JPH063000B2 - Profile control device - Google Patents
Profile control deviceInfo
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- JPH063000B2 JPH063000B2 JP29411788A JP29411788A JPH063000B2 JP H063000 B2 JPH063000 B2 JP H063000B2 JP 29411788 A JP29411788 A JP 29411788A JP 29411788 A JP29411788 A JP 29411788A JP H063000 B2 JPH063000 B2 JP H063000B2
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Description
【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明は、坪量プロフィル制御の制御性の改善に関する
ものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Field of Industrial Application> The present invention relates to improvement of controllability of basis weight profile control.
<従来技術> 第5図により抄紙プロセスの概要を説明する。原料パル
プPは種箱1,種口弁2を経て白水サイロ3からのリタ
ーン原料と合流してポンプ4によりヘッドボックス5に
供給される。ヘッドボックス内の原料は、スライスリッ
プ6の間隙よりワイヤーパート8上にシート状に吐出さ
れ、プレスパート9で搾水され、ドライパート10で蒸
気により加熱乾燥された後、カレンダー11を経てリー
ル12に巻き取られて製品となる。7はスライスリップ
のギャップを操作するための複数(例えば60本)のス
ライスボルトである。<Prior Art> An outline of a papermaking process will be described with reference to FIG. The raw material pulp P merges with the return raw material from the white water silo 3 through the seed box 1 and the seed valve 2, and is supplied to the head box 5 by the pump 4. The raw material in the head box is discharged in a sheet form from the gap of the slice lip 6 onto the wire part 8, squeezed by the press part 9, heated and dried by steam in the dry part 10, and then passed through a calendar 11 and reel 12. It is rolled up into a product. Reference numeral 7 is a plurality of (for example, 60) slice bolts for operating the gap of the slice lip.
13は製品を紙幅方向にスキャンして紙の坪量(1m2
の重さ)と水分率を測定するB/M計であり、この測定
値に基づいて紙の絶乾坪量プロフィルが紙の横幅方向を
複数点、例えば360点に分割して計算される。13 scans the product in the paper width direction, and the basis weight of the paper (1 m 2
Is a B / M meter for measuring the water content) and the moisture content, and the absolute dry basis weight profile of the paper is calculated based on the measured values by dividing the lateral width direction of the paper into a plurality of points, for example, 360 points.
計算で求められた各点の絶乾坪量プロフィル測定値PV
と設定値SVの差はプロフィル制御装置14で制御演算
され、操作出力MVにより測定点に対応するスライスボ
ルト7を操作してリップ開度を調節し、製品の絶乾坪量
プロフィルが設定絶乾坪量プロフィルに一致するような
フィードバック制御が行われる。Absolute dry basis weight profile measured value PV of each point calculated
The difference between the set value SV and the set value SV is control-calculated by the profile control device 14, and the slice opening 7 corresponding to the measurement point is operated by the operation output MV to adjust the lip opening, and the absolute dry basis weight profile of the product is set to the absolute dry value. Feedback control is performed so as to match the basis weight profile.
15は制御装置14と通信するマンマシンインターフェ
イスであり、プロフィルの表示機能を有する。A man-machine interface 15 communicates with the control device 14 and has a profile display function.
第6図は、紙16の上流側のスライスボルトと下流側の
測定点の対応関係を示すもので、例えば60本のスライ
スボルト71,72…760に対し360点の測定点PV
1,PV2…PV360が対応する。Figure 6 is intended to show the relationship of measurement points upstream of the slice bolt and the downstream side in the sheet 16, for example, 60 pieces of sliced bolts 7 1, 7 2 ... 7 60 The measurement points 360 points PV
1, PV2 ... PV360 correspond.
スライスボルト71の操作端に対応する測定値は、6個
の測定値PV1,PV2…PV6の平均値▲▼1が
用いられ、この測定値とプロフィルの設定値の偏差を制
御演算した操作出力でスライスボルト71が操作され
る。他のスライスボルトの操作も同様である。As the measurement value corresponding to the operating end of the slice bolt 7 1 , the average value ▲ ▼ 1 of 6 measurement values PV 1 , PV 2 ... PV 6 is used, and the deviation between this measurement value and the set value of the profile is controlled and calculated. slice bolt 7 1 the operation output is operated. The operation of other slice bolts is similar.
第6図の例では複数個の測定点を機械的に特定のスライ
スボルトに対応させ、複数の測定点の平均値を演算する
60点プロフィル法であるが、第7図はスライス対応プ
ロフィル法による、i番目スライスに含まれる測定点の
範囲を決定する一般的な手法を示すものであり、i番目
スライスに対応する測定点PViを先ず統計的手法(例
えば特願昭−61−232181号で開示)等により決
定しておき、このスライスを中心に両側に対称的にn点
の測定点を含むように決定する。従って1本のスライス
ボルトに含まれる測定点の個数は、2n+1であり、か
ならず奇数となる。The example of FIG. 6 is a 60-point profile method in which a plurality of measurement points are mechanically associated with specific slice bolts and the average value of the plurality of measurement points is calculated. , A general method for determining the range of the measurement points included in the i-th slice. First, the measurement point PV i corresponding to the i-th slice is first analyzed by a statistical method (for example, in Japanese Patent Application No. 61-232181). (Disclosure) and the like, and it is determined so as to include n measurement points symmetrically on both sides of this slice. Therefore, the number of measurement points included in one slice bolt is 2n + 1, which is always an odd number.
第8図は、この様な構成によるプロフィル制御の結果の
一例を示すもので、(A)はスライスボルト71,72
…760の位置とプロフィル設定値SV,測定値PVを結
んだプロフィルPFの関係を示し、(B)は各スライス
ボルトへの操作出力MV1,MV2…MV60の操作量を
示している。FIG. 8 shows an example of the result of profile control by such a configuration. (A) shows slice bolts 7 1 , 7 2.
... 7 shows the relationship between the position of 60 , profile set value SV, and profile PF that connects measured value PV, and (B) shows the manipulated variables MV 1 , MV 2 ... MV 60 to each slice bolt. .
紙は毎分400〜1000m程のスピードで流れているが、セン
サーであるB/M計は紙幅方向に毎分5〜10mのスピー
ドであるために、測定データに対して流れ方向(時系
列)にスムージング処理(フィルタリング)を実行して
いる。The paper flows at a speed of 400 to 1000 m / min, but the B / M meter, which is a sensor, has a speed of 5 to 10 m / min in the paper width direction, so the flow direction (time series) is relative to the measured data. Smoothing processing (filtering) is being performed.
紙を作り始めるときや紙の品種替えで運転条件が変わる
場合には、偏差が全体的に大きくなり、坪量プロフィル
が悪化する。従来はこのような時オペレータが手動で運
転し、2σ値(プロフィル偏差の標準偏差の2倍)があ
る程度小さくなったら自動制御に切換える運転を実行し
ていた。When starting to make paper or when the operating conditions change due to changing the paper type, the deviation becomes large as a whole, and the basis weight profile deteriorates. Conventionally, the operator manually operates at such a time, and when the 2σ value (twice of the standard deviation of the profile deviation) becomes small to some extent, the operation is switched to the automatic control.
従来の制御方式は、サンプルPIに基づく分配制御方式
を用いており、その概要を第9図の機能ブロック線図に
より説明する。The conventional control method uses a distribution control method based on sample PI, and its outline will be described with reference to the functional block diagram of FIG.
17はプロフィル測定値の流れ方向のフィルタリング処
理機能、18はスライス毎の偏差計算機能であり、フィ
ルタリング処理された測定値PVと設定プロフィルSV
の偏差を各測定点毎に求めこれら測定点毎の偏差信号を
対応するスライス毎に処理してスライス毎の偏差eを計
算する。例えばスライスが40本で測定点が360点の
場合は、各スライスに対応する測定点9点の平均で偏差
eを計算する。Reference numeral 17 is a filtering processing function in the flow direction of the profile measurement value, and 18 is a deviation calculation function for each slice, and the measurement value PV and the setting profile SV subjected to the filtering processing are set.
Deviation is obtained for each measurement point and the deviation signal for each measurement point is processed for each corresponding slice to calculate the deviation e for each slice. For example, when there are 40 slices and 360 measurement points, the deviation e is calculated by averaging the 9 measurement points corresponding to each slice.
19は偏差に対する非線形化処理機能であり、一定値以
下の偏差については偏差ゼロの処理を、一定値以上の偏
差についてはその大きさによりゲインを持たせる拡大処
理を実行し、制御偏差Eを発信する。Reference numeral 19 denotes a non-linearization processing function with respect to deviations. For deviations less than a certain value, zero deviation processing is performed, and for deviations greater than a certain value, expansion processing that gives a gain depending on the magnitude is executed, and a control deviation E is transmitted. To do.
20は速度形PI演算機能であり、制御偏差Eに対して
比例,積分演算を実行し、速度形操作出力ΔUを発信す
る。Reference numeral 20 denotes a speed type PI calculation function, which performs proportional and integral calculations on the control deviation E and transmits a speed type operation output ΔU.
21は分配演算機能であり、スライスの干渉波形に基づ
いて隣接するスライスに対してΔUに係数を乗算して分
配した操作出力ΔU′を発信する。Reference numeral 21 denotes a distribution calculation function, which transmits an operation output ΔU ′ obtained by multiplying ΔU by a coefficient and distributing to adjacent slices based on the interference waveform of the slice.
第10図はi番目のスライスを中心とする隣接スライス
への干渉波形図であり、自己を中心に前後2スライスへ
の分配係数αi+2〜αi-2は、干渉による各スライスの応
答値bi+2〜bi-2に対して、 αi+2=bi+2/Δ αi+1=bi+1/Δ αi=bi/Δ αi-1=bi-1/Δ αi-2=bi-2/Δ ここで、Δ=|bi+2|+|bi+1|+|bi| +|bi-1|+|bi-2| である。FIG. 10 is an interference waveform diagram for adjacent slices centering on the i-th slice. The distribution coefficients α i + 2 to α i-2 for the two slices before and after the self are the responses of each slice due to interference. For values b i + 2 to b i-2 , α i + 2 = b i + 2 / Δ α i + 1 = b i + 1 / Δ α i = b i / Δ α i-1 = b i -1 / Δ α i-2 = b i-2 / Δ where Δ = | b i + 2 | + | b i + 1 | + | b i | + | b i-1 | + | b i- 2 |.
このように計算される分配係数により、各スライスへの
操作出力ΔU′は、 ΔU′=αi+2・ΔUi+2+αi+1・ΔUi+1 +αi・ΔUi+αi-1・ΔUi-1 +αi-2・ΔUi-2 となる。With the distribution coefficient calculated in this way, the operation output ΔU ′ to each slice is ΔU ′ = α i + 2 · ΔU i + 2 + α i + 1 · ΔU i + 1 + α i · ΔU i + α i-1・ ΔU i-1 + α i-2・ ΔU i-2 .
22は出力チエック機能であり、分配演算後の操作出力
に対してスライス間の開度リミット制限処理を実行して
プロセス即ちスライスボルトに出力する。Reference numeral 22 denotes an output check function, which executes an opening limit limiting process between slices on the operation output after the distribution calculation and outputs it to a process, that is, a slice bolt.
<発明が解決しようとする課題> 従来の制御方式は、上述した分配制御という一つのモー
ドによる制御であり、チューニングとしては、ハンチン
グせずオーバーシュートも少ない安定した制御が優先さ
れているために、次のような問題点がある。<Problems to be Solved by the Invention> The conventional control method is control by one mode of the above-described distribution control, and as tuning, stable control with less overshoot and less overshoot is prioritized. There are the following problems.
(1)測定値処理の流れ方向フィルタリング処理のフィ
ルタ定数が一つであるために、流れ方向変動を十分に押
さえるような大きな定数となっており、プロフィルの変
化に対する応答が遅くなる。(1) Since there is only one filter constant in the flow direction filtering process of the measurement value process, it is a large constant that sufficiently suppresses the flow direction fluctuation, and the response to the profile change becomes slow.
(2)PI制御パラメータ、制御周期も1種類のため、
紙の作り始めや品種替えの後のプロフィル偏差が大きい
場合は、収束に時間がかかる。(2) Since there are one type of PI control parameter and control cycle,
If the profile deviation is large after the beginning of paper making and after changing the type, it takes a long time to converge.
それゆえに、オペレータのマニュアルによる調整が行わ
れ、オペレータの負担が大きい。Therefore, adjustment is performed by the operator's manual, and the operator's burden is heavy.
本発明はこの様な問題点を解消できるプロフィル制御装
置の提供を目的とする。An object of the present invention is to provide a profile control device capable of solving such a problem.
<課題を解決するための手段> このような目的を達成する本発明は、抄紙プロセス(2
3)で製造される紙の品質について、紙幅方向に走査す
るセンサ(13)により当該品質を測定し、この測定し
た紙幅方向の測定値分布(以下「プロフィル測定値」と
いう)が設定プロフィルと一致するように当該抄紙プロ
セスのスライスを操作するプロフィル制御装置であっ
て、次の構成としたものである。<Means for Solving the Problems> The present invention which achieves such an object is provided by a papermaking process (2
Regarding the quality of the paper manufactured in 3), the quality is measured by a sensor (13) that scans in the paper width direction, and the measured value distribution in the paper width direction (hereinafter referred to as “profile measurement value”) matches the set profile. A profile control device for operating the slice of the papermaking process as described above, which has the following configuration.
即ち、プロフィル測定値と設定プロフィルとの偏差プロ
フィルが、所定の値よりも大きな値を有するときは過渡
モードとし、その余の場合は定常時モードと判定する手
段と、プロフィル測定値と設定プロフィルとの偏差プロ
フィルを各測定点毎に求め、これら測定点毎の偏差信号
を対応するスライス毎に処理すると共に、過渡モードで
は定常時にモードに比較して制御周期を短くする偏差計
算手段(18)と、この偏差計算手段で求めたスライス
毎の偏差プロフィルを入力し、過渡モードでは定常時モ
ードに比較してオバーシュート気味でも収束の早いゲイ
ンを用いて制御演算する制御演算手段(20)とを具備
している。That is, when the deviation profile between the profile measurement value and the setting profile has a value larger than a predetermined value, the transient mode is set, and in the other cases, a means for determining the steady mode, the profile measurement value and the setting profile are set. Deviation deviation means (18) for obtaining the deviation profile of each measurement point, processing the deviation signal for each measurement point for each corresponding slice, and shortening the control cycle in the transient mode as compared with the mode in the steady state. And a control calculation means (20) for inputting the deviation profile for each slice obtained by the deviation calculation means and performing control calculation using a gain that converges faster in the transient mode than in the steady-time mode even if it tends to overshoot. is doing.
そして、この制御演算手段の出力に従って前記スライス
を操作することを特徴としている。The slice is operated according to the output of the control calculation means.
<作用> このような構成の発明によれば、過渡モード/定常時モ
ード判定手段により、偏差プロフィルの凸凹の程度によ
り安定した制御状態であるか否かを判定する。そして、
偏差計算手段は過渡モードでは定常時モードに比較して
制御周期を短くして収束を早くする。また制御演算手段
は過渡モードでは定常時モードに比較してオバーシュー
ト気味でも収束の早いゲインを用いて制御演算して、ス
ライスを操作する。<Operation> According to the invention having such a configuration, the transient mode / steady-time mode determination means determines whether or not the control state is stable depending on the degree of unevenness of the deviation profile. And
The deviation calculating means shortens the control period in the transient mode and accelerates the convergence as compared with the steady mode. In the transient mode, the control calculation means performs the control calculation by using the gain which converges faster than the steady mode, and operates the slice.
<実施例> 実施例の機能構成説明に先立って本発明の特徴を説明す
る。<Embodiment> The features of the present invention will be described prior to the description of the functional configuration of the embodiment.
(1)制御モードは、坪量プロフィル不良時の制御モー
ド(過渡期モード)と坪量プロフィルが目標範囲の制御
モード(定常時モード)の2モードとされ、過渡モード
では定常モードに比べて以下の点を変更する。(1) There are two control modes: a control mode when the basis weight profile is defective (transient mode) and a control mode in which the basis weight profile is in a target range (steady-state mode). Change the point.
…坪量プロフィル測定値に対するフィルタ定数を定常
時モードに比較して1に近付ける値に切換える。... The filter constant for the basis weight profile measured value is switched to a value that approaches 1 in comparison with the steady-state mode.
即ち、定常時モードのフィルタ定数α,過渡モードのフ
ィルタ定数α′とするとき、 Yn=α′・Xn+(1−α′)・Yn-1 の処理を実行する。ここで、0≦α≦α′、Xnは測定
値、Ynはフィルタリング処理後の測定値である。That is, when the filter constant α in the steady mode and the filter constant α ′ in the transient mode are set, the processing of Y n = α ′ · X n + (1-α ′) · Y n-1 is executed. Here, 0 ≦ α ≦ α ′, X n is a measured value, and Y n is a measured value after filtering.
…過渡期モードでは定常時モードに比べて制御周期を
早める。… In the transition mode, the control cycle is made earlier than in the steady mode.
第2図に示すように、定常モードでは(B)に示すよう
に、制御周期はB/M計の3スキャンに1回であるが、
過渡モードではこれを(A)に示すように、1スキャン
毎とし、ハンチングを防止する。As shown in FIG. 2, in the steady mode, as shown in (B), the control cycle is once every 3 scans of the B / M meter.
In the transient mode, this is set for each scan as shown in (A) to prevent hunting.
…過渡期モードでは不感帯付きのサンプルPI制御が
実行される。同時に比例ゲイン,積分ゲインも切換え変
更され、オーバーシュート気味でも収束の早い値とす
る。即ち、サンプルPI制御演算は、 ΔU=KP{(En−En-1)+KI・En} で実行される。ここで、KPは比例ゲイン、KIは積分
ゲイン、Enは今回のの制御偏差、En-1は前回の制御偏
差である。... In the transition period mode, the sample PI control with the dead zone is executed. At the same time, the proportional gain and integral gain are switched and changed, so that the value will converge quickly even if there is an overshoot. That is, the sample PI control operations are performed by ΔU = K P {(E n -E n-1) + K I · E n}. Here, K P is a proportional gain, K I is an integral gain, E n is a current control deviation, and E n-1 is a previous control deviation.
第3図は偏差の不感帯処理に関する説明図であり、入力
偏差enに対して正負方向に不感帯HYSを設け、 の処理を実行する。Figure 3 is an explanatory diagram related to dead zone processing deviation, the dead zone H YS provided positive and negative directions with respect to the input deviation e n, The process of is executed.
尚、定常時モードでは第9図で説明したサンプルPIに
基づく分配制御方式による制御が実行されるように制御
方式が切換えられる。In the steady state mode, the control method is switched so that the control by the distribution control method based on the sample PI described in FIG. 9 is executed.
(2)制御モードの切換え …過度モードへの切換えは、オペレータが切換えたと
きのみとする。(2) Switching of control mode The switching to the transient mode is performed only when the operator switches.
…過度モードから定常モードへの切換えは、オペレー
タが切換えた場合か、又は偏差の2σが目標値以下にな
ったら自動的に切換えるようにする。The switching from the transient mode to the steady mode is automatically performed when the operator switches or when the deviation 2σ becomes equal to or less than the target value.
第1図は、この様な制御方法を適用した制御装置の機能
ブロック線図を過度モードの場合について示している。FIG. 1 shows a functional block diagram of a control device to which such a control method is applied in the case of the transient mode.
第9図で説明した要素と同一要素については同一番号を
付してその説明は省略し、過度モード特有の要素に就い
ての説明を追加する。The same elements as those described with reference to FIG. 9 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. A description of the elements peculiar to the transient mode will be added.
流れ方向フィルタリング処理機能17については上述の
ようにフィルタ定数が変更され、制御装置全体を規制す
る制御周期も変更される。Regarding the flow direction filtering processing function 17, the filter constant is changed as described above, and the control cycle for regulating the entire control device is also changed.
24は第3図で説明した偏差の不感帯処理機能であり、
従来の非線形化処理機能に代わる。Reference numeral 24 denotes the deviation dead zone processing function described in FIG.
It replaces the conventional non-linearization processing function.
過度形PI演算機能20は、サンプル値PI制御モード
とされ、比例,積分ゲインも変更される。The transient PI calculation function 20 is set to the sample value PI control mode, and the proportional and integral gains are also changed.
従来制御演算出力に対して実行されていた分配処理は過
度モードでは実行されない。The distribution process that was conventionally performed on the control calculation output is not performed in the transient mode.
第4図は、制御モード切換えに関する信号処理の手順を
示すフローチャート図であり、ステップにおける測
定、ステップにおけるスライス対応偏差計算及び2σ
計算の実行の後、ステップで2σが目標値と比較さ
れ、目標値以下では定常制御モードとなる。FIG. 4 is a flow chart showing the procedure of signal processing relating to control mode switching. Measurement at step, calculation of deviation corresponding to slice at step and 2σ
After execution of the calculation, 2σ is compared with the target value in a step, and when it is less than the target value, the steady control mode is set.
2σが目標値以上の場合には、ステップでオペレータ
の過度モードへの切換え履歴がチェックされ、切換えて
いなければそのまま定常モードの制御が実行され、切換
えていれば過度モードの制御が持続される。If 2σ is equal to or larger than the target value, the operator's history of switching to the transient mode is checked in step, and if not switched, the steady mode control is executed as it is, and if switched, the transient mode control is continued.
以上説明した本発明装置の適用例は、抄紙プロセスにお
ける紙のプロフィル制御を目的とするものであるが、次
のような他の適用例,変形実施例が考えられる。The application example of the apparatus of the present invention described above is intended for the profile control of the paper in the paper making process, but the following other application examples and modified examples are possible.
(1)紙厚のプロフィル制御、水分率のプロフィル制
御、フィルム厚みのプロフィル制御にも同様な手法で適
用することが可能である。(1) The same method can be applied to profile control of paper thickness, profile control of moisture content, and profile control of film thickness.
(2)過度モードの制御方式として定常モードと同様な
分配制御方式として、流れ方向フィルタ定数、制御周
期、不感帯、比例ゲイン、積分ゲインを変更する。(2) As a control method for the transient mode, a flow direction filter constant, a control cycle, a dead zone, a proportional gain, and an integral gain are changed as a distribution control method similar to the steady mode.
(3)自動モードへの切換え判定に2σのみでなく、プ
ロフィルの最大値−最少値(Rと呼ぶ)を併用し、 (2σ≦目標値)*(R≦目標値) を切換えの条件としてもよい。(3) Not only 2σ but also the maximum value-minimum value (referred to as R) of the profile is used for the determination of switching to the automatic mode, and (2σ ≦ target value) * (R ≦ target value) is used as the switching condition. Good.
<発明の効果> 以上説明したように、本発明によれば次のような効果が
ある。<Effects of the Invention> As described above, the present invention has the following effects.
(1)過度モードにおける制御方式の切換えにより偏差
の2σの目標値までの収束時間が短縮される。(1) The convergence time to the target value of the deviation 2σ is shortened by switching the control method in the transient mode.
(2)平衡状態となってから従来の分配制御と定常時の
フィルタ定数,制御ゲインを使用するため、安定性と集
束性の良さも今までどうり確保される。(2) Since the conventional distribution control and the steady-state filter constants and control gains are used after the equilibrium state is reached, good stability and focusing can be ensured.
(3)紙の作り始めや品種替え後においても、過度制御
モードにより自動制御状態で早くプロフィル調整される
ため、オペレータの負担が大巾に低減される。(3) Since the profile adjustment is quickly performed in the automatic control state by the transient control mode even after the beginning of paper making or the change of the type of paper, the burden on the operator is greatly reduced.
第1図は本発明を適用した制御装置過度モード構成を示
す機能ブロック線図、第2図は制御周期切換えに関する
説明図、第3図は偏差の不感帯処理に関する説明図、第
4図制御モード切換えに関する信号処理手順を示すフロ
ーチャート図、第5図は抄紙機プロセスの説明図、第6
図は60点プロフィル法によるスライスと測定点の対応
の説明図、第7図はスライス対応プロフィルにおける特
定スライスに対する測定点の対応の説明図、第8図はス
ライスに対する操作量とプロフィルの関係を示す特性
図、第9図は従来の分配制御装置の機能ブロック線図、
第10図はスライスリップの干渉波形図説明図である。 17…流れ方向フィルタリング処理機能、18…スライ
ス毎の偏差値計算機能、20…速度形PI演算機能、2
2…出力処理チェック機能、23…プロセス、24…偏
差の不感帯処理機能FIG. 1 is a functional block diagram showing a control device transient mode configuration to which the present invention is applied, FIG. 2 is an explanatory diagram regarding control cycle switching, FIG. 3 is an explanatory diagram regarding deviation dead zone processing, and FIG. 4 is control mode switching. FIG. 5 is a flowchart showing a signal processing procedure relating to FIG.
FIG. 7 is an explanatory diagram of correspondence between slices and measurement points by the 60-point profile method, FIG. 7 is an explanatory diagram of correspondence of measurement points to specific slices in the slice-corresponding profile, and FIG. 8 shows a relationship between manipulated variables and profiles for slices. A characteristic diagram, FIG. 9 is a functional block diagram of a conventional distribution control device,
FIG. 10 is an explanatory diagram of a slice lip interference waveform diagram. Reference numeral 17 ... Flow direction filtering processing function, 18 ... Deviation value calculation function for each slice, 20 ... Velocity type PI calculation function, 2
2 ... Output processing check function, 23 ... Process, 24 ... Deviation dead zone processing function
Claims (1)
質について、紙幅方向に走査するセンサ(13)により
当該品質を測定し、この測定した紙幅方向の測定値分布
(以下「プロフィル測定値」という)が設定プロフィル
と一致するように当該抄紙プロセスのスライスを操作す
るプロフィル制御装置であって、 プロフィル測定値と設定プロフィルとの偏差プロフィル
が、所定の値よりも大きな値を有するときは過渡モード
とし、その余の場合は定常時モードと判定する手段と、 プロフィル測定値と設定プロフィルとの偏差プロフィル
を各測定点毎に求め、これら測定点毎の偏差信号を対応
するスライス毎に処理すると共に、過渡モードでは定常
時モードに比較して制御周期を短くする偏差計算手段
(18)と、 この偏差計算手段で求めたスライス毎の偏差プロフィル
を入力し、過渡モードでは定常時モードに比較してオバ
ーシュート気味でも収束の早いゲインを用いて制御演算
する制御演算手段(20)と、 を具備し、この制御演算手段の出力に従って前記スライ
スを操作することを特徴とするプロフィル制御装置。1. The quality of paper produced in a papermaking process (23) is measured by a sensor (13) scanning in the paper width direction, and the measured value distribution in the paper width direction (hereinafter referred to as "profile measured value") is measured. ) Is a profile control device that operates the slices of the papermaking process so as to match the set profile, and when the deviation profile between the profile measurement value and the set profile has a value larger than a predetermined value, the transient Mode, and in the remaining cases, means for determining the mode at steady time, and a deviation profile between the profile measurement value and the set profile is obtained for each measurement point, and the deviation signal for each measurement point is processed for each corresponding slice. At the same time, in the transient mode, the deviation calculation means (18) for shortening the control cycle as compared with the steady-time mode and the deviation calculation means were used. The control calculation means (20) for inputting the deviation profile for each rice and performing the control calculation in the transient mode by using the gain which converges faster than the steady-state mode compared with the steady mode is provided. A profile control device for manipulating the slice according to an output.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29411788A JPH063000B2 (en) | 1988-11-21 | 1988-11-21 | Profile control device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29411788A JPH063000B2 (en) | 1988-11-21 | 1988-11-21 | Profile control device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02139490A JPH02139490A (en) | 1990-05-29 |
| JPH063000B2 true JPH063000B2 (en) | 1994-01-12 |
Family
ID=17803511
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29411788A Expired - Lifetime JPH063000B2 (en) | 1988-11-21 | 1988-11-21 | Profile control device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH063000B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7608169B2 (en) * | 2006-08-09 | 2009-10-27 | Honeywell Asca Inc. | Apparatus and method for break recovery in a paper machine or other system |
-
1988
- 1988-11-21 JP JP29411788A patent/JPH063000B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02139490A (en) | 1990-05-29 |
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