JPH0614030B2 - Origin setting device for ultrasonic flaw detector - Google Patents
Origin setting device for ultrasonic flaw detectorInfo
- Publication number
- JPH0614030B2 JPH0614030B2 JP61296720A JP29672086A JPH0614030B2 JP H0614030 B2 JPH0614030 B2 JP H0614030B2 JP 61296720 A JP61296720 A JP 61296720A JP 29672086 A JP29672086 A JP 29672086A JP H0614030 B2 JPH0614030 B2 JP H0614030B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- origin
- address
- signal
- waveform
- memory
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 39
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 31
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 13
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 7
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 5
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 4
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 3
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は超音波探傷器において、波形を表示する表示部
における原点を定める超音波探傷器の原点設定装置に関
する。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an ultrasonic flaw detector origin setting device that determines an origin in a display unit that displays a waveform in an ultrasonic flaw detector.
超音波探傷器は、物体内部の傷の存在の有無を当該物体
を破壊することなく検査する装置として良く知られてい
る。この超音波探傷器を図により説明する。The ultrasonic flaw detector is well known as an apparatus for inspecting the presence or absence of a flaw inside an object without destroying the object. This ultrasonic flaw detector will be described with reference to the drawings.
第7図は従来の超音波探傷器のブロック図である。図
で、1は被検査物体、1fは被検査物体1内に存在する
欠陥を示す。2は被検査物体1内に超音波を放射すると
ともに、反射してきた超音波に比例した電気信号を出力
する超音波探触子である。3は超音波探傷器であり、超
音波探触子2に対して超音波発生パルスを出力し、か
つ、超音波探触子2からの信号を受信し、この信号の波
形を表示する。FIG. 7 is a block diagram of a conventional ultrasonic flaw detector. In the figure, 1 indicates an object to be inspected and 1f indicates a defect existing in the object to be inspected 1. Reference numeral 2 denotes an ultrasonic probe that radiates ultrasonic waves into the inspection object 1 and outputs an electric signal proportional to the reflected ultrasonic waves. An ultrasonic flaw detector 3 outputs an ultrasonic wave generation pulse to the ultrasonic probe 2, receives a signal from the ultrasonic probe 2, and displays the waveform of this signal.
超音波探傷器3は次の各要素で構成されている。即ち、
4は超音波探傷器3の動作に時間的規制を与える信号電
圧を発生する同期回路、5は同期回路4の信号により超
音波探触子2に超音波発生のためのパルスを出力する送
信部である。6′は超音波探触子2からの信号を受信す
る受信部であり、抵抗器で構成される分圧器の組合せよ
り成る減衰回路6a、および増幅回路6b′で構成され
る。7は増幅回路6b′からの信号を整流する検波回
路、8は垂直軸増幅回路である。The ultrasonic flaw detector 3 is composed of the following elements. That is,
Reference numeral 4 is a synchronizing circuit for generating a signal voltage for timely controlling the operation of the ultrasonic flaw detector 3, and 5 is a transmitter for outputting a pulse for generating ultrasonic waves to the ultrasonic probe 2 in response to a signal from the synchronizing circuit 4. Is. Reference numeral 6'denotes a receiving unit for receiving a signal from the ultrasonic probe 2, and is composed of an attenuation circuit 6a composed of a combination of voltage dividers composed of resistors, and an amplification circuit 6b '. Reference numeral 7 is a detector circuit for rectifying the signal from the amplifier circuit 6b ', and 8 is a vertical axis amplifier circuit.
9は同期回路4からの同期信号により三角波を発生する
掃引回路、10は掃引回路9の三角波信号を増幅する増
幅回路である。11は超音波探触子2からの信号波形を
表示する表示部であり、横軸は増幅回路10から出力さ
れる三角波で定まる時間軸とされ、縦軸は垂直軸増幅回
路8から出力される信号の大きさとされる。表示部11
としては陰極線管が用いられ、その表面にはスケールが
表示されている。12は被検査物体1において、その表
面からの検査すべき範囲(測定範囲)を設定する測定範
囲設定部である。13は掃引開始信号に遅れ時間をもた
せて表示部11に表示される波形の位置を平行移動させ
る遅延時間設定部である。Reference numeral 9 is a sweep circuit for generating a triangular wave by the synchronizing signal from the synchronizing circuit 4, and 10 is an amplifier circuit for amplifying the triangular wave signal of the sweep circuit 9. Reference numeral 11 is a display unit for displaying a signal waveform from the ultrasonic probe 2, the horizontal axis is a time axis determined by the triangular wave output from the amplifier circuit 10, and the vertical axis is output from the vertical axis amplifier circuit 8. It is regarded as the size of the signal. Display 11
A cathode ray tube is used as a display, and a scale is displayed on its surface. A measurement range setting unit 12 sets a range (measurement range) to be inspected from the surface of the inspected object 1. Reference numeral 13 denotes a delay time setting unit that adds a delay time to the sweep start signal and moves the position of the waveform displayed on the display unit 11 in parallel.
次に、上記従来の超音波探傷器の動作の概略を説明す
る。同期回動4からの信号電圧により送信部5からパル
スが出力されると、超音波探触子2はこのパルスにより
励起されて被検査物体1に対して超音波を放射する。放
射された超音波の一部は被検査物体1の表面から直ちに
超音波探触子2に戻り、他は被検査物体1内を伝播し、
被検査物体1の底部に達し、ここで反射されて超音波探
触子2に戻る。一方、被検査物体1に欠陥1fが存在す
ると、超音波は当該欠陥1fにおいても反射されて超音
波探触子2に戻る。これら超音波探触子2に戻った超音
波は超音波探触子2をその大きさに比例して励起し、超
音波探触子2からはこれに応じた電気信号が出力され
る。Next, an outline of the operation of the conventional ultrasonic flaw detector will be described. When a pulse is output from the transmitter 5 by the signal voltage from the synchronous rotation 4, the ultrasonic probe 2 is excited by this pulse and radiates ultrasonic waves to the inspected object 1. Part of the emitted ultrasonic waves immediately returns to the ultrasonic probe 2 from the surface of the inspected object 1, and the other propagates in the inspected object 1.
It reaches the bottom of the object to be inspected 1, is reflected here, and returns to the ultrasonic probe 2. On the other hand, if the defect 1f exists in the inspected object 1, the ultrasonic waves are reflected also at the defect 1f and return to the ultrasonic probe 2. The ultrasonic waves returned to the ultrasonic probe 2 excite the ultrasonic probe 2 in proportion to its size, and the ultrasonic probe 2 outputs an electric signal corresponding thereto.
この信号は減衰回路6aに入力され、処理に適した大き
さに調節され、増幅回路6b′を経て検波回路7に入力
される。検波回路7は表示部11の表示を片振り指示と
するため、入力信号を整流する。この際、当該信号に混
入している雑音成分も除去される。検波回路7の出力信
号は垂直軸増幅回路8を経て表示部11に入力され、そ
の大きさが表示部11の縦軸に表される。一方、掃引回
路9は同期回路4の同期信号により三角波電圧を発生
し、この電圧は増幅回路10を経て表示部11(陰極線
管)の偏向電極に印加され、電子ビームを掃引する。こ
の掃引と前記垂直軸増幅回路8からの入力信号により、
表示部11には超音波探触子2つの戻った反射波の波形
が表示される。This signal is input to the attenuation circuit 6a, adjusted to a size suitable for processing, and input to the detection circuit 7 via the amplification circuit 6b '. The detection circuit 7 rectifies the input signal in order to direct the display on the display unit 11 to make a one-sided swing instruction. At this time, the noise component mixed in the signal is also removed. The output signal of the detection circuit 7 is input to the display unit 11 via the vertical axis amplification circuit 8 and its magnitude is shown on the vertical axis of the display unit 11. On the other hand, the sweep circuit 9 generates a triangular wave voltage by the synchronizing signal of the synchronizing circuit 4, and this voltage is applied to the deflection electrode of the display unit 11 (cathode ray tube) via the amplifier circuit 10 to sweep the electron beam. By this sweep and the input signal from the vertical axis amplifier circuit 8,
The display unit 11 displays the waveforms of the two reflected reflected waves of the ultrasonic probe.
このような超音波探傷器3を用いた探傷において、表示
部11に表示される反射波の波形は、被検査物体1と超
音波探触子2との接触状態の如何によって変化する。こ
れを避けるため、通常、水浸法が採用されている。第8
図は当該水浸法を説明する断面図である。図で、1は被
検査物体、1fは欠陥、2は超音波探触子であり、これ
は第7図に示すものと同じである。15は水槽、16は
水槽15内の水を示す。被検査物体1は水槽15に沈め
られ、超音波探触子2は被検査物体1と水16を介して
対向せしめられる。超音波探触子2からの超音波は水1
6を経て被検査物体1に射入し、被検査物体1の各部か
らの反射波は水16を経て超音波探触子2に入力される
ので、表示部11には安定した波形が表示されることに
なる。In flaw detection using such an ultrasonic flaw detector 3, the waveform of the reflected wave displayed on the display unit 11 changes depending on the contact state between the inspected object 1 and the ultrasonic probe 2. In order to avoid this, the water immersion method is usually adopted. 8th
The figure is a cross-sectional view for explaining the water immersion method. In the figure, 1 is an object to be inspected, 1f is a defect, and 2 is an ultrasonic probe, which is the same as that shown in FIG. Reference numeral 15 indicates a water tank, and 16 indicates water in the water tank 15. The inspection object 1 is submerged in the water tank 15, and the ultrasonic probe 2 is opposed to the inspection object 1 via the water 16. The ultrasonic wave from the ultrasonic probe 2 is water 1
Since the reflected wave from each part of the object to be inspected 1 is input to the ultrasonic probe 2 via the water 16, a stable waveform is displayed on the display section 11. Will be.
第9図は表示された反射波の波形図である。図で、横軸
は時間、縦軸は反射波の大きさを示す。Tは探触子2が
超音波を送信すると同時に探触子2に受信される送信反
射波、Sは被検査物体1の表面からの反射波、Fは欠陥
1fからの反射波、Bは被検査物体1の底面からの反射
波、BSは水槽15の底面からの反射波である。SCは
表示部11上に描かれているスケールを示し、SLは左
端縦方向のスケール、SRは右端縦方向のスケールを示
す。なお、被検査物体1内における超音波の音速は一定
であるので、横軸(時間軸は距離を表すことになる。FIG. 9 is a waveform diagram of the displayed reflected wave. In the figure, the horizontal axis represents time and the vertical axis represents the magnitude of the reflected wave. T is a transmitted reflected wave received by the probe 2 at the same time when the probe 2 transmits an ultrasonic wave, S is a reflected wave from the surface of the inspected object 1, F is a reflected wave from the defect 1f, and B is a reflected wave. A reflected wave from the bottom surface of the inspection object 1 and B S are reflected waves from the bottom surface of the water tank 15. S C indicates a scale drawn on the display unit 11, S L indicates a left end vertical direction scale, and S R indicates a right end vertical direction scale. Since the sound velocity of ultrasonic waves in the object to be inspected 1 is constant, the horizontal axis represents time (the time axis represents distance).
超音波探傷器3はその表示部11に表示された波形から
欠陥の有無、又、欠陥があればその位置や大きさを知る
ことを目的とする。そして、欠陥の位置は被検査物体1
の表面からの距離として把握される。The purpose of the ultrasonic flaw detector 3 is to know the presence or absence of a defect, and the position and size of the defect, if any, from the waveform displayed on the display unit 11. The position of the defect is the object to be inspected 1
It is understood as the distance from the surface of.
ところが、表示部11には第9図に示す波形が左端から
右端にかけて表示され、したがって、送信反射波Tが左
端のスケールSLに表示されることになり、表面反射波
Sと欠陥反射波Fとの間隔(即ち距離)をスケールSC
で読取ることが困難となる。そして、このスケールSC
での読取りを容易にするためには、左端のスケールSL
に表面反射波Sのピークを一致させ、これを距離の原点
とすることが必要である。However, the display unit 11 displays to right from the left end is the waveform shown in FIG. 9, therefore, will be transmitted reflected wave T is displayed on the left end of the scale S L, the surface reflected wave S and the defect reflected wave F an interval (or distance) between the scale S C
It becomes difficult to read with. And this scale S C
To facilitate reading of the left end of the scale S L
It is necessary to make the peak of the surface reflected wave S coincide with and set it as the origin of the distance.
このような原点を設定するため、従来の超音波探傷器3
においては、表示部11の表示面をみながら遅延時間設
定部13のつまみを操作して波形を距離軸方向に平行移
動させて表面反射波Sのピークを丁度左端スケールSL
に一致させている。この調節は非常に微妙であり、初心
者は両者を一致させることが容易ではなかった。In order to set such an origin, the conventional ultrasonic flaw detector 3
In the above, while looking at the display surface of the display unit 11, the knob of the delay time setting unit 13 is operated to move the waveform in parallel in the distance axis direction so that the peak of the surface reflected wave S is exactly the left end scale S L.
Match. This adjustment was very delicate and it was not easy for a beginner to match the two.
ところで、一般に、被検査物体1を探傷する場合、必ず
しもその表面から底面まで全体を検査する必要はなく、
表面からある一定の深さ範囲を検査すればよい場合が多
い。この場合には、波形の表示はその範囲(測定範囲)
のみの表示とすることが望ましく、それによってより精
度の高い分析を行うことができる。この測定範囲の設定
は、測定範囲設定部12の粗調用つまみと微調用つまみ
を操作して距離軸の拡張、縮小を行うことによりなされ
るが、この調節も微妙かつ困難である。そして、測定範
囲の設定を行うことにより、さきに設定した原点には大
きな狂いが生じ、再度原点設定の作業が必要となる。By the way, generally, when inspecting the inspection object 1, it is not always necessary to inspect the entire surface from the top surface to the bottom surface.
It is often sufficient to inspect a certain depth range from the surface. In this case, the waveform display is the range (measurement range)
It is desirable that only the display be made, so that more accurate analysis can be performed. The measurement range is set by operating the coarse adjustment knob and the fine adjustment knob of the measurement range setting unit 12 to expand or contract the distance axis, but this adjustment is also delicate and difficult. Then, by setting the measurement range, a large deviation occurs in the previously set origin, and it becomes necessary to set the origin again.
本発明の目的は、上記従来技術の課題を解決し、波形表
示における原点を容易に、かつ、正確に設定することが
できるとともに、設定された原点は他の波形処理操作に
よっても変化しない超音波探傷器の原点設定装置を提供
するにある。An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art and to easily and accurately set the origin in waveform display, and the set origin does not change even by other waveform processing operations. An object is to provide an origin setting device for a flaw detector.
上記の目的を達成するため、本発明は、超音波探触子に
対して所定のパルスを出力する送信部と、超音波探触子
からの信号を受信する受信部と、この受信部で受信され
た信号に基づいてその信号の波形を表示する表示部とを
備えた超音波探傷器において、前記受信部で受信された
信号を所定のサンプリング周期で順次アドレスに記憶す
るメモリと、このメモリに格納された前記信号の各ピー
ク値を検索するピーク値検索手段と、このピーク値検索
手段により検索されたピーク値のうち欠陥位置を求める
基準点である原点となるピーク値を格納しているアドレ
スを原点アドレスとして設定する原点アドレス設定手段
と、この原点アドレス設定手段により設定されたアドレ
スを前記表示部の原点のアドレスとして前記メモリに記
憶された信号を前記表示部に表示する表示制御手段を設
けたことを特徴とする。In order to achieve the above object, the present invention provides a transmitter that outputs a predetermined pulse to an ultrasonic probe, a receiver that receives a signal from the ultrasonic probe, and a receiver that receives the signal. In the ultrasonic flaw detector equipped with a display unit for displaying the waveform of the signal based on the signal, a memory for sequentially storing the signals received by the receiving unit at a predetermined sampling cycle, and this memory Peak value searching means for searching each peak value of the stored signal, and an address storing a peak value serving as an origin which is a reference point for finding a defect position among the peak values searched by the peak value searching means. Is set as the origin address, and the signal stored in the memory is set as the origin address of the display unit using the address set by the origin address setting means. Characterized in that a display control means for displaying on the display unit.
被検査物体からの超音波の反射波は超音波探触子に戻
り、超音波探触子からはこの反射波に応じた信号が出力
される。受信部ではこの信号を受信し、受信部からの出
力信号は所定のサンプリング周期でメモリに順に記憶さ
れる。各反射波形のピーク値のうち原点、即ち欠陥位置
を求める基準点となる点、とされるピーク値を格納して
いるアドレスを設定する。この設定されたアドレスは表
示部の原点のアドレスとされ、このアドレスを基準とし
てメモリの各アドレスに記憶されたデータが表示部に表
示される。The reflected wave of the ultrasonic wave from the inspected object returns to the ultrasonic probe, and the ultrasonic probe outputs a signal corresponding to the reflected wave. The receiving unit receives this signal, and the output signal from the receiving unit is sequentially stored in the memory at a predetermined sampling period. Of the peak values of each reflection waveform, the origin is set, that is, a point serving as a reference point for determining a defect position, and an address storing the peak value is set. This set address is used as the address of the origin of the display unit, and the data stored at each address of the memory is displayed on the display unit with this address as a reference.
以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。 Hereinafter, the present invention will be described based on the illustrated embodiments.
第1図は本発明の実施例に係る超音波探傷器のブロック
図である。図で、第5図に示す部分と同一部分には同一
符号を付して説明を省略する。超音波探傷器において
は、反射波を検波して表示する場合と、検波せずに表示
する場合とがあるが、いずれの場合でも本発明は適用可
能である。従って、以下では、第7図の増幅器6b′と
検波回路7と合わせたものを増幅回路6bとして受信部
6を構成し、検波を行なった場合の実施例を示す。21
は本実施例の超音波探傷器を示す。この超音波探傷器2
1は次の各要素により構成されている。即ち、22は受
信部6の出力信号をディジタル値に変換するA/D変換
部、23はA/D変換部22で変換された値を記憶する
波形メモリ、24は波形メモリ23の各アドレスを順に
指定してゆくアドレスカウンタである。25はタイミン
グ回路であり、送信部5、A/D変換部22およびアド
レスカウンタ24へそれぞれ起動信号を与える。このタ
イミング回路25の発振には水晶発振子が用いられる。FIG. 1 is a block diagram of an ultrasonic flaw detector according to an embodiment of the present invention. In the figure, the same parts as those shown in FIG. In the ultrasonic flaw detector, there are a case where the reflected wave is detected and displayed and a case where the reflected wave is not detected and displayed, but the present invention can be applied in any case. Therefore, in the following, an embodiment will be described in which the receiver 6 is constituted by combining the amplifier 6b 'of FIG. 7 and the detection circuit 7 as the amplification circuit 6b, and detection is performed. 21
Shows the ultrasonic flaw detector of the present embodiment. This ultrasonic flaw detector 2
1 is composed of the following elements. That is, 22 is an A / D converter that converts the output signal of the receiver 6 into a digital value, 23 is a waveform memory that stores the value converted by the A / D converter 22, and 24 is each address of the waveform memory 23. It is an address counter that is specified in order. Reference numeral 25 denotes a timing circuit, which gives a start signal to the transmitter 5, the A / D converter 22, and the address counter 24, respectively. A crystal oscillator is used for oscillation of the timing circuit 25.
26は所要の演算、制御を行うCPU(中央処理装
置)、27は演算のためのパラメータやデータ等を一時
記憶するRAM(ランダム・アクセス・メモリ)、28
はCPU26の処理手順を記憶するROM(リード・オ
ンリ・メモリ)である。29は所望の測定範囲を入力す
る測定範囲設定部、30は数値等を入力するキーボード
入力部である。31は液晶表示部、32はCPU26の
演算、制御の結果得られたデータに基づいて液晶表示部
31の表示を制御する表示部コントローラである。Reference numeral 26 is a CPU (central processing unit) for performing required arithmetic operations and control, 27 is a RAM (random access memory) for temporarily storing parameters and data for arithmetic operations, 28
Is a ROM (read only memory) that stores the processing procedure of the CPU 26. Reference numeral 29 is a measurement range setting unit for inputting a desired measurement range, and 30 is a keyboard input unit for inputting numerical values and the like. Reference numeral 31 is a liquid crystal display unit, and 32 is a display unit controller which controls the display of the liquid crystal display unit 31 based on the data obtained as a result of the calculation and control of the CPU 26.
第2図は第1図に示すキーボード入力部におけるキース
イッチの配置図である。本実施例において、キーボード
入力部30のキースイッチは、0〜9までの10個の数
字キースイッチ30a「原点」の表示がある原点キース
イッチ30b、および「セット」の表示があるセットキ
ースイッチ30cで構成されている。原点キースイッチ
30bは原点位置を求める処理動作を起動する機能を有
し、又、セットキースイッチ30cは入力終了の信号を
出力する機能を有する。FIG. 2 is a layout view of the key switches in the keyboard input section shown in FIG. In the present embodiment, the key switches of the keyboard input unit 30 are ten numeric key switches 30 to 0 to 9 and the origin key switch 30b with the indication of "origin" and the set key switch 30c with the indication of "set". It is composed of. The origin key switch 30b has a function of activating a processing operation for obtaining the origin position, and the set key switch 30c has a function of outputting an input end signal.
次に、本実施例の動作を第3図に示す反射波の波形図、
第4図に示す波形メモリ23の内容説明図、第5図に示
すフローチャート、および第6図(a),(b)に示す表示部
の表示波形図を参照しながら説明する。タイミング回路
25から送信部5へトリガ信号が出力されると、送信部
5は超音波探触子2にパルスを出力し、超音波探触子2
から被検査物体1内に超音波が放射される。この超音波
の反射波は超音波探触子2により電気信号に変換され、
この信号は受信部6で受信される。受信部6は、受信し
た反射波信号を以後の処理に適した値として出力する。
この出力された反射波信号は、所定のサンプリング周期
毎にA/D変換部22においてディジタル値に変換さ
れ、この変換された値は順次波形メモリ23に記憶され
る。この記憶は、アドレスカウンタ24が波形メモリ2
3のアドレスを順次指定することによりなされる。反射
波信号のサンプリング、波形メモリ23のアドレス指定
はタイミング回路25から出力される起動信号により実
行される。このような反射波信号のサンプリングと、そ
のディジタル値の波形メモリ23への収容を第3図およ
び第4図により説明する。Next, the operation of the present embodiment is shown in FIG.
This will be described with reference to the contents explanatory view of the waveform memory 23 shown in FIG. 4, the flowchart shown in FIG. 5, and the display waveform diagram of the display section shown in FIGS. 6 (a) and 6 (b). When the trigger signal is output from the timing circuit 25 to the transmitting unit 5, the transmitting unit 5 outputs a pulse to the ultrasonic probe 2, and the ultrasonic probe 2
Ultrasonic waves are radiated from the inside of the inspected object 1. The reflected wave of this ultrasonic wave is converted into an electric signal by the ultrasonic probe 2,
This signal is received by the receiving unit 6. The receiving unit 6 outputs the received reflected wave signal as a value suitable for the subsequent processing.
The output reflected wave signal is converted into a digital value in the A / D converter 22 at a predetermined sampling cycle, and the converted value is sequentially stored in the waveform memory 23. In this storage, the address counter 24 is the waveform memory 2
This is done by sequentially designating addresses of 3. The sampling of the reflected wave signal and the addressing of the waveform memory 23 are performed by a start signal output from the timing circuit 25. The sampling of such a reflected wave signal and the storage of the digital value in the waveform memory 23 will be described with reference to FIGS. 3 and 4.
第3図は反射波信号の波形図である。図で、横軸には時
間が、縦軸には反射波信号の大きさ(電圧)がとってあ
る。T,Fは第9図に示すものと同じ反射波を示す。な
お、第3図では横軸のみが極端に拡大して描かれてい
る。次に、第4図は波形メモリ23の内容説明図であ
る。縦列に並べて示された各ブロックは波形メモリ23
におけるデータの収容部を意味し、各収容部に記載され
たD(0),D(1),………D(n-1),D(n),D(n+1)……
…はA/D変換部22でディジタル値に変換された反射
波信号のデータである。これらデータを一般形としてD
(i)で表わす。又、各収容部の左側に記載された符号A
M(0),AM(1),………AM(n-1),AM(n),AM(n+1)……
…は対応する収容部のアドレスを示す。これらアドレス
を一般形としてAM(i)で表わす。FIG. 3 is a waveform diagram of the reflected wave signal. In the figure, the horizontal axis represents time, and the vertical axis represents the magnitude (voltage) of the reflected wave signal. T and F show the same reflected waves as shown in FIG. Incidentally, in FIG. 3, only the horizontal axis is drawn in an extremely enlarged manner. Next, FIG. 4 is an explanatory view of the contents of the waveform memory 23. Each block shown in a column is the waveform memory 23.
Means the data accommodating section in D, and D (0) , D (1) , ... D (n-1) , D (n) , D (n + 1) ... described in each accommodating section.
Is data of the reflected wave signal converted into a digital value by the A / D converter 22. D of these data as a general form
Represented by (i) . In addition, the code A described on the left side of each accommodation portion
M (0) , A M (1) , ……… A M (n-1) , A M (n) , A M (n + 1) ……
... indicates the address of the corresponding accommodation unit. These addresses are represented by A M (i) as a general form.
今、第3図に示す時刻t0において、タイミング回路2
5からA/D変換部22およびアドレスカウンタ24に
起動信号が出力されると、A/D変換部22ではそのと
きの反射波Tの電圧をA/D変換してデータD(0)を得
る。又、アドレスカウンタ24は波形メモリ23のアド
レスAM(0)を指定する。この結果、データD(0)は波形
メモリ23のアドレスAM(0)に収容される。次いで、時
間τS経過後の時間t1において、タイミング回路25
から再びA/D変換部22およびアドレスカウンタ24
に起動信号が出力されると、同じくそのときの反射波T
の電圧がA/D変換部22で変換されてデータD(1)が
得られ、アドレスカウンタ24は次のアドレスAM(1)を
指定するので、波形メモリ23のアドレスAM(1)にデー
タD(1)が収容される。この場合、時間τSがサンプリ
ング時間(例えば50ns)となる。以下、同様にして
反射波T,S,F,B,BSのデータが波形メモリ23
に記憶されることになる。Now, at the time t 0 shown in FIG. 3, the timing circuit 2
When a start signal is output from A to D / A converter 22 and address counter 24, A / D converter 22 A / D converts the voltage of reflected wave T at that time to obtain data D (0) . . Further, the address counter 24 designates the address A M (0) of the waveform memory 23. As a result, the data D (0) is stored in the address A M (0) of the waveform memory 23. Next, at a time t 1 after the time τ S has elapsed, the timing circuit 25
Again from the A / D converter 22 and the address counter 24
When a start signal is output to, the reflected wave T at that time also
Is the voltage of the conversion by the A / D converter 22 and the data D (1) is obtained, since the address counter 24 designates the next address A M (1), the address A M (1) of the waveform memory 23 The data D (1) is stored. In this case, the time τ S becomes the sampling time (for example, 50 ns). In the same manner reflected wave T, S, F, B, data of B S waveform memory 23
Will be stored in.
次に、原点設定の動作について説明する。原点を設置す
る場合には、まず、キーボード入力部30の原点キース
イッチ30bを押す。CPU26は常時この原点キース
イッチ30bが押されたか否かを判断しており(第5図
に示す手順P1)、これが押されたことを判定すること
により原点設定処理を行う。即ち、最初に、波形メモリ
23に記憶されているデータに基づいて、各反射波T,
S,F,B,BSのピーク値を検索し、そのピーク値を
格納しているアドレスを求める(手順P2)。Next, the operation of setting the origin will be described. When setting the origin, first, the origin key switch 30b of the keyboard input unit 30 is pressed. The CPU 26 always determines whether or not the origin key switch 30b has been pressed (procedure P 1 shown in FIG. 5), and performs the origin setting process by determining that the origin key switch 30b has been pressed. That is, first, based on the data stored in the waveform memory 23, each reflected wave T,
S, F, B, searches the peak value of B S, obtains the address that stores the peak value (Step P 2).
次に各反射波T,S,F,B,BSを液晶表示部31に
表示する(手順P3)。この表示の概略について説明す
る。液晶表示部31はその横方向においてある数の液晶
ドットが配列されており、又、表示部コントローラ32
には当該配列の数と同数のアドレスを有する表示メモリ
(図示されていない)が設けられている。今、仮に液晶
ドットの配列数を200とすると、表示メモリのアドレ
ス{これをAL(j)で表す}の数は、アドレスAL(O)から
アドレスAL(199)までの200となる。一方、波形メモ
リ23のアドレスAM(i)のうち、反射波T,S,F,
B,BSまでが格納されているアドレスの数を例えば1
000とする。表示メモリの数は200であるので、全
ての領域を表示するためには、表示するデータを間引く
必要がある。そこで、上記1000のアドレス{アドレ
スAM(O)〜AM(999)}のうち5番目毎のアドレス{アド
レスAM(O),AM(5),AM(10),AM(990)}を表示メモ
リのアドレスAL(j)に対応させ、そのデータを表示メモ
リの当該アドレスに転送し、表示部コントローラ32に
よりこれらのデータを液晶表示部31に表示すれば各反
射波T〜BSを表示することができる。Next, each reflected wave T, S, F, B, B S is displayed on the liquid crystal display unit 31 (procedure P 3 ). The outline of this display will be described. The liquid crystal display unit 31 has a certain number of liquid crystal dots arranged in the lateral direction, and the display unit controller 32
Is provided with a display memory (not shown) having the same number of addresses as the array. Now, assuming that the number of liquid crystal dots arranged is 200, the number of addresses {represented by AL (j) } in the display memory is 200 from address AL (O) to address AL (199). . On the other hand, among the addresses A M (i) of the waveform memory 23, the reflected waves T, S, F,
For example, the number of addresses in which B and B S are stored is 1
000. Since the number of display memories is 200, it is necessary to thin out the data to be displayed in order to display the entire area. Therefore, among the above 1000 addresses {addresses A M (O) to A M (999) }, every fifth address {addresses A M (O) , A M (5) , A M (10) , A M ( 990) } to correspond to the address A L (j) of the display memory, transfer the data to the address of the display memory, and display these data on the liquid crystal display 31 by the display controller 32. ~ B S can be displayed.
次に、第6図(a)に示すように液晶表示部31に表示さ
れた波形のピーク値のすべてに番号を付与表示するとと
もに、それらのピーク値のうち原点位置とすべきピーク
値の選択を指示する原点位置選択表示を行う(手順
P4)。なお、これらの番号は手順P2で得られた各ピ
ーク値に対して予め順に付与されている。第6図(a)に
示す場合、反射波T,S,F,B,BSのピーク値にそ
れぞれ順に番号0〜4が付され、又、原点位置選択表示
として「ゲンテンイチヲシジシナサイ」という表示がな
されている。オペレータはこの指示にしたがって、反射
波Sのピーク値の番号「1」をキーボード入力部30の
数字キースイッチ30aのうち数字「1」が表示された
ものを押圧し、次にセットキースイッチ30cを押圧し
て入力の終了を報せる。Next, as shown in FIG. 6 (a), all the peak values of the waveform displayed on the liquid crystal display unit 31 are numbered and displayed, and the peak value to be the origin position is selected from the peak values. The origin position selection display for instructing is displayed (procedure P 4 ). It should be noted that these numbers are sequentially assigned in advance to the respective peak values obtained in the procedure P 2 . In the case shown in FIG. 6 (a), the reflected wave T, S, F, B, No. 0-4 in order respectively to the peak value of B S are attached, also as the origin position selection display "home position wo Siji Sina Sai" Is displayed. In accordance with this instruction, the operator presses the peak value number "1" of the reflected wave S on the numeric key switch 30a of the keyboard input unit 30 on which the numeral "1" is displayed, and then the set key switch 30c. Press to signal the end of input.
CPU26はキーボード入力部30からの指示をみて、
これが番号「1」であることから、手順P2で求めたア
ドレスのうち、反射波Sのピーク値を記憶するアドレス
{このアドレスをAM(S)とする}を取出す(手順
P5)。このようにしてアドレスAM(S)が定められる
と、このアドレスAM(S)は表示部コントローラ32の表
示メモリの最初のアドレス(液晶表示部31の最左端に
表示されるデータを記憶するアドレス)AL(0)に対応せ
しめられる(手順P6)。そして、液晶表示部31にお
ける表示には、第6図(b)に示すように反射波Sのピー
ク値が最左端に表示され、これが原点となる。なお、第
6図(b)に示すような波形表示{第6図(a)の波形表示の
平行移動}を行うには、第6図(a)に示す波形を表示し
ている波形メモリ23の各アドレスに対して、これに対
応する表示メモリのアドレスを、第6図(a)の表示の対
応から、1番のピーク値の表示メモリのアドレスの数だ
け減じたアドレスとすればよい。The CPU 26 sees the instruction from the keyboard input unit 30,
Since this is the number "1", an address {this address is referred to as A M (S) } for storing the peak value of the reflected wave S is taken out from the addresses obtained in the procedure P 2 (procedure P 5 ). When the address A M (S) is determined in this way, the address A M (S) stores the first address of the display memory of the display controller 32 (data displayed at the leftmost end of the liquid crystal display 31). Address) A L (0) (procedure P 6 ). Then, in the display on the liquid crystal display unit 31, the peak value of the reflected wave S is displayed at the leftmost end as shown in FIG. 6 (b), and this is the origin. In order to perform the waveform display as shown in FIG. 6 (b) (parallel movement of the waveform display of FIG. 6 (a)), the waveform memory 23 displaying the waveform shown in FIG. 6 (a) is used. For each of the addresses, the address of the display memory corresponding thereto may be an address obtained by subtracting the number of addresses of the display memory having the first peak value from the correspondence of the display of FIG. 6 (a).
上記原点とされたピーク値を記憶するアドレスA
M(S)は、例えばRAM27の所要番地に記憶され、以後
の反射波形の表示処理(例えば測定範囲の設定処理)が
どのようになされても、当該アドレスAM(S)は原点のア
ドレスとして保持されることになる。したがって、原点
の設定が容易、正確になされるばかりでなく、原点設定
後にどのような処理が行われても原点が変動することは
ない。Address A for storing the peak value set as the origin
M (S) is stored in a required address of the RAM 27, for example, and no matter how the subsequent reflection waveform display processing (for example, measurement range setting processing) is performed, the address A M (S) is used as the origin address. Will be retained. Therefore, not only is the origin set easily and accurately, but the origin does not fluctuate no matter what process is performed after the origin is set.
なお、上記実施例の説明では、各波形のピーク値を求め
て原点設定を行う例について説明したが、これに限るこ
とはなく、液晶表示部31にカーソルを表示することに
より原点設定を行うこともできる。即ち、別途ロータリ
スイッチを設け、これにより表示メモリのアドレスをす
べて指定できるようにしておく。そして、このロータリ
スイッチでアドレスが指定されたとき、当該アドレスに
格納されているデータを垂直な線又は破線を表示するデ
ータに変更し、指定が解除されたとき再度元のデータを
格納するカーソル手段を設けておく。このように、ロー
タリスイッチおよびカーソル手段が設置された状態で、
前述のように各反射波を液晶表示部31に表示し、ロー
タリスイッチを回転してゆくと、これに応じて波形上を
直線又は破線がカーソルとして水平方向に移動する。し
たがって、このカーソルを反射波Sのピークに一致させ
ることにより、そのときの表示メモリのアドレスに対応
する波形メモリ23のアドレスAM(S)を原点として指定
することができる。In the description of the above embodiment, an example in which the peak value of each waveform is obtained and the origin is set has been described. However, the present invention is not limited to this, and the origin is set by displaying a cursor on the liquid crystal display unit 31. You can also That is, a rotary switch is separately provided so that all addresses of the display memory can be designated. Then, when an address is designated by this rotary switch, the data stored at the address is changed to data displaying a vertical line or a broken line, and when the designation is released, the cursor means for storing the original data again. Is provided. In this way, with the rotary switch and cursor means installed,
As described above, when each reflected wave is displayed on the liquid crystal display unit 31 and the rotary switch is rotated, a straight line or a broken line on the waveform moves in the horizontal direction as a cursor in response to this. Therefore, by making the cursor coincide with the peak of the reflected wave S, the address A M (S) of the waveform memory 23 corresponding to the address of the display memory at that time can be designated as the origin.
なお又、上記実施例の説明では、表示部として液晶表示
部を例示して説明したが、液晶表示部に限ることはな
く、陰極線管、プラズマ表示部等を用いることができる
のは明らかである。Further, in the description of the above-mentioned embodiments, the liquid crystal display unit is illustrated as the display unit, but the display unit is not limited to the liquid crystal display unit, and it is obvious that a cathode ray tube, a plasma display unit or the like can be used. .
以上述べたように、本発明では、受信した反射波のデー
タを波形メモリに記憶させ、各波形のピーク値のうちの
所定のピーク値を原点として指示し、そのピーク値のア
ドレスを表示部のアドレスの原点として表示を行うよう
にしたので、原点の設定を容易かつ正確に行うことがで
きるとともに、測定範囲設定等の他の処理を行っても原
点が変化することはない。As described above, in the present invention, the received reflected wave data is stored in the waveform memory, a predetermined peak value among the peak values of each waveform is designated as the origin, and the address of the peak value is displayed on the display unit. Since the display is performed as the origin of the address, the origin can be set easily and accurately, and the origin does not change even if other processing such as setting the measurement range is performed.
第1図は本発明の実施例に係る超音波探傷器のブロック
図、第2図は第1図に示すキーボード入力部のキースイ
ッチの配置図、第3図は反射波の一部の波形図、第4図
は第1図に示す波形メモリの内容説明図、第5図は第1
図に示す超音波探傷器の動作を説明するフローチャー
ト、第6図(a),(b)は第1図に示す液晶表示部に表示さ
れる波形図、第7図は従来の超音波探傷器のブロック
図、第8図は水浸法を説明する断面図、第9図は反射波
の波形図である。 1……被検査物体、1f……欠陥、2……超音波探触
子、5……送信部、6……受信部、21……超音波探傷
器、22……A/D変換部、23……波形メモリ、24
……アドレスカウンタ、25……タイミング回路、26
……CPU、27……RAM、28……ROM、29…
…測定範囲設定部、30……キーボード入力部、31…
…液晶表示部FIG. 1 is a block diagram of an ultrasonic flaw detector according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a layout diagram of key switches of a keyboard input section shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a partial waveform diagram of a reflected wave. , FIG. 4 is an explanatory view of the contents of the waveform memory shown in FIG. 1, and FIG.
6 is a flowchart explaining the operation of the ultrasonic flaw detector shown in FIG. 6, FIGS. 6 (a) and 6 (b) are waveform diagrams displayed on the liquid crystal display unit shown in FIG. 1, and FIG. 7 is a conventional ultrasonic flaw detector. Of FIG. 8, FIG. 8 is a sectional view for explaining the water immersion method, and FIG. 9 is a waveform diagram of a reflected wave. 1 ... Object to be inspected, 1f ... Defect, 2 ... Ultrasonic probe, 5 ... Transmitting section, 6 ... Receiving section, 21 ... Ultrasonic flaw detector, 22 ... A / D converting section, 23 ... Waveform memory, 24
...... Address counter, 25 ...... Timing circuit, 26
... CPU, 27 ... RAM, 28 ... ROM, 29 ...
… Measurement range setting section, 30 …… Keyboard input section, 31…
... Liquid crystal display
Claims (1)
する送信部と、前記超音波探触子からの信号を受信する
受信部と、この受信部で受信された信号に基づいて当該
信号の波形を表示する表示部とを備えた超音波探傷器に
おいて、前記受信部で受信された信号を所定のサンプリ
ング周期で順次アドレスに記憶するメモリと、このメモ
リに格納された前記信号の各ピーク値を検索するピーク
値検索手段と、このピーク値検索手段により検索された
ピーク値のうち欠陥位置を求める基準点である原点とな
るピーク値を格納しているアドレスを原点アドレスとし
て設定する原点アドレス設定手段と、この原点アドレス
設定手段により設定されたアドレスを前記表示部の原点
のアドレスとして前記メモリに記憶された信号を前記表
示部に表示する表示制御手段とを設けたことを特徴とす
る超音波探傷器の原点設定装置。1. A transmitting unit that outputs a predetermined pulse to an ultrasonic probe, a receiving unit that receives a signal from the ultrasonic probe, and a receiving unit that is based on the signal received by the receiving unit. In an ultrasonic flaw detector equipped with a display unit that displays the waveform of the signal, a memory that sequentially stores signals received by the receiving unit at a predetermined sampling period, and a signal that is stored in the memory. The peak value searching means for searching each peak value and the address storing the peak value serving as the origin which is the reference point for finding the defect position among the peak values searched by this peak value searching means are set as the origin address. Table for displaying the signal stored in the memory as the origin address setting means and the address set by the origin address setting means as the origin address of the display portion. Origin setting device of the ultrasonic flaw detector, characterized in that a control means.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61296720A JPH0614030B2 (en) | 1986-12-15 | 1986-12-15 | Origin setting device for ultrasonic flaw detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61296720A JPH0614030B2 (en) | 1986-12-15 | 1986-12-15 | Origin setting device for ultrasonic flaw detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63150667A JPS63150667A (en) | 1988-06-23 |
| JPH0614030B2 true JPH0614030B2 (en) | 1994-02-23 |
Family
ID=17837213
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61296720A Expired - Lifetime JPH0614030B2 (en) | 1986-12-15 | 1986-12-15 | Origin setting device for ultrasonic flaw detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0614030B2 (en) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52108872A (en) * | 1976-03-10 | 1977-09-12 | Hitachi Ltd | Ultrasonic flaw detector |
| JPS60203862A (en) * | 1984-03-29 | 1985-10-15 | Jeol Ltd | Display control system of spectrum data |
-
1986
- 1986-12-15 JP JP61296720A patent/JPH0614030B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63150667A (en) | 1988-06-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4695833A (en) | Man-machine interface type portable ultrasonic composite measuring apparatus | |
| JPWO1984003944A1 (en) | Numerical measurement device using an oscilloscope | |
| KR0171606B1 (en) | Ultrasonic inspection and imaging instrument | |
| US3792613A (en) | Pulse-echo ultrasonic test apparatus with cathode ray tube digital display | |
| US4801873A (en) | Waveform measuring apparatus with marker zone displaying function | |
| JPH0558502B2 (en) | ||
| JPH0614030B2 (en) | Origin setting device for ultrasonic flaw detector | |
| JPH0614029B2 (en) | Defect measuring device for ultrasonic flaw detector | |
| JPH0614027B2 (en) | Ultrasonic flaw detector measurement range setting device | |
| US3436720A (en) | Sonar apparatus for measuring underground caverns | |
| KR0171605B1 (en) | Ultrasonic inspection and imaging instrument | |
| JPH0614028B2 (en) | Ultrasonic flaw detector measurement range selection device | |
| JPH04200539A (en) | Ultrasonic wave probe and blood flow measuring instrument | |
| JPH0561590B2 (en) | ||
| JP2612322B2 (en) | Gate circuit of ultrasonic flaw detector | |
| JPH0561588B2 (en) | ||
| JP2651269B2 (en) | Ultrasonic thickness gauge | |
| JPH0561589B2 (en) | ||
| JPH0535988B2 (en) | ||
| JPS6114510A (en) | ultrasonic thickness gauge | |
| JP2513882B2 (en) | Gate circuit of ultrasonic flaw detector | |
| JP2826013B2 (en) | Ultrasonic flaw detection method | |
| SU111582A1 (en) | Ultrasonic Caliper | |
| JPH06138106A (en) | Ultrasonic flaw detector | |
| JPH06277220A (en) | Ultrasonic diagnostic device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |