JPH0621982B2 - 3次元スペクトル表示装置 - Google Patents
3次元スペクトル表示装置Info
- Publication number
- JPH0621982B2 JPH0621982B2 JP59222371A JP22237184A JPH0621982B2 JP H0621982 B2 JPH0621982 B2 JP H0621982B2 JP 59222371 A JP59222371 A JP 59222371A JP 22237184 A JP22237184 A JP 22237184A JP H0621982 B2 JPH0621982 B2 JP H0621982B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spectrum
- dimensional
- display device
- factor
- factors
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Processing Or Creating Images (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Digital Computer Display Output (AREA)
- Image Generation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は3次元スペクトル表示装置に係り、特に2つの
パラメータを有するスペクトルを定量的に扱うのに好適
な3次元スペクトル表示装置に関する。
パラメータを有するスペクトルを定量的に扱うのに好適
な3次元スペクトル表示装置に関する。
スペクトルには2つのパラメータ(因子)を関数として
定まるものがある。例えば、螢光スペクトルの励起波長
と螢光波長、クロマトグラフのリテンションタイムと波
長のようなものである。これらは、スペクトル強度を含
めて3次元の情報を持っており、等高線により地図状に
表示することが行われている。
定まるものがある。例えば、螢光スペクトルの励起波長
と螢光波長、クロマトグラフのリテンションタイムと波
長のようなものである。これらは、スペクトル強度を含
めて3次元の情報を持っており、等高線により地図状に
表示することが行われている。
このスペクトル表示法については、Chimia.37.(1983)に
おけるSuter等による“Total Luminescence Spectrosco
py”と題する文献において論じられている。
おけるSuter等による“Total Luminescence Spectrosco
py”と題する文献において論じられている。
上記従来技術は3次元スペクトル(ここで3次元スペク
トルとは、スペクトルの決定要因となる2つの因子
P1,P2の座標系にスペクトルを表示する、いわゆる3
次元情報を基にしたスペクトル表示をいう)の2次元平
面上での表示法の一つであるが、その他、従前より行わ
れていた手法として、スペクトルを3次元空間での山谷
として立体的作図法で表示するものがある。この、後者
の表示法はスペクトルの凹凸を一覧するには適している
が、手前にスペクトルの山があると、その陰になった部
分は表示されず、情報の表示漏れがあることと、スペク
トルを定量的に読み取ることが困難という欠点がある。
トルとは、スペクトルの決定要因となる2つの因子
P1,P2の座標系にスペクトルを表示する、いわゆる3
次元情報を基にしたスペクトル表示をいう)の2次元平
面上での表示法の一つであるが、その他、従前より行わ
れていた手法として、スペクトルを3次元空間での山谷
として立体的作図法で表示するものがある。この、後者
の表示法はスペクトルの凹凸を一覧するには適している
が、手前にスペクトルの山があると、その陰になった部
分は表示されず、情報の表示漏れがあることと、スペク
トルを定量的に読み取ることが困難という欠点がある。
これに対して前者の等高線表示法は、3次元スペクトル
の山谷を等高線として2次元平面上に表示するもので、
全スペクトル情報が表示できるが、やはり、スペクトル
強度の定量的な読み取りが困難という問題があった。通
常、スペクトルの解析において、スペクトルピークの位
置情報(波長や時間等)は測定物質の特性や同定のため
の情報を与え、ピーク強度は測定物質の濃度あるいは存
在量に関する情報を提供するものであるため、定量性の
欠如はしばしば致命的な欠点となる。
の山谷を等高線として2次元平面上に表示するもので、
全スペクトル情報が表示できるが、やはり、スペクトル
強度の定量的な読み取りが困難という問題があった。通
常、スペクトルの解析において、スペクトルピークの位
置情報(波長や時間等)は測定物質の特性や同定のため
の情報を与え、ピーク強度は測定物質の濃度あるいは存
在量に関する情報を提供するものであるため、定量性の
欠如はしばしば致命的な欠点となる。
本発明は以上の点に鑑みてなされ、その目的は2つの因
子を有する3次元スペクトルを2次元空間に有効に表示
し、かつ、定量的に扱うことができる3次元スペクトル
表示装置を提供することにある。
子を有する3次元スペクトルを2次元空間に有効に表示
し、かつ、定量的に扱うことができる3次元スペクトル
表示装置を提供することにある。
本発明は、スペクトルの決定要因となる2つの因子
P1,P2のうち一方の因子P1を固定した状態で他方の
因子P2を走査し該因子P2走査を因子P1を所定単位で
変えるごとに実行して得られた多数のスペクトル信号を
前記因子P1,P2と併せて3次元情報として記憶する記
憶装置と、前記記憶された3次元情報から同じスペクト
ル強度を持つ点を抽出し、それらの点の集まりを前記因
子P1,P2の座標系にスペクトル強度の等高線として画
面に3次元スペクトル表示する画像表示装置とを備えた
3次元スペクトル表示装置において、 前記画像表示装置の画面に表示された前記等高線の座標
系の任意の2点をカーソルにより指定するカーソル制御
手段と、前記等高線の中から前記指定された2点間の線
上にある座標のスペクトル強度を前記記憶装置から読出
して前記2つの因子P1,P2のいずれか一方との関係で
因子P1−スペクトル強度或いは因子P2−スペクトル強
度の2次元スペクトルグラフとして作成して前記画像表
示装置の画面を通して表示する2次元グラフ作成手段と
を備えて成る。
P1,P2のうち一方の因子P1を固定した状態で他方の
因子P2を走査し該因子P2走査を因子P1を所定単位で
変えるごとに実行して得られた多数のスペクトル信号を
前記因子P1,P2と併せて3次元情報として記憶する記
憶装置と、前記記憶された3次元情報から同じスペクト
ル強度を持つ点を抽出し、それらの点の集まりを前記因
子P1,P2の座標系にスペクトル強度の等高線として画
面に3次元スペクトル表示する画像表示装置とを備えた
3次元スペクトル表示装置において、 前記画像表示装置の画面に表示された前記等高線の座標
系の任意の2点をカーソルにより指定するカーソル制御
手段と、前記等高線の中から前記指定された2点間の線
上にある座標のスペクトル強度を前記記憶装置から読出
して前記2つの因子P1,P2のいずれか一方との関係で
因子P1−スペクトル強度或いは因子P2−スペクトル強
度の2次元スペクトルグラフとして作成して前記画像表
示装置の画面を通して表示する2次元グラフ作成手段と
を備えて成る。
上記構成によれば、2つの因子P1,P2により定まるス
ペクトル信号を2次元平面に画面表示する場合に、因子
P1,P2座標系にスペクトル強度が等高線表示されるほ
かに、カーソル制御手段を用いて、上記等高線のP1,
P2座標系の任意の2点をカーソルにより指定すると、
前記等高線の中から指定された2点間の線上にある座標
のスペクトル強度が3次元情報(因子P1,P2,スペク
トル)の記憶装置から読出され、この読出された情報を
基に、2次元グラフ作成手段が因子P1−スペクトル強
度或いは因子P2−スペクトル強度の2次元スペクトル
グラフを作成し、この2次元スペクトルグラフが画像表
示装置を通して画面に表示される。
ペクトル信号を2次元平面に画面表示する場合に、因子
P1,P2座標系にスペクトル強度が等高線表示されるほ
かに、カーソル制御手段を用いて、上記等高線のP1,
P2座標系の任意の2点をカーソルにより指定すると、
前記等高線の中から指定された2点間の線上にある座標
のスペクトル強度が3次元情報(因子P1,P2,スペク
トル)の記憶装置から読出され、この読出された情報を
基に、2次元グラフ作成手段が因子P1−スペクトル強
度或いは因子P2−スペクトル強度の2次元スペクトル
グラフを作成し、この2次元スペクトルグラフが画像表
示装置を通して画面に表示される。
本発明の実施例を図面により説明する。
第1図は本発明の一実施例に係る3次元スペクトル表示
装置のブロック構成図である。
装置のブロック構成図である。
第1図において、1は励起、螢光の2つの分光器を有す
る分光螢光光度計、2は分光螢光光度計1からのスペク
トル信号を入力して波長に対応したアドレスにスペクト
ル情報を記憶するスペクトル記憶装置、3は画像表示装
置としてのCRTディスプレー、4はCRTディスプレ
ーの画面上の任意の2点を指定可能なカーソル制御装置
である。
る分光螢光光度計、2は分光螢光光度計1からのスペク
トル信号を入力して波長に対応したアドレスにスペクト
ル情報を記憶するスペクトル記憶装置、3は画像表示装
置としてのCRTディスプレー、4はCRTディスプレ
ーの画面上の任意の2点を指定可能なカーソル制御装置
である。
分光螢光光度計1は、まず励起波長(因子P1)を固定
して螢光波長(因子P2)を走査し、そのときのスペク
トル信号を一定波長間隔ごとにスペクトル記憶装置2に
送る。
して螢光波長(因子P2)を走査し、そのときのスペク
トル信号を一定波長間隔ごとにスペクトル記憶装置2に
送る。
スペクトル記憶装置2は、分光螢光光度計1の励起波長
と螢光波長を読み取り、それらに対応するアドレスにス
ペクトル信号を3次元情報(励起波長,螢光波長に併せ
たスペクトル信号)として記憶する。すなわち、分光螢
光光度計1は、螢光波長走査が終了したならば、螢光波
長をスタート波長に戻し、励起波長を一定分(所定単
位)だけ駆動し、しかる後に、螢光波長走査をスタート
し、その螢光スペクトル信号をスペクトル記憶装置2に
励起波長,螢光波長と併せて3次元情報として記憶す
る。
と螢光波長を読み取り、それらに対応するアドレスにス
ペクトル信号を3次元情報(励起波長,螢光波長に併せ
たスペクトル信号)として記憶する。すなわち、分光螢
光光度計1は、螢光波長走査が終了したならば、螢光波
長をスタート波長に戻し、励起波長を一定分(所定単
位)だけ駆動し、しかる後に、螢光波長走査をスタート
し、その螢光スペクトル信号をスペクトル記憶装置2に
励起波長,螢光波長と併せて3次元情報として記憶す
る。
この操作を励起波長が最終の波長に達するまで繰り返す
ことにより、スペクトル記憶装置2には全ての3次元情
報(励起波長,螢光波長,スペクトル信号)が記憶され
る。
ことにより、スペクトル記憶装置2には全ての3次元情
報(励起波長,螢光波長,スペクトル信号)が記憶され
る。
しかる後に、画像表示装置3の中の演算手段(3次元ス
ペクトル作成手段)は、スペクトル記憶装置2の記憶情
報を読み取り、スペクトル強度がある値に等しくなる励
起波長、螢光波長を抽出し、それらの点の集まりを画面
上に螢光波長(λEM)を横軸,励起波長(λEX)を縦軸
とするグラフ上(座標系)にプロットする。これをスペ
クトル記憶装置2に記憶された全スペクトル信号に対し
て行うことにより、第3図に示すように画像表示装置3
の画面上にスペクトルの等高線マップ5、いわゆる3次
元的なスペクトルを得る。等高線抽出のためのスペクト
ル強度としては、離散的な何点かの値が選ばれ、その点
数に応じて複数の等高線が表示される。
ペクトル作成手段)は、スペクトル記憶装置2の記憶情
報を読み取り、スペクトル強度がある値に等しくなる励
起波長、螢光波長を抽出し、それらの点の集まりを画面
上に螢光波長(λEM)を横軸,励起波長(λEX)を縦軸
とするグラフ上(座標系)にプロットする。これをスペ
クトル記憶装置2に記憶された全スペクトル信号に対し
て行うことにより、第3図に示すように画像表示装置3
の画面上にスペクトルの等高線マップ5、いわゆる3次
元的なスペクトルを得る。等高線抽出のためのスペクト
ル強度としては、離散的な何点かの値が選ばれ、その点
数に応じて複数の等高線が表示される。
以上の手順の一実施例を第2図のフローチャートに示
す。
す。
第1図のカーソル制御装置4は、画像表示装置3上のカ
ーソルを動かすことにより、等高線マップ5を横切るた
めの任意の2点を指定するもので、本実施例では、第3
図,第4図に示すように、2つのカーソル9,10をし
て上記2点の指定を行う。
ーソルを動かすことにより、等高線マップ5を横切るた
めの任意の2点を指定するもので、本実施例では、第3
図,第4図に示すように、2つのカーソル9,10をし
て上記2点の指定を行う。
画像表示装置3の演算手段は、カーソル9と10とを結
ぶ2点間の直線上で対応する励起波長と螢光波長とを計
算し、さらに、その励起波長、螢光波長に対応するスペ
クトル信号をスペクトル記憶装置2より読み取り、励起
波長を横軸、スペクトル強度を縦軸とする2次元スペク
トルグラフとして作成し画像表示装置3の画面に表示す
る。すなわち、画像表示装置3の演算系は、前述の3次
元スペクトル作成手段のほかに2次元グラフ作成手段を
構成する。
ぶ2点間の直線上で対応する励起波長と螢光波長とを計
算し、さらに、その励起波長、螢光波長に対応するスペ
クトル信号をスペクトル記憶装置2より読み取り、励起
波長を横軸、スペクトル強度を縦軸とする2次元スペク
トルグラフとして作成し画像表示装置3の画面に表示す
る。すなわち、画像表示装置3の演算系は、前述の3次
元スペクトル作成手段のほかに2次元グラフ作成手段を
構成する。
第5図がその2次元スペクトルグラフの一例を示す線図
である。第6図はそのときの手順の一実施例を示すフロ
ーチャートである。
である。第6図はそのときの手順の一実施例を示すフロ
ーチャートである。
第6図においては、カーソル9,10により等高線5を
横切る2点の座標(Xc1,Yc1)と(Xc2,Yc2)
を指定すると、3次元スペクトルグラフ(等高線)間の
線上のスペクトルデータを読み取るために、Xc1…Xi
…Xc2の範囲でXiを所定単位ΔXづつ加算し、Y座標
については、Yc1…Yi…Yc2の範囲で、上記2点の
座標の傾きから、 の式により2点を結ぶ線上の各座標(Xi,Yi)におけ
るスペクトル強度IXMを求め、Xi(励起波長)に対す
るスペクトルデータIXMに対応する点をプロットするこ
とで、励起波長−スペクトル強度の2次元スペクトルデ
ータを作成する。
横切る2点の座標(Xc1,Yc1)と(Xc2,Yc2)
を指定すると、3次元スペクトルグラフ(等高線)間の
線上のスペクトルデータを読み取るために、Xc1…Xi
…Xc2の範囲でXiを所定単位ΔXづつ加算し、Y座標
については、Yc1…Yi…Yc2の範囲で、上記2点の
座標の傾きから、 の式により2点を結ぶ線上の各座標(Xi,Yi)におけ
るスペクトル強度IXMを求め、Xi(励起波長)に対す
るスペクトルデータIXMに対応する点をプロットするこ
とで、励起波長−スペクトル強度の2次元スペクトルデ
ータを作成する。
なお、第3図,第4図には2つのピークを有する等高線
マップが示してあるが、このような場合は、2つのカー
ソル9,10で指定される2点を結ぶ直線が、図示のよ
うに2個のピークを通るように2点を指定するようにカ
ーソル制御装置4を構成することが望ましく、このよう
にすると、第5図に示すようにグラフ表示することがで
きる。
マップが示してあるが、このような場合は、2つのカー
ソル9,10で指定される2点を結ぶ直線が、図示のよ
うに2個のピークを通るように2点を指定するようにカ
ーソル制御装置4を構成することが望ましく、このよう
にすると、第5図に示すようにグラフ表示することがで
きる。
本実施例によれば、測定スペクトルを励起波長,螢光波
長の座標系に等高線マップにより漏れなく表示できると
共に、それを2次元スペクトルグラフに変換すること
で、従来の2次元スペクトルとの対応を容易にし、測定
物質の特性,同定を容易に把握できるほかに、成分濃
度,存在量等の定量的扱いを容易にできる効果がある。
長の座標系に等高線マップにより漏れなく表示できると
共に、それを2次元スペクトルグラフに変換すること
で、従来の2次元スペクトルとの対応を容易にし、測定
物質の特性,同定を容易に把握できるほかに、成分濃
度,存在量等の定量的扱いを容易にできる効果がある。
なお、上記実施例は、螢光スペクトルを例にとり、パラ
メータが励起波長、螢光波長の場合について述べたが、
他のパラメータ、例えば、クロマトグラフのリテンショ
ンタイムと波長の組み合わせであってもよい。また、ス
ペクトル記憶装置2、画像表示装置3およびカーソル制
御装置4は、コンピュータのソフトウエアでも容易に実
現できるので、プログラムに置き換えてもよい。
メータが励起波長、螢光波長の場合について述べたが、
他のパラメータ、例えば、クロマトグラフのリテンショ
ンタイムと波長の組み合わせであってもよい。また、ス
ペクトル記憶装置2、画像表示装置3およびカーソル制
御装置4は、コンピュータのソフトウエアでも容易に実
現できるので、プログラムに置き換えてもよい。
第7図、第8図に本発明の関連技術の一例を示す。
この例は、第1図に示すと同様のカーソル制御装置4に
より、画像表示装置3上の1つのカーソル11を動かす
ことにより、等高線マップ5上の任意の一点を指定す
る。これにより、画像表示装置3は、カーソル位置に対
応する励起波長、螢光波長を計算し、さらに、その励起
波長と螢光波長に対応するスペクトル信号をスペクトル
記憶装置2より読み取り、それらの値を画像表示装置3
の画面上に表示する。第7図における符号6,7,8は
それぞれ励起波長、螢光波長、螢光スペクトル強度の表
示である。以上の手順を第8図のフローチャートに示
す。
より、画像表示装置3上の1つのカーソル11を動かす
ことにより、等高線マップ5上の任意の一点を指定す
る。これにより、画像表示装置3は、カーソル位置に対
応する励起波長、螢光波長を計算し、さらに、その励起
波長と螢光波長に対応するスペクトル信号をスペクトル
記憶装置2より読み取り、それらの値を画像表示装置3
の画面上に表示する。第7図における符号6,7,8は
それぞれ励起波長、螢光波長、螢光スペクトル強度の表
示である。以上の手順を第8図のフローチャートに示
す。
本例は、既述の本発明実施例のような測定物質の2次元
スペクトルデータは得られないが、任意の一点のスペク
トルを正確に読み取ることはできる。
スペクトルデータは得られないが、任意の一点のスペク
トルを正確に読み取ることはできる。
本発明によれば、2つの因子P1,P2を有する3次元ス
ペクトルを等高線により2次元空間に表示して情報の表
示漏れのない全スペクトル表示を可能にすると共に、上
記3次元スペクトルを因子P1−スペクトル強度或いは
因子P2−スペクトル強度の2次元スペクトルグラフに
変換することで、スペクトルピークの位置情報及び強度
の把握を容易にして測定物質の特性,同定及び定量性
(濃度,存在量等)の情報を提供することができる。
ペクトルを等高線により2次元空間に表示して情報の表
示漏れのない全スペクトル表示を可能にすると共に、上
記3次元スペクトルを因子P1−スペクトル強度或いは
因子P2−スペクトル強度の2次元スペクトルグラフに
変換することで、スペクトルピークの位置情報及び強度
の把握を容易にして測定物質の特性,同定及び定量性
(濃度,存在量等)の情報を提供することができる。
第1図は本発明の一実施例に係る3次元スペクトル表示
装置のブロック構成図、第2図は第1図におけるスペク
トルの等高線表示の手順の一例を示すフローチャート、
第3図は本実施例に用いる画面表示装置の画面の一例を
示す説明図、第4図は、第3図から等高線だけを取り出
した説明図、第5図は上記3次元スペクトル(等高線)
を2次元スペクトルグラフに変換した状態を示す線図、
第6図はそのときの手順の一例を示すフローチャート、
第7図は他の応用例を示す画面表示装置の説明図、第8
図は第7図におけるスペクトル信号読み取り手順の一実
施例を示すフローチャートである。 1……分光螢光光度計、2……スペクトル記憶装置、3
……画像表示装置(3次元スペクトル作成手段、2次元
グラフ作成手段)、4……カーソル制御装置、5……等
高線マップ、6……励起波長(因子P1)、7……螢光
波長…(因子P2)、8……螢光スペクトル強度、9,
10……カーソル。
装置のブロック構成図、第2図は第1図におけるスペク
トルの等高線表示の手順の一例を示すフローチャート、
第3図は本実施例に用いる画面表示装置の画面の一例を
示す説明図、第4図は、第3図から等高線だけを取り出
した説明図、第5図は上記3次元スペクトル(等高線)
を2次元スペクトルグラフに変換した状態を示す線図、
第6図はそのときの手順の一例を示すフローチャート、
第7図は他の応用例を示す画面表示装置の説明図、第8
図は第7図におけるスペクトル信号読み取り手順の一実
施例を示すフローチャートである。 1……分光螢光光度計、2……スペクトル記憶装置、3
……画像表示装置(3次元スペクトル作成手段、2次元
グラフ作成手段)、4……カーソル制御装置、5……等
高線マップ、6……励起波長(因子P1)、7……螢光
波長…(因子P2)、8……螢光スペクトル強度、9,
10……カーソル。
Claims (1)
- 【請求項1】スペクトルの決定要因となる2つの因子P
1,P2のうち一方の因子P1を固定した状態で他方の因
子P2を走査し該因子P2走査を因子P1を所定単位で変
えるごとに実行して得られた多数のスペクトル信号を前
記因子P1,P2と併せて3次元情報として記憶する記憶
装置と、前記記憶された3次元情報から同じスペクトル
強度を持つ点を抽出し、それらの点の集まりを前記因子
P1,P2の座標系にスペクトル強度の等高線として画面
に3次元スペクトル(ここで3次元スペクトルとは、前
記因子P1,P2と併せてスペクトルを表示することをい
う)表示する画像表示装置とを備えた3次元スペクトル
表示装置において、 前記画像表示装置の画面に表示された前記等高線の座標
系の任意の2点をカーソルにより指定するカーソル制御
手段と、前記等高線の中から前記指定された2点間の線
上にある座標のスペクトル強度を前記記憶装置から読出
して前記2つの因子P1,P2のいずれか一方との関係で
因子P1−スペクトル強度或いは因子P2−スペクトル強
度の2次元スペクトルグラフとして作成して前記画像表
示装置の画面を通して表示する2次元グラフ作成手段と
を備えて成ることを特徴とする3次元スペクトル表示装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59222371A JPH0621982B2 (ja) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | 3次元スペクトル表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59222371A JPH0621982B2 (ja) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | 3次元スペクトル表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61100832A JPS61100832A (ja) | 1986-05-19 |
| JPH0621982B2 true JPH0621982B2 (ja) | 1994-03-23 |
Family
ID=16781299
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59222371A Expired - Lifetime JPH0621982B2 (ja) | 1984-10-23 | 1984-10-23 | 3次元スペクトル表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0621982B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4870348A (en) * | 1988-06-09 | 1989-09-26 | Tektronix, Inc. | Markers for readout and delta-parameter measurements on a quasi-3-dimensional display of a spectrum |
| JP2709092B2 (ja) * | 1988-09-20 | 1998-02-04 | アンリツ株式会社 | スペクトラム三次元表示方法 |
| EP1593956A4 (en) * | 2002-11-01 | 2007-09-19 | Hamamatsu Photonics Kk | DIAGNOSTIC METHOD OF DISEASE, DEVICE FOR GENERATING DATA TO DIAGNOSE DISEASES, AND DEVICE FOR GENERATING DATA FOR DIAGNOSING DISEASES |
| US7522263B2 (en) * | 2005-12-27 | 2009-04-21 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and method |
| JP2011058818A (ja) * | 2009-09-07 | 2011-03-24 | Hitachi High-Technologies Corp | 分光蛍光光度計 |
| JP5841315B2 (ja) | 2010-04-28 | 2016-01-13 | ソニー株式会社 | 微小粒子分析装置 |
| KR20200052949A (ko) * | 2017-09-19 | 2020-05-15 | 코베스트로 엘엘씨 | 맞춤형 디자인 생성물에 대한 기술 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5962036A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-09 | 富士通株式会社 | 立体デ−タ表示処理システム |
-
1984
- 1984-10-23 JP JP59222371A patent/JPH0621982B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61100832A (ja) | 1986-05-19 |
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