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JPH0575331B2 - - Google Patents
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JPH0575331B2 - - Google Patents

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JPH0575331B2
JPH0575331B2 JP62112052A JP11205287A JPH0575331B2 JP H0575331 B2 JPH0575331 B2 JP H0575331B2 JP 62112052 A JP62112052 A JP 62112052A JP 11205287 A JP11205287 A JP 11205287A JP H0575331 B2 JPH0575331 B2 JP H0575331B2
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JP
Japan
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pin
pins
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pga
optical system
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Hiroshi Ikeda
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 この発明は、ピンからの反射光を撮像してピン
位置を検出する際に、ピン曲りによつて生ずる影
等によつて正確なピン位置の検出が不可能になる
ことを防止するために、レーザ光をスリツトビー
ムに作成するビーム作成手段を設け、スリツトビ
ームでピン先端部を照射するようにしてある。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] This invention solves the problem of detecting the accurate pin position due to shadows caused by bending the pin when detecting the pin position by imaging the reflected light from the pin. In order to prevent this from becoming impossible, a beam forming means for forming the laser beam into a slit beam is provided, and the tip of the pin is irradiated with the slit beam.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

この発明は複数のピンを有する部材、特にプリ
ント板に搭載するピングリツドアレイのピン位置
検出装置に関するものである。
The present invention relates to a member having a plurality of pins, particularly a pin position detection device for a pin grid array mounted on a printed board.

情報、通信の分野でプリント基板が広く用いら
れている。このプリント基板は、装置の性能を向
上する上から益々高密度化が要求されている。一
方、プリント基板に搭載される部品も高密度化が
図られ、その一例としてピングリツドアレイ(以
後PGAと記す)がある。
Printed circuit boards are widely used in the information and communication fields. This printed circuit board is required to have an increasingly higher density in order to improve the performance of the device. On the other hand, components mounted on printed circuit boards are becoming more densely packed, and one example of this is the pin grid array (hereinafter referred to as PGA).

しかしながら、PGAのピンが湾曲してプリン
ト基板に搭載が不可能になるものがあり、ピン位
置の高精度検出が可能なピン位置検出装置が必要
とされている。
However, some PGA pins are curved and cannot be mounted on a printed circuit board, and there is a need for a pin position detection device that can detect pin positions with high precision.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、ピン位置を検出するのに第5図に示すよ
うな装置が用いられている。即ち、PGA1はリ
ング状の光源20によつて照明されている。一
方、光を照射されるPGA1は、メタライズパタ
ーン1−11〜1−1nの中心にそれぞれピン1
−1〜1−nが植設されている。上記したリング
状の光源20は、このメタライズパターン1−1
1〜1−n部を明るくするためである。したがつ
て、PGA1から反射される光は、メタライズパ
ターン1−11〜1−1n部が明るく、TVカメ
ラ5に撮像される。
Conventionally, a device as shown in FIG. 5 has been used to detect the pin position. That is, the PGA 1 is illuminated by the ring-shaped light source 20. On the other hand, the PGA 1 that is irradiated with light has pins 1 and 1 at the center of the metallized patterns 1-11 to 1-1n, respectively.
-1 to 1-n are planted. The ring-shaped light source 20 described above is based on this metallized pattern 1-1.
This is to make the 1 to 1-n parts brighter. Therefore, the light reflected from the PGA 1 is bright in the metallized patterns 1-11 to 1-1n, and is imaged by the TV camera 5.

この撮像状態は、第6図に示すようになる。即
ち、メタライズパターン部分が明るく、ピン部分
がメタライズパターン部分の略中央に暗く撮像さ
れる。これによつてピン位置を検出するのである
が、若しピンが湾曲していると、湾曲したピンの
影にあるメタライズパターンは暗くなり、ピンの
先端位置の検出が不可能となり、又メタライズパ
ターン1−11〜1−1nに傷が発生している
と、反射光は少なくなり、暗く撮像されピンとの
区別が困難となると云うことが従来、ピン位置を
検出するのに第5図に示すような装置が用いられ
ている。即ち、PGA1はリング状の光源20に
よつて照明されている。一方、光を照射される
PGA1は、メタライズパターン1−11〜1−
1nの中心にそれぞれピン1−1〜1−nが植設
されている。上記したリング状の光源20は、こ
のメタライズパターン1−11〜1−1n部を明
るくするためである。したがつて、PGA1から
反射される光は、メタライズパターン1−11〜
1−1n部が明るく、TVカメラ5に撮像され
る。
This imaging state is as shown in FIG. That is, the metallized pattern portion is brightly imaged, and the pin portion is imaged darkly at approximately the center of the metallized pattern portion. This is how the pin position is detected, but if the pin is curved, the metallized pattern in the shadow of the curved pin will become dark, making it impossible to detect the tip position of the pin, and if the metallized pattern If there are scratches on 1-11 to 1-1n, the amount of reflected light will be reduced and the image will be dark, making it difficult to distinguish it from the pin. equipment is used. That is, the PGA 1 is illuminated by the ring-shaped light source 20. On the other hand, being irradiated with light
PGA1 is metallized pattern 1-11 to 1-
Pins 1-1 to 1-n are implanted in the center of 1n, respectively. The ring-shaped light source 20 described above is for brightening the metallized patterns 1-11 to 1-1n. Therefore, the light reflected from PGA1 is reflected from metallized patterns 1-11 to
The 1-1n section is bright and is imaged by the TV camera 5.

この撮像状態は、第6図に示すようになる。即
ち、メタライズパターン部分が明るく、ピン部分
がメタライズパターン部分の略中央に暗く撮像さ
れる。これによつてピン位置を検出するのである
が、若しピンが湾曲していると、湾曲したピンの
影にあるメタライズパターンは暗くなり、ピンの
先端位置の検出が不可能となり、又メタライズパ
ターン1−11〜1−1nに傷が発生している
と、反射光は少なくなり、暗く撮像されピンとの
区別が困難となると云うことが生じる。
This imaging state is as shown in FIG. That is, the metallized pattern portion is brightly imaged, and the pin portion is imaged darkly at approximately the center of the metallized pattern portion. This is how the pin position is detected, but if the pin is curved, the metallized pattern in the shadow of the curved pin will become dark, making it impossible to detect the tip position of the pin, and if the metallized pattern If scratches occur on 1-11 to 1-1n, the amount of reflected light will decrease, resulting in a dark image that will be difficult to distinguish from the pin.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上記したように従来の装置では、ピン曲り或い
はメタライズパターンの傷によつて、ピン先端位
置の判別が困難であり、測定が粗雑であるという
問題がある。
As described above, conventional devices have a problem in that it is difficult to determine the position of the pin tip due to bent pins or scratches in the metallized pattern, resulting in rough measurements.

この発明は、上記従来の状況から、簡単な構造
で、しかも高精度のピン位置検出の行えるピン位
置検出装置を提供することを目的とするものであ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a pin position detection device that has a simple structure and can detect pin positions with high accuracy.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明は、第1図に示すように、PGA1の
ピンを照射する光学系4はレーザ発生素子2とこ
のレーザ光を射出方向と直交する水平面に拡大し
スリツトビームを作成するビーム作成手段として
動作する2個のシリンドリカルレンズ3−1,3
−2で構成されている。この光学系4は、PGA
1の両端より、ピン1−1〜1−nの先端を照射
するように構成してある。
In this invention, as shown in FIG. 1, an optical system 4 that irradiates the pins of the PGA 1 operates as a beam forming means that expands the laser beam together with a laser generating element 2 in a horizontal plane perpendicular to the emission direction to form a slit beam. Two cylindrical lenses 3-1, 3
-2. This optical system 4 is a PGA
The tip of pins 1-1 to 1-n is irradiated from both ends of pin 1.

〔作 用〕[Effect]

シリンドリカルレンズ3−1,3−2は全ピン
を拡大したスリツトビームで照射し、ピン先端を
明るくして撮像することによつて、ピン位置の高
精度検出が可能となる。
The cylindrical lenses 3-1 and 3-2 irradiate all the pins with an enlarged slit beam and image the tips of the pins brightly, thereby making it possible to detect pin positions with high precision.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は本発明の一実施例を示す要部側面図で
ある。光学系4はPGA1の両側面に設けられて
いる。然も各光学系4は全ピン1−1〜1−nの
先端部に影を生ぜしめないように、ピン先端の水
平面より少し上側に設けてある。
FIG. 1 is a side view of essential parts showing an embodiment of the present invention. Optical systems 4 are provided on both sides of PGA 1. However, each optical system 4 is provided slightly above the horizontal plane of the tips of the pins 1-1 to 1-n so as not to cast shadows on the tips of the pins 1-1 to 1-n.

この光学系4は、レーザ発生素子2と、この出
射するレーザ光を出射方向と直交し、ピン先端の
全部を照射するようにレーザ光を所要幅即ち
PGA1の幅に拡大するシリンドリカルレンズ3
−1,3−2とで構成されている。
This optical system 4 includes a laser generating element 2 and a laser beam that is emitted in a required width orthogonal to the emission direction so as to irradiate the entire tip of the pin.
Cylindrical lens 3 that expands to the width of PGA1
-1 and 3-2.

この光学系4によつて作成されるビームは、第
2図に示すようになる。この図は第1図をTVカ
メラ5の方向から見たものである。即ち、レーザ
発生素子2としてHe−Neレーザが用いられる。
このHe−Neレーザ光はビーム径が1mm、波長
632.8nmである。
The beam created by this optical system 4 is as shown in FIG. This figure is a view of FIG. 1 from the direction of the TV camera 5. That is, a He--Ne laser is used as the laser generating element 2.
This He-Ne laser beam has a beam diameter of 1 mm and a wavelength of
It is 632.8nm.

シリンドリカルレンズ3−1,3−2は共に焦
点距離f25mmのものを用いる。これらを第2図に
示す距離(5475mm)に配置すると、シリンドリカ
ルレンズ3−2から67mmの距離において幅30mm厚
さ1mmのスリツト状の光束が得られる。
Both cylindrical lenses 3-1 and 3-2 have a focal length of f25 mm. When these are arranged at the distance shown in FIG. 2 (5475 mm), a slit-shaped light beam having a width of 30 mm and a thickness of 1 mm is obtained at a distance of 67 mm from the cylindrical lens 3-2.

このスリツト状の光束が全ピンの先端を照射
し、メタライズパターンを照射しないように上記
したように、ピン先端の水平面より少し上側から
照射する。
This slit-shaped light beam irradiates the tips of all the pins, and as described above, irradiates from slightly above the horizontal plane of the tips of the pins so as not to irradiate the metallized pattern.

なお、TVカメラ5の前面には、レーザ光の波
長のみを通すフイルタ6が設けてあり、他光源に
よるノイズによる影響をなくしている。
Note that a filter 6 is provided in front of the TV camera 5 to pass only the wavelength of the laser beam, thereby eliminating the influence of noise from other light sources.

上記した実施例を用いて撮像すると、第3図に
示すようにピンが明るく明確に検出され、しかも
ピン曲りの検出も可能となる。更に、撮像部の倍
率を高くすると、第4図に示すようにピン先端の
輪郭も検出できるものとなる。
When an image is taken using the above-described embodiment, the pin is bright and clearly detected as shown in FIG. 3, and it is also possible to detect pin bending. Furthermore, if the magnification of the imaging section is increased, the outline of the tip of the pin can also be detected as shown in FIG.

なお、以上の説明はスリツトビームを作成する
ビーム作成手段としてシリンドリカルレンズを用
いたが、スリツトビームを作成するのに、回転す
る多面鏡を用いても何等支障されないことは言う
までもなく、またレーザの種類もシリンドリカル
レンズの種類も実施例以外のものでも良いことは
言うまでもない。また実施例では、光学系4を2
個用いているが複数の光学系を用いることで、よ
り鮮明な画像が得られることは言うまでもない。
Although the above explanation uses a cylindrical lens as a beam creation means to create a slit beam, it goes without saying that there is no problem with using a rotating polygon mirror to create a slit beam. It goes without saying that types of lenses other than those in the embodiments may also be used. In addition, in the embodiment, the optical system 4 is
It goes without saying that a clearer image can be obtained by using multiple optical systems.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上の説明から明らかなように、この発明によ
れば、簡単に然もノイズに影響されず正確なピン
位置の検出が行えるものとなり、プリント板を作
製する際に適用すると、能率、品質を向上する上
できわめて有効な効果を発揮する。
As is clear from the above description, according to the present invention, it is possible to easily and accurately detect pin positions without being affected by noise, and when applied to the production of printed circuit boards, efficiency and quality can be improved. It is extremely effective in doing so.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す要部側面図、
第2図は本発明の光学系を示す斜視図、第3図は
本発明によるピン先端の撮像図、第4図は本発明
によるピン先端の拡大撮像図、第5図は従来の装
置の要部構成図、第6図は従来装置のピン先端の
撮像図である。 図において、1はPGA、2はレーザ発光素子、
3はビーム作成手段、3−1,3−2はシリンド
リカルレンズ、4は光学系、5はTVカメラ、6
はフイルタを示す。
FIG. 1 is a side view of essential parts showing one embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a perspective view showing the optical system of the present invention, FIG. 3 is an image taken of the tip of the pin according to the invention, FIG. 4 is an enlarged view of the tip of the pin according to the invention, and FIG. A partial configuration diagram, FIG. 6 is an imaged view of the tip of a pin of a conventional device. In the figure, 1 is a PGA, 2 is a laser emitting element,
3 is a beam creating means, 3-1, 3-2 are cylindrical lenses, 4 is an optical system, 5 is a TV camera, 6
indicates a filter.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 複数のピン1−1〜1−nを有する部材1の
前記ピン1−1〜1−nからの反射光を撮像して
前記ピン位置を検出する装置において、 前記ピン1−1〜1−nを照射する光学系4を
レーザ発生素子2と、 該レーザ光を受光しレーザ光の射出方向に直交
する方向にレーザ光を拡大しスリツトビームを作
成するビーム作成手段3とで構成し、 2対の前記光学系4が前記部材1の両側面より
前記ピン1−1〜1−nの先端を照射することを
特徴とするピン位置検出装置。
[Scope of Claims] 1. A device that detects the pin position by imaging reflected light from the pins 1-1 to 1-n of a member 1 having a plurality of pins 1-1 to 1-n, comprising: The optical system 4 for irradiating the laser beams 1-1 to 1-n is a laser generating element 2, and the beam forming means 3 receives the laser beam and expands the laser beam in a direction perpendicular to the emission direction of the laser beam to create a slit beam. A pin position detection device comprising: two pairs of optical systems 4 irradiating the tips of the pins 1-1 to 1-n from both side surfaces of the member 1.
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