JPS6052632B2 - 補正信号の測定方法及び測定装置 - Google Patents
補正信号の測定方法及び測定装置Info
- Publication number
- JPS6052632B2 JPS6052632B2 JP9269782A JP9269782A JPS6052632B2 JP S6052632 B2 JPS6052632 B2 JP S6052632B2 JP 9269782 A JP9269782 A JP 9269782A JP 9269782 A JP9269782 A JP 9269782A JP S6052632 B2 JPS6052632 B2 JP S6052632B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- correction signal
- light receiver
- correction
- picture tube
- Prior art date
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- Expired
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/04—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for receivers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
テレビジョン受像機の受像管において、例えば糸巻き
形歪みを補正する場合には、従来は垂直周期及び水平周
期のパラボラ波を垂直偏向信号及び水平偏向信号に重畳
して行つていた。
形歪みを補正する場合には、従来は垂直周期及び水平周
期のパラボラ波を垂直偏向信号及び水平偏向信号に重畳
して行つていた。
しかしながら、大形の受像管においては、単なるパラボ
ラ波では完全な補正を行うことはできない。 そこで例
えばラスタを吹出し、蛍光面の任意の点でビームが正し
くランデインクするように偏向信号を補正し、そのとき
必要とした補正量を測定すると共に、蛍光面の全面にわ
たつて同じ操作を繰り返し、各点の補正量をプロットし
て必要な補正信号の波形を得ることが行われている。
ラ波では完全な補正を行うことはできない。 そこで例
えばラスタを吹出し、蛍光面の任意の点でビームが正し
くランデインクするように偏向信号を補正し、そのとき
必要とした補正量を測定すると共に、蛍光面の全面にわ
たつて同じ操作を繰り返し、各点の補正量をプロットし
て必要な補正信号の波形を得ることが行われている。
ところでこのような測定を行う場合には、測定点の位
置を知る必要がある。
置を知る必要がある。
そのため従来は、蛍光面上にスケールを当てて位置を測
定するようにしていた。 ところが受像管において、ラ
スタは蛍光面よりも大きく、いわゆるオーバースキャン
されている。
定するようにしていた。 ところが受像管において、ラ
スタは蛍光面よりも大きく、いわゆるオーバースキャン
されている。
このため蛍光面上で位置を測定しても、その位置と偏向
信号上での位置とは一致しない。またスケールを目で見
て測定するため正確な値を得ることもむずカルい。従つ
て、そのような測定量をプロットして得た補正信号を偏
向信号に重畳しても正しい補正を行うことはできなかつ
た。 本発明はこのような点にかんがみ、簡単な構成で
、正確な補正信号の波形を得ることができるようにした
ものである。
信号上での位置とは一致しない。またスケールを目で見
て測定するため正確な値を得ることもむずカルい。従つ
て、そのような測定量をプロットして得た補正信号を偏
向信号に重畳しても正しい補正を行うことはできなかつ
た。 本発明はこのような点にかんがみ、簡単な構成で
、正確な補正信号の波形を得ることができるようにした
ものである。
以下、図面を参照しながら本発明の一実施例について
説明しよう。
説明しよう。
なお、この例では垂直方向の糸巻き歪みの補正信号を測
定する場合について述べる。 第１図において、偏向回
路１からの水平及び垂直偏向信号が受像管２の偏行コイ
ル３に供給される。
定する場合について述べる。 第１図において、偏向回
路１からの水平及び垂直偏向信号が受像管２の偏行コイ
ル３に供給される。
また、垂直偏向信号の一部がパラボラ波発生回路４に供
給され、この発生回路４からのパラボラ波信号Ｂａが補
正用の偏向コイル５に供給される。また、このパラボラ
波信号Ｂａが２現象のオシロスコープ６に供給される。
さらに受光器７からの検出信号Ｓｂがアツテネータ８を
通じてオシロスコープ６に供給される。従つてこの回路
において、オシロスコープ６には第２図に示すようにパ
ラボラ波信号Ｓａが映出される。
給され、この発生回路４からのパラボラ波信号Ｂａが補
正用の偏向コイル５に供給される。また、このパラボラ
波信号Ｂａが２現象のオシロスコープ６に供給される。
さらに受光器７からの検出信号Ｓｂがアツテネータ８を
通じてオシロスコープ６に供給される。従つてこの回路
において、オシロスコープ６には第２図に示すようにパ
ラボラ波信号Ｓａが映出される。
それと共に、受光器７を蛍光面の任意の点に当てること
により、その点を電子ビームが通過したときの発光が検
出され、これが検出信号Ｓｂとして映出される。そして
この場合にパラボラ波信号Ｓａと検出信号Ｓｂとは、時
間軸が一致している。そこで、受光器７を当てている点
が正確なランディング状態となるようにパラボラ波発生
回路４を調整し、そのときの信号Ｓｂの立ち上がり点と
信号Ｓａとの交点のレベルＢを読み取れば、その点の必
要な補正量を測定することができる。
により、その点を電子ビームが通過したときの発光が検
出され、これが検出信号Ｓｂとして映出される。そして
この場合にパラボラ波信号Ｓａと検出信号Ｓｂとは、時
間軸が一致している。そこで、受光器７を当てている点
が正確なランディング状態となるようにパラボラ波発生
回路４を調整し、そのときの信号Ｓｂの立ち上がり点と
信号Ｓａとの交点のレベルＢを読み取れば、その点の必
要な補正量を測定することができる。
また、パラボラ波信号Ｓａは垂直偏向信号に同期してい
るので、この信号Ｓａの始めから信号Ｓｂの立ち上がり
点までの距離′を測定することにより、偏向信号上での
測定点の位置を正確に知ることができる。そして測定点
を順次変化させ、測定されたレベルＢと距離′とをプロ
ットすることにより、必要な補正信号の波形を得ること
ができる。
るので、この信号Ｓａの始めから信号Ｓｂの立ち上がり
点までの距離′を測定することにより、偏向信号上での
測定点の位置を正確に知ることができる。そして測定点
を順次変化させ、測定されたレベルＢと距離′とをプロ
ットすることにより、必要な補正信号の波形を得ること
ができる。
なお実際には、測定点を順次変えていき、そのときどき
の交点をオシロスコープ上にプロットすることにより、
直接必要な波形を得ることもできる。
の交点をオシロスコープ上にプロットすることにより、
直接必要な波形を得ることもできる。
こうして補正信号の波形を測定することができるわけで
あるが、本発明によれば、測定点を正確に知ることがで
きるので、測定される補正信号の波形が正確になる。
あるが、本発明によれば、測定点を正確に知ることがで
きるので、測定される補正信号の波形が正確になる。
なお本発明は糸巻き形歪みの補正に限らす、リニアリテ
ィ、リンギング、ミスコンバージエンス等の補正信号の
測定にも使用できる。
ィ、リンギング、ミスコンバージエンス等の補正信号の
測定にも使用できる。
また上述の例は垂直周期の測定の場合について述べたが
、水平周期の測定の場合には信号Ｓｂの波形が鈍つて測
定しにくくなる。
、水平周期の測定の場合には信号Ｓｂの波形が鈍つて測
定しにくくなる。
そこで水平周期の測定の場合には検出信号Ｓｂを微分回
路に供給し、さらにその微分信号をスライスして明瞭な
波形を得ることができる。さらに信号Ｓａをデジタル測
定器に供給し、受光器からの信号で測定器をトリガして
、レベルを表示させるようにしてもよい。
路に供給し、さらにその微分信号をスライスして明瞭な
波形を得ることができる。さらに信号Ｓａをデジタル測
定器に供給し、受光器からの信号で測定器をトリガして
、レベルを表示させるようにしてもよい。
第１図は本発明の一例の系統図、第２図はその説明のた
めの波形図である。 ５は補正用の偏向コイル、６はオシロスコープ、７は受
光器である。
めの波形図である。 ５は補正用の偏向コイル、６はオシロスコープ、７は受
光器である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 受像管のビーム走査位置を補正する補正信号を発生
する補正信号発生器からの上記補正信号を波形測定器に
供給するとともに、上記受像管の前面の任意の点におい
た受光器からの信号を上記波形測定器に供給して、上記
受光器からの信号により上記任意の点における上記補正
信号のレベルを測定するようにした補正信号の測定方法
。 ２ 受像管のビーム走査位置を補正する補正信号を発生
する補正信号発生器と波形測定器と受光器とを有し、上
記受光器を上記受像管の前面の任意の位置におき、上記
補正信号発生器と上記受光器を上記波形測定器に接続し
、上記受光器からの信号により上記任意の点における上
記補正信号のレベルを測定するようにした補正信号の測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9269782A JPS6052632B2 (ja) | 1982-05-31 | 1982-05-31 | 補正信号の測定方法及び測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9269782A JPS6052632B2 (ja) | 1982-05-31 | 1982-05-31 | 補正信号の測定方法及び測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5850864A JPS5850864A (ja) | 1983-03-25 |
| JPS6052632B2 true JPS6052632B2 (ja) | 1985-11-20 |
Family
ID=14061685
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9269782A Expired JPS6052632B2 (ja) | 1982-05-31 | 1982-05-31 | 補正信号の測定方法及び測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6052632B2 (ja) |
-
1982
- 1982-05-31 JP JP9269782A patent/JPS6052632B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5850864A (ja) | 1983-03-25 |
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