JPH0569189B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はICの電気的特性を測定するICハンド
ラの測定部に係り、特にリードが環状に湾曲した
新しい形状のICに適用することができるICハン
ドラの測定部に関する。

〔従来の技術〕

従来のICは第５図ａ示のようにリード８ａの
先端が切り放し状態になつているDILP型のもの
が主流であつた。このDILP型のIC５ａはプリン
ト基板（図示せず）にスルーホールを穿孔し、自
動機にてリード８ａをスルーホールに挿通し、ス
ルーホールにリード８ａを半田付けし、余分のリ
ード先端を切断していた。ところがリード８ａの
先端が切り放し状態になつていて曲がり易いため
自動化工程でスルーホールにリード８ａを自動挿
入する際、リード先端が曲がつて挿入できないこ
とがあつた。またスルーホールにリード８ａを挿
通するのであるからプリント基板の実装は片面し
た行われず、電装部品の実装密度が低いという問
題点もあつた。

そこで登場したのが第５図ｂに示すIC５で、
PLCC型ICと呼ばれるものであり、リード８の先
端が環状に湾曲してIC本体内に埋設されている
ものである。かかる形状のIC５はスルーホール
を用いず、プリント基板（図示せず）の表面に直
接半田付けされるためプリント基板の実装密度は
従来の倍となるものである。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら従来のICハンドラの測定部は
DILP型IC５ａの電気的特性の測定に適合した構
造であつたため、DILP型IC５ａとはその形状を
全く異にするPLCC型IC５の電気的特性の測定に
適用することができない。

〔問題点を解決するための手段〕

そこで、本発明はリードが環状に湾曲した形状
のPLCC型ICに適用できるICハンドラの測定部を
提供するため、第１図示のようにIC供給・排出
位置である上死点、途中の中段点、IC測定位置
直上の下死点の３停止点間を昇降し、下面にIC
５のガイド溝２９を有する昇降屋根ガイド部１及
び当該昇降屋根ガイド部１の昇降手段Ａと、上死
点と中段点間をこの昇降屋根ガイド部１と連動し
て昇降する昇降ブロツク３０及び当該昇降ブロツ
ク３０の連動手段Ｂと、この昇降ブロツク３０に
設けられて中段点での下降停止時と上昇開始時に
それぞれ開、閉され、昇降中及び上死点では閉状
態を保つてIC５を支え、開状態ではIC５の支え
を解放する一対の可動レール部２及び当該可動レ
ール部２の開閉手段Ｃと、昇降屋根ガイド部１に
上下動自在に設けられ、上死点でのIC供給以前
に下動しガイド溝２９より突出してIC５の停止
位置を決定し、上死点でのIC排出時に上動しガ
イド溝２９より没入してIC５をフリーにするス
トツパ３及び当該ストツパ３の上下動手段Ｄと、
中段点と下死点間を昇降屋根ガイド部１と連動し
て昇降しIC５の腹４を支持する棒状のIC支持部
６及び当該IC支持部６の連動手段Ｅと、IC測定
位置に設けられ下死点でのIC停止時にIC５のリ
ード８が係合してIC５の電気的特性を測定し、
下死点よりのIC上昇によりIC５のリード８が離
脱する測定用接点９を備えたソケツト７とよりな
る構成としたものである。

〔作用〕 IC５の電気的特性の測定に際し、昇降屋根ガ
イド部１と一対の可動レール部２は上死点にあ
り、一対の可動レール部２は閉じた状態にある。
また、ストツパ３はガイド溝２９より突出した状
態にある。

このような状態でIC５が測定部１５に供給さ
れると、当該IC５は昇降屋根ガイド部１のガイ
ド溝２９と一対の可動レール部２との間で一対の
可動レール部２上を滑走してきてストツパ３に衝
突し停止する（第１図参照）。

次いで昇降屋根ガイド部１を昇降手段Ａにより
上死点から中段点まで下降させ停止させると、昇
降ブロツク３０及びこれに設けた一対の可動レー
ル部２もガイド溝２９との間でIC５を挟持した
まま（第３図ａ及び第４図ａ参照）、連動手段Ｂ
により連動して上死点より中段点まで下降し停止
する。

このとき、IC支持部６はIC５の腹４に当接し
てIC５を支持し、昇降屋根ガイド部１のガイド
溝２９との間でIC５を挟持する一方、一対の可
動レール部２を開閉手段Ｃによつて開く（第３図
ａ及び第４図ｂ参照）。しかる後、昇降屋根ガイ
ド部１を昇降手段Ａにより中段点より下死点まで
下降させ停止させると、IC支持部６もガイド溝
２９との間でIC５を挟持したまま連動手段Ｅに
より連動して下死点まで下降し停止する（第３図
ｂ及び第４図ｃ参照）。下死点で停止したところ
でIC５のリード８はソケツト７の測定用接点９
と係合する（第３図ｂ及び第４図ｃ参照）。次い
でIC５のリード８に測定用接点９を通して通電
して電気的特性の測定を行う。

測定が完了したら、昇降屋根ガイド部１を昇降
手段Ａにより下死点より中段点まで上昇させ停止
させると、IC支持部６もガイド溝２９との間で
IC５を挟持したまま連動手段Ｅにより連動して
中段点まで上昇し停止する。次いで一対の可動レ
ール部２を開閉手段Ｃによつて閉じてIC５を支
える。この動作が完了したら昇降屋根ガイド部１
を昇降手段Ａにより中段点より上死点まで上昇さ
せ停止させると、昇降ブロツク３０及び一対の可
動レール部２もガイド溝２９との間でIC５を挟
持したまま中段点より上死点まで上昇し停止す
る。しかる後、ストツパ３を上下動手段Ｄにより
上動すると、ストツパ３がガイド溝２９より引き
込み、IC５をフリーにする。フリーになつたIC
５は自重で一対の可動レール部２より滑落して排
出されることになる。

〔実施例〕

第１図は本発明測定部の一実施例を示す正断面
図、第２図は第１図の本発明測定部の一実施例を
適用したICハンドラの正面図である。

まず、ICハンドラについて説明する。

第２図において１１はローダで、第５図ｂ示の
IC５を充填したマガジン２１が積載されている。
１２はこのローダ１１よりマガジン２１を１本ず
つ傾動アーム２２に供給するIC供給装置で、傾
動アーム２２を傾動することによりマガジン２１
内のIC５を供給シユート１４に滑落させるもの
である。１３は供給シユート１４に滑落したIC
５を個別化する個別化装置で、個別化されたIC
５は本発明に係る測定部１５に供給される。１６
はテストステーシヨン、１７は操作部、２３はベ
ースである。

測定部１５は供給されたIC５の電気的特性を
測定する。測定後のIC５は分類シユート１９に
排出され、特性別に分類されて所定のアンローダ
１８に滑入し、空のマガジン２１に収納される。
なお、２０は架台である。

次にこのようなICハンドラにおいて供給シユ
ート１４と分類シュート１９との間に配設される
本発明測定部１５の一実施例の構成を第１図によ
り詳述する。

第１図において１はIC供給・排出位置である
上死点、途中の中段点、IC測定位置直上の下死
点の３停止点間を昇降する昇降屋根ガイド部で、
下面にはIC５の背部の形状に合つたガイド溝２
９を設けてある。ベース２３を貫通する一対の昇
降軸２７の下端部は昇降屋根ガイド部１に連結さ
れ、その上端部は昇降軸連結バー２８で連結され
ている。この連結バー２８には昇降用副シリンダ
２５が取着され、この副シリンダ２５はベース２
３に立設した昇降用主シリンダ２４とカツプリン
グ２６で接続されている。この主、副シリンダ２
４，２５と一対の昇降軸２７と連結バー２８等は
屋根ガイド部１の昇降手段Ａを構成している。

３０は上死点と中段点間を昇降屋根ガイド部１
と連動して昇降する昇降ブロツクで、ベース２３
の下方に配設されている。ベース２３を貫通する
一対の昇降シヤフト３４の下端部はこの昇降ブロ
ツク３０に連結され、その上端部はシヤフト連結
バー３５で連結されている。この連結バー３５は
これに螺着された高さ調整ボルト３６で上記昇降
手段Ａの昇降軸連結バー２８に支えられている。
また、ベース２３と昇降ブロツク３０との間には
一対の昇降シヤフト３４に嵌め込んだ圧縮ばね４
１が介装され、一対の昇降シヤフト３４には移動
量規制リング３７が取付けられている。一対の昇
降シヤフト３４と連結バー３５と高さ調整ボルト
３６と移動量規制リング３７と圧縮ばね４１等
は、昇降屋根ガイド部１と連動して昇降ブロツク
３０を上死点と中段点間で昇降させるための連動
手段Ｂを構成している。移動量規制リング３７
は、ベース２３に当接して中段点で連動を中断す
る役目を果たすものである。

２は中段点での下降停止時と上昇開始時にそれ
ぞれ開閉される一対の可動レール部で、昇降中及
び上死点では閉状態を保つてIC５を支え、開状
態ではIC５の支えを解放するものである。この
一対の可動レール部２は、昇降屋根ガイド部１の
通孔３３に挿通した一対の揺動アーム３１の下端
に設けられ、この一対の揺動アーム３１の基端は
昇降ブロツク３０に枢支されている。一対の揺動
アーム３１は昇降ブロツク３０に取付けた開閉用
シリンダ３２とリンク機構４２で連結されてお
り、これによつて一対の可動レール部２は開閉で
きるようになつている。一対の揺動アーム３１と
開閉用シリンダ３２とリンク機構４２等は一対の
可動レール部２の開閉手段Ｃを構成している。

３は昇降屋根ガイド部１の通孔３８に上下動自
在に設けられたストツパで、上死点でのIC供給
以前に下動しガイド溝２９より突出してIC５の
停止位置を決定し、上死点でのIC排出時に上動
しガイド溝２９より没入してIC５をフリーにす
るためのものである。３９は屋根ガイド部１の上
面に設けられたストツパ３の上下動手段、例えば
ストツパ駆動シリンダである。

７はIC測定位置に設けられたソケツトで、下
死点でのIC停止時にIC５のリード８が湾曲部１
０に係合してIC５の電気的特性を測定し、下死
点よりのIC５の上昇によりIC５のリード８が湾
曲部１０より離脱する測定用接点９を備えてい
る。６は中段点と下死点間を昇降屋根ガイド部１
と連動して昇降しIC５の腹４を支持する棒状の
IC支持部である。このIC支持部６はソケツト７
の中央の孔に上下動自在に挿通して設けられてお
り、IC支持部６とソケツト７との間には当該IC
支持部６に嵌め込んだ支持部昇降ばね４０が介装
されている。この昇降ばね４０は昇降屋根ガイド
部１と連動してIC支持部６を中段点と下死点間
で昇降させるための連動手段Ｅとなつている。

以下、本発明測定部の一実施例の作用を説明す
る。

IC５の電気的特性の測定に際し、昇降屋根ガ
イド部１と一対の可動レール部２は上死点にあ
り、一対の可動レール部２は閉じた状態にある。
また、ストツパ３はガイド溝２９より突出した状
態にある。

このような状態でIC５が測定部１５に供給シ
ユート１４により供給されると、当該IC５は昇
降屋根ガイド部１のガイド溝２９と一対の可動レ
ール部２との間で一対の可動レール部２上を滑走
してきてストツパ３に衝突し停止する（第１図参
照）。

次いで昇降用副シリンダ２５又は昇降用主シリ
ンダ２４が作動し、これによつて連結バー２８及
び一対の昇降軸２７を経て昇降屋根ガイド部１
が、上死点から中段点まで下降し停止する。これ
と同時に連結バー２８に高さ調整ボルト３６で支
えられた連結バー３５及び一対の昇降シヤフト３
４を経て昇降ブロツク３０とこれに一対の揺動ア
ーム３１を介して設けられた一対の可動レール部
２も、ガイド溝２９との間でIC５を挟持したま
ま（第３図ａ及び第４図ａ参照）、上死点から中
段点まで下降し停止する。この場合、圧縮ばね４
１は伸長して行き、そのばね力によつて高さ調整
ボルト３６は連結バー２８に当接した状態を保
ち、連動動作を達成する。

屋根ガイド部１と可動レール部２が中段点で停
止したとき、IC支持部６はIC５の腹４に当接し
て昇降ばね４０を撓ませた状態でIC５を支持し、
昇降屋根ガイド部１のガイド溝２９との間でIC
５を挟持する一方、開閉用シリンダ３２が作動
し、これによつてリンク機構４２を経て一対の揺
動アーム３１を開き、一対の可動レール部２を開
く（第３図ａ及び第４図ｂ参照）。しかる後、昇
降用主シリンダ２４または昇降用副シリンダ２５
が作動し、これによつて連結バー２８及び一対の
昇降軸２７を経て昇降屋根ガイド部１が、中段点
より下死点まで下降し停止する。これと同時に
IC支持部６もIC５の腹４に当接しガイド溝２９
との間でIC５を挟持したまま、昇降ばね４０に
ばね力に抗して中段点より下死点まで下降し停止
する（第３図ｂ及び第４図ｃ参照）。

この場合、中段点で移動量規制リング３７がベ
ース２３に当たつているため、連結バー２８に高
さ調整ボルト３６で支えられた連結バー３５、一
対の昇降シヤフト３４、昇降ブロツク３０、一対
の揺動アーム３１及び一対の可動レール部２等
は、中段点と下死点間で昇降することはない。

昇降屋根ガイド部１とIC支持部６が下死点で
停止したところで、IC５のリード８はソケツト
７の測定用接点９の湾曲部１０と係合する（第３
図ｂ及び第４図ｃ参照）。次いでIC５のリード８
に測定用接点９を通して通電して電気的特性の測
定を行う。

測定が完了すると、昇降用主シリンダ２４また
は昇降用副シリンダ２５が逆方向に作動し、これ
によつて昇降屋根ガイド部１を下死点より中段点
まで上昇させ停止させると、IC支持部６も昇降
ばね４０のばね力によつて下死点より上昇して
IC５をソケツト７から離脱させた後、IC支持部
６をガイド溝２９との間でIC５を挟持したまま、
中段点まで上昇し停止する（第３図ａ及び第４図
ａ参照）。次いで開閉用シリンダ３２が逆方向に
作動して一対の可動レール部２をリンク機構４２
を介して閉じ、IC５を支える（第３図ａ及び第
４図ａ参照）。

この動作が完了すると昇降用副シリンダ２５ま
たは昇降用主シリンダ２４を逆方向に作動し、こ
れによつて昇降屋根ガイド部１を中段点より上死
点まで上昇させ停止させると、昇降ブロツク３
０、一対の揺動アーム３１及び一対の可動レール
部２もガイド溝２９との間でIC５を挟持したま
ま、中段点より上死点まで上昇し停止する。

その結果、供給シユート１４と分類シユート１
９との間に昇降屋根ガイド部１と一対の可動レー
ル部２が位置せしめられ正確に接続される。この
接続が完了すると、ストツパ駆動シリンダ３９が
作動してストツパ３を上動させ、ガイド溝２９よ
り引き込ませてIC５をフリーにする。フリーに
なつたIC５は自重で一対の可動レール部２より
滑落して分類シユート１９に排出されることにな
る。

なお、本発明における昇降手段Ａ、連動手段
Ｂ、開閉手段Ｃ、上下動手段Ｄ及び連動手段Ｅは
実施例の構造に限定されず、例えばIC支持部６
の連動手段Ｅは第１図の仮想線で示すようにばね
駆動に代えてシリンダ駆動としてもよい。

〔発明の効果〕

上述のように本発明によれば、IC供給・排出
位置である上死点と途中の中段点との間では、昇
降屋根ガイド部１と一対の可動レール部２の間で
IC５を挟持して昇降させ、途中の中段点とIC測
定位置直上の下死点との間では、一対の可動レー
ル部２を開状態に保持すると共に昇降屋根ガイド
部１と棒状のIC支持部６の間でIC５を挟持して
昇降させ、IC測定位置のソケツト７の測定用接
点９にIC５のリード８を係合しあるいはこれよ
り離脱できるようにしたので、たとえリード８が
IC５の四辺に設けられていても一対の可動レー
ル部２が邪魔になることはなく、ソケツト７に
IC５を自由に脱着でき、IC５の電気的特性の測
定を行うことができ、新しい形状のPLCC型ICに
も適用することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明測定部の一実施例を示す正断面
図、第２図は第１図の本発明測定部の一実施例を
適用したICハンドラの正面図、第３図ａ，ｂは
それぞれ本発明におけるソケツトにICを装着す
る前の状態及び装着時の状態を示す断面図、第４
図ａ〜ｃはそれぞれ同じくソケツトへのICの装
着を開始する前の状態、装着直前の状態及び装着
時の状態を示す斜視図、第５図ａ，ｂはそれぞれ
従来のDILP型ICの斜視図及び新しく登場した
PLCC型ICを下方より見た斜視図である。 １……昇降屋根ガイド部、２……可動レール
部、３……ストツパ、４……腹、５……IC、６
……IC支持部、７……ソケツト、８……リード、
９……測定用接点、１０……湾曲部、１５……測
定部、２４……昇降用主シリンダ、２５……昇降
用副シリンダ、２６……カツプリング、２７……
昇降軸、２８……昇降軸連結バー、２９……ガイ
ド溝、３０……昇降ブロツク、３１……揺動アー
ム、３２……開閉用シリンダ、３４……昇降シヤ
フト、３５……シヤフト連結バー、３６……高さ
調整ボルト、３７……移動量規制リング、３９…
…ストツパ駆動シリンダ、４０……支持部昇降ば
ね、４１……圧縮ばね、４２……リンク機構、Ａ
……昇降屋根ガイド部１の昇降手段、Ｂ……昇降
ブロツク３０の連動手段、Ｃ……可動レール部２
の開閉手段、Ｄ……ストツパ３の上下動手段、Ｅ
……IC支持部６の連動手段。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ IC供給・排出位置である上死点、途中の中
   段点、IC測定位置直上の下死点の３停止点間を
   昇降し、下面にIC５のガイド溝２９を有する昇
   降屋根ガイド部１及び当該昇降屋根ガイド部１の
   昇降手段Ａと、上死点と中段点間をこの昇降屋根
   ガイド部１と連動して昇降する昇降ブロツク３０
   及び当該昇降ブロツク３０の連動手段Ｂと、この
   昇降ブロツク３０に設けられて中段点での下降停
   止時と上昇開始時にそれぞれ開、閉され、昇降中
   及び上死点では閉状態を保つてIC５を支え、開
   状態ではIC５の支えを解放する一対の可動レー
   ル部２及び当該可動レール部２の開閉手段Ｃと、
   昇降屋根ガイド部１に上下動自在に設けられ、上
   死点でのIC供給以前に下動しガイド溝２９より
   突出してIC５の停止位置を決定し、上死点での
   IC排出時に上動しガイド溝２９より没入してIC
   ５をフリーにするストツパ３及び当該ストツパ３
   の上下動手段Ｄと、中段点と下死点間を昇降屋根
   ガイド部１と連動して昇降しIC５の腹４を支持
   する棒状のIC支持部６及び当該IC支持部６の連
   動手段Ｅと、IC測定位置に設けられ下死点での
   IC停止時にIC５のリード８が係合してIC５の電
   気的特性を測定し、下死点よりのIC上昇により
   IC５のリード８が離脱する測定用接点９を備え
   たソケツト７とよりなるICハンドラの測定部。