JPH0640108B2

JPH0640108B2 - 目盛付き陰極線管の自動較正装置

Info

Publication number: JPH0640108B2
Application number: JP61283038A
Authority: JP
Inventors: ジョン・ピー・ボートライト; アラン・エム・フォイアバーカー; ティモシー・エム・ホルト
Original assignee: ソニー・テクトロニクス株式会社
Priority date: 1985-12-02
Filing date: 1986-11-27
Publication date: 1994-05-25
Anticipated expiration: 2009-05-25
Also published as: US4749907A; NL8602965A; JPS62133363A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、陰極線管の自動較正方法及び装置、詳しくは
目盛付き陰極線管を使用する表示装置の電子ビーム偏向
を自動的に較正する装置に関するものである。

〔従来技術と発明が解決しようとする問題点〕

電気計測機器に用いられる陰極線管(CRT) には、電気信
号に応じて電子ビームで描かれた波形を測定するために
その背面に目盛が設けられたもの（いわゆる内部目盛付
きCRT ）が多い。偏向の精度を補償するためには、定期
的に電子ビームの偏向を目盛に対して較正する必要があ
る。従来、この較正は大部分手作業によつて行われてい
る。すなわち、操作者は、目盛線上へ電子ビームを偏向
するよう高精度の目盛線に対応する入力信号をCRT 駆動
用増幅手段に印加し、目盛線に対するビームの位置を目
視により判定してビームが目盛線に一致するまで増幅手
段を手動調整している。

この手作業による方法は、かなりの時間及び労力を要
し、不経済である。また、比較的不正確でもある。更
に、電子ビームの幅は目盛線の幅より大きく、ビームの
中心の目盛線の中心に目視で一致させるのは困難であ
る。

このような欠点にも拘らず、これが現在最もよく使われ
ている較正方法である。しかし、ビームの位置を自動的
に検出する技術は既に知られている。例えば、カラーテ
レビジヨンに用いられているビームインデツクスCRT で
は、CRT の電子ビームの位置を正確に検出し、個々の原
色発光螢光体に対して正しいビームの位置決めを行つて
いる。米国特許第4,257,869 号、同第2,778,971 号、同
第2,790,107 号及び英国特許第822,017 号は、電子ビー
ムの実際の位置を示す帰還信号を発生するインデツクス
素子、ストリツプ又はバンドを有するCRT を開示してい
る。インデツクス素子は、これを電子ビームが横切つた
とき光又は電子を放射するもので、この放射をCRT 内で
検出して正しい時点でビームを励起するのに利用してい
る。しかし、このようなCRT は、高度で複雑なスクリー
ン技術を要し、製造費が高くなる欠点がある。

ほかに、電子目盛を用いたり、CRT 管面を衝撃するビー
ムを記録するテレビジヨンカメラを用いたりすることも
試みられているが、これらの方法も、較正に比較的長時
間を要し且つ高価となる欠点を有する。

また、陰極線官の管面付近に光電変換素子のような受光
手段を設け、表示される輝線を検出し、利得やオフセッ
トの誤差を演出して補正する装置も提案されている。し
かし、この場合の受光手段も提案されている。しかし、
この場合の受光手段は、表示された輝線の光とそれ以外
の外部光とを識別出来ないので外部環境の影響により誤
動作を起こすという問題があった。

そこで、本発明の目的は、光学的雑音等の外部環境の影
響を受けることなく、目盛付き陰極線管を自動的に較正
することが可能な装置を提供することである。

［問題点を解決する手段及び作用］本発明の目盛付き陰極線管の自動較正装置は、目盛付き
陰極線管に接続され、電子ビームの偏向信号を発生する
特性可変の増幅器（１８又は１８′）と、この増幅器に
供給する予め定めた複数の信号を出力する信号発生手段
（３６）と、電子ビームを変調する変調処理手段（４７
又は６４）と、陰極線管の管面付近に設けられ、該管面
からの光を検出する検出手段（４５）と、この検出手段
の出力信号を復調して上記陰極線管の目盛線に上記電子
ビームが一致したことを検出する復調処理手段（４６）
と、この復調処理手段の出力信号と上記信号発生手段の
出力信号とを比較し、この比較結果に応じて上記増幅器
の特性を調整して上記陰極線管の電子ビームを自動的に
較正する制御手段（３６）とを具備している。

以上の構成により、検出管に管面の表示光と外部環境光
の両方が入力されても、所定の変調を加えた管面上の表
示光のみを復調して検出することが可能となり、外部環
境の影響を受けることなく目盛付き陰極線管を自動較正
することが出来る。

〔実施例〕

（自動較正装置の実施例）本発明による自動較正装置の実施例を第１図に示す。自
動較正装置(15)は、スイッチ(16)，(16′)より、CRT(2
0) を駆動する垂直及び水平可変利得増幅器(18)，(1
8′)に切換え可能に接続されている。CRT(20) は、増幅
器(18)，(18′)にそれぞれ接続されたビーム偏向板(2
6)，(26′)及び電子ビーム(24)を発生する電子銃(22)を
有する。CRT(20) は、第３図（正面図）に示されるよう
なフエースプレート(28)を有する。電子銃(22)に面する
フエースプレート(28)の内側表面上には、目盛(30)が設
けられている。電子銃(22)は、精度制御部(32)より制御
される。目盛(30)は、フエースプレート(28)に衝突する
ビーム(24)よつて描かれる電気的波形の振幅や周波数を
図るための物差しになるものである。この波形は、目盛
(30)に対して電子ビーム(24)を垂直及び水平方向に偏向
する増幅器(18)，(18′)の利得及びオフセツト（偏差）
によつて制御される。較正装置(15)は、あとで詳述する
反復的なステツプ（手順）を通じて増幅器(18)，(18′)
の利得及びオフセツトを自動的に調整することにより、
ビーム(24)を目盛(30)対して較正する。ビーム偏向が一
旦較正されれば、スイツチ(16)，(16′)をＡ側に切換え
てCRT(20) 及び増幅器(18)，(18′)に外部入力(34)を接
続することにより、外部信号の波形を正確に再生するこ
とができる。

スイツチ(16)，(16′)Ｂ側に差動して自動較正を選択す
ると、インテル社製80186 マイクロプロセツサ及びその
関連周辺回路を有する第１図の制御器(36)内のソフトウ
エア・ルーチンの如き信号発生手段によつて較正動作が
開始される。ソフトウエア・ルーチンは、増幅器(18)，
(18′)に対し予め定めた入力信号電圧に対応する複数の
デジタル信号を発生する。これらのデジタル信号は、独
特のサーチパターン状に発生し制御器(36)から信号路(3
5)を経てデジタル・アナログ変換器(DAC)(38) に送り、
ここで正確なアナログ入力電圧に変換する。これらの電
圧は、信号路(37)に送出されスイツチ(16)，(16′)を介
して可変増幅器(18)，(18′)に入力され、増幅器(18)，
(18′)でその利得及びオフセツトに従つて増幅され、ア
ナログ信号路(39)，(39′)を介して偏向板(26)，(26′)
に達し、ビーム(24)をフエースプレート(28)の一部及び
その目盛(30)を横切るように偏向する。増幅器(18)，(1
8′)、プログラマブルなもの又は利得・オフセツトが調
節可能なものである。

CRT 較正時には、プログラマブル増幅器(18)，(18′)の
一方のみを可変とし、他方は一定値に固定する。すなわ
ち、ビームはまず一方向（例えば水平方向）について較
正し、次に他方向（垂直方向）について較正する。以
下、垂直増幅器(18)を例に取つて説明するが、増幅器(1
8′)の較正についても同様である。増幅器(18′)につい
て増幅器(18)と対応する部分には、同一参照番号にダツ
シユ記号を付して示す。

フエースプレート又はスクリーン(28)断面図及び正面図
をそれぞれ第２図及び第３図に示す。両図に示すよう
に、フエースプレート(28)、ガラス製でその内表面上に
目盛(30)目盛線となるガラスフリツト線(40)が印刷され
ている。線(40)は、スクリーンを複数の目盛区分(41)に
分割する。ガラスフリツトは橙色、白色等の色の付いた
ものでよく、その上に螢光体(42)が被覆される。

電子ビーム(24)が発生すると、螢光体(42)を衝撃して光
(43)を発する。光(43)はビームの位置を示す。ビーム(2
4)が目盛線(40)に一致すると、光の一部(43a)は、目盛
線の材料を通してフエースプレート(28)内部へ導入され
る。第２図から判るとおり、この光部分(43a)は内部で
反射されて側端部(44)に向かう。よつて、光部分(43a)
は、フオトトランジスタ(45)の如き光電手段により検出
され、光強度に対応する電気信号に変換できる。

しかし、フオトトランジスタ(45)が拾う光強度は、光部
分(43a)の光強度に加えて周囲光の光強度をも含んだも
のである。第４図は、フオトトランジスタ(45)が全光強
度に応答して発生する電気信号の例を示す。フオトトラ
ンジスタ(45)が拾う周囲光及び他の光学的・電気的雑音
に基づく信号に比べ、上記一致を示す電気的検出信号は
極めて小さい。この電気検出信号を取出して明確な検出
信号を作り出すため、装置(15)は、ビーム変調手段及び
電気信号復調のための信号処理手段を有する。この変調
及び復調によつて、第５図に示すように検出信号が鋭い
デジタル・パルスになり望ましい結果が得られる。

かような変調及び信号処理手段のうち、ビーム位置を変
調する場合の例を第６図及び第７図に示す。第６図にお
いて、発信信号源(47)如きビーム位置変調手段が制御器
(36)に内蔵され、その発振信号は制御器(36)内のソフト
ウエア・ルーチンによつて作られる。この発振信号は、
増幅器(18)に加えられビームが交互に２つの位置に来る
ようにビーム(24)を偏向する（第６Ａ図）。この２つの
ビーム位置は、ビームが連続して目盛線(40)上に来ない
ように適当な間隔で離れており、ビームは、この２つの
位置を交互に動きながら横に移動する。Ｘは初期信号
値、Δ１は約0.2目盛区分の偏向に対応する付加信号
値、Δ２は約0.01目盛区分の偏向に対応する付加信号値
を表わす。ただし、第６Ａ図では、説明上Δ１，Δ２の
目盛区分に対する比率は実際の値とは変えて示してあ
る。発振信号は180゜異なる２つの位相φ_１及びφ_２を
有し、発振信号の位相がφ_２の期間にはどちらの付加信
号も加えない。発振信号の位相がφ_２の期間には、制御
器(36)が発生した原入力信号に付加信号値Δ１を加算す
る。どちらの位相においても一致が生じない場合、第８
図に示し後述するように、基本信号Ｘに増分Δ２を加え
て再び上記の動作を繰返す。

上述のように変調されたビームに応じてフオトトランジ
スタ(45)が発生する電気信号は、信号路(48)を介して信
号処理部(46)内の信号処理手段に送られる。信号処理手
段は、信号路(50)を介して発振信号を受けながら入力電
気信号を復調して検出信号を発生する。信号処理手段内
では、発振周波数に同調した帯域通過フイルタ／バツフ
ア(52)が、フオトトランジスタ(45)の発生した電気信号
Ａを波・緩衝し、被検出光強度に応じた出力電圧Ｂを
発生する。発振信号の位相がφ_１のとき、電圧信号B1が
第１サンプルホールド(S/H) 回路(54)にサンプリングさ
れ、位相がφ_２のとき、その信号B1は第１S/H 回路(54)
に保持されたまま、第２S/H 回路(56)が新たな電圧信号
B2をサンプリングする。両S/H 回路(54)，(56)の各出力
電圧Ｃ，Ｄは差動増幅器(58)に入力され、ここで、一方
の電圧から他方の電圧が引かれて周囲光及び他の雑音に
よる電圧部分が除去される。残りの電圧すなわち出力電
圧Ｅがある場合、これらは、目盛線(40)に隣接する螢光
体(42)を衝撃したビームによる光強度に対応する。電圧
Ｅは、後処理バツフア／低域通過フイルタ(62)に入力さ
れ、非同期エイリアス雑音が軽減された後、その復調信
号が検出信号として送出される。

例えば、位相がφ_１の期間に、ビーム(24)が第６Ａ図の
目盛線(40)に一致したとする。このときのビーム偏向
は、入力信号Ｘにより行われている。第１S/H 回路(54)
の出力端の電圧Ｃは、次のようになる。

電圧Ｃ＝周囲光雑音＋目盛線による信号 …(1) 位相がφ_２の期間、ビーム偏向は、前述のように基本入
力信号Ｘに増分信号値Δ１を加算したものによつて行わ
れる。この例では、ビーム(24)は目盛線(40)を衝撃でき
ず、第２S/H 回路(56)の出力端の電圧Ｄは次のようにな
る。

電圧Ｄ＝周囲光雑音 …(2) 差動増幅器(58)による減算の結果、その出力には目盛線
をビームが衝撃したことによる電圧Ｅのみが残る。

電圧Ｅ＝目盛線による電圧 …(3) 第６図の手段の変形例を第７図に示す。この例では、両
S/H 回路(54)，(56)及び差動増幅器(58)が反転／非反転
増幅器(63)に置換されている。バツフア／フイルタ(52)
の出力電圧Ｂは、増幅器(63)に入力される。この増幅器
の利得の符号（反転又は非反転）は、発振信号の位相φ
_１で決まる。増幅器(63)の出力電圧Ｅは、第７図に示す
ように、ビームが目盛線に一致しないとき対称で、一致
するとき非対称の方形波となる。ビームが目盛線に一致
するとき、電圧Ｅの平均値は０でなくなる。第７図に
は、電圧Ｅが後処理バツフア／フイルタ(62)で平均化さ
れ検出信号として出力されることを示す。

第６図のビーム位置変調手段を用いる場合の流れ図（フ
ローチヤート）を第８図に示す。DAC(38) が発生した初
期信号値Ｘにより、電子ビームは特定の目盛線の領域、
例えば第３水平線の領域に偏向される。第１S/H 回路(5
4)は位相がφ_１の間ストローブされ（サンプリング
し）、次いで、DAC(38) の出力は、ビームをΔ１距離だ
け付加的に偏向するためΔ１だけ増加される。次に、位
相がφ_２の間、第２S/H 回路(56)がストローブされる。
DAC(38) は初期信号値Ｘにリセツトされ、両S/H 回路(5
4)，(56)の出力が互いに比較され、その一方の出力が他
方の出力を超えるかどうかが判定される。両出力が等し
ければ、一致は起こつていないことになる。初期信号値
Ｘは、Ｘ＋Δ２に等しい新たな値Ｘにまで増加される。
このループは、一致による検出信号が発生されるまで繰
り返され、その一致時の入力信号は制御器(36)により記
録される。

ビーム変調手段の第２の例である輝度変調手段とこれに
対応した信号処理手段とを第９図に示す。この例では、
ビーム(24)の変調は、制御器(36)と輝度制御部(32)の間
の信号路に挿入したチヨツピング回路(64)によつて行
う。チヨツピング回路(64)は、予め定めた周波数（代表
的には１kHz 〜50kHz ）でビーム(24)をオン・オフ駆動
する。ビーム(24)制御器(36)からの入力信号に従つて目
盛(30)上を掃引される間、チヨツピング信号は、CRT(2
0) のＺ（輝度）軸に沿う方形波を発生させる。

この場合の、フオトトランジスタ(45)が発生した電気信
号を復調する信号処理手段を、第10図及び第11図に示
す。この信号処理手段は、フオトトランジスタ(45)出力
端に接続され、チヨツピング回路(64)チヨツピング周波
数に同調した帯域通過フイルタ(BPF)(66) を有する。フ
イルタ(66)の出力は、全波整流器(68)に入力される。全
波整流器(68)の出力(69)（図示されている。）は、低域
通過フイルタ(LPF)(70) に入力され、信号値が平均化さ
れて出力(71)得られる。ビーム(24)目盛線(40)に一致す
ると、その結果生じる電気信号は全波整流器(68)に検出
され、LPF(70) により波される。更に、その出力信号
(71)はADC(72) に入力され、検出信号が出力される。第
11図の回路は、ADC(72) がピーク検出器(74)で置換され
ている以外、第10図の回路と同様である。

上記２つの例により電子ビーム(24)を変調し電気信号を
復調した後、その検出信号を信号路(76)を介して制御器
(36)に送る。制御器(36)のマイクロプロセツサ内のソフ
トウエア・ルーチの如き信号比較手段は、各検出時の入
力信号をその対応する入力信号と比較対照する。スクリ
ーン上のビーム位置と入力信号との関係は、第12図にグ
ラフ化されている。このＸ軸は制御器(36)が発生するDA
C 入力コードに対応し、Ｙ軸は目盛線で表わしたビーム
位置（スクリーン位置）に対応している。破線で示すよ
うな２点を取り直線的関係を仮定してプロツトすれば、
入力電圧とビーム位置の関係を示す直線が描ける。この
直線は、次式で表わせる。

ｙ＝mx＋ｂ …(4) ここに、ｍは、DAC(38) の発生した入力電圧信号が増幅
器(18)を通つてビーム(24)を偏向するまでの利得であ
り、ｂは信号路(39)の実効入力オフセツト電圧を示す。

比較手段により検出時の入力信号が記録され、第12図に
表わされるようなデータが与えられると、増幅器(18)の
利得及びオフセツトは、制御器(36)内のマイクロプロセ
ツサにより信号路(78)介して送られる信号によつて調整
される。この調整は、反復して行われ、ビーム(24)が所
定の入力信号に対応する目盛線を正しく衝撃するまで続
けられる。

この調整方法を例を挙げて説明する。いま、増幅器(18)
の入力電圧が６Ｖ変化したときビームが６目盛区分（１
目盛区分につき１目盛線がある。）だけ偏向されること
が望まれ、また、増幅器(18)への入力電圧が−３Ｖのと
き中心目盛線から下へ３番目の目盛線へビームが偏向さ
れ、＋３Ｖのとき中心目盛線から上へ３番目の目盛線へ
ビームが偏向されるべきである、とする。

第１図において、スイツチ(16)が位置Ｂにある状態で、
DAC(38) の出力が2.8 Ｖのとき、信号処理手段(46)から
検出信号が出力されたとする。この検出信号は、電子ビ
ーム(24)が正の第３目盛線を横切つたことを示す。ま
た、DAC(38) −3.1 Ｖを発生したとき、電子ビームが負
の第３目盛線を横切つたことを示す他の検出信号が出力
されたとする。増幅器(18)が正しく調整されていたとす
れば、上記２つの場合、DAC(38) の出力電圧はそれぞれ
＋3.0 Ｖ及び−3.0 Ｖ（すなわち、６目盛区分に対して
６Ｖ）であつた筈である。所望の利得に対する実際の利
得の比率は、次式により定量化できる。

この比は、所望利得が実現されていれば1.0 になる筈で
ある。したがつて、この例では、利得は増幅させる必要
がある。利得を上方に階段的に増加しながらこの測定を
繰返すことにより、所望の利得を得ることができる。

オフセツトの検査を行うには、前述のようにして得られ
た電圧を平均化する。

この結果が０より大か小かを判定する。０より大であれ
ば、増幅器(18)のオフセツトを徐々に下方に修正し、こ
の例のように０より小であれば、オフセツトを徐々に上
方に修正する。この過程を所望のオフセツト（この場合
は０）が得られるまで反復する。増幅器(18)利得を調整
すると第12図の直線の傾きが変わり、オフセツトを調整
すると直線のＹ軸を切り点が変わる。オフセツトが０に
なると、直線は２軸の交点を通過することになる。

いままで述べた方法は、これだけでも十分に調整できる
が、各調整後の目盛線探知に光検出を用いるので、信号
対雑音比が低く或る状況では比較的低速になる。処理を
高速にするために、目盛線(40)に対する電子ビームの位
置をデジタル的に測定するビーム位置測定回路(30)を設
ける。第１図に示すように、回路(80)は、信号路(39)か
ら分岐し、増幅器(18)からの信号をデジタル変換して制
御器(36)へ送る。回路(80)は、増幅器(18)を出力を受け
る増幅器(82)、LPF(84) 及びADC(86) から成り、ADC(8
6) は、信号路(88)を介して制御器(36)に接続される。L
PF(84) は、ADC(86) の入力端における雑音を軽減する
ためのものである。回路(80)は、増幅器(18)の出力電圧
を取出し、これを制御器(36)に記録するため、ADC(86)
により２進値に変換して出力する。目盛線(40)に対する
ビーム(24)の位置はADC(86) の２進出カコードによつて
デジタル的に表わされるので、最初に目盛線(40)を横切
るビームをフオトトランジスタ(45)で検出するだけでよ
く反復して検出する必要はなくなる。

回路(80)の動作について、例を挙げて説明する。第12図
には、制御器(36)からのDAC(38) ２進入力コードとスク
リーン上のビーム位置との線形関係が示されている。こ
の関係は、上述の較正過程をビーム・目盛線一致を光学
的に検出して行う最初の実行（ラン）により得られる。
次に、制御器(36)は、第２の実行において、２本の目盛
線（例えば＋３目盛線及び−３目盛線）に対応するDAC
２進入力コードを発生し、その結果生ずる回路(80)のAD
C ２進出力コードを制御器(36)内に記録する。このDAC
２進入力コードとADC ２進出力コードとの関係は第13図
のようになる。第12図及び第13図のグラフは、共通のパ
ラメータとして、DAC(38) ２進入力コードを有する。第
12図において、第13図の対応するADC(86) ２進出力コー
ドをDAC(38) ２進入力コードの代わりに用いると、ADC
２進出力コードに対するビーム位置の関係を表わす第14
図のグラフが得られる。この関係は、増幅器(18)の利得
とは独立しており、ビーム位置をデジタル的に表わして
いる。

第14図の線形関係が確立すれば、ビーム偏向は、ビーム
(24)の位置を示す回路(80)のADC ２進出力コードを基準
にして調整できる。例えば、電子ビーム(24)の感度を10
mV／目盛区分とし、オフセツトを0Vとする場合を想定す
る。制御器(36)より、オフセツト試験のために0Vに対応
する入力信号を出力する。第14図の破線は、回路(80)が
測定し、ADC(86) が符号化したビーム位置Ａを示す。AD
C ２進出力コード1100は、補間によつて求めた０オフセ
ツトのADC ２進コード1010より大きい。よつて、オフセ
ツトが正の方向に大きすぎており、増幅器のオフセツト
は段階的に下方に修正される。その後、新たな測定が行
われる。この過程は、式(6)に従つてオフセツトを上方
又は下方に徐々に修正しながら、所望のオフセツトが得
られるまで反復される。増幅器(18)利得を設定するため
に、制御器(36)は、＋30mV及び−30mVの如き１対の目盛
線に対応する予め定めた正確な電圧を出力する。測定の
結果、第14図に示すように各ビーム位置につちてADC ２
進出力コードが記録される。ADC ２進出力コードと所望
値との差は式(5)によつて計算され、これに従つて利得
が調整される。この過程は、所望の利得が得られるまで
反復される。

上述した例では、可変増幅器(18)の利得とオフセツトと
は相互に独立であり、その一方の調整は他方に影響しな
い。しかしながら、増幅器によつては、利得及びオフセ
ツトの調整が相互に影響を及ぼし合うものもある。この
ような増幅器では、オフセツト及び利得調整は、所望の
較正が得られるまで周知の収束アルゴリズムを用いて更
に反復する必要がある。

（自動較正方法の実施例）本発明の較正方法は、第１図の実施例において使用され
るものであるが、必ずしもその装置には限定されない。
第15図は、本発明方法の基本的なステツプを示す流れ図
である。一旦、較正が開始されると（ブロツク100 ）、
特定のサーチパターン状に目盛線(40)を横切つて電子ビ
ームを偏向するため制御器(36)に設定された一連の「ベ
ンチマーク」信号（入力信号）が発生される（ブロツク
102 ）。ビームが目盛線(40)に当たると、このビーム・
目盛線一致は光学的に検出され（ブロツク104 ）、検出
時の入力信号が対応する入力信号と比較される（ブロツ
ク106 ）。その比較結果が判定され（ブロツク108 ）、
増幅器の利得及びオフセツトが繰返し調整されて（ブロ
ツク110 ）、最後に所望の精度の較正が完了する（ブロ
ツク112 ）。

上述し且つ第16図に示すように、この第15図の基本的方
法はその動作を高速化することができる。目盛線上の既
知のビーム位置に対応する複数の入力信号が制御器(36)
によつて発生される（ブロツク114 ）。これに基づいて
増幅器(18)が発生する複数のアナログ電圧がデジタル測
定信号に変換され（ブロツク115 ）、制御器(36)に記録
される（ブロツク116 ）。次に、目盛線に対応する所望
電圧値を表わす別の入力信号が制御器(36)から発生され
る（ブロツク118 ）。この入力信号のデジタル変換値が
上記デジタル測定信号と比較され、所望の偏向が生じた
かチエツクされる（ブロツク120 ）。偏向が正しくなけ
れば、増幅器(18)が調整され（ブロツク112 ）、最終的
にビーム偏向が目盛(30)に対して較正される（ブロツク
124 ）まで目盛線に対応する入力信号が再送出される。

以上、本発明の好適実施例について説明したが、本発明
の要旨を逸脱することなく、種々の変形・変更を行うこ
とは可能である。

〔発明の効果〕

本発明の目盛付き陰極線管の自動較正装置は、電子ビー
ムの偏向信号又は輝度信号を変調し、検出信号を復調す
ることにより、外部環境光の影響を容易に排除出来るの
で、従来のような誤動作の恐れがなく、正確に目盛付き
陰極線管を自動較正することが出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
２図は本発明に用いる検出手段の実施例を示す部分断面
図、第３図は目盛付きフェースプレートの正面図、第４
図は第２図の検出手段の出力信号の例を示す波形図、第
５図は第４図の検出信号を示す波形図、第６図は電子ビ
ームの変調処理手段及び対応する復調手段の実施例を示
すブロック図、第６Ａ図は第６図の変調処理による電子
ビームの位置の変化を示すグラフ、第７図は第６図の装
置の変形例を示す図、第８図は第６図の装置の動作を示
す流れ図、第９図は電子ビームの輝度変調手段及びそれ
に対応する復調処理手段の実施例を示すブロック図、第
１０図は第９図の復調処理手段の実施例を示すブロック
図、第１１図は第１０図の変形例を示すブロック図、第
１２図はＤＡＣ３６の入力コードと電子ビームのスクリ
ーン上の位置との関係を示すグラフ、第１３図はＤＡＣ
の入力コードとＡＤＣの出力コードとの関係を示すグラ
フ、第１４図はＡＤＣ出力コードと電子ビームのスクリ
ーン位置との関係を示すグラフ、第１５図は本発明の装
置の動作の一例を示す流れ図、第１６図は本発明の装置
の他の動作の例を示す流れ図である。（１８）又は（１８′）：増幅器（２０）：目盛付き陰極線管（３６）：信号発生手段及び制御手段（４０）：目盛線（４５）：検出手段（４６）：復調処理手段（４７）、（６４）：変調処理手段

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁵ 識別記号庁内整理番号ＦＩ技術表示箇所Ｇ０９Ｇ 1/08 9060−5Ｇ審査官下中義之 (56)参考文献特開昭58−144758（ＪＰ，Ａ) 実開昭59−134072（ＪＰ，Ｕ) 特公平４−3829（ＪＰ，Ｂ２) 特公平５−4634（ＪＰ，Ｂ２)

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】目盛付き陰極線管に接続され、電子ビーム
の偏向信号を発生する特性可変の増幅器と、該増幅器に供給する予め定めた複数の信号を出力する信
号発生手段と、上記電子ビームを変調する変調処理手段と、上記陰極線管の管面付近に設けられ、該管面からの光を
検出する検出手段と、該検出手段の出力信号を復調して上記陰極線管の目盛線
に上記電子ビームが一致したことを検出する復調処理手
段と、該復調処理手段の出力信号と上記信号発生手段の出力信
号とを比較し、この比較結果に応じて上記増幅器の特性
を調整して上記陰極線管の電子ビームを自動的に較正す
る制御手段とを具えることを特徴とする目盛付き陰極線
管の自動較正装置。