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a bonding surface position detection circuit that can perform highly accurate position detection with a simple and inexpensive circuit configuration even when the capillary descends at a high speed or when vibration occurs. do.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は、上記目的を達成するためにキヤピラ
リがボンデイング面に当接する前のセンサの出力
を基準レベルとするとともに、この基準レベルを
基準値としてキヤピラリの振動振幅よりも大なる
非検出領域を定めたコンパレータを設け、センサ
の出力をこのコンパレータに入力して上記非検出
領域とレベル比較し、この領域を外れたときにボ
ンデイング面位置検出信号を発生するようにした
ものである。
In order to achieve the above object, the present invention uses the sensor output before the capillary comes into contact with the bonding surface as a reference level, and uses this reference level as a reference value to define a non-detection area larger than the vibration amplitude of the capillary. A comparator is provided, and the output of the sensor is inputted to the comparator to compare the level with the non-detection area, and a bonding surface position detection signal is generated when the sensor deviates from this area.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

第3図は、本発明の一実施例におけるボンデイ
ング面位置検出回路のブロツク構成図で、同図に
おいて前記第2図と同一部分には同一符号を付し
てある。
FIG. 3 is a block diagram of a bonding surface position detection circuit according to an embodiment of the present invention, in which the same parts as in FIG. 2 are given the same reference numerals.

例えば電気マイクロメータからなるセンサ20
を検出出力は、増幅器21で増幅されたのちサン
プルホールド回路41とウインドコンパレータ4
2に供給されている。サンプルホールド回路41
は、制御回路44からのサンプルホールド信号に
従つて、キヤピラリ4がボンデイング面に当接す
る前の状態でかつ当接直前のタイミングにおいて
センサ20の検出出力をサンプルホールドするも
のである。そして、このサンプルホールド出力を
基準値VBとしてウインドコンパレータ42に供
給している。なお、上記サンプルホールドタイミ
ングは、キヤピラリ4の降下速度とボンデイング
面のおおよその位置とに基づいて制御回路44で
予め設定しておく。
A sensor 20 consisting of, for example, an electric micrometer
The detection output is amplified by an amplifier 21 and then sent to a sample hold circuit 41 and a window comparator 4.
2 is supplied. Sample hold circuit 41
In accordance with a sample and hold signal from the control circuit 44, the detection output of the sensor 20 is sampled and held before the capillary 4 contacts the bonding surface and at a timing immediately before the contact. This sample-and-hold output is then supplied to the window comparator 42 as a reference value VB . Note that the sample hold timing is set in advance by the control circuit 44 based on the descending speed of the capillary 4 and the approximate position of the bonding surface.

一方ウインドコンパレータ42は、前記サンプ
ルホールド回路41から出力された基準値VB
中心値として所定幅の非検出レベル領域を設定
し、この非検出レベル領域と前記センサ20の検
出出力とをレベル比較して検出出力が非検出レベ
ル領域から外れたときに“H”レベルの検出信号
OTを発生するものである。なお、上記非検出レ
ベル領域は、可変抵抗回路43から出力される領
域指定電圧VWにより設定される。
On the other hand, the window comparator 42 sets a non-detection level region of a predetermined width with the reference value V B outputted from the sample hold circuit 41 as the center value, and compares the level of this non-detection level region with the detection output of the sensor 20. When the detection output is out of the non-detection level area, the detection signal becomes “H” level.
It is something that generates OT. Note that the non-detection level region is set by the region specifying voltage V W output from the variable resistance circuit 43.

第4図は、ウインドコンパレータ42の回路構
成図で、このコンパレータ42は非検出レベル領
域を設定するための加算回路45および減算回路
46と、比較回路47とから構成される。先ず加
算回路45は、基準値VBに領域指定電圧VWを加
算し、その加算出力を非検出レベル領域の上限値
Vref1として比較回路47に供給するものであ
る。また減算回路46は、基準値VBから領域指
定電圧VWを減じ、その出力を非検出レベル領域
の下限値Vref2として比較回路47に供給する。
一方比較回路47は、一対のコンパレータ48
a,48bと、その出力を論理和処理するオア回
路49とからなつている。そして、 Vref1<Vi のときにコンパレータ48aから“H”レベルの
検出信号を発生するとともに、 Vref2>Vi のときコンパレータ48bから“H”レベルの検
出信号を発生し、これらの検出信号をオア回路4
9を介して制御回路44に供給している。
FIG. 4 is a circuit diagram of the window comparator 42, which is composed of an addition circuit 45 and a subtraction circuit 46 for setting a non-detection level region, and a comparison circuit 47. First, the adder circuit 45 adds the area specified voltage V W to the reference value V B , and sets the added output to the upper limit value of the non-detection level area.
It is supplied to the comparator circuit 47 as Vref 1 . Further, the subtraction circuit 46 subtracts the region specifying voltage V W from the reference value V B and supplies the output to the comparison circuit 47 as the lower limit value Vref 2 of the non-detection level region.
On the other hand, the comparison circuit 47 includes a pair of comparators 48
a, 48b, and an OR circuit 49 that performs logical OR processing on the outputs thereof. Then, when Vref 1 < Vi, the comparator 48a generates an "H" level detection signal, and when Vref 2 > Vi, the comparator 48b generates an "H" level detection signal, and these detection signals are ORed. circuit 4
9 to the control circuit 44.

制御回路44は、ワイヤボンデイング装置本体
(図示せず)からのキヤピラリの降下開始信号ST
を受けた時点から所定時間後にサンプルホールド
信号SHを発するとともに、ウインドコンパレー
タ42からの検出信号OTによりボンデイング面
位置を認識するものである。
The control circuit 44 receives a capillary descent start signal ST from the wire bonding apparatus main body (not shown).
A sample and hold signal SH is emitted a predetermined time after receiving the signal SH, and the bonding surface position is recognized based on the detection signal OT from the window comparator 42.

このような構成であるから、キヤピラリ4の降
下が開始されてボンデイング面の直前位置に到達
すると、制御回路44からサンプルホールド信号
SHが発せられてこれによりサンプルホールド回
路41でセンサ20の検出出力がサンプルホール
ドされる。この結果、センサ20の出力Viをウ
インドコンパレータ42でレベル比較する際の基
準値VBが得られる。この基準値VBが入力される
とウインドコンパレータ42は、上記基準値VB
に可変抵抗回路43で設定された領域指定電圧
VWを加算および減算し、これにより先ず非検出
レベル領域の上限値Vref1と下限値Vref2とをそ
れぞれ求める。そして、これらの上限値Vref1
よび下限値Vref2と、以後センサ20から発せさ
れる検出出力Viとをコンパレータ48a,48
bでそれぞれレベル比較する。
With this configuration, when the capillary 4 starts descending and reaches the position just before the bonding surface, the control circuit 44 outputs a sample hold signal.
When SH is generated, the detection output of the sensor 20 is sampled and held in the sample and hold circuit 41. As a result, a reference value V B is obtained when the output Vi of the sensor 20 is compared in level with the window comparator 42. When this reference value V B is input, the window comparator 42 outputs the reference value V B
The area designated voltage set by the variable resistance circuit 43 in
By adding and subtracting VW , first, the upper limit value Vref 1 and lower limit value Vref 2 of the non-detection level region are respectively determined. Then, these upper limit value Vref 1 and lower limit value Vref 2 and the detection output Vi emitted from the sensor 20 from now on are connected to comparators 48a and 48.
Compare the levels in b.

この状態で、キヤピラリ4がボンデイング面に
到達して確実に当接するまで揺動ブラケツト3が
揺動すると、センサ20がボンデイングアーム5
との間隔が短縮されてセンサ20の検出出力レベ
ルViが低下する。そして、この検出出力レベル
Viが例えば第5図Vo2に示す非検出レベル領域○イ
の下限値Vref2よりも低下すると、 Vi<Vref2 が成立した時点でコンパレータ48bから“H”
レベルの検出信号OTが出力され、制御回路44
に供給される。この結果制御回路44は、キヤピ
ラリ4がボンデイング面に確実に当接したものと
判断してこのときのキヤピラリ4の位置をボンデ
イング面の位置と認識し、この状態で揺動ブラケ
ツト3をさらに所定量揺動させるための駆動信号
MSを発する。そうすると、キヤピラリ4は上記
揺動量に応じた押圧力でボンデイング面に押し付
けられ、この結果ワイヤボンデイングがなされ
る。しかして、常に一定の押圧力によるボンデイ
ングが行なわれる。
In this state, when the swing bracket 3 swings until the capillary 4 reaches the bonding surface and makes sure contact, the sensor 20 detects the bonding arm 5.
The distance between the sensor 20 and the sensor 20 is shortened, and the detection output level Vi of the sensor 20 is reduced. And this detection output level
For example, when Vi decreases below the lower limit value Vref 2 of the non - detection level region a shown in FIG.
The level detection signal OT is output, and the control circuit 44
supplied to As a result, the control circuit 44 determines that the capillary 4 has definitely contacted the bonding surface, recognizes the position of the capillary 4 at this time as the position of the bonding surface, and in this state, moves the swing bracket 3 further by a predetermined amount. Drive signal for rocking
Emits MS. Then, the capillary 4 is pressed against the bonding surface with a pressing force corresponding to the amount of rocking, and as a result, wire bonding is performed. Thus, bonding is always performed with a constant pressing force.

一方、キヤピラリ4の降下中に各ばね7,8に
よる機械的振動や揺動駆動モータの特性に起因す
る電気的振動が発生すると、キヤピラリ4は微少
振動を起こしてこれによリボンデイングアーム5
とセンサ20との間隔が上記キヤピラリ4の振動
に応じて変化し、この結果センサ20の検出出力
が変化する。ところが、本実施例の回路では、た
とえ上記振動によりセンサ20の検出出力Viが
第5図Vo1のように変化しても、その振幅よりも
非検出レベル領域○イを大きく設定してあるため、
各コンパレータ48a,48bからは検出出力
(“H”レベル)OTは発生されない。したがつ
て、キヤピラリ4の振動によるセンサ20の出力
変化を、キヤピラリ4がボンデイング面へ当接し
たものと誤まつて判断する不具合は解消される。
On the other hand, if mechanical vibrations caused by the springs 7 and 8 or electrical vibrations caused by the characteristics of the swing drive motor occur while the capillary 4 is lowering, the capillary 4 will cause minute vibrations, which will cause the ribboning arm 5 to
The distance between the capillary 4 and the sensor 20 changes depending on the vibration of the capillary 4, and as a result, the detection output of the sensor 20 changes. However, in the circuit of this embodiment, even if the detection output Vi of the sensor 20 changes as shown in FIG . ,
No detection output (“H” level) OT is generated from each comparator 48a, 48b. Therefore, the problem of erroneously determining that a change in the output of the sensor 20 due to the vibration of the capillary 4 is due to the capillary 4 coming into contact with the bonding surface is eliminated.

このように、本実施例であれば、ウインドコン
パレータ42を用いてセンサ20の検出出力Vi
を連続的に監視するようにしたので、従来(第2
図)のような高速度のサンプルホールド動作や
A/D変換器を不要にでき、この結果回路構成を
簡単化することができる。また、ウインドコンパ
レータ42に、キヤピラリの振動振幅に対応する
センサ20の検出出力Viの変化幅よりも大きな
非検出レベル領域○イを設定し、この領域とセンサ
20の検出出力Viとをレベル比較して検出信号
OTを発生するようにしたので、仮にキヤピラリ
4が振動を起こしても、この振動によるセンサ2
0の出力変化を即時ボンデイング面に対するキヤ
ピラリ4の当接と誤認識しないようにでき、この
結果キヤピラリ4のボンデイング面への当接タイ
ミングを正確に検出し得て高精度のボンデイング
面位置の検出を行なうことができる。さらに本実
施例によれば、非検出レベル領域○イを、基準値を
中心にそのプラスマイナス両方向に所定幅VW
領域を設定したものとしたので、ボンデイング面
へのキヤピラリ4の当接後にその押し付け量に応
じて出力レベルが減少するタイプのセンサであつ
ても、また増加するタイプのセンサであつても同
様に使用できる利点がある。すなわち、ギヤツプ
量に応じて出力が変化するセンサであれば、その
変化の方向に関係なく如何なるセンサであつても
使用できる。
In this way, in this embodiment, the detection output Vi of the sensor 20 is determined using the window comparator 42.
Since the system continuously monitors the
The high-speed sample-and-hold operation and A/D converter as shown in Figure 1) can be eliminated, and as a result, the circuit configuration can be simplified. In addition, a non-detection level area ○a which is larger than the variation width of the detection output Vi of the sensor 20 corresponding to the vibration amplitude of the capillary is set in the window comparator 42, and this area and the detection output Vi of the sensor 20 are compared in level. detection signal
Since OT is generated, even if capillary 4 causes vibration, sensor 2 due to this vibration
0 output change can be prevented from being mistakenly recognized as contact of the capillary 4 with the bonding surface, and as a result, the timing of the contact of the capillary 4 with the bonding surface can be accurately detected, and the position of the bonding surface can be detected with high precision. can be done. Furthermore, according to this embodiment, since the non-detection level area ○a is set as an area with a predetermined width VW in both the plus and minus directions around the reference value, after the capillary 4 comes into contact with the bonding surface, There is an advantage that both a type of sensor whose output level decreases and a type of sensor whose output level increases depending on the amount of pressing can be used in the same way. In other words, any sensor whose output changes depending on the gap amount can be used regardless of the direction of the change.

なお、本発明は上記実施例に限定されるもので
はない。例えば、前記実施例ではサンプルホール
ド回路41を用いてキヤピラリ4がボンデイング
面に当接する直前のセンサ10の出力を基準値と
し、これにより基準値をできるだけ当接時の条件
に近い値としたが、当接前のセンサの出力レベル
変化が少ない場合には基準値を予め固定してお
き、これを領域指定電圧VWとともにウインドコ
ンパレータに入力するようにしてもよい。その立
コンパレータの構成、制御回路の制御内容等につ
いても、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変
形して実施できる。
Note that the present invention is not limited to the above embodiments. For example, in the embodiment described above, the sample and hold circuit 41 is used to set the output of the sensor 10 immediately before the capillary 4 contacts the bonding surface as the reference value, thereby making the reference value as close as possible to the conditions at the time of contact. If the change in the output level of the sensor before contact is small, the reference value may be fixed in advance and input to the window comparator together with the area specifying voltage VW . The configuration of the vertical comparator, the control contents of the control circuit, etc. can be modified in various ways without departing from the gist of the present invention.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上詳述したように本発明は、キヤピラリがボ
ンデイング面に当接する前のセンサの出力を基準
レベルとするとともに、この基準レベルを基準値
としてキヤピラリの振動幅幅よりも大なる非検出
領域を定めたコンパレータを設け、センサの出力
をこのコンパレータに入力して上記非検出領域と
レベル比較し、この領域を外れたときにボンデイ
ング面位置検出信号を発生するようにしたもので
ある。
As detailed above, the present invention uses the output of the sensor before the capillary comes into contact with the bonding surface as the reference level, and uses this reference level as the reference value to define a non-detection area larger than the vibration width of the capillary. A comparator is provided, and the output of the sensor is inputted to the comparator to compare the level with the non-detection area, and a bonding surface position detection signal is generated when the sensor deviates from this area.

以上詳述したように、本発明によれば、キヤピ
ラリの降下速度が高速であつても、また振動を起
しても簡単かつ安価な回路構成にて高精度の位置
検出を行ない得るボンデイング面位置検出回路を
提供することができる。
As detailed above, according to the present invention, the bonding surface position can be detected with high accuracy using a simple and inexpensive circuit configuration even when the capillary descends at a high speed or when vibration occurs. A detection circuit can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はワイヤボンデイング装置の機構部分の
構成を示す側面図、第2図は従来のボンデイング
面位置検出回路の回路ブロツク図、第3図は本発
明の一実施例におけるボンデイング面位置検出回
路の回路ブロツク図、第4図は同検出回路のウイ
ンドコンパレータの回路構成図、第5図は第3図
に示した検出回路の作用説明に用いるための図で
ある。 3……揺動プラケツト、4……キヤピラリ、5
……ボンデイングアーム、10……ボンデイング
対象物、20……センサ、21……増幅器、41
……サンプルホールド回路、42……ウインドコ
ンパレータ、43……可変抵抗回路、44……制
御回路、45……加算回路、46……減算回路、
47……比較回路、48a,48b……コンパレ
ータ、49……オア回路。
FIG. 1 is a side view showing the structure of a mechanical part of a wire bonding apparatus, FIG. 2 is a circuit block diagram of a conventional bonding surface position detection circuit, and FIG. 3 is a circuit diagram of a bonding surface position detection circuit according to an embodiment of the present invention. FIG. 4 is a circuit block diagram of a window comparator of the detection circuit, and FIG. 5 is a diagram used to explain the operation of the detection circuit shown in FIG. 3. 3... Swing bracket, 4... Capillary, 5
... bonding arm, 10 ... bonding object, 20 ... sensor, 21 ... amplifier, 41
... Sample hold circuit, 42 ... Wind comparator, 43 ... Variable resistance circuit, 44 ... Control circuit, 45 ... Addition circuit, 46 ... Subtraction circuit,
47... Comparison circuit, 48a, 48b... Comparator, 49... OR circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 キヤピラリを先端部に取着したボンデイング
アームを駆動して上記キヤピラリを上下動させる
ことによりボンデイング面にボンデイングを行な
うワイヤボンデイング装置のボンデイング面位置
検出回路において、前記キヤピラリの上下動を監
視してボンデイング面への当接前は一定レベルの
検出出力を発生するとともに当接後にキヤピラリ
の押し付け量に応じて変化する検出出力を発生す
るセンサと、前記キヤピラリがボンデイング面に
当接する前に前記センサから発生される検出出力
を基準レベルとするとともにこの基準レベルを基
準として前記キヤピラリの微少上下振動の振幅よ
りも大なる非検出レベル領域を予め設定したコン
パレータとを設け、前記センサの検出出力をこの
コンパレータに入力して前記非検出レベル領域と
レベル比較し、この非検出レベル領域から外れた
ときボンデイング面位置検出信号を発生するよう
にしたことを特徴とするボンデイング面位置検出
回路。
1. In a bonding surface position detection circuit of a wire bonding apparatus that performs bonding on a bonding surface by driving a bonding arm with a capillary attached to the tip and moving the capillary up and down, the bonding surface position detection circuit monitors the vertical movement of the capillary and performs bonding. A sensor that generates a detection output at a constant level before contact with a bonding surface and a detection output that changes depending on the amount of pressing of the capillary after contact; and a sensor that generates a detection output from the sensor before the capillary contacts the bonding surface. The detection output of the sensor is set as a reference level, and a comparator is provided in which a non-detection level region is set in advance using this reference level as a reference level and is larger than the amplitude of the minute vertical vibration of the capillary. 1. A bonding surface position detection circuit characterized in that the bonding surface position detection circuit is configured to input a signal and compare the level with the non-detection level region, and generate a bonding surface position detection signal when the signal deviates from the non-detection level region.
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