JPH0582850B2 - - Google Patents
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- JPH0582850B2 JPH0582850B2 JP61245229A JP24522986A JPH0582850B2 JP H0582850 B2 JPH0582850 B2 JP H0582850B2 JP 61245229 A JP61245229 A JP 61245229A JP 24522986 A JP24522986 A JP 24522986A JP H0582850 B2 JPH0582850 B2 JP H0582850B2
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- sio
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Description
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光および放射線感応性材料等の機能
性高分子材料として極めて有用な新規な重合体に
関する。
更に詳しくは、一般式(1)で表わされるアルカリ
可溶性ラダーシリコーンに関する。
〔従来の技術〕
半導体素子や集積回路等の電子部品の製作には
光および放射線を利用したエツチングによる微細
加工技術が用いられ、現在そのレジスト材として
は解像度に優れていることから、フエノール樹脂
やポリビニルフエノールのようなアルカリ可溶性
重合体を基本重合体として含むアルカリ現像型の
レジスト材料が主流を占めている。例えば、ノボ
ラツク樹脂と1,2−ナフトキノンジアジド類と
の組成物はポジ型フオトレジストであり、ポリビ
ニルフエノールとビスアジド類との組成物はネガ
型フオトレジストになる。また、ノボラツク樹脂
とポリオレフインスルホンとの組成物は放射線感
応性ポジ型レジストであることは、広く知られて
いる。一方、半導体素子等の配線の微細化に伴な
いレジスト層をパターニングした後の下地のエツ
チングは、従来の湿式エツチングに代つて、ドラ
イエツチングが採用されつつある。
従つて、レジスト材料に対しては、ドライエツ
チングに対する強い耐性が要求されることにな
る。従来のアルカリ現像型レジスト材料は下地が
金属や金属酸化膜等(例えばアルミニウム、シリ
コン、シリコン酸化膜等)の場合に使用されるハ
ロゲン系プラズマには強い耐性を示すが、下地が
有機物(例えば二層レジスト法における下層平坦
化膜やポリイミド等の層間絶縁膜等)の場合に用
いられる酸素プラズマに対する耐性は充分ではな
く、その特性向上が強く望まれていた。なお、ア
ルカリ現像型レジストの文献としては、J.C.
Strieter著:コダツク・マイクロエレクトロニク
ス・セミナー・プロシーデイング(Kodak
Microelectronics Seminor Proceeding)116
(1976)等が挙げられる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
本発明の目的は上記した従来の酸素プラズマ耐
性の低いアルカリ現像型レジストの基本重合体に
変わる、酸素プラズマ耐性の優れたアルカリ可溶
性重合体を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
酸素プラズマ耐性の優れた重合体としては、有
機ケイ素系重合体が良く知られている。これは、
有機ケイ素系重合体が酸素プラズマにより効率よ
くケイ素酸化膜になり、このケイ素酸化膜が、酸
素プラズマ耐性膜として働くためである。一方、
アルカリ可溶性の重合体としては、ノボラツク樹
脂やポリビニルフエノールのようなフエノール性
水酸基を有する重合体が知られている。
そこで上記目的を達成するために主鎖がケイ素
酸化物の構造に最も近いラダーシリコーン骨格で
側鎖にフエノール性水酸基を有する重合体を種々
合成した結果、下記一般式(1)で表わされるアルカ
リ可溶性ラダーシリコーンが良いことがわかつ
た。
(R1−SiO3/2)o(R2−SiO3/2)n(R3−SiO3/2)
l(R4−SiO3/2)p(R5−SiO3/2)p(R6−SiO3/2)q…(1
)
但し、一般式(1)中のR1、R2はフエノール性水
酸基を有する有機基、R3、R4、R5、R6はフエノ
ール性水酸基を含まない有機基である。また、
n、mはゼロを含まない正の整数、l、o、p、
qはゼロを含む正の整数で、(n+m)/(n+
m+l+o+p+q)>0.4を満さなければならな
い。
ここで、R1、R2は具体的には、例えば、
[Industrial Application Field] The present invention relates to a novel polymer that is extremely useful as a functional polymer material such as a light- and radiation-sensitive material. More specifically, it relates to an alkali-soluble ladder silicone represented by general formula (1). [Prior technology] Microfabrication technology by etching using light and radiation is used to manufacture electronic components such as semiconductor elements and integrated circuits, and currently resist materials such as phenol resin and Alkaline-developable resist materials containing an alkali-soluble polymer such as polyvinylphenol as a basic polymer are the mainstream. For example, a composition of novolak resin and 1,2-naphthoquinone diazides is a positive photoresist, and a composition of polyvinylphenol and bisazides is a negative photoresist. Furthermore, it is widely known that a composition of novolac resin and polyolefin sulfone is a radiation-sensitive positive resist. On the other hand, with the miniaturization of wiring in semiconductor devices and the like, dry etching is increasingly being adopted in place of the conventional wet etching for etching the underlying layer after patterning the resist layer. Therefore, resist materials are required to have strong resistance to dry etching. Conventional alkali-developable resist materials exhibit strong resistance to halogen-based plasma used when the underlying material is a metal or metal oxide film (e.g. aluminum, silicon, silicon oxide film, etc.), but when the underlying material is an organic material (e.g. The resistance to oxygen plasma used in the case of the lower layer planarizing film in the layered resist method, the interlayer insulating film such as polyimide, etc.) is not sufficient, and there has been a strong desire to improve its properties. In addition, as a literature on alkali-developable resists, JC
Written by Strieter: Kodak Microelectronics Seminar Proceedings
Microelectronics Seminar Proceeding) 116
(1976), etc. [Problems to be Solved by the Invention] The purpose of the present invention is to provide an alkali-soluble polymer with excellent oxygen plasma resistance, which can be used as a substitute for the basic polymer of the conventional alkaline developable resist, which has low oxygen plasma resistance. be. [Means for Solving the Problems] Organosilicon polymers are well known as polymers with excellent oxygen plasma resistance. this is,
This is because the organosilicon polymer efficiently turns into a silicon oxide film by oxygen plasma, and this silicon oxide film acts as an oxygen plasma resistant film. on the other hand,
As alkali-soluble polymers, polymers having phenolic hydroxyl groups such as novolac resins and polyvinylphenol are known. Therefore, in order to achieve the above objective, we synthesized various polymers with a ladder silicone skeleton whose main chain is closest to the structure of silicon oxide and a phenolic hydroxyl group in the side chain. I found out that ladder silicone is good. (R 1 −SiO 3/2 ) o (R 2 −SiO 3/2 ) n (R 3 −SiO 3/2 )
l (R 4 −SiO 3/2 ) p (R 5 −SiO 3/2 ) p (R 6 −SiO 3/2 ) q …(1
) However, R 1 and R 2 in general formula (1) are organic groups having a phenolic hydroxyl group, and R 3 , R 4 , R 5 and R 6 are organic groups not containing a phenolic hydroxyl group. Also,
n, m are positive integers not including zero, l, o, p,
q is a positive integer including zero, (n+m)/(n+
m+l+o+p+q)>0.4 must be satisfied. Here, R 1 and R 2 are specifically, for example,
【化】[ka]
【化】[ka]
【化】[ka]
本発明の重合体は、重合体骨格がケイ素酸化膜
の構造に最も近いラダーシリコーン骨格であるた
めに、酸素プラズマ耐性が高く、また、側鎖にフ
エノール性水酸基を有する有機基が存在するため
にアルカリ可溶性になつたものと考えられる。
〔実施例〕
以下、本発明を実施例によつて具体的に説明す
るが、本発明はこの実施例に限定されるものでは
ない。
実施例 1
ポリ(p−ヒドロキシベンジルシルセスキオキ
サン−co−
p−ヒドロキシフエニルエチルシルセスキオキ
サン−co−
p−メトキシベンジルシルセスキオキサン−
co−
p−メトキシフエニルエチルシルセスキオキサ
ン−co−
p−トリメチルシロキシベンジルシルセスキオ
キサン−co−
p−トリメチルシロキシフエニルエチルシルセ
スオキサン)
1.1 p−メトキシベンジルトリクロロシランの
合成
撹拌機、冷却管、滴下ロート、及び塩酸トラ
ツプを備えた5四ツ口フラスコを窒素置換す
る。フラスコに、塩化第一銅79g(0.80mol)
とトリ−n−プロピルアミン126/g
(8.80mol)を入れ、p−メトキシベンジルク
ロライド1256g(8.02mol)とトリクロロシラ
ン1184g(8.74mol)の混合物を、窒素圧下撹
拌しながら5時間かけて滴下する。フラスコ温
度が室温に戻るまで熟成した後、ヘキサン1
を入れ、塩を析出させる。塩をロ過した後、減
圧蒸留することにより目的物を1182g
(4.62mol)得た。収率57.7%bp92℃/4mm
HgNMR(60MHz、CCl4、CH2Cl2)δ2.93(2H、
s)、δ3.83(3H、s)δ6.86(2H、d、J)=9
Hz)、δ7.15(2H、d、J=9Hz)。
1.2 p−メトキシフエニルエチルトリクロロシ
ランの合成
p−メトキシスチレン36.7(0.274mol)とト
リクロロシラン37.1g(0.274mol)をPyrex管
に入れる。次いで、塩化白金酸99.4mg、トリ−
n−ブチルアミン81.0mgおよびp−メトキシス
チレン0.1888gから成るサスペンジヨンを数滴
Pyrex管に加え、封管する。封管を80℃〜100
℃のオイルバスに入れ反応させた後、封管を開
け、内容物を蒸留することにより目的物を40.0
g(0.148mol)得た。収率54%bp84〜85℃/
2mmHgNMR(60MHz、CCl4、TMS)δ1.48〜
1.76(2H、m)、δ2.62〜2.88(2H、m)、δ3.60
(3H、s)、δ6.61(2H、d、J=8.5Hz)δ6.92
(2H、d、J=8.5Hz)
1.3 ポリ(p−メトキシベンジルシルセスキオ
キサン−co−pメトキシフエニルエチルシル
セスキオキサン)の合成
撹拌機、冷却管、滴下ロート、及び塩酸トラ
ツプを備えた200ml三ツ口フラスコに水80mlを
入れる。トルエン20mlに溶解させたp−メトキ
シフエニルエチルトリクロロシラン10.8g(40
mmol)と、p−メトキシベンジルトリクロロ
シラン10.2g(40mmol)を撹拌しながら15分
で滴下し、次いで1時間熟成する。混合物を分
液ロートに移し、トルエン層を分離する。トル
エンと水を蒸留により除いた後、上記加水分解
生成物に水酸化カリウムの10wt%メタノール
溶液0.21gを入れ、200℃で2時間加熱する。
反応混合物をテトラヒドロフランに溶解させ、
不溶物をロ過により除いた後、テトラヒドロフ
ランを留去することにより目的物を5.3g得た。
数平均分子量1000〜300000NMR(60MHz、
DMSO−d6、TMS)δ0.72(2H、br、s)δ1.97
(2H、br、s)、δ2.37(2H、br、s)、δ3.58
(6H、br、s)、δ6.67(8H、br、s)。p−メ
トキシフエニルエチル基とp−メトキシベンジ
ル基の比は約50:50であつた。
1.4 ポリ(p−ヒドロキシベンジルシルセスキ
オキサン−co−p−ヒドロキシフエニルエチ
ルシルセスキオキサン)の合成
撹拌機、冷却管、滴下ロート、及び塩酸トラ
ツプを備えた100ml三ツ口フラスコを窒素置換
する。1.3項記載のポリ(p−メトキシベンジ
ルシルセスキオキサン−co−p−メトキシフ
エニルエチルシルセスキオキサン)5.0gをア
セトニトリル15mlに加熱溶解させてフラスコに
入れ、次いで、ヨウ化ナトリウム13.0gを加え
る。窒素圧下加熱還流しながら、トリメチルク
ロロシラン9.4gを15分で滴下する。窒素圧下
加熱還流しながら50時間熟成した後、水20mlを
滴下し、次いで、アセトニトリルを加えて反応
混合物をさらに6時間加熱還流する。反応終了
後、反応混合物を分液ロートに移しアセトニト
リル層を分離する。次いで、アセトニトリル層
を亜硫酸水素ナトリウム水溶液で洗う。アセト
ニトリル層を多量の水に滴下し、ポリマをロ過
した後、真空加熱して目的物を3.9g得た。
NMR(60MHz、DMSO−d6、TMS)δ0.78
(2H、br、s)δ1.90(2H、br、s)、δ2.45
(2H、br、s)、δ6.60(8H、br、s)、δ8.97
(2H、br、s)
数平均分子量及びp−ヒドロキシベンジル基
とp−ヒドロキシフエニルエチル基の割合は
1.3項記載の前駆体とかわらない。
この他、p−ヒドロキシベンジル基とp−ヒ
ドロキンフエニルエチル基の割合をかえた共重
合体は、p−メトキシベンジルトリクロロシラ
ンと、p−メトキシフエニルエチルトリクロロ
シランの加水分解時の割合により、任意にかえ
ることができた。
1.5 ポリ(p−ヒドロキシベンジルシルセスキ
オキサン−co−
p−ヒドロキシフエニルエチルシルセスキオ
キサン−co−
p−メトキシベンジルシルセスキオキサン−
co−
p−メトキシフエニルエチルシルセスキオキ
サン−co−
p−トリメチルシロキシベンジルシルセスキ
オキサン−co−
p−トリメチルシロキシフエニルエチルシル
セスキオキサン)
の合成
1.4項記載のポリ(p−ヒドロキシベンジル
シルセスキオキサン−co−p−ヒドロキシフ
エニルエチルシルセスキオキサン)の合成法に
おいて、メトキシ基をトリメチルシロキシ基に
変換する反応試薬(トリメチルクロロシランと
ヨウ化ナトリウム)の量を減らすかあるいは熟
成時間を短かくすることにより、メトキシ基を
任意の割合で残すことができる。また、トリメ
チルシロキシ基を加水分解により水酸基に変換
する過程において、熟成時間を短かくすると、
トリメチルシロキシ基の約15%まではそのまま
残すことができる。
ただし、水酸基、メトキシ基およびトリメチ
ルシロキシ基が、ベンジル基についているかあ
るいはフエニルエチル基についているかは特定
できない。
表1に、1.3項記載のポリマと同様のポリマ
を使い、1.4項記載の試薬量で反応させた場合
の水酸基含量、メトキシ基含量、トリメチルシ
ロキシ基含量、それぞれの熟成時間依存性を示
す。
The polymer of the present invention has high oxygen plasma resistance because the polymer skeleton is a ladder silicone skeleton that is closest to the structure of a silicon oxide film, and also because it has an organic group having a phenolic hydroxyl group in the side chain. It is thought that it has become alkali soluble. [Example] Hereinafter, the present invention will be specifically explained using Examples, but the present invention is not limited to these Examples. Example 1 Poly(p-hydroxybenzylsilsesquioxane-co-p-hydroxyphenylethylsilsesquioxane-co-p-methoxybenzylsilsesquioxane-
1.1 Synthesis of p-methoxybenzyltrichlorosilane Stirrer A 5-four neck flask equipped with a condenser, a dropping funnel, and a hydrochloric acid trap was purged with nitrogen. In a flask, 79g (0.80mol) of cuprous chloride
and tri-n-propylamine 126/g
(8.80 mol), and a mixture of 1256 g (8.02 mol) of p-methoxybenzyl chloride and 1184 g (8.74 mol) of trichlorosilane was added dropwise over 5 hours with stirring under nitrogen pressure. After aging until the flask temperature returned to room temperature, hexane 1
to precipitate the salt. After filtering the salt, 1182g of the target product was distilled under reduced pressure.
(4.62 mol) was obtained. Yield 57.7%bp92℃/4mm
HgNMR (60MHz, CCl4 , CH2Cl2 ) δ2.93 ( 2H ,
s), δ3.83 (3H, s) δ6.86 (2H, d, J) = 9
Hz), δ7.15 (2H, d, J = 9Hz). 1.2 Synthesis of p-methoxyphenylethyltrichlorosilane 36.7 (0.274 mol) of p-methoxystyrene and 37.1 g (0.274 mol) of trichlorosilane are placed in a Pyrex tube. Next, 99.4 mg of chloroplatinic acid, tri-
A few drops of suspension consisting of 81.0 mg of n-butylamine and 0.1888 g of p-methoxystyrene.
Add to Pyrex tube and seal. Seal the tube at 80℃~100℃
After reacting in an oil bath at ℃, open the sealed tube and distill the contents to obtain the desired product at 40.0℃.
g (0.148 mol) was obtained. Yield 54% bp84-85℃/
2mmHgNMR (60MHz, CCl 4 , TMS) δ1.48~
1.76 (2H, m), δ2.62~2.88 (2H, m), δ3.60
(3H, s), δ6.61 (2H, d, J=8.5Hz) δ6.92
(2H, d, J = 8.5Hz) 1.3 Synthesis of poly(p-methoxybenzylsilsesquioxane-co-pmethoxyphenylethylsilsesquioxane) Equipped with a stirrer, cooling tube, dropping funnel, and hydrochloric acid trap. Pour 80ml of water into a 200ml three-necked flask. 10.8g p-methoxyphenylethyltrichlorosilane (40ml) dissolved in 20ml toluene
10.2 g (40 mmol) of p-methoxybenzyltrichlorosilane were added dropwise over 15 minutes with stirring, and then aged for 1 hour. Transfer the mixture to a separatory funnel and separate the toluene layer. After removing toluene and water by distillation, 0.21 g of a 10 wt % methanol solution of potassium hydroxide is added to the above hydrolyzed product and heated at 200° C. for 2 hours.
Dissolve the reaction mixture in tetrahydrofuran,
After removing insoluble matter by filtration, 5.3 g of the target product was obtained by distilling off tetrahydrofuran.
Number average molecular weight 1000-300000NMR (60MHz,
DMSO- d6 , TMS) δ0.72 (2H, br, s) δ1.97
(2H, br, s), δ2.37 (2H, br, s), δ3.58
(6H, br, s), δ6.67 (8H, br, s). The ratio of p-methoxyphenylethyl groups to p-methoxybenzyl groups was about 50:50. 1.4 Synthesis of poly(p-hydroxybenzylsilsesquioxane-co-p-hydroxyphenylethylsilsesquioxane) A 100 ml three-necked flask equipped with a stirrer, condenser, dropping funnel, and hydrochloric acid trap was purged with nitrogen. 5.0 g of poly(p-methoxybenzylsilsesquioxane-co-p-methoxyphenylethylsilsesquioxane) described in Section 1.3 was dissolved in 15 ml of acetonitrile and put into a flask, and then 13.0 g of sodium iodide was added. Add. While heating and refluxing under nitrogen pressure, 9.4 g of trimethylchlorosilane was added dropwise over 15 minutes. After aging for 50 hours at reflux under nitrogen pressure, 20 ml of water are added dropwise, then acetonitrile is added and the reaction mixture is heated at reflux for a further 6 hours. After the reaction is completed, the reaction mixture is transferred to a separating funnel and the acetonitrile layer is separated. The acetonitrile layer is then washed with an aqueous sodium bisulfite solution. The acetonitrile layer was dropped into a large amount of water, the polymer was filtered, and then heated under vacuum to obtain 3.9 g of the desired product.
NMR (60MHz, DMSO−d 6 , TMS) δ0.78
(2H, br, s) δ1.90 (2H, br, s), δ2.45
(2H, br, s), δ6.60 (8H, br, s), δ8.97
(2H, br, s) The number average molecular weight and the ratio of p-hydroxybenzyl groups and p-hydroxyphenylethyl groups are
Same as the precursor described in Section 1.3. In addition, copolymers with different ratios of p-hydroxybenzyl groups and p-hydroquine phenylethyl groups can be made by changing the ratio of p-methoxybenzyltrichlorosilane and p-methoxyphenylethyltrichlorosilane during hydrolysis I could change it at will. 1.5 Poly(p-hydroxybenzylsilsesquioxane-co-p-hydroxyphenylethylsilsesquioxane-co-p-methoxybenzylsilsesquioxane-
Synthesis of co-p-methoxyphenylethylsilsesquioxane-co-p-trimethylsiloxybenzylsilsesquioxane-co-p-trimethylsiloxyphenylethylsilsesquioxane) In the synthesis method of benzylsilsesquioxane (co-p-hydroxyphenylethylsilsesquioxane), reducing the amount of reaction reagents (trimethylchlorosilane and sodium iodide) that convert methoxy groups to trimethylsiloxy groups or aging By shortening the time, methoxy groups can be left in any proportion. In addition, in the process of converting trimethylsiloxy groups to hydroxyl groups by hydrolysis, if the aging time is shortened,
Up to about 15% of the trimethylsiloxy groups can be left intact. However, it is not possible to specify whether the hydroxyl group, methoxy group, or trimethylsiloxy group is attached to the benzyl group or the phenylethyl group. Table 1 shows the hydroxyl group content, methoxy group content, trimethylsiloxy group content, and their respective aging time dependencies when a polymer similar to the polymer described in Section 1.3 was used and reacted with the amount of reagent described in Section 1.4.
本発明の重合体は、汎用有機溶剤に可溶である
ので成膜することができ、また、アルカリ性水溶
液にも溶解するので本重合体を基本重合体とした
種々の感光性溶解阻害剤あるいは感放射線性溶解
阻害剤との組成物は、それらに対応した光あるい
は放射線用のレジスト材料として使用できる。一
方、本重合体は酸素プラズマ耐性に優れているの
で、これらレジストを二層レジスト法の上層レジ
スト等に使用することができる。以上、述べたよ
うに、本発明の重合体は、光および放射線感応性
材料等の機能性高分子材料として、極めて効用の
大なるものである。
The polymer of the present invention is soluble in general-purpose organic solvents, so it can be formed into a film, and it is also soluble in alkaline aqueous solutions, so it can be used as a base polymer for various photosensitive dissolution inhibitors or photosensitive dissolution inhibitors. A composition with a radioactive dissolution inhibitor can be used as a resist material for light or radiation corresponding thereto. On the other hand, since the present polymer has excellent oxygen plasma resistance, these resists can be used as an upper layer resist, etc. in a two-layer resist method. As described above, the polymer of the present invention is extremely useful as a functional polymer material such as a light- and radiation-sensitive material.
Claims (1)
れるアルカリ可溶性ラダーシリコーン重合体。 (R1−SiO3/2)o(R2−SiO3/2)n(R3−SiO3/2)
l(R4−SiO3/2)p(R5−SiO3/2)p(R6−SiO3/2)q…(1
) (但し、一般式(1)中のR1はp−ヒドロキシベン
ジル基、R2がp−ヒドロキシフエニルエチル基、
R3はp−メトキシベンジル基、R4はp−メトキ
フエニルエチル基、R5はp−トリメチルシロキ
シベンジル基、R6はp−トリメチルシロキシフ
エニルエチル基である。また、n、mはゼロを含
まない正の整数で、l、o、p、qはゼロを含む
正の整数で、 (n+m)/(n+m+l+o+p+q)>0.4
を満たさなければならない。)[Scope of Claims] 1. An alkali-soluble ladder silicone polymer represented by the following general formula (1) and having a molecular weight of 1,000 to 300,000. (R 1 −SiO 3/2 ) o (R 2 −SiO 3/2 ) n (R 3 −SiO 3/2 )
l (R 4 −SiO 3/2 ) p (R 5 −SiO 3/2 ) p (R 6 −SiO 3/2 ) q …(1
) (However, R 1 in general formula (1) is a p-hydroxybenzyl group, R 2 is a p-hydroxyphenylethyl group,
R 3 is a p-methoxybenzyl group, R 4 is a p-methoxyphenylethyl group, R 5 is a p-trimethylsiloxybenzyl group, and R 6 is a p-trimethylsiloxyphenylethyl group. Also, n and m are positive integers that do not include zero, and l, o, p, and q are positive integers that include zero, and (n+m)/(n+m+l+o+p+q)>0.4
must be met. )
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24522986A JPS63101427A (en) | 1986-10-17 | 1986-10-17 | Alkali soluble ladder silicone |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP24522986A JPS63101427A (en) | 1986-10-17 | 1986-10-17 | Alkali soluble ladder silicone |
Publications (2)
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ID=17130573
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
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Families Citing this family (9)
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|---|---|---|---|---|
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1986
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