JPH0575331B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0575331B2 JPH0575331B2 JP62112052A JP11205287A JPH0575331B2 JP H0575331 B2 JPH0575331 B2 JP H0575331B2 JP 62112052 A JP62112052 A JP 62112052A JP 11205287 A JP11205287 A JP 11205287A JP H0575331 B2 JPH0575331 B2 JP H0575331B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pin
- pins
- laser
- pga
- optical system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Automatic Assembly (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
この発明は、ピンからの反射光を撮像してピン
位置を検出する際に、ピン曲りによつて生ずる影
等によつて正確なピン位置の検出が不可能になる
ことを防止するために、レーザ光をスリツトビー
ムに作成するビーム作成手段を設け、スリツトビ
ームでピン先端部を照射するようにしてある。
位置を検出する際に、ピン曲りによつて生ずる影
等によつて正確なピン位置の検出が不可能になる
ことを防止するために、レーザ光をスリツトビー
ムに作成するビーム作成手段を設け、スリツトビ
ームでピン先端部を照射するようにしてある。
この発明は複数のピンを有する部材、特にプリ
ント板に搭載するピングリツドアレイのピン位置
検出装置に関するものである。
ント板に搭載するピングリツドアレイのピン位置
検出装置に関するものである。
情報、通信の分野でプリント基板が広く用いら
れている。このプリント基板は、装置の性能を向
上する上から益々高密度化が要求されている。一
方、プリント基板に搭載される部品も高密度化が
図られ、その一例としてピングリツドアレイ（以
後PGAと記す）がある。
れている。このプリント基板は、装置の性能を向
上する上から益々高密度化が要求されている。一
方、プリント基板に搭載される部品も高密度化が
図られ、その一例としてピングリツドアレイ（以
後PGAと記す）がある。
しかしながら、PGAのピンが湾曲してプリン
ト基板に搭載が不可能になるものがあり、ピン位
置の高精度検出が可能なピン位置検出装置が必要
とされている。
ト基板に搭載が不可能になるものがあり、ピン位
置の高精度検出が可能なピン位置検出装置が必要
とされている。
従来、ピン位置を検出するのに第５図に示すよ
うな装置が用いられている。即ち、PGA１はリ
ング状の光源２０によつて照明されている。一
方、光を照射されるPGA１は、メタライズパタ
ーン１−１１〜１−１ｎの中心にそれぞれピン１
−１〜１−ｎが植設されている。上記したリング
状の光源２０は、このメタライズパターン１−１
１〜１−ｎ部を明るくするためである。したがつ
て、PGA１から反射される光は、メタライズパ
ターン１−１１〜１−１ｎ部が明るく、TVカメ
ラ５に撮像される。
うな装置が用いられている。即ち、PGA１はリ
ング状の光源２０によつて照明されている。一
方、光を照射されるPGA１は、メタライズパタ
ーン１−１１〜１−１ｎの中心にそれぞれピン１
−１〜１−ｎが植設されている。上記したリング
状の光源２０は、このメタライズパターン１−１
１〜１−ｎ部を明るくするためである。したがつ
て、PGA１から反射される光は、メタライズパ
ターン１−１１〜１−１ｎ部が明るく、TVカメ
ラ５に撮像される。
この撮像状態は、第６図に示すようになる。即
ち、メタライズパターン部分が明るく、ピン部分
がメタライズパターン部分の略中央に暗く撮像さ
れる。これによつてピン位置を検出するのである
が、若しピンが湾曲していると、湾曲したピンの
影にあるメタライズパターンは暗くなり、ピンの
先端位置の検出が不可能となり、又メタライズパ
ターン１−１１〜１−１ｎに傷が発生している
と、反射光は少なくなり、暗く撮像されピンとの
区別が困難となると云うことが従来、ピン位置を
検出するのに第５図に示すような装置が用いられ
ている。即ち、PGA１はリング状の光源２０に
よつて照明されている。一方、光を照射される
PGA１は、メタライズパターン１−１１〜１−
１ｎの中心にそれぞれピン１−１〜１−ｎが植設
されている。上記したリング状の光源２０は、こ
のメタライズパターン１−１１〜１−１ｎ部を明
るくするためである。したがつて、PGA１から
反射される光は、メタライズパターン１−１１〜
１−１ｎ部が明るく、TVカメラ５に撮像され
る。
ち、メタライズパターン部分が明るく、ピン部分
がメタライズパターン部分の略中央に暗く撮像さ
れる。これによつてピン位置を検出するのである
が、若しピンが湾曲していると、湾曲したピンの
影にあるメタライズパターンは暗くなり、ピンの
先端位置の検出が不可能となり、又メタライズパ
ターン１−１１〜１−１ｎに傷が発生している
と、反射光は少なくなり、暗く撮像されピンとの
区別が困難となると云うことが従来、ピン位置を
検出するのに第５図に示すような装置が用いられ
ている。即ち、PGA１はリング状の光源２０に
よつて照明されている。一方、光を照射される
PGA１は、メタライズパターン１−１１〜１−
１ｎの中心にそれぞれピン１−１〜１−ｎが植設
されている。上記したリング状の光源２０は、こ
のメタライズパターン１−１１〜１−１ｎ部を明
るくするためである。したがつて、PGA１から
反射される光は、メタライズパターン１−１１〜
１−１ｎ部が明るく、TVカメラ５に撮像され
る。
この撮像状態は、第６図に示すようになる。即
ち、メタライズパターン部分が明るく、ピン部分
がメタライズパターン部分の略中央に暗く撮像さ
れる。これによつてピン位置を検出するのである
が、若しピンが湾曲していると、湾曲したピンの
影にあるメタライズパターンは暗くなり、ピンの
先端位置の検出が不可能となり、又メタライズパ
ターン１−１１〜１−１ｎに傷が発生している
と、反射光は少なくなり、暗く撮像されピンとの
区別が困難となると云うことが生じる。
ち、メタライズパターン部分が明るく、ピン部分
がメタライズパターン部分の略中央に暗く撮像さ
れる。これによつてピン位置を検出するのである
が、若しピンが湾曲していると、湾曲したピンの
影にあるメタライズパターンは暗くなり、ピンの
先端位置の検出が不可能となり、又メタライズパ
ターン１−１１〜１−１ｎに傷が発生している
と、反射光は少なくなり、暗く撮像されピンとの
区別が困難となると云うことが生じる。
上記したように従来の装置では、ピン曲り或い
はメタライズパターンの傷によつて、ピン先端位
置の判別が困難であり、測定が粗雑であるという
問題がある。
はメタライズパターンの傷によつて、ピン先端位
置の判別が困難であり、測定が粗雑であるという
問題がある。
この発明は、上記従来の状況から、簡単な構造
で、しかも高精度のピン位置検出の行えるピン位
置検出装置を提供することを目的とするものであ
る。
で、しかも高精度のピン位置検出の行えるピン位
置検出装置を提供することを目的とするものであ
る。
この発明は、第１図に示すように、PGA１の
ピンを照射する光学系４はレーザ発生素子２とこ
のレーザ光を射出方向と直交する水平面に拡大し
スリツトビームを作成するビーム作成手段として
動作する２個のシリンドリカルレンズ３−１，３
−２で構成されている。この光学系４は、PGA
１の両端より、ピン１−１〜１−ｎの先端を照射
するように構成してある。
ピンを照射する光学系４はレーザ発生素子２とこ
のレーザ光を射出方向と直交する水平面に拡大し
スリツトビームを作成するビーム作成手段として
動作する２個のシリンドリカルレンズ３−１，３
−２で構成されている。この光学系４は、PGA
１の両端より、ピン１−１〜１−ｎの先端を照射
するように構成してある。
シリンドリカルレンズ３−１，３−２は全ピン
を拡大したスリツトビームで照射し、ピン先端を
明るくして撮像することによつて、ピン位置の高
精度検出が可能となる。
を拡大したスリツトビームで照射し、ピン先端を
明るくして撮像することによつて、ピン位置の高
精度検出が可能となる。
第１図は本発明の一実施例を示す要部側面図で
ある。光学系４はPGA１の両側面に設けられて
いる。然も各光学系４は全ピン１−１〜１−ｎの
先端部に影を生ぜしめないように、ピン先端の水
平面より少し上側に設けてある。
ある。光学系４はPGA１の両側面に設けられて
いる。然も各光学系４は全ピン１−１〜１−ｎの
先端部に影を生ぜしめないように、ピン先端の水
平面より少し上側に設けてある。
この光学系４は、レーザ発生素子２と、この出
射するレーザ光を出射方向と直交し、ピン先端の
全部を照射するようにレーザ光を所要幅即ち
PGA１の幅に拡大するシリンドリカルレンズ３
−１，３−２とで構成されている。
射するレーザ光を出射方向と直交し、ピン先端の
全部を照射するようにレーザ光を所要幅即ち
PGA１の幅に拡大するシリンドリカルレンズ３
−１，３−２とで構成されている。
この光学系４によつて作成されるビームは、第
２図に示すようになる。この図は第１図をTVカ
メラ５の方向から見たものである。即ち、レーザ
発生素子２としてHe−Neレーザが用いられる。
このHe−Neレーザ光はビーム径が１mm、波長
632.8nmである。
２図に示すようになる。この図は第１図をTVカ
メラ５の方向から見たものである。即ち、レーザ
発生素子２としてHe−Neレーザが用いられる。
このHe−Neレーザ光はビーム径が１mm、波長
632.8nmである。
シリンドリカルレンズ３−１，３−２は共に焦
点距離f25mmのものを用いる。これらを第２図に
示す距離（5475mm）に配置すると、シリンドリカ
ルレンズ３−２から67mmの距離において幅30mm厚
さ１mmのスリツト状の光束が得られる。
点距離f25mmのものを用いる。これらを第２図に
示す距離（5475mm）に配置すると、シリンドリカ
ルレンズ３−２から67mmの距離において幅30mm厚
さ１mmのスリツト状の光束が得られる。
このスリツト状の光束が全ピンの先端を照射
し、メタライズパターンを照射しないように上記
したように、ピン先端の水平面より少し上側から
照射する。
し、メタライズパターンを照射しないように上記
したように、ピン先端の水平面より少し上側から
照射する。
なお、TVカメラ５の前面には、レーザ光の波
長のみを通すフイルタ６が設けてあり、他光源に
よるノイズによる影響をなくしている。
長のみを通すフイルタ６が設けてあり、他光源に
よるノイズによる影響をなくしている。
上記した実施例を用いて撮像すると、第３図に
示すようにピンが明るく明確に検出され、しかも
ピン曲りの検出も可能となる。更に、撮像部の倍
率を高くすると、第４図に示すようにピン先端の
輪郭も検出できるものとなる。
示すようにピンが明るく明確に検出され、しかも
ピン曲りの検出も可能となる。更に、撮像部の倍
率を高くすると、第４図に示すようにピン先端の
輪郭も検出できるものとなる。
なお、以上の説明はスリツトビームを作成する
ビーム作成手段としてシリンドリカルレンズを用
いたが、スリツトビームを作成するのに、回転す
る多面鏡を用いても何等支障されないことは言う
までもなく、またレーザの種類もシリンドリカル
レンズの種類も実施例以外のものでも良いことは
言うまでもない。また実施例では、光学系４を２
個用いているが複数の光学系を用いることで、よ
り鮮明な画像が得られることは言うまでもない。
ビーム作成手段としてシリンドリカルレンズを用
いたが、スリツトビームを作成するのに、回転す
る多面鏡を用いても何等支障されないことは言う
までもなく、またレーザの種類もシリンドリカル
レンズの種類も実施例以外のものでも良いことは
言うまでもない。また実施例では、光学系４を２
個用いているが複数の光学系を用いることで、よ
り鮮明な画像が得られることは言うまでもない。
以上の説明から明らかなように、この発明によ
れば、簡単に然もノイズに影響されず正確なピン
位置の検出が行えるものとなり、プリント板を作
製する際に適用すると、能率、品質を向上する上
できわめて有効な効果を発揮する。
れば、簡単に然もノイズに影響されず正確なピン
位置の検出が行えるものとなり、プリント板を作
製する際に適用すると、能率、品質を向上する上
できわめて有効な効果を発揮する。
第１図は本発明の一実施例を示す要部側面図、
第２図は本発明の光学系を示す斜視図、第３図は
本発明によるピン先端の撮像図、第４図は本発明
によるピン先端の拡大撮像図、第５図は従来の装
置の要部構成図、第６図は従来装置のピン先端の
撮像図である。 図において、１はPGA、２はレーザ発光素子、
３はビーム作成手段、３−１，３−２はシリンド
リカルレンズ、４は光学系、５はTVカメラ、６
はフイルタを示す。
第２図は本発明の光学系を示す斜視図、第３図は
本発明によるピン先端の撮像図、第４図は本発明
によるピン先端の拡大撮像図、第５図は従来の装
置の要部構成図、第６図は従来装置のピン先端の
撮像図である。 図において、１はPGA、２はレーザ発光素子、
３はビーム作成手段、３−１，３−２はシリンド
リカルレンズ、４は光学系、５はTVカメラ、６
はフイルタを示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数のピン１−１〜１−ｎを有する部材１の
前記ピン１−１〜１−ｎからの反射光を撮像して
前記ピン位置を検出する装置において、 前記ピン１−１〜１−ｎを照射する光学系４を
レーザ発生素子２と、 該レーザ光を受光しレーザ光の射出方向に直交
する方向にレーザ光を拡大しスリツトビームを作
成するビーム作成手段３とで構成し、 ２対の前記光学系４が前記部材１の両側面より
前記ピン１−１〜１−ｎの先端を照射することを
特徴とするピン位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62112052A JPS63275907A (ja) | 1987-05-07 | 1987-05-07 | ピン位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62112052A JPS63275907A (ja) | 1987-05-07 | 1987-05-07 | ピン位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63275907A JPS63275907A (ja) | 1988-11-14 |
| JPH0575331B2 true JPH0575331B2 (ja) | 1993-10-20 |
Family
ID=14576821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62112052A Granted JPS63275907A (ja) | 1987-05-07 | 1987-05-07 | ピン位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63275907A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2760065B2 (ja) * | 1989-07-03 | 1998-05-28 | 松下電器産業株式会社 | チップの実装方法 |
| CN112122917B (zh) * | 2020-07-23 | 2022-06-21 | 南京优登科技有限公司 | 发动机装配体精准配合方法 |
-
1987
- 1987-05-07 JP JP62112052A patent/JPS63275907A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63275907A (ja) | 1988-11-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6862097B2 (en) | Three-dimensional shape measuring method, and three-dimensional shape measuring apparatus | |
| US4867570A (en) | Three-dimensional information processing method and apparatus for obtaining three-dimensional information of object by projecting a plurality of pattern beams onto object | |
| EP2439486A1 (en) | Image correlation displacement sensor | |
| US8493570B2 (en) | Three-dimensional shape measuring apparatus | |
| JPH045508A (ja) | 物体の形状検出方法及びその装置 | |
| JPH0575331B2 (ja) | ||
| KR0170783B1 (ko) | 표면 광학 주사 장치 | |
| JP3897203B2 (ja) | ボールグリッドアレイのボール高さ計測方法 | |
| JPS587136A (ja) | 投影式露光方法およびその装置 | |
| JPH0552517A (ja) | スペツクル変位計 | |
| JP2003185420A (ja) | 三次元形状測定方法、三次元形状測定装置 | |
| JPS62291509A (ja) | 距離測定装置 | |
| JP2504944B2 (ja) | ３次元情報処理方法 | |
| JPS62291511A (ja) | 距離測定装置 | |
| JPH0643893B2 (ja) | 距離測定装置 | |
| KR0117212Y1 (ko) | 납땜검사장치 | |
| KR100275565B1 (ko) | 인쇄회로기판의 솔더 페이스트 인쇄형상 검사장치 | |
| JP2004061460A (ja) | 電子部品の外部リード形状検査装置 | |
| JPS5999216A (ja) | 物体の表面高さ測定装置 | |
| JPH052163B2 (ja) | ||
| JPH03154854A (ja) | 細線の微細欠陥検出装置 | |
| JPS63153411A (ja) | 形状計測装置 | |
| JP2000180133A (ja) | 形状検知装置 | |
| JPH04408A (ja) | 照明装置及び方法 | |
| JP2602417B2 (ja) | 投影式露光装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |