JPH0636134B2 - 薄膜トランジスタマトリツクス及びその形成方法 - Google Patents
薄膜トランジスタマトリツクス及びその形成方法Info
- Publication number
- JPH0636134B2 JPH0636134B2 JP61215278A JP21527886A JPH0636134B2 JP H0636134 B2 JPH0636134 B2 JP H0636134B2 JP 61215278 A JP61215278 A JP 61215278A JP 21527886 A JP21527886 A JP 21527886A JP H0636134 B2 JPH0636134 B2 JP H0636134B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gate
- gate electrode
- bus line
- gate bus
- photoresist film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 第1の発明は、下層側のゲート電極を導出するゲートバ
スラインが、前記ゲート電極と略同一厚さを有する端部
と、該端部より厚い主部とからなる階段状をなすことに
ある。
スラインが、前記ゲート電極と略同一厚さを有する端部
と、該端部より厚い主部とからなる階段状をなすことに
ある。
また第2の発明はその形成方法であって、透明絶縁性基
板表面に複数個のゲート電極及び該ゲート電極を連結す
るゲートバスラインを選択的に形成し、その上に形成し
たポジ型フォトレジスト膜に、上記ゲートバスラインを
マスクとする自己整合法を用いて基板背面からオーバー
露光を施し、上記ゲートバスライン上にフォトレジスト
膜を残留せしめ、このフォトレジスト膜をマスクとして
異方性ドライエッチング法を施して、上記ゲート電極及
びゲートバスラインの露出せる部分の表面を所定量除去
し、しかる後上記フォトレジスト膜を除去することによ
り、ゲートバスラインを階段状の積層構造に形成する。
かくして得られたゲートバスラインは、端部が薄く他の
部分はゲート電極より厚い階段状の断面形状を有するも
のとすることができる。
板表面に複数個のゲート電極及び該ゲート電極を連結す
るゲートバスラインを選択的に形成し、その上に形成し
たポジ型フォトレジスト膜に、上記ゲートバスラインを
マスクとする自己整合法を用いて基板背面からオーバー
露光を施し、上記ゲートバスライン上にフォトレジスト
膜を残留せしめ、このフォトレジスト膜をマスクとして
異方性ドライエッチング法を施して、上記ゲート電極及
びゲートバスラインの露出せる部分の表面を所定量除去
し、しかる後上記フォトレジスト膜を除去することによ
り、ゲートバスラインを階段状の積層構造に形成する。
かくして得られたゲートバスラインは、端部が薄く他の
部分はゲート電極より厚い階段状の断面形状を有するも
のとすることができる。
本発明は、液晶等の駆動に用いる薄膜トランジスタマト
リックスとその形成方法に関する。
リックスとその形成方法に関する。
液晶表示装置の薄膜トランジスタ(以下TFTと略記す
る)マトリックスは、2種類の交叉するバスラインを介
して各TFTを駆動することにより表示を得るが、この
2種類のバスラインと各々のTFT間に短絡が生じる
と、単にこの短絡を生じた部位の画素のみでなく、その
画素を含むライン全体の表示欠陥が発生する。従ってバ
スラインとTFT間の短絡欠陥はTFTマトリックスパ
ネルでは重大な障害となる。
る)マトリックスは、2種類の交叉するバスラインを介
して各TFTを駆動することにより表示を得るが、この
2種類のバスラインと各々のTFT間に短絡が生じる
と、単にこの短絡を生じた部位の画素のみでなく、その
画素を含むライン全体の表示欠陥が発生する。従ってバ
スラインとTFT間の短絡欠陥はTFTマトリックスパ
ネルでは重大な障害となる。
従来のゲート及びゲートバスラインの構造を、第3図
(a)及び(b)の平面図及びB−B矢視部断面図に示す。
(a)及び(b)の平面図及びB−B矢視部断面図に示す。
同図において、1はガラス基板、2はゲートバスライ
ン、3はゲート電極である。
ン、3はゲート電極である。
従来は、ガラス基板1表面に電極材料のTiのような金
属を略80nmの厚さに成膜し、フォトリソパターニング
法,エッチング法により、ゲートバスライン2,ゲート
電極3を形成していた。
属を略80nmの厚さに成膜し、フォトリソパターニング
法,エッチング法により、ゲートバスライン2,ゲート
電極3を形成していた。
このあと、プラズマ化学気相成長(P−CVD)法によ
り、ゲート絶縁膜を形成するのであるが、上記ゲートバ
スライン2及びゲート電極3の肩部において、十分満足
し得るカバレッジが得られず、そのためこの部分で上層
に形成されるアドレス電極などの導電層との短絡欠陥や
耐圧低下等の問題を生じる。
り、ゲート絶縁膜を形成するのであるが、上記ゲートバ
スライン2及びゲート電極3の肩部において、十分満足
し得るカバレッジが得られず、そのためこの部分で上層
に形成されるアドレス電極などの導電層との短絡欠陥や
耐圧低下等の問題を生じる。
そこでカバレッジを良くするために、ゲート電極3の膜
厚を薄くしようとすると、これと同時に形成されるゲー
トバスライン2の膜厚も薄くなってしまうため、バスラ
インの抵抗が高くなり、駆動に支障をきたすとすう問題
が発生する。
厚を薄くしようとすると、これと同時に形成されるゲー
トバスライン2の膜厚も薄くなってしまうため、バスラ
インの抵抗が高くなり、駆動に支障をきたすとすう問題
が発生する。
この難点を解消するため、ゲートバスライン2とゲート
電極3を別工程で形成する方法もあるが、この場合に
は、フォトマスク及び工程が増加するとともにそのため
歩留が低下し、コストが高くなるという問題がある。
電極3を別工程で形成する方法もあるが、この場合に
は、フォトマスク及び工程が増加するとともにそのため
歩留が低下し、コストが高くなるという問題がある。
このように従来の製造方法では、液晶表示装置の特性及
び信頼度に問題があり、この難点を解消しようとすると
フォトマスクを余分に必要とし、歩留の低下や工数の増
大を招くためコスト高となるという問題があった。
び信頼度に問題があり、この難点を解消しようとすると
フォトマスクを余分に必要とし、歩留の低下や工数の増
大を招くためコスト高となるという問題があった。
本発明は、フォトマスクを余分に必要とすることなく、
短絡欠陥や耐圧低下の発生を防止し得る薄膜トランジス
タマトリックス及びその形成方法を提供することを目的
とする。
短絡欠陥や耐圧低下の発生を防止し得る薄膜トランジス
タマトリックス及びその形成方法を提供することを目的
とする。
上記目的を達成するため、第1の発明においては、第1
図(a),(b)の平面図及びA−A矢視部断面図に示すよう
に下層側のゲート電極を導出するゲートバスラインの断
面形状を、ゲート電極と連結する端部はゲート電極と略
同一厚さを有する端部と、この端部より厚い主部とから
なる階段状とした。
図(a),(b)の平面図及びA−A矢視部断面図に示すよう
に下層側のゲート電極を導出するゲートバスラインの断
面形状を、ゲート電極と連結する端部はゲート電極と略
同一厚さを有する端部と、この端部より厚い主部とから
なる階段状とした。
また第2の発明はその形成方法であって、その製造工程
の順に第2図(a)〜(d)に示す。
の順に第2図(a)〜(d)に示す。
3はゲート電極,4はゲートバスラインであて、ガラス
基板のような透明絶縁性基板1表面に、まずこの両者を
同一工程で形成する。このあとゲートバスライン4上に
自己整合法によってフォトレジスト膜5′を形成し、こ
のフォトレジスト膜5′をマスクとして異方性ドライエ
ッチング法を施して上記ゲート電極3及びゲートバスラ
イン4の露出部の表面を所定量除去する。
基板のような透明絶縁性基板1表面に、まずこの両者を
同一工程で形成する。このあとゲートバスライン4上に
自己整合法によってフォトレジスト膜5′を形成し、こ
のフォトレジスト膜5′をマスクとして異方性ドライエ
ッチング法を施して上記ゲート電極3及びゲートバスラ
イン4の露出部の表面を所定量除去する。
このようにしてゲート電極3とこれに連結するゲートバ
スライン2の端部10は薄く、主部11は厚い階段状に形成
でき、従ってゲート電極3及びゲートバスライン4の肩
部におけるカバレッジが改善される。
スライン2の端部10は薄く、主部11は厚い階段状に形成
でき、従ってゲート電極3及びゲートバスライン4の肩
部におけるカバレッジが改善される。
第1図に示すように、ゲートバスラインが階段状構造と
なっているため、ゲート電極3とゲートバスライン4の
膜厚をそれぞれ所望の値に選択できる。従ってゲート電
極3の膜厚を薄くしてもバスライン4の抵抗を自由に制
御することができる。また、第2図に示すように、自己
整合法によりパターニングを行うため、新たなフォトマ
スクは必要なく、しかもこの作業は精密且つ容易であ
る。
なっているため、ゲート電極3とゲートバスライン4の
膜厚をそれぞれ所望の値に選択できる。従ってゲート電
極3の膜厚を薄くしてもバスライン4の抵抗を自由に制
御することができる。また、第2図に示すように、自己
整合法によりパターニングを行うため、新たなフォトマ
スクは必要なく、しかもこの作業は精密且つ容易であ
る。
以下本発明の一実施例を、第1図及び第2図を参照しな
がら説明する。
がら説明する。
第2図(a)〜(d)は本発明一実施例の製造工程を順に示す
図で、ガラス基板1表面に、厚さ略80nmのチタン(T
i)を例えば蒸着法を用いて選択的に被着せしめ、ゲー
ト電極3とこれを連結るすゲートバスライン4を形成す
る。
図で、ガラス基板1表面に、厚さ略80nmのチタン(T
i)を例えば蒸着法を用いて選択的に被着せしめ、ゲー
ト電極3とこれを連結るすゲートバスライン4を形成す
る。
次いで同図(b)に見られる如く、全面にポジ型フォトレ
ジスト膜5を形成し、矢印で示す如くガラス基板1背面
から露光を行う。この時、ゲート(略5μmの幅)3上
のフォトレジスト膜5が総て感光するまでオーバー露光
を行う。このようにすることにより、フォトレジスト膜
5には、ゲートバスライン4上に未露光部5′が生じ
る。
ジスト膜5を形成し、矢印で示す如くガラス基板1背面
から露光を行う。この時、ゲート(略5μmの幅)3上
のフォトレジスト膜5が総て感光するまでオーバー露光
を行う。このようにすることにより、フォトレジスト膜
5には、ゲートバスライン4上に未露光部5′が生じ
る。
次いで同図(c)に見られるように、上記フォトレジスト
膜5を現像することにより、上記の未露光部5′のみが
残留し、他の部分は総て除去されてゲートバスライン4
の端部とゲート電極3全面が表出される。そこでこのフ
ォトレジスト膜5′をマスクとして、4塩化炭素(CC
l4)をエッチャントとして用い、略10Pascalの圧力
の下で、27.56MHzの高周波電力を凡そ300W加
えることにより、異方性エッチングを凡そ5分間施す。
これにより、上記ゲート電極3とゲートバスライン4の
露出部は、40nm程除去される。
膜5を現像することにより、上記の未露光部5′のみが
残留し、他の部分は総て除去されてゲートバスライン4
の端部とゲート電極3全面が表出される。そこでこのフ
ォトレジスト膜5′をマスクとして、4塩化炭素(CC
l4)をエッチャントとして用い、略10Pascalの圧力
の下で、27.56MHzの高周波電力を凡そ300W加
えることにより、異方性エッチングを凡そ5分間施す。
これにより、上記ゲート電極3とゲートバスライン4の
露出部は、40nm程除去される。
次いで上記フォトレジスト膜5′を除去することによ
り、同図(d)に示すように、ゲート電極3とこれに連結
するゲートバスライン4の端部10が略40nm,ゲートバス
ライン4の主部11は略80nmの厚さの階段状に形成され
る。
り、同図(d)に示すように、ゲート電極3とこれに連結
するゲートバスライン4の端部10が略40nm,ゲートバス
ライン4の主部11は略80nmの厚さの階段状に形成され
る。
このあとは通常の製造工程に従って進めることによっ
て、TFTマトリックスが完成する。
て、TFTマトリックスが完成する。
以上のようにして本実施例で得られたTFTマトリック
スは、その製造工程において、前記第2図(b)に示すよ
うに、ガラス基板1背面からオーバー露光することによ
り、ゲート電極3上は総て露光されるのに対して、ゲー
トバスライン4上には未露光部が存在し、この部分がフ
ォトレジスト膜5′として残留する。これをマスクとし
てゲートバスライン4とゲート電極3に異方性ドライエ
ッチングを施すことにより、第1図に示すようにゲート
電極3の膜厚を所望の薄さに形成するとともに、ゲート
バスライン4は大部分を構成する主部11は厚い膜厚を有
し、ゲート電極3を導出するためこれに連結する端部10
は薄い階段状の構造とすることができ、ゲート電極3と
ゲートバスライン4の膜厚をそれぞれ所望の厚さに選ぶ
ことができる。
スは、その製造工程において、前記第2図(b)に示すよ
うに、ガラス基板1背面からオーバー露光することによ
り、ゲート電極3上は総て露光されるのに対して、ゲー
トバスライン4上には未露光部が存在し、この部分がフ
ォトレジスト膜5′として残留する。これをマスクとし
てゲートバスライン4とゲート電極3に異方性ドライエ
ッチングを施すことにより、第1図に示すようにゲート
電極3の膜厚を所望の薄さに形成するとともに、ゲート
バスライン4は大部分を構成する主部11は厚い膜厚を有
し、ゲート電極3を導出するためこれに連結する端部10
は薄い階段状の構造とすることができ、ゲート電極3と
ゲートバスライン4の膜厚をそれぞれ所望の厚さに選ぶ
ことができる。
しかも上記背面露光工程は、ゲートバスライン4をマス
クとする自己整合法によって実施されるので、新たにフ
ォトマスクを作成する必要はなく、またその作業は正確
且ついたって簡単である。
クとする自己整合法によって実施されるので、新たにフ
ォトマスクを作成する必要はなく、またその作業は正確
且ついたって簡単である。
本発明によれば、簡単な工程を付加することにより、ゲ
ート電極の膜厚を薄く、且つゲートバスラインはゲート
電極との連結部ともなる端部が薄く他の部分は厚い階段
状に形成されて、満足し得る導電性を有するものとする
ことができ、しかも両者の肩部におけるカバレッジが改
善されて、上層のアドレス電極などの導電層との短絡欠
陥が少なく耐圧の高いTFTマトリックスパネルが得ら
れる。
ート電極の膜厚を薄く、且つゲートバスラインはゲート
電極との連結部ともなる端部が薄く他の部分は厚い階段
状に形成されて、満足し得る導電性を有するものとする
ことができ、しかも両者の肩部におけるカバレッジが改
善されて、上層のアドレス電極などの導電層との短絡欠
陥が少なく耐圧の高いTFTマトリックスパネルが得ら
れる。
第1図(a),(b)は本発明一実施例のTFTマトリックス
の要部構造を示す図、 第2図(a)〜(d)は本発明一実施例の形成方法を製造工程
の順に示す要部断面図、 第3図(a),(b)は従来のTFTマトリックスの問題点を
説明するための要部構造説明図である。 図において、1はガラス基板、2,4はゲートバスライ
ン、3はゲート電極、5及び5′はフォトレジスト膜、
10は端部、11は主部を示す。
の要部構造を示す図、 第2図(a)〜(d)は本発明一実施例の形成方法を製造工程
の順に示す要部断面図、 第3図(a),(b)は従来のTFTマトリックスの問題点を
説明するための要部構造説明図である。 図において、1はガラス基板、2,4はゲートバスライ
ン、3はゲート電極、5及び5′はフォトレジスト膜、
10は端部、11は主部を示す。
Claims (2)
- 【請求項1】画素対応のトランジスタ素子がマトリック
ス状に配列され、各素子のゲート電極(3)とドレイン
電極が行,列方向のバスラインを通して導出された表示
用アクティブマトリックスパネルにおいて、 前記下層側のゲート電極(3)を導出するゲートバスラ
イン(4)が、前記ゲート電極と略同一厚さを有する端
部(10)と該端部より厚い主部(11)とからなる階段状
をなすことを特徴とする薄膜トランジスタマトリック
ス。 - 【請求項2】画素対応のトランジスタ素子がマトリック
ス状に配列され、各素子のゲート電極(3)とドレイン
電極が行,列方向のバスラインを通して導出された表示
用アクティブマトリックスパネルにおける下層側のゲー
ト電極とゲートバスラインの形成に際し、 透明絶縁性基板(1)表面に、所定の導電性材料を選択
的に被着せしめてゲート電極(3)及び該ゲート電極
(3)に連結するゲートバスライン(4)を形成する工
程と、 前記ゲート電極(3)及びゲートバスライン(4)上を
含む前記透明絶縁性基板(1)表面にポジ型フォトレジ
スト膜(5)を形成し、前記ゲート電極(3)及びゲー
トバスライン(4)をマスクとして前記透明絶縁性基板
(1)背面より前記フォトレジスト膜(5)にオーバー
露光を施し、前記ゲートバスライン(4)上に該ゲート
バスライン(4)より幅の狭いフォトレジスト膜
(5′)を残留せしめる工程と、 前記フォトレジスト膜(5′)をマスクとして異方性ド
ライエッチング法を施し、前記ゲート電極(3)表面及
び前記ゲートバスライン(4)の露出せる部分の表面を
所定量除去する工程と、 前記フォトレジスト膜(5′)を除去する工程とを含む
ことを特徴とする薄膜トランジスタマトリックスの形成
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61215278A JPH0636134B2 (ja) | 1986-09-11 | 1986-09-11 | 薄膜トランジスタマトリツクス及びその形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61215278A JPH0636134B2 (ja) | 1986-09-11 | 1986-09-11 | 薄膜トランジスタマトリツクス及びその形成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6370281A JPS6370281A (ja) | 1988-03-30 |
| JPH0636134B2 true JPH0636134B2 (ja) | 1994-05-11 |
Family
ID=16669665
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61215278A Expired - Lifetime JPH0636134B2 (ja) | 1986-09-11 | 1986-09-11 | 薄膜トランジスタマトリツクス及びその形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0636134B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2746403B2 (ja) * | 1989-02-13 | 1998-05-06 | コニカ株式会社 | 液晶表示装置およびその製造方法 |
-
1986
- 1986-09-11 JP JP61215278A patent/JPH0636134B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6370281A (ja) | 1988-03-30 |
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