JPH0628373B2

JPH0628373B2 - 画像読取り装置

Info

Publication number: JPH0628373B2
Application number: JP60223929A
Authority: JP
Inventors: 晴光益子; 鈴木　　茂
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1985-10-08
Filing date: 1985-10-08
Publication date: 1994-04-13
Anticipated expiration: 2009-04-13
Also published as: JPS6282876A

Description

【発明の詳細な説明】技術分野本発明は、ＣＣＤ等の読取り素子を用いて原稿画像をデ
ジタル情報として読取るデジタル複写機等の画像読取り
装置に関する。

従来技術一般に、原稿画像をスリツト露光してＣＣＤ等の画像読
取り素子により読取るデジタル的な画像読取り装置によ
れば、アナログ的な複写機等に比べて種々の画像編集処
理を行なうことができる。この場合、デジタル的な画像
読取り装置においてアナログ方式の画像と遜色のない画
像を得るためには、画素密度を高密度化する必要があ
る。又、原稿画像サイズがＡ１、Ａ０サイズの図面のよ
うな大きなサイズとなる場合には、画素数が多くなり、
単一のＣＣＤでは画素数が不足する。即ち、現在得られ
ているＣＣＤの最大画素数は５０００素子であり、画素
密度１６_pIXEL／mmとすると、約３００mm幅の原稿画像
に限られる。従つて、例えば幅８４１mmのＡ０サイズの
原稿画像を画素密度１６_pIXEL／mmで読取るとなると、
必要画素数は８４１×１６＝１８４５６_pIXELであるの
で、３個のＣＣＤを用いる必要がある。ここに、ＣＣＤ
の受光素子ピツチを７μ、原稿読取り画素密度を１６
_pIXEL／mmとすると、原稿画像のＣＣＤへの投影倍率ｍ
は原稿・レンズ間距離をａ、レンズ・ＣＣＤ距離をｂと
したとき、ｍ＝ｂ／ａであり、具体的には約１／８．９
２６となる。

今、第５図に示すように、幅ｌ_０＝８４１mmのＡ０サイ
ズの原稿１の画像（画素数１３４５６）を素子数５００
０のＣＣＤ２をピツチｌ_１＝２８０mmで３個一列に配列
して読取るには、ＣＣＤ２の継目間で画像欠損を生じな
いように、図示の如く、オーバーラツプ分の寸法Δｌと
して画素数１３０_pIXELを持たせて３個のＣＣＤ２を配
置させる必要がある。このようにオーバーラツプした画
素は、各ＣＣＤ２より読出した画信号データ数を削除す
ることにより重複しない一連の画像信号として処理され
ることになる。

なお、第５図において、３はレンズ、４はＣＣＤ２取付
け用の基板、５は原稿１をスリツト露光するランプ、６
は側板である。

ここで、基板４を一般構造用鋼板とすると、その熱膨張
係数は約１１×１０^-6であり、装置の温度変化を２０℃
と仮定すると、ＣＣＤ２の取付けピツチｌ_１＝２８０mm
は２８０×２０×１１×１０^-6＝０．０６２mmの寸法変
化をすることになる。この長さはＣＣＤ２の受光素子数
約９個に相当する。又、原稿１上での寸法に換算する
と、０．０６２×８．９２６＝０．５５３mmに相当する
ことになる。このような温度変化は室温の変化の他、装
置内の電源、ランプ等による温度上昇によるものもあ
る。何れにしても、オーバーラツプする素子数は、使用
する条件温度でその都度決定すればよいが、操作性の上
で好ましくない。このため、標準温度を基準としてオー
バーラツプ量が固定されている。

しかし、このような固定オーバーラツプ量により画像処
理するとなると、例えばＣＣＤ２の取付けピツチが０．
０６２mm伸縮したとすると、原稿１上では０．５５３mm
分の継目部分の画像情報が欠落することになる。又、取
付けピツチが縮んだとすれば、継目部分に重複画像情報
を生ずることになる。よつて、温度変化に対する対処が
不充分で、正確な画像読取りができず、使用できないも
のである。

この点、基板４として熱膨張係数の少ない例えばＩＮＶ
ＡＲ熱膨張係数１．２×１０^-6を用いたとしても、精度
的に不充分であり、かつ、コスト的にも不利なものとな
る。

温度による寸法補正法としては、振子時計の振子長の温
度補正構造が公知であるが、これを精度を要するＣＣＤ
の取付け構造に応用した例はない。

何れにしても、実用的にはＣＣＤ２の画素ピツチの１／
２以下に誤差を抑えることが望ましい。又、ＣＣＤ２と
レンズ３とは一体化させて基板４に取付けて両者間の相
対位置関係は一定にしておく必要もある。

目的本発明は、このような点に鑑みなされたもので、温度変
化により複数の読取り素子の取付け間隔に長さ変化を生
じても各読取り素子の継目部分の読取りデータに欠落や
重複のない読取り処理を行なうことができる画像読取り
装置を得ることを目的とする。

構成本発明は、上記目的を達成するため、画像をデジタル的
に読取る複数の読取り素子を基板上に直線上に配置さ
せ、各々の読取り素子による読取り画素にオーバーラツ
プ部分を持たせ、このオーバーラツプ部分の読取り画素
データの各々設定された位置までの読取り画素データを
有効画素データとして各読取り素子間の継目処理を行な
うようにした画像読取り装置において、基板上のこの基
板の温度を検出する温度検出器を設け、検出された基板
の温度からこの基板の伸縮を演算しその伸縮に応じてオ
ーバーラツプ部分中の読取り画素データを有効画素デー
タとして処理する画素位置を変更させる演算制御手段を
設けたことを特徴とするものである。

以下、本発明の一実施例を第１図ないし第３図に基づい
て説明する。基本的には第５図に示したものと同様に構
成されるものであるが、説明を簡単にするため、第１図
に示すように２個のＣＣＤ７，８を基板９上に一直線上
に配置させた場合を考える。１０は原稿、１１は結像レ
ンズである。そして、これらのＣＣＤ７，８による原稿
１０の読取り領域には長さΔｌで示すオーバーラツプ部
分１２が持たされている。ここで、本実施例では素子数
５０００のＣＣＤ７，８が用いられており、基板９の温
度が０℃の時を基準とするとＣＣＤ７とＣＣＤ８とのオ
ーバーラツプする画素は第２図(a)に示すように５０画
素とされている。即ち、ＣＣＤ７の素子NO.４９５０〜
５０００のものとＣＣＤ８の素子NO.１〜５０のものと
がオーバーラツプすることになる。

しかして、本実施例では前記基板９上にこの基板９の温
度を検出する温度検出器としてのサーミスタ１３が設け
られている。このサーミスタ１３は第３図に示すように
３個の抵抗とともにブリツジ回路１４が形成され、その
出力がＯＰアンプ１５を介してＡ／Ｄコンバータ１６に
与えられて温度が検出されるように設定されている。こ
こで、本実施例のサーミスタ１３の温度（℃）−出力電
圧Ｖｏ（Ｖ）特性を下表に示すこのようなサーミスタ１３の特性に対してＡ／Ｄコンバ
ータ１６は例えば基板９の温度０〜１００℃に対応して
５０〜０なるデジタル的な出力を生ずるように設定され
ている。

又、前記ＣＣＤ７，８の出力側には各々アンプ１７，１
８を介してＡ／Ｄコンバータ１９，２０が接続され、読
取り画像情報がデジタル信号に変換される。これらのＡ
／Ｄコンバータ１９，２０からの出力はＣＰＵ２１から
与えられる所定値（文字情報であれば、単一スレツシユ
ホールド、絵や写真原稿等であればデイザのデータ）と
各々比較器２２，２３により比較されて２値化処理さ
れ、シフトメモリ２４，２５に送られ、これらのシフト
メモリ２４，２５から出力される。

ここで、前記ＣＰＵ２１は演算制御手段となるもので、
ＲＯＭ２６及びＲＡＭ２７が接続されている。そして、
前記ＣＣＤ７，８が取付けられた基板９は温度により伸
縮し、ＣＣＤ７，８間の距離が変動するものであるが、
前記ＲＯＭ２６上には温度データに対応した補正テーブ
ルが設けられている。この補正テーブルは第４図に示す
ように基板９の上昇温度とＣＣＤ７，８のオーバーラツ
プ部分１２におけるずれ画素数とのグラフにより作成さ
れている。

このような構成において、まず、基板９の温度が０℃の
場合にはＣＣＤ７，８のオーバーラツプ部分１２の状態
は第２図(a)に示すように５０画素の重なり状態とな
る。このような状態では、ＣＣＤ７による読取り画素デ
ータは素子NO.４９７５までのデータが有効画素データ
とされ、ＣＣＤ８による読取り画素データは素子NO.２
６以降のものが有効画素データとされてＣＣＤ７，８に
よる読取り画素データ間に欠落や重複のない継目処理が
なされるように設定されている。

しかして、例えばサーミスタ１３により基板９の温度が
２０℃であると検出された場合を考える。この基板９の
温度情報がＣＰＵ２１に取り込まれ、ＲＯＭ２６上の補
正テーブルを参照する。つまり、第４図によれば、温度
２０℃においては９画素分ずれを生ずることがわかる。
第２図(b)はこのように９画素分ずれてＣＣＤ７の素子N
O.４９６０〜５０００のものＣＣＤ８の素子No.１〜４
１のものとがオーバーラツプする２０℃の状態を示すも
のである。このような９画素分の伸びを生じたことがＣ
ＰＵ２１により判定されて有効画素データとして処理す
る位置が変更される。即ち、のこの状態において０℃の
場合と同様にＣＣＤ７による読取り画素データは素子N
O.４９７５までのデータが有効画素データとされ、ＣＣ
Ｄ８による読取り画素データは素子NO.２６以降のもの
が有効画素データとして処理すると、両者間に９画素分
欠落を生ずることになる。しかるに、本実施例では、９
画素分の伸びが生じていることがＣＰＵ２１により判定
されているので、９画素分が４画素，５画素分ずつ振分
けられ（偶数であれば、２等分）、ＣＣＤ７の読取り画
素データは素子NO.４９７９までのデータが有効画素デ
ータとされ、ＣＣＤ８による読取り画素データは素子N
O.２１以降のものが有画素データとするように有効画素
データとして処理する位置が変更される。このような位
置変更データはＣＰＵ２１制御の下にＲＯＭ２６の補正
テーブルから選択されてシフトメモリ２４，２５に与え
られて、読み出す際の最初と最後のアドレスが設定され
ることにより行なわれる。

このようにして、基板９の温度に応じてＣＣＤ７，８に
よる読取り画素データのオーバーラツプ部分１２につい
て有効画素データとして処理する位置を変更させるよう
にしたので、温度変化により基板９、従つてＣＣＤ７，
８に位置変動を生じたとしても、読取り画素データ側の
処理によつてＣＣＤ７，８の継目部分に読取りデータの
欠落や重複のない正確な読取り処理を行なうできるもの
である。

効果本発明は、上述したように読取り素子が取付けられた基
板の温度を検出する温度検出器を設けて、この基板温度
から伸縮を演算して読取り素子のオーバーラツプ部分の
有効画素データとして処理する画素位置を変更させる演
算制御手段を設けたので、温度変化により読取り素子間
に長さ変化を生じたとしてもそれらの読取り素子の継目
部分に読取りデータの欠落や重複のない正確な画像読取
り処理を行なうことができるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の基本構成を示す概略側面
図、第２図(a)，(b)はオーバーラツプ部分を拡大して示
す説明図、第３図はブロツク図、第４図は上昇温度−ず
れ画素数特性図、第５図は従来例を示す概略側面図であ
る。７，８……ＣＣＤ（読取り素子）、９……基板、１２…
…オーバーラツプ部分、１３……サーミスタ（温度検出
器）、２１……ＣＰＵ（演算制御手段）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】画像をデジタル的に読取る複数の読取り素
子を基板上に直線上に配置させ、各々の読取り素子によ
る読取り画素にオーバーラツプ部分を持たせ、このオー
バーラツプ部分の読取り画素データの各々設定された位
置までの読取り画素データを有効画素データとして各読
取り素子間の継目処理を行なうようにした画像読取り装
置において、前記基板上のこの基板の温度を検出する温
度検出器を設け、検出された基板の温度からこの基板の
伸縮を演算しその伸縮に応じて前記オーバーラツプ部分
中の読取り画素データを有効画素データとして処理する
画素位置を変更させる演算制御手段を設けたことを特徴
とする画像読取り装置。