JPH0567916B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0567916B2 JPH0567916B2 JP62306856A JP30685687A JPH0567916B2 JP H0567916 B2 JPH0567916 B2 JP H0567916B2 JP 62306856 A JP62306856 A JP 62306856A JP 30685687 A JP30685687 A JP 30685687A JP H0567916 B2 JPH0567916 B2 JP H0567916B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diode
- circuit
- comparator
- short
- resistance value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は短絡検出回路に関し、特に、基板のパ
ターンシヨートを検出するための回路に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a short circuit detection circuit, and particularly to a circuit for detecting a pattern short on a substrate.
（従来の技術）
一般に、基板パターンのシヨート（短絡）を検
出する際には、第２図に示すように、検出回路３
に判定試料（基板）６を接続する。発振回路１か
らのクロツク信号によりデイケードカウンター２
から後述するようにタイミングをずらしてパルス
信号が検出回路３に印加される。検出回路３から
の検出信号が判定タイミング回路４で判定され、
その結果は出力回路５から出力される。(Prior Art) Generally, when detecting a short circuit in a substrate pattern, a detection circuit 3 is used as shown in FIG.
The test sample (substrate) 6 is connected to the board. Decade counter 2 is activated by the clock signal from oscillation circuit 1.
As will be described later, a pulse signal is applied to the detection circuit 3 with shifted timing. The detection signal from the detection circuit 3 is judged by the judgment timing circuit 4,
The result is output from the output circuit 5.
ここで、従来の検出回路について第３図を参照
して説明する。デイケードカウンター２の出力端
には複数（第３図では４本）の信号線Ａ〜Ｄが接
続されている。信号線Ａにはダイオード３ａが接
続されており、ダイオード３ａのアノード側及び
カソード側にはそれぞれ排他的論理和回路（以下
EX−ORという）３ｂの入力端が接続され、EX
−OR３ｂと出力端は判定タイミング回路４に接
続されている。また、ダイオード３ａのカソード
側には抵抗３ｃの一端が接続され、抵抗３ｃの他
端は接地されている。 Here, a conventional detection circuit will be explained with reference to FIG. A plurality of (four in FIG. 3) signal lines A to D are connected to the output end of the decade counter 2. A diode 3a is connected to the signal line A, and exclusive OR circuits (hereinafter referred to as
EX-OR) 3b input end is connected, EX
-OR3b and the output terminal are connected to the judgment timing circuit 4. Further, one end of a resistor 3c is connected to the cathode side of the diode 3a, and the other end of the resistor 3c is grounded.
同様にして、信号ラインＢにはダイオード３
ｄ，EX−OR３ｅ，抵抗３ｆが、信号ラインＣ
にはダイオード３ｇ，EX−OR３ｈ，抵抗３ｉ
が、信号ラインＤにはダイオード３ｊ，EX−
OR３ｋ，抵抗３ｌが備えられている。そして、
信号ラインＡ〜Ｄに検査される基板が接続され
る。 Similarly, diode 3 is connected to signal line B.
d, EX-OR3e, resistor 3f is the signal line C
Diode 3g, EX-OR 3h, resistor 3i
However, the signal line D has a diode 3j, EX-
An OR3k and a resistor 3l are provided. and,
A board to be inspected is connected to the signal lines A to D.
基板検査の際には、デイケードカウンタ２に発
振回路１から第４図に示すクロツク信号が加えら
れる。デイケードカウンタ２から第４図に示すよ
うにタイミングをずらして、信号ラインＡ〜Ｄに
順次パルス信号が加えられる。即ち、信号ライン
Ａ〜Ｄに順次ハイレベルを出力することにより、
一つの信号ラインがハイレベルである時、他の信
号ラインをロウレベルとすることで、基板に短絡
がある場合、シヨートラインを含むEX−ORの
入力端にそれぞれ異なるレベルの入力があり、そ
の結果、EX−ORの出力がハイレベルとなり、
一方、シヨートが存在しなければ、EX−ORの
入力端にそれぞれ同レベルが入力され、EX−
ORの出力がロウレベルとなる。そして、このハ
イレベル、ロウレベルによつて基板のシヨートを
検出している。 When inspecting a board, a clock signal shown in FIG. 4 is applied to the decade counter 2 from the oscillation circuit 1. Pulse signals are sequentially applied from the decade counter 2 to the signal lines A to D at shifted timings as shown in FIG. That is, by sequentially outputting a high level to signal lines A to D,
By setting the other signal line to low level when one signal line is at high level, if there is a short circuit on the board, there will be inputs at different levels at the input terminals of EX-OR including the short line, and as a result , EX-OR output becomes high level,
On the other hand, if there is no short, the same level is input to the input terminals of EX-OR, and
The output of OR becomes low level. The short of the substrate is detected based on these high and low levels.
（発明が解決しようとする問題点）
ところで、従来の検出回路では、抵抗３ｃ，３
ｆ，３ｉ及び３ｌの抵抗値によつて、基準シヨー
トの判定レベルを定めている。ところが、一般的
に検出回路はIC（Ｃ−MOS）で構成されているの
で、スレツシユホールド電圧で基板シヨートの有
無をチエツクしており、基板のパターン間が上述
の抵抗３ｃ，３ｆ，３ｉ及び３ｌの抵抗値に近似
する値でシヨートしている場合には、EX−OR
が誤動作する場合がある。従つて、設定した抵抗
値に対して、精度よくチエツクできないという問
題点がある。(Problem to be solved by the invention) By the way, in the conventional detection circuit, the resistors 3c, 3
The determination level of the reference shot is determined by the resistance values of f, 3i and 3l. However, since the detection circuit is generally composed of an IC (C-MOS), the presence or absence of a substrate shot is checked using a threshold voltage, and the resistors 3c, 3f, 3i and the above-mentioned resistors 3c, 3f, 3i and If you are shooting at a value close to the resistance value of 3l, EX-OR
may malfunction. Therefore, there is a problem that the set resistance value cannot be accurately checked.
本発明の課題は、素子によつてバラツキのある
スレツシユホールドレベルに影響を受けることな
く、かつ高抵抗値までの判定レベルを備える短絡
検出回路を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a short-circuit detection circuit that is not affected by threshold levels that vary depending on elements and that has a determination level up to a high resistance value.
（問題点を解決するための手段）
本発明によれば、ダイオードと、入力端の一方
が該ダイオードのカソード側に接続されるととも
に入力端の他方に基準電圧が印加されるコンパレ
ータと、入力端の一方が前記ダイオードのアノー
ド側に接続され、入力端の他方が前記コンパレー
タの出力端に接続されたEX−ORとを有する検
出素子を複数備え、前記ダイオードのアノード側
にパルス信号が印加され、前記ダイオードのカソ
ード側に検査基板が接続され、前記EX−ORの
出力端から検出信号を得るようにしたことを特徴
とする短絡検出回路が得られる。(Means for Solving the Problems) According to the present invention, a diode, a comparator having one input terminal connected to the cathode side of the diode and a reference voltage applied to the other input terminal, and an input terminal A pulse signal is applied to the anode side of the diode, and a pulse signal is applied to the anode side of the diode. A short circuit detection circuit is obtained, characterized in that a test board is connected to the cathode side of the diode, and a detection signal is obtained from the output end of the EX-OR.
（実施例）
以下本発明について実施例によつて説明する。
なお、ここでは従来技術と同様の構成については
説明を省略する。(Example) The present invention will be described below with reference to Examples.
Note that the description of configurations similar to those of the prior art will be omitted here.
前述のように信号ラインＡ〜Ｄにはそれぞれダ
イオード３ａ，３ｄ，３ｇ及び３ｊが接続されて
いる。ダイオード３ａのカソード側にはコンパレ
ータ７ａの反転入力端子が接続され、また、この
反転入力端子は抵抗７ｉを介して接地されてい
る。その非反転入力端子は抵抗３ｃに接続され、
さらに抵抗７ｅを介して基準電圧（Vr）が印加
されている。EX−OR３ｂの入力端の一方はダ
イオード３ａのアノード側に接続され、他方はコ
ンパレータ７ａの出力端が接続されている。 As mentioned above, diodes 3a, 3d, 3g and 3j are connected to the signal lines A to D, respectively. An inverting input terminal of a comparator 7a is connected to the cathode side of the diode 3a, and this inverting input terminal is grounded via a resistor 7i. Its non-inverting input terminal is connected to a resistor 3c,
Further, a reference voltage (Vr) is applied via a resistor 7e. One of the input ends of the EX-OR 3b is connected to the anode side of the diode 3a, and the other end is connected to the output end of the comparator 7a.
同様に、信号ラインＢにはコンパレータ７ｂ，
抵抗７ｆ，７ｊが備えられ、信号ラインＣにはコ
ンパレータ７ｃ，抵抗７ｇ，７ｋが備えられ、信
号ラインＤにはコンパレータ７ｄ，抵抗７ｈ，７
ｌが備えられている。 Similarly, the signal line B includes a comparator 7b,
Resistors 7f and 7j are provided, the signal line C is provided with a comparator 7c and resistors 7g and 7k, and the signal line D is provided with a comparator 7d and resistors 7h and 7k.
l is provided.
なお、抵抗３ｃ，３ｆ，３ｉ，３ｌ及び７ｅ，
７ｆ，７ｇ，７ｈは基準電圧作製のために用いら
れ、抵抗７ｉ，７ｊ，７ｋ，７ｌは判定レベル設
定用である。また、各コンパレータは高入力イン
ピーダンスである。 In addition, the resistors 3c, 3f, 3i, 3l and 7e,
7f, 7g, and 7h are used for creating a reference voltage, and resistors 7i, 7j, 7k, and 7l are for setting a determination level. Additionally, each comparator has a high input impedance.
ここで、抵抗３ｃ〜３ｌ及び抵抗７ｅ〜７ｈの
抵抗値（Ｒ）を1kΩ，抵抗７ｉ〜７ｌの抵抗値
（ｒ）を100kΩとし、信号ラインＡ，Ｂ間に短絡
が発生したものとし、第１図に示すＸポイントが
ハイレベル、Ｙポイントがロウレベルとする。そ
して、信号ラインＡ，Ｂ間の抵抗値がRxΩとす
ると、コンパレータ７ｂの反転入力端子には、ダ
イオード３ａのカソード側の電圧を上記のｒと
Rxとで分圧した電圧がかかる。 Here, it is assumed that the resistance value (R) of the resistors 3c to 3l and the resistors 7e to 7h is 1 kΩ, the resistance value (r) of the resistors 7i to 7l is 100 kΩ, and a short circuit has occurred between the signal lines A and B. It is assumed that the X point shown in FIG. 1 is a high level and the Y point is a low level. If the resistance value between the signal lines A and B is RxΩ, then the voltage on the cathode side of the diode 3a is connected to the inverting input terminal of the comparator 7b as the above r.
A voltage divided between Rx and Rx is applied.
一方、コンパレータ７ｂの非反転入力端子に
は、基準電圧（Vr）／２の電圧がかかるので、
Rx＜ｒでは、コンパレータ７ｂの出力はロウレ
ベルとなる。 On the other hand, since a voltage of reference voltage (Vr)/2 is applied to the non-inverting input terminal of comparator 7b,
When Rx<r, the output of the comparator 7b becomes low level.
またRx＞ｒでは、コンパレータ７ｂの出力は
ハイレベルとなる。 Further, when Rx>r, the output of the comparator 7b becomes high level.
従つて、基準設定用抵抗（ｒ）に対して、基板
パターンの良，不良を検出することが可能とな
る。 Therefore, it is possible to detect whether the substrate pattern is good or bad with respect to the reference setting resistor (r).
さらに、短絡箇所間の抵抗値が基準設定用抵抗
の抵抗値（ｒ）に近づいても、精度よく短絡を判
定することができる。また、判定すべき抵抗値
（短絡間の抵抗値）を電圧変換して高入力インピ
ーダンスのコンパレータに入力しているので、短
絡間の抵抗値が高い場合にも、シヨート検出を行
うことができる。 Furthermore, even if the resistance value between the short circuit points approaches the resistance value (r) of the reference setting resistor, a short circuit can be accurately determined. Furthermore, since the resistance value to be determined (resistance value between short circuits) is converted into voltage and input to a high input impedance comparator, short detection can be performed even when the resistance value between short circuits is high.
なお、コンパレータを用いたことによりEX−
ORへの入力レベルを、ハイレベルあるいはロウ
レベルのみに変換できるのでEX−ORのスレツ
シユホールドレベルの影響は受けない。さらに、
FETコンパレータを用いることにより、即ち、
入力インピーダンスが1012Ω以上を実現できるた
め、絶縁判定回路として利用することが可能であ
る。 Furthermore, by using a comparator, EX-
Since the input level to the OR can be converted only to a high level or a low level, it is not affected by the EX-OR threshold level. moreover,
By using a FET comparator, i.e.
Since it can achieve an input impedance of 10 12 Ω or more, it can be used as an insulation determination circuit.
（発明の効果）
以上説明したように本発明によれば、基板パタ
ーン間の抵抗値を電圧に変換して監視しているか
ら高短絡抵抗値まで範囲することができる。ま
た、スレツシユホールドレベルの影響をほとんど
受けないという効果がある。(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, since the resistance value between the substrate patterns is converted into a voltage and monitored, it is possible to cover a range up to a high short circuit resistance value. Additionally, it has the effect of being almost unaffected by the threshold level.
第１図は本発明による短絡検出回路の一実施例
を示す図、第２図は判定試料（配線基板）の短絡
を判定するためのシステムを示すブロツク図、第
３図は従来の短絡検出回路を示す図、第４図はデ
イケードカウンタへ印加されるクロツク信号及び
デイケードカウンタからの出力パルスを示す図で
ある。
３ａ，３ｄ，３ｇ，３ｊ……ダイオード、３
ｂ，３ｅ，３ｈ，３ｋ……排他的論理和回路
（EX−OR）、７ａ，７ｂ，７ｃ，７ｄ……コン
パレータ。
Fig. 1 is a diagram showing an embodiment of a short circuit detection circuit according to the present invention, Fig. 2 is a block diagram showing a system for determining a short circuit in a test sample (wiring board), and Fig. 3 is a conventional short circuit detection circuit. FIG. 4 is a diagram showing the clock signal applied to the decade counter and the output pulse from the decade counter. 3a, 3d, 3g, 3j...diode, 3
b, 3e, 3h, 3k...Exclusive OR circuit (EX-OR), 7a, 7b, 7c, 7d...Comparator.
Claims (1)
のカソード側に接続されるとともに入力端の他方
に基準電圧が印加されるコンパレータと、入力端
の一方が前記ダイオードのアノード側に接続さ
れ、入力端の他方が前記コンパレータの出力端に
接続された排他的論理和回路とを有する検出素子
を複数備え、前記ダイオードのアノード側にパル
ス信号が印加され、前記ダイオードのカソード側
に検査基板が接続され、前記排他的論理和回路の
出力端から検出信号を得るようにしたことを特徴
とする短絡検出回路。1 a diode, a comparator having one input terminal connected to the cathode side of the diode and a reference voltage applied to the other input terminal; A plurality of detection elements are provided, the other of which has an exclusive OR circuit connected to the output end of the comparator, a pulse signal is applied to the anode side of the diode, a test substrate is connected to the cathode side of the diode, and the A short circuit detection circuit characterized in that a detection signal is obtained from an output terminal of an exclusive OR circuit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62306856A JPH01148976A (en) | 1987-12-05 | 1987-12-05 | Short-circuit detecting circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62306856A JPH01148976A (en) | 1987-12-05 | 1987-12-05 | Short-circuit detecting circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01148976A JPH01148976A (en) | 1989-06-12 |
| JPH0567916B2 true JPH0567916B2 (en) | 1993-09-27 |
Family
ID=17962071
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62306856A Granted JPH01148976A (en) | 1987-12-05 | 1987-12-05 | Short-circuit detecting circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01148976A (en) |
-
1987
- 1987-12-05 JP JP62306856A patent/JPH01148976A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01148976A (en) | 1989-06-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3973184A (en) | Thermocouple circuit detector for simultaneous analog trend recording and analog to digital conversion | |
| US5504422A (en) | Polarity testing process and device for electrolytic capacitors | |
| JPH0567916B2 (en) | ||
| JP2992955B2 (en) | Sensor device and operating method thereof | |
| JPS60253882A (en) | Short circuit detector | |
| JP3019783B2 (en) | Printed circuit board temperature detector | |
| JPH04307Y2 (en) | ||
| JP2606208Y2 (en) | Wire harness test equipment | |
| JPH06181400A (en) | Mounting of ic and decision of kinds of circuits and functions | |
| JPH0275087A (en) | Magnetic line sensor | |
| JP3257879B2 (en) | Bonding wire short circuit detection device | |
| JPH11202016A (en) | Method and apparatus for inspecting circuit board | |
| JPH1194919A (en) | Electronic unit inspection method | |
| JP2723688B2 (en) | Apparatus for measuring frequency characteristics of semiconductor integrated circuits | |
| JP2752661B2 (en) | Signal detection circuit | |
| SU1580283A1 (en) | Digital ohmmeter | |
| JPS61155873A (en) | Measuring instrument for semiconductor element | |
| JPH0726977B2 (en) | Surge classification circuit | |
| JP3033246B2 (en) | Sensing circuit | |
| JPH01100474A (en) | Circuit board inspector | |
| JPH054051U (en) | Unused pin quality judgment device | |
| JPH08105935A (en) | Semiconductor integrated circuit inspection device | |
| JPS60138474A (en) | Detecting circuit for abnormality of power supply voltage | |
| JPH11344367A (en) | Thermal flow meter and fuel control device | |
| JPH03220462A (en) | Reference voltage setting circuit |