JPH06857B2 - Photoprocessing of polycyclic fused aromatic polymers - Google Patents
Photoprocessing of polycyclic fused aromatic polymersInfo
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- JPH06857B2 JPH06857B2 JP61130359A JP13035986A JPH06857B2 JP H06857 B2 JPH06857 B2 JP H06857B2 JP 61130359 A JP61130359 A JP 61130359A JP 13035986 A JP13035986 A JP 13035986A JP H06857 B2 JPH06857 B2 JP H06857B2
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- G03C5/00—Photographic processes or agents therefor; Regeneration of such processing agents
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- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】 本発明は紫外線により光加工され易い重合体で、その主
鎖の大部分にナフタリン核、アンスラセン核又はビフェ
ニール核の如き少くとも二つ以上の芳香核を有する多環
芳香族高分子の光加工に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention is a polymer that is easily photoprocessed by ultraviolet light, and has a polycyclic fragrance having at least two or more aromatic nuclei such as naphthalene nucleus, anthracene nucleus or biphenyl nucleus in the main chain. The present invention relates to optical processing of group polymers.
本発明の方法は (1)紫外線を照射すると光酸化分解が容易に起る。In the method of the present invention, (1) photo-oxidative decomposition easily occurs when irradiated with ultraviolet rays.
(2)紫外線レーザを照射すると効率的に光酸化分解が
起る。(2) Photo-oxidative decomposition occurs efficiently when irradiated with an ultraviolet laser.
但し、 (3)照射されなかった部分並びに光の届かなかったと
ころの重合体の諸物性は殆んど変化しない。However, (3) the physical properties of the polymer in the non-irradiated part and the part to which the light does not reach hardly change.
などの特徴を有するため下記の種々の用途に利用でき
る。Since it has the characteristics as described above, it can be used for various purposes described below.
I 半導体集積回路の作成、フォトエレクトロフォーミ
ング加工、金属板のケミカルエツチング、更に印刷配線
板の作成等の工程に使用される乾式エッチング用フォト
レジスト又は増間剤 (芳香核の側鎖アルキル基にハロゲンが置換された重合
体を使用した場合には直接的エツチング用フォトレジス
ト) II リードオンリーメモリ(Read only Memory(以下R
OMと略す))用有機高分子基材 (潜在的に面に垂直な方向にもメモリーを集積し得るR
OM) III 微細多孔膜用有機高分子素材 (テープ状のものとして感熱転写用リボンテープ素材
(多数回使用)等、又、小さなものとして、酸素を透過
し易いコンタクトレンズ用素材等)更に光加工が特異で
且つ容易なため層状加工が可能なほか熱履歴が残り難い
状態で紫外線により穴あけ、切断、表面加工等が実施出
来るなどの特徴のある高分子成型物を関連業界に提供す
るものである。I. Photo-resist or intercalating agent for dry etching used in processes such as production of semiconductor integrated circuits, photoelectroforming, chemical etching of metal plates, and production of printed wiring boards (halogen for side chain alkyl group of aromatic nucleus). When a polymer in which is substituted is used, a photoresist for direct etching) II Read only memory (R
Abbreviated as OM)) organic polymer base material (potentially capable of accumulating memory in a direction perpendicular to the surface
OM) III Organic polymer material for fine porous film (ribbon tape material for thermal transfer (used many times) as tape-shaped material, and small material such as contact lens that easily permeates oxygen) Further optical processing Because it is unique and easy, layered processing is possible and, in the state where heat history is hard to remain, it is possible to provide polymer moldings with characteristics such as punching, cutting, surface processing with ultraviolet rays to related industries. .
先行技術との関係 近年、フォトエッチング、光加工技術は急速に進歩し、
微細化への努力の他、工程の合理化についての提案が多
数行はれている。例えばエヌ・ウエノ等(Japanese Jou
nal of Applied Physics Vol.20,No.10 October L709〜
L712(1981))は波長180〜290nmの遠紫外線による
フォトレジストの乾式エッチングを試み、現像工程が省
略し得るとの極めて興味のある報告をしている。Relationship with Prior Art In recent years, photo-etching and photo-machining technologies have made rapid progress,
In addition to efforts for miniaturization, many proposals have been made for streamlining processes. For example, N Ueno (Japanese Jou
nal of Applied Physics Vol.20, No.10 October L709〜
L712 (1981)) attempted dry etching of photoresist with deep ultraviolet rays having a wavelength of 180 to 290 nm, and reported that the development step could be omitted.
フォトレジストとしてはポリ(メチルメタクリレー
ト)、ポリ(メチルイソプロピニルケトン)、のほかA
Z−1350(ナフトキノン−o−ジアサイドで改良さ
れたノボラック樹脂)を用い放電灯としてはドイッテリ
ウム ディスチャージ ランプ(Deuterium Discharge
Lamp)を用いている。As photoresist, poly (methylmethacrylate), poly (methylisopropynylketone), A
Deuterium discharge lamp (Deuterium Discharge) was used as the discharge lamp using Z-1350 (Novolak resin improved with naphthoquinone-o-diaside).
Lamp) is used.
又、220nmより短い波長の紫外線をポリマーに照射し
て重合体を誘発的にフォトエッチングする方法としては
インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレ
ーション(以下IBM社と略す)のアール・スリニヴサ
ン(R.Srinivasan)により見出され有機高分子を誘発光
分解(Ablative Photo Decompostion)する有効な方法
として広く知られた著名な反応である。Further, as a method of inducing photoetching of the polymer by irradiating the polymer with ultraviolet rays having a wavelength shorter than 220 nm, R.Srinivasan of International Business Machines Corporation (abbreviated as IBM) is used. This is a well-known reaction that is widely known as an effective method for eliciting photodecomposition of organic polymers (Ablative Photo Decompostion).
我国にも、 ・特公開 昭59−12945 ポリエステルを食刻
する方法 ・特公開 昭59−69931 ポリイミドを食刻す
る方法 ・特公開 昭59−105638 レジスト材料の遠紫
外パターン付け方法 がIBM社により出願されている。In Japan, as well, Japanese Patent Publication No. Sho 59-12945, a method of etching polyester, Japanese Patent Publication No. 59-69931, a method of etching polyimide, and Japanese Patent Publication No. Sho 59-105638, a far-ultraviolet patterning method for resist materials, filed by IBM Corporation. Has been done.
然しながら、上記先行技術はいづれも290nmより短い
波長を有する遠紫外線のみを使用しており、有機高分子
としては脂肪族化合物、単環芳香族化合物のみを対象と
した光加工技術であることは明白である。However, all of the above prior arts use only deep ultraviolet rays having a wavelength shorter than 290nm, and it is obvious that the organic polymer is a photoprocessing technology for only aliphatic compounds and monocyclic aromatic compounds. Is.
例えば前記IBM社特公開昭59−12945では高圧
水銀ランプ、キセノンランプ及び炭素アークランプは当
該誘発光分解反応には無効であり、使用し得ないことが
明記されている。For example, it is specified in the above-mentioned IBM Publication No. 59-12945 that a high-pressure mercury lamp, a xenon lamp and a carbon arc lamp are ineffective for the induced photodecomposition reaction and cannot be used.
又、アール・スリニヴサン等のその後の関連報文(例え
ばJ,Am.Chem.Soc.1984,106,4288-4290,Journal of Poly
mer Science Polymer Chemistry Edition,Vol.22,2601
〜2609(1984)等)でも研究の対象となっている重合体は
ポリ(メチルメタクリレート)、ポリ(エチレンテレフ
タレート)、ベンゼンテトラカルボン酸と単環芳香族ジ
アミンとの縮重合ポリイミド、単環芳香族系のポリカー
ボネート即ち、脂肪族、単環芳香族系の高分子に限られ
ている。In addition, subsequent related reports such as Earl Srinivsan (eg J, Am. Chem. Soc. 1984 , 106, 4288-4290, Journal of Poly
mer Science Polymer Chemistry Edition, Vol.22,2601
~ 2609 (1984)), the polymers that are the subject of research are poly (methyl methacrylate), poly (ethylene terephthalate), polycondensation polyimide of benzenetetracarboxylic acid and monocyclic aromatic diamine, monocyclic aromatic It is limited to the polycarbonate of the system, that is, the polymer of the aliphatic or monocyclic aromatic system.
主として紫外線を利用するフォトレジスト材料として使
用されている高分子は ○水溶性コロイド系フォトレジスト(例えばポリ(ビニ
ールアルコール)) ○ポリ桂皮酸系フォトレジスト(例えばポリ(ビニール
桂皮酸エステル)) ○環化ゴム系フォトレジスト(単環芳香族ビスアジト)
等もいずれも脂肪族及至は単環芳香族系の高分子であ
る。Polymers that are mainly used as photoresist materials that use ultraviolet rays are: ○ Water-soluble colloidal photoresists (eg poly (vinyl alcohol)) ○ Polycinnamic acid photoresists (eg poly (vinyl cinnamate)) ○ Rings Rubber type photoresist (monocyclic aromatic bisazito)
Both are aliphatic and monocyclic aromatic polymers.
キノン・ジァザイド系フォトレジストの中には他環芳香
族系の化合物が使用されているが、これは光によってキ
ノン・ジァサイドが窒素を放出する性質を利用したもの
であって本発明の如き高分子の紫外線による光酸化分解
とは本質的に異なる光反応を利用したフォトレジストで
ある。A heterocyclic aromatic compound is used in the quinone diazide photoresist, which utilizes the property that quinone diside releases nitrogen by light. It is a photoresist that utilizes a photoreaction that is essentially different from the photo-oxidative decomposition of UV light.
又、感光性高分子の中には感光基としてアントラセン基
を含むポリマーもあるがいずれも光二量化型の感光性高
分子に関するものであり光分解型の高分子ではない。Further, some of the photosensitive polymers include a polymer containing an anthracene group as a photosensitive group, but all of them relate to a photodimerization type photosensitive polymer and are not photodegradable type polymers.
脂肪族系、単環芳香族系の高分子と多環縮合芳香族系の
高分子とでは紫外線の波長の影響は異なるものとなる。
アール・スリニヴサンの報告(Journal of Polymer Sci
ence Polymer Chemistry Edition Vol.22,2601〜2609(1
984))によると脂肪族系高分子(例えばポリ(メチルメ
タクリレート)単環芳香族系高分子(例えばポリ(エチ
レンテレフタレート))は248nm、308nmの波長を
有するレーザによりエツチングされるが193nmより長
い波長の光を使用するとその誘発分解のメカニズムは光
分解よりも熱分解の占める割合が増大すると報告してい
る。このことは効率的にエツチングしようとすればする
ほど前記の高分子は熱分解によりエツチングされること
になり熱履歴の残らない状態での加工は困難になること
を示唆している。The influence of the wavelength of ultraviolet rays differs between the aliphatic or monocyclic aromatic polymer and the polycyclic condensed aromatic polymer.
Report of Earl Srinivsan (Journal of Polymer Sci
ence Polymer Chemistry Edition Vol.22,2601 ~ 2609 (1
984)), aliphatic polymers (eg poly (methylmethacrylate) monocyclic aromatic polymers (eg poly (ethylene terephthalate)) are etched by lasers with wavelengths of 248 nm and 308 nm, but with wavelengths longer than 193 nm. It has been reported that the mechanism of its induced decomposition is higher than that of photolysis, and that the more efficient the etching, the more the above-mentioned polymer is decomposed by the thermal decomposition. Therefore, it is suggested that it is difficult to process without heat history.
一方、低分子の多環縮合芳香族化合物を光増感剤として
使用することは良く知られている。例えば村原正隆等
(応用物理52巻83頁(1983等)はエキシマレーザによる
ポリ(メチルメタクリレート)のフォトエッチングにつ
き極めて先見性のある研究を実施しているが、その際に
アントラセン、アクリジン、ビフェニール等を増感剤と
して使用している。即ち、ポリ(メチルメタクリレー
ト)を溶剤に溶かし、これにこれらの増感剤(10%を加
えたものを基板上に塗布し、これを約100℃でベーキン
グしたものをフォトエッチングに使用している。然し、
これらの低分子の増感剤はベーキング温度を上げると増
感効果は次第に低下し、約200℃で増感効果は全く失わ
れるとされている。この理由は低分子のこれら添加物が
基板ベーキング時に使用した溶剤と共に気化逸散してし
まう為であるとされている。ベーキング温度をより高く
することは現像処理を行う場合レジストの面だれを防止
する上で不可欠であると言われているが低分子の増感剤
ではベーキング温度を高く出来ない為、面だれを充分に
防ぐことが出来ない欠点があることになる。On the other hand, it is well known to use a low molecular weight polycyclic fused aromatic compound as a photosensitizer. For example, Masataka Murahara et al. (Applied Physics, Vol. 52, p. 83 (1983 etc.) conducted extremely forward-looking research on photo-etching of poly (methyl methacrylate) by excimer laser, and at that time, anthracene, acridine, biphenyl Etc. are used as sensitizers, that is, poly (methylmethacrylate) is dissolved in a solvent, and these sensitizers (10% added) are applied to the substrate, and this is applied at about 100 ° C. I use the baked one for photo etching.
It is said that the sensitizing effect of these low-molecular sensitizers gradually decreases with increasing baking temperature, and the sensitizing effect is completely lost at about 200 ° C. The reason for this is believed to be that these low molecular weight additives are vaporized and diffused together with the solvent used for baking the substrate. It is said that higher baking temperature is indispensable to prevent resist weeping when developing, but low molecular weight sensitizers cannot raise baking temperature, so surface weeping is sufficient. There are drawbacks that cannot be prevented.
本発明者等は上記知見に基づき、方電灯からの紫外線、
380nmより短い波長を放射するレーザー等でも光加工が
容易な(熱加工の寄与の少い)、且つベーキング温度を
高くしても気化逸散しない有機高分子について鋭意探索
した結果本発明に到達したものである。The present inventors, based on the above findings, ultraviolet rays from a square lamp,
The present invention has been achieved as a result of an intensive search for an organic polymer that is easily photoprocessed even with a laser emitting a wavelength shorter than 380 nm (the contribution of thermal processing is small) and does not vaporize and dissipate even when the baking temperature is raised. It is a thing.
即ち、本発明は重合体の大部分の主鎖の骨格にナフタリ
ン核、アンスラセン核又はビフェニール核の如き多環縮
合芳香族化合物を含む高分子を紫外線により実質的に熱
加工を伴わないで効率良く、光加工する方法である。That is, the present invention provides a polymer containing a polycyclic fused aromatic compound such as a naphthalene nucleus, an anthracene nucleus or a biphenyl nucleus in the skeleton of most of the main chain of a polymer efficiently without being thermally processed by ultraviolet rays. , Is a method of optical processing.
重合体の骨格を構成する多環縮合芳香族化合物としては
ナフタリン、アンスラセン、ビフェニール等の縮合芳香
族化合物であることを特徴とする高分子化合物であり、
又そのナフタリン、アンスラセン、ビフェニール等の芳
香核にアルキル基(以下R基と略す)、側鎖R基にハロ
ゲンが置換されたR基、メトアルコキシ基、ヒドロキシ
基、アニリン基、N(R)2基、NHCOR基、等の芳香核
に電子集積を起す置換基、又はニトロ基、スルホン基、
SO2R基、シアノ基、アルデヒド基、COR基、カル
ボン酸基、カルボン酸エステル基、NH3基、NR3基等
の芳香核の電子密度を減少させる置換基、のほかハロゲ
ン基等を一つ又は二つ以上置換することにより光加工速
度を調節した多環縮合芳香族系化合物の高分子も本発明
の対象高分子組成物の範疇に属する。又、その高分子組
成物はラジカル重合又は縮重合により合成されたもので
あってもよく、結晶性高分子であっても非晶質重合体で
あっても良い。結晶性高分子を未配向のまま使用した
り、一軸、二軸に配向された状態で光加工に供したり、
最終製品として市場に提供しても何等差支えはない。The polycyclic condensed aromatic compound constituting the skeleton of the polymer is a polymer compound characterized by being a condensed aromatic compound such as naphthalene, anthracene, and biphenyl,
Further, an alkyl group (hereinafter abbreviated as R group) in the aromatic nucleus of naphthalene, anthracene, biphenyl and the like, an R group in which halogen is substituted in the side chain R group, a methalkoxy group, a hydroxy group, an aniline group, N (R) 2 Group, a substituent such as NHCOR group, which causes electron accumulation in an aromatic nucleus, or a nitro group, a sulfone group,
A substituent such as a SO 2 R group, a cyano group, an aldehyde group, a COR group, a carboxylic acid group, a carboxylic acid ester group, a NH 3 group or an NR 3 group which reduces the electron density of an aromatic nucleus, as well as a halogen group or the like. Polymers of polycyclic fused aromatic compounds whose photoprocessing speed is controlled by substituting one or two or more of them are also included in the category of the subject polymer composition of the present invention. The polymer composition may be one synthesized by radical polymerization or polycondensation, and may be a crystalline polymer or an amorphous polymer. You can use crystalline polymer as it is, or use it for optical processing in the uniaxially or biaxially oriented state.
There is no problem in providing it to the market as a final product.
更に又、その他のその重合体の物性を著しく損はない範
囲で、又は付加価値を高めるため他の重合体と共重合、
ブレンド若しくはブロック重合したり、光増感剤、触媒
−例えば光増感剤として色素類、触媒として遷移金属の
塩、等−を添加しても本発明の範囲外であるとは主張し
得ない。Furthermore, copolymerization with other polymers to the extent that the physical properties of the other polymers are not significantly impaired, or to increase added value,
It cannot be claimed to be outside the scope of the present invention by blending or block polymerizing, adding a photosensitizer, a catalyst such as a dye as a photosensitizer, a salt of a transition metal as a catalyst, or the like. .
例えばポリ(メチルメタクリレート)レジストのフォト
エッチング性を向上させる為に本発明の対象高分子をた
とえ数パーセントでも増感剤として使用したとしても本
発明の請求の範囲に含まれる。本発明の対象の高分子の
分子量については使用目的により通常の高分子の分子量
より高いものが必要とされる場合もあるが、ポリ(メチ
ルメタクリレート)の増感剤に使用する場合等ではベー
キング温度で気化逸散しない程度の分子量であればよ
い。For example, even if the target polymer of the present invention is used as a sensitizer even for a few percent to improve the photoetchability of poly (methyl methacrylate) resist, it is within the scope of the present invention. Regarding the molecular weight of the polymer of the present invention, it may be necessary to have a higher molecular weight than the ordinary polymer depending on the purpose of use, but when used as a sensitizer of poly (methyl methacrylate), the baking temperature The molecular weight may be such that it does not vaporize and dissipate.
光加工に用いる紫外線としては380nmより短い波長を
有する所謂紫外線であるが可視光を含む光、例えば主に
太陽光であっても何等差支えがない。The ultraviolet light used for the optical processing is so-called ultraviolet light having a wavelength shorter than 380 nm, but light including visible light, for example, mainly sunlight can be used.
広い面積で光加工を実施したい場合には実施例1に示し
た如く太陽光(又はフレネルレンズ等で集光した)を利
用してもよい。When it is desired to perform optical processing over a wide area, sunlight (or light collected by a Fresnel lens or the like) may be used as shown in the first embodiment.
然し、工業的に放電灯(高圧水銀ランプ、キセノンラン
プ、酸素アーク、水銀共鳴ランプ等)を利用し、その複
数個を重ねて使用すれば比較的広い面積のものを効率の
高い状態で光加工することが出来る。However, industrially using discharge lamps (high-pressure mercury lamps, xenon lamps, oxygen arcs, mercury resonance lamps, etc.) and stacking multiple lamps, it is possible to process a relatively large area with high efficiency. You can do it.
この際、精密なパターンが必要とされる場合には集積回
路プロセスで使用されているフオトマスク、ウエーハ露
光用アライナー等の技術、プロセス、設備を援用するこ
とによりほヾ同じ程度の精密な加工を行うことが出来
る。At this time, if a precise pattern is required, the photomask, the aligner for wafer exposure, and other techniques, processes, and equipment used in the integrated circuit process are used to perform almost the same precise processing. You can
集積回路プロセスで蓄積された技術を本発明の対象高分
子に適用した場合、著しく機能化された製品が作成し得
るのが本発明の工業的な効果を示す一例となる。即ち、
任意の形状パターンを有するフオトマスクを使用すれば
その任意のパターンを本発明の対象高分子の表面上に正
確に転写することが出来るほか、射出成型や熱加工では
加工物に熱履歴が残った状態での製品しか製作し得ない
のに対し熱履歴が殆ど残らないような製品を得ることが
本発明により工業的に可能となる。When the technology accumulated in the integrated circuit process is applied to the polymer of the present invention, a product highly functionalized can be produced as an example showing the industrial effect of the present invention. That is,
If a photomask having an arbitrary shape pattern is used, the arbitrary pattern can be accurately transferred onto the surface of the target polymer of the present invention, and a thermal history remains in the work piece by injection molding or thermal processing. According to the present invention, it is possible to industrially obtain a product in which the heat history hardly remains, while the product described in (1) can be manufactured.
更に、光加工を続けることにより任意のパターンを有す
る多数の穴を本発明の対象高分子の表面上に任意の深さ
の加工、望むなら穿孔することも出来る。Furthermore, by continuing the optical processing, a large number of holes having an arbitrary pattern can be processed on the surface of the subject polymer of the present invention to an arbitrary depth, and if desired, perforated.
高分子を利用した微細多孔膜としては、ゴアテックス、
フロロポアー、ジュラガード、ミリポアー、ニュクリア
ポアー、(いずれも商標名)等が上市され関連業界で評
価され、その特性にふさわしい使われ方がなされてい
る。GORE-TEX, a microporous membrane using polymers,
Fluorophore, Jura Guard, Millipore, Nucleapor, etc. (all of which are brand names) are marketed and evaluated in related industries, and their usage is appropriate to their characteristics.
然し、これらの微細多孔膜は穴の形状を任意な形には出
来ない欠点を有する。然るに本発明の対象高分子と既存
技術の380nmより短い波長の光を発生する技術、それ
を利用する技術、とを組合わせることにより任意の形状
を有する微細多孔膜が作成し得ることになる。However, these microporous membranes have the drawback that the shape of the holes cannot be made arbitrary. Therefore, by combining the target polymer of the present invention with the existing technology of generating light having a wavelength shorter than 380 nm and the technology of utilizing it, a microporous membrane having an arbitrary shape can be prepared.
現在、技術的にほヾ完成の域に到達しつつある紫外線レ
ーザ……380nmより短い波長を有するレーザと本発明
の対象高分子とを組合せて使用することも新しい機能を
本発明の対象高分子に効率的に賦与することとなる。At present, an ultraviolet laser which is technically reaching the perfection range ... A combination of a laser having a wavelength shorter than 380 nm and the target polymer of the present invention is used to obtain a new function. Will be efficiently provided to
これらのレーザとしてはN2(波長337nm)、XeCl(波長
308nm)、YAG(1/4波長(4倍高調波)256nm)、K
rF(波長248nm)、ArF(波長193nm)等のレーザが
ある。これらのレーザ光をレンズ等の光学系を使用して
集光し穴あけ、切断等の光加工を行なう場合には熱履歴
の殆ど残らない重合体として本発明の対象高分子は極め
て適切な重合体となる。These lasers include N 2 (wavelength 337 nm), XeCl (wavelength
308nm), YAG (1/4 wavelength (4th harmonic) 256nm), K
There are lasers such as rF (wavelength 248 nm) and ArF (wavelength 193 nm). The polymer of interest of the present invention is an extremely suitable polymer as a polymer having almost no thermal history when these laser beams are condensed using an optical system such as a lens and subjected to optical processing such as drilling and cutting. Becomes
又、半導体レーザプリンターの開発中の技術、関連技術
−例えばポリゴンミラー、Fθレンズ等の光学系の技術
を援用することが出来れば単位面積当りに多数の微細孔
を有する多孔膜も本発明の対象高分子を利用して作るこ
とが出来よう。Further, a porous film having a large number of fine holes per unit area can be applied if the technology under development of the semiconductor laser printer and related technology-for example, the technology of an optical system such as a polygon mirror and an Fθ lens can be applied. It could be made using macromolecules.
逆に、レーザ光をレンズ等を利用して分散させたり出力
の小さな放電灯を利用したりして可能となると考えられ
る技術は対象高分子の表面を改質(例えば疎水性を親水
性に)することである。On the other hand, the technology considered to be possible by dispersing the laser light by using a lens or using a discharge lamp with a small output is to modify the surface of the target polymer (for example, to make the hydrophobic property hydrophilic). It is to be.
紫外線レーザ又は放電灯とフオトマスク並びに本発明の
対象高分子との別の組合せ方は複数枚のフオトマスクを
組合せることである。Another way of combining the ultraviolet laser or discharge lamp with the photomask and the subject polymer of the present invention is to combine a plurality of photomasks.
この場合には本発明の対象高分子は平面に垂直な方向
に、使用したフオトマスクの枚数に応じた複数の異なっ
た深さのエッチ孔、を与えることになる。In this case, the polymer of the present invention provides a plurality of etch holes having different depths depending on the number of photomasks used, in the direction perpendicular to the plane.
従って、若しも深さの異なるエッチ孔(メモリー)を読
み出す方法が開発されれば平面上のみでなく垂直方向に
もメモリーが記録されたROM用基板として本発明対象
高分子が使用し得ることを暗示している。Therefore, if a method for reading out etch holes (memory) having different depths is developed, the polymer of the present invention can be used as a ROM substrate in which memory is recorded not only on a plane but also in a vertical direction. Is implied.
次に光加工条件(温度、照射雰囲気)について触れ
る。光加工温度は温度が高ければ光加工速度は著しく早
くなる。然し、一般に常温から100℃の範囲であれば
良い。但し、加工され難い高分子の場合には更に昇温す
るか、他の長い波長の光の照射−例えば遠赤外線、赤外
線、炭酸ガスレーザ等を補助的に使用してもよい。Next, the optical processing conditions (temperature, irradiation atmosphere) will be touched upon. If the light processing temperature is high, the light processing speed will be remarkably high. However, in general, it may be in the range of room temperature to 100 ° C. However, in the case of a polymer that is difficult to process, the temperature may be further raised, or irradiation with light having another long wavelength-for example, far infrared rays, infrared rays, carbon dioxide laser, etc. may be used supplementarily.
光加工はその速度を下げたい場合には窒素で薄められた
空気中又は減圧下で実施してもよいが雰囲気ガス中の酸
素分圧が高い方が一般に加工速度は著しく早く、又加圧
下で照射を実施することも好ましい。The optical processing may be performed in air diluted with nitrogen or under reduced pressure if it is desired to reduce the speed, but the higher the oxygen partial pressure in the atmosphere gas, the faster the processing speed in general, and the higher the pressure. It is also preferable to carry out irradiation.
遠紫外線のみを利用する先行技術では照射雰囲気中の酸
素分圧を上げても加工速度が変わらないか又は著しく増
加しないと報告されている。(例えばエヌ・ウエノ等Ja
panese Journal of Applied Physics Vol.20,No10 Octo
ber L709〜L712,アール・スリニヴサン等Jounal of Pol
ymer Science Polymer Chemistry Edition,Vol.22,2601
〜2609(1984))。然るに、本発明の対象高分子は酸素が
著しくオゾンに変化しない範囲に於いて酸素分圧を上げ
ることにより加工速度は著しく増大する。このことが本
発明が先行技術とは異なった技術であることの一つの証
拠となし得る。It is reported that in the prior art utilizing only deep ultraviolet rays, the processing speed does not change or does not significantly increase even if the oxygen partial pressure in the irradiation atmosphere is increased. (For example, N Ueno etc. Ja
panese Journal of Applied Physics Vol.20, No10 Octo
ber L709 ~ L712, Earl Srinivsan, etc.Jounal of Pol
ymer Science Polymer Chemistry Edition, Vol.22,2601
~ 2609 (1984)). However, in the polymer of the present invention, the processing speed is remarkably increased by increasing the oxygen partial pressure in the range where oxygen does not significantly change to ozone. This can be one proof that the present invention is a technology different from the prior art.
又、光加工は、本発明の対象高分子を水溶液中−例えば
アルカリ水溶液中に浸漬して実施することも出来る。The light processing can also be carried out by immersing the target polymer of the present invention in an aqueous solution, for example, an alkaline aqueous solution.
以下、重合体の主鎖の骨格に縮合芳香族化合物を含む例
としてポリ(エチレンナフタレート-2・6)(以下PEN-2・
6と略す)、比較例としてポリ(エチレンテレフタレー
ト)(以下PETと略す)を挙げて実施例として示す。Hereinafter, poly (ethylene naphthalate-2.6) (hereinafter referred to as PEN-2.
6) and poly (ethylene terephthalate) (hereinafter abbreviated as PET) as a comparative example.
但し、以下の実施例は本発明の対象高分子組成物の請求
範囲を何等制限若しくは制約をするものでない。However, the following examples do not limit or restrict the scope of claims of the polymer composition of the present invention.
実施例−1 太陽光による光加工 第1表に示した如き物性を有する屋外用銘柄の二軸延伸
PEN−2・6フィルム(100cm×100cm×20.3μ)を、
直径1cmの穴のあいた100cm×100cmのスレ
ート板と、穴のあいていないスレート板にてはさみ、こ
れを垂直に保持した状態で穴のあいた面を太陽光に晒し
た。Example-1 Photoprocessing with sunlight A biaxially stretched PEN-2.6 film (100 cm x 100 cm x 20.3 µ) of outdoor brand having physical properties as shown in Table 1 was prepared.
A 100 cm × 100 cm slate plate with a hole having a diameter of 1 cm and a slate plate without a hole were sandwiched between the plates, and the surface having the holes was exposed to sunlight while the plate was held vertically.
180日後にフィルム試料を取出し調べたところ、丁度
スレート板に穴のあいた部分が完全に穴があいていた。
従って1日(日照時間)当り平均して1100Åのエッ
チッグが行はれたことになる。After 180 days, the film sample was taken out and examined, and it was found that the slate plate had holes completely in the holes.
Therefore, an average of 1100Å Etch was performed per day (sunshine hours).
比較のため、一般電気用銘柄の二軸延伸PEN−2・6
フィルムと二軸延伸PETフィルム(国内、T社製品)
を屋外に曝露してテストした。光によりエチッングされ
なかった残ったフィルムの物性を調べるためフィルム全
面に太陽光が当るようにしてテストした。第二表に3ケ
月後にフィルムの厚さの変化を調べた結果を示す。 For comparison, general electric brand biaxially stretched PEN-2.6
Film and biaxially oriented PET film (domestic product of T company)
Was exposed and tested outdoors. In order to examine the physical properties of the remaining film which was not etched by light, the film was tested by exposing it to sunlight. Table 2 shows the results of examining the change in film thickness after 3 months.
第三表にPEN−2・6フィルムのテスト前後の物性変
化、第四表にPETフィルムのテスト前後の物性変化を
各々示した。Table 3 shows the physical property changes of the PEN-2.6 film before and after the test, and Table 4 shows the physical property changes of the PET film before and after the test.
PEN−2・6フィルムは二次転位点、軟化点共にPE
Tフィルムよりも各々約40℃、約10℃と高く耐熱性
は優れているにも拘らず太陽光によるエッチングの速度
は5倍以上速いことが判った。 The PEN-2.6 film has PE at both the secondary dislocation point and the softening point.
It was found that the etching rate by sunlight was 5 times or more higher than that of the T film, although the heat resistance was higher at about 40 ° C. and about 10 ° C., respectively.
第三表、第四表に示されているようにPEN−2・6フ
ィルムは太陽光でエッチングされ易いにも拘らず光でエ
ッチングされなかった部分の物性は著しく変化していな
い。 As shown in Tables 3 and 4, although the PEN-2.6 film was easily etched by sunlight, the physical properties of the portion which was not etched by light were not significantly changed.
従って二軸延伸PEN−2・6フィルムは、紫外線によ
りエッチされ易いにも拘わらず自然条件下での耐候性は
二軸延伸PETフィルムより優れた特性を示す。(参考
文献;アイ・オーウチ(I.Ouchi)等、Proc.17th Jap
an Congr.Mater.Res.,217(1974)) 実施例−2 高圧水銀灯による光加工 第五表に示した如き種々の厚さの二軸延伸PEN−2・
6フィルムを高圧水銀灯(東芝社製H400P400
W)で照射してフィルムの厚さの変化を測定した。Therefore, the biaxially-stretched PEN-2.6 film exhibits better weather resistance under natural conditions than the biaxially-stretched PET film, although it is easily etched by ultraviolet rays. (Reference: I. Ouchi et al., Proc. 17th Jap
an Congr. Mater. Res., 217 (1974)) Example-2 Optical processing with a high-pressure mercury lamp Biaxially stretched PEN-2 with various thicknesses as shown in Table 5
6 film high pressure mercury lamp (Toshiba H400P400
The change in film thickness was measured by irradiation with W).
この高圧水銀灯は546nm、436nm、570nm、40
2nm、313nm、302nm、209nm、の波長の光を照
射し、その相互強度も上記の順で弱くなる特性を有する
ランプである。This high pressure mercury lamp is 546nm, 436nm, 570nm, 40
It is a lamp that has a characteristic that it is irradiated with light having wavelengths of 2 nm, 313 nm, 302 nm, and 209 nm, and the mutual intensity thereof becomes weaker in the above order.
水銀灯とフィルム試料との距離は20cm、雰囲気は空気
中、温度は50〜60℃に保持した。The distance between the mercury lamp and the film sample was 20 cm , the atmosphere was air, and the temperature was maintained at 50-60 ° C.
工業的に平面に対し垂直方向で1000Å程度の深さで
精密加工する技術としては精密射出成型法がありコンパ
クトデスク、ビディオデスクの製造法として既に確立
し、その製品は既に市場に多数出廻っている。 There is a precision injection molding method as a technology for industrially performing precision processing at a depth of about 1000 Å in the vertical direction to the plane, and it has already been established as a manufacturing method for compact desks and video desks, and many products have already been put on the market. There is.
第五表に示したようにワット数400Wの放電灯では平
面に対し垂直方向のエッチング速度は160〜240Å
/hrと遅いが、工業的にはキセノンショートアーク・ラ
ンプ、水銀シヨートアーク・ランプ、遠紫外線ランプ等
では3〜6KW又はそれ以上の放電灯が市場に出廻って
いる。従ってこれ等のランプの中から目的に応じ適当な
ものを選定し温度、酸素分圧等の光加工条件を適切に選
べば経済的な加工条件でPEN−2・6を光加工するこ
とが出来る。As shown in Table 5, with a discharge lamp with a wattage of 400 W, the etching rate in the direction perpendicular to the plane is 160-240 Å
Although it is slow as per hour, industrially, discharge lamps of 3 to 6 KW or more are available on the market for xenon short arc lamps, mercury short arc lamps, far ultraviolet lamps and the like. Therefore, PEN-2.6 can be optically processed under economical processing conditions by selecting a suitable lamp from these lamps according to the purpose and properly selecting the optical processing conditions such as temperature and oxygen partial pressure. .
実施例−3,XeClエキシマレーザによる光加工 XeCl(波長308nm)レーザーを3mm角の穴を有するステ
ンレス製アパーチャを通して試料に照射して穴明けの実
験を行った。実験は照射パワー密度5.5MW/cm2(照射エ
ネルギー密度はアパーチャ通過後で1.4g/cm2)、パル
ス幅は半値全幅が25ns、継緒時間が110ns、繰返し周波
数(パルス間隔)は10HZにて実施し、極力熱的な加工を
避ける条件でテストした。次表に試料に貫通した穴を明
けるのに必要であった照射ショット数を示した。Example-3, Optical Processing by XeCl Excimer Laser A sample was irradiated with a XeCl (wavelength 308 nm) laser through a stainless steel aperture having a 3 mm square hole to conduct a drilling experiment. The irradiation power density was 5.5 MW / cm 2 (irradiation energy density was 1.4 g / cm 2 after passing through the aperture), the pulse width was 25 ns full width at half maximum, the continuation time was 110 ns, and the repetition frequency (pulse interval) was 10 Hz. It carried out and tested it on the condition which avoids thermal processing as much as possible. The following table shows the number of irradiation shots required to make a hole through the sample.
一方、フイルムの表面を改質する目的でXeClレーザを照
射することを試みた。照射パワー密度は0.6MW/cm2(照
射エネルギーは120mg/パルス)に下げ、パルス幅は半
値全幅が20ns、繰返し周波数は10HZ、ビーム断面積5mm
×20mm、で試料を直接照射した。使用した試料は二軸延
伸PEN-2・6と未延伸PEN-2・6フイルムであった。 On the other hand, we tried to irradiate XeCl laser for the purpose of modifying the film surface. Irradiation power density was reduced to 0.6 MW / cm 2 (irradiation energy was 120 mg / pulse), pulse width was 20 ns full width at half maximum, repetition frequency was 10 HZ, and beam cross-sectional area was 5 mm.
The sample was directly irradiated at × 20 mm. The samples used were biaxially stretched PEN-2.6 and unstretched PEN-2.6 film.
実験では照射ショット数を1000まで変えてテストしたが
照射ショット数が増えるにつれて照射面が黒くなり次第
にその色が濃くなって行くのが観察された。参考のため
電極間距離を10mmとして、簡易表面抵抗測定器にて表面
抵抗を測定したところいづれのフイルムも; ショット数が100で106オームに、 ショット数が750で104オームに、と その表面抵抗値が著しく低下していることが判った。In the experiment, the number of irradiation shots was changed up to 1000, and it was observed that as the number of irradiation shots increased, the irradiation surface became darker and the color gradually became darker. For reference, the distance between the electrodes was set to 10 mm, and the surface resistance was measured with a simple surface resistance measuring device for each of the films; the number of shots was 100 and 10 6 ohms, and the number of shots was 750 and 10 4 ohms. It was found that the surface resistance value was remarkably reduced.
実施例−4,ポリ(イミド)フイルムの紫外線による光
加工 光源として近紫外線透過フイルター付き水冷式特殊放電
ランプ1.5KWを使用し、フイルム試料を光源より150mm離
れた回転テーブル上に置き、温度を80℃以下に保って紫
外線照射を100時間行った。照射後のフイルム厚、破断
伸度を測定し、照射前の測定値と比較した。Example-4, Optical processing of poly (imide) film by ultraviolet rays A water-cooled special discharge lamp with a near-ultraviolet ray transmitting filter of 1.5 KW was used as a light source, and the film sample was placed on a rotary table 150 mm away from the light source, and the temperature was set to 80. Ultraviolet irradiation was carried out for 100 hours while keeping the temperature below ℃. The film thickness and breaking elongation after irradiation were measured and compared with the measured values before irradiation.
UVデジタルメーターでフイルム表面での照射エネルギー
を測定したところ365nmで44±1MW/secであった。When the irradiation energy on the film surface was measured with a UV digital meter, it was 44 ± 1 MW / sec at 365 nm.
上表より、多環縮合芳香核を有するビフェニールテトラ
カルボン酸とジアミンとのポリ(イミド)は、ベンゼン
テトラカルボン酸とジアミンとのポリ(イミド)と比較
して照射後のフイルム厚の減少も大きく且つ、照射後の
伸度保持率も高いことが判った。 From the above table, the poly (imide) of the biphenyl tetracarboxylic acid having a polycyclic fused aromatic nucleus and the diamine has a large reduction in the film thickness after irradiation as compared with the poly (imide) of the benzenetetracarboxylic acid and the diamine. It was also found that the elongation retention rate after irradiation was high.
実施例−5,KrFエキシマレーザによる光加工とジアミ
ンとのポリ(イミド)も光でエッチングされ易いことが
判った。この系のポリ(イミド)はジアミンの種類が異
なるとされている二種のフイルムが市場に出されてい
る。(以下ポリ(イミド)−Aと、ポリ(イミド)−B
と略す。尚、実施例−4で使用したのはポリ(イミド)
−Bである。) これらのポリ(イミド)とPEN-2・6を試料としてKrFエキ
シマレーザによる穴明けの実験を行った。Example-5 It was found that photoprocessing with KrF excimer laser and poly (imide) with diamine are also easily etched by light. The poly (imide) of this system has two kinds of films on the market, which are said to have different kinds of diamines. (Hereinafter, poly (imide) -A and poly (imide) -B
Abbreviated. The poly (imide) used in Example-4 was
-B. ) Using these poly (imide) s and PEN-2.6 as samples, we carried out experiments with a KrF excimer laser.
実験はパルス幅は全値全幅が20ns、通常繰返し周波数
(パルス間隔)を1〜20HZ、照射パワー密度は5〜10MW
/cm2の範囲でテストを行った。照射パワー密度を変える
には、必要に応じ凸レンズ(焦点距離100mm)を用い、
3mm角の穴の明いたステンレス製のアパーチャを通じ、
アパーチャの孔を結合するように調整して所定のパワー
密度を得るようにした。In the experiment, the full width of pulse width is 20 ns, the normal repetition frequency (pulse interval) is 1 to 20 Hz, and the irradiation power density is 5 to 10 MW.
The test was conducted in the range of / cm 2 . To change the irradiation power density, use a convex lens (focal length 100 mm) if necessary,
Through a stainless steel aperture with a 3mm square hole,
The aperture holes were adjusted to combine to obtain the desired power density.
テストは所定のパワー密度、並びに繰返し周波数で試料
に貫通した穴を明けるのに必要なショット数を求めるこ
とで実施した。第1図にテストの結果を示した。The test was performed by determining the number of shots required to make a hole through the sample at a given power density and repetition frequency. The results of the test are shown in FIG.
その結果; (1) 放電灯での照射では、PEN-2・6とポリ(イミド)−
Bとではフォトエッチング性に著しい差があったが、Kr
Fレーザによる照射では殆ど差が認められない。As a result, (1) In irradiation with a discharge lamp, PEN-2.6 and poly (imide)-
There was a significant difference in photoetching property from B, but Kr
There is almost no difference in irradiation with F laser.
(2) いづれの試料もパルス当りエッチされる深さとパ
ワー密度との間には直線関係が存在する。又、 (3) 貫通した穴を明けるのに必要なショット数は繰返
し周波数(パルス間隔)を増加させても殆ど変らない。
(熱的加工の寄与が少い。) ことが判った。(2) For any sample, there is a linear relationship between the depth of etching per pulse and the power density. (3) The number of shots required to make a through hole is almost unchanged even if the repetition frequency (pulse interval) is increased.
(The contribution of thermal processing is small.)
添付図面は、本発明の実施例−5における1パルス当り
エッチされる深さとパワー密度の関係を示したものであ
る。The accompanying drawings show the relationship between the depth of etching per pulse and the power density in Example-5 of the present invention.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 細井 正広 神奈川県相模原市小山3丁目37番19号 帝 人株式会社プラスチツクス研究所内 (72)発明者 倉辻 孝俊 愛媛県松山市北吉田町77番地 (56)参考文献 特開 昭56−43332(JP,A) 特開 昭59−78271(JP,A) 特開 昭49−48631(JP,A) 特開 昭45−28892(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Masahiro Hosoi, Masahiro Hosoi, 3-37-19 Oyama, Sagamihara City, Kanagawa Prefecture, Teijin Limited Plastics Research Institute (72) Inventor, Takatoshi Kuratsuji 77 Kitayoshida-cho, Matsuyama-shi, Ehime (56) References JP-A-56-43332 (JP, A) JP-A-59-78271 (JP, A) JP-A-49-48631 (JP, A) JP-A-45-28892 (JP, A)
Claims (1)
香族化合物を含む高分子を紫外線により光加工する方法1. A method of photo-processing a polymer containing a polycyclic fused aromatic compound in most of the skeleton of the main chain of a polymer with ultraviolet light.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61130359A JPH06857B2 (en) | 1986-06-06 | 1986-06-06 | Photoprocessing of polycyclic fused aromatic polymers |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61130359A JPH06857B2 (en) | 1986-06-06 | 1986-06-06 | Photoprocessing of polycyclic fused aromatic polymers |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62287245A JPS62287245A (en) | 1987-12-14 |
| JPH06857B2 true JPH06857B2 (en) | 1994-01-05 |
Family
ID=15032493
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61130359A Expired - Lifetime JPH06857B2 (en) | 1986-06-06 | 1986-06-06 | Photoprocessing of polycyclic fused aromatic polymers |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06857B2 (en) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4948631A (en) * | 1972-09-13 | 1974-05-11 | ||
| JPS5643332A (en) * | 1979-09-17 | 1981-04-22 | Unitika Ltd | Control of wettability of molding by light irradiation |
| JPS5978271A (en) * | 1982-10-28 | 1984-05-07 | Seiko Epson Corp | Photochromic coating composition |
-
1986
- 1986-06-06 JP JP61130359A patent/JPH06857B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62287245A (en) | 1987-12-14 |
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