JPH0669205B2 - Laser beam recording device - Google Patents
Laser beam recording deviceInfo
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- JPH0669205B2 JPH0669205B2 JP60248245A JP24824585A JPH0669205B2 JP H0669205 B2 JPH0669205 B2 JP H0669205B2 JP 60248245 A JP60248245 A JP 60248245A JP 24824585 A JP24824585 A JP 24824585A JP H0669205 B2 JPH0669205 B2 JP H0669205B2
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 57
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000001454 recorded image Methods 0.000 description 2
- 230000004397 blinking Effects 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導体レーザを光源にし、画像信号に応じ、
走査ビームを点滅することによって記録媒体上に結像し
画情報を記録するレーザビーム記録装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention uses a semiconductor laser as a light source, and according to an image signal,
The present invention relates to a laser beam recording apparatus for forming an image on a recording medium by blinking a scanning beam to record image information.
従来の技術 従来、レーザビーム記録装置として第７図に示す装置が
提案されている。第７図において、１は感光体ドラム、
２は半導体レーザ、３はコリメータレンズ、４は回転多
面鏡、５はｆθレンズ、６は反射鏡、７は受光素子であ
り、それぞれ光学的に配置されている。回転多面鏡４は
矢印S1方向に一定速度で回転駆動される。また、感光体
ドラム１も矢印S3方向に一定速度で回転駆動される。2. Description of the Related Art Conventionally, an apparatus shown in FIG. 7 has been proposed as a laser beam recording apparatus. In FIG. 7, 1 is a photosensitive drum,
Reference numeral 2 is a semiconductor laser, 3 is a collimator lens, 4 is a rotary polygon mirror, 5 is an fθ lens, 6 is a reflecting mirror, and 7 is a light receiving element, which are optically arranged. The rotary polygon mirror 4 is rotationally driven at a constant speed in the direction of arrow S 1 . Further, the photosensitive drum 1 is also rotationally driven in the arrow S 3 direction at a constant speed.
半導体レーザ２で発するレーザビームＬは電気信号によ
り変調され、コリメータレンズ３により平行光にされ、
回転多面鏡４により感光体ドラム１の軸方向S2に偏光さ
れ、ｆθレンズ５を介して感光体ドラム１に結像される 発明が解決しようとする問題点 しかし、受光素子７が反射鏡６を介して光ビームを受け
ることにより、光ビーム走査同期信号を発生し、この同
期信号により、半導体レーザ２の画像信号の変調開始の
タイミングを一致させている。A laser beam L emitted from the semiconductor laser 2 is modulated by an electric signal and collimated by a collimator lens 3,
The rotary polygon mirror 4 polarizes the light in the axial direction S 2 of the photoconductor drum 1 and forms an image on the photoconductor drum 1 via the fθ lens 5. Problems to be Solved by the Invention A light beam scanning synchronizing signal is generated by receiving the light beam via the light beam, and the timing of starting the modulation of the image signal of the semiconductor laser 2 is made coincident with this synchronizing signal.
ところで、コリメータレンズの焦点深度は極めて浅く、
通常その値は±３μｍ〜±４μｍである。このため、半
導体レーザ２とコリメータレンズ３の間隙Ｄの距離は高
精度に設定されなければならない。By the way, the depth of focus of the collimator lens is extremely shallow,
Usually, the value is ± 3 μm to ± 4 μm. Therefore, the distance of the gap D between the semiconductor laser 2 and the collimator lens 3 must be set with high accuracy.
しかし、半導体レーザ２、コリメータレンズ３のそれぞ
れの保持部材は半導体レーザの発する熱または周囲温度
等により熱膨張（または熱収縮）を起こし、間隙Ｄの距
離が変化してしまう。この結果、走査ビームの焦点位置
がずれ、走査結像スポット径が変化するが、かかる場合
に定常状態における同等の補正画像信号に基づく結像を
行なうと、結像長さが増し画像の劣化を生ずるという問
題があった。However, the respective holding members of the semiconductor laser 2 and the collimator lens 3 cause thermal expansion (or thermal contraction) due to the heat generated by the semiconductor laser or the ambient temperature, and the distance of the gap D changes. As a result, the focus position of the scanning beam shifts and the scanning imaging spot diameter changes, but in such a case, if imaging is performed based on the equivalent corrected image signal in the steady state, the imaging length increases and image deterioration is caused. There was a problem that it would occur.
この問題に対して、半導体レーザ２とコリメータレンズ
３の位置関係に応じて、適当な値の熱膨張係数を有する
保持部材を使用することにより、温度変化にかかわらず
間隙Ｄの距離を一定に保つことが考えられる。しかしな
がら、半導体レーザ２、コリメータレンズ３それぞれの
保持部材の形状は複雑であり、単に材質の熱膨張係数か
ら保持部材を選定しても、温度変化に対して間隙Ｄの距
離を一定に保たせる保持部材を製作することは難しい。
又、たとえ前記条件に合致した保持部材を製作しえたと
しても、半導体レーザ、コリメータレンズの種類が変わ
るごとに、保持部材の材質・寸法などを変える必要があ
り、非常に不便であり、又、コスト高になるという問題
を生じる。本発明は、半導体レーザとコリメータレンズ
間の距離が変化しても、半導体レーザの点灯時間を制御
することにより安定した画像を記録することのできるレ
ーザビーム記録装置を提供することを目的とする。With respect to this problem, by using a holding member having a thermal expansion coefficient of an appropriate value according to the positional relationship between the semiconductor laser 2 and the collimator lens 3, the distance of the gap D is kept constant regardless of the temperature change. It is possible. However, the shape of the holding member of each of the semiconductor laser 2 and the collimator lens 3 is complicated, and even if the holding member is simply selected based on the thermal expansion coefficient of the material, the holding member can hold the distance D constant with respect to the temperature change. It is difficult to manufacture a member.
Further, even if a holding member that meets the above conditions can be manufactured, it is very inconvenient because it is necessary to change the material and dimensions of the holding member each time the type of semiconductor laser and collimator lens changes. It causes a problem of high cost. An object of the present invention is to provide a laser beam recording apparatus capable of recording a stable image by controlling the lighting time of the semiconductor laser even if the distance between the semiconductor laser and the collimator lens changes.
問題点を解決するための手段 本発明は、半導体レーザと、この半導体レーザに対応し
て設けたコリメータレンズとを有するレーザプリンタで
あって、半導体レーザの近傍に設けられて半導体レーザ
とコリメータレンズとの距離変動を検出する手段と、半
導体レーザの近傍にあって、最小の画素に相当する時間
内において、距離変動に基づいて半導体レーザの点灯時
間を制御する手段とを備えたものである。Means for Solving the Problems The present invention is a laser printer having a semiconductor laser and a collimator lens provided corresponding to the semiconductor laser, wherein the semiconductor laser and the collimator lens are provided near the semiconductor laser. And a means for controlling the lighting time of the semiconductor laser based on the distance variation within a time corresponding to the smallest pixel in the vicinity of the semiconductor laser.
作 用 したがって、本発明は半導体レーザの近傍に設けられて
半導体レーザとコリメータレンズとの距離変動を検出す
る手段によって半導体レーザの点灯時間を制御するよう
にしたため、半導体レーザとコリメータレンズとの距離
に変化を生じても、レーザ光の点灯時間を補正すること
により、レーザ光１ドットに相当する走査幅が一定とな
り、したがって、一定の線幅が得られ安定した記録画像
が得られる。Therefore, according to the present invention, the lighting time of the semiconductor laser is controlled by means for detecting the distance variation between the semiconductor laser and the collimator lens, which is provided in the vicinity of the semiconductor laser. Even if a change occurs, by correcting the lighting time of the laser light, the scanning width corresponding to one dot of the laser light becomes constant, so that a constant line width can be obtained and a stable recorded image can be obtained.
実施例 以下、本発明の一実施例について図面を用いて説明す
る。第１図は本発明の一実施例によるレーザビームプリ
ンタの主要部の概略構成を示すブロック図であり、第７
図と同一部分、同一部材については同一の番号を付して
ある。第１図において、１は感光体ドラム、２は半導体
レーザ、３はコリメータレンズ、４は回転多面鏡、５は
ｆθレンズ、６は反射鏡、７は受光素子、８は半導体レ
ーザユニット、９はサーミスタ、10は温度検出回路、11
は点灯時間制御回路、12は同期信号発生回路、13はレー
ザ駆動回路、101は温度検出手段、102は制御手段であ
る。Embodiment An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a main part of a laser beam printer according to an embodiment of the present invention.
The same parts and the same members as those in the figure are denoted by the same reference numerals. In FIG. 1, 1 is a photosensitive drum, 2 is a semiconductor laser, 3 is a collimator lens, 4 is a rotating polygon mirror, 5 is an fθ lens, 6 is a reflecting mirror, 7 is a light receiving element, 8 is a semiconductor laser unit, and 9 is Thermistor, 10 is temperature detection circuit, 11
Is a lighting time control circuit, 12 is a synchronization signal generation circuit, 13 is a laser drive circuit, 101 is temperature detection means, and 102 is control means.
半導体レーザ２、コリメータレンズ３、回転多面鏡４、
ｆθレンズ５、感光体ドラム１、反射鏡６、受光素子７
はそれぞれ光学的に配置されている。半導体レーザ２と
コリメータレンズ３は半導体レーザユニット８に内蔵
し、間隙Ｄを有して設置してある。温度検出手段101は
距離変動を検出する手段であり、半導体レーザユニット
８に内蔵され、半導体レーザ２とコリメータレンズ３の
中間位置近傍に設置されたサーミスタ９と、サーミスタ
９の信号を入力する温度検出回路10とから構成されてい
る。制御手段102は半導体レーザの点灯時間を制御する
手段であり、点灯時間制御回路11と、レーザ駆動回路13
と、同期信号発生回路12とから構成される。回転多面鏡
４は矢印S1方向に一定速度で回転駆動される。また感光
体ドラム１も一定速度で回転駆動される。Semiconductor laser 2, collimator lens 3, rotary polygon mirror 4,
fθ lens 5, photosensitive drum 1, reflecting mirror 6, light receiving element 7
Are arranged optically. The semiconductor laser 2 and the collimator lens 3 are built in the semiconductor laser unit 8 and installed with a gap D. The temperature detecting means 101 is a means for detecting a variation in distance, is built in the semiconductor laser unit 8, and is a thermistor 9 installed near the intermediate position between the semiconductor laser 2 and the collimator lens 3, and a temperature detecting means for inputting a signal from the thermistor 9. It is composed of a circuit 10. The control means 102 is means for controlling the lighting time of the semiconductor laser, and includes a lighting time control circuit 11 and a laser drive circuit 13.
And a synchronization signal generation circuit 12. The rotary polygon mirror 4 is rotationally driven at a constant speed in the direction of arrow S 1 . Further, the photosensitive drum 1 is also rotationally driven at a constant speed.
半導体レーザ２で発する出力ビームＬは電気信号により
変調され、コリメータレンズ３により平行光にされ、回
転多面鏡４により感光体ドラム１の軸方向S2に偏光さ
れ、ｆθレンズ５を介して感光体ドラム１に結像され
る。An output beam L emitted from the semiconductor laser 2 is modulated by an electric signal, collimated by a collimator lens 3, and collimated by a rotating polygon mirror 4 in the axial direction S 2 of the photoconductor drum 1, and then passed through an fθ lens 5 to form a photoconductor. An image is formed on the drum 1.
サーミスタ９は次の関係式で示されるように、間隙Ａの
変動量を温度変化として検出する。The thermistor 9 detects the fluctuation amount of the gap A as a temperature change, as shown by the following relational expression.
ｌ＝lo（１＋tk） lo:定常温度における間隙距離 t:温度変化 l:温度変化ｔ℃のときの間隙距離 k:保持部材等の熱膨張係数 ∴Δｌ＝ｌ−lo＝lo・ｔ・ｋ Δl:温度変化ｔ℃のときの変化分 ∴ｔ＝Δｌ／（lo・ｋ） サーミスタ９の温度変化検出値は温度検出回路10に入力
され、定常温度との差分を差分信号50として点灯時間制
御回路11へ入力する。l = lo (1 + tk) lo: Gap distance at steady temperature t: Temperature change l: Gap distance at temperature change t ° C k: Thermal expansion coefficient of holding member ∴Δl ＝ l-lo ＝ lo ・ t ・ k Δl : Change amount when temperature change is t ° C. ∴t = Δl / (lo · k) The temperature change detection value of the thermistor 9 is input to the temperature detection circuit 10, and the difference from the steady temperature is used as the difference signal 50 to turn on the lighting time control circuit. Enter in 11.
ここで、本発明に関わる半導体レーザの特性について、
第２図、第３図、第４図を基に説明する。Here, regarding the characteristics of the semiconductor laser according to the present invention,
A description will be given based on FIGS. 2, 3, and 4.
第２図（ａ）は、半導体レーザの出力波形を示す図であ
り、発光面2aより発せされたレーザ光14の拡り方を示
す。第２図（ｂ）は同図（ａ）に示すレーザ光14の光軸
15に対する垂直拡り角θＶ、水平拡り角θＨをパラメー
タにしたときのレーザ強度分布を示す。16は垂直方向拡
り角θＶに対するレーザ光強度、17は水平方向拡り角θ
Ｈに対するレーザ光強度である。このように、半導体レ
ーザ２の出力波形は大小２種類の拡り角θV,θＨを有す
る楕円形状となるため、レーザ光がコリメータレンズ
３、ｆθレンズ５を通過した後の感光ドラム１上の結像
スポットの形状も楕円形となる。FIG. 2 (a) is a diagram showing an output waveform of the semiconductor laser, showing how the laser light 14 emitted from the light emitting surface 2a spreads. 2 (b) is the optical axis of the laser beam 14 shown in FIG. 2 (a).
15 shows a laser intensity distribution when the vertical spread angle θ V and the horizontal spread angle θ H with respect to 15 are used as parameters. 16 is the laser beam intensity with respect to the vertical spread angle θ V , and 17 is the horizontal spread angle θ V
It is the laser light intensity for H. As described above, the output waveform of the semiconductor laser 2 has an elliptical shape having two types of divergence angles θ V and θ H , so that the laser beam on the photosensitive drum 1 after passing through the collimator lens 3 and the fθ lens 5. The shape of the imaging spot of is also elliptical.
第３図は、結像スポット径を横軸とし、光走査ビームの
強度を示す図である。曲線19は間隙Ｄの距離について、
半導体レーザ２の発振点がコリメータレンズ３の焦点深
度に入るように調整されているときの、結像スポットの
強度特性を示す。感光体上に記録画像を得るための感光
しきい値18よりレーザ光強度が大きい部分は結像スポッ
ト径Ａとして表わせる。曲線20は、半導体レーザユニッ
ト８の温度変化により間隙Ｄの距離が所定量変化した場
合の結像スポットの強度特性を示す。この時、結像スポ
ット径はＢで表わされ結像スポット径Ａよりも大きくな
る。FIG. 3 is a diagram showing the intensity of the optical scanning beam with the image forming spot diameter as the horizontal axis. Curve 19 is for the distance of the gap D,
The intensity characteristic of the imaging spot when the oscillation point of the semiconductor laser 2 is adjusted so as to be within the depth of focus of the collimator lens 3 is shown. A portion where the laser light intensity is higher than the exposure threshold value 18 for obtaining a recorded image on the photosensitive member can be represented as an image forming spot diameter A. A curve 20 shows the intensity characteristic of the imaging spot when the distance of the gap D changes by a predetermined amount due to the temperature change of the semiconductor laser unit 8. At this time, the image forming spot diameter is represented by B and is larger than the image forming spot diameter A.
第４図は、結像スポット径と、半導体レーザ２とコリメ
ータレンズ３の間隙Ｄとの関係を示す図である。loは定
常状態における半導体レーダ２とコリメータレンズ３間
の距離を表わし、この時、最小スポット径φｏが得られ
る。FIG. 4 is a diagram showing the relationship between the image forming spot diameter and the gap D between the semiconductor laser 2 and the collimator lens 3. lo represents the distance between the semiconductor radar 2 and the collimator lens 3 in a steady state, and at this time, the minimum spot diameter φo is obtained.
次に、第１図、第３図、第５図、第６図を基に動作を説
明する。第５図（ａ），（ｂ），（ｃ），（ｄ）は半導
体レーザユニット８が定常温度時の本発明の一実施例を
各部の動作を示す波形図、第６図（ａ），（ｂ），
（ｃ），（ｄ）は半導体レーザユニットの温度変化時の
本発明の一実施例の各部の動作を示す波形図である。Next, the operation will be described based on FIG. 1, FIG. 3, FIG. 5, and FIG. 5 (a), (b), (c) and (d) are waveform charts showing the operation of each part of the embodiment of the present invention when the semiconductor laser unit 8 is at a steady temperature, FIG. 6 (a), (B),
(C) and (d) are waveform charts showing the operation of each part of the embodiment of the present invention when the temperature of the semiconductor laser unit changes.
半導体レーザユニット８の内部が定常温度の時の動作は
次のようになる。半導体レーザ２で発するレーザビーム
Ｌはコリメータレンズ３、回転多面鏡４、ｆθレンズ５
を介して発光体ドラム１を照射し、結像する。この時、
結像スポットにおけるレーザ光の強度分布は第５図
（ａ）に示される。この強度分布は第４図の曲線18に対
応する。点灯時間制御回路11には、画情報入力部14より
第５図（ｃ）に示す画情報信号52と、差分信号51とが入
力し、第５図（ｂ）に示すビーム走査同期信号54に同期
し、第５図（ｄ）に示す補正画像信号53がレーザ駆動回
路13へ入力され、半導体レーザ２をON−OFF制御してい
る。補正画像信号53のパルス幅は画像１ドットに相当す
る時間内で自動的に制御される。又、この時、定常温度
であるため、差分信号51は０であり補正画像信号53は画
像信号52と同等となる。このため、レーザ光を時間Ｔ走
査した時、結像スポットの強度分布において感光きい値
18以上の光強度の有する結像長さは、第５図（ｅ）に示
す長さＮとなる。この場合、最も鮮明な画像が得られる
ようにあらかじめ設定される。The operation when the inside of the semiconductor laser unit 8 is at a steady temperature is as follows. The laser beam L emitted from the semiconductor laser 2 is a collimator lens 3, a rotary polygon mirror 4, and an fθ lens 5.
The light-emitting drum 1 is irradiated with the light through to form an image. At this time,
The intensity distribution of the laser light at the image forming spot is shown in FIG. This intensity distribution corresponds to curve 18 in FIG. An image information signal 52 shown in FIG. 5 (c) and a difference signal 51 are inputted to the lighting time control circuit 11 from the image information input section 14, and a beam scanning synchronizing signal 54 shown in FIG. 5 (b) is obtained. In synchronism, the corrected image signal 53 shown in FIG. 5 (d) is input to the laser drive circuit 13, and the semiconductor laser 2 is ON / OFF controlled. The pulse width of the corrected image signal 53 is automatically controlled within the time corresponding to one dot of the image. At this time, since the temperature is the steady temperature, the difference signal 51 is 0 and the corrected image signal 53 is equal to the image signal 52. For this reason, when the laser beam is scanned for time T, the threshold value is detected in the intensity distribution of the imaging spot.
The image formation length having a light intensity of 18 or more is the length N shown in FIG. 5 (e). In this case, it is preset so that the clearest image can be obtained.
半導体レーザユニット８の内部温度に変化があった時は
次のように動作する。半導体レーザ２から発せられたレ
ーザビームＬはコリメータレンズ３、回転多面鏡４、ｆ
θレンズ５を介して発光体ドラム１を照射し、結像す
る。この時、結像スポットにおけるレーザ光の強度分布
は第６図（ａ）に示される。この強度分布は第３図の曲
線19に対応する。点灯時間制御回路11には、画情報入力
部14より第６図（ｃ）に示す画情報信号52と、差分信号
51とが入力し、第６図（ｂ）に示すビーム走査同期信号
54に同期し、第６図（ｄ）に示す補正画像信号53がレー
ザ駆動回路13へ入力され、半導体レーザ２をON−OFF制
御している。補正画像信号53のパルス幅は画像１ドット
に相当する時間内で自動的に制御される。この時、結像
スポット径は定常温度時にくらべ大きくなるため、レー
ザ光の点灯時間は信号幅Ｐの時間に短縮される。この結
果、結像スポットの強度分布において感光しきい値18以
上の光強度を有する結像長さは、第６図（ｅ）に示す長
さＭとなる。この場合、あらかじめ定常温度状態を基準
として設定してあるため、結像長さＭはＮと等しくな
る。言い替えれば、この時、最も鮮明な画像が得られる
ことを意味する。When the internal temperature of the semiconductor laser unit 8 changes, it operates as follows. The laser beam L emitted from the semiconductor laser 2 is collimator lens 3, rotary polygon mirror 4, f
The light emitter drum 1 is irradiated through the θ lens 5 to form an image. At this time, the intensity distribution of the laser light at the image forming spot is shown in FIG. 6 (a). This intensity distribution corresponds to curve 19 in FIG. In the lighting time control circuit 11, the image information signal 52 shown in FIG.
51 and the beam scanning synchronization signal shown in FIG.
In synchronism with 54, the corrected image signal 53 shown in FIG. 6 (d) is input to the laser drive circuit 13, and the semiconductor laser 2 is ON / OFF controlled. The pulse width of the corrected image signal 53 is automatically controlled within the time corresponding to one dot of the image. At this time, since the image forming spot diameter becomes larger than that at the steady temperature, the lighting time of the laser light is shortened to the signal width P. As a result, the image formation length having the light intensity equal to or higher than the exposure threshold value 18 in the intensity distribution of the image formation spot becomes the length M shown in FIG. 6 (e). In this case, since the steady temperature state is set in advance as a reference, the imaging length M becomes equal to N. In other words, this means that the clearest image can be obtained at this time.
なお、本実施例では説明しなかったが、半導体レーザと
コリメータレンズとの距離の変化を両者近傍の温度変化
として検出する方法を示したが、直接距離変化を検出す
ることによっても本発明と同様の効果を得ることができ
る。Although not described in the present embodiment, a method of detecting a change in the distance between the semiconductor laser and the collimator lens as a temperature change in the vicinity of both is shown, but the same as in the present invention by directly detecting the change in the distance. The effect of can be obtained.
発明の効果 以上説明したように、本発明によれば、半導体レーザと
コリメータレンズとの距離変動に基づいて半導体レーザ
の点灯時間を制御するようにしたため、半導体レーザと
コリメータレンズとの距離に変化を生じても、レーザ光
の点灯時間を補正することにより、レーザ光１ドットに
相当する走査幅が一定となるため、一定の線幅が得ら
れ、安定した画像を得られる。As described above, according to the present invention, since the lighting time of the semiconductor laser is controlled based on the distance variation between the semiconductor laser and the collimator lens, the distance between the semiconductor laser and the collimator lens is changed. Even if it occurs, by correcting the lighting time of the laser light, the scanning width corresponding to one dot of the laser light becomes constant, so that a constant line width can be obtained and a stable image can be obtained.
第１図は本発明の一実施例を示すレーザビーム記録装置
の概略構成図、第２図は半導体レーザの出力特性図、第
３図は温度変化による結像スポットの強度分布図、第４
図は半導体レーザとコリメータレンズ間の距離と結像ス
ポット径の関係を示す特性図、第５図、第６図は第１図
に示すレーザビーム記録装置の動作波形図である。第７
図は従来のレーザビーム記録装置の概略構成図である。 ２……半導体レーザ、３……コリメータレンズ、８……
半導体レーザユニット、９……サーミスタ、10……温度
検出回路、11……点灯時間制御回路、12……同期信号発
生回路、13……レーザ駆動回路、101……温度検出手段
（距離変動を検出する手段）、102……制御回路（点灯
時間を制御する手段）。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a laser beam recording apparatus showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is an output characteristic diagram of a semiconductor laser, FIG. 3 is an intensity distribution diagram of an imaging spot due to temperature change, and FIG.
FIG. 5 is a characteristic diagram showing the relationship between the distance between the semiconductor laser and the collimator lens and the image forming spot diameter, and FIGS. 5 and 6 are operation waveform diagrams of the laser beam recording apparatus shown in FIG. 7th
FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a conventional laser beam recording device. 2 ... Semiconductor laser, 3 ... Collimator lens, 8 ...
Semiconductor laser unit, 9 ... Thermistor, 10 ... Temperature detection circuit, 11 ... Lighting time control circuit, 12 ... Synchronous signal generation circuit, 13 ... Laser drive circuit, 101 ... Temperature detection means (distance variation detection Control means (means for controlling lighting time).
Claims (1)
レーザと、この半導体レーザと光学的に設置され、前記
レーザ光を集光する集光レンズと、前記半導体レーザと
前記集光レンズとを所定距離を有して固定する保持手段
と、前記所定距離の変動を検出する検出手段と、前記所
定距離の変動を検出した場合、前記所定距離と変動した
距離との差分の増加に応じて前記半導体レーザの点灯時
間を短縮する制御手段とを具備するレーザビーム記録装
置。1. A semiconductor laser that emits laser light according to image information, a condenser lens that is optically installed with the semiconductor laser and that condenses the laser light, the semiconductor laser and the condenser lens. Holding means for fixing with a predetermined distance, detection means for detecting a change in the predetermined distance, and when detecting a change in the predetermined distance, depending on an increase in the difference between the predetermined distance and the changed distance. A laser beam recording apparatus comprising: a control unit that shortens the lighting time of the semiconductor laser.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60248245A JPH0669205B2 (en) | 1985-11-06 | 1985-11-06 | Laser beam recording device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60248245A JPH0669205B2 (en) | 1985-11-06 | 1985-11-06 | Laser beam recording device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62108671A JPS62108671A (en) | 1987-05-19 |
| JPH0669205B2 true JPH0669205B2 (en) | 1994-08-31 |
Family
ID=17175309
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60248245A Expired - Fee Related JPH0669205B2 (en) | 1985-11-06 | 1985-11-06 | Laser beam recording device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0669205B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4501811B2 (en) * | 2005-08-09 | 2010-07-14 | セイコーエプソン株式会社 | Optical scanning device and image display device |
-
1985
- 1985-11-06 JP JP60248245A patent/JPH0669205B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62108671A (en) | 1987-05-19 |
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