JPH0626704B2 - Ultra thin film with improved adhesion to substrate and its manufacturing method - Google Patents
Ultra thin film with improved adhesion to substrate and its manufacturing methodInfo
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- JPH0626704B2 JPH0626704B2 JP61246774A JP24677486A JPH0626704B2 JP H0626704 B2 JPH0626704 B2 JP H0626704B2 JP 61246774 A JP61246774 A JP 61246774A JP 24677486 A JP24677486 A JP 24677486A JP H0626704 B2 JPH0626704 B2 JP H0626704B2
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Description
【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は基板との接着性が改善された耐熱性高分子超薄
膜とその製法に関するものであり、さらに詳しくは、接
着性を改善するように表面処理された基板上に耐熱性高
分子あるいはその前駆体をラングミュア・ブロジェット
法(以下LB法という)により累積し、前駆体の場合に
は必要なら耐熱性高分子を生成させることによって形成
された超薄膜に関し、エレクトロニクスデバイスなど、
種々の複合物品として利用される。TECHNICAL FIELD The present invention relates to a heat-resistant polymer ultra-thin film having improved adhesion to a substrate and a method for producing the same, and more specifically, to a surface treatment for improving the adhesion. An ultra thin film formed by accumulating a heat resistant polymer or its precursor on a substrate by the Langmuir-Blodgett method (hereinafter referred to as LB method) and forming a heat resistant polymer if necessary in the case of a precursor , Electronic devices, etc.
It is used as various composite articles.
従来の技術 すでに1930年代、炭素数16〜22くらいの脂肪酸
が水面上に単分子膜をつくり、それを基質上に累積でき
ることがラングミュアとブロジェットにより見出された
が、技術的応用についての検討が行われはじめたのは最
近のことである。Conventional technology Already in the 1930s, it was found by Langmuir and Blodgett that fatty acids having about 16 to 22 carbon atoms form a monomolecular film on the surface of water, and it can be accumulated on a substrate. It has only recently started.
これまでの研究の概要については、固体物理17(12)45(1
982)Thin solid films 68 No.1(1980),ibid,99 no.1.2.
3(1983)Insoluble monolyers at liquid-gas interface
s(G.L.Gains,Interscience Publishers,New York,1966)
などにまとめられているが、従来の直鎖飽和脂肪酸のラ
ングミュア・ブロジェット膜(以下「LB膜」という)
は耐熱性、機械的強度に欠点があり実用的応用にはその
ままでは使えないという問題点がある。For an overview of previous research, see Solid State Physics 17 (12) 45 (1
982) Thin solid films 68 No.1 (1980), ibid, 99 no.1.2.
3 (1983) Insoluble monolyers at liquid-gas interface
s (GLGains, Interscience Publishers, New York, 1966)
, Etc., a conventional Langmuir-Blodgett film of straight chain saturated fatty acid (hereinafter referred to as "LB film")
Has a problem in heat resistance and mechanical strength that it cannot be used as it is for practical applications.
これらを改善するものとして不飽和脂肪酸、例えばω−
トリコセン酸、ω−ヘプタデセン酸やα−オクタデシル
アクリル酸や脂肪酸の不飽和エステル、例えばステアリ
ン酸ビニル、オクタデシルアクリレートのほか、ジアセ
チレン誘導体などの重合膜が検討されているが、耐熱性
は十分とはいえないし、電気的にもすぐれたものとはい
えない。ポリマーについてもポリ酸,ポリアルコール、
エチルアクリレート,ポリペプチドなど親水性基をもつ
高分子に成膜性のあるものが知られているが、特にLB
膜用の材料として、修飾された高分子はこれまで検討さ
れていないし、すぐれたLB膜材料と言えるものはな
い。To improve these, unsaturated fatty acids such as ω-
Tricosenoic acid, ω-heptadecenoic acid and α-octadecyl acrylic acid and unsaturated esters of fatty acids such as vinyl stearate and octadecyl acrylate, as well as polymer films of diacetylene derivatives and the like have been studied, but heat resistance is not sufficient. No, it cannot be said that it is electrically superior. Regarding polymers, polyacids, polyalcohols,
Polymers having hydrophilic groups such as ethyl acrylate and polypeptides are known to have film-forming properties.
Modified polymers have not been investigated as materials for membranes, and there is no excellent LB membrane material.
一方、耐熱性フィルムとしてポリイミドがあるが、スピ
ンコートなどの方法によってはせいぜい1000Å以上
で通常は1μm以上で1000Å以下のピンホールのな
い耐熱性薄膜を作成するは非常に困難である。On the other hand, polyimide is used as a heat-resistant film, but it is very difficult to form a heat-resistant thin film having a pinhole of 1000 Å or more and usually 1 μm or more and 1000 Å or less without pinholes by a method such as spin coating.
本発明者らは先に耐熱性、機械的強度を改善するため
に、特願昭60−157354,60−262122,
60−284145等に高分子化合物の繰返し単位中に
疎水性を付与するための置換基を導入した高分子化合物
(以下「耐熱性高分子前駆体」という)をLB法により
製膜できること、さらにはこの耐熱性高分子前駆体を閉
環させ耐熱性高分子超薄膜を形成できることを提案し
た。The present inventors have previously proposed Japanese Patent Application No. 60-157354, 60-262122, in order to improve heat resistance and mechanical strength.
A polymer compound in which a substituent for imparting hydrophobicity is introduced into a repeating unit of the polymer compound in 60-284145 or the like (hereinafter referred to as "heat resistant polymer precursor") can be formed into a film by the LB method, and further, We proposed that the heat-resistant polymer precursor can be closed to form a heat-resistant polymer ultra-thin film.
このように形成した耐熱性高分子超薄膜はその極性分子
構造により清浄な基板と良好な接着性をもっているが、
水分が耐熱性超薄膜と基板との間に侵入することによ
り、接着力が低下していく。従ってこれを利用したエレ
クトロニクスデバイス等の耐久性、信頼性を飛躍的に向
上させるためには、耐熱性高分子超薄膜の基板への良好
な接着性が必要であった。The heat-resistant ultra-thin polymer film thus formed has good adhesion to a clean substrate due to its polar molecular structure,
Adhesion is reduced as moisture penetrates between the heat-resistant ultra-thin film and the substrate. Therefore, in order to dramatically improve the durability and reliability of an electronic device or the like using this, it is necessary for the heat-resistant polymer ultrathin film to have good adhesion to the substrate.
問題点を解決するための手段 本発明者等が鋭意検討した結果、基板と耐熱性高分子超
薄膜との間にアミノ基またはエポキシ基とアルコキシシ
ラン基とを含む有機化合物の薄膜を設けることによって
耐熱性高分子超薄膜の基板との接着性が改善されること
が明らかになった。Means for Solving the Problems As a result of intensive studies by the present inventors, by providing a thin film of an organic compound containing an amino group or an epoxy group and an alkoxysilane group between the substrate and the heat-resistant polymer ultrathin film It was revealed that the adhesion of the heat-resistant polymer ultra-thin film to the substrate was improved.
本発明のアミノ基またはエポキシ基とアルコキシシラン
基とを含む有機化合物は無機物基板あるいは金属基板と
化学結合しやすいアルコキシシラン基および耐熱性高分
子あるいはその前駆体とさらにはその前駆体を閉環させ
て生成された耐熱性高分子と強く結合(ある場合には化
学結合)しやすいアミノ基またはエポキシ基とを併せも
つ有機化合物である。The organic compound containing an amino group or an epoxy group and an alkoxysilane group of the present invention is obtained by ring-closing the alkoxysilane group and the heat-resistant polymer or its precursor and the precursor thereof which are easily chemically bonded to the inorganic substrate or the metal substrate. It is an organic compound that has an amino group or an epoxy group that is easily bonded (in some cases, chemically bonded) to the generated heat-resistant polymer.
この有機化合物の層あるいは層の部分を基板と耐熱性高
分子化合物あるいはその前駆体とさらにはその前駆体を
閉環させて生成させた耐熱性高分子との間に設けること
によって基板と耐熱性高分子あるいはその前駆体との間
の接着性を改善しようとするものである。By providing this organic compound layer or layer portion between the substrate and the heat-resistant polymer compound or its precursor, and further the heat-resistant polymer produced by ring-closing the precursor, the substrate and the high heat resistance can be improved. It seeks to improve the adhesion between molecules or their precursors.
詳細な議論 本発明において使用されるアミノ基またはエポキシ基の
一方または両方とアルコキシシラン基とを含む有機化合
物は次の一般式で表される。DETAILED DISCUSSION The organic compound containing one or both of an amino group or an epoxy group and an alkoxysilane group used in the present invention is represented by the following general formula.
RnSiX3-n n=0,1,2 Rは珪素原子に結合している1価の基で、本発明の場合
には、Rがアミノ基またはエポキシ基を含むように選ば
れる。Xは珪素原子に結合している加水分解性の1価の
基を表し、塩素,アルコキシ基およびアセトキシ基等が
一般に用いられる。このような有機化合物を水溶液等と
して基板に対して使用すると、下記の反応式のように加
水分解をうけてシラノールが生成する。RnSiX 3 -n n = 0,1,2 R is a monovalent group bonded to a silicon atom, and in the case of the present invention, R is selected so as to include an amino group or an epoxy group. X represents a hydrolyzable monovalent group bonded to a silicon atom, and chlorine, an alkoxy group, an acetoxy group and the like are generally used. When such an organic compound is used as an aqueous solution on a substrate, it is hydrolyzed as shown in the following reaction formula to produce silanol.
RnSiX3-n+H2O→RnSi(OH)3-n+(3-n)HX このように生成したシラノールが基板との強固な接着を
もたらす。もし基板が酸化物表面をもっているときに
は、シラノールと反応して共有結合ができ強固な接着が
期待できる。RnSiX 3 -n + H 2 O → RnSi (OH) 3 -n + (3-n) HX The silanol thus produced brings about strong adhesion to the substrate. If the substrate has an oxide surface, it can react with silanol to form a covalent bond, and strong adhesion can be expected.
一方、Rに含まれるアミノ基またはエポキシ基は本発明
の両性高分子化合物あるいはこれを閉環させて生成させ
た耐熱性高分子と反応もしくは強い接着を形成すること
ができる。したがってこのような有機化合物の層あるい
は層部分を基板と両性高分子化合物あるいは耐熱性高分
子との間に設けることによって両者の接着性を改善する
ことができる。On the other hand, the amino group or epoxy group contained in R can react or form strong adhesion with the amphoteric polymer compound of the present invention or the heat-resistant polymer produced by ring closure of the compound. Therefore, by providing such a layer or layer portion of the organic compound between the substrate and the amphoteric polymer compound or the heat resistant polymer, the adhesiveness between the two can be improved.
具体的な例を挙げれば、 β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメト
キシシラン(UCC商品名A-186) γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン(同じく
A-187) γ−アミノプロピルトリエトキシシラン(同じくA-110
0) N−β−(アミノエチル)−γ−アミノプロピル−トリ
メトキシシラン(同じくA-1120) γ−ウレイドプロピルトリエトキシシラン(同じくA-11
60) などであり、特に限定はないが、シランカップリング剤
として市販されているものを好適に使用することができ
る。Specific examples include β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane (UCC trade name A-186) γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane (also
A-187) γ-aminopropyltriethoxysilane (also A-110
0) N-β- (aminoethyl) -γ-aminopropyl-trimethoxysilane (also A-1120) γ-ureidopropyltriethoxysilane (also A-11
60) and the like, but there is no particular limitation, and commercially available silane coupling agents can be preferably used.
先に述べたアミノ基、エポキシ基を含むものが特に好ま
しいが、Rにその他の官能基をもつシランカップリング
剤もある程度の改善効果が期待できる。The above-mentioned compounds containing an amino group and an epoxy group are particularly preferable, but a silane coupling agent having another functional group in R can also be expected to have some improvement effect.
この有機化合物は、一般に行われるように水溶液等とし
て基板表面に簡便には塗布または浸漬するなどの手段で
処理され、処理方法についてはその層あるいは層部分を
つくればよく特に限定はない。勿論水を含むアルコール
でもよい。表面に付着処理される量は理想的には単分子
層でよく、有機化合物の濃度は5wt%以下,好ましくは
1wt%以下である。処理後、余分の有機化合物は適当な
溶剤で除かれるのが望ましい実施態様である。This organic compound is generally treated as an aqueous solution or the like by a means such as coating or dipping on the substrate surface, and the treatment method is not particularly limited as long as the layer or layer portion is formed. Of course, alcohol containing water may be used. The amount applied to the surface may ideally be a monomolecular layer, and the concentration of the organic compound is 5 wt% or less, preferably 1 wt% or less. After treatment, it is a preferred embodiment that excess organic compounds be removed with a suitable solvent.
次に以上説明された有機化合物あるいはその溶液で塗布
または浸漬され表面処理された基板上にLB法で累積さ
れる耐熱性高分子あるいはその前駆体とLB法について
説明する。Next, the heat-resistant polymer or its precursor accumulated by the LB method on the substrate coated or dipped with the organic compound or its solution and surface-treated as described above, and the LB method will be described.
LB法で累積可能な耐熱性高分子あるいはその前駆体は
例えば特願昭60−157354,60−26212
2,60−284145等に示されている。The heat-resistant polymer or its precursor that can be accumulated by the LB method is described in, for example, Japanese Patent Application No. 60-157354, 60-26212.
2, 60-284145 and the like.
少なくとも2個の炭素原子を有する少なくとも2価の第
1の有機基R1と、少なくとも2個の炭素原子を有する少
なくとも2価の第2の有機基R2とが2価の結合基によっ
て交互に連結されている線状の繰返し単位を有し、かつ
共有結合によって同じ繰返し単位へ結合した、置換基を
含むこともある炭素数10〜30の単価水素含有基R3を
少なくとも1つ,好ましくは2つ含んでいる高分子化合
物である。At least a divalent first organic group R 1 having at least 2 carbon atoms and at least a divalent second organic group R 2 having at least 2 carbon atoms are alternated by a divalent linking group. At least one, preferably at least one monovalent hydrogen-containing group R 3 having 10 to 30 carbon atoms, which has a linear repeating unit that is linked and is bonded to the same repeating unit by a covalent bond, and may have a substituent. It is a polymer compound containing two.
また、先の耐熱性高分子化合物は共有結合により疎水性
を付与するための置換基が導入されているが、これをイ
オン結合で導入した高分子化合物についてもLB法によ
り製膜できることがわかっている。すなわち、イオン結
合で疎水性を付与された高分子化合物とは、少なくとも
2個の炭素元素を有する少なくとも3価の第1の有機基
R1と、少なくとも2個の炭素原子を有する少なくとも2
価の第2の有機基R2とが2価の結合基によって交互に連
結されている線状の繰返し単位を有し、かつイオン結合
によって同じ繰返し単位へ結合した、置換基を含むこと
もある炭素数10〜30の単価水素含有基R3を少なくと
も1つ含んでいる高分子化合物である。Further, the above-mentioned heat-resistant polymer compound has introduced a substituent for imparting hydrophobicity through a covalent bond, but it has been found that a polymer compound introduced by an ionic bond can also be formed into a film by the LB method. There is. That is, the polymer compound imparted with ionic bond hydrophobicity means at least a trivalent first organic group having at least two carbon elements.
R 1 and at least 2 having at least 2 carbon atoms
A valent second organic group R 2 has a linear repeating unit alternately linked by a divalent linking group, and may contain a substituent bound to the same repeating unit by an ionic bond. It is a polymer compound containing at least one monovalent hydrogen-containing group R 3 having 10 to 30 carbon atoms.
さらには特開昭61−108633に示されているよう
なLB法を利用して作成されたポリイミン等にも適用可
能である。共有結合により疎水性基を導入した耐熱性高
分子の実用的な具体例を挙げると以下のとおりである。Further, it can be applied to polyimine prepared by utilizing the LB method as disclosed in JP-A-61-1108633. Practical examples of the heat-resistant polymer having a hydrophobic group introduced by covalent bonding are as follows.
式中、→は異性を表す。 In the formula, → represents isomerism.
例えば、下式(3)で説明すれば、 および を表す。For example, using the following equation (3), and Represents
本発明は(3-1)(3-2)が単独である場合、(3-1)(3
-2)が共存する場合を含んでいる。In the present invention, when (3-1) (3-2) is alone, (3-1) (3
-2) includes the case where they coexist.
(1)〜(20)で、R3は炭素数10〜30,好ましくは
16〜22の炭化水素含有基であるが、脂肪族、環状脂
肪族と脂肪族、芳香族と脂肪族の結合、それらの置換体
から選ばれた1価の基は好ましい具体例であり、列挙す
れば ここで+m=n−5、n−10〜30好ましくは16
〜22等であり、直鎖系脂肪族炭化水素基が特に好まし
い例である。In (1) to (20), R 3 is a hydrocarbon-containing group having 10 to 30 carbon atoms, preferably 16 to 22 carbon atoms, and an aliphatic bond, a cycloaliphatic bond to an aliphatic bond, an aromatic bond to an aliphatic bond, A monovalent group selected from those substituents is a preferred specific example, and if enumerated, Here, + m = n-5, n-10 to 30, preferably 16
To 22 and the like, and a linear aliphatic hydrocarbon group is a particularly preferred example.
これらに対する置換基としてはハロゲン原子,ニトロ
基、アミノ基、シアノ基、メトキシ基、アセトキシ基等
があるが必須ではない。しかしフッ素原子は水素原子よ
り疎水性を向上させるので場合により使われることが望
ましい。Substituents for these include a halogen atom, a nitro group, an amino group, a cyano group, a methoxy group and an acetoxy group, but are not essential. However, since the fluorine atom improves the hydrophobicity over the hydrogen atom, it is desirable to use it in some cases.
即ち、フッ素を含有させることによってアルキル鎖の長
さを短くできる。例えばC8F17(CH2)k−においてk=2
で充分であり、炭素数10が製膜が可能なようにでき
る。That is, by containing fluorine, the length of the alkyl chain can be shortened. For example, in C 8 F 17 (CH 2 ) k−, k = 2
Is sufficient, and it is possible to form a film having 10 carbon atoms.
本発明の耐熱性高分子化合物の分子量については特に限
定はない。しかし分子量が低くても、本発明の製膜方法
によって製膜は可能であるが、良好な耐熱性、機械的強
度、耐薬品性を得ることはできない。また一方分子量が
大きすぎると、粘度が高すぎて製膜がうまくいかない。The molecular weight of the heat resistant polymer compound of the present invention is not particularly limited. However, even if the molecular weight is low, film formation is possible by the film formation method of the present invention, but good heat resistance, mechanical strength, and chemical resistance cannot be obtained. On the other hand, if the molecular weight is too large, the viscosity will be too high and film formation will not be successful.
従って、数平均分子量が2,000〜300,000程度で、好まし
くは10,000〜150,000程度である。Therefore, the number average molecular weight is about 2,000 to 300,000, preferably about 10,000 to 150,000.
また、イオン結合により疎水性基を導入した高分子化合
物の実用的な具体例をあげると以下のとおりである。Further, practical practical examples of the polymer compound having a hydrophobic group introduced by ionic bond are as follows.
式中、→は異性を表す。 In the formula, → represents isomerism.
例えば、下式(22)で説明すれば、 および を表す。For example, if the following equation (22) is used, and Represents
本発明は(22-1)(22-2)が単独である場合、(22-1)
(22-2)が共存する場合を含んでいる。(21)〜(34)の
R3,R4,R4の少なくとも一つは(1)〜(20)のR3の定義
とその例に同じであり他は置換基を有することもある炭
素数1〜30の炭化水素含有基あるいは水素原子であ
り、好ましくは炭素数1〜4の炭化水素含有基あるいは
水素原子である。In the present invention, when (22-1) (22-2) is alone, (22-1)
This includes the case where (22-2) coexists. (21) ~ (34)
At least one of R 3 , R 4 , and R 4 is the same as the definition and examples of R 3 in (1) to (20), and the other may have a substituent containing a hydrocarbon having 1 to 30 carbon atoms A group or a hydrogen atom, preferably a hydrocarbon-containing group having 1 to 4 carbon atoms or a hydrogen atom.
次に本発明に用いるLB法について説明する。Next, the LB method used in the present invention will be described.
LB法は膜を形成する物質を水面上に展開し、水面上に
展開された物質を一定の表面圧で圧縮して単分子膜を形
成し、その膜を基板上に移しとる方法のほか水平付着
法、回転円筒法などの方法(新実験化学講座,第18
巻、界面とコロイド、498−508)などがあげら
れ、通常行われている方法であれば特に限定されること
なく使用することができる。In the LB method, the substance forming the film is spread on the water surface, the substance spread on the water surface is compressed with a constant surface pressure to form a monomolecular film, and the film is transferred onto the substrate, as well as horizontally. Methods such as adhesion method and rotating cylinder method (New Experimental Chemistry Course, 18th
Rolls, interfaces and colloids, 498-508) and the like, and any commonly used method can be used without particular limitation.
LB法は配向した、しかも厚みを数十Å単位で制御でき
る方法で200Å以下、さらには1000Å以下、数百
Å、数十Åの薄膜を形成するのにすぐれた方法であり、
本発明の基板上の薄膜もこの特徴をもつ。しかし10,
000Åまたはそれ以上の厚みの膜もこの方法で製膜し
得る。The LB method is an oriented method and is a method capable of controlling the thickness in units of several tens of Å, and is an excellent method for forming a thin film of 200 Å or less, further 1000 Å or less, hundreds of Å, tens of Å,
The thin film on the substrate of the present invention also has this feature. But 10,
Membranes with a thickness of 000Å or more can also be produced by this method.
本発明者らは、修飾された高分子化合物が単独で製膜で
きることを見出し提案(特願昭60−202191)し
たが、これら高分子化合物と公知のLB膜化合物と混合
することによって製膜性能が向上し、本発明の好ましい
実施態様である。The present inventors have found and proposed that the modified polymer compound can be used alone to form a film (Japanese Patent Application No. 60-202191). However, by mixing these polymer compound and a known LB film compound, the film forming performance is improved. Is a preferred embodiment of the present invention.
公知のLB膜化合物とは、先に引用された文献などにも
記載され、当業界で公知の化合物である。特に炭素数が
16から22くらいの炭化水素基と親水基とからなる下
式の化合物が好ましい。The known LB film compound is a compound described in the documents cited above and known in the art. In particular, a compound of the following formula, which is composed of a hydrocarbon group having 16 to 22 carbon atoms and a hydrophilic group, is preferable.
CH3(CH2)n-1Z CH2=CH(CH2)n-2Z CH3(CH2)C≡C−≡C(CH2)mZ ここで、n=16〜22,+m=n−5,Z=OH,NH
2,COOH,CONH2,COOR′(R′は低級脂肪族炭化水素
基)である。CH 3 (CH 2 ) n -1 Z CH 2 = CH (CH 2 ) n -2 Z CH 3 (CH 2 ) C≡C−≡C (CH 2 ) mZ where n = 16 to 22, + m = n-5, Z = OH, NH
2 , COOH, CONH 2 , COOR '(R' is a lower aliphatic hydrocarbon group).
製膜性の改善のためにはCH3(CH2)n-1Zの式で表される
ものがコスト面ですぐれているが、不飽和結合を含むも
のは光や放射線などを照射することによって重合させる
ことができる特徴を有する。In order to improve the film-forming property, the one represented by the formula of CH 3 (CH 2 ) n -1 Z is superior in terms of cost, but those containing unsaturated bonds should be irradiated with light or radiation. It has a feature that can be polymerized by.
これらから選ばれた少なくとも1つの化合物と高分子化
合物との混合比率については特に限定はない。The mixing ratio of at least one compound selected from these and the polymer compound is not particularly limited.
LB法により膜を形成する成分を水面上に展開する際、
一般には溶媒として水には溶けないで気相中に蒸発して
しまうベンゼン,クロロホルムなどが使用されるが、本
発明の高分子化合物の場合は、溶解度をあげるために有
機極性溶剤を併用することが望ましい。好ましい有機極
性溶剤は、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチル
アセトアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、N,N−ジエ
チルアセトアミド、N,N−ジメチルメトキシアセトアミ
ド、ジメチルスルホキシド、N-メチル−2−ピロリド
ン、ピリジン、ジメチルスルホン、ヘキサメチルホスホ
ルアミド、テトラメチレンスルホン、ジメチルテトラメ
チレンスルホンなどである。When the components forming the film by the LB method are spread on the water surface,
In general, benzene, chloroform, etc., which do not dissolve in water and evaporate in the gas phase, are used as the solvent, but in the case of the polymer compound of the present invention, an organic polar solvent should be used together in order to increase the solubility. Is desirable. Preferred organic polar solvents are N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, N, N-diethylformamide, N, N-diethylacetamide, N, N-dimethylmethoxyacetamide, dimethylsulfoxide, N-methyl-2. -Pyrrolidone, pyridine, dimethyl sulfone, hexamethylphosphoramide, tetramethylene sulfone, dimethyl tetramethylene sulfone and the like.
従って、高分子化合物と公知のLB膜化合物を展開する
際にも、ベンゼン,クロロホルムなどの溶媒と有機極性
溶剤との混合溶剤を使用することが望ましい。Therefore, it is desirable to use a mixed solvent of a solvent such as benzene and chloroform and an organic polar solvent when developing the polymer compound and the known LB film compound.
ベンゼン,クロロホルムなどと有機極性溶剤を併用した
ときには、膜を展開時ベンゼン、クロロホルム等は気相
中に蒸発し、有機極性溶剤は大量の水に溶解すると考え
られる。When benzene, chloroform, etc. are used in combination with an organic polar solvent, it is considered that benzene, chloroform, etc. evaporate in the gas phase when the film is developed, and the organic polar solvent dissolves in a large amount of water.
本発明に使用される基板については本発明の薄膜を何に
応用するかということによって限定されるが、その他大
きく限定されることはなく、ガラス,アルミナ,石英な
どのような一般的無機の基板のほか、金属やSi,GaAs,
ZnSのようなIV族,III−V,II−VI族等の半導体、PbTi
O3,BaTiO3,LiNbO3,LiTaO3のような強誘電体等や磁性
体薄膜を含むものも基板として用いることができる。The substrate used in the present invention is limited depending on what the thin film of the present invention is applied to, but is not particularly limited, and is a general inorganic substrate such as glass, alumina, and quartz. In addition to metal, Si, GaAs,
Group IV, III-V, II-VI semiconductors such as ZnS, PbTi
It is also possible to use a substrate including a ferroelectric substance such as O 3 , BaTiO 3 , LiNbO 3 , and LiTaO 3 or a magnetic thin film as a substrate.
本発明の表面処理をした基板を使用すると表面処理をし
ない基板を使用したときに比べて安定した良好な極薄膜
の累積ができることも明らかになった。It was also clarified that the use of the surface-treated substrate of the present invention enables stable and excellent accumulation of ultrathin films as compared with the case of using the surface-untreated substrate.
また、耐熱性高分子化合物をLB法で表面処理基板上に
累積したのち、さらにあるものは、この薄膜を部分的に
あるいは完全に閉環させることによってさらに耐熱性の
向上した薄膜を基板上に形成できる。Further, after a heat-resistant polymer compound is accumulated on a surface-treated substrate by the LB method, some further form a thin film having further improved heat resistance on the substrate by partially or completely ring-closing this thin film. it can.
(1)〜(34)の例のうち、ヘテロ原子を含む5員環ま
たは6員環へ部分的にあるいは完全に閉わさせることが
できる例であり、完全閉環後の構造は次のようになる。Among the examples of (1) to (34), these are examples that can be partially or completely closed to a 5-membered ring or 6-membered ring containing a heteroatom, and the structure after complete ring closure is as follows. Become.
閉環の方法については特に限定されないが、例えば先の
(5)式の具体例であるイミド化の場合には200〜4
00℃近辺の温度に加熱することによって(5)式の高
分子化合物 の反応が起こって閉環が達成される。このとき、疎水化
のために導入した基がアルコールとして脱離するが、こ
の脱離したアルコールは200〜400℃付近の温度で
必要ならガスの流れの下に置くか、真空下に置くことに
よって飛散させることができるので非常に耐熱性のよい
ポリイミド薄膜を得ることができる。 The method of ring closure is not particularly limited, but in the case of imidization which is a specific example of the above formula (5), it is 200 to 4
By heating to a temperature in the vicinity of 00 ° C., the polymer compound of formula (5) And the ring closure is achieved. At this time, the group introduced for hydrophobization is eliminated as an alcohol, and the eliminated alcohol is placed under a gas flow or a vacuum if necessary at a temperature near 200 to 400 ° C. Since it can be scattered, a polyimide thin film having very good heat resistance can be obtained.
このように閉環によって耐熱性の良い薄膜を得る場合に
は、混合する公知のLB膜化合物として閉環反応条件
下、飛散させることができるものを先に挙げた例の中か
ら選ぶことが望ましい。When a thin film having good heat resistance is obtained by ring closure in this way, it is desirable to select, as the known LB film compound to be mixed, from the examples given above that can be scattered under the ring closure reaction conditions.
勿論、一般的なイミド化の際に使用される無水酢酸やピ
リジン、イソキノリンのような化学キュア剤、あるいは
それと熱を併用してもよい。Of course, acetic anhydride, pyridine, a chemical curing agent such as isoquinoline, which is used in general imidization, or it may be used in combination with heat.
以上述べたように本発明の高分子化合物をLB法により
表面処理した基板上に累積し、必要ならそれに続く閉環
反応とによって作られた基板上の薄膜は耐熱性、機械的
特性、耐薬品性も良好で、すぐれた電気絶縁性をもち、
そのうえ、10000Å以下という非常に薄い膜であ
り、5,000Å,2000Å,望むなら10〜100
0Åにもし得るという特徴を持っている。As described above, the thin film formed on the substrate by accumulating the polymer compound of the present invention on the substrate surface-treated by the LB method and, if necessary, subsequent ring closure reaction has heat resistance, mechanical properties and chemical resistance. Also has good electrical insulation properties,
Moreover, it is a very thin film of 10,000 Å or less, 5,000 Å, 2000 Å, 10-100 if desired.
It has the characteristic that it can be 0Å.
特に1000Å以下、数百Å,50〜100Å程度でも
良好な物性,中でも1×106V/cm以上の絶縁破壊強
度を実現できるので種々のデバイスの中に使用すること
ができる。中でも50Å程度から数百Å程度の薄膜で
は、特異な膜厚の効果、例えばトンネル効果が期待さ
れ、それを利用した多くの興味ある応用が可能となる。In particular, it can be used in various devices because it can achieve good physical properties even at 1000 Å or less, several hundred Å, and 50 to 100 Å, and in particular, dielectric breakdown strength of 1 × 10 6 V / cm or more. In particular, a thin film having a thickness of about 50 Å to several hundred Å is expected to have an effect of a peculiar film thickness, for example, a tunnel effect, and many interesting applications using it are possible.
次にこれら薄膜の用途について述べる。Next, applications of these thin films will be described.
本発明の薄膜は、耐熱性、耐薬品性、機械的特性がすぐ
れ、非常に薄い膜であるという特徴を生かしてエレクト
ロニクス分野、エネルギー変換や物質分離など広範な分
野で使うことができる。INDUSTRIAL APPLICABILITY The thin film of the present invention has excellent heat resistance, chemical resistance, and mechanical properties, and can be used in a wide range of fields such as the electronics field, energy conversion, and substance separation by taking advantage of the fact that it is a very thin film.
導電性、光導電性、光学特性、絶縁性、熱特性や化学反
応性を生かしたエレクトロニクス分野でのデバイスにつ
いてまず電気・電子デバイスについて述べる。Regarding the devices in the field of electronics that take advantage of conductivity, photoconductivity, optical properties, insulation properties, thermal properties, and chemical reactivity, we first describe electrical and electronic devices.
第1に重要な本発明の薄膜を含んだ電気・電子デバイス
は金属/絶縁膜/半導体構造(以下MISという)のデ
バイスであり、平面エレクトロニクスデバイスや集積回
路の基本となる構造である。The first important electric / electronic device including the thin film of the present invention is a device having a metal / insulating film / semiconductor structure (hereinafter referred to as MIS), which is a basic structure of a planar electronic device or an integrated circuit.
第1〜7図が代表的模式図である。第1図は半導体基板
に絶縁膜として本発明の薄膜を形成させその上に金属電
極を設けたものである。Si,GeなどのIV族半導体、GaA
s,GaPなどのIII−V族半導体、CdTe,CdS,ZnS,ZnS
e,CdHgTeなどのII−VI族半導体を使用することによっ
て例えば太陽電池のような光電変換素子、LED、E
L、フォトダイオードのような発光素子、受光素子、光
検出素子その他ガスセンサー、温度センサーのような各
種トランスジユーサーを構成することができる。勿論本
発明の半導体としては単結晶、多結晶あるいはアモルフ
ァスのいずれが選ばれてもよい。1 to 7 are typical schematic diagrams. FIG. 1 shows a semiconductor substrate on which a thin film of the present invention is formed as an insulating film and a metal electrode is provided thereon. Group IV semiconductors such as Si and Ge, GaA
III-V semiconductors such as s and GaP, CdTe, CdS, ZnS, ZnS
By using II-VI group semiconductors such as e and CdHgTe, photoelectric conversion elements such as solar cells, LEDs, and E
L, a light emitting element such as a photodiode, a light receiving element, a light detecting element, and other various sensors such as a gas sensor and a temperature sensor can be configured. Of course, the semiconductor of the present invention may be selected from single crystal, polycrystal or amorphous.
第2図は第1図と同等であるが1つの基板上に2個以上
の素子を作る場合にこのような電極が付けられる。この
ような構成によってCCD(Chargecoupled device)の
ような電荷移動型デバイスが作られ興味ある応用であ
る。FIG. 2 is the same as FIG. 1, but such an electrode is attached when two or more devices are formed on one substrate. With such a structure, a charge transfer device such as a CCD (Charge coupled device) is manufactured, which is an interesting application.
次に第3図は電極(透明電極であってもよく、勿論パタ
ーン化されていてもよい。)をもつ絶縁基板上に、半導
体が多くの場合は半導体薄膜が形成されその上に本発明
の薄膜電極が設けられた構造になっている。Next, FIG. 3 shows that, in many cases, a semiconductor thin film is formed on an insulating substrate having an electrode (which may be a transparent electrode or may be patterned), and a semiconductor thin film of the present invention is formed thereon. The structure is such that a thin film electrode is provided.
第4図は薄膜が絶縁基板側電極と半導体薄膜との間に設
けられてる点に第3図と違いがある。半導体薄膜は分子
線エピタキシ(MBE)有機金属気相成長法(MOCV
D)原子層エピタキシ(ALE)蒸着法、スパッタ法、
スプレーパイロリシス法、塗布法など通常半導体薄膜を
作製するのに使われる方法で作られ限定されない。FIG. 4 is different from FIG. 3 in that a thin film is provided between the insulating substrate side electrode and the semiconductor thin film. The semiconductor thin film is formed by molecular beam epitaxy (MBE) metal organic chemical vapor deposition (MOCV).
D) Atomic layer epitaxy (ALE) vapor deposition method, sputtering method,
The method is not limited and may be a method that is usually used for forming a semiconductor thin film, such as a spray pyrolysis method or a coating method.
半導体としては先に第1,2図で挙げたものを同様に使
うことができ、作られるデバイスも同様である。As the semiconductor, those mentioned in FIGS. 1 and 2 can be used in the same manner, and the devices produced are also the same.
第4図の構成では本発明の薄膜の上に半導体薄膜が形成
されるので形成時の熱が薄膜の耐熱性を越えると望まし
くないが、閉環後の薄膜ではアモルファスシリコン等は
十分累積できるし、その他の半導体も低温形成技術が進
んでいるので今後、多くの半導体が使えるようになるで
あろう。In the structure shown in FIG. 4, since a semiconductor thin film is formed on the thin film of the present invention, it is not desirable that the heat during formation exceeds the heat resistance of the thin film, but amorphous silicon etc. can sufficiently accumulate in the thin film after ring closure. Since low-temperature forming technology for other semiconductors is advancing, many semiconductors will be usable in the future.
MIS構造デバイスのもっとも重要なデバイスの構造は
第5,6図で代表的に表されるゲート電極でチャンネル
電流を制御して駆動するタイプのいわゆる電界効果トラ
ンジスター(FET)構造をもつものである。The most important device structure of the MIS structure device is a so-called field effect transistor (FET) structure of a type in which a channel current is controlled by a gate electrode, which is represented by FIGS.
第5図は半導体基板を使っているのに対し、第6図では
絶縁基板上に形成された半導体、多くの場合半導体薄膜
を使っている違いがある。FIG. 5 uses a semiconductor substrate, whereas FIG. 6 uses a semiconductor formed on an insulating substrate, in many cases, a semiconductor thin film.
MISFETはデバイスの基本型の一つであり、これに
より種々のデバイスを作ることができる。大面積基板上
に作れば液晶ディスプレイを駆動させる薄膜トランジス
ターや集積度を上げれば集積回路を構成できる。MISFET is one of the basic types of devices, which allows various devices to be made. If it is formed on a large-area substrate, a thin film transistor that drives a liquid crystal display can be constructed.
他の興味ある応用は第5,6図でゲート電極をとりはず
した構造であり、絶縁膜あるいはそれと併用してイオ
ン、ガスや活性物質に感応する膜をつけることにより、
イオン感応FET(ISFET)やガス感応EET(Ch
em FET)、免疫FET(IMFET)、酵素FET
(ENFET)を構成できる。Another interesting application is the structure in which the gate electrode is removed in FIGS. 5 and 6, and by attaching an insulating film or a film sensitive to ions, gases and active substances in combination with it,
Ion-sensitive FET (ISFET) and gas-sensitive EET (Ch
em FET), immune FET (IMFET), enzyme FET
(ENFET) can be configured.
動作原理はイオンやガス活性物質がゲート絶縁膜表面と
作用することによる電界効果によって説明できるが、本
発明の薄膜を用いる場合には、その上に種々の有機物で
さらに修飾する際に従来の無機物にくらべて有利とな
る。特に長鎖アルキル基の残っている薄膜ではそのアル
キル基(疎水性)部分とタンパク質の疎水性部分との相
互作用を利用できる。The operating principle can be explained by the electric field effect caused by the action of ions or gas active substances on the surface of the gate insulating film. However, when the thin film of the present invention is used, when it is further modified with various organic substances, conventional inorganic substances are used. It is more advantageous than In particular, in a thin film in which a long-chain alkyl group remains, the interaction between the alkyl group (hydrophobic) portion and the hydrophobic portion of the protein can be utilized.
第7図はISFETの例で石英基板上に半導体膜が図の
ように形成され、その上に絶縁膜とイオン感応膜を設け
た構造となっている。この絶縁膜として本発明の薄膜を
用いることができる。FIG. 7 shows an example of an ISFET, which has a structure in which a semiconductor film is formed on a quartz substrate as shown, and an insulating film and an ion sensitive film are provided thereon. The thin film of the present invention can be used as this insulating film.
MIS構造のデバイスを構成するときの半導体として通
常、良好な絶縁膜を酸化などの方法で形成するのが難し
いIII−V,II−VI族などの化合物半導体を使う場合が
本発明の好ましい実施態様であり、GaAsの場合にはFE
Tを形成する場合、上記の問題点からMetal-Semiconduc
torFET(MESFET)の形で実用化されている
が、MIS構造にすることによって性能の向上が期待さ
れる。A preferred embodiment of the present invention is to use a compound semiconductor such as III-V or II-VI group, which is difficult to form a good insulating film by a method such as oxidation, as a semiconductor when forming a device having a MIS structure. And FE for GaAs
When forming T, Metal-Semiconduc
Although it has been put to practical use in the form of torFET (MESFET), improvement in performance is expected by adopting a MIS structure.
GaAsを使ってMIS集積回路を構成すると駆動電圧を低
げる効果のほか、GaAs半導体中でのキャリヤーモビリテ
ィーの大きさを利用した高速で動作する集積回路(HE
MT)を非常に簡単な方法で作ることができる。In addition to the effect of lowering the drive voltage when a MIS integrated circuit is constructed using GaAs, it also operates at high speed by utilizing the magnitude of carrier mobility in GaAs semiconductors (HE
MT) can be made in a very simple way.
第2に重要な本発明の薄膜を含んだ電気・電子デバイス
は金属/絶縁膜/金属(以下MIMという)構造のデバ
イスである。The second important electric / electronic device including the thin film of the present invention is a device having a metal / insulating film / metal (hereinafter referred to as MIM) structure.
第8〜10図が模式図である。絶縁基板あるいは半導体
基板を用いその上に金属、絶縁膜、金属の順に形成され
る。8 to 10 are schematic views. An insulating substrate or a semiconductor substrate is used, and a metal, an insulating film, and a metal are formed thereon in this order.
第8図はキャパシターの構造であり、キャパシタンスの
湿度による変化を追跡すれば湿度センサーとなる。また
この構造によってMIM構造のトランジスターを作るこ
ともできる。Fig. 8 shows the structure of the capacitor, which becomes a humidity sensor by tracking the change of the capacitance with humidity. Also, with this structure, a transistor having an MIM structure can be manufactured.
第9図のようにすれば、熱電子トランジスターを構成で
きる。A thermionic transistor can be constructed as shown in FIG.
第10図のように半導体あるいは半導体デバイス上にキ
ャパシターを作ることによってVLSIのメモリセルの
キャパシターとして使うことができる。By forming a capacitor on a semiconductor or a semiconductor device as shown in FIG. 10, it can be used as a capacitor of a VLSI memory cell.
第10図の構成で熱電子を半導体中に注入するようなタ
イプのデバイスも作製できる。さらに金属のかわりにN
bのような起電導体を使うことにより、ジョセフソンジ
ャンクション(JJ)デバイスを作ることも可能であ
る。A device of the type shown in FIG. 10 in which thermoelectrons are injected into a semiconductor can also be manufactured. N instead of metal
It is also possible to make a Josephson Junction (JJ) device by using an electromotive conductor such as b.
第3の薄膜を含んだ電気・電子デバイスは、絶縁膜/金
属構造(IM構造)のデバイスであり、第11図で模式
的に表される。もっとも単純なもので、金属の上に絶縁
膜として本発明の薄膜を形成することにより得られる。The electric / electronic device including the third thin film is a device having an insulating film / metal structure (IM structure), and is schematically shown in FIG. It is the simplest and can be obtained by forming the thin film of the present invention as an insulating film on a metal.
一つの応用は液晶配向膜であり、パターン化した電極、
通常はITOなどの透明電極の上に本発明の薄膜を形成
することによって得られる。One application is liquid crystal alignment films, patterned electrodes,
Usually, it is obtained by forming the thin film of the present invention on a transparent electrode such as ITO.
次の応用は図12,13の独立した二つの電極上に本発
明の薄膜を形成することにより湿度、ガスなどのセンサ
ーとして使うことができる。The next application can be used as a sensor for humidity, gas, etc. by forming the thin film of the present invention on two independent electrodes of FIGS.
以上本発明の薄膜を含んだ電気・電子デバイスについて
述べたが、他の応用例は前記に挙げた文献の中に特にP.
S.Vincett,G.G.Robertsの総説(Thin Solid Films 68135
〜171(1980)に求めることができる。Although the electric / electronic device including the thin film of the present invention has been described above, other application examples are described in particular in P.
Review of S. Vincett, GG Roberts (Thin Solid Films 68 135
~ 171 (1980).
その他の半導体デバイス、化合物半導体デバイスについ
てはE.S.Yang,Fundamentals of Semiconductor Devices
MaGraw-Hill,1978,今井ら編著、化合物半導体デバイス
〔I〕〔II〕工業調査会(1984)の成書を参考にすること
ができる。For other semiconductor devices and compound semiconductor devices, ES Yang, Fundamentals of Semiconductor Devices
Reference may be made to the textbook of Compound Semiconductor Device [I] [II] Industrial Research Committee (1984), edited by MaGraw-Hill, 1978, edited by Imai et al.
次に電気・電子デバイス以外のデバイスについて述べ
る。Next, devices other than electric / electronic devices will be described.
色素を含む薄膜や、TeOxなど無機薄膜にビット形成や相
変化をさせることによりその変化を0.1で光学的に読み
出す記録方式の採用が進んでいる。本発明の薄膜は光,
熱特に通常光学記録に使われるレーザー光によって反応
を起こし、薄膜の厚みの変化が生じビットが形成される
こと、またこの反応によって薄膜の屈折率も変化するの
で、これを利用した光学記録が可能であることが示唆さ
れる。A recording method is being adopted in which a thin film containing a dye or an inorganic thin film such as TeOx is optically read out at 0.1 by forming a bit or changing the phase. The thin film of the present invention is
A heat, especially a laser beam that is usually used for optical recording, causes a reaction to change the thickness of the thin film to form a bit, and the reaction also changes the refractive index of the thin film, so optical recording using this is possible. Is suggested.
本発明の薄膜は熱に対して反応性があることは、これま
での説明で明らかであるが、この反応性を利用して熱的
に閉環した部分としない部分をつくり、しない部分を溶
剤で除去することによってパターン化することができ
る。残った部分は、耐熱性、機械的強度、耐薬品性にす
ぐれているのでレジスト膜として使用することができ
る。また本発明の実施態様の一つであるようにアルキル
鎖部分に二重結合や、三重結合を含むものを使うことに
よって光に対しても反応性をもつようにすることが可能
である。It is clear from the above description that the thin film of the present invention is reactive to heat. However, by utilizing this reactivity, a thermally closed ring portion and a non-closed portion are formed, and the non-closed portion is formed by a solvent. It can be patterned by removing. The remaining portion has excellent heat resistance, mechanical strength, and chemical resistance, and thus can be used as a resist film. Further, as in one of the embodiments of the present invention, it is possible to make it reactive to light by using an alkyl chain having a double bond or a triple bond.
そのほか、ウエイブガイド用のクラッド材あるいは光学
回路成分としても応用が考えられる。In addition, it can be applied as a clad material for a wave guide or an optical circuit component.
レジストで述べた方法によってパターン化し、光学回路
を形成することもできる。本発明の薄膜の場合、厚みの
正確なコントロールと化合物を変えることによって屈折
率の調整ができる。このことは光学回路成分としての重
要な要件である。It is also possible to pattern by the method described for the resist to form an optical circuit. In the case of the thin film of the present invention, the refractive index can be adjusted by controlling the thickness accurately and changing the compound. This is an important requirement as an optical circuit component.
あらゆる分野での保護用コーティング材料としても好適
であろうし、一般的にLB膜の分野で使われる機能性の
LB材料と脂肪酸の混合膜,積層膜の手法を、本発明の
混合物を脂肪酸のかわりに使うことによって種々の機能
性を発現でき、これを使った用途が考えられる。例えは
色素、酵素を含んだ膜を作成することによって、光学変
換素子やバイオセンサーを作ることができる。It may be suitable as a protective coating material in all fields, and the method of a mixed film or a laminated film of a functional LB material and a fatty acid generally used in the field of an LB film is used instead of the mixture of the present invention for the fatty acid. Various functionalities can be expressed by using it, and the application using this can be considered. For example, an optical conversion element or a biosensor can be made by making a film containing a dye and an enzyme.
また、この薄膜を使った物質分離の分野での用途も考え
られる。In addition, applications in the field of substance separation using this thin film are also conceivable.
次に本発明の薄膜およびデバイスを参考例と実施例に基
づき説明する。Next, the thin film and device of the present invention will be described based on Reference Examples and Examples.
参考例1 ピロメリット酸ジ無水物2.18g(0.01モル)とステアリ
ルアルコール5.40g(0.02モル)とをフラスコ中、乾燥
チッ素気流下、約100℃で3時間反応させた。Reference Example 1 2.18 g (0.01 mol) of pyromellitic dianhydride and 5.40 g (0.02 mol) of stearyl alcohol were reacted in a flask under a dry nitrogen stream at about 100 ° C. for 3 hours.
得られた反応物をヘキサメチレンホスファミド40ccに
溶解して0〜5℃に冷却してチオニルクロライド2.38g
を約5℃で滴下し、滴下後約5℃で1時間保持し、反応
を終了させた。The obtained reaction product was dissolved in 40 cc of hexamethylenephosphamide and cooled to 0 to 5 ° C to obtain 2.38 g of thionyl chloride.
Was added dropwise at about 5 ° C., and after the addition, the mixture was maintained at about 5 ° C. for 1 hour to complete the reaction.
そののちジメチルアセトアミド50ccに溶解させたジア
ミノジフェニルエーテル2g(0.01モル)を0〜5℃で
滴下し、滴下後約1時間反応させたのち、反応液を蒸留
水600cc中に注いで反応生成物を析出させた。析出物
をロ過か、約40℃で減圧乾燥して約9gの淡黄色粉末
を得た。After that, 2 g (0.01 mol) of diaminodiphenyl ether dissolved in 50 cc of dimethylacetamide was added dropwise at 0 to 5 ° C., and after reacting for about 1 hour after dropping, the reaction solution was poured into 600 cc of distilled water to precipitate a reaction product. Let The precipitate was filtered or dried under reduced pressure at about 40 ° C. to obtain about 9 g of a pale yellow powder.
得られた粉末についてIRスペクトル分析、熱分析(T
GA−DTA)、GPCによる分子量測定を行った。IR spectrum analysis and thermal analysis (T
The molecular weight was measured by GA-DTA) and GPC.
次に本発明の薄膜およびデバイスを参考例と実施例に基
づき説明する。Next, the thin film and device of the present invention will be described based on Reference Examples and Examples.
参考例1 ピロメリット酸ジ無水物2.18g(0.01モル)とステアリ
ルアルコール5.40g(0.02モル)とをフラスコ中、乾燥
チッ素気流下、約100℃で3時間反応させた。Reference Example 1 2.18 g (0.01 mol) of pyromellitic dianhydride and 5.40 g (0.02 mol) of stearyl alcohol were reacted in a flask under a dry nitrogen stream at about 100 ° C. for 3 hours.
得られた反応物をヘキサメチレンホスファミド40ccに
溶解して0〜5℃に冷却してチオニルクロライド2.38g
を約5℃で滴下し、滴下後約5℃で1時間保持し、反応
を終了させた。The obtained reaction product was dissolved in 40 cc of hexamethylenephosphamide and cooled to 0 to 5 ° C to obtain 2.38 g of thionyl chloride.
Was added dropwise at about 5 ° C., and after the addition, the mixture was maintained at about 5 ° C. for 1 hour to complete the reaction.
そののちジメチルアセトアミド50ccに溶解させたジア
ミノジフェニルエーテル2g(0.01モル)を0〜5℃で
滴下し、滴下後約1時間反応させたのち、反応液を蒸留
水600cc中に注いで反応生成物を析出させた。析出物
をロ過か、約40℃で減圧乾燥して約9gの淡黄色粉末
を得た。After that, 2 g (0.01 mol) of diaminodiphenyl ether dissolved in 50 cc of dimethylacetamide was added dropwise at 0 to 5 ° C., and after reacting for about 1 hour after dropping, the reaction solution was poured into 600 cc of distilled water to precipitate a reaction product. Let The precipitate was filtered or dried under reduced pressure at about 40 ° C. to obtain about 9 g of a pale yellow powder.
得られた粉末についてIRスペクトル分析、熱分析(T
GA−DTA)、GPCによる分子量測定を行った。IR spectrum analysis and thermal analysis (T
The molecular weight was measured by GA-DTA) and GPC.
IRスペクトル分析 KBrディスク法で測定したIRスペクトラムを第14図
に示す。IRスペクトルにはエステル、アミドI吸収
帯、II吸収帯、III吸収帯、アルキル鎖およびエーテル
の特徴的な吸収があらわれている。IR spectrum analysis The IR spectrum measured by the KBr disk method is shown in FIG. In the IR spectrum, characteristic absorptions of ester, amide I absorption band, II absorption band, III absorption band, alkyl chain and ether appear.
熱分析(TGA−DTA) 理学電機製RTG−DTA(H)タイプでフルスケール
でTGA10mg,DTA100μV,温度1000℃で
昇温10℃/min,窒素気流(30m/min)中で測定
した結果を第15図に示す。Thermal analysis (TGA-DTA) RGA-DTA (H) type manufactured by Rigaku Denki Co., Ltd., full scale TGA 10 mg, DTA 100 μV, temperature 1000 ° C., temperature increase 10 ° C./min, nitrogen gas flow (30 m / min). It is shown in FIG.
TGAには271,318,396,592℃に変曲点
があり、GTAには657℃付近に特徴的なピークがあ
る。TGA has inflection points at 271, 318, 396, 592 ° C, and GTA has a characteristic peak near 657 ° C.
また第16図は得られた前駆体を400℃まで10℃/
minで昇温し、400℃に1時間保ったのち室温まで戻
し、10℃/minで1000℃まで昇温した時の結果を
示す。In addition, FIG. 16 shows the obtained precursor at 10 ° C / 400 ° C.
The results are shown when the temperature was raised at min, kept at 400 ° C. for 1 hour, returned to room temperature, and raised to 1000 ° C. at 10 ° C./min.
400℃に1時間保つことによってほぼ重量は恒量に達
し、ポリイミド化反応が終結する。これを室温に戻して
再び昇温しても重量変化は450℃をすぎるまでなく、
ポリイミドフィルムの示す熱分解温度と同じ584℃で
熱分解が始まることが明らかになり、ポリイミド化の反
応を終結することによりポリイミドフィルムと同様の耐
熱性のものが得られることがわかる。By maintaining the temperature at 400 ° C. for 1 hour, the weight almost reaches a constant weight and the polyimidization reaction is terminated. Even if the temperature is returned to room temperature and the temperature is raised again, the weight does not change until it exceeds 450 ° C.
It was revealed that the thermal decomposition starts at 584 ° C. which is the same as the thermal decomposition temperature of the polyimide film, and it is found that the same heat resistance as the polyimide film can be obtained by terminating the reaction of the polyimidization.
GPCによる分子量測定 N,N−ジメチルアセトアミド溶媒で測定されたGPCの
結果をポリスチレン標準サンプルと比較することによっ
て産出された数平均分子量は約50,000であった。Molecular Weight Measurement by GPC The number average molecular weight produced by comparing the GPC results measured with N, N-dimethylacetamide solvent with a polystyrene standard sample was about 50,000.
参考例2 ピロメリット酸ジ無水物10.91gとステアリルアルコー
ル27.05gを120℃で3時間反応させ、生成物を20
0mエタノールで再結晶して融点133〜137℃の
ジステアリルピロメリテートを得た。Reference Example 2 10.91 g of pyromellitic dianhydride and 27.05 g of stearyl alcohol were reacted at 120 ° C. for 3 hours to give a product of 20
Recrystallization from 0m ethanol gave distearyl pyromellitate having a melting point of 133 to 137 ° C.
このジステアリルピロメリテート3.79gを60ccのヘキ
シメチレンホスファミドに溶解して5℃に冷却してチオ
ニルクロライド1.19gを約5℃で滴下し、滴下後約1時
間保持し、反応を終了させた。その後ジメチルアセトア
ミド30ccに溶解させた1.2gのジアミノジフェニルエ
ーテルを約10℃で滴下し、約20℃に反応温度をあげ
て2時間反応させた後、400ccのエタノールに注いで
反応生成物を析出させた。析出物をロ過、40℃で乾燥
して約3.4gの淡黄色粉末を得た。3.79 g of this distearyl pyromellitate was dissolved in 60 cc of hexymethylene phosphamide, cooled to 5 ° C, and 1.19 g of thionyl chloride was added dropwise at about 5 ° C, and the reaction was completed after holding for about 1 hour. Let After that, 1.2 g of diaminodiphenyl ether dissolved in 30 cc of dimethylacetamide was added dropwise at about 10 ° C., the reaction temperature was raised to about 20 ° C., the reaction was performed for 2 hours, and then poured into 400 cc of ethanol to precipitate a reaction product. . The precipitate was filtered and dried at 40 ° C. to obtain about 3.4 g of a pale yellow powder.
IRスペクトル分析、熱分析(TGA−DTA)、GP
Cによる分子量測定を行ったところ下記の結果が得られ
た。IR spectrum analysis, thermal analysis (TGA-DTA), GP
When the molecular weight was measured by C, the following results were obtained.
IRスペクトル分析 KBrディスク法でとられたIRチャートは図17のよう
でエステル、アミドI,II,III、アルキル鎖およびエ
ーテルの特徴的な吸収があらわれた。IR spectrum analysis The IR chart obtained by the KBr disk method is as shown in Fig. 17, and characteristic absorptions of ester, amide I, II, III, alkyl chain and ether are shown.
熱分析(TGA−DTA) 理学電機(株)製RTG−DTA(H)タイプでフルス
ケールTGA10mg,DTA100μV,温度1000
℃で昇温10℃/min,窒素気流(30m/min)中で
測定された結果が図18のとおりである。TGAには2
03,270,354,403,580℃に変曲点があ
るが、DTAには特徴的なピークは存在しない。Thermal analysis (TGA-DTA) RTG-DTA (H) type manufactured by Rigaku Denki Co., Ltd. Full scale TGA 10 mg, DTA 100 μV, temperature 1000
The results of measurement at a temperature rise of 10 ° C./min in a nitrogen stream (30 m / min) are shown in FIG. 2 for TGA
Although there are inflection points at 03,270,354,403,580 ° C., DTA has no characteristic peak.
GPCによる分子量測定 クロロホルム,N,N−ジメチルアセトアミド(8:2)
混合溶媒で測定された数平均分子量はポリスチレン換算
で約15,000であった。Molecular weight measurement by GPC Chloroform, N, N-dimethylacetamide (8: 2)
The number average molecular weight measured with the mixed solvent was about 15,000 in terms of polystyrene.
実施例1 参考例1,2の生成物を再蒸留水上20℃で表面圧25
dyne/cmで1%のシランカップリング剤A-1100(UCC商
品名,γ−アミノプロピルトリエトキシシラン)あるい
はA-187(UCC商品名,γ−グリシドキシプロピルトリメ
トキシシラン)水溶液で処理し、110℃でキュアした
表面処理ガラス基板上に累積した。Example 1 The products of Reference Examples 1 and 2 were subjected to a surface pressure of 25 at 20 ° C. on redistilled water.
Treated with 1% silane coupling agent A-1100 (UCC trade name, γ-aminopropyltriethoxysilane) or A-187 (UCC trade name, γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane) aqueous solution at dyne / cm Accumulated on a surface-treated glass substrate cured at 110 ° C.
Y型で累積され、累積比は上昇,下降いずれも0.9〜1.1
であった。公知のLB膜材料であるステアリルアルコー
ル分子を、上記生成物の繰返し単位の数と等しいだけ加
えた場合もY型で累積され累積比はステアリルアルコー
ルを加えない場合よりもよくなる傾向があった。Cumulative for Y type, cumulative ratio is 0.9-1.1 for both rising and falling
Met. The addition of stearyl alcohol molecules, which is a known LB membrane material, in an amount equal to the number of repeating units of the above product tended to accumulate in the Y-form and the cumulative ratio was better than that without stearyl alcohol.
表面処理しないガラス基板を使用したときに比べて累積
中のメニスカスの状態や累積比が非常に安定して良好な
累積膜ができた。Compared to the case of using the glass substrate without surface treatment, the state of the meniscus during accumulation and the accumulation ratio were very stable, and a good accumulated film was formed.
比較例 実施例1と同じように、ただしLB法で通常行われるよ
うに洗浄したガラス基板を用いた場合にも一般的にはY
型で累積されるが、下降のときの累積比が0.7〜0.8程度
になる場合が見られた。COMPARATIVE EXAMPLE As in Example 1, Y was generally used even when a glass substrate that had been washed by the LB method was used.
It was accumulated in the form, but it was observed that the cumulative ratio when falling was about 0.7 to 0.8.
実施例2 MIM構造の一例について述べる。Example 2 An example of the MIM structure will be described.
参考例2の化合物とステアリルアルコール1:1(モル
比)の混合物を用い、実施例1と同様の条件で11,2
1,31,41,51層の累積膜を作成したる基板とし
てはガラス基板に0.5mm巾のアルミニウム電極を蒸着し
シランカップリング剤A-187(0.5%水溶液)を処理し、
水洗し110℃でキュアしたものを使用した。A mixture of the compound of Reference Example 2 and stearyl alcohol 1: 1 (molar ratio) was used, and under the same conditions as in Example 1, 11, 2
As a substrate for forming a cumulative film of 1, 31, 41, 51 layers, an aluminum electrode having a width of 0.5 mm is vapor-deposited on a glass substrate and treated with a silane coupling agent A-187 (0.5% aqueous solution),
The one washed with water and cured at 110 ° C. was used.
累積後1夜間乾燥して400℃、窒素流通下1時間処理
して、前記アルミニウム電極と直交するように0.1mm巾
のアルミニウム電極を蒸着して第8図のようなMIMデ
バイスを作成した。キャパシタンスを周波数1KHzで室
温で測定しキャパシタンスの逆数を累積膜数に対してプ
ロットすると良好な直線関係が得られ、絶縁破壊強度が
1×106V/cm以上のピンホールなどがない完全な絶
縁膜が得られた。After the accumulation, it was dried for one night, treated at 400 ° C. for 1 hour under nitrogen flow, and an aluminum electrode having a width of 0.1 mm was vapor-deposited so as to be orthogonal to the aluminum electrode to prepare an MIM device as shown in FIG. A good linear relationship was obtained by measuring the capacitance at a frequency of 1 KHz at room temperature and plotting the reciprocal of the capacitance against the cumulative number of films, and complete insulation without pinholes with a dielectric breakdown strength of 1 × 10 6 V / cm or more. A film was obtained.
実施例3 基板として表面に二酸化シリコンを形成したシリコン半
導体基板をシランカップリング剤A-1100の1%水溶液で
処理し、110℃でキュアしたものを用いた。実施例2
と同じように51層の累積膜を形成し、400℃で窒素
流通下1時間処理してポリイミド薄膜を形成した。Example 3 As a substrate, a silicon semiconductor substrate having silicon dioxide formed on its surface was treated with a 1% aqueous solution of a silane coupling agent A-1100 and cured at 110 ° C. was used. Example 2
A 51-layer cumulative film was formed in the same manner as above, and treated at 400 ° C. for 1 hour under nitrogen flow to form a polyimide thin film.
この薄膜を100℃で1時間煮沸しても全く剥離は見ら
れず強固に基板に接着していた。一方、A-1100を処理し
ない場合には、同様の処理によって部分的に剥離が見ら
れた。Even when this thin film was boiled at 100 ° C. for 1 hour, no peeling was observed and it was firmly adhered to the substrate. On the other hand, when A-1100 was not treated, partial peeling was observed by the same treatment.
実施例4〜12 比較例1と同様の方法によって次にあげるA群とB群の
化合物を作用させて高分子化合物を合成した。R3=CH
3(CH2)17 合成された高分子化合物の構造は次のとおりである。Examples 4 to 12 By the same method as in Comparative Example 1, the compounds of the following groups A and B were allowed to act to synthesize polymer compounds. R 3 = CH
3 (CH 2 ) 17 The structure of the synthesized polymer compound is as follows.
これらの高分子化合物の同定はIRスペクトル分析、1H
-NMRなどによって行われた。熱分析、GPCによる分子
量測定の結果も参考例2の結果と同様であった。特に6
〜12の高分子化合物では200〜400℃に加熱するこ
とにより閉環反応とステアリルアルコール(8ではおそ
らくジステアリルエーテル)の脱離によって耐熱性の環
構造が形成されることが確認された。 Identification of these high molecular compounds was carried out by IR spectrum analysis, 1 H
-Done by NMR etc. The results of molecular weight measurement by thermal analysis and GPC were similar to those of Reference Example 2. Especially 6
It was confirmed that the polymer compounds No. 12 to 12 form a heat-resistant ring structure by heating at 200 to 400 ° C. for ring closure reaction and elimination of stearyl alcohol (probably distearyl ether in 8).
さらに以上の高分子化合物が実施例1と同様にシランカ
ップリング剤A-1100あるいはA-187を処理した基板上に
良好に累積できることが確認された。Further, it was confirmed that the above polymer compounds could be favorably accumulated on the substrate treated with the silane coupling agent A-1100 or A-187 as in Example 1.
実施例13 ピロメリット酸二無水物2.18g(0.01モル)を乾燥ジメ
チルアセトアミド50ccにフラスコ中、乾燥チッ素流通
下約20℃でジメチルアセトアミド30ccに溶解させた
2,5−ジアミノベンズアミド1.51g(0.01モル)を約1
0分で滴下し、滴下後2時間反応させた。ジメチルアセ
トアミドとベンゼン(1:1)で希釈して1×10-3M
の溶液を作成し、これにN−n−オクタデシルジメチル
アミンが2×10-3Mとなるように作成したジメチルア
セトアミドとベンジン(1:1)の溶液を混合して反応
させ、LB膜用展開液とした。これをA-1100を処理した
ガラス基板上に累積を試みたところ良好なZタイプの累
積膜が得られた。Example 13 2.18 g (0.01 mol) of pyromellitic dianhydride was dissolved in 50 cc of dry dimethylacetamide in 30 cc of dimethylacetamide in a flask at about 20 ° C. under a flow of dry nitrogen.
About 1.51 g (0.01 mol) of 2,5-diaminobenzamide
The mixture was added dropwise at 0 minutes and reacted for 2 hours after the addition. Dilute with dimethylacetamide and benzene (1: 1) to 1 × 10 -3 M
Solution was prepared, and a solution of dimethylacetamide and benzine (1: 1) prepared so that Nn-octadecyldimethylamine was 2 × 10 −3 M was mixed and reacted to develop the solution for LB film. It was a liquid. When an attempt was made to accumulate this on a glass substrate treated with A-1100, a good Z type accumulation film was obtained.
実施例14 ベンジジン−3,3′−ジカルボン酸2.72g(0.01モル)
を乾燥ヘキサメチルホスホルアミド50ccにフラスコ中
乾燥チッ素流通下溶解させ、約20℃で乾燥ジメチルア
セトアミド30ccに溶解させたテレフタル酸ジクロイド
2.30g(0.01モル)を滴下し、滴下後約2時間反応させ
た。Example 14 Benzidine-3,3'-dicarboxylic acid 2.72 g (0.01 mol)
Was dissolved in 50 cc of dry hexamethylphosphoramide in a flask under a flow of dry nitrogen, and terephthalic acid dicloid was dissolved in 30 cc of dry dimethylacetamide at about 20 ° C.
2.30 g (0.01 mol) was added dropwise and reacted for about 2 hours after the addition.
ジメチルアセトアミドとベンゼン(1:1)で希釈して
1×10-3Mの溶液を作成し、これにN−n−オクタデ
シルジメチルアミンが2×10-3Mになるように作成し
たジメチルアセトアミドとベンゼン(1:1)の溶液を
混合して反応させLB膜用展開液とした。Dimethylacetamide was diluted with benzene (1: 1) to prepare a 1 × 10 −3 M solution, and dimethylacetamide was prepared so that Nn-octadecyldimethylamine was 2 × 10 −3 M. A solution of benzene (1: 1) was mixed and reacted to obtain a developing solution for LB film.
実施例13と同じようにA-1100処理ガラス基板上に累積
するとZタイプの良好な累積膜が得られた。When accumulated on the A-1100-treated glass substrate in the same manner as in Example 13, a good Z type accumulated film was obtained.
発明の効果 本発明によるとLB法により製膜できるように修飾され
た高分子化合物が、基板上に良好に累積できるようにな
る。また部分的あるいは完全に環化させることにより、
同時に混合した公知のLB膜化合物を飛散させることに
より、耐熱性の極めて良好で、耐薬品性、機械的特性が
よく基板との接着性が改善された、一般的には作成が難
しい厚み、すなわち10,000Å以下、望むなら10
〜1000Åの超薄膜を得ることができる。EFFECTS OF THE INVENTION According to the present invention, the polymer compound modified so that a film can be formed by the LB method can be favorably accumulated on the substrate. Moreover, by partially or completely cyclizing,
By scattering the known LB film compound mixed at the same time, the heat resistance is extremely good, the chemical resistance and mechanical properties are good, and the adhesion to the substrate is improved. 10,000 Å or less, 10 if desired
Ultra thin films of up to 1000Å can be obtained.
また、表面処理しない基板を使用する場合に比較して安
定した良好な累積ができる。In addition, stable and good accumulation can be achieved as compared with the case of using a substrate which is not surface-treated.
第1図〜第7図は代表的なMIS構造デバイスの模式図
であり、第8図〜第10図はMIM構造、第11図〜第
13図はIM構造のそれである。 第14図は参考例1で得られた前駆体のIRスペクトラ
ム、第15図は参考例1で得られた前駆体の熱重量分析
(TGA−DTA)結果を示すグラフ、第16図は参考
例1で得られた前駆体を室温から400℃まで昇温し、
そこに1時間保って、室温まで下げ、さらに1000℃
まで昇温したときの熱重量分析(TGA−DTA)結果
を示すグラフである。第17図は参考例2で得られた前
駆体の赤外吸収スペクトル、第18図は熱分析の結果で
ある。1 to 7 are schematic views of a typical MIS structure device, FIGS. 8 to 10 are MIM structures, and FIGS. 11 to 13 are IM structures. 14 is an IR spectrum of the precursor obtained in Reference Example 1, FIG. 15 is a graph showing the results of thermogravimetric analysis (TGA-DTA) of the precursor obtained in Reference Example 1, and FIG. 16 is a reference example. The temperature of the precursor obtained in 1 was raised from room temperature to 400 ° C.,
Keep it there for 1 hour, let it cool down to room temperature, then 1000 ℃
It is a graph which shows the thermogravimetric analysis (TGA-DTA) result at the time of heating up. FIG. 17 is the infrared absorption spectrum of the precursor obtained in Reference Example 2, and FIG. 18 is the result of thermal analysis.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 29/28 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Internal reference number FI technical display location H01L 29/28
Claims (3)
ずれかまたはその両方とアルコキシシラン基とを含む有
機化合物の薄膜を設け、さらにその上に設けられた耐熱
性高分子あるいはその前駆体の超薄膜とからなる基板と
の接着性が改善された超薄膜。1. A thin film of an organic compound containing either or both of amino groups and epoxy groups and an alkoxysilane group is provided on the surface of a substrate, and a heat-resistant polymer or a precursor thereof is further provided thereon. An ultra-thin film with improved adhesion to a substrate consisting of a thin film.
かまたは両方とアルコキシシラン基とを含む有機化合物
で処理する工程と、その上に耐熱性高分子あるいはその
前駆体の超薄膜をラングミュア・ブロジェット法によっ
て累積する工程とよりなることを特徴とする基板との接
着性が改善された超薄膜の製法。2. A step of treating a substrate with an organic compound containing an aminosilane or an epoxy group or both and an alkoxysilane group, and an ultrathin film of a heat-resistant polymer or its precursor thereon is further subjected to Langmuir Brochure. A method for producing an ultra-thin film with improved adhesion to a substrate, characterized by comprising the steps of accumulating by a jet method.
の超薄膜をラングミュア・ブロジェット法によって累積
した後、前駆体の超薄膜を加熱硬化させることによって
形成される特許請求の範囲第2項記載の方法。3. The ultrathin film of the heat-resistant polymer is formed by accumulating the ultrathin film of its precursor by the Langmuir-Blodgett method and then heat-curing the ultrathin film of the precursor. The method according to item 2.
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