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JPH0630369B2 - Wafer transfer device - Google Patents
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JPH0630369B2 - Wafer transfer device - Google Patents

Wafer transfer device

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Publication number
JPH0630369B2
JPH0630369B2 JP61279416A JP27941686A JPH0630369B2 JP H0630369 B2 JPH0630369 B2 JP H0630369B2 JP 61279416 A JP61279416 A JP 61279416A JP 27941686 A JP27941686 A JP 27941686A JP H0630369 B2 JPH0630369 B2 JP H0630369B2
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wafer
chamber
tray
transfer device
vacuum processing
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Inventor
忠信 名越
輝美 六車
裕一 村上
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Toshiba Corp
Shibaura Mechatronics Corp
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Toshiba Corp
Shibaura Engineering Works Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、例えばウェハのエッチング処理のためにウェ
ハを搬送するウェハ搬送装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Object of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to a wafer transfer apparatus for transferring a wafer, for example, for etching processing of the wafer.

(従来の技術) 一般に、半導体ウェハ(以下、単にウェハ)のエッチン
グ処理は、真空処理室において、以下の手順を経て行わ
れれる。
(Prior Art) Generally, an etching process of a semiconductor wafer (hereinafter, simply referred to as a wafer) is performed in a vacuum processing chamber through the following steps.

先ず、大気圧の準備室からウェハを比較的容積の小さい
ロードロック室に搬入した後、準備室とロードロック室
とを遮断する。次に、真空ポンプによりロードロック室
を真空引きし、真空引きが終了したらロードロック室と
真空処理室とを開放してウェハを真空処理室に搬入す
る。次に、ロードロック室と真空処理室とを遮断した
後、真空処理室内でウェハにエッチング処理を施す。
First, after the wafer is loaded from the atmospheric pressure preparation chamber into the load lock chamber having a relatively small volume, the preparation chamber and the load lock chamber are shut off from each other. Then, the load lock chamber is evacuated by a vacuum pump, and when the evacuation is completed, the load lock chamber and the vacuum processing chamber are opened and the wafer is loaded into the vacuum processing chamber. Next, after the load lock chamber and the vacuum processing chamber are shut off from each other, the wafer is etched in the vacuum processing chamber.

エッチング処理が終了したら、真空処理室と予め真空引
きされた比較的容積の小さいアンロード室とを開放して
ウェハをアンロード室に搬送し、真空処理室とアンロー
ド室との間を遮断する。次に、アンロード室に大気を導
入した後、アンロード室と大気圧のウェハ収納室とを開
放し、ウェハをウェハ収納室に搬送する。このような手
順を採ることにより、比較的容積の大きい真空処理室を
真空引きする必要が無くなり、処理時間の短縮が可能と
なる他、真空処理室内への塵埃の流入等も防止される。
When the etching process is completed, the vacuum processing chamber and the unload chamber that is evacuated in advance and has a relatively small volume are opened to transfer the wafer to the unload chamber, and the vacuum processing chamber and the unload chamber are shut off from each other. . Next, after introducing air into the unload chamber, the unload chamber and the atmospheric pressure wafer storage chamber are opened, and the wafer is transferred to the wafer storage chamber. By adopting such a procedure, it is not necessary to evacuate the vacuum processing chamber having a relatively large volume, the processing time can be shortened, and dust can be prevented from flowing into the vacuum processing chamber.

(発明が解決しようとする問題点) このように、ウェハはそのエッチング処理のために一定
の手順で搬送する必要があるが、従来はウェハを単独で
処理室へ搬入しているため、ロボット等の搬送装置によ
るウェハの搬送が困難であった。また、ウェハの保持も
不安定であり、処理室内での処理において応用性がなか
った。本発明は、かかる点に鑑みなされたもので、ウェ
ハをトレーに載置した状態で自走式の搬送装置により各
室間を搬送してエッチング処理ができるような搬送装置
を提供し、処理作業の効率化を図ることを目的とする。
(Problems to be Solved by the Invention) As described above, a wafer needs to be transported in a fixed procedure for its etching process, but conventionally, since the wafer is individually loaded into the processing chamber, a robot, etc. It was difficult to transfer the wafer by the transfer device. Further, the wafer holding was also unstable, and it was not applicable in the processing in the processing chamber. The present invention has been made in view of the above point, and provides a transfer device capable of performing etching processing by transferring between chambers by a self-propelled transfer device in a state where a wafer is placed on a tray. The purpose is to improve the efficiency of.

〔発明の構成〕[Structure of Invention]

(問題点を解決するための手段) そこで、本発明のウェハ搬送装置は、 処理前のウェハを積層しておく繰出室に設置され、積層
された処理前のウェハを一枚ずつ前記繰出室の下流側に
隣接する準備室に繰出すウェハ繰出装置と、 前記準備室に設置され、繰出されたウェハを一旦受けて
トレー上の所定位置に載置するウェハ載置装置と、 前記ウェハ載置装置の下流側にあるロードロック室に設
置され、ウェハが載置された前記トレーを前記ロードロ
ック室の下流側に隣接する真空処理室へ搬送する自走式
の第1ウェハ搬送装置と、 前記真空処理室の下流側に隣接するアンロード室に設置
され、前記真空処理室における処理の済んだウェハをト
レーと共にアンロード室へ搬送する自走式の第2ウェハ
搬送装置と、 前記準備室に設置され、前記第2ウェハ搬送装置によっ
て送られた処理済のウェハをトレーから取上げるウェハ
分離装置と、 前記ウェハ分離装置の下流側にある収納室に設置され、
トレーから取上げた処理済のウェハを積層載置せしめる
ウェハ収納装置と、 前記ウェハ載置装置とウェハ分離装置間を連絡し両装置
間においてトレーを搬送するトレー搬送装置と、を備
え、 処理前のウェハを外部から挿入するための前記繰出室の
開口部と、処理済のウェハを外部へ送出するための前記
収納室の開口部とは、互いに隣接して外部へ面している
ことを特徴とする。
(Means for Solving Problems) Therefore, the wafer transfer apparatus of the present invention is installed in a delivery chamber for stacking unprocessed wafers, and the stacked unprocessed wafers are placed one by one in the delivery chamber. Wafer feeding device for feeding to a preparation chamber adjacent to the downstream side; a wafer placing device installed in the preparation chamber for temporarily receiving the fed wafer and placing it at a predetermined position on a tray; and the wafer placing device. A self-propelled first wafer transfer device that is installed in a load lock chamber on the downstream side of the wafer and transfers the tray on which wafers are placed to a vacuum processing chamber adjacent to the downstream side of the load lock chamber; A self-propelled second wafer transfer device which is installed in an unload chamber adjacent to the downstream side of the processing chamber, and which transfers the processed wafers in the vacuum processing chamber together with a tray to the unload chamber, and is installed in the preparation chamber. And said Placed the processed wafers sent by second wafer transfer apparatus and wafer separating apparatus picking from the tray, the housing chamber located downstream of the wafer separating apparatus,
A wafer storage device for stacking the processed wafers picked up from the tray for stacking, and a tray transfer device for connecting the wafer mounting device and the wafer separating device and transferring the tray between both devices are provided. The opening of the delivery chamber for inserting the wafer from the outside and the opening of the storage chamber for delivering the processed wafer to the outside are adjacent to each other and face the outside. To do.

(作用) 処理前のウェハは一枚ずつウェハ載置装置によってトレ
ー上に載置され、ウェハはトレーとともに自走式の搬送
装置によってロードロック室を経て真空処理室でエッチ
ング処理される。エッチング処理されたウェハは再び搬
送装置によってアンロード室に搬送されてウェハとトレ
ーが分離され、空のトレーはウェハ載置装置内に戻って
次の未処理ウェハのために待機し、処理済のウェハはウ
ェハ収納装置に収納される。このように、ウェハをトレ
ー上に載せて搬送すればウェハを安定して搬送できるば
かりでなく、真空処理室内でのエッチング処理の際トレ
ー上にウェハが載置されているのでウェハの処理に応用
ができる。また、搬送装置が自走式であるため、各室の
遮断が容易に行え、処理効率が上昇する。更に、繰出室
と収納室とが同方向に開口しているため、真空ポンプ等
の機器類を各室の周囲に配置できる。
(Operation) Wafers that have not been processed are placed one by one on the tray by the wafer placing device, and the wafers are etched together with the tray in the vacuum processing chamber through the load lock chamber by the self-propelled transfer device. The etching-processed wafer is again transferred to the unload chamber by the transfer device to separate the wafer from the tray, and the empty tray returns to the wafer mounting device and waits for the next unprocessed wafer. The wafer is stored in the wafer storage device. In this way, not only can the wafer be stably transported if it is carried on the tray, but also because the wafer is placed on the tray during etching processing in the vacuum processing chamber, it can be applied to wafer processing. You can In addition, since the transfer device is self-propelled, each chamber can be easily shut off and the processing efficiency is increased. Furthermore, since the feeding chamber and the storage chamber are open in the same direction, equipment such as a vacuum pump can be arranged around each chamber.

(実施例) 以下、図面を参照して本発明の実施例について説明す
る。
Embodiments Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1、2図において、大気圧の繰出室Rには処理前の
ウェハWを積層せしめ、その一枚を次々に繰出すウェハ
Wの繰出装置1が設けられ、この繰出装置1から送られ
たウェハWは、準備室R内に設けられたウェハ載置装
置2に送られる。準備室Rも大気圧であり、前記ウェ
ハ載置装置2は前記繰出装置1から送られたウェハWを
トレーT上の所定位置に載置するためのものである。ト
レーT上に載せられたウェハWは自走式のウェハ搬送装
置3によってロードロック室Rに運ばれ、準備室R
とロードロック室Rとが遮断される。ロードロック室
の真空引きが終了すると、ウェハWは更に別の自走
式の搬送装置(図示なし)によって真空処理室Rに搬
送され、ロードロック室Rと真空処理室Rとが遮断
される。
In FIGS. 1 and 2, an unwinding wafer W is stacked in an unwinding chamber R 1 at atmospheric pressure, and a wafer W feeding device 1 for feeding one wafer after another is provided. The wafer W is sent to the wafer placement device 2 provided in the preparation room R 2 . The preparation chamber R 2 is also at atmospheric pressure, and the wafer mounting device 2 is for mounting the wafer W sent from the feeding device 1 at a predetermined position on the tray T. The wafer W placed on the tray T is transferred to the load lock chamber R 3 by the self-propelled wafer transfer device 3, and is transferred to the preparation chamber R 2
And the load lock chamber R 3 are shut off. When the evacuation of the load lock chamber R 3 is completed, the wafer W is further transferred to the vacuum processing chamber R 4 by another self-propelled transfer device (not shown), and the wafer W is transferred to the load processing chamber R 3 and the vacuum processing chamber R 4 . Is cut off.

真空処理室R内でエッチング処理されたウェハWは、
自走式の搬送装置4によって予め真空引きされたアンロ
ード室R内に搬送される。次に、真空処理室R内と
アンロード室Rとが遮断されて、アンロード室R
大気が導入される。アンロード室R内では、トレーT
は処理済のウェハWをトレーT上から分離するウェハ分
離装置5に載置され、分離されたウェハWは収納室R
のウェハ収納装置6に搬送される。そして、前記ウェハ
分離装置5でウェハが除かれた後のトレーTはトレー搬
送装置7によって前記ウェハ載置装置2に移される。
The wafer W etched in the vacuum processing chamber R 4 is
It is transported into the unload chamber R 5 that has been evacuated by the self-propelled transport device 4. Next, the vacuum processing chamber R 4 and the unload chamber R 5 are shut off from each other, and the atmosphere is introduced into the unload chamber R 5 . In the unload room R 5 , the tray T
Is placed on the wafer separating device 5 for separating the processed wafer W from the tray T, and the separated wafer W is stored in the storage chamber R 6
Is transferred to the wafer storage device 6. Then, the tray T after the wafer is removed by the wafer separating device 5 is transferred to the wafer mounting device 2 by the tray transfer device 7.

前記繰出装置1は、第2図、第3図に示すように、左右
に間隔を配して設けられたキャリアステージ10a,1
0a上に載置されたウェハキャリア11a,11aを有
し、このウェハキャリア11aにはウェハWが上下に積
層されている。前記キャリアステージ10aの中央には
フレーム12aが設けられ、このフレーム12aの左右
には2対の搬送ベルト13a,13aが設けられ、この
搬送ベルト13aによってウェハキャリア11aの最下
位に位置するウェハWが逐次前記ウェハ載置装置2に送
られる。
As shown in FIG. 2 and FIG. 3, the feeding device 1 has carrier stages 10a, 1 which are provided at intervals on the left and right sides.
The wafer carriers 11a and 11a are mounted on the wafer carrier 0a, and the wafers W are vertically stacked on the wafer carrier 11a. A frame 12a is provided in the center of the carrier stage 10a, and two pairs of transfer belts 13a, 13a are provided on the left and right sides of the frame 12a. The transfer belt 13a serves to move the wafer W positioned at the lowest position of the wafer carrier 11a. The wafers are sequentially sent to the wafer placing device 2.

前記ウェハ載置装置2はフレーム12aと同一平面上に
おいて左右に開閉しウェハを支持する一対の支持装置1
4a,14aを備え、各支持装置14aは第4図に示す
ように、水平支持板15aと、この水平支持板15aの
内側端面に設けられた搬送ベルト16aを備え、前記水
平支持板15aは垂直フレーム17aによって水平に保
持され、この垂直フレーム17aは駆動スクリュー18
aを備え、この駆動スクリュー18aを回転させること
によって左右一対の支持装置14aがガイド19aに沿
って左右に開閉する。
The wafer placing device 2 is a pair of supporting devices 1 for opening and closing left and right on the same plane as the frame 12a to support the wafer.
As shown in FIG. 4, each supporting device 14a is provided with a horizontal support plate 15a and a conveyor belt 16a provided on the inner end surface of the horizontal support plate 15a, and the horizontal support plate 15a is vertical. It is held horizontally by a frame 17a, and this vertical frame 17a has a drive screw 18
A pair of left and right support devices 14a is opened and closed left and right along the guide 19a by rotating the drive screw 18a.

前記支持装置14aの下方には第5図に示すような形状
のウェハ持上装置20aが設けられ、このウェハ支持装
置20aの外側にはトレー持上装置21aが設置されて
いる。これら両装置20a,21aはコ字状の枠22
a,23aと、これら枠上に立設された支持ピン24
a,25aと、これら枠22a,23aを上下動させる
駆動シリンダ26a,27aからなる。前記ウェハ持上
装置20aの支持ピン24aは、第6図に示すようなト
レーTの中心支持部27の貫通穴28,28…28に挿
通されるようになっており、前記トレーTの中心支持部
27にはウェハWが載置される(第7図)。
A wafer lifting device 20a having a shape as shown in FIG. 5 is provided below the supporting device 14a, and a tray lifting device 21a is installed outside the wafer supporting device 20a. Both of these devices 20a and 21a have a U-shaped frame 22.
a, 23a, and a support pin 24 erected on these frames
a, 25a and drive cylinders 26a, 27a for vertically moving these frames 22a, 23a. The support pins 24a of the wafer lifting device 20a are adapted to be inserted into the through holes 28, 28 ... 28 of the center support portion 27 of the tray T as shown in FIG. The wafer W is placed on the section 27 (FIG. 7).

前記支持装置20aとほぼ同一平面においてその近傍に
ウェハ位置決め装置30aが設けられ、このウェハ位置
決め装置30aは、前記一対の支持装置20aが開いて
いる状態でウェハWの下に張り込んでそれを支持し、ウ
ェハWを所定角度回転せしめてトレーTのオリフラ対応
位置に整合せしめるように位置決めする。前記ウェハ位
置決め装置30aは水平動する支持棒31aと、これに
支持されモータによって回転する回転テーブル32a
と、ウェハWの位置を検知するセンサ33aを有し、こ
のセンサ33aはウェハのオリフラがトレーTの中心支
持部27に対応する位置に整合したときに回転テーブル
32aを停止せしめる。
A wafer positioning device 30a is provided in the vicinity of the supporting device 20a on substantially the same plane as the supporting device 20a. The wafer positioning device 30a is attached below the wafer W while the pair of supporting devices 20a is open to support the wafer positioning device 30a. Then, the wafer W is rotated by a predetermined angle and positioned so as to be aligned with the orientation flat corresponding position of the tray T. The wafer positioning device 30a includes a support rod 31a that moves horizontally and a rotary table 32a that is supported by the support rod 31a and is rotated by a motor.
And a sensor 33a for detecting the position of the wafer W. The sensor 33a stops the rotary table 32a when the orientation flat of the wafer is aligned with the position corresponding to the center support portion 27 of the tray T.

前記ウェハ載置装置3によってトレーTの所定位置に載
置されたウェハWはトレーTとともに第8図に示すよう
な搬送体40aによってロードロック室Rに運ばれ
る。前記搬送体40aはトレー台41aと支持フレーム
42aとローラ43aからなり、前記ローラ43aはレ
ール44a上を転動する。なお、搬送体40aに代え
て、第9図に示すような前後に分離したトレー台46
a,46aを有する搬送体45aを使用してもよい。
The wafer W placed on the tray T at a predetermined position by the wafer placing device 3 is carried to the load lock chamber R 3 together with the tray T by the carrier 40a as shown in FIG. The carrier 40a includes a tray base 41a, a support frame 42a, and rollers 43a, and the rollers 43a roll on rails 44a. Instead of the carrier 40a, a tray stand 46 separated into front and rear as shown in FIG.
A carrier 45a having a and 46a may be used.

前記搬送装置4は、前記搬送装置3と同じような構造の
搬送体40bを備え、この搬送体40bはレール44b
上を移動する。また、前記搬送装置4によって移送され
たトレーTと処理済のウェハWはウェハWをトレーTか
ら分離するウェハ分離装置5によって処理されるが、こ
のウェハ分離装置5は前記ウェハ載置装置2とほぼ同一
構造を有している。すなわち、一対の支持装置14b,
14b、この支持装置14bの内側に設けられた搬送ベ
ルト16b、ガイド19b、前記ウェハ載置装置2のウ
ェハ持上装置20a、トレー持上装置21aに対向して
設けられたウェハ持上装置20b、トレー持上装置21
b、更にそれらの駆動シリンダ26b、27bを備えて
いる。前記ウェハ持上装置20bはコ字状の枠22bと
支持ピン24b,24b…24bを有し、前記トレー持
上装置21bはコ字状の枠23bと支持ピン25b,2
5b…25bを有している。
The carrier 4 includes a carrier 40b having a structure similar to that of the carrier 3, and the carrier 40b includes a rail 44b.
Move up. The tray T transferred by the transfer device 4 and the processed wafer W are processed by the wafer separating device 5 that separates the wafer W from the tray T. It has almost the same structure. That is, the pair of supporting devices 14b,
14b, a conveyor belt 16b provided inside the supporting device 14b, a guide 19b, a wafer lifting device 20a of the wafer mounting device 2, and a wafer lifting device 20b provided to face the tray lifting device 21a, Tray lifting device 21
b, and their drive cylinders 26b and 27b. The wafer lifting device 20b has a U-shaped frame 22b and support pins 24b, 24b ... 24b, and the tray lifting device 21b has a U-shaped frame 23b and support pins 25b, 2b.
5b ... 25b.

前記両ウェハ支持装置20a,20b間にはトレー搬送
装置7が設けられ、この装置7はレール50とこの上を
移行する搬送体51からなり、この搬送体51は転動ロ
ーラ52を有している。
A tray transfer device 7 is provided between the two wafer supporting devices 20a and 20b, and this device 7 is composed of a rail 50 and a transfer body 51 which moves above the rail 50. The transfer body 51 has a rolling roller 52. There is.

前記ウェハ分離装置5に隣接して設けられたウェハ収納
装置6は前記繰出装置1と同様の構造を有し、処理済の
ウェハWが一枚ずつ積層される。前記ウェハ収納装置6
はキャリアステージ10b,10b、ウェハキャリア1
1b,11b、フレーム12bおよび搬送ベルト13
b,13bを有している。
The wafer storage device 6 provided adjacent to the wafer separating device 5 has the same structure as the feeding device 1, and the processed wafers W are stacked one by one. Wafer storage device 6
Are carrier stages 10b, 10b, wafer carrier 1
1b, 11b, frame 12b, and conveyor belt 13
b and 13b.

次に、本装置の作用について説明する。Next, the operation of this device will be described.

前記繰出装置1上の未処理のウェハWは搬送ベルト13
aによってウェハWの両端部分を支持するように間隔が
閉じられた一対の支持装置14a上に送られる。このと
きには、トレーTは第3図に示すようにウェハ載置装置
2内に位置したトレー搬送装置7の搬送体51上にあ
る。次いで、駆動シリンダ26aがウェハ持上装置20
aを持ち上げる。このとき、その支持ピン24aはトレ
ーTの貫通穴28を通って上方に突き抜け支持装置14
a上からウェハWを浮かせる。この状態において、ウェ
ハ位置決め装置30aがウェハWの下に入り込み、これ
と同時に前記支持装置14aが開放する。次いで、支持
ピン24aが若干下降し、ウェハWが回転テーブル32
a上に載る。回転テーブル32aが回転し、センサ33
aがウェハWのオリフラを検出すると回転テーブル32
aが停止する。
The unprocessed wafer W on the feeding device 1 is transferred to the transfer belt 13
The wafer W is sent onto a pair of supporting devices 14a whose intervals are closed so as to support both end portions of the wafer W. At this time, the tray T is on the carrier 51 of the tray carrier 7 located in the wafer placing device 2 as shown in FIG. Next, the drive cylinder 26a is moved to the wafer lifting device 20.
Lift a. At this time, the support pin 24a passes through the through hole 28 of the tray T and is pushed upward to support the support device 14a.
The wafer W is floated from above. In this state, the wafer positioning device 30a enters under the wafer W, and at the same time, the supporting device 14a is opened. Then, the support pins 24a are slightly lowered, and the wafer W is rotated by the rotary table 32.
put on a. The rotary table 32a rotates, and the sensor 33
When a detects the orientation flat of the wafer W, the rotary table 32
a stops.

その後、再び支持ピン24aが上昇しウェハWを回転テ
ーブル32b上から浮かせて前記ウェハ位置決め装置3
0aを待機・位置まで戻す。次いで前記支持ピン24a
を大きく下降せしめウェハWを搬送体15上のトレーT
の中心支持部27に整合した位置に載置する。
After that, the support pins 24a are raised again to float the wafer W on the rotary table 32b, and the wafer positioning device 3 is moved.
Return 0a to the standby / position. Next, the support pin 24a
The tray T on the carrier 15 is moved downward by a large amount.
It is placed at a position aligned with the center support portion 27 of.

次いで、トレー持上装置21aを上昇せしめてトレーT
を若干搬送体51から浮かせる。この状態で搬送体51
を前記ウェハ分離装置5のウェハ持上装置20b側の中
間位置に移行せしめると同時に搬送装置3の搬送体40
aをトレーTの下側に移行させ、トレー持上装置21a
を下降させてトレーTを搬送体40a上に載置せしめ
る。こうして、ウェハWはトレーT上に載置されたまま
ロードロック室Rに移され、更に処理室Rに搬送さ
れて真空処理される。
Then, the tray lifting device 21a is raised to raise the tray T.
Is slightly lifted from the carrier 51. In this state, the carrier 51
Is moved to an intermediate position on the wafer lifting device 20b side of the wafer separating device 5, and at the same time, the carrier 40 of the carrier device 3 is moved.
a to the lower side of the tray T, and the tray lifting device 21a
Is lowered to place the tray T on the carrier 40a. In this way, the wafer W is transferred to the load lock chamber R 3 while being placed on the tray T, and further transferred to the processing chamber R 4 for vacuum processing.

真空処理されたウェハWは前記搬送体40b上に移さ
れ、この搬送体40bはウェハ分離装置内に入る。次い
で、トレー持上装置21bを上昇させトレーTを持ち上
げ、この状態で搬送体40bを元の位置に戻す。次い
で、ウェハ持上装置20bを上昇させてウェハWを支持
装置14b上方まで持ち上げる。このとき、支持装置1
4bはウェハWが通り抜けることができるように開いて
おり、ウェハWが上方に通り抜けると支持装置14bの
間隔が狭まり、ウェハ持上装置20bが下降するとウェ
ハWの両端部分がウェハ支持装置14bに載置される。
前記ウェハ持上装置20bの下降が終了すると前記搬送
体51が中間位置からウェハ持上装置20b内に入って
くる。次いで、トレー持上装置21bが下降し空のトレ
ーTが搬送体51上に載置され、空のトレーTは前記ウ
ェハ載置装置2内に送られる。処理済のウェハWは搬送
ベルト16bの駆動によりウェハ収納装置6上へ送られ
る。この動作が次々に繰り返され、トレーTは第2図の
矢印Aのように移動する。
The vacuum-processed wafer W is transferred onto the carrier 40b, and the carrier 40b enters the wafer separating apparatus. Then, the tray lifting device 21b is raised to raise the tray T, and in this state, the carrier 40b is returned to the original position. Then, the wafer lifting device 20b is lifted to lift the wafer W above the supporting device 14b. At this time, the supporting device 1
4b is opened so that the wafer W can pass therethrough. When the wafer W passes upward, the distance between the supporting devices 14b is narrowed, and when the wafer lifting device 20b is lowered, both end portions of the wafer W are mounted on the wafer supporting device 14b. Placed.
When the lowering of the wafer lifting device 20b is completed, the carrier 51 enters the wafer lifting device 20b from the intermediate position. Next, the tray lifting device 21b descends, the empty tray T is placed on the carrier 51, and the empty tray T is sent into the wafer placing device 2. The processed wafer W is sent to the wafer storage device 6 by driving the transfer belt 16b. This operation is repeated one after another, and the tray T moves as shown by an arrow A in FIG.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明は、以上のように構成したので、ウェハをトレー
上に載せたまま真空処理を行なうことができ、ウェハの
搬送を安定して行なうことができるばかりでなく、真空
処理室内をトレーによって上下に仕切りその上方室でウ
ェハを真空処理する等のウェハ処理が可能となり真空処
理の応用性が増大する。また、搬送装置が自走式である
ため、各室の遮断が極めて容易に行い、処理効率が上昇
する。処理前のウェハを外部から挿入するための前記繰
出室の開口部と、処理済のウェハを外部へ送出するため
の前記収納室の開口部とは、互いに隣接して外部へ面し
ているため、真空ポンプ等の機器類の各室の周囲に配置
でき、装置全体の体格を小さくできる。
Since the present invention is configured as described above, not only can the vacuum processing be performed while the wafer is placed on the tray, the wafer can be stably transported, but also the vacuum processing chamber can be moved up and down by the tray. Thus, wafer processing such as vacuum processing of the wafer in the upper chamber of the partition is possible, and the applicability of vacuum processing is increased. Further, since the transfer device is self-propelled, it is very easy to shut off each chamber, and the processing efficiency is increased. Since the opening of the delivery chamber for inserting the unprocessed wafer from the outside and the opening of the storage chamber for sending the processed wafer to the outside are adjacent to each other and face the outside. , Can be arranged around each room of equipment such as a vacuum pump, and the size of the entire apparatus can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本装置の概略全体構成図、第2図は本装置の概
略全体平面構成図、第3図は同側面図、第4図はウェハ
支持装置の斜視図、第5図はウェハ持上装置の斜視図、
第6図はトレーの平面図、第7図はトレーの側面図、第
8、9図はウェハ搬送装置の斜視図である。 1……ウェハ繰出装置、2……ウェハ載置装置、3,4
……ウェハ搬送装置、5……ウェハ分離装置、6……ウ
ェハ収納装置、20a,20b……ウェハ持上装置、2
1a,21b……トレー持上装置,R……ロードロッ
ク室,R……真空処理室,R……アンロード室,T
……トレー。
1 is a schematic overall configuration diagram of the present apparatus, FIG. 2 is a schematic overall plan configuration diagram of the present apparatus, FIG. 3 is a side view of the same, FIG. 4 is a perspective view of a wafer supporting device, and FIG. A perspective view of the upper device,
FIG. 6 is a plan view of the tray, FIG. 7 is a side view of the tray, and FIGS. 8 and 9 are perspective views of the wafer transfer device. 1 ... Wafer feeding device, 2 ... Wafer placing device, 3, 4
... Wafer transfer device, 5 ... Wafer separating device, 6 ... Wafer storage device, 20a, 20b ... Wafer lifting device, 2
1a, 21b ...... tray Jijo device, R 3 ...... load lock chamber, R 4 ...... vacuum processing chamber, R 5 ...... unload chamber, T
……tray.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村上 裕一 神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 株 式会社東芝生産技術研究所内 (56)参考文献 実開 昭61−17742(JP,U) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Yuichi Murakami 8 Shinshinsita-cho, Isogo-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Inside the Toshiba Industrial Research Institute Co., Ltd. (56) References: 61-17742

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】処理前のウェハを積層しておく繰出室に設
置され、積層された処理前のウェハを一枚ずつ前記繰出
室の下流側に隣接する準備室に繰出すウェハ繰出装置
と、 前記準備室に設置され、繰出されたウェハを一旦受けて
トレー上の所定位置に載置するウェハ載置装置と、 前記ウェハ載置装置の下流側にあるロードロック室に設
置され、ウェハが載置された前記トレーを前記ロードロ
ック室の下流側に隣接する真空処理室へ搬送する自走式
の第1ウェハ搬送装置と、 前記真空処理室の下流側に隣接するアンロード室に設置
され、前記真空処理室における処理の済んだウェハをト
レーと共にアンロード室へ搬送する自走式の第2ウェハ
搬送装置と、 前記準備室に設置され、前記第2ウェハ搬送装置によっ
て送られた処理済のウェハをトレーから取上げるウェハ
分離装置と、 前記ウェハ分離装置の下流側にある収納室に設置され、
トレーから取上げた処理済のウェハを積層載置せしめる
ウェハ収納装置と、 前記ウェハ載置装置とウェハ分離装置間を連絡し両装置
間においてトレーを搬送するトレー搬送装置と、を備
え、 処理前のウェハを外部から挿入するための前記繰出室の
開口部と、処理済のウェハを外部へ送出するための前記
収納室の開口部とは、互いに隣接して外部へ面している
ことを特徴とするウェハ搬送装置。
1. A wafer feeding device installed in a feeding chamber for stacking unprocessed wafers, and feeding the stacked unprocessed wafers one by one to a preparation chamber adjacent to a downstream side of the feeding chamber. A wafer placing device that is installed in the preparation chamber and temporarily receives the unwound wafer and places it at a predetermined position on the tray, and a load lock chamber located downstream of the wafer placing device to place the wafer thereon. A self-propelled first wafer transfer device that transfers the placed tray to a vacuum processing chamber adjacent to the downstream side of the load lock chamber, and is installed in an unload chamber adjacent to the downstream side of the vacuum processing chamber, A self-propelled second wafer transfer device that transfers the processed wafer in the vacuum processing chamber to a unload chamber together with a tray, and a processed wafer sent by the second wafer transfer device that is installed in the preparation chamber. Wafer tray A wafer separating device to be removed from the wafer, and is installed in a storage chamber on the downstream side of the wafer separating device,
A wafer storage device for stacking the processed wafers picked up from the tray for stacking, and a tray transfer device for connecting the wafer mounting device and the wafer separating device and transferring the tray between both devices are provided. The opening of the delivery chamber for inserting the wafer from the outside and the opening of the storage chamber for delivering the processed wafer to the outside are adjacent to each other and face the outside. Wafer transfer device.
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