JPH0685198B2 - プラント機器状態監視装置 - Google Patents
プラント機器状態監視装置Info
- Publication number
- JPH0685198B2 JPH0685198B2 JP62223097A JP22309787A JPH0685198B2 JP H0685198 B2 JPH0685198 B2 JP H0685198B2 JP 62223097 A JP62223097 A JP 62223097A JP 22309787 A JP22309787 A JP 22309787A JP H0685198 B2 JPH0685198 B2 JP H0685198B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- process equipment
- deviation
- quantities
- limit value
- display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Audible And Visible Signals (AREA)
- Alarm Systems (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は相互に関連する３つのプロセス機器量を有する
プロセス機器の状態を監視するプラント機器状態監視装
置に関する。
プロセス機器の状態を監視するプラント機器状態監視装
置に関する。
各種プラントにおいては相互に関連する３つのプロセス
機器量を有する機器が多く用いられている。例えば、ポ
ンプやフアンにおいては吐出流量，吐出圧力（水頭）お
よび回転数のように３つのプロセス機器量を有してい
る。このように３つのプロセス機器量を有するプロセス
機器の状態を監視するには３次元表示することが知られ
ている。３次元表示することは例えば特開昭58−165112
号公報に記載されている。
機器量を有する機器が多く用いられている。例えば、ポ
ンプやフアンにおいては吐出流量，吐出圧力（水頭）お
よび回転数のように３つのプロセス機器量を有してい
る。このように３つのプロセス機器量を有するプロセス
機器の状態を監視するには３次元表示することが知られ
ている。３次元表示することは例えば特開昭58−165112
号公報に記載されている。
ポンプやフアンは流量と圧力が運転点によつて変化す
る。一方、所定流量と所定圧力を確保するためには速度
（回転数）を制御することになる。しかし、機器の経年
変化によつて回転数を一定値にしても流量と圧力が低下
する。換言すると、所定流量と所定圧力を得るためには
回転数を高くすることが必要となる。このような特性変
化はプロセス機器のプロセス機器量を３次元表示しただ
けでは正確に把握することができないという問題点を有
する。
る。一方、所定流量と所定圧力を確保するためには速度
（回転数）を制御することになる。しかし、機器の経年
変化によつて回転数を一定値にしても流量と圧力が低下
する。換言すると、所定流量と所定圧力を得るためには
回転数を高くすることが必要となる。このような特性変
化はプロセス機器のプロセス機器量を３次元表示しただ
けでは正確に把握することができないという問題点を有
する。
本発明の目的はプロセス機器の状態を正確に把握するこ
とができるプラント機器状態監視装置を提供することに
ある。
とができるプラント機器状態監視装置を提供することに
ある。
３つのプロセス機器量を検出し、そのうち２つのプロセ
ス機器量をＸ軸とＹ軸とする２次元座標とする。一方、
残りの１つのプロセス機器量の検出値と理論値を比較し
てプロセス機器量偏差を求める。このプロセス機器量偏
差を２つのプロセス機器量の交点を中心として面積（例
えば円形）表示する。
ス機器量をＸ軸とＹ軸とする２次元座標とする。一方、
残りの１つのプロセス機器量の検出値と理論値を比較し
てプロセス機器量偏差を求める。このプロセス機器量偏
差を２つのプロセス機器量の交点を中心として面積（例
えば円形）表示する。
１つのプロセス機器量偏差を偏差に比例した大きさで面
積表示する。この面積の大きさを視認することによつて
プロセス機器の特性劣化を正確に把握することができ
る。望ましくは機器寿命制限値あるいは劣化警報制限値
もプロセス機器量偏差と同時に表示すると機器特性変化
を一層正確に把握することができる。
積表示する。この面積の大きさを視認することによつて
プロセス機器の特性劣化を正確に把握することができ
る。望ましくは機器寿命制限値あるいは劣化警報制限値
もプロセス機器量偏差と同時に表示すると機器特性変化
を一層正確に把握することができる。
第１図に本発明の一実施例を示す。第１図はプロセス機
器がポンプの場合の例を示す。
器がポンプの場合の例を示す。
第１図において、ポンプ（図示せず）のプロセス機器量
である流量Q,水頭（圧力）Ｈおよび回転数Ｎを検出しプ
ロセス入力装置１を介してレベル変換回路６に入力され
る。レベル変換回路６はプロセス機器量検出値Q,H,Nを
演算処理装置２の信号処理レベルに変換する。流量検出
値Ｑと水頭検出値Ｈは理論値演算回路7,制御値演算回路
９および画面表示処理回路11に入力される。理論値演算
回路７は流量Ｑと水頭Ｈに該当する理論機器データをデ
ータフアイル３から取込み回転数理論値NRを求める。レ
ベル変換回路６の出力する回転数検出値Ｎは速度偏差演
算回路８に入力される。速度偏差演算回路８は回転数の
理論値NRと検出値Ｎの偏差ΔＮ（プロセス機器量偏差）
を求め画面表示処理回路11に与える。制御値演算回路９
はデータフアイル３から機器警報制限データIAと機器寿
命制限データICを取込み流量検出値Ｑと水頭検出値Ｈに
より運転点における制限回転数NAとNCを求め、その上で
偏差警報制限値ΔNAと偏差寿命制限値ΔNCを演算する。
制限値演算回路９は偏差警報制限値を表示する円形の半
径rAと偏差寿命制限値を表示する円形の半径rCならびに
偏差寿命制限値の円形面積ACも演算によつて求める。制
限値演算回路９が行う演算の詳細については後述する。
画面表示処理回路11は入力される情報に基づきCRT4への
表示内容を決定する。表示画面選択回路10はオペレータ
が操作するキーボード５からのリクエスト情報に基づき
画面表示処理回路11に画面表示要求指令を与える。
である流量Q,水頭（圧力）Ｈおよび回転数Ｎを検出しプ
ロセス入力装置１を介してレベル変換回路６に入力され
る。レベル変換回路６はプロセス機器量検出値Q,H,Nを
演算処理装置２の信号処理レベルに変換する。流量検出
値Ｑと水頭検出値Ｈは理論値演算回路7,制御値演算回路
９および画面表示処理回路11に入力される。理論値演算
回路７は流量Ｑと水頭Ｈに該当する理論機器データをデ
ータフアイル３から取込み回転数理論値NRを求める。レ
ベル変換回路６の出力する回転数検出値Ｎは速度偏差演
算回路８に入力される。速度偏差演算回路８は回転数の
理論値NRと検出値Ｎの偏差ΔＮ（プロセス機器量偏差）
を求め画面表示処理回路11に与える。制御値演算回路９
はデータフアイル３から機器警報制限データIAと機器寿
命制限データICを取込み流量検出値Ｑと水頭検出値Ｈに
より運転点における制限回転数NAとNCを求め、その上で
偏差警報制限値ΔNAと偏差寿命制限値ΔNCを演算する。
制限値演算回路９は偏差警報制限値を表示する円形の半
径rAと偏差寿命制限値を表示する円形の半径rCならびに
偏差寿命制限値の円形面積ACも演算によつて求める。制
限値演算回路９が行う演算の詳細については後述する。
画面表示処理回路11は入力される情報に基づきCRT4への
表示内容を決定する。表示画面選択回路10はオペレータ
が操作するキーボード５からのリクエスト情報に基づき
画面表示処理回路11に画面表示要求指令を与える。
次に動作を第２図に示すフローチヤートを参照して説明
する。
する。
プロセス入力装置１は流量Q,水頭Ｈおよび回転数Ｎを周
期的に測定する。理論値演算回路７はデータフアイル３
から理論機器データIsを取込み、流量検出値Ｑと水頭検
出値Ｈに基づき理論回転数NRを求める。この関係は第３
図のように表わすことができる。第３図は水頭H,流量Ｑ
および回転数Ｎをそれぞれ１つの軸として３次元表示し
たもので、流量がQ0で水頭がH0のときの理論回転数をNR
としている。このときの回転数検出値をＮとする。速度
偏差演算回路８は回転数検出値Ｎと理論値NRの偏差ΔＮ
を求める。ポンプは経年変化により同じ流量と水頭を確
保するのに回転数が高くなる。第３図において回転数検
出値Ｎが理論回転数NRより高くなつている。一方、制限
値演算回路９はデータフアイル３から機器警報制限デー
タIAと機器寿命制限データICを取込み偏差警報制限値Δ
NAと偏差寿命制限値ΔNCを次式の関係に従つて求める。
期的に測定する。理論値演算回路７はデータフアイル３
から理論機器データIsを取込み、流量検出値Ｑと水頭検
出値Ｈに基づき理論回転数NRを求める。この関係は第３
図のように表わすことができる。第３図は水頭H,流量Ｑ
および回転数Ｎをそれぞれ１つの軸として３次元表示し
たもので、流量がQ0で水頭がH0のときの理論回転数をNR
としている。このときの回転数検出値をＮとする。速度
偏差演算回路８は回転数検出値Ｎと理論値NRの偏差ΔＮ
を求める。ポンプは経年変化により同じ流量と水頭を確
保するのに回転数が高くなる。第３図において回転数検
出値Ｎが理論回転数NRより高くなつている。一方、制限
値演算回路９はデータフアイル３から機器警報制限デー
タIAと機器寿命制限データICを取込み偏差警報制限値Δ
NAと偏差寿命制限値ΔNCを次式の関係に従つて求める。
ΔNA＝NA−NR …（１） ΔNC＝NC−NR …（２） NA:警報制限値 NC:寿命制限値 さて、回転数検出値Ｎと理論回転数NRの間には偏差ΔＮ
が存在する。Ｑ−ＨをＸ−Ｙ軸とする２次元座標に速度
偏差表示するために円形表示する。
が存在する。Ｑ−ＨをＸ−Ｙ軸とする２次元座標に速度
偏差表示するために円形表示する。
このことを第３図を参照して説明する。寿命制限値NCに
相当する円形面積をACとして理論回転数NRのところへ向
けて円錘を描くようにする。寿命制限値NCに相当する円
の半径rCとすると面積ACは次式で求められる。
相当する円形面積をACとして理論回転数NRのところへ向
けて円錘を描くようにする。寿命制限値NCに相当する円
の半径rCとすると面積ACは次式で求められる。
AC＝πrC 2 …（３） 寿命制限値NCに相当する円の判定をγとすると警報制限
値NAに相当する円の半径は次式で求められる。
値NAに相当する円の半径は次式で求められる。
また、実回転数Ｎにおける速度偏差ΔＮを表わす円の半
径γは次式で求められる。
径γは次式で求められる。
これらのことを２次元座標に示すと第４図のように表わ
すことができる。
すことができる。
制限値演算回路９は以上のような考えに基づいて演算を
行ない画面表示処理回路11に情報として与える。両面表
示処理回路11は流量Q,水頭H,速度偏差ΔＮおよび制限値
演算回路９情報に基づき次のような処理を実行する。こ
の処理内容を第２図を参照して説明する。
行ない画面表示処理回路11に情報として与える。両面表
示処理回路11は流量Q,水頭H,速度偏差ΔＮおよび制限値
演算回路９情報に基づき次のような処理を実行する。こ
の処理内容を第２図を参照して説明する。
まず、ステツプS1で速度偏差ΔＮと偏差情報制限値ΔＮ
を比較し速度偏差ΔＮが小さいときにはステツプS2に移
行する。ステツプS2ではオペレータがキーボード５から
現在の状況を表示要求しているかを判断する。表示要求
無しの場合には何の処理を実施せず終了とする。オペレ
ータがキーボード５から表示要求している場合には表示
両面選択回路10を介して画面表示処理回路11に与えられ
る。画面表示処理装置11は表示要求を受けると現在の速
度偏差ΔＮに相当する円の面積を次式で演算する。
を比較し速度偏差ΔＮが小さいときにはステツプS2に移
行する。ステツプS2ではオペレータがキーボード５から
現在の状況を表示要求しているかを判断する。表示要求
無しの場合には何の処理を実施せず終了とする。オペレ
ータがキーボード５から表示要求している場合には表示
両面選択回路10を介して画面表示処理回路11に与えられ
る。画面表示処理装置11は表示要求を受けると現在の速
度偏差ΔＮに相当する円の面積を次式で演算する。
（６）式の演算はステツプS3で行われる。ステツプS4で
は警報制限値NAに相当する円の半径rAを確認する。ステ
ツプS5に移行し、（６）式の円の座標（Q0,H0）を中心
として白塗りで表示し警報制限値NAに相当する半径rAの
円を赤色で第５図のようにCRT4に表示する。
は警報制限値NAに相当する円の半径rAを確認する。ステ
ツプS5に移行し、（６）式の円の座標（Q0,H0）を中心
として白塗りで表示し警報制限値NAに相当する半径rAの
円を赤色で第５図のようにCRT4に表示する。
次に、ステツプS1において速度偏差ΔＮが警報制限値Δ
NAより大きいと判断するとステツプS6に移行し速度偏差
ΔＮと偏差寿命制限値ΔNCを比較する。速度偏差ΔＮが
小さいときにはステツプS7に移行し（６）式に基づき表
示面積Ａを求める。そしてステツプS8に移り寿命制限値
NCの面積の半径rCを確認する。ステツプS9に移りステツ
プS7で求めた大きさの円をCRT4に第６図のように赤色で
点滅表示すると共に寿命制限値NCに相当する円を青線表
示する。一方、ステツプS6で速度偏差ΔＮが偏差寿命制
限値ΔNCより大きいときにはステツプS10で寿命制限値N
Cに相当するACを表示面積Ａにする。そして、ステツプS
11でCRT4が第７図のように表示する。この場合には円を
青色表示にする。
NAより大きいと判断するとステツプS6に移行し速度偏差
ΔＮと偏差寿命制限値ΔNCを比較する。速度偏差ΔＮが
小さいときにはステツプS7に移行し（６）式に基づき表
示面積Ａを求める。そしてステツプS8に移り寿命制限値
NCの面積の半径rCを確認する。ステツプS9に移りステツ
プS7で求めた大きさの円をCRT4に第６図のように赤色で
点滅表示すると共に寿命制限値NCに相当する円を青線表
示する。一方、ステツプS6で速度偏差ΔＮが偏差寿命制
限値ΔNCより大きいときにはステツプS10で寿命制限値N
Cに相当するACを表示面積Ａにする。そして、ステツプS
11でCRT4が第７図のように表示する。この場合には円を
青色表示にする。
このようにして速度偏差ΔＮを表示するのであるが、２
次元座標に円の大きさとして表示しているので正確に把
握することができる。
次元座標に円の大きさとして表示しているので正確に把
握することができる。
なお、以上の実施例は偏差寿命制限値や偏差警報制限値
をも同時に円形表示しているが、これは機器の監視に望
ましいということであり必ずしも必要なことではない。
をも同時に円形表示しているが、これは機器の監視に望
ましいということであり必ずしも必要なことではない。
以上説明したように本発明によればプラント機器の状態
を２次元表示によって正確に把握することができる。
を２次元表示によって正確に把握することができる。
なお、以上の実施例はプラント機器がポンプの場合であ
るが他のプラント機器であつても同様に行えるのは勿論
である。また、プラント機器量が回転数であり経年変化
によつて大きくなる場合について述べたが経年変化によ
つて小さくなるようなプラント機器量であつても同様に
監視できる。
るが他のプラント機器であつても同様に行えるのは勿論
である。また、プラント機器量が回転数であり経年変化
によつて大きくなる場合について述べたが経年変化によ
つて小さくなるようなプラント機器量であつても同様に
監視できる。
さらに、上述の実施例はプラント機器偏差量を円形表示
する場合について述べたが四角形などによつても表示で
きる。
する場合について述べたが四角形などによつても表示で
きる。
第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロツク図、第
２図は第１図の動作説明用フロー図、第３図，第４図は
本発明の考え方を説明するための特性図、第５図〜第７
図は表示例を示す図である。 ４……CRT、７……理論演算回路、８……速度偏差演算
回路、９……制限値演算回路、11……画面表示処理回
路。
２図は第１図の動作説明用フロー図、第３図，第４図は
本発明の考え方を説明するための特性図、第５図〜第７
図は表示例を示す図である。 ４……CRT、７……理論演算回路、８……速度偏差演算
回路、９……制限値演算回路、11……画面表示処理回
路。
Claims (2)
- 【請求項１】相互に関連する３つのプロセス機器量を有
するプラント機器と、前記３つのプロセス機器量をそれ
ぞれ検出し、そのうち２つのプロセス機器量によつて残
りの１つのプロセス機器量の理論値を求める理論値演算
手段と、前記１つのプロセス機器量の検出値と理論値を
比較してプロセス機器量偏差を求める偏差演算手段と、
前記２つのプロセス機器量をそれぞれＸ軸,Y軸として２
次元表示する表示装置と、前記２つのプロセス機器量と
１つのプロセス機器量偏差を入力し、プロセス機器量偏
差を、２つのプロセス機器量の交点を中心にした面積表
示の大きさによつて前記表示装置に表示する表示制御手
段とを具備したプラント機器状態監視装置。 - 【請求項２】特許請求の範囲第１項において、前記表示
制御手段はプラント機器量偏差を２つのプロセス機器量
の直交位置を中心にした円形表示を行うよにしたことを
特徴とする特許請求の範囲第１項記載のプラント機器状
態監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62223097A JPH0685198B2 (ja) | 1987-09-08 | 1987-09-08 | プラント機器状態監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62223097A JPH0685198B2 (ja) | 1987-09-08 | 1987-09-08 | プラント機器状態監視装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6466798A JPS6466798A (en) | 1989-03-13 |
| JPH0685198B2 true JPH0685198B2 (ja) | 1994-10-26 |
Family
ID=16792782
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62223097A Expired - Lifetime JPH0685198B2 (ja) | 1987-09-08 | 1987-09-08 | プラント機器状態監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0685198B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009245137A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Yokogawa Electric Corp | プラント情報表示システムおよびプラント情報表示方法 |
-
1987
- 1987-09-08 JP JP62223097A patent/JPH0685198B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009245137A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Yokogawa Electric Corp | プラント情報表示システムおよびプラント情報表示方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6466798A (en) | 1989-03-13 |
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