JPH06105288B2 - Measuring method of logic control circuit - Google Patents
Measuring method of logic control circuitInfo
- Publication number
- JPH06105288B2 JPH06105288B2 JP59191948A JP19194884A JPH06105288B2 JP H06105288 B2 JPH06105288 B2 JP H06105288B2 JP 59191948 A JP59191948 A JP 59191948A JP 19194884 A JP19194884 A JP 19194884A JP H06105288 B2 JPH06105288 B2 JP H06105288B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- logic control
- control circuit
- output
- counter
- count value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318522—Test of Sequential circuits
- G01R31/318527—Test of counters
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、半導体集積回路などで構成される論理制御
回路の動作特性を測定する測定方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a measuring method for measuring operating characteristics of a logic control circuit composed of a semiconductor integrated circuit or the like.
従来の技術 半導体集積回路などで構成される各種の論理制御回路に
おいて、nビットのバイナリーカウンタをプリスケーラ
などに用いている場合、nビット目の出力Qnを得るに
は、カウンタには、2n回のクロック入力を必要とする。2. Description of the Related Art In various logic control circuits composed of semiconductor integrated circuits and the like, when an n-bit binary counter is used as a prescaler or the like, in order to obtain an n-th bit output Q n , the counter must have 2 n Requires one clock input.
特に、プリスケーラを含んで構成され、複雑な論理処理
を行う論理制御回路の測定では、厖大な量のカウンタク
ロック入力が要求される。Particularly, in the measurement of a logic control circuit configured to include a prescaler and performing complicated logic processing, an enormous amount of counter clock input is required.
従来、電源の投入時、カウンタの出力が不確定であるた
め、その対策としてカウンタを一定の条件でリセットす
る初期設定が行われている。Conventionally, when the power is turned on, the output of the counter is uncertain, and as a countermeasure against this, the initial setting is performed to reset the counter under certain conditions.
発明が解決しようとする問題点 各種の論理制御回路の測定において、厖大な量のカウン
タクロックを入力することは、多くの時間と手数を要す
るものである。Problems to be Solved by the Invention In measuring various logic control circuits, inputting an enormous amount of counter clock requires a lot of time and labor.
また、従来のようにカウンタを初期設定する場合にも、
nビット目の出力Qnを得るために、カウンタクロックを
2n回だけ加える必要があることについては変わらない。Also, when initializing the counter as in the past,
To obtain the output Q n of the nth bit, set the counter clock
The fact that it only needs to be added 2 n times remains the same.
そこで、この発明は、各種の論理制御回路の測定におい
て、nビットのカウンタ出力を必要とする場合の簡略化
とともに測定の迅速化を図ろうとするものである。Therefore, the present invention intends to simplify the case of requiring an n-bit counter output in the measurement of various logic control circuits and to speed up the measurement.
問題点を解決するための手段 この発明の論理制御回路の測定方法は、第1図または第
2図に例示されるように、プリスケーラを含んで構成さ
れた論理制御回路にnビットの加算カウンタ(2)また
は減算カウンタ(12)を接続し、前記加算カウンタまた
は前記減算カウンタからの計数値を入力して論理制御出
力の測定を行う論理制御回路(6または16)の測定方法
であって、前記加算カウンタまたは前記減算カウンタに
初期値として最終計数値を設定し、この最終計数値を表
すビット出力または前記最終計数値から1の計数値を加
算または減算させて得られるビット出力を測定すべき前
記論理制御回路に入力して測定すべき前記論理制御出力
を得ることを特徴とする。Means for Solving the Problems As shown in FIG. 1 or FIG. 2, a measuring method of a logic control circuit according to the present invention includes an n-bit addition counter (n bit) in a logic control circuit including a prescaler. 2) or a subtraction counter (12) is connected, and the count value from the addition counter or the subtraction counter is input to measure the logic control output by the logic control circuit (6 or 16). A final count value is set as an initial value in the addition counter or the subtraction counter, and a bit output representing the final count value or a bit output obtained by adding or subtracting a count value of 1 from the final count value should be measured. It is characterized in that it is input to a logic control circuit to obtain the logic control output to be measured.
作用 この発明は、nビットの加算カウンタまたは減算カウン
タを最終計数値に初期設定して最終定数値のビット出力
を得るとともに、その最終計数値に1の計数値を加算ま
たは減算して得られるビット出力を測定すべき論理制御
回路に入力することにより、2n回のクロック入力を省略
し、論理制御回路の測定方法の簡略化とともに測定時間
の短縮化を図っている。Operation The present invention initializes the n-bit addition counter or subtraction counter to the final count value to obtain the bit output of the final constant value, and adds or subtracts the count value of 1 to or from the final count value. By inputting the output to the logic control circuit to be measured, the clock input of 2 n times is omitted, and the measurement method of the logic control circuit is simplified and the measurement time is shortened.
実施例 以下、この発明の図面に示した実施例を参照して詳細に
説明する。Embodiment Hereinafter, a detailed description will be given with reference to an embodiment shown in the drawings of the present invention.
第1図はこの発明の論理制御回路の測定方法の実施例を
示している。FIG. 1 shows an embodiment of the measuring method of the logic control circuit of the present invention.
第1図において、加算カウンタ2は、複数(n)のフリ
ップフロップ回路41、42・・・4nで構成され、nビット
の加算カウンタを構成している。この加算カウンタ2に
おいて、初段のフリップフロップ回路41のタイミング入
力Tにはクロック信号CKが加えられており、2段目以降
のフリップフロップ回路42・・・4n-1では前段の反転出
力が次段のタイミング入力Tとなり、この実施例で
は、最終段のフリップフロップ回路4nの非反転出力Qnお
よびn−1段目のフリップフロップ回路4n-1の非反転出
力Qn-1が論理制御回路6に加えられている。In FIG. 1, the addition counter 2 is composed of a plurality (n) of flip-flop circuits 4 1 , 4 2 ... 4 n , and constitutes an n-bit addition counter. In this addition counter 2, the timing input T of the first flip-flop circuit 4 1 has been added the clock signal CK, the flip-flop circuit of the second and subsequent stages 4 2 · · · 4 n-1 at the previous stage of the inverted output There next timing input T becomes, in this example, the non-inverting output Q n-1 of the non-inverting output Q n and n-1 stage flip-flop circuit of the flip-flop circuit 4 n of the final stage 4 n-1 Are added to the logic control circuit 6.
そして、各フリップフロップ回路41、42・・・4nのセッ
ト入力Sには、共通に初期セット入力S0が加えられ、こ
の実施例では、初期設定において、カウンタ出力が最終
計数値に設定され、各ビット出力である各フリップフロ
ップ回路41、42・・・4nの非反転出力Q1、Q2・・・Qnが
「1」に設定されるようになっている。Then, an initial set input S 0 is commonly added to the set inputs S of the respective flip-flop circuits 4 1 , 4 2 ... 4 n , and in this embodiment, in the initial setting, the counter output becomes the final count value. The non-inverted outputs Q 1 , Q 2 ... Q n of the flip-flop circuits 4 1 , 4 2 ... 4 n that are set and are output for each bit are set to “1”.
以上の構成に基づき、論理制御回路の測定方法を説明す
る。A method of measuring the logic control circuit will be described based on the above configuration.
加算カウンタ2に初期セット入力S0を加えると、各フリ
ップフロップ回路41、42・・・4nの各非反転出力Q1、Q2
・・・Qnは「1」に設定され、加算カウンタ2の出力は
最終計数値となる。この場合、加算カウンタ2の各ビッ
ト出力は、「1」となる。この最終出力を論理制御回路
6に加えてそのときの論理出力を測定する。When the initial set input S 0 is added to the addition counter 2, each non-inverted output Q 1 , Q 2 of each flip-flop circuit 4 1 , 4 2 ... 4 n is added.
··· Q n is set to "1", the output of the summing counter 2 is the final count. In this case, each bit output of the addition counter 2 becomes "1". This final output is applied to the logic control circuit 6 and the logic output at that time is measured.
また、加算カウンタ2にクロックパルス「1」を入力す
ると、加算カウンタ2は「1」を計数し、最終計数値か
ら初期値に移行する。すなわち、加算カウンタ2の総て
のビットは、「0」になる。この初期値を論理制御回路
6に加えてそのときの論理出力を測定する。When the clock pulse "1" is input to the addition counter 2, the addition counter 2 counts "1" and shifts from the final count value to the initial value. That is, all the bits of the addition counter 2 become "0". This initial value is added to the logic control circuit 6 and the logic output at that time is measured.
このように加算カウンタ2の初期設定値を最終計数値に
設定すれば、nビット目の出力Qnおよび(n−1)ビッ
ト目の出力Qn-1の出力を「1」に設定でき、その後、1
つのクロックパルスCKを与えることにより、これらの出
力を「0」にすることができる。すなわち、初期セット
入力S0とクロックパルスCKの1パルスの処理で最終ビッ
ト出力および最終ビットに近い出力を総て「1」に設定
し、かつ「0」に変更できるので、論理制御回路6の測
定時間の大幅な時間短縮と測定の簡略化が実現できる。In this way, by setting the initial setting value of the addition counter 2 to the final count value, the output of the nth bit output Q n and the output of the (n-1) th bit output Q n-1 can be set to "1", Then 1
These outputs can be made "0" by applying one clock pulse CK. That is, since the final bit output and the output close to the final bit can all be set to “1” and changed to “0” by processing the initial set input S 0 and one pulse of the clock pulse CK, the logic control circuit 6 The measurement time can be greatly shortened and the measurement can be simplified.
このような測定方法は、第2図に示すように、減算カウ
ンタ12を用いた場合にも適用することができる。すなわ
ち、減算カウンタ12は、複数(n)のフリップフロップ
回路141、142・・・14nで構成され、nビット出力が得
られる。この場合、初段のフリップフロップ回路141の
タイミング入力Tにはクロック信号CKが加えられ、2段
目以降のフリップフロップ回路142・・・14n-1では前段
の非反転出力Qが次段のタイミング入力Tとなり、この
実施例では、最終段のフリップフロップ回路14nの非反
転出力Qnおよびn−1段目のフリップフロップ回路14
n-1の非反転出力Qn-1が論理制御回路16に加えられてい
る。Such a measuring method can be applied to the case where the subtraction counter 12 is used as shown in FIG. That is, the subtraction counter 12 is composed of a plurality (n) of flip-flop circuits 14 1 , 14 2 ... 14 n , and an n-bit output is obtained. In this case, the clock signal CK is added to the timing input T of the first -stage flip-flop circuit 14 1 , and the non-inverted output Q of the previous stage is applied to the next stage in the flip-flop circuits 14 2 ... 14 n-1 of the second and subsequent stages. next timing input T, in this embodiment, the last-stage flip-flop circuit 14 n of the non-inverting output Q n and n-1 stage flip-flop circuit 14
the non-inverting output Q n-1 of n-1 is added to the logic control circuit 16.
そして、各フリップフロップ回路141、142・・・14nの
セット入力Sには、共通に初期セット入力S0が加えられ
て初期設定され、この場合、カウンタ出力が最終計数値
に設定されると、各ビット出力である各フリップフロッ
プ回路141、142・・・14nの非反転出力Q1、Q2・・・Qn
が「0」に設定される。Then, the set input S of the flip-flop circuits 14 1, 14 2 ··· 14 n , the common initial set input S 0 is added is initially set to, in this case, the counter output is set to the last count that the non-inverted output to Q 1 the flip-flop circuits 14 1, 14 2 ··· 14 n in each bit output, Q 2 ··· Q n
Is set to "0".
このような減算カウンタ12を用いた場合、最終計数値に
設定したとき、全ビット出力が「0」に設定されるの
で、nビット出力Qnおよび(n−1)ビット出力Qn-1を
「0」にすることができる。また、その後、クロックパ
ルスCKの1パルスを加えた場合、全ビット出力は「1」
に移行させることができるので、同様に論理制御回路16
の測定を短時間に行うことができる。When such a subtraction counter 12 is used, all the bit outputs are set to "0" when the final count value is set, so that the n-bit output Q n and the (n-1) -bit output Q n-1 are set. It can be "0". After that, when one pulse of the clock pulse CK is added, all bit outputs are "1".
Can be changed to the logic control circuit 16 in the same manner.
Can be measured in a short time.
なお、実施例では最終計数値に設定したが、最終計数値
に近い計数値に初期設定しても良い。Although the final count value is set in the embodiment, it may be initialized to a count value close to the final count value.
発明の効果 以上説明したように、この発明によれば、nビットの加
算カウンタまたは減算カウンタに初期値として最終計数
値を設定し、この最終計数値を表すビット出力または最
終計数値から1の計数値を加算または減算させて得られ
るビット出力を測定すべき論理制御回路に入力すること
により論理制御出力の測定を行うので、従来のような2n
回のクロックパルスの計数が不要になり、測定方法の簡
略化および測定時間の短縮化を図ることができる。As described above, according to the present invention, a final count value is set as an initial value in an n-bit addition counter or a subtraction counter, and a bit output representing the final count value or a total of 1 is calculated from the final count value. Since the logic control output is measured by inputting the bit output obtained by adding or subtracting the numerical value to the logic control circuit to be measured, the conventional 2 n
It is not necessary to count the number of clock pulses, so that the measurement method can be simplified and the measurement time can be shortened.
第1図はこの発明の論理制御回路の測定方法に用いる測
定回路の実施例を示すブロック図、第2図はこの発明の
論理制御回路の測定方法に用いる測定回路の他の実施例
を示すブロック図である。 2……加算カウンタ、6……論理制御回路、12……減算
カウンタ、16……論理制御回路。1 is a block diagram showing an embodiment of a measuring circuit used in the measuring method of the logic control circuit of the present invention, and FIG. 2 is a block showing another embodiment of the measuring circuit used in the measuring method of the logic control circuit of the present invention. It is a figure. 2 ... Addition counter, 6 ... Logic control circuit, 12 ... Subtraction counter, 16 ... Logic control circuit.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西沢 通広 京都府京都市右京区西院溝崎町21番地 ロ ーム株式会社内 (72)発明者 沢村 陽 京都府京都市右京区西院溝崎町21番地 ロ ーム株式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Toshihiro Nishizawa 21 21 Saiin Mizozaki-cho, Ukyo-ku, Kyoto City, Kyoto Prefecture Rome Co., Ltd. (72) Inventor Yo Sawamura 21 Mizozaki-cho, Kyoto, Kyoto Prefecture Kyoto Mu Co., Ltd.
Claims (1)
回路にnビットの加算カウンタまたは減算カウンタを接
続し、前記加算カウンタまたは前記減算カウンタからの
計数値を入力して論理制御出力の測定を行う論理制御回
路の測定方法であって、 前記加算カウンタまたは前記減算カウンタに初期値とし
て最終計数値を設定し、この最終計数値を表すビット出
力または前記最終計数値から1の計数値を加算または減
算させて得られるビット出力を測定すべき前記論理制御
回路に入力して測定すべき前記論理制御出力を得ること
を特徴とする論理制御回路の測定方法。1. An n-bit addition counter or a subtraction counter is connected to a logic control circuit including a prescaler, and a count value from the addition counter or the subtraction counter is input to measure a logic control output. A measuring method of a logic control circuit, wherein a final count value is set as an initial value in the addition counter or the subtraction counter, and a bit output representing the final count value or a count value of 1 is added or subtracted from the final count value. A method of measuring a logic control circuit, characterized in that the bit output thus obtained is input to the logic control circuit to be measured to obtain the logic control output to be measured.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59191948A JPH06105288B2 (en) | 1984-09-13 | 1984-09-13 | Measuring method of logic control circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59191948A JPH06105288B2 (en) | 1984-09-13 | 1984-09-13 | Measuring method of logic control circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6170476A JPS6170476A (en) | 1986-04-11 |
| JPH06105288B2 true JPH06105288B2 (en) | 1994-12-21 |
Family
ID=16283119
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59191948A Expired - Lifetime JPH06105288B2 (en) | 1984-09-13 | 1984-09-13 | Measuring method of logic control circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06105288B2 (en) |
-
1984
- 1984-09-13 JP JP59191948A patent/JPH06105288B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6170476A (en) | 1986-04-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4777470A (en) | High speed successive approximation register in analog-to-digital converter | |
| US4774686A (en) | Serial digital signal processing circuitry | |
| US3757261A (en) | Integration and filtration circuit apparatus | |
| US4746900A (en) | Signal processing circuit | |
| US5793234A (en) | Pulse width modulation circuit | |
| US4380051A (en) | High speed digital divider having normalizing circuitry | |
| US4970676A (en) | Digital word-serial multiplier circuitry | |
| US4156201A (en) | Binary word presence indicating circuit | |
| JPH06105288B2 (en) | Measuring method of logic control circuit | |
| EP0066265B1 (en) | D-a converter | |
| US3665457A (en) | Approximation analog to digital converter | |
| US4016560A (en) | Fractional binary to decimal converter | |
| US3333187A (en) | Pulse duration measuring device using series connected pulse width classifier stages | |
| GB1355706A (en) | Device comprising a plurality of series arranged storage elements | |
| JPS61137429A (en) | Testing circuit of ad converter | |
| JPH0417489B2 (en) | ||
| JP2998704B2 (en) | counter | |
| US3631231A (en) | Serial adder-subtracter subassembly | |
| SU1273872A1 (en) | Pulse duration-to-digital converter | |
| RU2204884C1 (en) | Analog-to-digital converter | |
| DE4342867A1 (en) | Signal evaluation appts. e.g. for pressure sensor | |
| JP2535167B2 (en) | Digital-to-analog converter | |
| SU1198509A1 (en) | Device for ranking numbers | |
| US3112477A (en) | Digital-to-analog converter | |
| SU760088A1 (en) | DEVICE FOR COMPARING NUMBERS WITH TWO THRESHOLDERS1 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |