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JPH0640245B2 - Thin film transistor matrix circuit - Google Patents
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JPH0640245B2 - Thin film transistor matrix circuit - Google Patents

Thin film transistor matrix circuit

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JPH0640245B2
JPH0640245B2 JP61043311A JP4331186A JPH0640245B2 JP H0640245 B2 JPH0640245 B2 JP H0640245B2 JP 61043311 A JP61043311 A JP 61043311A JP 4331186 A JP4331186 A JP 4331186A JP H0640245 B2 JPH0640245 B2 JP H0640245B2
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thin film
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悟 川井
健一 梁井
安宏 那須
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Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 本発明は、簡略化されたプロセスによる薄膜トランジス
タマトリックスにおいて、ゲート電極及びゲートバスラ
イン上に形成される寄生TFTによる制御信号の表示電
極への混入を防止するために、寄生TFTと画素電極を
電気的に分離することによって、制御信号が画素電極に
混入しない薄膜トランジスタマトリックスを実現する様
にしたものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Outline] The present invention is intended to prevent a control signal from being mixed into a display electrode by a parasitic TFT formed on a gate electrode and a gate bus line in a thin film transistor matrix by a simplified process. In addition, by electrically separating the parasitic TFT and the pixel electrode, it is possible to realize a thin film transistor matrix in which a control signal is not mixed into the pixel electrode.

〔産業上の利用分野〕 本発明は簡略化されたプロセスによる薄膜トランジスタ
マトリックスの構造に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a structure of a thin film transistor matrix by a simplified process.

薄膜トランジスタマトリックスを内蔵した液晶ディスプ
レイは、CRTなみの良好なカラー表示が可能なことか
ら壁かけテレビやフラットなカラーOA端末などを用途
に開発が進められている。このアクティブマトリックス
型の液晶パネルは薄膜トランジスタ(TFT)を作成工
程でのマスクを低減することが必要であり、簡素化され
たプロセスのTFT構造が提案されているが、寄生TF
Tを通じての信号が混入する等の特性面での悪影響があ
る。このため簡略化されたプロセスで、かつ特性の良い
薄膜トランジスタを実現する事が要望されている。
A liquid crystal display with a built-in thin film transistor matrix is capable of color display as good as that of a CRT, and is therefore being developed for applications such as wall-mounted televisions and flat color OA terminals. This active matrix type liquid crystal panel needs to reduce a mask in a process of forming a thin film transistor (TFT), and a TFT structure of a simplified process has been proposed.
There is an adverse effect on the characteristics such as mixing of signals through T. Therefore, it is desired to realize a thin film transistor having excellent characteristics with a simplified process.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

今日アクティブマトリックス液晶装置のアクティブマト
リックス素子の製造方法として各種の技術が開発されて
いる。例えば単結晶シリコン又は多結晶シリコンMOS
FETやアモルファスシリコン又はカドミウムセレン薄
膜トランジスタ等を使用したものが知られている。しか
しながら、これらのアクティブマトリックス素子を形成
するには、一般には数多くのフォトリソグラフィ工程を
ともなう複雑な工程を必要とし、これが製造上やコスト
面で不利なものとなっていた。
Various techniques have been developed today as a method for manufacturing an active matrix element of an active matrix liquid crystal device. For example, single crystal silicon or polycrystalline silicon MOS
A device using an FET, amorphous silicon, a cadmium selenium thin film transistor, or the like is known. However, in order to form these active matrix elements, generally, complicated steps involving many photolithography steps are required, which is disadvantageous in terms of manufacturing and cost.

そこで製造工程を簡略化した、簡略化プロセスによる薄
膜トランジスタマトリックス回路の製造方法が提案され
次の文献にその一例が載っている。
Therefore, a method of manufacturing a thin film transistor matrix circuit by a simplified process in which the manufacturing process is simplified has been proposed, and an example thereof is given in the following document.

“AN IMPROVED DESIGN OF ACTIVE MATRIX LCD REQUIRIN
G ONLY TWO PHOTOLITHOGRAPHIC STEPS"1985 INTENATION
AL DISPLAY RESEARCH CONFERENCE。
"AN IMPROVED DESIGN OF ACTIVE MATRIX LCD REQUIRIN
G ONLY TWO PHOTOLITHOGRAPHIC STEPS "1985 INTENATION
AL DISPLAY RESEARCH CONFERENCE.

この文献ではトップゲート型(スタッガード型)TFT
に関するものが述べられている。
In this document, a top gate type (staggered type) TFT is used.
Stuff is mentioned.

第8図は従来のTFTマトリックス回路の1画素領域の
平面図、第7図は第8図におけるa−a′断面図を示
す。
FIG. 8 is a plan view of one pixel area of a conventional TFT matrix circuit, and FIG. 7 is a sectional view taken along the line aa 'in FIG.

図において、1はITOで形成されたドレインバスライ
ン、2はITOで形成された画素電極、3はリンをドー
プした水素化アモルファスシリコン(a-SiH-n
層、4は水素化アモルファスシリコン(a-SiH)層、
5は酸化シリコン(SiO2)層、6はアルミニウムのゲ
ートバスライン、7はソース電極、12はガラス基板で
ある。
In the figure, 1 is a drain bus line made of ITO, 2 is a pixel electrode made of ITO, and 3 is hydrogenated amorphous silicon (a-SiH-n + ) doped with phosphorus.
Layers 4 are hydrogenated amorphous silicon (a-SiH) layers,
Reference numeral 5 is a silicon oxide (SiO 2 ) layer, 6 is an aluminum gate bus line, 7 is a source electrode, and 12 is a glass substrate.

このTFTマトリックス回路は2枚のマスク工程で形成
でき、アモルファスシリコン活性層(a-SiH)4は最
上部のゲートバスライン6を製作する時のマスクと同一
のマスクでパターニングされるので簡略にTFTが製造
できる。
This TFT matrix circuit can be formed by a two-mask process, and the amorphous silicon active layer (a-SiH) 4 is patterned by the same mask as the mask used when the uppermost gate bus line 6 is manufactured. Can be manufactured.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

ところで第7図および第8図に示したTFTマトリック
ス回路の製造プロセスは簡略化されているが、反面次の
ような問題点が発生する。
The manufacturing process of the TFT matrix circuit shown in FIGS. 7 and 8 is simplified, but the following problems occur.

つまり前述した如く、アモルファスシリコンの活性層4
がゲートバスライン6の下全面にわたって最絡的に残る
構造となっているので、第9図の等価回路に示す如く、
アドレス用TFT8以外に寄生TFT9が形成されてし
まう。
That is, as described above, the active layer 4 of amorphous silicon is used.
Has a structure that remains in a most entangled manner over the entire lower surface of the gate bus line 6, as shown in the equivalent circuit of FIG.
A parasitic TFT 9 is formed in addition to the address TFT 8.

この寄生TFT9は、画素電極2と1つ隣りのドレイン
バス1′の間に入ることとなる。
This parasitic TFT 9 will be located between the pixel electrode 2 and the drain bus 1 ′ adjacent thereto.

この回路ではアドレス時に隣りのドレインバスライン
1′から寄生TFT9を通じてデータ信号が混入するほ
かに、寄生TFT9のゲート電極とアドレス用TFT8
の間の容量結合により、アドレスパルスがアドレス用T
FT8のソース電極7(即ち画素電極2)に混入すると
いう問題が生じる。これらの内、特に後者のゲート、ソ
ース電極間容量を通じての信号混入は寄生TFT9の容
量が大きいため、その影響は大きい。
In this circuit, in addition to mixing a data signal from the adjacent drain bus line 1'through the parasitic TFT 9 at the time of address, the gate electrode of the parasitic TFT 9 and the address TFT 8 are also included.
Due to the capacitive coupling between the
There arises a problem of mixing with the source electrode 7 (that is, the pixel electrode 2) of the FT 8. Of these, the signal mixing through the capacitance between the gate and source electrodes of the latter has a large effect because the capacitance of the parasitic TFT 9 is large.

このために、液晶セル10へかかる実効値電圧をデータ
電圧(アドレス時のデータバスの電位)によって精度良
く制御する事が困難となり特に階調表示を行なおうとす
るとき大きな問題となる。
For this reason, it becomes difficult to accurately control the effective value voltage applied to the liquid crystal cell 10 by the data voltage (potential of the data bus at the time of addressing), which becomes a serious problem especially when performing gradation display.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明の目的は従来の簡略方法でTFTマトリックスを
製作する場合の上記問題点を解決するもので、本発明に
よれば、この目的は画素毎に設けた薄膜トランジスタ
(TFT)と、該TFTのゲート電極と接続されるゲー
トバスラインと、該TFTのドレイン電極と接続される
ドレインバスラインを有し、該TFTにより画素電極を
駆動する薄膜トランジスタマトリックス回路において、 該ゲートバスラインおよびゲート電極の上部(又は下
部)に該ゲートバスラインおよびゲート電極と重なる半
導体層を設け、ドレインバスラインと重ならない該半導
体層領域を当該画素TFTのドレイン電極により、隣接
するドレインバスライン(又は隣接するドレインバスラ
インおよびドレイン電極)に接する第1の領域と、当該
画素TFTのドレイン電極(又はドレイン電極およびド
レインバスライン)にのみ接する第2の領域に分割し、
該第2の領域にソース電極を設け、このソース電極と画
素電極を接続した事を特徴とする薄膜トランジスタマト
リックス回路により達成される。
The object of the present invention is to solve the above problems when a TFT matrix is manufactured by a conventional simple method. According to the present invention, the object is to provide a thin film transistor (TFT) provided for each pixel and a gate of the TFT. In a thin film transistor matrix circuit having a gate bus line connected to an electrode and a drain bus line connected to a drain electrode of the TFT, and driving the pixel electrode by the TFT, the gate bus line and the upper part of the gate electrode (or A semiconductor layer that overlaps with the gate bus line and the gate electrode is provided in the lower part), and the semiconductor layer region that does not overlap with the drain bus line is formed by the drain electrode of the pixel TFT, the adjacent drain bus line (or the adjacent drain bus line and drain). The first region in contact with the electrode) and the drain of the pixel TFT Divided into a second region that contacts only the electrode (or drain electrode and drain bus line),
The thin film transistor matrix circuit is characterized in that a source electrode is provided in the second region and the source electrode and the pixel electrode are connected.

〔作用〕[Action]

本発明のTFTマトリックス回路では、ドレイン電極を
中心に、アドレス用TFTと寄生TFTを分離する構成
となるので、第3図の等価回路に示すようにアドレス用
TFT8と寄生TFT9が電気的に分離されるので寄生
TFT9を通じてアドレス用TFT8のソース電極7
(画素電極2)への信号混入がなくなり良好な表示品質
を得ることができる。
In the TFT matrix circuit of the present invention, the address TFT and the parasitic TFT are separated from each other around the drain electrode, so that the address TFT 8 and the parasitic TFT 9 are electrically separated as shown in the equivalent circuit of FIG. Source electrode 7 of address TFT 8 through parasitic TFT 9
Signals are not mixed into the (pixel electrode 2), and good display quality can be obtained.

〔実施例〕〔Example〕

次に図面により本発明の詳細な説明する。 The present invention will now be described in detail with reference to the drawings.

第1図は本発明の第1の実施例によるTFTマトリック
ス回路の1画素領域の平面図、第2図は第1図における
l−l′−l″断面図、第3図は等価回路を示す。
FIG. 1 is a plan view of one pixel area of a TFT matrix circuit according to the first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line 1'-1 'in FIG. 1, and FIG. 3 shows an equivalent circuit. .

第1図および第2図を参照しながら本発明のTFTマト
リックス回路の製造法を説明する。
A method of manufacturing the TFT matrix circuit of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2.

まず第1の工程として、ガラス基板12上に透明導電膜
としてITOを蒸着等で500〜2000Åの厚さに形成
し、その上にシランガス(SiH4),Hガス、PHガス
の混合ガスを使用してプラズマCVD法によりリン
(P)ドープ水素化アモルファスシリコン膜(a-SiH-
n)を100〜500Åの厚さに形成する。
First, as a first step, ITO is formed as a transparent conductive film on the glass substrate 12 by vapor deposition or the like to a thickness of 500 to 2000 Å, and a mixed gas of silane gas (SiH 4 ), H 2 gas, and PH 3 gas is formed thereon. (P) -doped hydrogenated amorphous silicon film (a-SiH-
n + ) is formed to a thickness of 100 to 500Å.

次に第1のマスクを使用してドレインバスライン1,
1′およびドレイン電極11,画素電極2おそびソース
電極7の部分を残して他をエッチングにて除去する。
Next, using the first mask, the drain bus line 1,
1 ', the drain electrode 11, the pixel electrode 2, and the source electrode 7 are left, and the others are removed by etching.

次に第2の工程として、SiHガスとHガスの混合
ガスを使用し、プラズマCVD法によりアモルファスシ
リコン半導体層(a-SiH)4を100〜1000Åの厚さ
に形成する。さらにその上にアルミニウムを蒸着によっ
て2000Å〜1μmの厚さに形成し、第2のマスクを
使用してゲートバスライン6、ゲート電極13をパター
ニング形成し、ゲートバスライン6、ゲート電極13以
外のアルミニウム層とa-SiH-n層をエッチングで除
去する。
Next, as a second step, a mixed gas of SiH 4 gas and H 2 gas is used, and an amorphous silicon semiconductor layer (a-SiH) 4 is formed to a thickness of 100 to 1000Å by a plasma CVD method. Further, aluminum is vapor-deposited thereon to a thickness of 2000 Å to 1 μm, and the gate bus line 6 and the gate electrode 13 are patterned and formed using the second mask, and aluminum other than the gate bus line 6 and the gate electrode 13 is formed. The layer and the a-SiH-n + layer are removed by etching.

なお上記a-SiH-n層はオーミックコンタクトを良好
に保つために挿入されている。
The a-SiH-n + layer is inserted to maintain good ohmic contact.

本発明では第1図に示す如く、ゲートバスライン6およ
びゲート電極13の下に存在する半導体層であって、か
つドレインバスライン1,1′と重ならない部分(第1
図における斜線部分)をドレイン電極11で完全に寄生
TFTの部分とアドレス用TFTの部分の部分に2
分した構成になっている。
In the present invention, as shown in FIG. 1, a portion of the semiconductor layer existing under the gate bus line 6 and the gate electrode 13 and not overlapping the drain bus lines 1 and 1 '(first
The hatched portion in the figure) is completely replaced by the drain electrode 11 in the parasitic TFT portion and the address TFT portion.
It is a divided structure.

アドレス用TFTのチャネルはドレイン電極11とソー
ス電極7の間に形成されることとなり、第3図の等価回
路に示すように、このアドレス用TFT8は寄生TFT
9と電気的に分離され、この構成であれば寄生TFT9
を通して、アドレス用TFTの画素電極2に信号が混入
することがなくなる。
The channel of the address TFT is formed between the drain electrode 11 and the source electrode 7, and as shown in the equivalent circuit of FIG. 3, the address TFT 8 is a parasitic TFT.
9 is electrically separated, and in this configuration, the parasitic TFT 9
Therefore, no signal is mixed into the pixel electrode 2 of the address TFT.

第4図〜第6図は本発明の他の実施例によるTFTマト
リックス回路の平面図を示すものであり、製造方法およ
び等価回路は第1図の実施例の場合と同じである。
4 to 6 are plan views of a TFT matrix circuit according to another embodiment of the present invention, and the manufacturing method and the equivalent circuit are the same as those in the embodiment of FIG.

なお第5図の実施例の場合はゲートバスライン6はゲー
ト電極を含んだパターンであり、第6図の実施例ではド
レインバスライン1,1′はドレイン電極を含んだパタ
ーンとなっている。
In the embodiment shown in FIG. 5, the gate bus line 6 has a pattern including a gate electrode, and in the embodiment shown in FIG. 6, the drain bus lines 1 and 1'have a pattern including a drain electrode.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように、本発明によれば、簡略化プロセス
によるTFTマトリックス回路を採用しても、アドレス
用TFTと寄生TFTが電気的に分離されているので、
寄生TFTを通して、アドレス用TFTに信号の混入が
なくなり、液晶セルに対する精度よい電圧制御が可能と
なり高品質の階調表示が可能となり、かつ表示パネルの
製造が容易となる利点がある。
As described above, according to the present invention, even if the TFT matrix circuit by the simplified process is adopted, the address TFT and the parasitic TFT are electrically separated,
There is an advantage that signals are not mixed into the address TFT through the parasitic TFT, accurate voltage control can be performed on the liquid crystal cell, high-quality gradation display is possible, and the display panel is easily manufactured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の実施例によるTFTマトリックス回路
の平面図、第2図は第1図におけるl−l′−l″断面
図、第3図は第1図に示すTFTの等価回路図、第4図
〜第6図は本発明の他の実施例によるTFTマトリック
ス回路の平面図、第7図は第8図におけるa−a′断面
図、第8図は従来のTFTマヘリックス回路の平面図、
第9図は第8図に示すTFTの等価回路図を示す。 図において1,1′はドレインバスライン、2は画素電
極、3はa-SiH-n層、4は半導体層(a-SiH)、5
はSiO2層、6はゲートバスライン、7はソース電
極、8はアドレス用TFT、9は寄生TFT、10は液
晶セル、11はドレイン電極、12はガラス基板、13
はゲート電極を示す。
FIG. 1 is a plan view of a TFT matrix circuit according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a sectional view taken along the line 1--1'-1 'in FIG. 1, and FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of the TFT shown in FIG. 4 to 6 are plan views of a TFT matrix circuit according to another embodiment of the present invention, FIG. 7 is a sectional view taken along the line aa 'in FIG. 8, and FIG. 8 is a plan view of a conventional TFT Mahelix circuit. Figure,
FIG. 9 shows an equivalent circuit diagram of the TFT shown in FIG. In the figure, 1 and 1'is a drain bus line, 2 is a pixel electrode, 3 is an a-SiH-n + layer, 4 is a semiconductor layer (a-SiH), 5
Is a SiO 2 layer, 6 is a gate bus line, 7 is a source electrode, 8 is an address TFT, 9 is a parasitic TFT, 10 is a liquid crystal cell, 11 is a drain electrode, 12 is a glass substrate, 13
Indicates a gate electrode.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】画素毎に設けた薄膜トランジスタ(TF
T)と、 該TFTのゲート電極(13)と接続されるゲートバスラ
イン(6)と、該TFTのドレイン電極(11)と接続され
るドレインバスライン(1)を有し、該TFTにより画素
電極(2)を駆動する薄膜トランジスタマトリックス回路
において、 該ゲートバスライン(6)およびゲート電極(13)の上部
(又は下部)に該ゲートバスラインおよびゲート電極と
重なる半導体層を設け、ドレインバスラインと重ならな
い該半導体層領域を当該画素TFTのドレイン電極(1
1)により、隣接するドレインバスライン(1,1′)(又
は隣接するドレインバスラインおよびドレイン電極)に
接する第1の領域と、当該画素TFTのドレイン電極
(11)(又はドレイン電極およびドレインバスライン)
にのみ接する第2の領域に分割し、該第2の領域に
ソース電極(7)を設け、このソース電極(7)と画素電極
(2)を接続した事を特徴とする薄膜トランジスタマトリ
ックス回路。
1. A thin film transistor (TF) provided for each pixel.
T), a gate bus line (6) connected to the gate electrode (13) of the TFT, and a drain bus line (1) connected to the drain electrode (11) of the TFT. In the thin film transistor matrix circuit for driving the electrode (2), a semiconductor layer overlapping with the gate bus line and the gate electrode is provided on (or under) the gate bus line (6) and the gate electrode (13), and a drain bus line is formed. The semiconductor layer region that does not overlap is defined as the drain electrode (1
According to 1), the first region in contact with the adjacent drain bus line (1, 1 ′) (or the adjacent drain bus line and drain electrode) and the drain electrode (11) (or the drain electrode and drain bus) of the pixel TFT. line)
And a source electrode (7) is provided in the second region. The source electrode (7) and the pixel electrode
A thin film transistor matrix circuit characterized in that (2) is connected.
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