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JPH0641112B2 - 光ディスク用原盤の処理装置 - Google Patents
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JPH0641112B2 - 光ディスク用原盤の処理装置 - Google Patents

光ディスク用原盤の処理装置

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JPH0641112B2
JPH0641112B2 JP61213342A JP21334286A JPH0641112B2 JP H0641112 B2 JPH0641112 B2 JP H0641112B2 JP 61213342 A JP61213342 A JP 61213342A JP 21334286 A JP21334286 A JP 21334286A JP H0641112 B2 JPH0641112 B2 JP H0641112B2
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豊 高洲
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千春 小塩
和彦 長田
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  • Ventilation (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、クリーンルーム内において平板状部材に対し
て所定の作業をなす装置に関する。
背景技術 映像や音声情報等をディスク(円盤)状の記録媒体に記
録する方式として光学方式がある。この光学方式は、基
板となるガラス円盤にフォトレジストを塗布してレジス
ト原盤を作成し、このレジスト原盤のレジスト膜に微小
な点に集光したレーザビームを映像や音声情報等に応じ
て明滅させるいわゆるビットバイビット方式で照射感光
させ、しかる後にこれを現像して得られるピット(へこ
み)の長さ及びその繰返し周期により情報を記録するも
のである。
かかる方式において、レジスト原盤を作成するまでに
は、ガラス原盤の洗浄、プライマ処理、フォトレジスト
の塗布及びベーキング(熱処理)等の処理が行なわれる
のであるが、レジスト原盤の作成工程等では極度に塵埃
を嫌うので、これらの処理はクリーンルーム(防塵室)
内で行なわれる。また、クリーンルーム内であってもフ
ィルタで除去しきれない微細なホコリ等が大気中に浮遊
しているので、これら微細なホコリ等が盤面上に付着し
ないようにガラス原盤やレジスト原盤に風を送りつつ各
作業が行なわれることになるが、風の流れに乱れ等が生
ずると風による十分な防塵効果が得られない場合があ
る。
発明の概要 本発明は、上述した点に鑑みなされたもので、風の流れ
を良好に維持することにより、風による十分な防塵効果
が得られる光ディスク用原盤の処理装置を提供すること
を目的とする。
本発明による光ディスク用原盤の処理装置は、クリーン
ルーム内に配置された1つのライン上に、光ディスク用
原盤を支持する支持手段と、前記光ディスク用原盤に対
して所定の処理を施す複数の処理ユニットと、前記支持
手段を前記複数の処理ユニット間において移送せしめる
移送手段と、前記光ディスク用原盤の平板面に沿ってか
つ前記ラインと略直交する方向に流れる空気流を発生さ
せる空気流発生手段とを有し、前記複数の処理ユニット
は支柱によって前記支持手段の移動通路上方に支持され
ると共に、前記支柱は前記空気流の通路において前記支
持手段より下流側に設けられていることを特徴としてい
る。
実施例 以下、本発明の実施例を図に基づいて詳細に説明する。
第1図は、例えばレジスト原盤の作成装置に適用された
本発明の一実施例を示す斜視図であり、本システムは、
光ディスク用原盤であるガラス原盤の洗浄、プライマ処
理及びフォトレジストの塗布の各処理を行なういわゆる
ウェットステージとしての装置1と、ガラス原盤の欠陥
検査、レジスト原盤の欠陥検査及び膜厚の測定を行なう
いわゆる検査ステージとしての装置2と、プリベーク処
理を行なういわゆるベーキングステージとしての装置3
とからなり、これら1〜3が一体的に構成されてクリー
ンルーム内に設置される。本システムにおいては、ガラ
ス原盤の洗浄及びプライマ処理、ガラス原盤の欠陥検
査、フォトレジストの塗布、熱処理並びにレジスト原盤
の検査及び膜厚の検査の一連の処理が流れ作業にて自動
的に行なわれる構成となっている。
研磨,洗浄されたガラス原盤(図示せず)は、ウェット
ストック室4に一時的に貯蔵されて超音波洗浄等が行な
われて最良の状態に維持され、しかる後例えば自動的に
装置1に略水平状態で送り込まれ、この水平状態を維持
しつつ上述した一連の処理が行なわれる。一連の処理が
終了したガラス原盤は装置3から排出されることにな
る。装置1から装置3へのガラス原盤の流れに対して左
側の装置側方にはクリーンベンチ5が配置されており、
このクリーンベンチ5からは一連の処理が行なわれるガ
ラス原盤に対して略平行に風が送り込まれる。これによ
れば、クリーンルームのフィルタで除去しきれず、大気
中に浮遊している微細なホコリ等がガラス原盤の盤面に
付着するのを防止できることになる。なお、作業者はク
リーンベンチ5からの送風に対して各装置1〜3よりも
風下に位置して作業するようになる。
次に、装置1〜3の具体的な構造について第2図乃至第
4図を参照しつつ説明する。
ガラス原盤6はターンテーブル7により略水平に担持さ
れる。ターンテーブル7、駆動源であるモータ8及び当
該モータの回転駆動力をターンテーブル7に伝達するベ
ルト9等を含むターンテーブルユニット10は、装置本
体11の上面に各装置1〜3間に亘って互いに平行に配
置された一対のガイドレール12a,12b上に載置さ
れ、リニアベアリング(図示せず)を介して各装置1〜
3間を移動自在な構成となっている。また、装置本体1
1の上面にはガイドレール12a,12bと平行にボー
ルねじ13がターンテーブルユニット10のほぼ移動範
囲に亘って回転自在に設けられており、このボールねじ
13にはターンテーブルユニット10に取り付けられた
ボールナット14が螺合している。そして、ボールねじ
13が送りモータ15によって回転駆動されることによ
り、その回転方向に応じた方向にターンテーブルユニッ
ト10が移動できることになる。
ターンテーブルユニット10においては、た4図に示す
ように、ターンテーブル7は軸方向に貫通孔16aを有
するスピンドル16の上端部に嵌着されている。スピン
ドル16はベアリング17を介してハウジング18によ
り回転自在に保持されており、その下端部には大プーリ
19が固定され、この大プーリ19とモータ8の回転軸
に固定された小プーリ21とに架設されたベルト9を介
してモータ8により回転駆動される。いわゆるベルトド
ライブ構成となっている。このベルトドライブ構成によ
れば、スピンドル16の最下端に固定されたバキューム
シール20の交換を容易に行なうことができることにな
る。すなわち、ダイレクトドライブ構成の場合には、バ
キュームシール20を交換する際に、モータ等の重量物
を取り外さなければならなく大変であるが、ベルトドラ
イブ構成の場合はその必要がないので、バキュームシー
ル20の交換を極めて容易に行ない得るのである。
ターンテーブル7の周りには、最大径のガラス原盤6よ
りも大なる径の受け台21が固定状態で設けられてお
り、この受け台21にはガラス原盤6のサイズを検出す
るための例えば2個のサイズセンサ22a,22bがそ
の半径方向に配列されている。また、受け台21の中央
孔近傍には、ガラス原盤6の種類を検出するための例え
ば2個の種類センサ23a,23bが設けられている。
スピンドル16の上端部には、センターキャップ24が
冠着されている。
第2図及び第3図において、装置1は装置本体11に対
して上下動するカップ25を備えている。このカップ2
5は通常はターンテーブルユニット10の移動を妨げな
いように上昇位置に保持され、各処理を行なう場合に連
結部26(第1図に示す)を介して直線駆動モータ27
により下降駆動される。カップ25の駆動源としては、
直線駆動モータ27に限定されるものではなく、要はカ
ップ25を上下駆動できるものであれば良い。下降した
カップ25はターンテーブルユニット10における受け
台21の周縁部に嵌合して密閉状態を維持する。この状
態において、ターンテーブル7上にバキュームポンプ2
8により真空吸着されたガラス原盤6は、モータ8によ
り回転駆動されつつカップ25内に設けられたノズル
(図示せず)から噴射される洗浄液によって洗浄され、
しかる後プライマ処理が行なわれる。洗浄及びプライマ
処理が行なわれたガラス原盤6はターンテーブルユニッ
ト10がガイドレール12a,12bに沿って移動する
ことにより装置2へ移送される。
装置2は検査ユニット(作業ユニット)29を有してお
り、この検査ユニット29は装置本体11に対して2本
の支柱30a,30bによって支持されると共に、フー
ド31によって覆われている。2本の支柱30a,30
bはダクトとしての作用もなし、ガラス原盤6よりも風
下に位置するように、即ちクリーンベンチ5と反対側に
位置するように設けられる。これによれば、クリーンベ
ンチ5からガラス原盤6に対して平行に送出される風の
流れに乱れを生じることがなく、良好にガラス原盤6の
盤面へのホコリ等の付着防止を行なうことができること
になる。装置2では、装置1で洗浄及びプライマ処理が
行なわれたガラス原盤6に傷等の欠陥がないか否かの検
査が、更に装置3で熱処理されたレジスト原盤の盤面上
に傷等の欠陥がないか否かの検査が行なわれると同時
に、レジスト膜の膜厚の測定も検査ユニット29によっ
て行なわれる。
一方、装置3はベーキングユニット(作業ユニット)3
2を有しており、このベーキングユニット32は装置本
体11に対して2本の支柱33a,33bによって支持
されると共に、フード34によって覆われている。2本
の支柱33a,33bは装置2の場合と同様に、ダクト
としての作用もなし、かつガラス原盤6よりも風下に位
置するように設けられている。この装置3では、フォト
レジストが塗布されたレジスト原盤に対して遠赤外線に
よるプリベーク処理が行なわれる。このプリベーク処理
においては、放射温度計35によりレジスト原盤の表面
温度が検出され、この検出温度に基づいて表面温度のコ
ントロールが行なわれる。
装置2,3におけるフード31,34は各々、第1図か
ら特に明らかなように、クリーンベンチ5側の端部にお
いて、その上面が下方に向って傾斜しかつ両側面が中央
に向って傾斜した構成となっている。これによれば、第
1図及び第3図に矢印で示すように、クリーンベンチ5
から送出された風が各フード31,34の上面及び両側
面の傾斜面に沿って下流方向に良好に流れるので、各装
置の周辺における風の流れに乱れを生じることがないの
である。
また、先述したように、検査ユニット29,フード31
及びベーキングユニット32,フード34を支持する支
柱30a,30b及び33a,33bが、ターンテーブ
ルユニット11により担持搬送されるガラス原盤6より
も風下に位置するように設けられ、支柱30a,30b
及び33a,33bは、第3図に示すように、装置本体
11の上面に形成された保持孔37a,37b及び38
a,38bにより保持される。一方、本装置が作業者に
対して左右に例えば一対配置され、両側から風を送り込
むようなシステムにした場合、一方の装置では支柱30
a,30b及び33a,33bがガラス原盤6よりも風
上に位置すると共に、フード31,34の傾斜面が風下
側に位置し、風のスムーズな流れを妨げることになって
しまう。そこで、その対策として、保持孔37a,37
b及び38a,38bによる支柱30a,30b及び3
3a,33bの保持を着脱自在とし、反対側にも保持孔
39a,39b及び40a,40bを穿設しておき、支
柱30a,30b及び33a,33bの取付位置を適宜
選択することにより、第5図に示すように、常に支柱3
0a,30b及び33a,33bがガラス原盤6よりも
風下に位置すると共に、フード31,34の傾斜面が風
上側に位置するように設定することができることにな
る。
第2図において、装置本体11にはターンテーブルユニ
ット10の移動位置を検出するために、例えば6個の位
置センサ36a〜36fがターンテーブルユニット10
の移動方向に沿って配列されている。6個の位置センサ
36a〜36fは各装置1〜3に2個づつ対応するよう
に設けられており、これら各センサ36a〜36fの各
出力の組合わせからターンテーブルユニット10の移動
位置が検出されるのである。すなわち、第6図に示すよ
うに、位置センサ36a,36bのみがオン状態にある
ときは装置1に、位置センサ36c,36dのみがオン
状態にあるときは装置2に、位置センサ36e,36f
のみがオン状態にあるときは装置3にそれぞれターンテ
ーブルユニット10が位置することを検出できるのであ
る。また、ターンテーブルユニット10が移動路の両端
に位置する場合には位置センサ36a又は36fのみが
オン状態にあり、装置間に位置する場合には位置センサ
36b,36cのみ又は36d,36eのみがオン状態
となるのである。
従って、位置センサ36a〜36fの各出力の組合わせ
からターンテーブルユニット10の移動位置を検出する
ことにより、当該ユニット10を各装置の作業位置に確
実に停止せしめることができ、又ユニット10の移動中
に例えば停電があった場合、停電復旧後の検出位置から
その後ユニット10が移動すべき方向を判断できるの
で、停電復旧後でもスムーズに作業を継続できることに
なる。
以上説明した構成において、ターンテーブルユニット1
0の移動及びその停止位置の制御、各装置1〜3におけ
る各作業をなすための動作制御、ターンテーブルの速度
制御等は例えばマイクロコンピュータからなるシステム
コントローラ(図示せず)により一括して行なわれる。
次に、本システムにおいて実行される作業手順を第7図
のフローチャートに従って説明する。
先ず、装置1においては、ターンテーブル7上にガラス
原盤が載置されると、カップ25が降下してターンテー
ブルユニット10における受け台21に嵌合して密閉状
態を維持し、この状態においてガラス原盤の洗浄が行な
われ(ステップS1)、続いてプライマ処理が行なわれ
る(ステップS2)。洗浄及びプライマ処理が行なわれ
たガラス原盤はターンテーブル7上に載置されたままタ
ーンテーブルユニット10の移動に伴って装置2へ移動
し、ここでガラス原盤の欠陥検査が行なわれる(ステッ
プS3)。検査を通過したガラス原盤は再び装置1へ移
送され、フォトレジストが塗布され(ステップS4)、
レジスト原盤となる。このレジスト原盤はターンテーブ
ルユニット10の移動に伴って装置2を経て装置3へ移
動し、ここで遠赤外線によるプリベーク処理が行なわれ
る(ステップS5)。熱処理が行なわれたレジスト原盤
は再び装置2へ移送され、レジスト原盤の欠陥検査及び
レジスト膜の膜厚の測定が行なわれる(ステップS
6)。以上の手順により、レジスト原盤を作成するため
の一連の処理が完了する。
ここで、各装置1〜3では、ターンテーブル7が回転駆
動されることによって各作業が行なわれるのは勿論であ
るが、本システムにおいては、ターンテーブル7は各装
置間を移動する間も回転駆動され、回転が持続されるよ
うになっている。これによれば、ガラス原盤(又はレジ
スト原盤)が常時回転駆動されることになるので、盤面
上へのホコリ等の付着を防止できることになる。また、
各装置においてターンテーブル7の立上げ時間が不要と
なるので、各作業への移行をスムーズに行なうことがで
きることになる。
なお、上記実施例においては、光ディスク用原盤として
ガラス原盤を用いてレジスト原盤を作成する装置に適用
した場合について説明したが、本発明はこれに限定され
るものではなく、種々の平板状部材に対して所定の作業
をなす装置全てに適用し得るものである。
また、上記実施例では、複数の装置が一体化された場合
について説明したが、単体の装置にも適用し得ることは
勿論である。
発明の効果 以上説明したように、本願発明による光ディスク用原盤
の処理装置においては、光ディスク用原盤の原盤)面に
対して平行になるような空気流を発生させることで、原
盤の表面近傍に層流もしくは層流に近い空気流れを形成
し、浮游状態にあるホコリ等をこの流れに乗せて下流へ
流し除去することによって、原盤表面への付着を完全に
防止することができる。
また、空気流をラインに対して略直交する方向とするこ
とにより、浮游状態にあるホコリの除去を最短経路にて
効率良く行うことができる。
さらに、処理ユニットを支持する支柱を、空気流の通路
において光ディスク用原盤より下流側に配置したこと
で、支柱近傍に生じる乱流状態が原盤領域の空気流れに
影響を及ぼすことはなく、浮游状態にあるホコリを完全
に除去することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は例えばレジスト原盤の作成装置に適用された本
発明の一実施例を示す斜視図、第2図及び第3図は第1
図における各装置の具体的な構造を示す一部断面を含む
正面図及び一部断面を含む平面図、第4図は第2図及び
第3図におけるターンテーブルユニットの具体的な構造
を示す断面図、第5図は作業者に対して本装置を左右に
一対配置した場合の構成を示す平面図、第6図は第2図
における位置センサの各動作状態とターンテーブルユニ
ットの移動位置との関係を示す図、第7図はレジスト原
盤を作成するための作業手順を示すフローチャートであ
る。 主要部分の符号の説明 1,2,3……装置、5……クリーンベンチ 6……ガラス原盤、7……ターンテーブル 10……ターンテーブルユニット 11……装置本体、25……カップ 29……検査ユニット 30a,30b,33a,33b……支柱 32……ベーキングユニット 31,34……フード 36a〜36f……位置センサ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/027 21/304 D 8831−4M (72)発明者 河野 滋 山梨県中巨摩郡田富町西花輪2680番地 パ イオニアビデオ株式会社内 (72)発明者 小塩 千春 山梨県中巨摩郡田富町西花輪2680番地 パ イオニアビデオ株式会社内 (72)発明者 長田 和彦 山梨県中巨摩郡田富町西花輪2680番地 パ イオニアビデオ株式会社内 (56)参考文献 実開 昭53−17885(JP,U)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】クリーンルーム内に配置された1つのライ
    ン上に、光ディスク用原盤を支持する支持手段と、前記
    光ディスク用原盤に対して所定の処理を施す複数の処理
    ユニットと、前記支持手段を前記複数の処理ユニット間
    において移送せしめる移送手段と、前記光ディスク用原
    盤の平板面に沿ってかつ前記ラインと略直交する方向に
    流れる空気流を発生させる空気流発生手段とを有し、前
    記複数の処理ユニットは支柱によって前記支持手段の移
    動通路上方に支持されると共に、前記支柱は前記空気流
    の通路において前記支持手段より下流側に設けられてい
    ることを特徴とする光ディスク用原盤の処理装置。
JP61213342A 1986-09-10 1986-09-10 光ディスク用原盤の処理装置 Expired - Fee Related JPH0641112B2 (ja)

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US07/094,994 US4850791A (en) 1986-09-10 1987-09-10 Flow processing system
NL8702157A NL8702157A (nl) 1986-09-10 1987-09-10 Stroombehandelingsstelsel.
US07/416,001 US5002455A (en) 1986-09-10 1989-10-02 Flow processing system

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